CN117330990A - 掉电检测方法、电子设备及计算机可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请提供一种掉电检测方法、电子设备及计算机可读存储介质，掉电检测方法应用于电子设备，电子设备的输入端电连接交流电源，掉电检测方法包括：在每个检测周期，获取输入端的采样电压值；在采样电压值处于预设电压范围时，增加累计掉电值；预设电压范围内的电压值的绝对值均小于预设电压阈值；在采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值；在累计掉电值大于或等于预设阈值时，确定交流电源掉电。上述方法能够有效减少噪声干扰，以准确检测出交流电源掉电。

Description

掉电检测方法、电子设备及计算机可读存储介质

技术领域

本申请属于储能技术领域，尤其涉及一种掉电检测方法、电子设备及计算机可读存储介质。

背景技术

相关技术中的掉电检测手段：对电连接交流电源的交流电输入侧的电压信号进行采样，将当前采样时刻所采样到的电压幅值与在当前采样时刻之前所采样到的电压幅值作差得到差值。如果差值的绝对值大于预设电压阈值，则表示电压发生突变，确定交流电源掉电。然而，在交流电源存在噪声干扰时，上述掉电检测手段可能会出现误判。例如当采样的电压信号存在尖峰干扰时，会导致采样到的电压幅值发生突变，从而导致差值的绝对值大于预设电压阈值，由此造成误判。

发明内容

本申请实施例提供了一种掉电检测方法、电子设备及计算机可读存储介质，以解决基于噪声干扰而导致的掉电检测误判的问题。

本申请实施例第一方面提供一种掉电检测方法，应用于电子设备，电子设备的输入端电连接交流电源，掉电检测方法包括：在每个检测周期，获取输入端的采样电压值；在采样电压值处于预设电压范围时，增加累计掉电值；预设电压范围内的电压值的绝对值均小于预设电压阈值；在采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值；在累计掉电值大于或等于预设阈值时，确定交流电源掉电。

在本申请实施例中，掉电检测方法应用于电子设备，电子设备在每个检测周期，获取输入端的采样电压值。基于预设电压范围内的电压值的绝对值均小于预设电压阈值，则在采样电压值处于预设电压范围时，指示交流电源输出的电压较低，交流电源掉电的可能性较高，增加累计掉电值，进而在累计掉电值大于或等于预设阈值时确定交流电源掉电，而非如现有技术基于所采样到的电压幅值发生突变就直接判断掉电，由此可避免交流电源存在噪声时所带来的掉电检测误差，实现更精准地检测交流电源是否掉电。

而在采样电压值不处于预设电压范围时，指示交流电源输出的电压较高，交流电源掉电的可能性较低，减小累计掉电值。由此至少可以避免如下情形：即使交流电源未掉电，基于检测周期的不断累加而造成的累计掉电值累加，最终使得不断累加的累计掉电值也可以达到预设阈值，进而造成掉电检测误差。

进一步地，在采样电压值处于预设电压范围时，增加累计掉电值，在采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值，由此确保在每个检测周期进行检测后，都可以根据该检测周期中采样电压值与预设电压范围的关系，实时更新交流电源的掉电可能性，确保每个检测周期更新后的累计掉电值可以更真实反映交流电源掉电可能性。

本申请实施例第二方面还提供一种电子设备，电子设备包括处理器与存储器，处理器用于执行存储器中存储的计算机程序以实现如上述的掉电检测方法。

本申请实施例第三方面还提供一种计算机可读存储介质，计算机可读存储介质上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现如上述掉电检测方法。

可以理解地，上述第二方面提供的电子设备、第三方面提供的计算机可读存储介质，与上述第一方面的方法对应，因此，其所能达到的有益效果或各种实现方式可参考上文，此处不再赘述。

附图说明

图1是本申请实施例提供的掉电检测方法的应用场景示意图。

图2是本申请实施例提供的电子设备的结构示意图。

图3是本申请实施例提供的一种掉电检测方法流程示意图。

图4是本申请实施例提供的一种交流电的电压波形示意图。

图5是本申请实施例提供的另一种掉电检测方法流程示意图。

图6是本申请实施例提供的另一种交流电的电压波形示意图。

图7是本申请实施例提供的另一种交流电的电压波形示意图。

图8是本申请实施例提供的另一种交流电的电压波形示意图。

具体实施方式

本申请的说明书和权利要求书及附图中，除非另有说明，“/”表示或的意思，例如，A/B可以表示A或B。例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。

本申请实施例中公开的方法或流程图所示出的方法，包括用于实现方法的一个或多个步骤，在不脱离权利要求的范围的情况下，多个步骤的执行顺序可以彼此互换，其中某些步骤也可以被删除。

下面将结合附图对一些实施例做出说明。在不冲突的情况下，下述的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

电子设备电连接交流电源(如电网)时，需要进行掉电检测，从而在确定交流电源掉电时，电子设备能够根据需要进行备电切换、停止供电或其他操作。相关技术中的掉电检测手段：对电连接交流电源的交流电输入侧的电压信号进行采样，将当前采样时刻所采样到的电压幅值与在之前采样时刻所采样到的电压幅值作差得到差值。如果差值的绝对值大于预设电压阈值，则表示电压发生突变，确定交流电源掉电。然而，在交流电源存在噪声干扰时，上述掉电检测手段可能会出现误判。例如，所采样的电压信号存在尖峰干扰，会导致采样到的电压幅值发生突变，从而导致差值的绝对值大于预设电压阈值，由此造成误判。

鉴于此，本申请提供一种掉电检测方法，可以避免噪声干扰(如尖峰干扰)所带来的掉电检测误判，且在掉电后可以快速检测出掉电。

下面结合附图来对本申请的技术方案作进一步的详细描述。

请参阅图1，示例性介绍本申请实施例提供的掉电检测方法的应用场景，其中包括电子设备10和交流电源20。

在本申请实施例中，交流电源20电连接电子设备10，以为电子设备10供电。基于交流电源20电连接电子设备10，电子设备10可以根据交流电源20输出的交流电进行掉电检测。

其中，电子设备10可以为储能设备、用电设备、终端设备等可以与交流电源20电连接的设备，本申请对此不作具体限定。其中，储能设备可以包括家用储能设备、移动储能设备、储能一体机、电池包、移动充电车、户外电源等包括电池模块的设备，该电池模块可以用于提供电能，也可以用于存储电能。用电设备可以包括但不限于冰箱、空调、风扇、新能源汽车、电机组件等。终端设备包括但不限于手机、电脑、平板等。

其中，交流电源20包括但不限于电网、油动发电机、燃气发电机等，电网例如为市电电网或微电网。

本申请实施例提供的掉电检测方法的应用场景中可以包括N个电子设备10，N为大于或等于1的整数。该N个电子设备10均电连接交流电源20，该N个电子设备10可以独立执行或联合执行本申请实施例提供的掉电检测方法，以在确定交流电源20掉电时，如确定交流电源20停电或电子设备10与交流电源20之间的电连接断开，电子设备10能够根据需要进行停止供电、备电切换或其他操作。

请参阅图2，示例性介绍本申请实施例提供的电子设备10的结构。

电子设备10包括输入端101、采样电路102以及处理器103。采样电路102的第一端电连接输入端101，采样电路102的第二端电连接处理器103。

其中，输入端101用于电连接交流电源20，获得交流电源20输入的交流电。输入端101为电子设备10有交流电的一侧。在具体实现时，输入端101可以为电子设备10的插头、插座或接线端子等。

在一些实施例中，电子设备10还包括整流电路(图未示意)，整流电路用于将交流电源20输入的交流电转换为直流电。整流电路的交流侧用于电连接交流电源20，整流电路的直流侧包括直流母线以及设置于直流母线的母线电容。整流电路包括AC/DC电压变换电路，AC/DC电压变换电路用于将交流侧输入的交流电转换为直流电，并输出给直流母线，母线电容可以对直流母线上的直流电进行蓄能。

在一些实施例中，电子设备10的输入端101可以为整流电路的交流侧。

其中，采样电路102用于对交流电源20输入的交流电进行采样。

具体地，基于输入端101电连接交流电源20，输入端101可以获得交流电源20输入的交流电。采样电路102用于对输入端101的交流电的电压信号进行采样，得到输入端101的采样电压值。

在本申请实施例中，可以预先为采样电路102设置采样周期，采样周期为相邻两次采样之间的时间间隔。采样电路102根据预设的采样周期对输入端101的交流电电压信号进行采样，得到输入端101的采样电压值。

在本申请实施例中，采样电路102包括但不限于采样电阻。在一些实施例中，采样电路102可以实现为模数转换器(AnalogTo Digital Converter，ADC)电压采样电路，本申请对此不作具体限定。

其中，处理器103用于执行本申请实施例提供的掉电检测方法。

在本申请实施例中，处理器103根据采样电路102所采样到的输入端101的采样电压值，执行对应的计算机程序时，实现本申请实施例提供的掉电检测方法。

在一些实施例中，电子设备10还包括存储器104。处理器103电连接存储器104。存储器104用于存储计算机程序。处理器103执行存储器104中所存储的计算机程序时，可以实现本申请实施例提供的掉电检测方法。

在一些实施例中，存储器104还可以用于存储待处理的数据，如采样电路102所采样到的输入端101的采样电压值。处理器103读取存储器104所存储的采样电压值，并执行存储器104所存储的计算机程序时，以实现本申请实施例提供的掉电检测方法。

上述处理器103和存储器104可以分立设置，也可以集成设置，本申请实施例对此不作具体限定。

在本申请实施例中，可以预先为处理器103设置检测周期，该检测周期为相邻两次掉电检测之间的时间间隔。处理器103在检测周期中获取采样电路102采样的采样电压值，对所获得的采样电压值进行检测以确定交流电源20是否掉电。

可以理解，电子设备10还可以包括更多的功能模块或更少的功能模块，本申请对此不作具体限定。

处理器103可以是中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)，还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(Application Specific Integrated Circuit，ASIC)或者其他可编程逻辑器件等。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等，例如，处理器103是电子设备10的运算核心和控制中心，利用各种接口和线路连接整个电子设备10的各个部分，及获取电子设备10的操作系统、实现特定功能所需的计算机程序以及待处理的数据等。

存储器104可以用于存储实现本申请实施例提供的掉电检测方法相关的计算机程序，还可以用于存储所获得的采样电压值。在一些实施例中，还可以用于存储进行检测之后的检测结果，如确定交流电源掉电以及掉电的时刻。

存储器104可以包括存储程序区和存储数据区。其中，存储程序区可以用于存储操作系统、至少一个特定功能所需的计算机程序(如掉电检测功能所需要的程序代码)等。存储数据区可以用于存储采样电压值、检测结果等。

存储器104可以包括非易失性存储器，例如硬盘、内存、插接式硬盘，智能存储卡(Smart Media Card,SMC)，安全数字(Secure Digital,SD)卡，闪存卡(Flash Card)、至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非易失性固态存储器件。例如，存储器可以是电子设备10的外部存储器和/或内部存储器。进一步地，存储器104可以是具有实物形式的存储器，如内存条、TF卡(Trans-flash Card)等。

存储器104中的程序代码和各种数据如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。鉴于此，本申请实现本申请实施例提供的掉电检测方法中的全部或部分流程，也可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成。计算机程序可存储于计算机可读存储介质中，计算机程序在被处理器103执行时，可实现本申请实施例提供的掉电检测方法。其中，计算机程序包括计算机程序代码，计算机程序代码可以为源代码形式、对象代码形式、可执行文件或某些中间形式等。计算机可读介质可以包括：能够携带计算机程序代码的任何实体或装置、记录介质、U盘、移动硬盘、磁碟、光盘、计算机存储器、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)等。

本申请实施例提供的储能设备所能达到的有益效果可参考下文本申请实施例所提供的掉电检测方法的有益效果，此处不再赘述。

本申请实施例提供的掉电检测方法可以应用于上述应用场景，可以适用于其他需要对交流电进行掉电检测的场景，而并不限于上述应用场景。本申请实施例提供的掉电检测方法可以由上述电子设备10执行，具体地，可以由电子设备10中的处理器103执行。

请参阅图3，示例性介绍本申请实施例提供的掉电检测方法的流程。该方法应用于电子设备，该掉电检测方法包括步骤S30至步骤S36。

步骤S30：在每个检测周期，获取输入端的采样电压值。

在本申请实施例中，电子设备的采样电路根据采样周期采样输入端的交流电电压信号，得到输入端的采样电压值。处理器在每个检测周期，获取采样电路所采样到的输入端的采样电压值，进而根据所获取的采样电压值进行检测，即根据所获取的采样电压值执行下述步骤。

其中，采样电路根据采样周期进行采样，以得到采样电压值。处理器根据检测周期对采样电压值进行检测，以得到该检测周期对应的检测结果。检测结果包括但不限于：确定交流电源掉电、确定交流电源未掉电，继续下一检测周期的检测。

检测周期与采样周期的其他相关内容还可以参考上述描述，在此不再赘述。

在一些实施例中，处理器可以实时从采样电路中获得输入端的采样电压值，如采样电路采样到采样电压值后，即可将该采样电压值传输至处理器。

在另一些实施例中，处理器还可以根据检测周期，周期性地从采样电路中获得输入端的采样电压值，本申请对此不作具体限定。

在本申请实施例中，检测周期大于或等于采样电压值的采样周期。基于检测周期大于或等于采样电压值的采样周期，处理器可以在获得一个采样电压值后进行掉电检测，也可以在获得两个或两个以上的采样电压值后进行掉电检测，本申请对此不作具体限定。

在本申请实施例中，电子设备可以在开机后，或在电连接交流电源后，或在接收到对应的指令后执行本申请实施例的掉电检测方法，本申请对此不作具体限定。

步骤S32：在采样电压值处于预设电压范围时，增加累计掉电值，其中预设电压范围内的电压值的绝对值均小于预设电压阈值。

预设电压范围为预先设置的，用于掉电检测的电压区间。由于交流电源掉电时，交流电源输出的交流电的电压会下降到0或0附近，所以预设电压阈值可以设置为一较小的电压值，用于指示交流电的电压下降到0或0附近，从而基于预设电压范围对交流电源进行掉电检测。示例性地，预设电压阈值可以设置为40V、60V、75V、80V等数值；假设预设电压阈值为80V，预设电压范围可以为(-80V，80V)、[-79V，75V)、(-70V，72V]等。本申请对预设电压范围的具体数值以及预设电压范围的具体范围不予限制。

当交流电源的采样电压值位于预设电压范围内时，可以认为交流电源的电压较低，掉电可能性较高。此时，可以增加累计掉电值。

请一并参阅图4，示例性介绍交流电源未存在噪声干扰时，交流电源所输入的交流电的正弦波形。预设电压范围内的电压值可以设置为正弦波形的过零点附近，也即预设电压范围可以用于指示交流电源所输入交流电的正弦波形的过零点附近。

可以理解，基于交流电源掉电是交流电源的有效值掉落，且有效值维持在0附近。当交流电源掉电时，由于输入端的端口电容或其他元器件的作用，交流电源的电压并不是直接消失，而是逐渐下降且维持在0附近。

在本申请实施例中，设置预设电压范围内的电压值的绝对值均小于预设电压阈值，可以设置一用于指示过零点附近的预设电压范围，以基于该预设电压范围判断交流电源输入的交流电是否符合掉电的特征。在采样电压值处于预设电压范围时，交流电源输入的交流电电压较低，指示交流电源掉电的可能性较高。相应地，在采样电压值不处于预设电压范围时，交流电源输入的交流电电压较高，指示交流电源掉电的可能性较低。

其中，累计掉电值用于指示在进行掉电检测的过程中，关于采样电压值处于预设电压范围的历史记录与采样电压值不处于预设电压范围的历史记录。换句话说，累计掉电值用于指示在进行掉电检测的过程中，关于交流电源掉电可能性的历史记录，包括掉电可能性高的历史记录和掉电可能性低的历史记录。其中掉电检测的过程指开始进行掉电检测(如执行步骤S30)至结束掉电检测(如确定交流电源掉电或暂停掉电检测)之间的过程。

其中，历史记录可以为在进行掉电检测的过程中，关于采样电压值处于预设电压范围的时长的记录以及采样电压值不处于预设电压范围的时长的记录，也可以为在进行掉电检测的过程中，关于检测到采样电压值处于预设电压范围的次数的记录以及检测到采样电压值不处于预设电压范围的次数的记录。

累计掉电值的大小在一定程度上与交流电源掉电的可能性呈正比。累计掉电值越大，则掉电的可能性越大；累计掉电值越小，则掉电的可能性越小。

在本申请实施例中，累计掉电值为在进行掉电检测的过程中，处理器根据每个检测周期中采样电压值与预设电压范围的关系，更新累计掉电值的数值。其中更新的方式包括但不限于：增加累计掉电值(也即使得累计掉电值的数值增加)、减小累计掉电值(也即使得累计掉电值的数值减小)、以及保持累计掉电值(也即既不增加也不减小累计掉电值)。

在本申请实施例中，电子设备可以存储累计掉电值，并根据每个检测周期中采样电压值与预设电压范围的关系，更新该检测周期的当前累计掉电值，得到更新后的累计掉电值。在掉电检测的过程中，更新后的累计掉电值可以作为下一检测周期的当前累计掉电值。

在本申请实施例中，在采样电压值处于预设电压范围时，也即交流电源掉电的可能性较高，增加累计掉电值，以在掉电检测过程中，可以根据多次不断累加累计掉电值来确定交流电源是否真的掉电，也即多次不断累加得到的累计掉电值可以精准确定交流电源是否掉电，而非如现有技术仅基于相邻采样电压值比较直接确定是否掉电，由此避免基于噪声干扰而导致的掉电检测误差。

步骤S34：在采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值。

其中，预设电压范围与累计掉电值的相关内容可以参考上述，在此不再赘述。

在电子设备检测到采样电压值不处于预设电压范围时，也即交流电源掉电的可能性较低，可以减小累计掉电值。

在一些实施例中，在采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值。

其中，为了加快掉电检测的速度，可以为累计掉电值设置下限值，例如，可以设置累计掉电值的下限值为0。此时，若在检测周期中检测到采样电压值不处于预设电压范围，且该检测周期对应的累计掉电值大于0时，则减小累计掉电值；若在检测周期中检测到采样电压值不处于预设电压范围，且该检测周期对应的累计掉电值等于0或小于0，则维持该累计掉电值(即该检测周期不调整累计掉电值，如维持该累计掉电值为0)。可以理解，累计掉电值的下限值也可以设置为其他值，如-1、-2等。相应的，该下限值越小，则后续掉电检测所需要的判断时间越长。在本申请实施例中，通过设置预设电压范围内的电压值的绝对值均小于预设电压阈值，可以在交流电源掉电后，基于预设电压范围识别交流电源的状态，进而在确定交流电源掉电后，及时采取相应的处理措施。

在本申请实施例中，在采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值，由此避免掉电检测过程中仅增加累计掉电值，进而确保每一检测周期更新后的累计掉电值可以更真实准确反映掉电检测的过程中交流电源掉电的可能性。

步骤S36：在累计掉电值大于或等于预设阈值时，确定交流电源掉电。

其中，预设阈值用于判断交流电源是否掉电。在累计掉电值大于或等于预设阈值时，确定交流电源掉电。相应地，在累计掉电值小于预设阈值时，可以确定交流电源未掉电，交流电源是暂时性电压降低。

可以理解，上述预设电压范围指示交流电源所输入交流电的电压幅值(即采样电压值)在过零点附近。正常的正弦波形存在过零点，但是正弦波形在过零点附近停留的时间较短。因此，可以对交流电源的所输入的交流电的电压幅值在过零点附近的停留时间进行统计(如通过时长或次数进行统计)，当交流电的电压幅值在过零点附近长时间停留时，可以确定交流电源掉电。

鉴于此，本申请实施例通过预设阈值判断交流电源的所输入的交流电的电压幅值是否在过零点附近长时间停留。具体地，在累计掉电值大于或等于预设阈值时，确定交流电源的所输入的交流电的电压幅值在过零点附近长时间停留，由此可知确定交流电源掉电。相应地，在累计掉电值小于预设阈值时，确定交流电源的所输入的交流电的电压幅值未在过零点附近长时间停留，由此可以确定交流电源未掉电，交流电的电压幅值是暂时性降低。

在一些实施例中，可以设置预设阈值为指示交流电源掉电的最低值，也即当累计掉电值大于或等于预设阈值时，指示交流电源掉电，相应地，累计掉电值小于预设阈值时，也指示交流电源未掉电。在另一些实施例中，可以设置预设阈值为指示交流电源未掉电的最高值，也即当累计掉电值小于或等于预设阈值时，指示交流电源未掉电，而当累计掉电值大于预设阈值时，指示交流电源掉电。具体可以根据实际情况设置预设阈值，本申请对此不作具体限定。

在本申请实施例中，步骤S36可以在步骤S32后执行，也即电子设备可以在增加累计掉电值后，判断增加累计掉电值后所得到的累计掉电值是否大于或等于预设阈值。若增加后的累计掉电值大于或等于预设阈值，则确定交流电源掉电。若增加后的累计掉电值小于预设阈值，则确定交流电源未掉电，继续进行后续监测，进入或等待进入下一检测周期。

在一些实施例中，步骤S36可以在步骤S30之后，步骤S32之前执行，则步骤S30包括：在每个检测周期，获取输入端的采样电压值和累计掉电值。在步骤S30获得累计掉电值后，电子设备可以先判断累计掉电值是否大于或等于预设阈值。若累计掉电值大于或等于预设阈值，则确定交流电源掉电。若累计掉电值小于预设阈值，则执行步骤S32，增加累计掉电值。

本申请实施例提供的掉电检测方法包括但不限于如下技术效果：

在本申请实施例中，在进行掉电检测的过程中，根据每个检测周期中采样电压值与预设电压范围的关系，确定交流电源掉电的可能性，以在后续根据交流电源掉电的可能性更精准地检测交流电源是否掉电。

具体地，在进行掉电检测的过程中，电子设备检测到所获得的采样电压值处于预设电压范围时，确定交流电源掉电的可能性高，增加累计掉电值，进而在累计掉电值大于或等于预设阈值时确定交流电源掉电，而非如现有技术基于所采样到的电压幅值发生突变就直接判断掉电，由此可避免交流电源存在噪声时所带来的掉电检测误差，实现更精准地检测交流电源是否掉电。

电子设备检测到所获得的采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值，由此避免在掉电检测过程中更新累计掉电值的方式只能是增加，进而至少可以避免如下情形：即使交流电源未掉电，基于检测周期的不断累加而造成的累计掉电值累加，最终使得不断累加的累计掉电值也可以达到预设阈值，进而造成掉电检测误差。

进一步地，在采样电压值处于预设电压范围时，增加累计掉电值，在采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值，由此确保在每个检测周期进行检测后，都可以根据该检测周期中采样电压值与预设电压范围的关系，实时更新交流电源的掉电可能性，确保每个检测周期更新后的累计掉电值可以更真实反映交流电源掉电。

可以理解，在交流电源发生噪声干扰时，如采样电路所采样到的电压信号发生尖峰干扰或刺头干扰，则发生噪声干扰时所对应的采样电压值的绝对值会大于预设电压阈值。相应地，当交流电源未发生噪声干扰时，如采样电路所采样到的电压信号未发生尖峰干扰或刺头干扰，则所采样到的采样电压值的绝对值可能会大于或等于预设电压阈值，也可能会小于预设电压阈值。由此可知，在本申请实施例中，当采样电压值处于预设电压范围，即交流电源未发生噪声干扰时，增加累计掉电值。当采样电压值不处于预设电压范围时，减少累计掉电值。也即是说，当采样电压值不处于预设电压范围时，交流电源可能发生噪声干扰，也可能不发生噪声干扰，但是即使发生噪声干扰，也不会增加累计掉电值，反而减小累计掉电值，从而避免如现有技术中基于噪声干扰所带来的掉电检测误差。

在一些实施例中，预设电压阈值为预设的最低工作电压值。

可以理解，上述预设的最低工作电压值可以是指电子设备在正常工作状态下所需要的最小电压值。如果交流电源输出的交流电的电压低于最低工作电压值，则电子设备可能无法正常工作或者出现性能下降、故障等问题，对于电子设备来说相当于掉电了。所以，可以将预设电压阈值设置为最低工作电压值，当采样电压值低于或等于电子设备的最低工作电压值时，可以认为电子设备无法处于正常工作状态的可能性较高，此时交流电源掉电的可能性较高。

在本申请实施例中，不同类型的电子设备有不同的最低工作电压值的要求，因此，可以根据实际场景的需求设置对应的最低工作电压值，如75V、80V等。假设设置的电子设备的最低工作电压值为80V，则预设电压范围可以为[80V，-80V]。

在一些实施例中，电子设备可以在执行本申请实施例提供的掉电检测方式时或之前，获取其最低工作电压值，进而基于其最低工作电压值确定预设电压范围。

在另一些实施例中，工作人员(例如电子设备的生产厂商)可以根据电子设备的最低工作电压值，直接在电子设备内配置对应的预设电压范围，本申请实施例对设置预设电压范围的方式不作具体限定。

在另一些实施例中，预设电压阈值可以小于最低工作电压值，或者，预设电压阈值可以大于最低工作电压值，本申请对预设电压阈值和最低工作电压值的具体关系不予限制。

下述将具体介绍电子设备根据每个检测周期中采样电压值与预设电压范围的关系，更新累计掉电值的情形。

情形一：在采样电压值处于预设电压范围时，增加累计掉电值。情形一包括但不限于如下更新方式：

方式一，当累计掉电值为关于时长的记录时，则增加累计掉电值为将累计掉电值增加检测周期。

示例性地，以检测周期为T，初始累计掉电值为0，在检测周期T1中获得采样电压值A1和当前累计掉电值B1(即初始累计掉电值0)，检测到采样电压值A1处于预设电压范围时，将累计掉电值B1增加检测周期，得到检测周期T1中更新后的累计掉电值B2，更新后的累计掉电值B2为T。该更新后的累计掉电值B2作为下一检测周期T2的当前累计掉电值。在检测周期T2中获得采样电压值A2和当前累计掉电值B2，检测到采样电压值A2处于预设电压范围时，将累计掉电值B2增加检测周期，得到检测周期T2中更新后的累计掉电值B3，更新后的累计掉电值B3为2*T，以此类推。

方式二，当累计掉电值为关于次数的记录时，则增加累计掉电值为将累计掉电值加1。

示例性地，以初始累计掉电值为0，在检测周期T1中获得采样电压值A1和当前累计掉电值B1(即初始累计掉电值0)，检测到采样电压值A1处于预设电压范围时，将累计掉电值B1加1，得到检测周期T1中更新后的累计掉电值B2，更新后的累计掉电值B2为1。该更新后的累计掉电值B2作为下一检测周期T2的当前累计掉电值。在检测周期T2中获得采样电压值A2和当前累计掉电值B2，检测到采样电压值A2处于预设电压范围时，将累计掉电值B2加1，得到检测周期T2中更新后的累计掉电值B3，更新后的累计掉电值B3为2，以此类推。

情形二：在采样电压值不处于预设电压范围时，减小累计掉电值。情形二包括但不限于如下更新方式：

第一种方式：在采样电压值不处于预设电压范围，且累计掉电值大于0时，减小累计掉电值。

在第一种方式中，当累计掉电值为关于时长的记录时，则减小累计掉电值为将累计掉电值减小检测周期。

示例性地，以检测周期为T，检测周期T1对应的当前累计掉电值B1为20*T为例，在检测周期T1中获得采样电压值A1和当前累计掉电值B1(即20*T)，检测到采样电压值A1不处于预设电压范围时，将累计掉电值B1减小检测周期，得到检测周期T1中更新后的累计掉电值B2，更新后的累计掉电值B2为19*T。该更新后的累计掉电值B2作为下一检测周期T2的当前累计掉电值，以进行下一检测周期，以此类推。

在第一种方式中，当累计掉电值为关于次数的记录时，则减小累计掉电值为将累计掉电值减1。

示例性地，以检测周期T1对应的当前累计掉电值B1为20为例，在检测周期T1中获得采样电压值A1和当前累计掉电值B1，检测到采样电压值A1不处于预设电压范围时，将累计掉电值B1减1，得到检测周期T1中更新后的累计掉电值B2，更新后的累计掉电值B2为19。该更新后的累计掉电值B2作为下一检测周期T2的当前累计掉电值，以进行下一检测周期，以此类推。

第二种方式：在采样电压值不处于预设电压范围，且累计掉电值小于或等于0时，进入下一个检测周期。

在第二种方式中，在将累计掉电值减少至0时，即更新后的累计掉电值为0，若后续检测周期检测到采样电压值不处于预设电压范围，则保持该检测周期对应的累计掉电值为0。

以累计掉电值为关于时长的记录为例，如上述示例，在检测周期T20中获得采样电压值A20和当前累计掉电值B19(1*T)，检测到采样电压值A20不处于预设电压范围时，将累计掉电值B19减小检测周期，得到检测周期T20中更新后的累计掉电值B20，更新后的累计掉电值B20为0。该更新后的累计掉电值B20作为下一检测周期T21的当前累计掉电值。在检测周期T21中获得采样电压值A21和当前累计掉电值B20，检测到采样电压值A21不处于预设电压范围时，且上一个检测周期T20中更新后的累计掉电值B20为0，则保持检测周期T21中的累计掉电值B21为0。若在下一个或多个检测周期中仍检测到采样电压值不处于预设电压范围，则继续维该持检测周期对应的累计掉电值为0，直至在下一个或多个检测周期中检测到电压采样值处于预设电压范围时，将累计掉电值增加检测周期，即将0增加T。当累计掉电值为次数的记录时同理，在此不再赘述。

在方式二中，累计掉电值的下限值为0，即更新后的累计掉电值应当会大于或等于0。但是，如果出现赋值错误等意外因素，导致累计掉电值小于0，且后续检测周期检测到采样电压值不处于预设电压范围，则在后续检测周期中，可以保持该检测周期对应的累计掉电值，或者，也可以将累计掉电值重置为0。

如上述示例，在检测周期T21中获得采样电压值A21和上一个检测周期T20中更新后的累计掉电值B20，检测到采样电压值A21不处于预设电压范围时，但是累计掉电值B20为0，所以，应该要保持检测周期T21中的累计掉电值B21为0。但是，有可能因为意外的赋值错误，导致更新后的累计掉电值B21为-1*T。该更新后的累计掉电值B21作为下一检测周期T22的当前累计掉电值。在检测周期T22中获得采样电压值A22和当前累计掉电值B21，检测到采样电压值A22不处于预设电压范围时，且上一个检测周期T21中更新后的累计掉电值B21为-1*T，保持检测周期T22中的累计掉电值B22为-1*T，或者，也可以将累计掉电值B22赋值为0，以清除该赋值错误。若保持检测周期T22中的累计掉电值B22为-1*T，且在下一个或多个检测周期中仍检测到采样电压值不处于预设电压范围，则继续维该持检测周期对应的累计掉电值为-1*T，直至在下一个或多个检测周期中检测到电压采样值处于预设电压范围时，将累计掉电值增加检测周期，即将-1*T增加T得到0。当累计掉电值为次数的记录时同理，在此不再赘述。

在本申请实施例中，预设阈值可以在正常的未掉电工况下，根据一个工频周期内累计掉电值的最大值进行设置。

如图4所示，假设预设电压范围为[-P，P]。在一个工频周期内，从时间0到Ta的时间段内，采样电压值在预设电压范围内，累计掉电值不断累加；在时间Ta到时间Tb的时间段内，采样电压值不在预设电压范围内，累计掉电值不断减小，直至小于或等于0；在时间Tb到Tc的时间段内，采样电压值在预设电压范围内，累计掉电值不断累加；在时间Tc到Td的时间段内，采样电压值不在预设电压范围内，累计掉电值不断减小，直至小于或等于0；在时间Td到Te的时间段内，采样电压值在预设电压范围内，累计掉电值不断累加，直至下一个工频周期的时间Ta。因此，一个工频周期内累计掉电值的最大值为时间Ta和时间Tc对应的累计掉电值。

在一些实施例中，在获取到一个工频周期内累计掉电值的最大值之后，可以在最大值的基础上增加一定的裕量，得到预设阈值。

在一些实施例中，预设阈值小于或等于四分之一个工频周期与检测周期的比值。具体地，当累计掉电值为关于次数的记录时，则预设阈值可以小于或等于四分之一个工频周期与检测周期的比值。

示例性地，以图4为例，时间Tc对应的累计掉电值为时间Tb到时间Tc之间的时长与检测周期的比值。由于预设电压范围内的电压值通常在0附近，所以，时间Tb到时间Tc之间的时长通常会小于或等于四分之一个工频周期。此时，为了加快掉电检测的速度，可以将预设阈值设置为小于或等于四分之一个工频周期与检测周期的比值。

在另一些实施例中，预设阈值小于或等于四分之一个工频周期。具体地，当累计掉电值为关于时长的记录，则预设阈值小于或等于四分之一个工频周期。

示例性地，以图4为例，由于时间Tb到时间Tc之间的时长通常会小于或等于四分之一个工频周期，所以，可以将预设阈值设置为小于或等于四分之一个工频周期。

由于预设阈值越大，掉电检测的准确性越高。因此，在另一些实施例中，当累计掉电值为关于次数的记录时，预设阈值也可以大于四分之一个工频周期与检测周期的比值；当累计掉电值为关于时长的记录，预设阈值可以大于四分之一个工频周期。

请参阅图5，示例性介绍本申请实施例提供的另一掉电检测方法。该掉电检测方法由上述电子设备10执行，具体地，可以由电子设备10中的处理器103执行。

步骤S500：在检测周期，获取输入端的采样电压值。

在本申请实施例中，可以预先配置采样周期、检测周期、预设电压范围、预设阈值以及累计掉电值。

具体地，可以预先设置四个参数，包括第一电压阈值+a、第二电压阈值-a、预设阈值b以及累计掉电值c，并为累计掉电赋初始值，如c＝0。第一电压阈值+a以及第二电压阈值-a组成预设电压范围。

请一并参阅图6，示例性介绍第一电压阈值+a、第二电压阈值-a以及预设阈值b的设置。

假设电子设备的工作电压范围为80V～120V，则在电压低于80V时，电子设备就无法保证正常工作。因此，可以根据电子设备的最低工作电压值设置预设电压范围，设置第一电压阈值+a为80V，设置第二电压阈值-a为-80V，也即预设电压范围为大于或等于-80V，且小于或等于80V。在如图6所示的交流电源所输出交流电的正弦波形中，B点至C点之间的电压值即在预设电压范围内。

由图6可知，交流电源所输入的交流电电压信号由过零点开始，对采样电压值以及预设电压范围(±a)进行比较，一开始的采样电压值低于第一电压阈值+a，则累计掉电值增加，而在A点后，采样电压值高于第一电压阈值+a，则累计掉电值开始递减。基于A点至B点之间的时间间隔明显高于0点到A点的时间间隔，因此，在B点前掉电计数值则已经为0了，保持累计掉电值c为0。

而在B点至C点之间的采样电压值，理论上均是属于预设电压范围(-a，a)之间的，因此，在交流电源不掉电的情况下，理论上B点至C点的时间段内的累计掉电值为整个交流信号周期内累计掉电值的最高值。因此，可以根据B点至C点之间时间段内的累计掉电值设置预设阈值，例如，可以将B点至C点之间时间段内的累计掉电值加上一定的裕量后，设置为预设阈值。

B点至C点之间时间段内的累计掉电值可以根据B点至C点之间的时间除以检测周期得到。

以图6所示的交流电源所输出交流电的有效值是120V，工频为50HZ，根号2的值约等于1.414为例。交流电源所输出交流电的工频周期T等于20ms。根据y＝Asin(θ)计算得到图6中A点80V对应的角度为θ＝arc sin(80/(120*1.414))≈28°，所以B点到C点之间的角度差就是2*28＝56°，B点到C点的时间Δt约等于(56/360)*20ms≈3ms。当检测周期是100us时，则在交流电源未掉电且未存在噪声干扰时，检测到采样电压值处于B点到C点之间的次数为：3*1000/100＝30，即累计掉电值的最高值为30。在一些实施例中，可以设置预设阈值略大于30，例如，预设阈值b＝31。

在一些实施例中，当累计掉电值为关于时长的记录，累计掉电值的最高值为B点至C点之间的时间。如上述示例，可以设置预设阈值略大于3ms，例如，可以将预设阈值设置为3.1ms。

步骤S501：判断采样电压值是否属于预设电压范围。

在步骤S501中，当采样电压值属于预设电压范围时，执行步骤S502。当采样电压值不属于预设电压范围时，执行步骤S506。

如上述示例，步骤S500在检测周期，获取输入端的采样电压值A1，判断采样电压值A1是否属于(-a，+a)范围内。当采样电压值A1属于(-a，+a)范围内，表示交流电源输入的电压较低，交流电源掉电的可能性较高，执行步骤S502。当采样电压值A1不属于(-a，+a)范围内，表示交流电源输入的电压较高，交流电源掉电的可能性较低，执行步骤S506。

步骤S502：判断累计掉电值是否大于或等于预设阈值。

在步骤S502中，当累计掉电值大于或等于预设阈值时，执行步骤S503。当累计掉电值小于预设阈值时，执行步骤S504。

如上述示例，在采样电压值A1属于(-a，+a)范围内，判断累计掉电值c是否大于或等于预设阈值b。当累计掉电值c大于或等于预设阈值b，执行步骤S503。当累计掉电值c小于预设阈值b，执行步骤S504。

步骤S503：确定交流电源掉电。

在本申请实施例中，当检测周期中，采样电压值处于预设电压范围且对应的累计掉电值大于或等于预设阈值，可以确定交流电源掉电，如交流电源停电或电子设备与交流电源之间的电连接断开。

在一些实施例中，在确定交流电源掉电后，可以停止增加累计掉电值，结束掉电检测。在另一些实施例中，在确定交流电源掉电后，可以将累计掉电值清零，结束掉电检测，以便于在重新上电后再进行下一掉电检测过程。

步骤S504：增加累计掉电值。

在本申请实施例中，当检测周期中，采样电压值处于预设电压范围且对应的累计掉电值小于预设阈值，则增加累计掉电值。

如上述示例，在检测周期中，采样电压值A1属于(-a，+a)范围内，且累计掉电值c小于预设阈值b时，可以执行c＝c+1，或执行c＝c+检测周期。

步骤S505：判断累计掉电值是否大于或等于预设阈值。

在本申请实施例中，当检测周期中，增加累计掉电值后，判断增加累计掉电值后所得到的累计掉电值是否大于或等于预设阈值。

在步骤S505中，当增加累计掉电值后所得到的累计掉电值大于或等于预设阈值b时，执行步骤S503。当增加累计掉电值后所得到的累计掉电值小于预设阈值b时，执行步骤S500，即进入下一检测周期或等待进入下一检测周期。

如上述示例，在检测周期中，在执行c＝c+1，或执行c＝c+检测周期后，判断增加后的c是否大于或等于预设阈值b。例如，c＝c+1＝30+1＝31，则判断c＝c+1＝31等于预设阈值31，执行步骤S503。又例如，例如，c＝c+1＝29+1＝30，则判断c＝c+1＝30小于预设阈值31，确定交流电源未掉电，返回执行步骤S500，即进入下一检测周期或等待进入下一检测周期。

步骤S506：判断累计掉电值是否大于0。

在步骤S506中，当累计掉电值大于0时，执行步骤S507。当累计掉电值小于或等于0时，执行步骤S509。

步骤S507：减小累计掉电值。

在本申请实施例中，当检测周期中，采样电压值不属于预设电压范围且对应的累计掉电值大于0时，则减小累计掉电值。

如上述示例，在检测周期中，采样电压值A1不属于(-a，+a)范围内，且累计掉电值c大于0时，可以执行c＝c-1，或执行c＝c-检测周期。

步骤S508：判断累计掉电值是否小于或等于0。

在本申请实施例中，当检测周期中，减小累计掉电值后，判断减小后的累计掉电值是否小于或等于0。

在步骤S508中，当减小后的累计掉电值小于或等于0时，执行步骤S509。当减小后的累计掉电值大于0时，执行步骤S500，即进入下一检测周期或等待进入下一检测周期。

如上述示例，在检测周期中，在执行c＝c-1，或执行c＝c-检测周期后，判断减小后的c是否小于或等于0。例如，c＝c-1＝10-1＝9，则判断c＝c-1＝9大于0，确定交流电源未掉电，重复执行步骤S500，即进入下一检测周期或等待进入下一检测周期。又例如，c＝c-1＝1-1＝0，则判断c＝c-1＝0小于或等于0，保持累计掉电值c＝0，即保持减小后的c，确定交流电源未掉电，重复执行步骤S500，即进入下一检测周期或等待进入下一检测周期。下一检测周期的当前累计掉电值为0，若检测到采样电压值不处于预设电压范围，则该检测周期的累计掉电值维持为0。以此类推，直至在下一个或多个检测周期检测到采样电压值处于预设电压范围，则增加累计掉电，即将0+1或0+检测周期。

步骤S509：保持累计掉电值，并进入下一检测周期或等待进入下一检测周期。

在步骤S509中，保持减小后的累计掉电值，并进入下一检测周期或等待进入下一检测周期。直至检测到采样电压值大于或等于预设阈值，增加累计掉电值。

在本申请实施例中，通过设置累计掉电值可以防止电压信号出现尖峰或者刺头干扰计数。

具体地，以在图6中的T1时刻出现一个尖峰，尖峰导致T1时刻对应采样电压值高于预设电压范围，此时累计掉电值减1或减检测周期，但下一个或多个检测周期，所获得采样电压值终究会回归正常。

在交流电源掉电场景，在下一个或多个检测周期所获得采样电压值会处于预设电压范围，则累计掉电值+1，最终累计掉电值仍会大于或等于预设阈值。也即尖峰干扰并不会影响到掉电检测。

在交流电源未掉电场景，常规方案中，瞬时尖峰也会导致相邻两个时刻的电压差异过大，误触发掉电判断。而瞬时尖峰在本申请的作用是减小累计掉电值，所以，在交流电源未掉电场景下，即使出现瞬时尖峰，也只是导致累计掉电值下降，不会增加累计掉电值，更不会导致累计掉电值c大于或等于预设阈值b而导致误触发掉电保护。

请参阅图7，示例性介绍交流电源输入120V/60HZ的交流电。曲线S1指示掉电检测信号，曲线S2指示交流电源所输入交流电的电压波形。由图7可知，A点交流电源开始掉电，A点对应的时间为530.1ms。基于本申请实施例提供的掉电检测方法，可以在B点确定交流电源掉电，曲线S1从高电平变成低电平，B点对应的时间为532.6ms。则在交流电源掉电ΔX＝532.6ms-530.1ms＝2.5ms检测出交流电源掉电。

请参阅图8，示例性介绍交流电源输入90V/60HZ的交流电。曲线S1指示掉电检测信号，曲线S2指示交流电源所输入交流电的正弦波。由图8可知，A点交流电源开始掉电，A点对应的时间为44.86ms。基于本申请实施例提供的掉电检测方法，可以在B点判断交流电源掉电，曲线S1从高电平变成低电平，B点对应的时间为45.54ms。则在交流电源掉电ΔX＝45.54ms-44.86ms＝0.68ms检测出交流电源掉电。

本申请实施例提供的掉电检测方法能够在交流电源掉电后快速检测出交流电源掉电，一般能在几毫秒内检测出交流电源掉电。可以理解，如果刚好在预设电压范围内掉电，则能更快检测出交流电源掉电。

最后应说明的是，以上实施例仅用以说明本申请的技术方案而非限制。在实际的应用过程中，可以实施本申请任一实施例所描述技术方案的全部内容，或增加部分内容，或删减部分内容，或更改/替换部分内容。尽管参照较佳实施例对本申请进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本申请的技术方案进行修改或等同替换，而不脱离本申请技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种掉电检测方法，应用于电子设备，所述电子设备的输入端电连接交流电源，其特征在于，所述方法包括：

在每个检测周期，获取所述输入端的采样电压值；

在所述采样电压值处于预设电压范围时，增加累计掉电值；所述预设电压范围内的电压值的绝对值均小于预设电压阈值；

在所述采样电压值不处于所述预设电压范围时，减小所述累计掉电值；

在所述累计掉电值大于或等于预设阈值时，确定所述交流电源掉电。

2.如权利要求1所述掉电检测方法，其特征在于，所述在所述采样电压值不处于所述预设电压范围时，减小所述累计掉电值，包括：

在所述采样电压值不处于所述预设电压范围，且所述累计掉电值大于0时，减小累计掉电值。

3.如权利要求1所述掉电检测方法，其特征在于，在所述获取所述输入端的采样电压值之后，所述方法还包括：

在所述采样电压值不处于所述预设电压范围，且所述累计掉电值小于或等于0时，进入或等待进入下一个检测周期。

4.如权利要求1至3中任一项所述掉电检测方法，其特征在于，所述预设电压阈值为预设的最低工作电压值。

5.如权利要求1所述掉电检测方法，其特征在于，所述检测周期大于或等于所述采样电压值的采样周期。

6.如权利要求1所述掉电检测方法，其特征在于，所述增加累计掉电值，包括：

将所述累计掉电值增加所述检测周期。

7.如权利要求1所述掉电检测方法，其特征在于，所述增加累计掉电值，包括：

将所述累计掉电值加1。

8.如权利要求7所述掉电检测方法，其特征在于，所述预设阈值小于或等于四分之一个工频周期与所述检测周期的比值。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括处理器与存储器，所述处理器用于执行所述存储器中存储的计算机程序以实现如权利要求1至8中任意一项所述的掉电检测方法。

10.一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1至8中任意一项所述的掉电检测方法。