CN117237336B - 一种金属化陶瓷环缺陷检测方法、系统和可读存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法、系统和可读存储介质，涉及图像数据处理技术领域，本发明以标准的金属化陶瓷环作为对比标准，不需要采集各种样式的金属化陶瓷环缺陷，节省了采集数据的时间；另外，通过不同角度对金属化陶瓷环进行检测，并且将对应不同角度的灰度图像中的像素点进行编号，并且按照预设序列间隔依次进行缺陷检测，提高了金属化陶瓷环缺陷检测的准确率以及效率。

Description

一种金属化陶瓷环缺陷检测方法、系统和可读存储介质

技术领域

本发明涉及图像数据处理技术领域，更具体的，涉及一种金属化陶瓷环缺陷检测方法、系统和可读存储介质。

背景技术

金属化陶瓷环是一种新型磁性器材，被广泛应用于新能源汽车、智能制造等技术领域。但是，各技术领域对金属化陶瓷环的要求比较严格，不能出现黑斑、缺损、针孔、脱落、裂缝等缺陷，当金属化陶瓷环在生产过程中出现金属层液体没有搅拌均匀、模具受损等情况时，容易造成金属化陶瓷环表面出现缺陷，造成了资源的浪费以及成本的增加。

在现有的专利中，例如专利1（CN109816652B）公开了一种基于灰度梯度共生矩阵的粉末冶金零件成品检测方法，专利2 (CN115018765A)公开了一种基于灰度显著性的复杂铸件缺陷识别方法，但是专利1需要结合先验知识来判定缺陷，对于获取先验知识以及对应的金属化陶瓷都需要大量的时间，特别是在金属化陶瓷环缺陷较少的情况下，先验知识比较难以获取；专利2采用的是通过中垂线划分待判断区域，不适用不均匀的产品，对检测产品的外形以及对称性要求比较高。

因此，现有技术存在缺陷，亟待改进。

发明内容

鉴于上述问题，本发明的目的是提供一种金属化陶瓷环缺陷检测方法、系统和可读存储介质，能够有效提高缺陷检测的准确率以及效率。

本发明第一方面提供了一种金属化陶瓷环缺陷检测方法，包括：

获取在不同角度拍摄的金属化陶瓷环图像信息，简称为不同角度的图像；

将所述不同角度的图像进行二值化，得到不同角度的灰度图像；

将同一角度的灰度图像中像素点的灰度值减去预设标准图像在相同位置的像素点的灰度值，再取绝对值，得到第一灰度差值；

判断所述第一灰度差值是否大于预设第一灰度阈值，若是，将对应角度的灰度图像进行缺陷标记；

获取同一金属化陶瓷环中被缺陷标记的灰度图像的数量值；

判断所述数量值是否大于预设第一数量阈值，若是，将对应金属化陶瓷环设为存在缺陷；

获取存在缺陷标记的灰度图像，并将所述灰度图像划分为多个子灰度图像；

当对应子灰度图像中存在标记位置时，获取对应子灰度图像在金属化陶瓷环相同位置的第二图像，简称为第二图像；

将第二图像进行二值化，得到对应第二灰度图像；

提取第二图像和第二灰度图像中的缺陷轮廓线；

将第二图像和第二灰度图像中的缺陷轮廓线进行重叠优化，得到优化后的缺陷轮廓线；

提取优化后的缺陷轮廓线的特征；

根据优化后的缺陷轮廓线的特征和预设缺陷种类的特征进行对比分析，确定当前优化后的缺陷轮廓线对应的预设缺陷种类；

根据优化后的缺陷轮廓线对应的预设缺陷种类，得到该金属化陶瓷环在对应标记位置的缺陷种类；

所述第二图像的分辨率高于对应子灰度图像的分辨率。

本方案中，所述不同角度拍摄，具体包括：一个正面角度拍摄，不少于两个斜角拍摄，所述不同角度拍摄的数量不少于三个且为奇数，所述斜角拍摄中的斜角两两互为对称。

本方案中，还包括：

当灰度图像进行缺陷标记时，同时标记对应灰度差值大于预设第一灰度阈值的像素点位置以及对应灰度图像的角度，并将对应灰度图像的角度设为第一角度，将对应像素点位置设为标记位置；

判断对应第一角度的灰度图像是否为正面角度，若否，则根据对应第一角度的灰度图像，得到对应对称斜角的灰度图像，设为第二角度的灰度图像；

根据第一角度的灰度图像中标记位置，确定第二角度的灰度图像中相同位置；

提取第二角度的灰度图像中相同位置的灰度值；

将第二角度的灰度图像中相同位置的灰度值和对应角度的预设标准图像的灰度值进行差值计算，得到第二灰度差值；

判断所述第二灰度差值是否大于预设第二灰度阈值，若是，将所述第二角度的灰度图像进行缺陷标记，并在对应相同位置进行标记；

若否，将第一角度的灰度图像对应的标记位置进行消除，若第一角度的灰度图像不存在其他标记位置，则将第一角度的灰度图像的缺陷标记进行消除。

本方案中，还包括：

提取优化后的缺陷轮廓线上像素点的灰度值；

获取优化后的缺陷轮廓线之外对应相邻像素点的灰度值；

将优化后的缺陷轮廓线上像素点的灰度值和优化后的缺陷轮廓线之外对应相邻像素点的灰度值进行差值计算，得到第三灰度差值；

判断所述第三灰度差值是否大于预设第三灰度阈值，若是，对应优化后的缺陷轮廓线为正常；若否，将优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点，并根据内移的一个像素点和对应相邻像素点的灰度值重新计算第三灰度差值，直至对应第三灰度差值大于预设第三灰度阈值；

获取优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点的次数值；

当所述次数值大于预设第一次数阈值时，触发缺陷轮廓线警示信息，并根据缺陷轮廓线警示信息对该金属化陶瓷环重新拍摄图像；

当所述次数值小于或等于预设第一次数阈值时，根据优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点的次数值对该优化后的缺陷轮廓线进行调整，得到调整之后的缺陷轮廓线。

本方案中，还包括：

获取调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的第三灰度差值；

将调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的第三灰度差值乘以预设灰度差转化信任系数，得到调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的信任值集；

将所述信任值集中的信任值进行累加，得到对应调整之后的缺陷轮廓线的信任值；

判断所述调整之后的缺陷轮廓线的信任值是否预设信任阈值，若是，对应调整之后的缺陷轮廓线位置为非正常缺陷；

若否，对应调整之后的缺陷轮廓线位置为可存的正常缺陷。

本方案中，还包括：

获取同一金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定的总次数值；

判断所述同一金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定的总次数值是否大于预设第二次数阈值，若是，触发灯光警示信息；若否，对应灯光为正常；

将所述警示信息发送至预设管理端以进行显示。

本方案中，还包括：

将不同角度的灰度图像中的像素点按照预设规则进行排序，得到像素点的序列；

基于预设序列间隔，将不同角度的灰度图像中的像素点按照预设序列间隔依次进行灰度值的差值计算；

当对应第一灰度差值大于预设第一灰度阈值时，提取该第一灰度差值对应的像素点所在的序列；

根据该第一灰度差值对应的像素点所在的序列，得到上一个进行灰度值的差值计算的像素点序列；

将不同角度的灰度图像中的像素点从像素点序列开始依次进行灰度值的差值计算，直至存在一个预设序列间隔中所有像素点对应的第一灰度差值都小于或等于预设第一灰度阈值时，恢复按照预设序列间隔依次对像素点进行缺陷检测。

本发明第二方面提供了一种金属化陶瓷环缺陷检测系统，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有上述任一项所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法程序。

本发明第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有一种金属化陶瓷环缺陷检测方法程序，所述一种金属化陶瓷环缺陷检测方法程序被处理器执行时，实现如上述任一项所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法的步骤；当金属化陶瓷环存在缺陷时，获取缺陷部分的高清图像以提高缺陷轮廓的精度，从而提高金属化陶瓷环的缺陷种类判定的准确性。

本发明公开的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法、系统和可读存储介质，本发明以标准的金属化陶瓷环作为对比标准，不需要采集各种样式的金属化陶瓷环缺陷，节省了采集数据的时间；另外，通过不同角度对金属化陶瓷环进行检测，并且将对应不同角度的灰度图像中的像素点进行编号，并且按照预设序列间隔依次进行缺陷检测，提高了金属化陶瓷环缺陷检测的准确率以及效率。

附图说明

图1示出了本发明一种金属化陶瓷环缺陷检测方法的流程图；

图2示出了本发明对优化后的缺陷轮廓线进行调整的示意图；

图3示出了本发明一种金属化陶瓷环缺陷检测系统的框图。

具体实施方式

为了能够更清楚地理解本发明的上述目的、特征和优点，下面结合附图和具体实施方式对本发明进行进一步的详细描述。需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请的实施例及实施例中的特征可以相互组合。

在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本发明，但是，本发明还可以采用其他不同于在此描述的其他方式来实施，因此，本发明的保护范围并不受下面公开的具体实施例的限制。

图1示出了本发明一种金属化陶瓷环缺陷检测方法的流程图。

如图1所示，本发明公开了一种金属化陶瓷环缺陷检测方法，包括：

S101，获取在不同角度拍摄的金属化陶瓷环图像信息，简称为不同角度的图像；

S102，将所述不同角度的图像进行二值化，得到不同角度的灰度图像；

S103,将同一角度的灰度图像中像素点的灰度值减去预设标准图像在相同位置的像素点的灰度值，再取绝对值，得到第一灰度差值；

S104，判断所述第一灰度差值是否大于预设第一灰度阈值，若是，将对应角度的灰度图像进行缺陷标记；

S105，获取同一金属化陶瓷环中被缺陷标记的灰度图像的数量值；

S106，判断所述数量值是否大于预设第一数量阈值，若是，将对应金属化陶瓷环设为存在缺陷；

S107,获取存在缺陷标记的灰度图像，并将所述灰度图像划分为多个子灰度图像；

S108,当对应子灰度图像中存在标记位置时，获取对应子灰度图像在金属化陶瓷环相同位置的第二图像，简称为第二图像；

S109,将第二图像进行二值化，得到对应第二灰度图像；

S110,提取第二图像和第二灰度图像中的缺陷轮廓线；

S111,将第二图像和第二灰度图像中的缺陷轮廓线进行重叠优化，得到优化后的缺陷轮廓线；

S112,提取优化后的缺陷轮廓线的特征；

S113,根据优化后的缺陷轮廓线的特征和预设缺陷种类的特征进行对比分析，确定当前优化后的缺陷轮廓线对应的预设缺陷种类；

S114,根据优化后的缺陷轮廓线对应的预设缺陷种类，得到该金属化陶瓷环在对应标记位置的缺陷种类。

根据本发明实施例，所述预设标准图像为标准的金属化陶瓷环图像经过二值化处理之后的灰度图像，通过不同角度对金属化陶瓷环进行拍摄，并将同一个金属化陶瓷环的不同角度的灰度图像中像素点的灰度值设为，对应角度的预设标准图像在相同位置的像素点的灰度值设为/>，将对应相同位置的像素点的灰度差值设为/>，其公式为，将第一灰度差值设为/>,其公式为/>，比如/>，则对应第一灰度差值/>，当第一灰度差值小于或等于预设第一灰度阈值时，说明对应同一角度的灰度图像和预设标准图像在同一位置的像素点的灰度值相同或相近，因此，对应角度的灰度图像为正常，不进行缺陷标记；为了防止了因拍摄角度或光线造成的灰度偏差从而导致缺陷识别错误，当被缺陷标记的灰度图像的数量值大于预设第一数量阈值时，说明存在多个角度的灰度图像被缺陷标记，从而将对应金属化陶瓷环设为存在缺陷，当金属化陶瓷环图像对应的灰度图像被缺陷标记时，将对应灰度图像划分为多个子灰度图像，当子灰度图像中存在标记位置时，通过预设拍摄装置对该子灰度图像在金属化陶瓷环相同位置进行针对性拍摄，获取清晰度更高的第二图像，所述重叠优化是将第二图像和第二灰度图像中的缺陷轮廓线在交叉地方进行并入处理，在相同的缺陷轮廓线处进行叠加处理，形成一个新的缺陷轮廓线，所述预设缺陷种类包括黑斑、缺损、针孔、脱落、裂缝等，不同的缺陷种类具有不同的特征，其中当优化后的缺陷轮廓线的特征和预设缺陷种类的特征相同时，则对应优化后的缺陷轮廓线为对应特征相同的预设缺陷种类，所述第二图像的分辨率高于对应子灰度图像的分辨率。

根据本发明实施例，所述不同角度拍摄，具体包括：一个正面角度拍摄，不少于两个斜角拍摄，所述不同角度拍摄的数量不少于三个且为奇数，所述斜角拍摄中的斜角两两互为对称。

需要说明的是，所述正面角度拍摄为正对着金属化陶瓷环进行拍摄，所述斜角拍摄是以摄像机在正面角度拍摄时为基准，向前后左右偏移一定角度对金属化陶瓷环进行拍摄，所述不同角度拍摄包括一个正面角度拍摄和多个斜角拍摄，其中斜角拍摄中的斜角两两互为对称，比如其中一个斜角为正面向前1米向左偏移30度，则该斜角的互为对称斜角为正面向后1米向右偏移30度，通过互为对称的斜角拍摄减少了光线对缺陷识别的影响。

根据本发明实施例，还包括：

当灰度图像进行缺陷标记时，同时标记对应灰度差值大于预设第一灰度阈值的像素点位置以及对应灰度图像的角度，并将对应灰度图像的角度设为第一角度，将对应像素点位置设为标记位置；

判断对应第一角度的灰度图像是否为正面角度，若否，则根据对应第一角度的灰度图像，得到对应对称斜角的灰度图像，设为第二角度的灰度图像；

根据第一角度的灰度图像中标记位置，确定第二角度的灰度图像中相同位置；

提取第二角度的灰度图像中相同位置的灰度值；

将第二角度的灰度图像中相同位置的灰度值和对应角度的预设标准图像的灰度值进行差值计算，得到第二灰度差值；

判断所述第二灰度差值是否大于预设第二灰度阈值，若是，将所述第二角度的灰度图像进行缺陷标记，并在对应相同位置进行标记；

若否，将第一角度的灰度图像对应的标记位置进行消除，若第一角度的灰度图像不存在其他标记位置，则将第一角度的灰度图像的缺陷标记进行消除。

需要说明的是，当一个斜角的灰度图像被缺陷标记时，根据对应斜角找到互为对称的那个斜角的灰度图像，设为第二角度的灰度图像，其中若第一角度和第二角度的灰度图像在同一个像素点位置都是标记位置时，说明对应标记位置为正确，否则，将第一角度的灰度图像在对应像素点位置的标记进行消除，其中当第一角度的灰度图像不存在标记位置时，将对应第一角度的缺陷标记进行消除；当第一角度的灰度图像存在任一个标记位置时，对应第一角度的灰度图像就会被进行缺陷标记，一个角度的灰度图像存在一个缺陷标记和多个标记位置，所述预设第二灰度阈值小于或等于预设第一灰度阈值，所述预设第一灰度阈值、预设第二灰度阈值均大于0。

图2示出了本发明对优化后的缺陷轮廓线进行调整的示意图。

如图2所示，根据本发明实施例，还包括：

提取优化后的缺陷轮廓线上像素点的灰度值；

获取优化后的缺陷轮廓线之外对应相邻像素点的灰度值；

将优化后的缺陷轮廓线上像素点的灰度值和优化后的缺陷轮廓线之外对应相邻像素点的灰度值进行差值计算，得到第三灰度差值；

判断所述第三灰度差值是否大于预设第三灰度阈值，若是，对应优化后的缺陷轮廓线为正常；若否，将优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点，并根据内移的一个像素点和对应相邻像素点的灰度值重新计算第三灰度差值，直至对应第三灰度差值大于预设第三灰度阈值；

获取优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点的次数值；

当所述次数值大于预设第一次数阈值时，触发缺陷轮廓线警示信息，并根据缺陷轮廓线警示信息对该金属化陶瓷环重新拍摄图像；

当所述次数值小于或等于预设第一次数阈值时，根据优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点的次数值对该优化后的缺陷轮廓线进行调整，得到调整之后的缺陷轮廓线。

需要说明的是，在拍摄过程中的灰尘、光线等均可能会影响拍摄误差，比如图2，所 述优化后的缺陷轮廓线由多个像素点连接而成，比如图2中像素点、、…均为 优化后的缺陷轮廓线上像素点，则对应相邻像素点为,其中像素点对应的相邻像素点 为，将优化后的缺陷轮廓线上像素点的灰度值和优化后的缺陷轮廓线之外对应相邻像 素点的灰度值进行差值计算，比如图2中像素点的灰度值减去像素点的像素值，得到 像素点对应的第三灰度差值，其中当像素点对应的第三灰度差值小于或等于预设第 三灰度阈值时，将优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点，则将像素点位置向内移至像素端位置，对应优化后的缺陷轮廓线就得到相应调整，同时记录优化 后的缺陷轮廓线上像素点位置向内移一个像素点一次；并继续将内移的像素端的灰 度值和像素点的灰度值进行差值计算，得到一个新的第三灰度差值，若对应新的第三灰 度值还是小于或等于预设第三灰度阈值时，将像素点继续向内移动一个像素点，移至像 素点位置,并根据像素点的灰度值和像素点的灰度值重新计算第三灰度差值，并 以此类推，直至对应第三灰度差值大于预设第三灰度阈值，得到调整之后的缺陷轮廓线。

根据本发明实施例，还包括：

获取调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的第三灰度差值；

将调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的第三灰度差值乘以预设灰度差转化信任系数，得到调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的信任值集；

将所述信任值集中的信任值进行累加，得到对应调整之后的缺陷轮廓线的信任值；

判断所述调整之后的缺陷轮廓线的信任值是否预设信任阈值，若是，对应调整之后的缺陷轮廓线位置为非正常缺陷；

若否，对应调整之后的缺陷轮廓线位置为可存的正常缺陷。

需要说明的是，所述调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的信任值集由调整之后的缺陷轮廓线上多个像素点对应的信任值组成；所述调整之后的缺陷轮廓线的信任值和对应调整之后的缺陷轮廓线上的像素点的个数、像素点对应的第三灰度差值成正比例关系，调整之后的缺陷轮廓线的信任值越大，对应调整之后的缺陷轮廓线位置存在缺陷的可能性越大。

根据本发明实施例，还包括：

获取在同一金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定的总次数值；

判断所述同一金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定的总次数值是否大于预设第二次数阈值，若是，触发灯光警示信息；若否，对应灯光为正常；

将所述警示信息发送至预设管理端以进行显示。

需要说明的是，当其中一个斜角拍摄的灰度图像中存在标记位置，该斜角的互为对称斜角的灰度图像在相同位置不存在标记位置，则记录对应金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定一次，比如预设第二次数阈值为2次，则当同一金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定的总次数值大于2次时，触发灯光警示信息，说明当前灯光对拍摄不同角度的金属化陶瓷图像存在影响，比如阴影、反光等。

根据本发明实施例，还包括：

将不同角度的灰度图像中的像素点按照预设规则进行排序，得到像素点的序列；

基于预设序列间隔，将不同角度的灰度图像中的像素点按照预设序列间隔依次进行灰度值的差值计算；

当对应第一灰度差值大于预设第一灰度阈值时，提取该第一灰度差值对应的像素点所在的序列；

根据该第一灰度差值对应的像素点所在的序列，得到上一个进行灰度值的差值计算的像素点序列；

将不同角度的灰度图像中的像素点从像素点序列开始依次进行灰度值的差值计算，直至存在一个预设序列间隔中所有像素点对应的第一灰度差值都小于或等于预设第一灰度阈值时，恢复按照预设序列间隔依次对像素点进行缺陷检测。

需要说明的是，将灰度图像中的像素点按照预设规则进行排序，比如从外圈到内圈、从左到右、从右到左等顺序，将在同一排、同一竖、同一圈等位置的像素点设为同一序列，比如设为序列1、序列2、序列3…序列，若预设序列间隔为2，则开始对灰度图像中序列1所在的像素点和预设标准图像在相同位置的像素点的灰度值进行差值计算，灰度图像中序列1所在的像素点对应的第一灰度差值都小于或等于预设第一灰度阈值，则跳过序列2和序列3所在的像素点，将灰度图像中序列4所在的像素点进行缺陷检测，若灰度图像中序列4所在的像素点对应的第一灰度差值都小于或等于预设第一灰度阈值，则跳过序列5和序列6所在的像素点，将灰度图像中序列7所在的像素点进行缺陷检测，其中当灰度图像中序列7所在的像素点对应的第一灰度差值存在大于预设第一灰度阈值时，则返回上一个进行灰度值的差值计算的像素点序列4，对灰度图像中序列5和序列6所在的像素点进行缺陷检测，当灰度图像中序列8、序列9和序列10所在的像素点对应的第一灰度差值都小于或等于预设第一灰度阈值时，恢复按照预设序列间隔依次对像素点进行缺陷检测。

图3示出了本发明一种金属化陶瓷环缺陷检测系统的框图。

如图3所示，本发明第二方面提供了一种金属化陶瓷环缺陷检测系统3，包括存储器31和处理器32，所述存储器中存储有上述任一项所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法程序。

本发明第三方面提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质中存储有一种金属化陶瓷环缺陷检测方法程序，所述一种金属化陶瓷环缺陷检测方法程序被处理器执行时，实现如上述任一项所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法的步骤。

本发明以标准的金属化陶瓷环作为对比标准，不需要采集各种样式的金属化陶瓷环缺陷，节省了采集数据的时间；另外，通过不同角度对金属化陶瓷环进行检测，并且将对应不同角度的灰度图像中的像素点进行编号，并且按照预设序列间隔依次进行缺陷检测，提高了金属化陶瓷环缺陷检测的准确率以及效率；当金属化陶瓷环存在缺陷时，获取缺陷部分的高清图像以提高缺陷轮廓的精度，从而提高金属化陶瓷环的缺陷种类判定的准确性。

在本申请所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备和方法，可以通过其它的方式实现。以上所描述的设备实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，如：多个单元或组件可以结合，或可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另外，所显示或讨论的各组成部分相互之间的耦合、或直接耦合、或通信连接可以是通过一些接口，设备或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性的、机械的或其它形式的。

上述作为分离部件说明的单元可以是、或也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是、或也可以不是物理单元；既可以位于一个地方，也可以分布到多个网络单元上；可以根据实际的需要选择其中的部分或全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本发明各实施例中的各功能单元可以全部集成在一个处理单元中，也可以是各单元分别单独作为一个单元，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中；上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用硬件加软件功能单元的形式实现。

本领域普通技术人员可以理解：实现上述方法实施例的全部或部分步骤可以通过程序指令相关的硬件来完成，前述的程序可以存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，执行包括上述方法实施例的步骤；而前述的存储介质包括：移动存储设备、只读存储器（ROM，Read-Only Memory）、随机存取存储器（RAM，Random Access Memory）、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

或者，本发明上述集成的单元如果以软件功能模块的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，也可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本发明实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备（可以是个人计算机、服务器、或者网络设备等）执行本发明各个实施例所述方法的全部或部分。而前述的存储介质包括：移动存储设备、ROM、RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

Claims (7)

1.一种金属化陶瓷环缺陷检测方法，其特征在于，包括：

获取在不同角度拍摄的金属化陶瓷环图像信息，简称为不同角度的图像；

将所述不同角度的图像进行二值化，得到不同角度的灰度图像；

将同一角度的灰度图像中像素点的灰度值减去预设标准图像在相同位置的像素点的灰度值，再取绝对值，得到第一灰度差值；

判断所述第一灰度差值是否大于预设第一灰度阈值，若是，将对应角度的灰度图像进行缺陷标记；

获取同一金属化陶瓷环中被缺陷标记的灰度图像的数量值；

判断所述数量值是否大于预设第一数量阈值，若是，将对应金属化陶瓷环设为存在缺陷；

获取存在缺陷标记的灰度图像，并将所述灰度图像划分为多个子灰度图像；

当对应子灰度图像中存在标记位置时，获取对应子灰度图像在金属化陶瓷环相同位置的第二图像，简称为第二图像；

将第二图像进行二值化，得到对应第二灰度图像；

提取第二图像和第二灰度图像中的缺陷轮廓线；

将第二图像和第二灰度图像中的缺陷轮廓线进行重叠优化，得到优化后的缺陷轮廓线；

提取优化后的缺陷轮廓线的特征；

根据优化后的缺陷轮廓线的特征和预设缺陷种类的特征进行对比分析，确定当前优化后的缺陷轮廓线对应的预设缺陷种类；

根据优化后的缺陷轮廓线对应的预设缺陷种类，得到该金属化陶瓷环在对应标记位置的缺陷种类；

所述第二图像的分辨率高于对应子灰度图像的分辨率；

所述不同角度拍摄，具体包括：一个正面角度拍摄，不少于两个斜角拍摄，所述不同角度拍摄的数量不少于三个且为奇数，所述斜角拍摄中的斜角两两互为对称；

还包括：

当灰度图像进行缺陷标记时，同时标记对应灰度差值大于预设第一灰度阈值的像素点位置以及对应灰度图像的角度，并将对应灰度图像的角度设为第一角度，将对应像素点位置设为标记位置；

判断对应第一角度的灰度图像是否为正面角度，若否，则根据对应第一角度的灰度图像，得到对应对称斜角的灰度图像，设为第二角度的灰度图像；

根据第一角度的灰度图像中标记位置，确定第二角度的灰度图像中相同位置；

提取第二角度的灰度图像中相同位置的灰度值；

将第二角度的灰度图像中相同位置的灰度值和对应角度的预设标准图像的灰度值进行差值计算，得到第二灰度差值；

判断所述第二灰度差值是否大于预设第二灰度阈值，若是，将所述第二角度的灰度图像进行缺陷标记，并在对应相同位置进行标记；

若否，将第一角度的灰度图像对应的标记位置进行消除，若第一角度的灰度图像不存在其他标记位置，则将第一角度的灰度图像的缺陷标记进行消除。

2.根据权利要求1所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法，其特征在于，还包括：

提取优化后的缺陷轮廓线上像素点的灰度值；

获取优化后的缺陷轮廓线之外对应相邻像素点的灰度值；

将优化后的缺陷轮廓线上像素点的灰度值和优化后的缺陷轮廓线之外对应相邻像素点的灰度值进行差值计算，得到第三灰度差值；

判断所述第三灰度差值是否大于预设第三灰度阈值，若是，对应优化后的缺陷轮廓线为正常；若否，将优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点，并根据内移的一个像素点和对应相邻像素点的灰度值重新计算第三灰度差值，直至对应第三灰度差值大于预设第三灰度阈值；

获取优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点的次数值；

当所述次数值大于预设第一次数阈值时，触发缺陷轮廓线警示信息，并根据缺陷轮廓线警示信息对该金属化陶瓷环重新拍摄图像；

当所述次数值小于或等于预设第一次数阈值时，根据优化后的缺陷轮廓线在对应像素点位置向内移一个像素点的次数值对该优化后的缺陷轮廓线进行调整，得到调整之后的缺陷轮廓线。

3.根据权利要求2所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法，其特征在于，还包括：

获取调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的第三灰度差值；

将调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的第三灰度差值乘以预设灰度差转化信任系数，得到调整之后的缺陷轮廓线上像素点对应的信任值集；

将所述信任值集中的信任值进行累加，得到对应调整之后的缺陷轮廓线的信任值；

判断所述调整之后的缺陷轮廓线的信任值是否大于预设信任阈值，若是，对应调整之后的缺陷轮廓线位置为非正常缺陷；

若否，对应调整之后的缺陷轮廓线位置为可存的正常缺陷。

4.根据权利要求1所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法，其特征在于，还包括：

当其中一个斜角拍摄的灰度图像中存在标记位置，该斜角的互为对称斜角的灰度图像在相同位置不存在标记位置，则记录对应金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定一次；

获取同一金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定的总次数值；

判断所述同一金属化陶瓷环在不同角度的灰度图像中出现对立判定的总次数值是否大于预设第二次数阈值，若是，触发灯光警示信息；若否，对应灯光为正常；

将所述灯光警示信息发送至预设管理端以进行显示。

5.根据权利要求1所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法，其特征在于，还包括：

将不同角度的灰度图像中的像素点按照预设规则进行排序，得到像素点的序列；

基于预设序列间隔，将不同角度的灰度图像中的像素点按照预设序列间隔依次进行灰度值的差值计算；

当对应第一灰度差值大于预设第一灰度阈值时，提取该第一灰度差值对应的像素点所在的序列；

根据该第一灰度差值对应的像素点所在的序列，得到上一个进行灰度值的差值计算的像素点序列；

将不同角度的灰度图像中的像素点从像素点序列开始依次进行灰度值的差值计算，直至存在一个预设序列间隔中所有像素点对应的第一灰度差值都小于或等于预设第一灰度阈值时，恢复按照预设序列间隔依次对像素点进行缺陷检测。

6.一种金属化陶瓷环缺陷检测系统，其特征在于，包括存储器和处理器，所述存储器中存储有如权利要求1至5中任一项所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法程序。

7.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有一种金属化陶瓷环缺陷检测方法程序，处理器执行时，实现如权利要求1至5中任一项所述的一种金属化陶瓷环缺陷检测方法的步骤。