CN117220659B - 触摸按键检测方法、电路及电子设备 - Google Patents
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Abstract
本申请公开了一种触摸按键检测方法、电路及电子设备,所述触摸按键检测方法包括:对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个触摸按键对应的充电校准时间;依次选择按键通道,对对应的触摸按键进行充电,并实时获取实际充电时间,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压;依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。本申请通过控制充电校准时间对全部触摸按键通道进行基准校准,校准后消除不同触摸按键物理上的差异性,保证在没有手指按下时,所有触摸按键通道采集到的基准值基本一致。在此基础上,再去行触摸按键进行检测,从而实现多个触摸按键的正常检测,并且允许各个通道的等效电容存在差异性。
Description
技术领域
本申请涉及触摸检测技术领域,尤其涉及的是一种触摸按键检测方法、电路及电子设备。
背景技术
随着目前工业、家电产品功能的多样化,用户对触摸按键功能的需要也逐渐提升,大部分产品需要提供多个触摸按键,部分产品还需要提供多通道滑条、旋钮按键。根据触摸按键的检测原理,为了实现多通道触摸按键检测,需要保证各个通道没有手指按下时的基准值基本一致,这需要每个触摸通道等效电容的电容值基本一致,也就是硬件设计时各个触摸按键通道的PCB走线长度、宽度,铺铜形状、面积基本保持一致。这要求对于普通按键还可以实现,但是对于滑条、旋钮等触摸按键,硬件上很难保持一致。这样会导致不同的触摸按键在检测时,由于基准不一致,可能出现数据上溢、下溢的情况从而无法实现按键功能,并且除了上述硬件设计上的不便,在产品长期使用过程中,如果触摸按键表面被污渍覆盖,也会影响触摸按键原本的等效电容,从而影响正常检测。
因此,现有技术还有待于改进和发展。
发明内容
鉴于上述现有技术的不足,本申请的目的在于提供一种触摸按键检测方法、电路及电子设备,以解决现有技术中不同的触摸按键由于基准不一致而影响正常检测的问题。
本申请的技术方案如下:
一种触摸按键检测方法,应用于按键检测电路,所述按键检测电路连接若干个触摸按键,包括:
对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个触摸按键对应的充电校准时间;
依次选择按键通道,对对应的触摸按键进行充电,并实时获取实际充电时间,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压;
依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。
本申请的进一步设置,所述对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个触摸按键对应的充电校准时间包括:
依次选择按键通道;
依次对触摸按键的电容充电至预设电压;
依次记录触摸按键的电容充电至预设电压所需的充电校准时间。
本申请的进一步设置,获取各个触摸按键的充电校准时间之后的步骤包括:
依次检测所述充电校准时间是否处于额定区间;
若是,则存储所述充电校准时间;
若否,则重新校准错误的触摸按键。
本申请的进一步设置,所述若否,则重新校准错误的所述按键通道的步骤之后包括:
当校准次数大于或等于额定次数后,停止校准并反馈校准失败信息与失败的按键通道。
本申请的进一步设置,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压的步骤包括:
当充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并将电压放大,记录放大后的当前充电电压。
本申请的进一步设置,所述依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态的步骤包括:
将当前充电电压与基准电压进行比较,并根据比较结果判断所述触摸按键的按键状态。
本申请基于同样的发明构思,还提供了一种触摸按键检测电路,所述触摸按键检测电路与若干个触摸按键连接,包括:控制单元、数据选择器、充电单元、校准单元以及检测单元;
所述数据选择器分别与若干个触摸按键连接,用于选择按键通道;
所述充电单元与所述数据选择器连接,用于对触摸按键的电容进行充电;
所述校准单元分别与所述数据选择器以及所述控制单元连接,用于在所述触摸按键的电容充电至预设电压时,输出第一信号至所述控制单元;所述控制单元接收到所述第一信号时记录充电校准时间;
所述检测单元分别与所述数据选择器以及所述控制单元连接,用于在所述触摸按键的电容充电时间到达充电校准时间时,输出第二信号至所述控制单元,所述控制单元接收到所述第二信号时记录当前充电电压,并依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。
本申请的进一步设置,所述校准单元包括第一开关以及比较器;
所述第一开关的一端与所述数据选择器的输出端连接;
所述比较器的正向输入端与所述第一开关的另一端连接,所述比较器的反向输入端接入预设电压;
所述比较器的输出端与所述控制单元连接。
本申请的进一步设置,所述检测单元包括第二开关、第一电阻、第二电阻以及运算放大器;
所述第二开关的一端与所述数据比较器连接;
所述运算放大器的正向输入端与所述第二开关的另一端连接,所述运算放大器的反向输入端分别与所述第一电阻以及所述第二电阻的一端连接;
所述第一电阻的另一端分别与所述运算放大器的输出端以及所述控制单元连接;
所述第二电阻的另一端接地。
本申请基于同样的发明构思,还提供了一种电子设备,包括设备主体以及设于所述设备主体内的如上所述的触摸按键检测电路。
本申请所提供的一种触摸按键检测方法、电路及电子设备,所述触摸按键检测方法应用于按键检测电路,所述按键检测电路连接若干个触摸按键,包括:对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个触摸按键对应的充电校准时间;依次选择按键通道,对对应的触摸按键进行充电,并实时获取实际充电时间,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压;依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。本申请通过控制充电校准时间对全部触摸按键通道进行基准校准,校准后消除不同触摸按键物理上的差异性,保证在没有手指按下时,所有触摸按键通道采集到的基准值基本一致。在此基础上,再去行触摸按键进行检测,从而实现多个触摸按键的正常检测,并且允许各个通道的等效电容存在差异性。
附图说明
为了更清楚的说明本申请实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例,对于本领域普通人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图示出的结构获得其他的附图。
图1是本申请中触摸按键检测方法的流程示意图。
图2是本申请中步骤S100的具体流程示意图。
图3是本申请中步骤S100与步骤S200之间的具体流程示意图。
图4是本申请中步骤S200之后的具体流程示意图。
图5是本申请中触摸按键检测电路的结构原理图。
图6是本申请中触摸按键检测电路的电路图。
具体实施方式
本申请提供一种触摸按键检测方法、电路及电子设备,为使本申请的目的、技术方案及效果更加清楚、明确,以下参照附图并举实例对本申请进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本申请,并不用于限定本申请。
在实施方式和申请专利范围中,除非文中对于冠词有特别限定,否则“一”、“一个”、“所述”和“该”也可包括复数形式。若本申请实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述,则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的,而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。
应该进一步理解的是,本申请的说明书中使用的措辞“包括”是指存在所述特征、整数、步骤、操作、元件和/或组件,但是并不排除存在或添加一个或多个其他特征、整数、步骤、操作、元件、组件和/或它们的组。应该理解,当我们称元件被“连接”或“耦接”到另一元件时,它可以直接连接或耦接到其他元件,或者也可以存在中间元件。此外,这里使用的“连接”或“耦接”可以包括无线连接或无线耦接。这里使用的措辞“和/或”包括一个或更多个相关联的列出项的全部或任一单元和全部组合。
本技术领域技术人员可以理解,除非另外定义,这里使用的所有术语(包括技术术语和科学术语),具有与本申请所属领域中的普通技术人员的一般理解相同的意义。还应该理解的是,诸如通用字典中定义的那些术语,应该被理解为具有与现有技术的上下文中的意义一致的意义,并且除非像这里一样被特定定义,否则不会用理想化或过于正式的含义来解释。
另外,各个实施例之间的技术方案可以相互结合,但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础,当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在,也不在本申请要求的保护范围之内。
随着市场上消费电子产品的发展,普通机械按键逐渐被触摸按键取代。触摸按健作为一种新兴技术的出现,具有坚固耐用,节省空间,操作方便等优点。电容式触摸按键的原理是当人体接近于触摸按键的时候,人体所产生的电流耦合到静态电容上,使按键的电容值达到最大,TSC(TSC:Touch Sensing Controller,触摸感应控制器)模块把变化的电容值转换为数据信号。随着工业、家电产品功能的变化提高,单个产品对触摸按键数量、功能要求也在增加,在多个触摸按键的情况下,不同的触摸按键会由于基准不一致,从而影响检测按键状态。
为了解决上述技术问题,发明人经过长期研究,提出了本申请实施中的触摸按键检测方法、电路以及电子设备,触摸按键检测方法应用于按键检测电路,所述按键检测电路连接若干个触摸按键,该方法先对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个按键通道对应的充电校准时间;再依次选择按键通道,并对对应的触摸按键进行充电,同时实时获取实际充电时间,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压;最后通过依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。在上述过程中,该方法通过控制充电校准时间对全部触摸按键通道进行基准校准,校准后可以消除不同触摸按键物理上的差异性,保证在没有手指按下时,所有触摸按键通道采集到的基准值基本一致。在此基础上,再去行触摸按键进行检测,从而实现多个触摸按键的正常检测,并且允许各个通道的等效电容存在差异性。
如图1所示,图1示出了本申请实施例提供了触摸按键检测方法的流程示意图,该方法可以应用于触摸按键检测电路,触摸按键检测电路通过引脚连接若干个触摸按键。该触摸按键检测方法可以包括以下步骤:
S100、对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个触摸按键对应的充电校准时间。
每个触摸按键对应一个按键通道,所述按键通道则是触摸按键与触摸按键检测电路的连接线。所述触摸按键为电容式触摸按键,当所述触摸按键对应的按键通道导通后,则会使所述触摸按键的电容进入充电或者放电状态。通过在开机时,将所述触摸按键对应的按键通道导通,以获取触摸按键对应的充电校准时间(即触摸按键的电容对应的充电时间),从而通过充电校准时间实现对触摸按键进行校准。需要说明的是,校准是在没有人体接触触摸按键的情况下使按键通道导通,并且同一时刻只能有一个触摸按键对应的按键通道导通,以避免各个触摸按键校准混乱。
S200、依次选择按键通道,对对应的触摸按键进行充电,并实时获取实际充电时间,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压。
在对各个触摸按键校准后,则开始对各个触摸按键进行检测。首先在所述触摸按键对应的按键通道导通后,通过电流源对所述触摸按键的电容开始进行充电,在开始充电时,同时由内部计时器开始计时,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并通过ADC引脚测量电容的当前充电电压,记录当前充电电压的数据后,则通过将所述触摸按键与地连接进行放电清零,以为后续二次检测提供便利。如此依次对各个所述触摸按键进行检测。在所有触摸按键进行检测后,对各个所述触摸按键的当前充电电压进行记录。。
S300、依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。
由于在人体触摸按键时,人体所产生的电流会耦合到触摸按键的电容上,使触摸按键的电容值发生变化,进而使充电速度产生变化。那么在相同的充电校准时间内,在所述触摸按键接触与不接触时,电容的充电电压则会发生改变,从而通过在实际充电时间达到充电校准时间时测量当前充电电压能够得到当前电压的变化情况,进而通过当前电压的变化情况即可判断触摸按键的按键状态。并且考虑到不同触摸按键的等效电容可能不同,因此,由于步骤S100依次对各个触摸按键进行了校准,从而得到各个触摸按键对应不同的充电校准时间,再根据对应的充电校准时间进行检测,得到各个触摸按键的当前充电电压,从而根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态,以实现不同的触摸按键的状态检测。
本实施例中的触摸按键检测方法通过控制充电校准时间对全部触摸按键通道进行基准校准,校准后消除不同触摸按键物理上的差异性,保证在没有手指按下时,所有触摸按键通道采集到的基准值基本一致。在此基础上,再去行触摸按键进行检测,从而实现多个触摸按键的正常检测,并且允许各个通道的等效电容存在差异性。
如图2所示,在一种实施例中,步骤S100具体包括:
S110、依次选择按键通道。
S120、依次对触摸按键的电容充电至预设电压。
S130、依次记录触摸按键的电容充电至预设电压所需的充电校准时间。
由于各个按键通道的等效电容存在差异性,即PCB走线长度、宽度,铺铜形状、面积都可能影响电容值,因此,在本实施例中,对于各个按键通道校准的这个环节,通过对各个触摸按键设定相同的预设电压,在触摸按键开始充电时,则开始计时,当触摸按键充电至预设电压时,计时停止,从而得到各个触摸按键在相同的预设电压下不同的充电校准时间,以保证各个按键通道没有人体接触时的基准值一致。
如图3所示,在一种实施例中,步骤S100与步骤S200之间包括:
S140、依次检测所述充电校准时间是否处于额定区间。
S150、若是,则存储所述充电校准时间。
S160、若否,则重新校准错误的触摸按键。
当有人体误触或者有杂物飘过触摸按键,那么则可能使触摸按键校准出错,即所述充电校准时间并非是无人体接触时的标准时间,因此,通过先判断所述充电校准时间是否处于额定区间,再将所述充电校准时间存储至随机存取存储器(RAM)或者闪存存储器(FLASH)中,以避免校准出现误差。其中,所述额定区间可以根据实际情况进行设定,具体不做限定。
如图3所示,步骤S160之后还包括:
S161、当校准次数大于或等于额定次数后,停止校准并反馈校准识别信息与失败的按键通道。
若是触摸按键损坏或者充电回路出现意外情况,那么持续校准并没有意义,因此,通过在校准次数大于或等于额定次数后,停止校准并反馈校准识别信息与失败的按键通道,以避免进入校准死循环,同时对电路进行对应的检修。
如图4所示,在一种实施例中,步骤S200包括:
S210、当充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并将电压放大,记录放大后的当前充电电压。
由于人体不接触触摸按键与人体接触触摸按键引起的电容变化量比较小,因此,通过将当前充电电压进行放大,以便于捕获当前充电电压的微小变化,进一步提高检测按键状态的精准度。
如图4所示,在一种实施例中,步骤S300具体包括:
S310、将当前充电电压与基准电压进行比较,并根据比较结果判断所述触摸按键的按键状态。
基准电压是当前充电电压触摸按键未触摸状态下的基准值。当人体接触触摸按键时,使得触摸按键的电容值增大,那么在充电校准时间一定时,当前充电电压变小。因此,通过将当前充电电压与基准电压进行比较,则可以得到触摸按键的按键状态。
如图5所示,本申请还提供了一种触摸按键检测电路,所述触摸检测电路与若干个触摸按键连接,其中,图5中C1-Cn为触摸按键,所述触摸检测电路包括:控制单元100、数据选择器200、充电单元300、校准单元400以及检测单元500;所述数据选择器200分别与若干个触摸按键连接,用于选择按键通道;所述充电单元300与所述数据选择器200连接,用于对触摸按键的电容进行充电;所述校准单元400分别与所述数据选择器200以及所述控制单元100连接,用于在所述触摸按键的电容充电至预设电压时,输出第一信号至所述控制单元100;所述控制单元100接收到所述第一信号时记录充电校准时间;所述检测单元500分别与所述数据选择器200以及所述控制单元100连接,用于在所述触摸按键的电容充电时间到达充电校准时间时,输出第二信号至所述控制单元100,所述控制单元100接收到所述第二信号时记录当前充电电压,并依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。
具体地,所述数据选择器200为多选一开关,所述数据选择器200分别与若干个所述触摸按键以及所述控制单元100连接,由所述控制单元100发出信号选择与其中一个所述触摸按键连接,以使所述触摸按键对应的按键通道导通。
在本实施例中,包括校准和检测两个阶段。其中校准阶段是指在触摸按键未被接触时进行的操作。当所述触摸按键检测电路上电时,首先进入校准阶段,由所述控制单元100选择其中一个按键通道导通,并控制所述充电单元300对所述触摸按键进行充电,同时输出充电电压至所述校准单元400。在充电时,所述控制单元100开始计时,所述校准单元400检测所述触摸按键的电容是否充电至预设电压,当充电至预设电压时,则输出第一信号至所述控制单元100,所述控制单元100则停止计时,记录此时为充电校准时间。以此往复,直至所有的触摸按键都校准完毕后,进行检测阶段,同样由所述控制单元100选择其中一个按键通道导通,并控制充电单元300对所述触摸按键进行充电并输出充电电压值所述检测单元500;所述检测单元500实时检测充电电压。在充电时,所述控制单元100开始计时,当所述控制单元100持续计时直至所述充电校准时间时,则控制所述充电单元300停止充电,所述检测单元500将当前充电电压输出至所述控制单元100,所述控制单元100通过当前充电电压从而判断当前触摸按键的按键状态,从而实现多个触摸按键的正常检测,并且允许各个通道的等效电容存在差异性。
在一种实施例中,如图6所示,其中,图6中C1-Cn为触摸按键,S0-Sn是所述控制单元控制所述数据选择器200导通的控制端。所述校准单元400包括第一开关K1以及比较器U1;所述第一开关K1的一端与所述数据选择器200的输出端连接;所述比较器U1的正向输入端与所述第一开关K1的另一端连接,所述比较器U1的反向输入端通过电压端P3接入预设电压;所述比较器U1的输出端P1与所述控制单元100连接。
所述检测单元500包括第二开关K2、第一电阻R1、第二电阻R2以及运算放大器U2;所述第二开关K2的一端与所述数据比较器U1连接;所述运算放大器U2的正向输入端与所述第二开关K2的另一端连接,所述运算放大器U2的反向输入端分别与所述第一电阻R1以及所述第二电阻R2的一端连接;所述第一电阻R1的另一端分别与所述运算放大器U2的输出端P2以及所述控制单元100连接;所述第二电阻R2的另一端接地。其中,由所述第一电阻R1以及所述第二电阻R2的阻值控制所述运算放大器U2的放大倍数。
所述充电单元300包括电流源V0以及第三开关K3;所述第三开关K3的一端分别与所述数据选择器200、所述校准单元400以及所述检测单元500连接,所述第三开关K3的另一端与所述电流源V0的一端连接,所述电流源V0的另一端接入电源电压VCC。
所述按键检测电路还包括放电单元;所述放电单元分别与所述数据选择器200连接,用于对触摸按键的电容进行放电。其中,所述放电单元为第四开关K4,所述第四开关K4的一端分别与所述数据选择器200、所述充电单元300、所述校准单元400以及所述检测单元500连接,所述第四开关K4的另一端接地。
具体地,如图6所示,在所述按键检测电路上电后,进入校准阶段,所述控制单元100控制所述数据选择器200选择按键通道,同时控制所述第三开关K3以及所述第一开关K1闭合,使通过所述电流源V0对所述触摸按键的电容进行充电,同时所述比较器U1实时比较电压,当充电电压大于所述控制单元100提供的预设电压后,输出第一信号至所述控制单元100,所述控制单元100则记录充电校准时间,并关断所述第三开关K3,同时导通所述第四开关K4,使所述触摸按键的电容停止充电,开始放电。以此往复,直至所有的触摸按键接校准完毕后,所述控制单元100保存所有的充电校准时间至寄存器,并进入检测阶段。
在检测阶段中,所述控制单元100控制所述数据选择器200选择按键通道,同时控制所述第三开关K3闭合,使通过所述电流源V0对所述触摸按键的电容进行充电,同时所述控制单元100开始计时,当实际充电时间达到充电校准时间后,关闭所述第三开关K3,同时控制所述第二开关K2闭合,所述运算放大器U2对充电电压进行放大,输出当前充电电压至所述控制单元100,所述控制单元100通过模数检测采集当前充电电压。当数据采集完成后,所述控制单元100控制所述第四开关K4导通,使所述触摸按键的电容开始放电。同时所述控制单元100根据当前充电电压判断触摸按键的按键状态。以此往复,轮流对各个触摸按键进行检测,以解决不同的触摸按键由于基准不一致而影响正常检测的问题。
本申请实施例还提供一种电子设备,所述电子设备包括设备主题以及上述的触摸按键检测电路,其中触摸按键检测电路设于设备主体内。
在本实施例中,电子设备可以是但不限于厨房家电或者风扇、吹风机、吸尘器等带电机调速产品。
例如,对于厨房家电,可以提供多路触摸按键给用户,通过将触摸按键检测电路与各个触摸按键连接,可以实现单路触摸按键控制功能:长按开关机、单击加大档位以及双击减少档位。
对于带电机调速产品,用户可以通过在电路板上滑条或者旋钮按键的区域,并将其与触摸按键检测电路连接,以通过滑动滑条或者旋钮按键实现无极控制电机转速。
综上所述,本申请所提供的一种触摸按键检测方法、电路及电子设备,所述触摸按键检测方法应用于按键检测电路,所述按键检测电路连接若干个触摸按键,包括:对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个触摸按键对应的充电校准时间;依次选择按键通道,对对应的触摸按键进行充电,并实时获取实际充电时间,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压;依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。本申请通过控制充电校准时间对全部触摸按键通道进行基准校准,校准后消除不同触摸按键物理上的差异性,保证在没有手指按下时,所有触摸按键通道采集到的基准值基本一致。在此基础上,再去行触摸按键进行检测,从而实现多个触摸按键的正常检测,并且允许各个通道的等效电容存在差异性。
应当理解的是,本申请的应用不限于上述的举例,对本领域普通技术人员来说,可以根据上述说明加以改进或变换,所有这些改进和变换都应属于本申请所附权利要求的保护范围。
Claims (8)
1.一种触摸按键检测方法,应用于按键检测电路,所述按键检测电路连接若干个触摸按键,其特征在于,包括:
对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个触摸按键对应的充电校准时间;
依次选择按键通道,对对应的触摸按键进行充电,并实时获取实际充电时间,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压;
依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态;
所述对所有触摸按键对应的按键通道依次校准,获取各个触摸按键对应的充电校准时间包括:
依次选择按键通道;
依次对触摸按键的电容充电至预设电压;
依次记录触摸按键的电容充电至预设电压所需的充电校准时间;
获取各个触摸按键的充电校准时间之后的步骤包括:
依次检测所述充电校准时间是否处于额定区间;
若是,则存储所述充电校准时间;
若否,则重新校准错误的触摸按键。
2.根据权利要求1所述的触摸按键检测方法,其特征在于,所述若否,则重新校准错误的所述按键通道的步骤之后包括:
当校准次数大于或等于额定次数后,停止校准并反馈校准失败信息与失败的按键通道。
3.根据权利要求1所述的触摸按键检测方法,其特征在于,当实际充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并记录当前充电电压的步骤包括:
当充电时间达到充电校准时间后,停止充电,并将电压放大,记录放大后的当前充电电压。
4.根据权利要求1所述的触摸按键检测方法,其特征在于,所述依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态的步骤包括:
将当前充电电压与基准电压进行比较,并根据比较结果判断所述触摸按键的按键状态。
5.一种触摸按键检测电路,与若干个触摸按键连接,其特征在于,包括:控制单元、数据选择器、充电单元、校准单元以及检测单元;
所述数据选择器分别与若干个触摸按键连接,用于选择按键通道;
所述充电单元与所述数据选择器连接,用于对触摸按键的电容进行充电;
所述校准单元分别与所述数据选择器以及所述控制单元连接,用于在所述触摸按键的电容充电至预设电压时,输出第一信号至所述控制单元;所述控制单元接收到所述第一信号时记录充电校准时间;
所述检测单元分别与所述数据选择器以及所述控制单元连接,用于在所述触摸按键的电容充电时间到达充电校准时间时,输出第二信号至所述控制单元,所述控制单元接收到所述第二信号时记录当前充电电压,并依次根据当前充电电压判断各个所述触摸按键的按键状态。
6.根据权利要求5所述的触摸按键检测电路,其特征在于,所述校准单元包括第一开关以及比较器;
所述第一开关的一端与所述数据选择器的输出端连接;
所述比较器的正向输入端与所述第一开关的另一端连接,所述比较器的反向输入端接入预设电压;
所述比较器的输出端与所述控制单元连接。
7.根据权利要求6所述的触摸按键检测电路,其特征在于,所述检测单元包括第二开关、第一电阻、第二电阻以及运算放大器;
所述第二开关的一端与所述数据选择器连接;
所述运算放大器的正向输入端与所述第二开关的另一端连接,所述运算放大器的反向输入端分别与所述第一电阻以及所述第二电阻的一端连接;
所述第一电阻的另一端分别与所述运算放大器的输出端以及所述控制单元连接;
所述第二电阻的另一端接地。
8.一种电子设备,其特征在于,包括设备主体以及设于所述设备主体内的如权利要求5-7任一项所述的触摸按键检测电路。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101751179A (zh) * | 2009-12-16 | 2010-06-23 | 深圳市汇顶科技有限公司 | 一种触摸检测灵敏度的自动校准方法、系统及触控终端 |
CN103633984A (zh) * | 2013-12-13 | 2014-03-12 | 深圳芯邦科技股份有限公司 | 一种触摸按键芯片及其灵敏度校准方法及电子设备 |
JP2016143275A (ja) * | 2015-02-03 | 2016-08-08 | 株式会社デンソーウェーブ | タッチパネル装置 |
US9740332B1 (en) * | 2016-10-06 | 2017-08-22 | Feeling Technology Corp. | Charging calibration system and method thereof |
CN116418329A (zh) * | 2021-12-30 | 2023-07-11 | 国民技术股份有限公司 | 触摸电容检测电路及校准、检测方法 |
Family Cites Families (4)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US8952910B2 (en) * | 2011-09-01 | 2015-02-10 | Marvell World Trade Ltd. | Touchscreen system |
US8896327B2 (en) * | 2012-04-12 | 2014-11-25 | Atmel Corporation | Current mirror self-capacitance measurement |
EP3543716B1 (en) * | 2018-01-24 | 2021-03-03 | Shenzhen Goodix Technology Co., Ltd. | Capacitance detection circuit, touch apparatus, and terminal device |
WO2021017003A1 (zh) * | 2019-08-01 | 2021-02-04 | 深圳市汇顶科技股份有限公司 | 电容检测电路、触摸检测装置和电子设备 |
-
2023
- 2023-09-06 CN CN202311148444.5A patent/CN117220659B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN101751179A (zh) * | 2009-12-16 | 2010-06-23 | 深圳市汇顶科技有限公司 | 一种触摸检测灵敏度的自动校准方法、系统及触控终端 |
CN103633984A (zh) * | 2013-12-13 | 2014-03-12 | 深圳芯邦科技股份有限公司 | 一种触摸按键芯片及其灵敏度校准方法及电子设备 |
JP2016143275A (ja) * | 2015-02-03 | 2016-08-08 | 株式会社デンソーウェーブ | タッチパネル装置 |
US9740332B1 (en) * | 2016-10-06 | 2017-08-22 | Feeling Technology Corp. | Charging calibration system and method thereof |
CN116418329A (zh) * | 2021-12-30 | 2023-07-11 | 国民技术股份有限公司 | 触摸电容检测电路及校准、检测方法 |
Non-Patent Citations (2)
Title |
---|
Proximity and Contact Sensor for Human Cooperative Robot by Combining Time-of-Flight and Self-Capacitance Sensors;Satoshi Tsuji等;IEEE Sensors Journal;20200127;第20卷(第10期);5519-5526 * |
基于PIC单片机的重量稀释控制系统设计;胡美珠等;电子技术与软件工程;20200315;83-84 * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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