CN117309915A - 一种用于对轮胎缺陷进行标记的方法和相关产品 - Google Patents

一种用于对轮胎缺陷进行标记的方法和相关产品 Download PDF

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童晓蕾
孙照焱
汪海山
文明珠
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Xndt Technology Co ltd
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Abstract

本申请公开了一种用于对轮胎缺陷进行标记的方法和相关产品。所述方法包括：获取X射线成像下的轮胎缺陷和轮胎的转动时间；基于所述X射线成像下的轮胎缺陷计算所述轮胎缺陷的实际尺寸并记录计算时间；根据所述轮胎缺陷的实际尺寸、所述转动时间和所述计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置；以及基于所述喷漆的目标时间和目标位置对所述轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行标记。利用本申请的方案，可以在轮胎缺陷检测时实时标记，无需二次找寻轮胎缺陷，提高生产效率。

Description

一种用于对轮胎缺陷进行标记的方法和相关产品
技术领域
本申请一般涉及图像处理技术领域。更具体地，本申请涉及一种用于对轮胎缺陷进行标记的方法、装置、系统、设备和计算机可读存储介质。
背景技术
轮胎从生产到投放市场的过程中，需要经过品质检测阶段，以便筛选出存在缺陷的不合格的轮胎产品，并且针对具体的缺陷对轮胎进行修复。X射线具有穿透能力，能够在X光成像图上观察到轮胎内外表面存在的缺陷，由此在轮胎品质检测阶段通常采用X射线探测器进行检测。特别地，轮胎的检测一般采用U型探测器，该U型探测器的三个面分别对应轮胎的胎侧和胎冠位置，而射线源位于轮胎内部，以实现轮胎缺陷检测和位置确定，其空间切面结构例如图1所示。
然而，在实际处理缺陷时，实际的缺陷与成像的缺陷缺少必要的定位关联，例如当轮胎从检测装置中取下后，往往需要耗费人力从不合格的轮胎上二次寻找缺陷，这极大地降低了生产的效率。
有鉴于此，亟需提供一种用于对轮胎缺陷进行标记的方案，以便在轮胎缺陷检测时实时标记，无需二次找寻轮胎缺陷，提高生产效率。
发明内容
为了至少解决如上所提到的一个或多个技术问题，本申请在多个方面中提出了用于对轮胎缺陷进行标记的方案。
在第一方面中，本申请提供一种用于对轮胎缺陷进行标记的方法，包括：获取X射线成像下的轮胎缺陷和轮胎的转动时间；基于所述X射线成像下的轮胎缺陷计算所述轮胎缺陷的实际尺寸并记录计算时间；根据所述轮胎缺陷的实际尺寸、所述转动时间和所述计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置；以及基于所述喷漆的目标时间和目标位置对所述轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行标记。
在一个实施例中，其中所述轮胎缺陷的实际尺寸包括所述轮胎缺陷的切向尺寸和周向尺寸，并且基于所述X射线成像下的轮胎缺陷计算所述轮胎缺陷的实际尺寸包括：确定所述X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置；以及基于所述X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置分别与不同位置在所述X射线成像下的切向比例系数和周向比例系数对应计算所述轮胎缺陷的切向尺寸和周向尺寸。
在另一个实施例中，其中通过以下操作计算不同位置在所述X射线成像下的所述切向比例系数和所述周向比例系数：获取设置于轮胎表面的用于标记的多个试块的实际尺寸和所述多个试块在所述X射线成像下的轮廓信息；以及根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息分别计算不同位置在所述X射线成像下的所述切向比例系数和所述周向比例系数。
在又一个实施例中，其中所述不同位置由所述多个试块将所述X射线成像沿轮胎的切向划分成的多个区域和每个区域包含所述X射线成像沿轮胎的周向形成的多个通道表征，并且根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息分别计算不同位置在所述X射线成像下的所述切向比例系数和所述周向比例系数包括：根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息计算不同区域在所述X射线成像下的所述切向比例系数；以及根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息计算不同通道在所述X射线成像下的所述周向比例系数。
在又一个实施例中，其中根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息计算不同区域在所述X射线成像下的所述切向比例系数包括：根据所述多个试块的所述实际尺寸确定不同区域的实际尺寸和根据所述多个试块的所述轮廓信息计算不同区域在所述X射线成像下的第一成像距离；以及基于不同区域在所述X射线成像下的所述第一成像距离和不同区域的实际尺寸计算不同区域在所述X射线成像下的所述切向比例系数。
在又一个实施例中，其中根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息计算不同通道在所述X射线成像下的所述周向比例系数包括：根据所述多个试块的所述实际尺寸确定不同通道的实际尺寸和根据所述多个试块的所述轮廓信息计算不同通道在所述X射线成像下的第二成像距离；以及基于不同通道在所述X射线成像下的所述第二成像距离和不同通道的实际尺寸计算不同通道在所述X射线成像下的所述周向比例系数。
在又一个实施例中，其中计算所述轮胎缺陷的切向尺寸包括：基于所述X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置与所述切向比例系数确定所述轮胎缺陷沿切向的实际位置；以及根据所述轮胎缺陷沿切向的实际位置计算所述轮胎缺陷的所述切向尺寸。
在又一个实施例中，其中计算所述轮胎缺陷的周向尺寸包括：基于所述X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置与所述周向比例系数确定所述轮胎缺陷沿周向的实际距离；以及根据所述轮胎缺陷沿周向的实际距离作为所述轮胎缺陷的所述周向尺寸。
在又一个实施例中，所述方法还包括：获取位于轮胎的预设半径区域内的多个位置处对应的轮胎的转动速度、X射线成像速度、X射线精度和成像的切向位置；以及根据相应位置处的轮胎的转动速度、X射线成像速度、X射线精度和成像的切向位置计算不同位置在所述X射线成像下的所述周向比例系数。
在又一个实施例中，其中根据所述轮胎缺陷的实际尺寸、所述转动时间和所述计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置包括：根据所述轮胎缺陷的所述周向尺寸计算采集完整轮胎缺陷所需的持续时间；基于所述持续时间、所述转动时间和所述计算时间计算所述喷漆的目标时间；以及根据所述轮胎缺陷沿切向的所述实际位置计算所述喷漆的目标位置。
在又一个实施例中，其中根据所述轮胎缺陷的所述周向尺寸计算采集完整轮胎缺陷所需的持续时间包括：根据所述轮胎缺陷的所述周向尺寸反向计算所述轮胎缺陷的实际半径；以及基于所述轮胎缺陷的所述周向尺寸和所述实际半径计算采集完整轮胎缺陷所需的所述持续时间。
在又一个实施例中，其中基于所述持续时间、所述转动时间和所述计算时间计算所述喷漆的目标时间包括：基于T1-T2-t计算所述喷漆的目标时间，其中T1表示所述转动时间，T2表示所述计算时间，t表示所述持续时间。
在第二方面中，本申请提供一种用于对轮胎缺陷进行标记的装置，包括：数据获取模块，其用于获取X射线成像下的轮胎缺陷和轮胎的转动时间；数据计算模块，其用于：基于所述X射线成像下的轮胎缺陷计算所述轮胎缺陷的实际尺寸并记录计算时间；根据所述轮胎缺陷的实际尺寸、所述转动时间和所述计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置；以及喷漆模块，其用于基于所述喷漆的目标时间和目标位置对所述轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行标记。
在一个实施例中，其中所述喷漆模块布置于用于采集所述X射线成像下的轮胎缺陷的U型探测器的垂直方向上，并且呈U型设置，其中所述喷漆模块上还设置多个喷漆口，所述多个喷漆口朝向所述轮胎。
在第三方面中，本申请提供一种用于对轮胎缺陷进行标记的系统，包括：U型探测器；以及根据前述第二方面中所述的装置。
在第四方面中，本申请提供一种用于对轮胎缺陷进行标记的设备，包括：处理器；以及存储器，其中存储有用于对轮胎缺陷进行标记的程序指令，当所述程序指令由所述处理器执行时，使得所述设备实现前述第一方面中多个实施例。
在第五方面中，本申请提供一种计算机可读存储介质，其上存储有用于对轮胎缺陷进行标记的计算机可读指令，该计算机可读指令被一个或多个处理器执行时，实现前述第一方面中多个实施例。
通过如上所提供的用于对轮胎缺陷进行标记的方案，本申请实施例通过计算X射线成像下的轮胎缺陷的实际尺寸和相关时间(例如轮胎的转动时间、计算轮胎缺陷的实际尺寸的计算时间)，以计算喷漆的目标时间和目标位置。基于喷漆的目标时间和目标位置对轮胎缺陷执行喷漆操作，可以对轮胎缺陷进行实时标记，从而节省人力资源，提高生产效率。进一步地，本申请实施例轮胎缺陷的实际尺寸包括切向尺寸和周向尺寸，以分别基于切向和周向准确定位轮胎缺陷的位置和走过轮胎缺陷的持续时间，使得喷漆位置和喷漆时间准确，以提高缺陷标记的精度。
附图说明
通过参考附图阅读下文的详细描述，本申请示例性实施方式的上述以及其他目的、特征和优点将变得易于理解。在附图中，以示例性而非限制性的方式示出了本申请的若干实施方式，并且相同或对应的标号表示相同或对应的部分，其中：
图1是示出轮胎部分外形以及基于U型探测器检测轮胎的空间切面结构的示例性示意图；
图2是示出根据本申请实施例的用于对轮胎缺陷进行标记的方法的示例性流程框图；
图3是示出根据本申请实施例的未经X射线成像前的试块和经X射线成像后的试块的示例性示意图；
图4是示出根据本申请实施例的计算不同区域在X射线成像下的切向比例系数的示例性示意图；
图5是示出根据本申请实施例的计算不同通道在X射线成像下的周向比例系数的示例性示意图；
图6是示出根据本申请实施例的用于对轮胎缺陷进行标记的装置示例性结构框图；
图7是示出根据本申请实施例的用于对轮胎缺陷进行标记的系统的示例性结构框图；
图8是示出根据本申请实施例的U型探测器和喷漆模块的示例性示意图；以及
图9是示出根据本申请实施例的用于对轮胎缺陷进行标记的设备的示例性结构框图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中的附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
应当理解，本申请的说明书和权利要求书中使用的术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的，而并不意在限定本申请。如在本申请说明书和权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本申请说明书和权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
如在本说明书和权利要求书中所使用的那样，术语“如果”可以依据上下文被解释为“当...时”或“一旦”或“响应于确定”或“响应于检测到”。类似地，短语“如果确定”或“如果检测到[所描述条件或事件]”可以依据上下文被解释为意指“一旦确定”或“响应于确定”或“一旦检测到[所描述条件或事件]”或“响应于检测到[所描述条件或事件]”。
下面结合附图来详细描述本申请的具体实施方式。
图1是示出轮胎部分外形以及基于U型探测器检测轮胎的空间切面结构的示例性示意图。如图1的(a)图所示的部分轮胎，其至少包括胎圈101、胎侧102和胎冠103。如上述背景技术描述可知，在轮胎的检测过程中，可以采用例如图1的(b)图所示的U型探测器104对轮胎进行检测。其中，U型探测器104的三个面分别对应轮胎的两边胎侧102和胎冠103，射线源105位于轮胎内部，以实现轮胎检测。当基于X射线成像发现存在轮胎缺陷时，现有的方式往往是取下轮胎，通过人工方式二次寻找轮胎缺陷，从而极大地降低了生产的效率。
基于此，本申请实施例提供一种用于对轮胎缺陷进行标记的方案，以在轮胎缺陷检测时实时标记，从而无需二次找寻轮胎缺陷，提高生产效率。需要理解的是，如本申请实施例无特别指出，本申请上下文中的切向均是指轮胎一侧胎侧边缘至另一侧胎侧边缘的方向，例如上述图1的(a)图中的箭头A所示。本申请上下文中的周向均是轮胎转动方向，例如上述图1的(a)图中的箭头B所示。
图2是示出根据本申请实施例的用于对轮胎缺陷进行标记的方法200的示例性流程框图。如图2中所示，在步骤S201处，获取X射线成像下的轮胎缺陷和轮胎的转动时间。在一个实施场景中，前述X射线成像下的轮胎缺陷可以通过例如U型探测器(例如上述图1中所示出的U型探测器104)进行采集。特别地，本申请实施例的前述轮胎的转动时间是指轮胎从U型探测器运动至喷漆模块的时间。假设将该转动时间记为T1，则其中ω表示轮胎转动的角速度。
接着，在步骤S202处，基于X射线成像下的轮胎缺陷计算轮胎缺陷的实际尺寸并记录计算时间。在一些实施例中，前述计算时间(记为T2)可以通过例如软件算法进行计算。在一个实现场景中，前述轮胎缺陷的实际尺寸包括轮胎缺陷的切向尺寸和周向尺寸。在基于X射线成像下的轮胎缺陷计算轮胎缺陷的实际尺寸中，首先确定X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置，接着基于X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置分别与不同位置在X射线成像下的切向比例系数和周向比例系数对应计算轮胎缺陷的切向尺寸和周向尺寸。其中，前述不同位置在X射线成像下的切向比例系数和周向比例系数可以通过以下操作获得：获取设置于轮胎表面的用于标记的多个试块的实际尺寸和多个试块在X射线成像下的轮廓信息，根据多个试块的实际尺寸和轮廓信息分别计算不同位置在X射线成像下的切向比例系数和周向比例系数。
在一些实施例中，前述多个试块可以采用正方形铁块(或者铅皮)。可以理解，前述多个试块的实际尺寸是指未经X射线成像的实际大小，例如假设多个试块采用边长为D的正方形铁块，其对应的实际尺寸为试块的边长D。前述多个试块在X射线成像下的轮廓信息是指经X射线成像后的多个试块的轮廓信息。在一个示例性场景中，多个试块在X射线成像下的轮廓信息可以表示成box＝[x,y,w,h]，其中(x,y)表示多个试块成像后的轮廓的左上角坐标信息，w表示轮廓的宽度信息，h表示轮廓的高度信息。
在一个实施场景中，多个试块沿轮胎的切向等间距地设置于轮胎表面，并且第一个试块与轮胎一侧胎圈边缘之间间隔预定距离，其中多个试块之间的间距和预定距离根据多个试块的实际尺寸设置。以上述边长为D的试块为例，多个试块之间的间距和第一个试块与轮胎一侧胎圈边缘之间间隔的预定距离可以基于试块的边长D设置。优选地，多个试块之间的间距可以设置成D/2，第一个试块与轮胎一侧胎圈边缘之间间隔的预定距离可以设置成D。即，第一个试块与轮胎一侧胎圈边缘相距D，相邻两个试块相距D/2。在实施场景中，多个试块底部对齐，沿轮胎的切向整齐且均匀地粘贴于轮胎表面。
基于获取的多个试块的实际尺寸和多个试块在X射线成像下的轮廓信息，可以根据多个试块的实际尺寸和轮廓信息分别计算不同位置在X射线成像下的切向比例系数和周向比例系数。在一个实施例中，不同位置由多个试块将X射线成像沿轮胎的切向划分成的多个区域和每个区域包含X射线成像沿轮胎的周向形成的多个通道表征。也就是说，该不同位置可以由切向的多个区域和周向的多个通道来进行定位。作为示例，假设设置有n个试块，其可以将X射线成像沿轮胎的切向划分成的2n+1个区域(例如图3的(b)图所示)。假设X射线成像的横向(也即切向)包含m个像素点，则可以形成m个通道(例如图3的(b)图所示)。由此，可以根据多个试块的实际尺寸和轮廓信息计算不同区域在X射线成像下的切向比例系数和根据多个试块的实际尺寸和轮廓信息计算不同通道在X射线成像下的周向比例系数。后续根据前述切向比例系数和周向比例系数可以确定切向尺寸和周向尺寸。
在一个实现场景中，对于计算不同区域在X射线成像下的切向比例系数来说，首先可以根据多个试块的实际尺寸确定不同区域的实际尺寸和根据多个试块的轮廓信息计算不同区域在X射线成像下的第一成像距离，接着基于不同区域在X射线成像下的第一成像距离和不同区域的实际尺寸计算不同区域在X射线成像下的切向比例系数。具体地，在一个实施场景中，可以根据每个试块的左上角坐标信息和宽度信息计算不同区域在述X射线成像下的第一成像距离。基于获得的不同区域在述X射线成像下的第一成像距离，通过基于不同区域的实际尺寸与不同区域在X射线成像下的第一成像距离的比值计算不同区域在X射线成像下的切向比例系数。
可以理解，前述每个试块的左上角坐标信息和宽度信息均为X射线成像下的信息，前述第一成像距离为像素距离。其中，对于每个试块对应的区域的第一成像距离，其可以由每个试块成像后的宽度信息确定，而对于相邻两个试块之间的区域，可以由相邻试块成像后的左上角坐标信息和宽度信息确定。例如假设前一试块的左上角坐标信息为(x1,y1)，其宽度信息为w1，后一试块的左上角坐标信息为(x2,y2)，其宽度信息为w2，则前、后试块所对应的区域的第一成像距离分别为w1和w2，其前、后试块之间所对应的区域的第一成像距离为x2-x1-w1。由此，可以获得不同区域在X射线成像下的第一成像距离di(0≤i≤2n)，i表示区域标号，n表示试块个数。另外，对于每个试块对应的区域的实际尺寸为每个试块的边长D，相邻两个试块之间的区域的实际尺寸为相邻两个试块之间的间距(例如D/2)，其中第一个区域(对应i为0的区域)的实际尺寸为D。由此，不同区域的实际尺寸可以记为Di(0≤i≤2n)。在一个示例性场景中，假设不同区域在X射线成像下的切向比例系数记为Hi，则
在另一个实现场景中，对于计算不同通道在X射线成像下的周向比例系数而言，首先可以根据多个试块的实际尺寸确定不同通道的实际尺寸和根据多个试块的轮廓信息计算不同通道在X射线成像下的第二成像距离，接着基于不同通道在X射线成像下的第二成像距离和不同通道的实际尺寸计算不同通道在X射线成像下的周向比例系数。具体地，在一个实施场景中，前述不同通道的实际尺寸即为试块的实际尺寸，即试块的边长(例如D)。在另一个实施场景中，可以根据多个试块的左上角坐标信息、宽度信息和高度信息构建相邻两个试块之间的通道在X射线成像下的线性函数，以基于线性函数计算不同通道在X射线成像下的第二成像距离。基于获得的不同通道在X射线成像下的第二成像距离，通过基于不同通道的实际尺寸与不同通道在X射线成像下的第二成像距离的比值计算不同通道在X射线成像下的周向比例系数。
可以理解，前述每个试块的左上角坐标信息、宽度信息和高度信息均为X射线成像下的信息，前述第二成像距离也为像素距离。在一些实施例中，可以将每个试块的高度信息作为其中心位置(也即中心通道)的第二成像距离。例如，假设第n个试块的中心位置的第二成像距离为pn,mid，第n个试块高度信息为hn，则pn,mid＝hn。假设其相邻试块第n+1个试块的中心位置的第二成像距离为pn+1,mid，第n+1个试块高度信息为hn+1，则pn+1,mid＝hn+1。在该场景下，可以根据pn,mid和pn+1,mid各自中心位置的第二成像距离及其对应的中心坐标(该中心坐标的横坐标可以基于左上角横坐标和试块的宽度信息确定，例如为x+w/2)构建线性函数y＝kx+b，确定其中的k和b，从而基于该线性函数y＝kx+b计算不同通道在X射线成像下的第二成像距离pj(1≤j≤W)，其中j表示通道标号，W表示最大通道数。。另外，对应不同通道的实际尺寸，其均为试块的边长D。在一个示例性场景中，假设不同通道在X射线成像下的周向比例系数记为Rj，则
在又一个实现场景中，通过获取位于轮胎的预设半径区域内的多个位置处对应的轮胎的转动速度、X射线成像速度、X射线精度和成像的切向位置，进而根据相应位置处的轮胎的转动速度、X射线成像速度、X射线精度和成像的切向位置计算不同位置在X射线成像下的周向比例系数。在一个实现场景中，前述轮胎的预设半径区域可以设置为(r0,R)，其中r0表示轮胎起始位置的半径，R表示胎冠中心处的半径。
在上述预设半径区域(r0,R)内，可以根据试块的摆放位置选取多个位置，例如S0＝0，S1＝D，S2＝2D，S2m-1＝nD+(n-1)×0.5D，S2n＝(n+1)D+(n-1)×0.5D，并测量各位置S处对应的半径r，记为(r,S)。进一步地，确定其在X射线成像下成像的切向位置Bi(0≤i≤2n)。与上述第四成像距离Bi类似，该成像的切向位置Bi为不同位置(r,S)至X射线成像边缘的成像距离。由此，假设位于轮胎的预设半径区域(r0,R)内的多个位置(r,S)处对应的轮胎的转动速度、X射线成像速度和X射线精度分别为v、vT和Pr，可以获得成像比例系数为其中在一些实施例中，前述X射线精度可以Pr例如是0.4mm。接着，根据该成像比例系数和成像的切向位置Bi，根据上述构建线性函数的估算方法，可以获得不同通道的周向比例系数Pj(1≤j≤W)。
在获得上述切向比例系数和周向比例系数后，可以基于X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置分别与切向比例系数和周向比例系数对应计算轮胎缺陷的切向尺寸和周向尺寸。在一个实施例中，本申请实施例的X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置包括轮胎缺陷外接矩形的左上角坐标和右下角坐标。
在一个实施场景中，对于计算轮胎缺陷的切向尺寸来说，可以基于X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置与切向比例系数确定轮胎缺陷沿切向的实际位置，进而根据轮胎缺陷沿切向的实际位置计算轮胎缺陷的切向尺寸。具体地，首先可以基于X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置确定轮胎缺陷的所属区域，接着计算轮胎缺陷到轮胎一侧胎圈边缘的距离在相应区域的第三成像距离，进而根据相应区域的第三成像距离与切向比例系数计算轮胎缺陷在相应区域内的实际位置。可以理解，前述轮胎一侧胎圈边缘为靠近第一区域的一侧胎圈边缘。假设前述第三成像距离记为li，则第三成像距离li表示成像上轮胎缺陷到轮胎一侧胎圈边缘的距离在第i个区域的成像距离，其也为像素距离。本申请实施例的前述实际位置包括缺陷左侧的实际位置Lleft和右侧的实际位置Lr01ht，由轮胎缺陷所属区域内的第三成像距离和切向比例系数确定。
在一个实施例中，对于确定轮胎缺陷的所属区域来说，可以基于轮胎缺陷外接矩形的左上角坐标的横坐标和右下角坐标的横坐标与不同区域至X射线成像边缘的第四成像距离进行比较，以确定轮胎缺陷的所属区域。在一些实施例中，前述X射线成像边缘是指第一个区域的左侧边缘，其也为像素距离。作为示例，假设基于轮胎缺陷外接矩形的左上角坐标和右下角坐标分别记为(flawx1,flawy1)和(flawx2,flawy2)，不同区域至X射线成像边缘的第四成像距离记为Bi。在该场景下，通过将flawx1和flawx2分别与相应区域至成像左侧边缘的成像距离Bi进行比较，判断flawx1和flawx2的所属区域。
在一个示例性实施场景中，假设轮胎缺陷的flawx1位于第a个区域，flawx2位于第b个区域，则缺陷左侧的实际位置Lleft和右侧的实际位置Lright可以通过如下式子计算：
其中，表示不同区域i在X射线成像下的切向比例系数，li表示成像上轮胎缺陷到轮胎一侧胎圈边缘的距离在第i个区域的第三成像距离。在一些实施例中，当i<a时，li＝di。
基于前述缺陷左侧的实际位置Lleft和右侧的实际位置Lright，在一个实施例中，可以基于轮胎缺陷在相应区域内的实际位置的差值，以计算轮胎缺陷的切向尺寸。例如，前述轮胎缺陷的切向尺寸L＝Lright-Lleft。
在另一个实施例中，对于计算轮胎缺陷的周向尺寸来说，可以基于X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置与周向比例系数确定轮胎缺陷沿周向的实际距离，以根据轮胎缺陷沿周向的实际距离作为轮胎缺陷的周向尺寸。具体地，首先可以基于X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置确定轮胎缺陷的所属通道，接着根据轮胎缺陷在相应通道的距离与周向比例系数确定轮胎缺陷沿周向的实际距离。其中，对于确定轮胎缺陷的所属通道来说，可以基于轮胎缺陷外接矩形的左上角坐标的横坐标和右下角坐标的横坐标确定其中心坐标，以将中心坐标所在通道确定为轮胎缺陷的所属通道。
作为示例，假设基于轮胎缺陷外接矩形的左上角坐标和右下角坐标分别记为(flawx1,flawy1)和(flawx2,flawy2)，可以获得其中心坐标(flawx1+flawx2)/2，从而将中心坐标(flawx1+flawx2)/2所在通道确定为轮胎缺陷的所属通道。接着，根据轮胎缺陷在相应通道的距离与周向比例系数确定轮胎缺陷沿周向的实际距离，从而确定轮胎缺陷的周向尺寸。假设轮胎缺陷的周向尺寸记为C，则可以通过如下式子计算轮胎缺陷的周向尺寸C：
C＝Rj*qj (3)
其中，j＝(flawx1+flawx2)/2，qj＝|flawy1-flawy2|表示轮胎缺陷在相应通道的距离，表示在相应通道处的周向比例系数。
进一步地，在步骤S203处，根据轮胎缺陷的实际尺寸、转动时间和计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置。在一个实施例中，可以根据轮胎缺陷的周向尺寸计算采集完整轮胎缺陷所需的持续时间，并且基于持续时间、转动时间和计算时间计算喷漆的目标时间以及根据轮胎缺陷沿切向的实际位置计算喷漆的目标位置。
在一个实现场景中，根据轮胎缺陷的周向尺寸反向计算轮胎缺陷的实际半径，基于轮胎缺陷的周向尺寸和实际半径计算采集完整轮胎缺陷所需的持续时间。作为示例，假设轮胎缺陷的实际半径记为r，则根据前文可知，轮胎缺陷的周向尺寸C＝P*q，其中q对应上述公式(3)中的qj，也即轮胎缺陷在相应通道的距离(或者说周向成像距离)，P对应上述公式(3)中的Rj，也即相应通道处的周向比例系数。该/>而/>其中v、vT和Pr分别表示轮胎的转动速度、X射线成像速度和X射线精度。由此，可以获得实际半径记为进一步地，基于轮胎缺陷的周向尺寸和实际半径计算采集完整轮胎缺陷所需的持续时间。将持续时间记为t，则/>其中C表示周向尺寸，r表示实际半径。根据前述获得的转动时间T1、计算时间T2和持续时间t，可以基于T1-T2-t计算喷漆的目标时间。即，当接收到喷漆指令后经过T1-T2-t时刻开始喷漆，并且持续时间t。
在一个实施场景中，还可以根据轮胎缺陷沿切向的实际位置计算喷漆的目标位置。具体地，可以根据上述公式(1)和(2)的缺陷左侧的实际位置Lleft和右侧的实际位置Lright确定喷漆的目标位置。进一步地，在步骤S204处，基于喷漆的目标时间和目标位置对轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行标记。即，当接收到喷漆指令后经过T1-T2-t时刻开始喷漆，并且持续时间t，同时在目标位置开启喷漆模块相应位置的喷漆口，从而对轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行实时标记。
结合上述描述可知，本申请实施例通过计算X射线成像下的轮胎缺陷的实际尺寸和相关时间(例如轮胎的转动时间、计算轮胎缺陷的实际尺寸的计算时间)，以计算喷漆的目标时间和目标位置。基于喷漆的目标时间和目标位置对轮胎缺陷执行喷漆操作，可以对轮胎缺陷进行实时标记，从而节省人力资源，提高生产效率，为后续的缺陷修复提供了便利。进一步地，本申请实施例通过切向和周向准确定位轮胎缺陷的位置和走过轮胎缺陷的持续时间，使得喷漆位置和喷漆时间准确，以提高缺陷标记的精度。
图3是示出根据本申请实施例的未经X射线成像前的试块和经X射线成像后的试块的示例性示意图。如图3的(a)图所示为未经X射线成像前的多个试块301，每个试块301可以例如是边长为D的正方形铁块。根据前文可知，该多个试块301沿轮胎的切向等间距(例如D/2)地设置于轮胎表面，其中第一个试块301与轮胎一侧胎圈边缘之间间隔预定距离(例如D)，并且多个试块底部对齐，沿轮胎的切向整齐且均匀地粘贴于轮胎表面。如图3的(b)图所示为经X射线成像后的多个试块302。在实现场景中，经由成像后的多个试块302可以划分成多个区域。假设设置n个试块，可以形成2n+1个区域，例如图中示例性示出的区域A0，A1，A2和A3等。在每个区域中，可以形成多个通道，前述通道数等于X射线成像的横向(也即切向)的像素点数，例如图中示例性示出通道P1，P2和P3等。基于前述划分的不同区域和不同通道，可以计算不同区域在X射线成像下的切向比例系数和不同通道在X射线成像下的周向比例系数。
图4是示出根据本申请实施例的计算不同区域在X射线成像下的切向比例系数的示例性示意图。
如图4的(a)图中示例性示出X射线成像的四个区域A0，A1，A2和A3。根据前文可知，试块所对应的区域A1和A3的实际尺寸(即未经X射线成像)分别为每个试块的边长D，试块之间的区域A2的实际尺寸为两个试块之间的间距D/2，而第一个区域A0的实际尺寸为D(即与一侧胎圈边缘的间距)。各个试块在X射线成像下的轮廓信息可以经由[x,y,w,h]表示，其中(x,y)表示试块成像后的轮廓的左上角坐标信息，w表示轮廓的宽度信息，h表示轮廓的高度信息。
基于前述各试块的轮廓信息，可以各区域在X射线成像下的第一成像距离di。在一个示例性场景中，假设前一试块的左上角坐标信息为(x1,y1)，其宽度信息为w1；后一试块的左上角坐标信息为(x2,y2)，其宽度信息为w2。在该场景下，可以确定区域A1的第一成像距离d1＝w1，区域A3的第一成像距离d3＝w2，而区域A2的第一成像距离d2＝x2-x1-w1。类似地，可以获得不同区域在X射线成像下的第一成像距离di(0≤i≤2n)，其中i表示区域标号，n表示试块个数。进一步地，根据前述各区域的实际尺寸Di和各区域在X射线成像下的第一成像距离di，可以获得不同区域在X射线成像下的切向比例系数
在获得切向比例系数Hi后，通过与采集的轮胎缺陷所属区域内的第三成像距离li可以确定缺陷左侧的实际位置Llefg和右侧的实际位置Lright。具体地，首先可以根据轮胎缺陷确定其外接矩形的左上角坐标和右下角坐标，例如图4的(b)图中示例性示出在区域A1和区域A2的轮胎缺陷E，其外接矩形(例如图中矩形虚线框所示)的左上角坐标o1和右下角坐标o2分别为(flawx1,flawy1)和(flawx2,flawy2)。接着，根据(flawx1,flawy1)和(flawx2,flawy2)与不同区域至X射线成像边缘的第四成像距离Bi进行比较，以确定轮胎缺陷的所属区域。例如，区域A1至X射线成像边缘的第四成像距离为B1，区域A2至X射线成像边缘的第四成像距离为B2，区域A3至X射线成像边缘的第四成像距离为B3。当B1＜flawx1＜B2，判断flawx1属于区域A1，也即第2个区域。当B2＜flawx2＜B3，判断flawx2属于区域A2，也即第3个区域。
接着，根据其所属区域，可以计算轮胎缺陷到轮胎一侧胎圈边缘的距离在相应区域的第三成像距离li。以上述flawx1属于第2个区域，flawx2属于第3个区域为例，可以获得轮胎缺陷到轮胎一侧胎圈边缘的距离在第0-2个区域的第三成像距离l0，l1和l2，例如图4的(b)图中所示。进一步地，根据上述公式(1)和(2)，可以获得缺陷左侧的实际位置和缺陷右侧的实际位置/>进而根据L＝Lright-Lleft，获得轮胎缺陷的切向尺寸。
图5是示出根据本申请实施例的计算不同通道在X射线成像下的周向比例系数的示例性示意图。
如图5的(a)图中示例性示出X射线成像的四个区域A0，A1，A2和A3。根据前文可知，试块所对应的区域A1和A3的实际尺寸(即未经X射线成像)分别为每个试块的边长D，试块之间的区域A2的实际尺寸为两个试块之间的间距D/2，而第一个区域A0的实际尺寸为D(即与一侧胎圈边缘的间距)。各个试块在X射线成像下的轮廓信息可以经由[x,y,w,h]表示，其中(x,y)表示试块成像后的轮廓的左上角坐标信息，w表示轮廓的宽度信息，h表示轮廓的高度信息。
进一步地，图中还示例性示出相邻两个试块之间的多个通道P1至P8，并且假设通道P1和P8分别为前、后两个试块的中心通道，其各自的高度信息分别对应为h1和h8，该高度信息也即通道P1和P8在X射线成像下的第二成像距离。在该场景下，根据通道P1和P8的坐标及其第二成像距离可以构建线性函数y＝kx+b，例如图5的(b)图所示。其中，通道P1和P8的坐标分别为(x1+w1/2,h1)和(x2+w2/2,h2)。由此，可以确定线性函数y＝kx+b中的k和b，从而基于确定k和b后的线性函数计算通道P2-P7在X射线成像下的第二成像距离。类似地，可以获得不同通道下的第二成像距离pj，通过结合根据各通道的实际尺寸D，获得不同通道在X射线成像下的周向比例系数
在获得周向比例系数Rj后，通过与采集的轮胎缺陷所属通道的距离可以确定轮胎缺陷沿周向的实际距离，以作为轮胎缺陷的周向尺寸。具体地，首先可以根据轮胎缺陷确定其外接矩形的左上角坐标和右下角坐标，例如图5的(c)图中示例性示出的轮胎缺陷E(也即上述图4的(b)图中所示的轮胎缺陷E)，其外接矩形的左上角坐标和右下角坐标分别为(flawx1,flawy1)和(flawx2,flawy2)。在该场景下，可以将其中心坐标(flawx1+flawx2)/2所在通道确定为轮胎缺陷的所属通道(例如图5的(c)图中的粗实线所示)j，qj＝|flawy1-flawy2|为轮胎缺陷在相应通道的距离。根据上述公式(3)，可以获得轮胎缺陷的周向尺寸C＝Rj*qj。进一步地，根据确定轮胎缺陷E的完整尺寸，其中L表示切向尺寸，C表示周向尺寸。
如前所述，本申请实施例还可以通过其中/>v、vT和Pr分别表示轮胎的转动速度、X射线成像速度和X射线精度，R表示胎冠中心处的半径，再结合成像的切向位置Bi，采用上述构建线性函数的估算方法，可以获得不同通道的周向比例系数Pj，以提高周向尺寸的精度。
图6是示出根据本申请实施例的用于对轮胎缺陷进行标记的装置600示例性结构框图。如图6中所示，该装置600可以包括数据获取模块601、数据计算模块602和喷漆模块603。在一个实施例中，该数据获取模块601可以用于获取X射线成像下的轮胎缺陷和轮胎的转动时间。如前所述，前述X射线成像下的轮胎缺陷可以通过例如U型探测器进行采集。前述轮胎的转动时间是指轮胎从U型探测器运动至喷漆模块的时间，并且转动时间
在一个实施例中，数据计算模块602可以用于基于X射线成像下的轮胎缺陷计算轮胎缺陷的实际尺寸并记录计算时间，根据轮胎缺陷的实际尺寸、转动时间和计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置。在一个实施场景中，该轮胎缺陷的实际尺寸可以包括切向尺寸和周向尺寸，其中切向尺寸可以根据上述公式(1)和(2)的缺陷左侧的实际位置Lleft和右侧的实际位置Lright确定，周向尺寸可以根据上述公式(3)确定。关于计算切向尺寸和周向尺寸的更多细节，可以参考上述图2-图5的描述，本申请在此不再赘述。在一些实施例中，前述计算时间(记为T2)可以通过例如软件算法进行计算。
上述数据计算模块602还进一步用于根据轮胎缺陷的周向尺寸C反向计算轮胎缺陷的实际半径进而基于/>获得采集完整轮胎缺陷所需的持续时间t，接着基于T1-T2-t计算喷漆的目标时间。另外，数据计算模块602还进一步用于根据缺陷左侧的实际位置Lleft和右侧的实际位置Lright确定喷漆的目标位置。
在一个实施例中，上述喷漆模块603可以用于基于喷漆的目标时间和目标位置对轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行标记。具体而言，当接收到喷漆指令后经过T1-T2-t时刻开始喷漆，并且持续时间t，同时在目标位置开启喷漆模块相应位置的喷漆口，从而对轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行实时标记。在一个实施场景中，前述喷漆模块603布置于用于采集X射线成像下的轮胎缺陷的U型探测器的垂直方向上，并且呈U型设置，其中喷漆模块上还设置多个喷漆口，多个喷漆口朝向所述轮胎。
图7是示出根据本申请实施例的用于对轮胎缺陷进行标记的系统700的示例性结构框图。如图7中所示，该系统700可以包括U型探测器701和本申请实施例的装置600。如前所述，U型探测器701的三个面分别对应轮胎的胎侧和胎冠，射线源位于轮胎内部，以采集X射线成像下的轮胎缺陷。本申请实施例的装置600可以包括数据获取模块601、数据计算模块602和喷漆模块603。关于数据获取模块601、数据计算模块602和喷漆模块603的更多细节，可以参考上述图6的描述，本申请在此不再赘述。
图8是示出根据本申请实施例的U型探测器和喷漆模块的示例性示意图。如图8的(a)图、(b)图、(c)图依次示例性示出U型探测器和喷漆模块的正视图、侧视图和俯视图。由图中可知，本申请实施例的U型探测器701的三面对应轮胎的胎侧102和胎冠103，以采集X射线成像下的轮胎缺陷。本申请实施例的喷漆模块603布置于U型探测器701的垂直方向上，并且呈U型设置。其中，喷漆模块603上还设置多个喷漆口801，多个喷漆口801朝向轮胎。
以图8的(b)图为例，假设图中所示T1为轮胎由U型探测器701转动至喷漆模块603的转动时间，t为采集到完整轮胎缺陷的持续时间，T2表示计算缺陷尺寸的计算时间。当经过t+T2时，缺陷的一端走到了A的位置，另一端走到了B点的位置，由此距离走到喷漆模块603位置的时间为T1-T2-t。在该场景下，系统认为缺陷识别完整后，缺陷位于AB处，此刻发起喷漆指令至喷漆模块603，喷漆模块603在经过T1-T2-t后开始喷漆操作，并持续时间t。另外，对于切向方向，其可以由缺陷左侧的实际位置Lleft和右侧的实际位置Lright确定喷漆的目标位置确定喷漆口，同时在经过T1-T2-t后开启相应位置的喷漆口，以对轮胎缺陷进行实时标记。
图9是示出根据本申请实施例的用于对轮胎缺陷进行标记的设备900的示例性结构框图。如图9中所示，本申请的设备900可以包括处理器901和存储器902，其中处理器901和存储器902之间通过总线进行通信。存储器902存储有用于对轮胎缺陷进行标记的程序指令，当所述程序指令由所述处理器901执行时，使得实现根据前文结合附图描述的方法步骤：获取X射线成像下的轮胎缺陷和轮胎的转动时间；基于所述X射线成像下的轮胎缺陷计算所述轮胎缺陷的实际尺寸并记录计算时间；根据所述轮胎缺陷的实际尺寸、所述转动时间和所述计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置以及基于所述喷漆的目标时间和目标位置对所述轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行标记。
根据上述结合附图的描述，本领域技术人员也可以理解本申请的实施例还可以通过软件程序来实现。由此本申请还提供了一种计算机可读存储介质。该计算机可读存储介质其上存储有用于对轮胎缺陷进行标记的计算机可读指令，该计算机可读指令被一个或多个处理器执行时，实现本申请结合附图2所描述的用于对轮胎缺陷进行标记的方法。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员可以清楚地了解到各实施方式可借助软件加必需的通用硬件平台的方式来实现，当然也可以通过硬件。基于这样的理解，上述技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品可以存储在计算机可读存储介质中，如ROM/RAM、磁碟、光盘等，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行各个实施例或者实施例的某些部分所述的方法。
应当注意，尽管在附图中以特定顺序描述了本申请方法的操作，但是这并非要求或者暗示必须按照该特定顺序来执行这些操作，或是必须执行全部所示的操作才能实现期望的结果。相反，流程图中描绘的步骤可以改变执行顺序。附加地或备选地，可以省略某些步骤，将多个步骤合并为一个步骤执行，和/或将一个步骤分解为多个步骤执行。
应当理解，当本申请的权利要求、当说明书及附图中使用到术语“第一”、“第二”、“第三”和“第四”等时，其仅用于区别不同对象，而不是用于描述特定顺序。本申请的说明书和权利要求书中使用的术语“包括”和“包含”指示所描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在，但并不排除一个或多个其它特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或其集合的存在或添加。
还应当理解，在此本申请说明书中所使用的术语仅仅是出于描述特定实施例的目的，而并不意在限定本申请。如在本申请说明书和权利要求书中所使用的那样，除非上下文清楚地指明其它情况，否则单数形式的“一”、“一个”及“该”意在包括复数形式。还应当进一步理解，在本申请说明书和权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合，并且包括这些组合。
虽然本申请的实施方式如上，但所述内容只是为便于理解本申请而采用的实施例，并非用以限定本申请的范围和应用场景。任何本申请所述技术领域内的技术人员，在不脱离本申请所揭露的精神和范围的前提下，可以在实施的形式上及细节上作任何的修改与变化，但本申请的专利保护范围，仍须以所附的权利要求书所界定的范围为准。

Claims (17)

1.一种用于对轮胎缺陷进行标记的方法，包括：
获取X射线成像下的轮胎缺陷和轮胎的转动时间；
基于所述X射线成像下的轮胎缺陷计算所述轮胎缺陷的实际尺寸并记录计算时间；
根据所述轮胎缺陷的实际尺寸、所述转动时间和所述计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置；以及
基于所述喷漆的目标时间和目标位置对所述轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行标记。
2.根据权利要求1所述的方法，其中所述轮胎缺陷的实际尺寸包括所述轮胎缺陷的切向尺寸和周向尺寸，并且基于所述X射线成像下的轮胎缺陷计算所述轮胎缺陷的实际尺寸包括：
确定所述X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置；以及
基于所述X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置分别与不同位置在所述X射线成像下的切向比例系数和周向比例系数对应计算所述轮胎缺陷的切向尺寸和周向尺寸。
3.根据权利要求2所述的方法，其中通过以下操作计算不同位置在所述X射线成像下的所述切向比例系数和所述周向比例系数：
获取设置于轮胎表面的用于标记的多个试块的实际尺寸和所述多个试块在所述X射线成像下的轮廓信息；以及
根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息分别计算不同位置在所述X射线成像下的所述切向比例系数和所述周向比例系数。
4.根据权利要求3所述的方法，其中所述不同位置由所述多个试块将所述X射线成像沿轮胎的切向划分成的多个区域和每个区域包含所述X射线成像沿轮胎的周向形成的多个通道表征，并且根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息分别计算不同位置在所述X射线成像下的所述切向比例系数和所述周向比例系数包括：
根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息计算不同区域在所述X射线成像下的所述切向比例系数；以及
根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息计算不同通道在所述X射线成像下的所述周向比例系数。
5.根据权利要求4所述的方法，其中根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息计算不同区域在所述X射线成像下的所述切向比例系数包括：
根据所述多个试块的所述实际尺寸确定不同区域的实际尺寸和根据所述多个试块的所述轮廓信息计算不同区域在所述X射线成像下的第一成像距离；以及
基于不同区域在所述X射线成像下的所述第一成像距离和不同区域的实际尺寸计算不同区域在所述X射线成像下的所述切向比例系数。
6.根据权利要求4所述的方法，其中根据所述多个试块的所述实际尺寸和所述轮廓信息计算不同通道在所述X射线成像下的所述周向比例系数包括：
根据所述多个试块的所述实际尺寸确定不同通道的实际尺寸和根据所述多个试块的所述轮廓信息计算不同通道在所述X射线成像下的第二成像距离；以及
基于不同通道在所述X射线成像下的所述第二成像距离和不同通道的实际尺寸计算不同通道在所述X射线成像下的所述周向比例系数。
7.根据权利要求5所述的方法，其中计算所述轮胎缺陷的切向尺寸包括：
基于所述X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置与所述切向比例系数确定所述轮胎缺陷沿切向的实际位置；以及
根据所述轮胎缺陷沿切向的实际位置计算所述轮胎缺陷的所述切向尺寸。
8.根据权利要求6所述的方法，其中计算所述轮胎缺陷的周向尺寸包括：
基于所述X射线成像下轮胎缺陷的坐标位置与所述周向比例系数确定所述轮胎缺陷沿周向的实际距离；以及
根据所述轮胎缺陷沿周向的实际距离作为所述轮胎缺陷的所述周向尺寸。
9.根据权利要求3所述的方法，还包括：
获取位于轮胎的预设半径区域内的多个位置处对应的轮胎的转动速度、X射线成像速度、X射线精度和成像的切向位置；以及
根据相应位置处的轮胎的转动速度、X射线成像速度、X射线精度和成像的切向位置计算不同位置在所述X射线成像下的所述周向比例系数。
10.根据权利要求1-9任意一项所述的方法，其中根据所述轮胎缺陷的实际尺寸、所述转动时间和所述计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置包括：
根据所述轮胎缺陷的所述周向尺寸计算采集完整轮胎缺陷所需的持续时间；
基于所述持续时间、所述转动时间和所述计算时间计算所述喷漆的目标时间；以及
根据所述轮胎缺陷沿切向的所述实际位置计算所述喷漆的目标位置。
11.根据权利要求10所述的方法，其中根据所述轮胎缺陷的所述周向尺寸计算采集完整轮胎缺陷所需的持续时间包括：
根据所述轮胎缺陷的所述周向尺寸反向计算所述轮胎缺陷的实际半径；以及
基于所述轮胎缺陷的所述周向尺寸和所述实际半径计算采集完整轮胎缺陷所需的所述持续时间。
12.根据权利要求11所述的方法，其中基于所述持续时间、所述转动时间和所述计算时间计算所述喷漆的目标时间包括：基于T1-T2-t计算所述喷漆的目标时间，其中T1表示所述转动时间，T2表示所述计算时间，t表示所述持续时间。
13.一种用于对轮胎缺陷进行标记的装置，包括：
数据获取模块，其用于获取X射线成像下的轮胎缺陷和轮胎的转动时间；
数据计算模块，其用于：
基于所述X射线成像下的轮胎缺陷计算所述轮胎缺陷的实际尺寸并记录计算时间；
根据所述轮胎缺陷的实际尺寸、所述转动时间和所述计算时间计算喷漆的目标时间和目标位置；以及
喷漆模块，其用于基于所述喷漆的目标时间和目标位置对所述轮胎缺陷执行喷漆操作，以对轮胎缺陷进行标记。
14.根据权利要求13所述的装置，其中所述喷漆模块布置于用于采集所述X射线成像下的轮胎缺陷的U型探测器的垂直方向上，并且呈U型设置，其中所述喷漆模块上还设置多个喷漆口，所述多个喷漆口朝向所述轮胎。
15.一种用于对轮胎缺陷进行标记的系统，包括：U型探测器；以及根据权利要求13-14任意一项所述的装置。
16.一种用于对轮胎缺陷进行标记的设备，包括：
处理器；以及
存储器，其中存储有用于对轮胎缺陷进行标记的程序指令，当所述程序指令由所述处理器执行时，使得所述设备实现根据权利要求1-12任意一项所述的方法。
17.一种计算机可读存储介质，其上存储有用于对轮胎缺陷进行标记的计算机可读指令，该计算机可读指令被一个或多个处理器执行时，实现如权利要求1-12任意一项所述的方法。
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