CN117347729A - 一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统及工作方法 - Google Patents
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Abstract
一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统及工作方法，它属于介电常数测试技术领域。为了建立测试效率更高的介电温谱测试系统，本发明高低温箱的炉门外表面设置有连接多通道夹具的电极接头，高低温箱的炉门侧面设置有连接多通道夹具的测试导线，高低温箱的炉门内测安装多通道夹具；上位机分别连接温度控制装置、多通道信号切换装置、自动平衡电桥；温度控制装置连接高低温箱的加热装置、温度传感器；多通道信号切换装置分别连接自动平衡电桥、多通道夹具；多通道夹具通过支撑杆固定连接石英片第一底座、石英片第二底座，石英片第一底座通过伸缩机构连接探针，石英片第二底座下表面安装有铂金丝，探针和铂金丝间夹持有样品。本发明实现多个样品测量。
Description
技术领域
本发明属于介电常数测试技术领域，具体涉及一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统及工作方法。
背景技术
电介质陶瓷在电子、通讯、自动控制、信息计算机、激光、医疗、机械、汽车、航空、航天、核技术、生物技术、储能以及5G通讯等众多高技术领域中为关键材料，随着各个行业的高速发展，对其产生了新的要求。近年来，航空、航天深海等领域的高低温使用环境中的传感器及换能器等器件对电介质陶瓷提出了新的要求。需要对其相关性能的温度特性进行表征，其中电介质陶瓷的最基本的性能为介电性能。温度对材料的性能、结构、使用和保存具有非常重要的影响，甚至在某些临界温度附近，材料的性能表现出巨大的差异。对于电介质陶瓷材料而言，研究其不同温度环境中固定频率下的介电温度特，是了解材料极化、损耗微观机制，材料的介电弛豫机制，材料组成、结构、性能之间相互作用机制的最重要的方法之一。因此如何获得更宽温度范围内材料的介电温谱，已成为相关领域研究者们非常重视的测试手段。
介电温谱是研究电介质陶瓷材料最基本的表征手段，其结果决定了电介质陶瓷应用的潜力及应用环境。目前，现有的技术可以实现室温介电常数的测试并且已经具有成熟测试设备；随之介电温谱测量方面也有着一定的发展。科研工作者们根据自己的需求，搭建了不同温度范围(室温～300℃、-50～200℃等)的测试系统。但是现有测试系统存在以下问题：
(1)系统集成度不高、操作复杂、自动化程度较低，多为手动测量；
(2)测试样品一次只能测试一个样品，由于测试过程需要升降温，是一个长时间的测试过程，单工位无法满足大量的测试需求，测试效率较低；
(3)一般只具有升温测试功能。
发明内容
本发明要解决的问题是建立一套自动化程度更高、测试温度范围满足大部分材料需求、测试效率更高的介电温谱测试系统，提出一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统及工作方法。
为实现上述目的，本发明通过以下技术方案实现：
一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统，包括上位机、温度控制装置、多通道信号切换装置、自动平衡电桥、高低温箱、多通道夹具；
所述高低温箱内安装有加热装置、温度传感器，所述高低温箱的外部设置有开关、指示灯、温度显示器，所述高低温箱的炉门外表面设置有连接多通道夹具的电极接头，所述高低温箱的炉门侧面设置有连接多通道夹具的测试导线，所述高低温箱的炉门内测安装所述多通道夹具；
所述上位机分别连接温度控制装置、多通道信号切换装置、自动平衡电桥；所述温度控制装置连接高低温箱的加热装置、温度传感器；所述多通道信号切换装置分别连接自动平衡电桥、多通道夹具；
所述多通道夹具通过支撑杆固定连接石英片第一底座、石英片第二底座，所述石英片第一底座通过伸缩机构连接探针，所述石英片第二底座下表面安装有铂金丝，所述探针和铂金丝间夹持有样品。
进一步的，所述上位机和温度控制装置通过RS-485串口连接。
进一步的，所述上位机和多通道信号切换装置、自动平衡电桥通过RS-232串口连接。
进一步的，所述多通道信号切换装置用于接收上位机通过串口发送的指令切换信号，实现RS232电平和TTL电平转换。
进一步的，所述多通道夹具中的探针的个数为5个，其中一根探针为公共端，通过铂金丝同时与四个样品的一个电极面相连，另外四根探针分别与四个样品的另一个电极面相连，样品通过测试导线与多通道信号切换装置的四个通道分别相连，通过多通道信号切换装置控制回路的通断，实现样品的多通道测试。
一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的工作方法，依托于所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统实现，包括如下步骤：
S1.将样品夹持在多通道夹具上，关闭高低温箱炉门，将测试导线和多通道信号切换装置连接，多通道信号切换装置和上位机连接；
S2.设定电介质陶瓷多通道介电测试的测试参数，包括测试起始温度、测试最高温度、加热时间、降温的目标温度、降温时间、测试频率；
S3.温度控制装置通过PID算法控制高低温箱进行温度调节；
S4.基于步骤S3中高低温箱的温度变化过程，多通道信号切换装置切换多个不同的通道，在不同温度、不同频率下进行多个样品的电介质陶瓷多通道介电常数测试。
进一步的，步骤S3中温度控制装置连接高低温箱的加热装置、温度传感器，通过PID算法进行温度控制，具体实现方法包括如下步骤：
S3.1.首先PID算法根据步骤S2设定的测试参数，通过升温、降温条件计算升温、降温区间段，得到程序温度Tm及其程序温度及其时间对应函数T(t)，计算表达式为：
Tm＝T(t)；
S3.2.温度控制装置连接的温度传感器将实际温度Ttrue的信号传递至温度控制装置，进而得到实际温度与程序温度的差ΔT，计算表达式为：
ΔT＝Tm-Ttrue
S3.3.通过PID算法，计算第n段程序实际温度对应的输出功率Pn，计算表达式为：
Pn＝Pn-1+kp(ΔTn-ΔTn-1)+kpkiΔTn+kpkd(ΔTn-2ΔTn-1+ΔTn-2)
其中，kp，ki，kd分别为比例控制因子、积分控制因子、微分控制因子，Pn-1为第n-1段程序实际温度对应的输出功率，ΔTn为第n段程序实际温度与程序温度的差，ΔTn-1为第n-1段程序实际温度与程序温度的差，ΔTn-2为第n-2段程序实际温度与程序温度的差；
设定初始值为参数kp＝20，ki＝1，以及kd＝0，通过调整控制因子kp，ki，kd的值，实现温度的控制。
进一步的，步骤S4中多个样品的电介质陶瓷多通道介电测试通过电桥法实现，具体实现方法包括如下步骤：
S4.1.设定R2，R3为固定电阻，C1，R1为可调电阻与可调电容，Cx，Rx代表待测样品的电容与电阻，将待测样品放置在测试端口上，闭合开关接通测试电路；
在交流信号源的激励下，不断改变可调电容与可调电阻的大小，令电流计的示数趋近于0，此时读出可调电容与可调电阻的值，利用R2与R3的比例，求出待测样品Cx，Rx的大小，计算表达式为：
S4.2.通过待测样品的电容与电阻以及阻抗之间的关系，进而求得样品的阻抗Z，计算表达式为：
其中，f为测试频率，j2＝-1；
然后计算阻抗的大小|Z|及相角θ，计算表达式为：
S4.3.计算样品的损耗值D，计算表达式为：
D＝2πfCxRx
S4.4.通过样品的厚度h以及面积A，根据样品的电容求得样品的介电常数，计算表达式为：
测试过程中，通过改变R2，R3的阻值，以及信号源的频率大小改变所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的量程范围与灵敏度，根据样品的实际情况灵活调整，以确保测量结果的准确性。
进一步的，在升降温过程中时刻采集温度信息，每升降温1℃，通过串口线控制多通道信号切换装置，接通1通道，并通过平衡LCR电桥测试样品1的电容及损耗值，并通过串口线回传至上位机，对测试频率进行切换，最终得到样品1不同频率的电容和损耗值，并将数据传回上位机；
接着多通道信号切换装置断开1通道，接通2通道，继续上述测试，得到某一温度下四个样品不同频率的电容及损耗值，随着温度的升高或降低，继续上述测试过程，最终得到升降温过程的四个样品不同频率下电容及损耗数值随温度的变化曲线。
本发明的有益效果：
本发明所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统，不仅可以实现宽温区、多频率介电温谱测试功能，介电损耗温谱测试功能，阻抗温谱测试功能，以及恒温介电频谱测试功能以及恒温阻抗频谱测试功能，结合具体计算方式，进而可以计算样品的压电系数、弹性系数、介电系数、机械品质因数等参数随温度的变化；而且通过此设备，可以实现多样品同时测试，这大大提高了测试效率，加速了铁电材料、压电材料、热释电材料，介电材料及介质储能材料的研发应用进程。
附图说明
图1为本发明所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的结构示意图；
图2为本发明所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的高低温箱的结构示意图；
图3为本发明所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的多通道夹具的结构示意图；
图4为本发明所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的多通道信号切换装置的电路图；
图5为本发明所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的工作方法的温度控制PID算法流程图；
图6为本发明所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的工作方法的电桥法原理图；
图7为本发明所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统测试的介电温谱曲线。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及具体实施方式，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施方式仅用以解释本发明，并不用于限定本发明，即所描述的具体实施方式仅仅是本发明一部分实施方式，而不是全部的具体实施方式。通常在此处附图中描述和展示的本发明具体实施方式的组件可以以各种不同的配置来布置和设计，本发明还可以具有其他实施方式。
因此，以下对在附图中提供的本发明的具体实施方式的详细描述并非旨在限制要求保护的本发明的范围，而是仅仅表示本发明的选定具体实施方式。基于本发明的具体实施方式，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他具体实施方式，都属于本发明保护的范围。
为能进一步了解本发明的发明内容、特点及功效，兹例举以下具体实施方式，并配合附图1-附图7详细说明如下：
具体实施方式一：
一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统，包括上位机1、温度控制装置2、多通道信号切换装置3、自动平衡电桥4、高低温箱5、多通道夹具6；
所述高低温箱5内安装有加热装置5-1、温度传感器5-2，所述高低温箱5的外部设置有开关5-3、指示灯5-4、温度显示器5-5，所述高低温箱5的炉门5-6外表面设置有连接多通道夹具6的电极接头5-7，所述高低温箱5的炉门5-6侧面设置有连接多通道夹具6的测试导线5-8，所述高低温箱5的炉门5-6内测安装所述多通道夹具6；
所述上位机1分别连接温度控制装置2、多通道信号切换装置3、自动平衡电桥4；所述温度控制装置2连接高低温箱5的加热装置5-1、温度传感器5-2；所述多通道信号切换装置3分别连接自动平衡电桥4、多通道夹具6；
所述多通道夹具6通过支撑杆6-1固定连接石英片第一底座6-3、石英片第二底座6-2，所述石英片第一底座6-3通过伸缩机构6-5连接探针6-4，所述石英片第二底座6-2下表面安装有铂金丝6-6，所述探针6-4和铂金丝6-6间夹持有样品6-7。
进一步的，所述上位机1和温度控制装置2通过RS-485串口连接。
进一步的，所述上位机1和多通道信号切换装置3、自动平衡电桥4通过RS-232串口连接。
进一步的，所述多通道信号切换装置3用于接收上位机1通过串口发送的指令切换信号，实现RS232电平和TTL电平转换。
进一步的，所述多通道夹具6中的探针6-4的个数为5个，其中一根探针为公共端，通过铂金丝6-6同时与四个样品的一个电极面相连，另外四根探针分别与四个样品的另一个电极面相连，样品通过测试导线5-8与多通道信号切换装置3的四个通道分别相连，通过多通道信号切换装置3控制回路的通断，实现样品的多通道测试。
进一步的，多通道信号切换装置其主控芯片U2采用宏晶科技国产微控制器(MCU)型号为STC12C2052。微控制器和上位机之间同行采用RS232接口，芯片U1的不要功能是RS232电平和TTL电平转换。微控制器对经过U1电平转换的信号处理并解析出上位机发来的指令，依据指令控制相应的输入输出端口(IO)对信号继电器进行控制，从而实现信号切换。为保证信号不受干扰，信号切换板对信号线做了屏蔽处理。
进一步的，每根探针由刚玉杆及铂金丝构成。
进一步的，所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统具有多通道(典型四通道)升降温介电温谱测试功能，介电损耗温谱测试功能，阻抗温谱测试功能；恒温介电频谱测试功能以及恒温阻抗频谱测试功能，具体参数如下：
温度范围：室温～1250℃；
频率范围：20Hz～2MHz；
样品个数：最多可同时测试4个样品。
具体实施方式二：
一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的工作方法，依托于具体实施方式一所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统实现，包括如下步骤：
S1.将样品夹持在多通道夹具上，关闭高低温箱炉门，将测试导线和多通道信号切换装置连接，多通道信号切换装置和上位机连接；
S2.设定电介质陶瓷多通道介电测试的测试参数，包括测试起始温度、测试最高温度、加热时间、降温的目标温度、降温时间、测试频率；
S3.温度控制装置通过PID算法控制高低温箱进行温度调节；
进一步的，步骤S3中温度控制装置连接高低温箱的加热装置、温度传感器，通过PID算法进行温度控制，具体实现方法包括如下步骤：
S3.1.首先PID算法根据步骤S2设定的测试参数，通过升温、降温条件计算升温、降温区间段，得到程序温度Tm及其程序温度及其时间对应函数T(t)，计算表达式为：
Tm＝T(t)；
S3.2.温度控制装置连接的温度传感器将实际温度Ttrue的信号传递至温度控制装置，进而得到实际温度与程序温度的差ΔT，计算表达式为：
ΔT＝Tm-Ttrue
S3.3.通过PID算法，计算第n段程序实际温度对应的输出功率Pn，计算表达式为：
Pn＝Pn-1+kp(ΔTn-ΔTn-1)+kpkiΔTn+kpkd(ΔTn-2ΔTn-1+ΔTn-2)
其中，kp，ki，kd分别为比例控制因子、积分控制因子、微分控制因子，Pn-1为第n-1段程序实际温度对应的输出功率，ΔTn为第n段程序实际温度与程序温度的差，ΔTn-1为第n-1段程序实际温度与程序温度的差，ΔTn-2为第n-2段程序实际温度与程序温度的差；
设定初始值为参数kp＝20，ki＝1，以及kd＝0，通过调整控制因子kp，ki，kd的值，实现温度的控制；
S4.基于步骤S3中高低温箱的温度变化过程，多通道信号切换装置切换多个不同的通道，在不同温度、不同频率下进行多个样品的电介质陶瓷多通道介电常数测试。
进一步的，步骤S4中多个样品的电介质陶瓷多通道介电测试通过电桥法实现，具体实现方法包括如下步骤：
S4.1.设定R2，R3为固定电阻，C1，R1为可调电阻与可调电容，Cx，Rx代表待测样品的电容与电阻，将待测样品放置在测试端口上，闭合开关接通测试电路；
在交流信号源的激励下，不断改变可调电容与可调电阻的大小，令电流计的示数趋近于0，此时读出可调电容与可调电阻的值，利用R2与R3的比例，求出待测样品Cx，Rx的大小，计算表达式为：
S4.2.通过待测样品的电容与电阻以及阻抗之间的关系，进而求得样品的阻抗Z，计算表达式为：
其中，f为测试频率，j2＝-1；
然后计算阻抗的大小|Z|及相角θ，计算表达式为：
S4.3.计算样品的损耗值D，计算表达式为：
D＝2πfCxRx
S4.4.通过样品的厚度h以及面积A，根据样品的电容求得样品的介电常数，计算表达式为：
测试过程中，通过改变R2，R3的阻值，以及信号源的频率大小改变所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的量程范围与灵敏度，根据样品的实际情况灵活调整，以确保测量结果的准确性。
进一步的，在升降温过程中时刻采集温度信息，每升降温1℃，通过串口线控制多通道信号切换装置，接通1通道，并通过平衡LCR电桥测试样品1的电容及损耗值，并通过串口线回传至上位机，对测试频率进行切换，最终得到样品1不同频率的电容和损耗值，并将数据传回上位机；
接着多通道信号切换装置断开1通道，接通2通道，继续上述测试，得到某一温度下四个样品不同频率的电容及损耗值，随着温度的升高或降低，继续上述测试过程，最终得到升降温过程的四个样品不同频率下电容及损耗数值随温度的变化曲线。
进一步的，温度控制装置通过PID算法控制输出功率将温度从29℃用时400min升温至450℃后，用时300min将温度降至40℃。
需要说明的是，术语“第一”和“第二”等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
虽然在上文中已经参考具体实施方式对本申请进行了描述，然而在不脱离本申请的范围的情况下，可以对其进行各种改进并且可以用等效物替换其中的部件。尤其是，只要不存在结构冲突，本申请所披露的具体实施方式中的各项特征均可通过任意方式相互结合起来使用，在本说明书中未对这些组合的情况进行穷举性的描述仅仅是出于省略篇幅和节约资源的考虑。因此，本申请并不局限于文中公开的特定具体实施方式，而是包括落入权利要求的范围内的所有技术方案。
Claims (9)
1.一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统，其特征在于，包括上位机(1)、温度控制装置(2)、多通道信号切换装置(3)、自动平衡电桥(4)、高低温箱(5)、多通道夹具(6)；
所述高低温箱(5)内安装有加热装置(5-1)、温度传感器(5-2)，所述高低温箱(5)的外部设置有开关(5-3)、指示灯(5-4)、温度显示器(5-5)，所述高低温箱(5)的炉门(5-6)外表面设置有连接多通道夹具(6)的电极接头(5-7)，所述高低温箱(5)的炉门(5-6)侧面设置有连接多通道夹具(6)的测试导线(5-8)，所述高低温箱(5)的炉门(5-6)内测安装所述多通道夹具(6)；
所述上位机(1)分别连接温度控制装置(2)、多通道信号切换装置(3)、自动平衡电桥(4)；所述温度控制装置(2)连接高低温箱(5)的加热装置(5-1)、温度传感器(5-2)；所述多通道信号切换装置(3)分别连接自动平衡电桥(4)、多通道夹具(6)；
所述多通道夹具(6)通过支撑杆(6-1)固定连接石英片第一底座(6-3)、石英片第二底座(6-2)，所述石英片第一底座(6-3)通过伸缩机构(6-5)连接探针(6-4)，所述石英片第二底座(6-2)下表面安装有铂金丝(6-6)，所述探针(6-4)和铂金丝(6-6)间夹持有样品(6-7)。
2.根据权利要求1所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统，其特征在于，所述上位机(1)和温度控制装置(2)通过RS-485串口连接。
3.根据权利要求1所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统，其特征在于，所述上位机(1)和多通道信号切换装置(3)、自动平衡电桥(4)通过RS-232串口连接。
4.根据权利要求1所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统，其特征在于，所述多通道信号切换装置(3)用于接收上位机(1)通过串口发送的指令切换信号，实现RS232电平和TTL电平转换。
5.根据权利要求1所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统，其特征在于，所述多通道夹具(6)中的探针(6-4)的个数为5个，其中一根探针为公共端，通过铂金丝(6-6)同时与四个样品的一个电极面相连，另外四根探针分别与四个样品的另一个电极面相连，样品通过测试导线(5-8)与多通道信号切换装置(3)的四个通道分别相连，通过多通道信号切换装置(3)控制回路的通断，实现样品的多通道测试。
6.一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的工作方法，依托于权利要求1-5之一所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统实现，其特征在于，包括如下步骤：
S1.将样品夹持在多通道夹具上，关闭高低温箱炉门，将测试导线和多通道信号切换装置连接，多通道信号切换装置和上位机连接；
S2.设定电介质陶瓷多通道介电测试的测试参数，包括测试起始温度、测试最高温度、加热时间、降温的目标温度、降温时间、测试频率；
S3.温度控制装置通过PID算法控制高低温箱进行温度调节；
S4.基于步骤S3中高低温箱的温度变化过程，多通道信号切换装置切换多个不同的通道，在不同温度、不同频率下进行多个样品的电介质陶瓷多通道介电常数测试。
7.根据权利要求6所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的工作方法，其特征在于，步骤S3中温度控制装置连接高低温箱的加热装置、温度传感器，通过PID算法进行温度控制，具体实现方法包括如下步骤：
S3.1.首先PID算法根据步骤S2设定的测试参数，通过升温、降温条件计算升温、降温区间段，得到程序温度Tm及其程序温度及其时间对应函数T(t)，计算表达式为：
Tm＝T(t)；
S3.2.温度控制装置连接的温度传感器将实际温度Ttrue的信号传递至温度控制装置，进而得到实际温度与程序温度的差ΔT，计算表达式为：
ΔT＝Tm-Ttrue
S3.3.通过PID算法，计算第n段程序实际温度对应的输出功率Pn，计算表达式为：
Pn＝Pn-1+kp(ΔTn-ΔTn-1)+kpkiΔTn+kpkd(ΔTn-2ΔTn-1+ΔTn-2)
其中，kp，ki，kd分别为比例控制因子、积分控制因子、微分控制因子，Pn-1为第n-1段程序实际温度对应的输出功率，ΔTn为第n段程序实际温度与程序温度的差，ΔTn-1为第n-1段程序实际温度与程序温度的差，ΔTn-2为第n-2段程序实际温度与程序温度的差；
设定初始值为参数kp＝20，ki＝1，以及kd＝0，通过调整控制因子kp，ki，kd的值，实现温度的控制。
8.根据权利要求7所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的工作方法，其特征在于，步骤S4中多个样品的电介质陶瓷多通道介电测试通过电桥法实现，具体实现方法包括如下步骤：
S4.1.设定R2，R3为固定电阻，C1，R1为可调电阻与可调电容，Cx，Rx代表待测样品的电容与电阻，将待测样品放置在测试端口上，闭合开关接通测试电路；
在交流信号源的激励下，不断改变可调电容与可调电阻的大小，令电流计的示数趋近于0，此时读出可调电容与可调电阻的值，利用R2与R3的比例，求出待测样品Cx，Rx的大小，计算表达式为：
S4.2.通过待测样品的电容与电阻以及阻抗之间的关系，进而求得样品的阻抗Z，计算表达式为：
其中，f为测试频率，j2＝-1；
然后计算阻抗的大小|Z|及相角θ，计算表达式为：
S4.3.计算样品的损耗值D，计算表达式为：
D＝2πfCxRx
S4.4.通过样品的厚度h以及面积A，根据样品的电容求得样品的介电常数，计算表达式为：
测试过程中，通过改变R2，R3的阻值，以及信号源的频率大小改变所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的量程范围与灵敏度，根据样品的实际情况灵活调整，以确保测量结果的准确性。
9.根据权利要求8所述的一种电介质陶瓷多通道介电常数测试系统的工作方法，其特征在于，在升降温过程中时刻采集温度信息，每升降温1℃，通过串口线控制多通道信号切换装置，接通1通道，并通过平衡LCR电桥测试样品1的电容及损耗值，并通过串口线回传至上位机，对测试频率进行切换，最终得到样品1不同频率的电容和损耗值，并将数据传回上位机；
接着多通道信号切换装置断开1通道，接通2通道，继续上述测试，得到某一温度下四个样品不同频率的电容及损耗值，随着温度的升高或降低，继续上述测试过程，最终得到升降温过程的四个样品不同频率下电容及损耗数值随温度的变化曲线。
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