CN117268594B - 一种智能终端ntc功能测试方法、系统及介质 - Google Patents
一种智能终端ntc功能测试方法、系统及介质 Download PDFInfo
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Abstract
本申请实施例提供了一种智能终端NTC功能测试方法、系统及介质，该方法包括：驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端；通过测试程序对终端温度测试，从而实现智能终端NTC功能的测试快速、精准、有效的测试结果，大幅节省测试时间。
Description
技术领域
本申请涉及终端测试领域，具体而言，涉及一种智能终端NTC功能测试方法、系统及介质。
背景技术
目前测试智能终端NTC功能是将终端整体放入恒温箱中，将恒温箱设定到指定温度，从而模拟终端设备在特定环境温度中的表现状态，由于目前测试智能终端NTC功能是将终端整体放入恒温箱中，而恒温箱要达到指定温度通常需要30分钟左右；另外，终端要达到所设定的环境温度又需要30分钟左右，导致终端NTC功能测试的效率极低，针对上述问题，目前亟待有效的技术解决方案。
发明内容
本申请实施例的目的在于提供一种智能终端NTC功能测试方法、系统及介质，通过测试程序对终端温度测试，从而实现智能终端NTC功能的测试快速、精准、有效的测试结果，大幅节省测试时间。
本申请实施例还提供了一种智能终端NTC功能测试方法，包括：
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；
获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；
根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端。
可选地，在本申请实施例所述的智能终端NTC功能测试方法中，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度，具体为：
驱动测试程序运行，生成程序运行参数，将程序运行参数输入测试模型，生成测试条件；
根据测试条件匹配测试项目，并根据不同的测试项目进行模拟生成对应的终端测试温度。
可选地，在本申请实施例所述的智能终端NTC功能测试方法中，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度之前，还包括：
驱动测试程序，设定测试时间，将测试时间进行多段划分，生成多个时间段，相邻时间段的连接点设定为切换时间节点；
将多个时间段与测试项目进行一一对应，同一时间段对同一个测试项目进行测试，不同时间段对不同的测试项目进行测试；
当到达切换时间节点时，生成转换信息，根据转换信息对下一个时间段的测试项目进行切换；
根据不同的测试项目生成对应的测试条件，测试条件包括标准终端测试温度，不同的测试项目对应不同的标准终端测试温度。
可选地，在本申请实施例所述的智能终端NTC功能测试方法中，获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差，具体包括：
获取不同时间节点的实时温度信息，建立时间与温度的坐标，并绘制时间与实时温度信息的关系曲线，得到实时温度变化曲线；
获取终端测试温度变化曲线，将实时温度变化曲线与终端测试温度变化曲线进行比较，并计算同一时间节点的欧式距离；
根据欧式距离计算温度偏差。
可选地，在本申请实施例所述的智能终端NTC功能测试方法中，根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端运行状态数据，具体为：
将实时温度与终端测试温度进行差值计算，得到温度偏差；
将温度偏差与两段温度偏差阈值进行比较，两段温度偏差阈值包括第一温度偏差阈值与第二温度偏差阈值，第一温度偏差阈值小于第二温度偏差阈值；
若温度偏差大于第一温度偏差阈值且小于第二温度偏差阈值，则生成第一补偿信息，根据第一补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第一阻值；
若温度偏差大于或等于第二温度偏差阈值，则生成第二补偿信息，根据第二补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第二阻值。
可选地，在本申请实施例所述的智能终端NTC功能测试方法中，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端，具体为：
根据终端状态数据进行NTC功能分析，得到分析结果；
将分析结果与预设结果进行比较，得到功能偏差率；
判断所述功能偏差率是否大于预设的功能偏差率阈值；
若大于，则生成NTC功能异常信息；
若小于，则判定NTC功能正常。
第二方面，本申请实施例提供了一种智能终端NTC功能测试系统，该系统包括：存储器及处理器，所述存储器中包括智能终端NTC功能测试方法的程序，所述智能终端NTC功能测试方法的程序被所述处理器执行时实现以下步骤：
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；
获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；
根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端。
可选地，在本申请实施例所述的智能终端NTC功能测试系统中，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度，具体为：
驱动测试程序运行，生成程序运行参数，将程序运行参数输入测试模型，生成测试条件；
根据测试条件匹配测试项目，并根据不同的测试项目进行模拟生成对应的终端测试温度。
可选地，在本申请实施例所述的智能终端NTC功能测试系统中，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度之前，还包括：
驱动测试程序，设定测试时间，将测试时间进行多段划分，生成多个时间段，相邻时间段的连接点设定为切换时间节点；
将多个时间段与测试项目进行一一对应，同一时间段对同一个测试项目进行测试，不同时间段对不同的测试项目进行测试；
当到达切换时间节点时，生成转换信息，根据转换信息对下一个时间段的测试项目进行切换；
根据不同的测试项目生成对应的测试条件，测试条件包括标准终端测试温度，不同的测试项目对应不同的标准终端测试温度。
第三方面，本申请实施例还提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中包括智能终端NTC功能测试方法程序，所述智能终端NTC功能测试方法程序被处理器执行时，实现如上述任一项所述的智能终端NTC功能测试方法的步骤。
由上可知，本申请实施例提供的一种智能终端NTC功能测试方法、系统及介质，通过驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端；通过测试程序对终端温度测试，从而实现智能终端NTC功能的测试快速、精准、有效的测试结果，大幅节省测试时间。
附图说明
为了更清楚地说明本申请实施例的技术方案，下面将对本申请实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本申请的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。
图1为本申请实施例提供的智能终端NTC功能测试方法的流程图；
图2为本申请实施例提供的智能终端NTC功能测试方法的终端测试温度计算方法流程图；
图3为本申请实施例提供的智能终端NTC功能测试方法的测试条件生成方法流程图。
具体实施方式
下面将结合本申请实施例中附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分实施例，而不是全部的实施例。通常在此处附图中描述和示出的本申请实施例的组件可以以各种不同的配置来布置和设计。因此，以下对在附图中提供的本申请的实施例的详细描述并非旨在限制要求保护的本申请的范围，而是仅仅表示本申请的选定实施例。基于本申请的实施例，本领域技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。
应注意到，相似的标号和字母在下面的附图中表示类似项，因此，一旦某一项在一个附图中被定义，则在随后的附图中不需要对其进行进一步定义和解释。同时，在本申请的描述中，术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述，而不能理解为指示或暗示相对重要性。
请参照图1，图1是本申请一些实施例中的一种智能终端NTC功能测试方法的流程图。该智能终端NTC功能测试方法用于终端设备中，该智能终端NTC功能测试方法，包括以下步骤：
S101，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；
S102，获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；
S103，根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端。
需要说明的是，通过驱动测试程序生成对应的测试条件，不同的测试条件对应不同的终端测试温度，通过分析实时温度与终端测试温度进行分析两者温度之间的偏差，同时对温度偏差进行补偿，保证实时温度趋近于终端测试温度，由于实时温度与终端测试温度难以保证完全相同，只要使实时温度与终端测试温度之间的偏差始终处于-5摄氏度至+5摄氏度范围内，即可判定实时温度正常，使智能终端始终处于相同的温度下进行测试，提高测试精度。
请参照图2，图2是本申请一些实施例中的一种智能终端NTC功能测试方法的终端测试温度计算方法流程图。根据本发明实施例，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度，具体为：
S201，驱动测试程序运行，生成程序运行参数；
S202，将程序运行参数输入测试模型，生成测试条件；
S203，根据测试条件匹配测试项目，并根据不同的测试项目进行模拟生成对应的终端测试温度。
需要说明的是，不同的测试程序生成不同的程序运行参数，并根据测试模型将测试条件进行精准的输出，并根据测试条件进行终端NTC功能测试，不同的测试条件匹配对应的终端测试温度，提高测试精度。
请参照图3，图3是本申请一些实施例中的一种智能终端NTC功能测试方法的测试条件生成方法流程图。根据本发明实施例，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度之前，还包括：
S301，驱动测试程序，设定测试时间，将测试时间进行多段划分，生成多个时间段，相邻时间段的连接点设定为切换时间节点；
S302，将多个时间段与测试项目进行一一对应，同一时间段对同一个测试项目进行测试，不同时间段对不同的测试项目进行测试；
S303，当到达切换时间节点时，生成转换信息，根据转换信息对下一个时间段的测试项目进行切换；
S304，根据不同的测试项目生成对应的测试条件，测试条件包括标准终端测试温度，不同的测试项目对应不同的标准终端测试温度。
需要说明的是，将不同的测试项目进行不同时间的测试，同时将测试时间进行分割，实现不同时间段与测试项目进行匹配，当测试项目达到预定的测试时间时，对测试项目进行自动切换，同时切换测试条件，提高NCT功能测试灵活性。
根据本发明实施例，获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差，具体包括：
获取不同时间节点的实时温度信息，建立时间与温度的坐标，并绘制时间与实时温度信息的关系曲线，得到实时温度变化曲线；
获取终端测试温度变化曲线，将实时温度变化曲线与终端测试温度变化曲线进行比较，并计算同一时间节点的欧式距离；
根据欧式距离计算温度偏差。
需要说明的是，通过分析实时温度变化曲线与终端测试温度变化曲线，两者放在同一坐标系下进行重合度判断，并计算相同时间节点下的欧式距离，欧式距离代表两个变化曲线之间的温度差，通过计算两个变化曲线的欧式距离，分析两个变化曲线之间的偏差，从而得到温度偏差。
根据本发明实施例，根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端运行状态数据，具体为：
将实时温度与终端测试温度进行差值计算，得到温度偏差；
将温度偏差与两段温度偏差阈值进行比较，两段温度偏差阈值包括第一温度偏差阈值与第二温度偏差阈值，第一温度偏差阈值小于第二温度偏差阈值；
若温度偏差大于第一温度偏差阈值且小于第二温度偏差阈值，则生成第一补偿信息，根据第一补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第一阻值；
若温度偏差大于或等于第二温度偏差阈值，则生成第二补偿信息，根据第二补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第二阻值。
需要说明的是，通过将可变电阻取代智能终端电路上的热敏电阻，在无需恒温箱等大型测试设备的前提下，从而可以得到对智能终端NTC功能的测试快速、精准、有效的测试结果，不同的温度偏差进行不同的补偿，通过补偿信息对可变电阻的阻值进行调整，提高温度获取精度。
根据本发明实施例，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端，具体为：
根据终端状态数据进行NTC功能分析，得到分析结果；
将分析结果与预设结果进行比较，得到功能偏差率；
判断功能偏差率是否大于预设的功能偏差率阈值；
若大于，则生成NTC功能异常信息；
若小于，则判定NTC功能正常。
需要说明的是，不同的终端状态数据得到不同的分析结果，将分析结果与预设的结果进行比较，判断功能测试的效果，通过分析功能偏差率进行判断NTC功能是否正常，提高测试结果的准确性。
根据本发明实施例，还包括：
获取实时温度变化曲线，得到不同时间节点的实时温度，将相邻时间节点的实时温度进行比较，得到温度变化率；
将温度变化率与预设的变化率阈值进行比较，得到温度变化偏差；
根据温度变化偏差分析相邻时间节点的温度波动信息；
根据温度波动信息进行分析NTC功能测试效果。
需要说明的是，根据实时温度变化曲线进行分析温度变化率，进而分析温度波动信息，根据温度波动进行判断NTC功能测试效果。
第二方面，本申请实施例提供了一种智能终端NTC功能测试系统，该系统包括：存储器及处理器，存储器中包括智能终端NTC功能测试方法的程序，智能终端NTC功能测试方法的程序被处理器执行时实现以下步骤：
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；
获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；
根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端。
需要说明的是，通过驱动测试程序生成对应的测试条件，不同的测试条件对应不同的终端测试温度，通过分析实时温度与终端测试温度进行分析两者温度之间的偏差，同时对温度偏差进行补偿，保证实时温度趋近于终端测试温度，由于实时温度与终端测试温度难以保证完全相同，只要使实时温度与终端测试温度之间的偏差始终处于-5摄氏度至+5摄氏度范围内，即可判定实时温度正常，使智能终端始终处于相同的温度下进行测试，提高测试精度。
根据本发明实施例，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度，具体为：
驱动测试程序运行，生成程序运行参数，将程序运行参数输入测试模型，生成测试条件；
根据测试条件匹配测试项目，并根据不同的测试项目进行模拟生成对应的终端测试温度。
需要说明的是，不同的测试程序生成不同的程序运行参数，并根据测试模型将测试条件进行精准的输出，并根据测试条件进行终端NTC功能测试，不同的测试条件匹配对应的终端测试温度，提高测试精度。
根据本发明实施例，驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度之前，还包括：
驱动测试程序，设定测试时间，将测试时间进行多段划分，生成多个时间段，相邻时间段的连接点设定为切换时间节点；
将多个时间段与测试项目进行一一对应，同一时间段对同一个测试项目进行测试，不同时间段对不同的测试项目进行测试；
当到达切换时间节点时，生成转换信息，根据转换信息对下一个时间段的测试项目进行切换；
根据不同的测试项目生成对应的测试条件，测试条件包括标准终端测试温度，不同的测试项目对应不同的标准终端测试温度。
需要说明的是，将不同的测试项目进行不同时间的测试，同时将测试时间进行分割，实现不同时间段与测试项目进行匹配，当测试项目达到预定的测试时间时，对测试项目进行自动切换，同时切换测试条件，提高NCT功能测试灵活性。
根据本发明实施例，获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差，具体包括：
获取不同时间节点的实时温度信息，建立时间与温度的坐标，并绘制时间与实时温度信息的关系曲线，得到实时温度变化曲线；
获取终端测试温度变化曲线，将实时温度变化曲线与终端测试温度变化曲线进行比较，并计算同一时间节点的欧式距离；
根据欧式距离计算温度偏差。
需要说明的是，通过分析实时温度变化曲线与终端测试温度变化曲线，两者放在同一坐标系下进行重合度判断，并计算相同时间节点下的欧式距离，欧式距离代表两个变化曲线之间的温度差，通过计算两个变化曲线的欧式距离，分析两个变化曲线之间的偏差，从而得到温度偏差。
根据本发明实施例，根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端运行状态数据，具体为：
将实时温度与终端测试温度进行差值计算，得到温度偏差；
将温度偏差与两段温度偏差阈值进行比较，两段温度偏差阈值包括第一温度偏差阈值与第二温度偏差阈值，第一温度偏差阈值小于第二温度偏差阈值；
若温度偏差大于第一温度偏差阈值且小于第二温度偏差阈值，则生成第一补偿信息，根据第一补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第一阻值；
若温度偏差大于或等于第二温度偏差阈值，则生成第二补偿信息，根据第二补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第二阻值。
需要说明的是，通过将可变电阻取代智能终端电路上的热敏电阻，在无需恒温箱等大型测试设备的前提下，从而可以得到对智能终端NTC功能的测试快速、精准、有效的测试结果，不同的温度偏差进行不同的补偿，通过补偿信息对可变电阻的阻值进行调整，提高温度获取精度。
根据本发明实施例，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端，具体为：
根据终端状态数据进行NTC功能分析，得到分析结果；
将分析结果与预设结果进行比较，得到功能偏差率；
判断功能偏差率是否大于预设的功能偏差率阈值；
若大于，则生成NTC功能异常信息；
若小于，则判定NTC功能正常。
需要说明的是，不同的终端状态数据得到不同的分析结果，将分析结果与预设的结果进行比较，判断功能测试的效果，通过分析功能偏差率进行判断NTC功能是否正常，提高测试结果的准确性。
根据本发明实施例，还包括：
获取实时温度变化曲线，得到不同时间节点的实时温度，将相邻时间节点的实时温度进行比较，得到温度变化率；
将温度变化率与预设的变化率阈值进行比较，得到温度变化偏差；
根据温度变化偏差分析相邻时间节点的温度波动信息；
根据温度波动信息进行分析NTC功能测试效果。
需要说明的是，根据实时温度变化曲线进行分析温度变化率，进而分析温度波动信息，根据温度波动进行判断NTC功能测试效果。
本发明第三方面提供了一种计算机可读存储介质，可读存储介质中包括智能终端NTC功能测试方法程序，智能终端NTC功能测试方法程序被处理器执行时，实现如上述任一项的智能终端NTC功能测试方法的步骤。
本发明公开的一种智能终端NTC功能测试方法、系统及介质，通过驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端；通过测试程序对终端温度测试，从而实现智能终端NTC功能的测试快速、精准、有效的测试结果，大幅节省测试时间。
在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。
上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。
本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
或者，本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
Claims (3)
1.一种智能终端NTC功能测试方法，其特征在于，包括：
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；
获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；
根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端；
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度，具体为：
驱动测试程序运行，生成程序运行参数，将程序运行参数输入测试模型，生成测试条件；
根据测试条件匹配测试项目，并根据不同的测试项目进行模拟生成对应的终端测试温度；
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度之前，还包括：
驱动测试程序，设定测试时间，将测试时间进行多段划分，生成多个时间段，相邻时间段的连接点设定为切换时间节点；
将多个时间段与测试项目进行一一对应，同一时间段对同一个测试项目进行测试，不同时间段对不同的测试项目进行测试；
当到达切换时间节点时，生成转换信息，根据转换信息对下一个时间段的测试项目进行切换；
根据不同的测试项目生成对应的测试条件，测试条件包括标准终端测试温度，不同的测试项目对应不同的标准终端测试温度；
获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差，具体包括：
获取不同时间节点的实时温度信息，建立时间与温度的坐标，并绘制时间与实时温度信息的关系曲线，得到实时温度变化曲线；
获取终端测试温度变化曲线，将实时温度变化曲线与终端测试温度变化曲线进行比较，并计算同一时间节点的欧式距离；
根据欧式距离计算温度偏差；
根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端运行状态数据，具体为：
将实时温度与终端测试温度进行差值计算，得到温度偏差；
将温度偏差与两段温度偏差阈值进行比较，两段温度偏差阈值包括第一温度偏差阈值与第二温度偏差阈值，第一温度偏差阈值小于第二温度偏差阈值；
若温度偏差大于第一温度偏差阈值且小于第二温度偏差阈值，则生成第一补偿信息，根据第一补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第一阻值；
若温度偏差大于或等于第二温度偏差阈值，则生成第二补偿信息，根据第二补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第二阻值；
通过将可变电阻取代智能终端电路上的热敏电阻，在无需恒温箱大型测试设备的前提下，从而得到对智能终端NTC功能的测试快速、精准、有效的测试结果，不同的温度偏差进行不同的补偿，通过补偿信息对可变电阻的阻值进行调整，提高温度获取精度；
根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端，具体为：
根据终端状态数据进行NTC功能分析，得到分析结果；
将分析结果与预设结果进行比较，得到功能偏差率；
判断所述功能偏差率是否大于预设的功能偏差率阈值；
若大于，则生成NTC功能异常信息；
若小于，则判定NTC功能正常。
2.一种智能终端NTC功能测试系统，其特征在于，该系统包括：存储器及处理器，所述存储器中包括智能终端NTC功能测试方法的程序，所述智能终端NTC功能测试方法的程序被所述处理器执行时实现以下步骤：
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度；
获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差；
根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端状态数据，根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端；
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度，具体为：
驱动测试程序运行，生成程序运行参数，将程序运行参数输入测试模型，生成测试条件；
根据测试条件匹配测试项目，并根据不同的测试项目进行模拟生成对应的终端测试温度；
驱动测试程序，生成测试条件，根据测试条件生成终端测试温度之前，还包括：
驱动测试程序，设定测试时间，将测试时间进行多段划分，生成多个时间段，相邻时间段的连接点设定为切换时间节点；
将多个时间段与测试项目进行一一对应，同一时间段对同一个测试项目进行测试，不同时间段对不同的测试项目进行测试；
当到达切换时间节点时，生成转换信息，根据转换信息对下一个时间段的测试项目进行切换；
根据不同的测试项目生成对应的测试条件，测试条件包括标准终端测试温度，不同的测试项目对应不同的标准终端测试温度；
获取实时温度信息，将实时温度信息与终端测试温度进行比较，得到温度偏差，具体包括：
获取不同时间节点的实时温度信息，建立时间与温度的坐标，并绘制时间与实时温度信息的关系曲线，得到实时温度变化曲线；
获取终端测试温度变化曲线，将实时温度变化曲线与终端测试温度变化曲线进行比较，并计算同一时间节点的欧式距离；
根据欧式距离计算温度偏差；
根据温度偏差进行实时温度补偿，并获取终端运行状态数据，具体为：
将实时温度与终端测试温度进行差值计算，得到温度偏差；
将温度偏差与两段温度偏差阈值进行比较，两段温度偏差阈值包括第一温度偏差阈值与第二温度偏差阈值，第一温度偏差阈值小于第二温度偏差阈值；
若温度偏差大于第一温度偏差阈值且小于第二温度偏差阈值，则生成第一补偿信息，根据第一补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第一阻值；
若温度偏差大于或等于第二温度偏差阈值，则生成第二补偿信息，根据第二补偿信息调整可变电阻的阻值，记为第二阻值；
通过将可变电阻取代智能终端电路上的热敏电阻，在无需恒温箱大型测试设备的前提下，从而得到对智能终端NTC功能的测试快速、精准、有效的测试结果，不同的温度偏差进行不同的补偿，通过补偿信息对可变电阻的阻值进行调整，提高温度获取精度；
根据终端状态数据进行NTC功能分析测试，将分析测试结果传输至终端，具体为：
根据终端状态数据进行NTC功能分析，得到分析结果；
将分析结果与预设结果进行比较，得到功能偏差率；
判断所述功能偏差率是否大于预设的功能偏差率阈值；
若大于，则生成NTC功能异常信息；
若小于，则判定NTC功能正常。
3.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中包括智能终端NTC功能测试方法程序，所述智能终端NTC功能测试方法程序被处理器执行时，实现如权利要求1所述的智能终端NTC功能测试方法的步骤。
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