CN117233827A - 一种低能光子源的源强测量装置及方法 - Google Patents

Abstract

本发明涉及核物理测量技术领域，涉及一种低能光子源的源强测量装置及方法。低能光子源的源强测量装置包括筒体、定位组件、光子准直组件、探测器组件和控制组件。定位组件设置于筒体的第一端，筒体内部设有屏蔽腔体，光子准直组件设置于筒体的第一端，光子准直组件设有光子准直通道，光子准直通道与屏蔽腔体连通。探测器组件设置于屏蔽腔体，探测器组件与控制组件连接。本发明提供的低能光子源的源强测量装置能够有效保证低能射线照射至探测器组件的照射范围和照射强度满足探测器组件的有效测量范围，实现对低能光子源的单位面积光子信号有效收集，确保源强测量装置能够满足低能光子源的测量要求。

Description

一种低能光子源的源强测量装置及方法

技术领域

本发明涉及核物理测量技术领域，尤其涉及一种低能光子源的源强测量装置及方法。

背景技术

低能光子源是利用发射γ射线或X辐射的放射性核素制备的同位素产品，在其实际应用中，源中放射性活度以及某一能量范围的光子输出率均应进行相应标明。

现有的放射源源强测量方法主要有两种，一种是采用井度活度计测量电流室采集的由放射源发射的射线引发的电离电流信号，利用活度与电离电流成正比的特性，获得放射源的源强；另一种是采用γ能谱仪通过探测器采集放射源发射的射线信号，并经模数转换后，通过存储器形成能谱图，从而获得放射源的源强。

第一种测量方法对于4π方向放射射线的放射源有较好的测量精度，但对于2π方向放射射线的低能光子源的测量精度偏差较大，无法测量某一能量范围的光子输出率。而第二种测量方法虽然对2π方向放射射线的放射源具有较高的测量精度，但所能测量的放射源活度上限不高于10⁵Bq，从而同样满足低能光子源产品的测量要求。

也即现有对放射源的测量装置无法同时满足对低能光子源的活度测量的高测量精度要求，以及对某一能量范围光子输出率的测量，从而无法满足对低能光子源产品的测量要求。

发明内容

本发明旨在至少解决相关技术中存在的问题之一。为此，本发明提出一种低能光子源的源强测量装置，能够有效保证低能射线照射至探测器组件的照射范围和照射强度满足探测器组件的有效测量范围，实现对低能光子源的单位面积光子信号有效收集，进而确保源强测量装置能够满足低能光子源的测量要求。

本发明还提供一种低能光子源的源强测量方法。

根据本发明第一方面实施例提供的低能光子源的源强测量装置，包括：

筒体，内部设有屏蔽腔体；

定位组件，设置于所述筒体的第一端，所述定位组件用于固定低能光子源；

光子准直组件，设置于所述筒体的第一端，所述光子准直组件设有光子准直通道，所述光子准直通道与所述屏蔽腔体连通，所述光子准直组件用于对所述低能光子源所发射的低能射线进行准直屏蔽；

探测器组件，设置于所述屏蔽腔体，所述探测器组件用于接收输入屏蔽腔体的所述低能射线，并对所述低能射线进行光电转换；

控制组件，所述探测器组件与所述控制组件连接。

根据本发明实施例提供的一种低能光子源的源强测量装置，所述光子准直组件包括准直器，所述光子准直通道设置于所述准直器，所述准直器设置有准直透镜，所述准直透镜的透射光路位于所述光子准直通道，且所述准直透镜的透射光路与所述光子准直通道的中心轴线平行；所述光子准直通道的中心轴线与所述屏蔽腔体的中心轴线平行。

根据本发明实施例提供的一种低能光子源的源强测量装置，所述筒体的第一端设有开孔，所述开孔与所述屏蔽腔体连通，所述准直器插于所述开孔；

和/或，所述光子准直组件还包括准直托板，所述准直托板固定于所述筒体的第一端端部，所述准直器插于所述准直托板。

根据本发明实施例提供的一种低能光子源的源强测量装置，所述定位组件包括第一限位件，所述第一限位件设于所述筒体的第一端，所述低能光子源设置于所述第一限位件，所述第一限位件用于使得所述低能光子源与所述筒体的第一端端面之间的距离保持不变。

根据本发明实施例提供的一种低能光子源的源强测量装置，所述定位组件还包括第二限位件，所述第二限位件设置于所述第一限位件，所述第二限位件用于固定所述低能光子源。

根据本发明实施例提供的一种低能光子源的源强测量装置，所述探测器组件包括：

探测器，所述探测器的第一端抵接于所述筒体的第一端端部内壁面，所述探测器用于对所述低能射线进行接收和探测；

光电转换器，设于所述探测器的第二端与所述筒体的第二端内壁面之间，所述光电转换器用于将所述低能射线的光信号转换为电信号。

根据本发明实施例提供的一种低能光子源的源强测量装置，所述探测器组件还包括：

限位板，设于所述探测器的第一端与所述筒体的第一端端部内壁面之间，所述探测器的第一端卡接于所述限位板；

限位垫圈，所述限位垫圈的内圈套设于所述探测器的第二端侧壁，所述限位垫圈的外圈抵接于所述屏蔽腔体的内壁面。

根据本发明实施例提供的一种低能光子源的源强测量装置，所述探测器组件还包括：

缓冲垫片，设于所述限位板与所述筒体的第一端内壁之间。

根据本发明实施例提供的一种低能光子源的源强测量装置，所述控制组件设置有存储器，所述探测器组件与所述存储器连接。

根据本发明第二方面实施例提供的低能光子源的源强测量方法，所述低能光子源的源强测量方法基于上述任意一项所述的低能光子源的源强测量装置，所述低能光子源的源强测量方法包括以下步骤：

将所述低能光子源通过所述定位组件固定于所述筒体的第一端；

将所述低能光子源产生的低能射线通入所述光子准直组件，以对所述低能射线进行准直屏蔽；

通过所述探测器组件接收单位时间内的所述低能射线，并对所述低能射线进行光电转换，获得携带信息的电信号；

将所述电信号传输至所述控制组件，形成能谱图，并利用所述能谱图测定所述低能光子源的光子输出率及活度。

本发明实施例中的上述一个或多个技术方案，至少具有如下技术效果之一：

根据本发明实施例提供的低能光子源的源强测量装置，在将光子准直组件安装于筒体的第一端，并将低能光子源通过定位组件固定于筒体的第一端后，低能光子源向四周发射低能射线，其中一部分低能射线照射至光子准直组件中，以使光子准直组件接收这部分低能射线，并对这部分低能射线进行光路准直，同时通过光子准直组件实现对未接收的低能射线进行屏蔽，以避免未接收的低能射线影响测量。经准直后的低能射线通过光子准直通道传输至屏蔽腔体中，并通过探测器组件对低能射线进行接收并进行光电转换，以实现将光信号转换为电信号，从而通过对电信号中携带的信息进行解译，以计算出低能光子源的光子输出率。

即在本申请中，通过光子准直组件对所接收的低能射线进行光路准直，同时对未接收的低能射线进行屏蔽，从而实现控制低能射线照射进入探测器组件的数量，以及控制低能射线照射进光子准直通道的照射范围，以保证低能射线照射至探测器组件的照射范围和照射强度满足探测器组件的有效测量范围，实现对低能光子源的单位面积光子信号有效收集，进而使得探测器组件能够对所接收的低能射线进行测量，确保源强测量装置能够满足低能光子源的测量要求。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

为了更清楚地说明本发明或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作一简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明实施例提供的低能光子源的源强测量装置的立体结构示意图；

图2是本发明实施例提供的低能光子源的源强测量装置的仰视结构示意图；

图3是本发明实施例提供的低能光子源的源强测量装置的剖视结构示意图；

图4是图3中A处的放大结构示意图；

图5是本发明实施例提供的低能光子源的源强测量方法的流程图。

附图标记：

10、筒体；11、底板；12、支脚；13、提手；20、定位组件；21、第一限位件；22、第二限位件；30、光子准直组件；31、准直器；32、准直托板；33、光子准直通道；40、探测器组件；41、探测器；42、光电转换器；43、限位板；44、限位垫圈；45、缓冲垫片；50、低能光子源。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本发明的实施方式作进一步详细描述。以下实施例用于说明本发明，但不能用来限制本发明的范围。

在本发明实施例的描述中，需要说明的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明实施例和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明实施例的限制。此外，术语“第一”、“第二”、“第三”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性。

在本发明实施例的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明实施例中的具体含义。

在本发明实施例中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明实施例的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不必须针对的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。此外，在不相互矛盾的情况下，本领域的技术人员可以将本说明书中描述的不同实施例或示例以及不同实施例或示例的特征进行结合和组合。

下面结合图1至图4描述本发明第一方面实施例提供的低能光子源的源强测量装置。

图1示例了本发明实施例提供的低能光子源的源强测量装置的立体结构示意图，图2示例了本发明实施例提供的低能光子源的源强测量装置的仰视结构示意图，图3示例了本发明实施例提供的低能光子源的源强测量装置的剖视结构示意图，如图1至图3所示，低能光子源的源强测量装置包括筒体10、定位组件20、光子准直组件30、探测器组件40和控制组件。

定位组件20设置于筒体10的第一端，定位组件20用于固定低能光子源50。筒体10内部设有屏蔽腔体，光子准直组件30设置于筒体10的第一端，光子准直组件30设有光子准直通道33，光子准直通道33与屏蔽腔体连通，光子准直组件30用于对低能光子源50所发射的低能射线进行准直屏蔽。探测器组件40设置于屏蔽腔体，探测器组件40用于接收输入屏蔽腔体的低能射线，并对低能射线进行光电转换。探测器组件40与控制组件连接，以将探测器组件40所转换的电信号传输至控制组件，从而便于读取携带有测量数据的电信号。

根据本发明实施例提供的低能光子源的源强测量装置，在将光子准直组件30安装于筒体10的第一端，并将低能光子源50通过定位组件20固定于筒体10的第一端后，低能光子源50向四周发射低能射线，其中一部分低能射线照射至光子准直组件30中，以使光子准直组件30接收这部分低能射线，并对这部分低能射线进行光路准直，同时通过光子准直组件30实现对未接收的低能射线进行屏蔽，以避免未接收的低能射线影响测量。经准直后的低能射线通过光子准直通道33传输至屏蔽腔体中，并通过探测器组件40对低能射线进行接收并进行光电转换，以实现将光信号转换为电信号，从而通过对电信号中携带的信息进行解译，以计算出低能光子源的光子输出率。

即在本申请中，通过光子准直组件30对所接收的低能射线进行光路准直，同时对未接收的低能射线进行屏蔽，从而实现控制低能射线照射进入探测器组件40的数量，以及控制低能射线照射进光子准直通道33的照射范围，以保证低能射线照射至探测器组件40的照射范围和照射强度满足探测器组件40的有效测量范围，实现对低能光子源50的单位面积光子信号有效收集，进而使得探测器组件40能够对所接收的低能射线进行测量，确保源强测量装置能够满足低能光子源50的测量要求。

此外，由于低能光子源50在放置之后会向四周发射低能射线，其中无法被探测器组件40接收的低能射线会对探测器组件40产生干扰。在本申请中，通过光子准直组件30对未接收的低能射线进行屏蔽，以避免未接收的低能射线影响探测器组件40的测量，即可减少了散射的射线对探测器组件40采集数据的干扰，从而提高了探测器组件40对光子输出率测量的准确度。

在本发明的实施例中，如图3所示，光子准直组件30包括准直器31，光子准直通道33设置于准直器31，准直器31设置有准直透镜，准直透镜的透射光路位于光子准直通道33，且准直透镜的透射光路与光子准直通道33的中心轴线平行。光子准直通道33的中心轴线与屏蔽腔体的中心轴线平行。

也即在本实施例中，在其中一部分低能射线照射至光子准直组件30中后，这部分低能射线照射至准直器31中的准直透镜中，并通过准直透镜将这部分低能射线转化为具有一定直径的平行光束，从而实现对低能射线进行光路准直，通过控制准直透镜相关规格参数，即可实现控制低能射线的照射范围，进而确保低能射线的照射范围能够满足探测器组件40的有效测量范围。同时将准直透镜的透射光路与光子准直通道33的中心轴线保持平行，同时光子准直通道33的中心轴线与屏蔽腔体的中心轴线保持平行，从而保证了平行光束能够平行照射于屏蔽腔体中的探测器组件40，确保探测器组件40能够接收到平行光束。

进一步地，为实现将准直器31安装于筒体10的第一端，以对低能射线进行准直屏蔽，准直器31的安装方式可采用以下任意一种安装方式：

第一种安装方式，筒体10的第一端设有开孔，开孔和屏蔽腔体连通，准直器31插于开孔处，以实现准直器31的安装。

具体地，本实施例中，准直器31的第一端抵接于定位组件20朝向筒体10第一端的端面，准直器31上形成有凸楞，准直器31的第二端插于开孔的同时，准直器31上的凸楞抵接于筒体10的第一端端面，从而实现对准直器31与筒体10的第一端端面之间的可拆卸连接，以便于可根据需要对准直器31进行更换。

当然，准直器31的外壁也可与开孔过盈配合，以实现将准直器31固定于筒体10的第一端。

第二种安装方式，光子准直组件30还包括准直托板32，准直托板32固定于筒体10的第一端端部，准直器31插于准直托板32。本实施例中，准直托板32可为套筒结构，准直托板32可通过焊接等方式固定于筒体10的第一端端部，且准直托板32的内腔与屏蔽腔体连通，进而在将准直器31插于准直托板32后即可实现将准直器31安装于筒体10的第一端，并将光子准直通道33与屏蔽腔体连通。

这里需要说明的是，准直托板32的中心轴线与光子准直通道33的中心轴线保持平行，以确保光子准直通道33不会阻挡平行光束的传输。

这里还需要说明的是，本实施例中，也可将准直托板32插于开孔处，准直托板32与开孔过盈配合，以实现将准直托板32固定于筒体10的第一端端部。

在本发明的实施例中，如图3所示，定位组件20包括第一限位件21，第一限位件21设于筒体10的第一端，低能光子源50设置于第一限位件21，第一限位件21用于使得低能光子源50与筒体10的第一端端面之间的距离保持不变，以保证低能光子源50在固定于筒体10的第一端后，低能光子源50与探测器组件40之间的高度保持恒定，进而确保低能射线经准直后的平行光束的传输路径一致，以保证在对不同低能光子源50的光子输出率不受光束传输路径的影响。

具体地，本实施例中，如图3所示，第一限位件21为定高板，定高板设有立架和定高架，立架的第一端抵接于筒体10的第一端端部，立架的第二端与定高架连接，本实施例中，立架和定高架一体成型。筒体10的第一端形成有卡槽，立架的第一端设有插销，通过插销与卡槽的插接配合，实现将立架固定于筒体10的第一端。

定高架背离立架的一侧设置有安装槽，低能光子源50安装于安装槽中，定高架朝向立架的一侧与筒体10第一端端面之间的距离保持不变，以确保不同的低能光子源50在测量过程中的一致性。

进一步地，本实施例中，如图3所示，定位组件20还包括第二限位件22，第二限位件22设置于第一限位件21，第二限位件22用于固定低能光子源50，以对低能光子源50进行限位，确保低能光子源50在测量过程中不会发生位置的偏移和错位，确保低能光子源50在空间上对准。

具体地，本实施例中，第一限位件21背离筒体10第一端端面的一侧形成有安装槽，第二限位件22卡设于安装槽中，第二限位件22形成有安装孔，低能光子源50可通过插设于安装孔中，以实现将低能光子源50固定于第二限位件22中。

这里需要说明的是，本实施例中，第二限位件22可为柔性件，例如第二限位件22为橡胶圈或石墨圈，从而利用第二限位件22的柔性特质，使得第二限位件22能够适配不同规格的低能光子源50，以方便对不同的低能光子源50进行快速地切换和测量。

在本发明的实施例中，如图3所示，探测器组件40包括探测器41和光电转换器42。探测器41的第一端抵接于筒体10的第一端端部内壁面，探测器41用于对低能射线进行接收和探测。光电转换器42设于探测器41的第二端和筒体10的第二端内壁面之间，光电转换器42用于将低能射线的光信号转换为电信号。通过探测器41对低能射线进行接收和探测，之后通过光电转换器42将低能射线的光信号转换为电信号，此时低能射线的特征信息可通过电信号进行传输，通过对携带信息的电信号进行解译，即可计算获得单位面积的光子强度，再通过单位面积的光子强度乘以低能光子源50的活性区面积，即可获得低能光子源50的输出率。

此外，通过将探测器41和光电转换器42设置于筒体10的内壁面内，也即将探测器41和光电转换器42设置于屏蔽腔体中，从而使得筒体10能够将探测器41和光电转换器42隔绝于外界射线和环境辐射，以对外界射线和环境辐射进行屏蔽，从而避免外界射线和环境辐射对探测器组件40的测量造成干扰，进一步地提高了探测器组件40对光子输出率测量的准确度。

进一步地，图4示例了图3中A处的局部放大图，如图3和图4所示，为确保将探测器41固定于屏蔽腔体中，探测器组件40还包括限位板43和限位垫圈44，限位板43设于探测器41的第一端和筒体10的第一端端部内壁面之间，探测器41的第一端卡接于限位板43，从而通过限位板43对探测器41的限位，以使探测器41的侧壁面不会与筒体10的内壁面发生接触而产生摩擦，从而避免探测器41的侧面出现磨损。限位垫圈44的内圈套设于探测器41的第二端侧壁，限位垫圈44的外圈抵接于屏蔽腔体的内壁面，从而避免在测量过程中，探测器41的第二端发生晃动而导致探测器41的第二端发生接触而产生摩擦。

此外，通过限位板43和限位垫圈44对探测器41的限位，使得探测器41的中心轴线与光子准直通道33的中心轴线平行或重合，从而便于探测器41接收光子准直通道33输入屏蔽腔体的平行光束，以使探测器41对平行光束进行检测。

这里需要说明的是，本实施例中，限位板43朝向探测器41的一侧形成有卡槽，探测器41的第一端卡接于卡槽中，卡槽的内侧壁抵接于探测器41的第一端侧壁，限位板43的外侧壁抵接于筒体10的内壁，以实现探测器41和限位板43的连接，从而避免探测器41的侧壁面与筒体10内壁面发生接触。

进一步地，如图3和图4所示，探测器组件40还包括缓冲垫片45，缓冲垫片45设于限位板43和筒体10的第一端内壁之间，以对探测器41和光电转换器42在筒体10的长度方向进行限位，避免探测器41和光电转换器42在竖直方向上发生滑动，避免探测器41和光电转换器42出现错位而影响测量。

在本发明的实施例中，为提高低能光子源50的源强测量装置的移动便捷度，如图1和图3所示，筒体10的第一端设有提手13，提手13的两端通过提手固定螺丝固定于筒体10的第一端。当需要移动源强测量装置时，只需通过提拉提手13，即可实现对源强测量装置的移动。

在本发明的实施例中，筒体10的第二端设有支撑件，支撑件包括底板11和支脚12，底板11与筒体10的第二端端面通过螺栓连接，以确保底板11和筒体10的第二端端面的连接稳定，光电转换器42抵接于底板11朝向筒体10的一侧。支脚12固定连接于底板11背离筒体10的一侧，通过支脚12和底板11实现对源强测量装置的支撑，以提高源强测量装置整体的稳定性。

在本发明的实施例中，控制组件设置有存储器，探测器组件40与存储器连接。通过光电转换器42将低能射线的光信号转换为电信号后，电信号传输至存储器中，并通过存储器形成能谱图，进而通过能谱图即可计算出低能射线单位面积的光子强度，随后通过单位面积的光子强度乘以低能光子源50的活性区面积，即可获得低能光子源50的输出率。

具体地，本实施例中，探测器41与控制组件电连接，从而通过控制组件控制探测器41启动，即可控制探测器41和光电转换器42启动，进而完成对低能射线的数据采集和传输。

底板11设有插孔，光电转换器42设置有数据接口，数据接口通过插孔穿设于筒体10的第二端，本实施例中，光电转换器42的数据接口可选为USB数据接口，也可为其他种类的数据接口。存储器通过数据接口与光电转换器42电连接，从而便于对所采集的数据进行处理，实现了对低能光子源输出率的精准测量，减少了数据处理以及源强计算的时间，进而提高了对源强计算的准确率，同时提高了工作效率。

这里需要说明的是，探测器组件40和存储器的连接方式并不限定于通过数据接口电连接，也可通过蓝牙等无线通讯实现信号连接，具体可根据实际情况进行选择实施。

下面结合图5描述本发明第二方面实施例描述的低能光子源的源强测量方法。

图5示例了本发明提供的低能光子源的源强测量方法的流程图，如图5所示，本发明提供的低能光子源的源强测量方法基于上述任意一项实施例提供的低能光子源的源强测量装置，低能光子源的源强测量方法包括以下步骤：

步骤100，将低能光子源50通过定位组件20固定于筒体10的第一端。

本实施例中，将第一限位件21卡接于筒体10的第一端，并将第二限位件22固定于第一限位件21的安装槽中后，将低能光子源50固定于第二限位件22的安装孔中，从而确保低能光子源50在测量过程中不会发生位置的偏移和错位，并保证低能光子源50与探测器组件40之间的距离保持不变以保证低能光子源50与探测器组件40之间的高度保持恒定。

步骤200，将低能光子源50产生的低能射线通入光子准直组件30，以对低能射线进行准直屏蔽。

本实施例中，将准直托板32固定于筒体10的第一端，并将准直器31插入准直托板32之后，低能光子源50产生的一部分低能射线照射至准直器31中的准直透镜中，并通过准直透镜将这部分低能射线转化为具有一定直径的平行光束，从而实现对低能射线进行光路准直。同时准直器31将未照射至准直透镜的低能射线进行屏蔽，确保未接收的低能射线不会影响对光子输出率的测量，提高探测器组件40对光子输出率测量的准确率。

通过对低能射线进行准直屏蔽，实现控制低能射线照射进入探测器组件40的数量，以及控制低能射线照射进光子准直通道33的照射范围，以保证低能射线照射至探测器组件40的照射范围和照射强度满足探测器组件40的有效测量范围，实现对低能光子源50的单位面积光子信号有效收集。

步骤300，通过探测器组件40接收单位时间内的低能射线，并对低能射线进行光电转换，获得携带信息的电信号。

本实施例中，通过开启控制组件，控制组件控制探测器41和光电转换器42启动。通过探测器41对低能射线进行接收和探测，之后通过光电转换器42将低能射线的光信号转换为电信号，即可通过电信号对低能射线的特征进行传输，以便获得低能光子源50单位面积的光子强度。

步骤400，将电信号传输至控制组件，形成能谱图，并利用能谱图测定低能光子源50的光子输出率及活度。

通过光电转换器42将低能射线的光信号转换为电信号后，电信号传输至存储器中，并通过存储器形成能谱图，进而通过能谱图即可计算出低能射线单位面积的光子强度，随后通过单位面积的光子强度乘以低能光子源50的活性区面积，即可获得低能光子源50的输出率。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种低能光子源的源强测量装置，其特征在于，包括：

筒体，内部设有屏蔽腔体；

定位组件，设置于所述筒体的第一端，所述定位组件用于固定低能光子源；

光子准直组件，设置于所述筒体的第一端，所述光子准直组件设有光子准直通道，所述光子准直通道与所述屏蔽腔体连通，所述光子准直组件用于对所述低能光子源所发射的低能射线进行准直屏蔽；

探测器组件，设置于所述屏蔽腔体，所述探测器组件用于接收输入屏蔽腔体的所述低能射线，并对所述低能射线进行光电转换；

控制组件，所述探测器组件与所述控制组件连接。

2.根据权利要求1所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述光子准直组件包括准直器，所述光子准直通道设置于所述准直器，所述准直器设置有准直透镜，所述准直透镜的透射光路位于所述光子准直通道，且所述准直透镜的透射光路与所述光子准直通道的中心轴线平行；所述光子准直通道的中心轴线与所述屏蔽腔体的中心轴线平行。

3.根据权利要求2所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述筒体的第一端设有开孔，所述开孔与所述屏蔽腔体连通，所述准直器插于所述开孔；

和/或，所述光子准直组件还包括准直托板，所述准直托板固定于所述筒体的第一端端部，所述准直器插于所述准直托板。

4.根据权利要求1所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述定位组件包括第一限位件，所述第一限位件设于所述筒体的第一端，所述低能光子源设置于所述第一限位件，所述第一限位件用于使得所述低能光子源与所述筒体的第一端端面之间的距离保持不变。

5.根据权利要求4所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述定位组件还包括第二限位件，所述第二限位件设置于所述第一限位件，所述第二限位件用于固定所述低能光子源。

6.根据权利要求1至5中任意一项所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述探测器组件包括：

探测器，所述探测器的第一端抵接于所述筒体的第一端端部内壁面，所述探测器用于对所述低能射线进行接收和探测；

光电转换器，设于所述探测器的第二端与所述筒体的第二端内壁面之间，所述光电转换器用于将所述低能射线的光信号转换为电信号。

7.根据权利要求6所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述探测器组件还包括：

限位板，设于所述探测器的第一端与所述筒体的第一端端部内壁面之间，所述探测器的第一端卡接于所述限位板；

限位垫圈，所述限位垫圈的内圈套设于所述探测器的第二端侧壁，所述限位垫圈的外圈抵接于所述屏蔽腔体的内壁面。

8.根据权利要求7所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述探测器组件还包括：

缓冲垫片，设于所述限位板与所述筒体的第一端内壁之间。

9.根据权利要求1至4中任意一项所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述控制组件设置有存储器，所述探测器组件与所述存储器连接。

10.一种低能光子源的源强测量方法，所述源强测量方法基于权利要求1至9中任意一项所述的低能光子源的源强测量装置，其特征在于，所述低能光子源的源强测量方法包括以下步骤：

将所述低能光子源通过所述定位组件固定于所述筒体的第一端；

将所述低能光子源产生的低能射线通入所述光子准直组件，以对所述低能射线进行准直屏蔽；

通过所述探测器组件接收单位时间内的所述低能射线，并对所述低能射线进行光电转换，获得携带信息的电信号；

将所述电信号传输至所述控制组件，形成能谱图，并利用所述能谱图测定所述低能光子源的光子输出率及活度。