CN117335812B - 一种adc用于测试性能参数的数据压缩存储方法 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，涉及数据压缩技术领域，其技术方案要点是一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法包括以下步骤：通过对周期性的正弦波在一个周期内进行多点采样和模拟数字转换的方式，能够根据数据宽度bi对Di与Di‑1的差值进行有效位截断；得到待存储数据；从而能够在待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存。这样的数据压缩方法节省了采样点的占用空间，从而节省了待存储数据所需的储存空间，进而能够在SRAM储存空间一定情况下，储存ADC转换的更多数据。
Description
技术领域
本发明涉及数据压缩技术领域，更具体地说，它涉及一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法。
背景技术
在数模混合MCU(微控制器)芯片中，一般都会集成一个ADC(模拟数字信号转换器)。当芯片生产完成后，需要测试ADC(模拟数字信号转换器)的性能参数。
在ADC(模拟数字信号转换器)的性能测试过程中，需要进行采样大量的数据，然后分析计算。这些数据采样后先存到MCU(微控制器)芯片内的SRAM(静态随机访问存储)，然后再统一通过MCU(微控制器)芯片管脚或者MCU(微控制器)的调试接口从SRAM(静态随机访问存储)读出，提供给设备用于计算分析。
但这对MCU(微控制器)的SRAM(静态随机访问存储)的大小提出了要求。对于SRAM(静态随机访问存储)比较小的MCU(微控制器)不太适合使用。另外一种办法是ADC(模拟数字信号转换器)完成一个采样数据的同时，把ADC(模拟数字信号转换器)转换出来的并行数据放到MCU(微控制器)的PAD(管脚)上，分析仪通过采样其PAD(管脚)上数据进行分析计算。但这对MCU(微控制器)的PAD(管脚)数量以及CPU(中央处理单元)的响应速度就提出了要求。而且在ADC(模拟数字信号转换器)进行测试的时候，希望芯片PAD(管脚)上尽量不要出现不断翻转。否则会对ADC(模拟数字信号转换器)测量的精度有一些影响。
发明内容
针对现有技术存在的不足，本发明的目的在于提供一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，旨在解决上述技术问题。
为实现上述目的，本发明提供了如下技术方案：一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波在一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第i个采样点转换出来的初始数据Xi；其中i＝2,3,......，n；
获取初始数据Xi的数字量Di以及初始数据Xi-1的数字量Di-1；计算Di与Di-1的差值Di-Di-1；以及差值Di-Di-1的数据宽度bi，采用数据宽度bi表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度；
设置修正有效位，根据数据宽度bi对Di与Di-1的差值进行有效位截断；得到待存储数据；
计算待存储数据所需的存储空间；
当待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存。
作为本发明进一步的方案：根据以下公式计算待存储数据所需的存储空间B；
作为本发明进一步的方案：计算差值Di-Di-1的数据宽度bi包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第i个采样点转换出来的初始数据Xi；其中i＝2,3,......，n；
获取初始数据Xi的数字量Di以及初始数据Xi-1的数字量Di-1；计算Di与Di-1的差值Di-Di-1；
根据以下公式计算差值Di-Di-1的数据宽度bi；
采用数据宽度bi表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度。
作为本发明进一步的方案：当待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存的方法包括以下步骤：
对截断后的初始数据通过移位的方式进行修正，并得到为待存储数据；
当待存储数据的待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据储存到微控制器内部的静态随机访问存储中。
作为本发明进一步的方案：对截断后的初始数据通过移位的方式进行修正的方法还包括以下步骤：
通过缓存器记录采样点i-1转换出来的数字量Di-1；
通过减法器计算采样点i与采样点i-1的数字量差值Di-Di-1；
修正器根据设置的修正有效位对采样点i与采样点i-1之间的数字量差值进行截断；
合成输出模块根据修正有效位的数量输出待存储数据；
当待存储数据的待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存。
作为本发明进一步的方案：所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法还包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第二个采样点转换出来的初始数据X2；获取初始数据X2的数字量D2；
计算D1与D2的差值D2-D1；以及差值D2-D1的数据宽度b2，采用数据宽度b2表示第二个采样点的数字量D2在压缩后的数据宽度；
采用b2表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度，其中i＝3,4，......，n；
获取预设的存储空间设定值B′；
根据以下公式计算达到存储空间设定值所需的采样点数量S′；
设置修正有效位，根据数据宽度b2对Di与Di-1的差值进行有效位截断；并得到为待存储数据；
当ADC采集到的采样点数量达到S′时，则判定S′个采样点截断后得到的待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值B′相等；
将S′个采样点截断后得到的待存储数据打包并储存。
作为本发明进一步的方案：所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法还包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
将第一个采样点转换出来的初始数据X1打包并储存；
获取ADC在第二个采样点转换出来的初始数据X2；获取初始数据X2的数字量D2；
计算D1与D2的差值D2-D1；以及差值D2-D1的数据宽度b2，采用数据宽度b2表示第二个采样点的数字量D2在压缩后的数据宽度；
采用b2表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度，其中i＝3,4，......，n；
获取预设的存储空间设定值B′；
根据以下公式计算达到存储空间设定值所需的采样点数量S′；
设置修正有效位，根据数据宽度b2对Di与Di-1的差值进行有效位截断；并得到为待存储数据；
当ADC采集到的采样点数量达到S′时，则判定S′个采样点截断后得到的待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值B′相等；
将S′个采样点截断后得到的待存储数据打包并储存。
与现有技术相比，本发明具备以下有益效果：
1、本发明通过对周期性的正弦波在一个周期内进行多点采样和模拟数字转换的方式，能够根据ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；以及ADC在第i个采样点转换出来的初始数据Xi；获取初始数据Xi的数字量Di以及初始数据Xi-1的数字量Di-1；从而能够采用差值Di-Di-1的数据宽度bi表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度；进而能够根据数据宽度bi对Di与Di-1的差值进行有效位截断；得到待存储数据；在待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存。这样的数据压缩方法节省了采样点的占用空间，从而节省了待存储数据所需的储存空间，进而能够在SRAM储存空间一定情况下，储存ADC转换的更多数据；解决了现有技术中，需要SRAM的储存空间比较大，或者需要把ADC转换出来的并行数据放到MCU的PAD上，从而导致影响ADC测量精度的问题。
2、本发明通过给ADC(模拟数字信号转换器)的输出增加一个编码器的方法，可以实现在增加采样点的情况下，节省存储空间的效果。从而可以在MCU(微控制器)内部SRAM(静态随机访问存储)较小的情况下，存储更多的测试数据，提高ADC(模拟数字信号转换器)的测量精度。
附图说明
为了更清楚的说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域的普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他附图。
图1为ADC输入端加载的一个周期性的正弦波的示意图；
图2为ADC输出端与编码器连接的示意图；
图3为编码器的组成结构示意图。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整的描述，显然所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
在本发明的描述中，需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
参照图1至图3对本发明一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法实施例作进一步说明。
如图1所示，在本发明的一种实施例中，一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法包括以下步骤：
在ADC(模拟数字信号转换器)模拟输入端加载周期性的正弦波。ADC(模拟数字信号转换器)进行性能参数测试时，一般是在其模拟输入端加载一个周期性的正弦波，如图1所示。
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波在一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第i个采样点转换出来的初始数据Xi；其中i＝2,3,......，n；
获取初始数据Xi的数字量Di以及初始数据Xi-1的数字量Di-1；计算Di与Di-1的差值Di-Di-1；以及差值Di-Di-1的数据宽度bi，采用数据宽度bi表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度；
设置修正有效位，根据数据宽度bi对Di与Di-1的差值进行有效位截断；得到待存储数据；实现对数据的压缩。
计算待存储数据所需的存储空间；
当待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存。
在本实施例的一种情况中，根据以下公式计算待存储数据所需的存储空间B；
在本实施例的一种情况中，计算差值Di-Di-1的数据宽度bi包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第i个采样点转换出来的初始数据Xi；其中i＝2,3,......，n；
获取初始数据Xi的数字量Di以及初始数据Xi-1的数字量Di-1；计算Di与Di-1的差值Di-Di-1；
根据以下公式计算差值Di-Di-1的数据宽度bi；
采用数据宽度bi表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度。
差值Di-Di-1可以用相邻两个采样点的电压差来表示，假设ADC(模拟数字信号转换器)参考电压最高是2.5伏，输入用于测试的正弦波的幅值范围也是0伏到2.5伏。以一个周期内采样点数量为4096个为例，那么从正峰值2.5伏到负峰值0V是2048个采样点。若信号是线性的话，相邻两个点之间的幅值差(即差值Di-Di-1)则是2.5V除以2048.以ADC(模拟数字信号转换器)转换输出的单个采样点的初始数据的单个压缩数据宽度是16b it为例，那么这个差值的数据宽度需要来表示；此外，在实际应用时，采样点i与采样点i-1的差值Di-Di-1的数据宽度bi也可以在考虑到正弦信号非线性以及数据以字节为单位存储后，可以用4bit或8bit来表示。这样除了第一个采样点的单个压缩数据宽度是16bit，占用2个字节外，其他采样点就只占用1个字节。从而节省了存储空间。
以一个周期正弦波采样点数量为4096为例。假设ADC(模拟数字信号转换器)输出的第一个采样点转换出来的初始数据X1的数字量D1的数据宽度b1是16b it；第i个采样点的数字量Di的数据宽度是16bit，i＝2,3,......，n；可知数据宽度16b it在数据压缩前所需的数据宽度即需要存储的空间是8KByte。
而通过本发明，当设定或计算样点i与采样点i-1的差值Di-Di-1的数据宽度bi为8bit时，第1个采样点的初始数据所需的存储空间和第2个至第4096个采样点的待存储数据所需的存储空间共为从而得知4096个采样点所需的存储空间共为4097Byte，这4097Byte远远小于8Kbyte。从而实现了节省储存空间的作用。
在本发明的一种实施例中，当待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存的方法包括以下步骤：
对截断后的初始数据通过移位的方式进行修正，并得到为待存储数据；
当待存储数据的待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据储存到微控制器内部的静态随机访问存储中。
如图2－图3所示，在本实施例的另一种情况中，在本发明中，ADC(模拟数字信号转换器)输出后增加一个编码器。多选器用于选择模式；当多选器选择的模式为正常使用的时候，这个编码器可以被旁路掉，直接输出ADC转换的结果。当选器选择的模式为本发明中ADC(模拟数字信号转换器)的测试模式时，ADC转换的结果要经过编码器。
在本实施例中，编码器由缓存器、减法器、修整器以及合成输出模块组成。
在本实施例中，对截断后的初始数据通过移位的方式进行修正的方法还包括以下步骤：
通过缓存器记录采样点i-1转换出来的数字量Di-1；
通过减法器计算采样点i与采样点i-1的数字量差值Di-Di-1；
修正器根据设置的修正有效位对采样点i与采样点i-1之间的数字量差值进行截断；
合成输出模块根据修正有效位的数量输出待存储数据；
当待存储数据的待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存。
存储空间设定值为提前预设，本实施例中存储空间设定值为32b it；待存储数据的待存储数据所需的存储空间为32b it时，将待存储数据打包并产生有效标志，然后将打包后的待存储数据存到SRAM(静态随机访问存储)中。
为了提前对达到存储空间设定值的采样点数量进行计算，以减少后续的存储工作的准备时间，在本发明的一种实施例中，所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法还包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第二个采样点转换出来的初始数据X2；获取初始数据X2的数字量D2；
计算D1与D2的差值D2-D1；以及差值D2-D1的数据宽度b2，采用数据宽度b2表示第二个采样点的数字量D2在压缩后的数据宽度；
采用b2表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度，其中i＝3,4，......，n；
获取预设的存储空间设定值B′；
根据以下公式计算达到存储空间设定值所需的采样点数量S′；
设置修正有效位，根据数据宽度b2对Di与Di-1的差值进行有效位截断；并得到为待存储数据；
当ADC采集到的采样点数量达到S′时，则判定S′个采样点截断后得到的待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值B′相等；
将S′个采样点截断后得到的待存储数据打包并储存。
此种情况用于在确定第一个采样点的数据宽度b1和第二个采样点的b2后，提前计算得到在采集到第S′个采样点时，待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值B′相等。从而以便于当ADC采集到的采样点由第一个达到第S′个时，将S′个采样点截断后得到的待存储数据打包并储存。
在本发明的另一种实施例中，所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法还包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
将第一个采样点转换出来的初始数据X1打包并储存；
获取ADC在第二个采样点转换出来的初始数据X2；获取初始数据X2的数字量D2；
计算D1与D2的差值D2-D1；以及差值D2-D1的数据宽度b2，采用数据宽度b2表示第二个采样点的数字量D2在压缩后的数据宽度；
采用b2表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度，其中i＝3,4，......，n；
获取预设的存储空间设定值B′；
根据以下公式计算达到存储空间设定值所需的采样点数量S′；
设置修正有效位，根据数据宽度b2对Di与Di-1的差值进行有效位截断；并得到为待存储数据；
当ADC采集到的采样点数量达到S′时，则判定S′个采样点截断后得到的待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值B′相等；
将S′个采样点截断后得到的待存储数据打包并储存。
此种情况用于在采集了第一个采样点的初始数据X1后，先将第一个采样点的初始数据X1存储，然后在采集了第二个采样点转换出来的初始数据X2；根据数字量D2计算D1与D2的差值D2-D1；以及差值D2-D1的数据宽度b2，然后采用数据宽度b2表示第二个采样点至第n个采样点的数字量在压缩后的数据宽度；从而能够提前计算得到在采集到第S′个采样点时，待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值B′相等。从而以便于当ADC采集到的采样点由第二个采样点至第S′+1个采样点时，将S′个采样点截断后得到的待存储数据打包并储存。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (4)
1.一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，其特征在于，所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波在一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第i个采样点转换出来的初始数据Xi；其中i＝2,3,......，n；
获取初始数据Xi的数字量Di以及初始数据Xi-1的数字量Di-1；计算Di与Di-1的差值Di-Di-1；以及差值Di-Di-1的数据宽度bi，采用数据宽度bi表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度；
设置修正有效位，根据数据宽度bi对Di与Di-1的差值进行有效位截断；得到待存储数据；
计算待存储数据所需的存储空间；
当待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存；
根据以下公式计算待存储数据所需的存储空间B；
计算差值Di-Di-1的数据宽度bi包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第i个采样点转换出来的初始数据Xi；其中i＝2,3,......，n；
获取初始数据Xi的数字量Di以及初始数据Xi-1的数字量Di-1；计算Di与Di-1的差值Di-Di-1；
根据以下公式计算差值Di-Di-1的数据宽度bi；
采用数据宽度bi表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度；
当待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存的方法包括以下步骤：
对截断后的初始数据通过移位的方式进行修正，得到为待存储数据；
当待存储数据的待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据储存到微控制器内部的静态随机访问存储中。
2.根据权利要求1所述的一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，其特征在于，对截断后的初始数据通过移位的方式进行修正的方法还包括以下步骤：
通过缓存器记录采样点i-1转换出来的数字量Di-1；
通过减法器计算采样点i与采样点i-1的数字量差值Di-Di-1；
修正器根据设置的修正有效位对采样点i与采样点i-1之间的数字量差值进行截断；
合成输出模块根据修正有效位的数量输出待存储数据；
当待存储数据的待存储数据所需的存储空间与存储空间设定值相等时，将待存储数据打包并储存。
3.根据权利要求1所述的一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，其特征在于，所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法还包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
获取ADC在第二个采样点转换出来的初始数据X2；获取初始数据X2的数字量D2；
计算D1与D2的差值D2-D1；以及差值D2-D1的数据宽度b2，采用数据宽度b2表示第二个采样点的数字量D2在压缩后的数据宽度；
采用b2表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度，其中i＝3,4，......，n；
获取预设的存储空间设定值B′；
根据以下公式计算达到存储空间设定值所需的采样点数量S′；
设置修正有效位，根据数据宽度b2对Di与Di-1的差值进行有效位截断；并得到为待存储数据；
当ADC采集到的采样点数量达到S′时，则判定S′个采样点截断后得到的待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值B′相等；
将S′个采样点截断后得到的待存储数据打包并储存。
4.根据权利要求1所述的一种ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法，其特征在于，所述ADC用于测试性能参数的数据压缩存储方法还包括以下步骤：
启动ADC进行性能参数测试，ADC对周期性的正弦波一个周期内进行多点采样；
获取ADC在第一个采样点转换出来的初始数据X1；获取初始数据X1的数字量D1,获取数字量D1的数据宽度b1；
将第一个采样点转换出来的初始数据X1打包并储存；
获取ADC在第二个采样点转换出来的初始数据X2；获取初始数据X2的数字量D2；
计算D1与D2的差值D2-D1；以及差值D2-D1的数据宽度b2，采用数据宽度b2表示第二个采样点的数字量D2在压缩后的数据宽度；
采用b2表示第i个采样点的数字量Di在压缩后的数据宽度，其中i＝3,4，......，n；
获取预设的存储空间设定值B′；
根据以下公式计算达到存储空间设定值所需的采样点数量S′；
设置修正有效位，根据数据宽度b2对Di与Di-1的差值进行有效位截断；并得到为待存储数据；
当ADC采集到的采样点数量达到S′时，则判定S′个采样点截断后得到的待存储数据所需的存储空间B与存储空间设定值B′相等；
将S′个采样点截断后得到的待存储数据打包并储存。
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| CN202311253350.4A CN117335812B (zh) | 2023-09-26 | 2023-09-26 | 一种adc用于测试性能参数的数据压缩存储方法 |
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| CN117335812A CN117335812A (zh) | 2024-01-02 |
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ID=89291074
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| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
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2023
- 2023-09-26 CN CN202311253350.4A patent/CN117335812B/zh active Active
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