CN113644905A - 一种电容式触摸按键检测系统 - Google Patents
一种电容式触摸按键检测系统 Download PDFInfo
- Publication number
- CN113644905A CN113644905A CN202110918541.2A CN202110918541A CN113644905A CN 113644905 A CN113644905 A CN 113644905A CN 202110918541 A CN202110918541 A CN 202110918541A CN 113644905 A CN113644905 A CN 113644905A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- charging
- discharging
- touch key
- touch
- circuit
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000001514 detection method Methods 0.000 title claims abstract description 81
- 238000007599 discharging Methods 0.000 claims abstract description 79
- 230000008859 change Effects 0.000 claims abstract description 25
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims abstract description 5
- 230000009471 action Effects 0.000 claims description 18
- 230000000630 rising effect Effects 0.000 claims description 3
- FCLYQYOJLQDQNA-BNWDXEGFSA-N 4-Deacetylneosolaniol Chemical compound C([C@@]12[C@]3(C)[C@H](O)[C@@H](O)[C@H]1O[C@@H]1C=C(C)[C@@H](O)C[C@@]13COC(=O)C)O2 FCLYQYOJLQDQNA-BNWDXEGFSA-N 0.000 claims 1
- 239000000463 material Substances 0.000 abstract description 4
- 238000013461 design Methods 0.000 abstract description 3
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 18
- 238000000034 method Methods 0.000 description 15
- 230000008569 process Effects 0.000 description 7
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 230000006698 induction Effects 0.000 description 2
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 2
- 238000005070 sampling Methods 0.000 description 2
- 238000005299 abrasion Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000033228 biological regulation Effects 0.000 description 1
- 230000003111 delayed effect Effects 0.000 description 1
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000012544 monitoring process Methods 0.000 description 1
- 230000003071 parasitic effect Effects 0.000 description 1
- 230000001960 triggered effect Effects 0.000 description 1
- XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N water Substances O XLYOFNOQVPJJNP-UHFFFAOYSA-N 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K17/00—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking
- H03K17/94—Electronic switching or gating, i.e. not by contact-making and –breaking characterised by the way in which the control signals are generated
- H03K17/96—Touch switches
- H03K17/962—Capacitive touch switches
-
- H—ELECTRICITY
- H03—ELECTRONIC CIRCUITRY
- H03K—PULSE TECHNIQUE
- H03K2217/00—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00
- H03K2217/94—Indexing scheme related to electronic switching or gating, i.e. not by contact-making or -breaking covered by H03K17/00 characterised by the way in which the control signal is generated
- H03K2217/96—Touch switches
- H03K2217/9607—Capacitive touch switches
- H03K2217/96071—Capacitive touch switches characterised by the detection principle
- H03K2217/960715—Rc-timing; e.g. measurement of variation of charge time or discharge time of the sensor
Landscapes
- Electronic Switches (AREA)
Abstract
一种电容式触摸按键检测系统，涉及触摸按键技术领域，包括所述检测系统包括触摸按键组以及整体检测电路，当所述触摸按键组的外部电容变化，所述整体检测电路对所述触摸按键组不断进行充放电，通过对多次充放电时间的计数以及记录以进行电容变化的检测以及输出触发信号，所述整体检测电路还可调整对所述触摸按键组进行充放电的次数以实现单次充放电时的时间差的累积，本发明原理上使用对电容充放电的方式实现，因此不需采样电容用于转移电荷，无需外置电容等额外物料，结构设计合理，操作简单，且操作时时间容易把控，可快可慢，而且对于小电容变化也可以很明显检测到，适应性强。
Description
技术领域
本发明涉及触摸按键技术领域，具体涉及到一种电容式触摸按键检测系统及其控制方法。
背景技术
传统的机械按键存在机械结构磨损、外形不美观、无法防水等缺陷，电容式触摸按键在使用寿命、外形美观等方面都具有明显优势。现在主流的触摸按键系统多使用电荷转移以及对电容直接充放电方式实现。其原理均是利用发生触摸动作时，检查外部的触摸感应电容变化来判断是否发生触摸动作。电荷转移方式需要搭配一采样电容，该电容容值较大难以集成，置于芯片外又会增加物料成本；对电容直接充放电方式抗干扰能力较差，而且无法对微小电容变化进行有效分辨，而且一般需要为外部触摸按键连接限流电阻，增加物料成本。
现有申请号为201811260995.X的中国专利公开了一种触摸按键控制系统及其控制方法，该专利实现检测是否发生触摸动作的实质为通过寄生电容的容值变化检测时钟检测电路的频率，逻辑控制模块实现检测设定时间内生成的时钟频率变化来判断触摸按键是否满足触发条件；又如申请号为201910844153.7的中国专利公开了一种触摸按键接口电路及其按键监控系统，该发明整体操作复杂，其检测电路实际上是同一种检测电路进行了复制，通过控制模块改变比较电容阵列的电容值，利用逐次逼近方法测得目标触摸按键的电容值，其方案基本不可能集成于单芯片中；又如申请号为202010938378.1的中国专利公开了一种电容式触摸按键系统及其控制方法，该专利使用前述的电荷转移方式；以及申请号为201010235737.3的中国专利公开了一种电容式触摸按键判键方法，该专利利用开关电容进行电荷转移，直到C1电压充电电压高于预设的VREF，计时器计时整个充电时长，如果外部电容发生变化会影响充电时间，利用该时间差距来判断是否发生触摸。
上述现有技术的电容触摸按键检测系统综述来说具有操作复杂、需要设置额外物料的问题，另外，现有技术中对电容进行充放电方式还存在对于外部感应电容变化微小导致难以进行有效分辨的问题，因此，存在待改进之处。
发明内容
针对现有技术所存在的不足，本发明目的在于提出一种电容式触摸按键检测系统，具体方案如下：
一种电容式触摸按键检测系统，所述检测系统包括触摸按键组以及整体检测电路，当所述触摸按键组的外部电容变化，所述整体检测电路对所述触摸按键组不断进行充放电，通过对多次充放电时间的计数以及记录以进行电容变化的检测以及输出触发信号，所述整体检测电路还可调整对所述触摸按键组进行充放电的次数以实现单次充放电时的时间差的累积。
进一步的，所述触摸按键组形成有多路触摸通道，可接入到所述整体检测电路中；
所述整体检测电路包括依次连接的模拟多路选择器、充放电电路、迟滞比较器以及数字控制模块；
所述模拟多路选择器与所述触摸按键组连接，并在接收到所述数字控制模块的控制信号之后从所述触摸按键组中选择一路触摸通道接入至所述整体检测电路中进行电容检测；
所述充放电电路与所述模拟多路选择器选择的所述触摸通道连接，所述充放电电路在接收到所述数字控制模块的控制信号后对所述触摸通道循环进行充放电；
所述迟滞比较器包括偏置电路以及比较器本体，所述偏置电路设置所述比较器本体的上限阈值、下限阈值分别为VH、VL，所述比较器本体的电压输入端与所述充放电电路连接；
所述数字控制模块接受来自所述迟滞比较器的输出信号以控制所述模拟多路选择器、充放电电路，包括计数器TMR0、计数器TMR1以及控制电路，所述计数器TMR0根据内部时钟计数，所述计数器TMR1根据所述迟滞比较器输出的下降沿计数。
进一步的，通过调节所述计数器TMR1的溢出值以实现充放电次数的调节。
进一步的，所述充放电电路包括依次连接的恒流源ICCS、充电开关sw1、放电电阻R以及放电开关sw2，所述充电开关sw1、放电开关sw2均与所述控制电路连接，所述充放电电路通过恒流源ICCS进行充电，通过放电电阻R进行放电。
进一步的，所述模拟多路选择器与所述数字控制模块之间设置有控制开关sw3。
进一步的，所述检测系统的工作过程如下：
步骤1：控制电路选择需要检测的触摸通道，将其接入整体检测电路，
步骤2：控制电路默认断开充电通路，使能放电通路，此操作为默认操作，放掉触摸按键组的电荷，
步骤3：控制电路发出使能检测的脉冲信号，计数器TMR0开始计时，同时充电开关sw1闭合，放电开关sw2断开，充电通路使能，放电通路关闭，恒流源ICCS对触摸按键组进行充电，此时比较器本体输出为逻辑0，
步骤4：等待充电通路将触摸按键组充电到迟滞比较器的上限阈值VH，比较器本体输出翻转为逻辑1，数字控制模块检测到此上升沿，将充电开关sw1断开，放电开关sw2闭合，放电通路使能，对触摸按键组进行放电，
步骤5：等待放电通路对触摸按键组放电到迟滞比较器的下限阈值VL，比较器本体输出翻转为逻辑0，数字控制模块检测到此下降沿，将充电开关sw1闭合，放电开关sw2断开，充电通路使能，再次对触摸按键组进行充电，且计数器TMR1检测到下降沿时，计数加1，
步骤6：不断重复步骤4和步骤5，直到计数器TMR1计数值达到设置的溢出值，计数器TMR1的溢出信号立即让计数器TMR0的计数停止计时，数字控制模块检测到该溢出信号后关闭触摸检测功能以及读取、保存计数器TMR0的计数值，结束该通道的触摸检测，
步骤7：控制电路继续选择下一触摸通道，重复步骤1-6，直到所有的触摸通道均已检测完成，
步骤8：控制电路根据检测结果输出对应的触发信号。
进一步的，所述检测结果为所述控制电路根据所述计数器TMR0的计数值的变化，判断触摸动作是否成立。
与现有技术相比，本发明的有益效果如下：
(1)本发明利用对电容充放电的方式来确认触摸按键组外部电容的变化量，根据电容式触摸按键的工作方式，一旦触摸按键组外部发生电容变化，其充放电时间则会发生变化，因此，本检测系统通过对充放电时间的计数以及记录来得知单次充放电时间的长度，从而表征电容变化的大小，因此，便可实现检测外部触摸动作是否成立。考虑到即使外部电容变化，触摸按键组单次充放电时间实在太短，难以进行有效分辨，本检测系统还可以调节充放电的次数，也就是调节一次触摸检测过程中的充放电循环次数，将单次充放电的时间差进行累加处理，经过多次累积达到合适值，即使原本外部电容变化微小，也可累积到合适的时间宽度，便于检测系统进行逻辑分析判断，提高检测系统对微小电容变化的分辨能力。
综上，本发明原理上使用对电容充放电的方式实现，因此不需采样电容用于转移电荷，无需外置电容等额外物料，结构设计合理，操作简单，且操作时时间容易把控，可快可慢，而且对于小电容变化也可以很明显检测到，适应性强。
(2)详述来说，触摸通道被选中之后，本发明利用恒流源ICCS对其充电，当其充电到迟滞比较器的上限阈值VH时，比较器本体输出为逻辑1，控制电路检测到比较器本体输出的变化，断开充电通路，使能放电通路，待到触摸按键组的外部电容放电到迟滞比较器的下限阈值VL时，比较器本体输出为逻辑0，控制电路检测到比较器本体输出的变化，再次使能充电通路，断开放电通路。不断重复上述充放电过程，直到计数器TMR1溢出。在整个充放电时期计数器TMR0一直以内部时钟频率计数，直到计数器TMR1溢出将其计数停止，此时多次充放电的时间则被计数器TMR0记录下来，数字控制模块根据检查计数器TMR0计数值的变化，最终实现判断触摸动作是否成立。
(2)通过调节计数器TMR1的溢出值，以实现充放电次数的调节，进而使得单次充放电时间进行累加处理，最终改变计数器TMR0的计数值，便于控制电路去判断触摸动作是否成立，设计合理，提高检测的精准性。
(3)本发明使用恒流源对外部电容充电，内置放电通路，因此外部触摸按键组可以直接相连而不需要添加额外的限流电阻。
附图说明
图1为本发明的实施例的整体的流程示意图；
图2为本发明中应用流程的整体流程示意图。
附图标记：100、整体检测电路；101、触摸按键组；102、模拟多路选择器；103、充放电电路；104、迟滞比较器；105、数字控制模块。
具体实施方式
下面结合实施例及附图对本发明作进一步的详细说明，但本发明的实施方式不仅限于此。
如图1所示，本发明用于对电容式触摸按键进行触摸动作的成立进行检测，电容式触摸按键的工作方式为电容式触摸按键接入电路时本身相当于接入一个小容值电容，当人手指触摸该按键时，相当于在其原本的小电容上再并联一个小容值电容，一旦触摸动作发生，电容将会变大，充放电时间将会被增大，依靠识别其容值变化来判断是否触发触摸动作，基于此，本发明提出一种电容式触摸按键检测系统。
一种电容式触摸按键检测系统，检测系统包括触摸按键组101以及整体检测电路100，当触摸按键组101的外部电容变化，整体检测电路100对触摸按键组101不断进行充放电，通过对多次充放电时间的计数以及记录以进行电容变化的检测以及输出触发信号，基于此可知，本发明是利用对电容充放电的方式来确认触摸按键组101外部电容的变化量，根据电容式触摸按键的工作方式，一旦触摸按键组101外部发生电容变化，其充放电时间则会发生变化，因此，本检测系统通过对充放电时间的计数以及记录来得知单次充放电时间的长度，从而表征电容变化的大小，因此，便可实现检测外部触摸动作是否成立，当检测出外部触摸动作成立时，对外发出触发信号，当检测出外部触摸动作不成立时，检测系统继续对触摸按键组101进行检测。
详述来说，触摸按键组101包括TK1、TK2…TKn，触摸按键组101形成有多路触摸通道，如图所示，多路触摸通道分别为CH1、CH2…CHn，TK1、TK2…TKn与CH1、CH2…CHn分别对应连接，可接入到整体检测电路100中，每一路触摸通道可通过整体检测电路100依次进行触摸动作的检测。
整体检测电路100包括依次连接的模拟多路选择器102、充放电电路103、迟滞比较器104以及数字控制模块105，整体检测电路100通过该多个装置的配合完成对不同的触摸通道进行触摸动作的检测。
模拟多路选择器102与触摸按键组101连接，并在接收到数字控制模块105的控制信号之后从触摸按键组101中选择一路触摸通道接入至整体检测电路100中进行电容检测。充放电电路103与模拟多路选择器102选择的触摸通道连接，充放电电路103在接收到数字控制模块105的控制信号后对触摸通道循环进行充放电。迟滞比较器104包括偏置电路以及比较器本体，偏置电路设置比较器本体的上限阈值、下限阈值分别为VH、VL，比较器本体的电压输入端与充放电电路103连接，在充放电过程中，根据与VH、VL的比较，比较器本体输出的信号不同。
数字控制模块105接受来自迟滞比较器104的输出信号以控制模拟多路选择器102、充放电电路103，包括计数器TMR0、计数器TMR1以及控制电路，如图所示，计数器TMR1、控制电路均与比较器本体的电压输出端连接，计数器TMR1与计数器TMR0连接，且计数器TMR0、计数器TMR1还均与控制电路连接。计数器TMR0根据内部时钟计数，计数器TMR1根据迟滞比较器104输出的下降沿计数。
本发明中，充放电电路103包括依次连接的恒流源ICCS、充电开关sw1、放电电阻R以及放电开关sw2，充电开关sw1、放电开关sw2均与控制电路连接，充放电电路103通过恒流源ICCS进行充电，通过放电电阻R进行放电。模拟多路选择器102与数字控制模块105之间设置有控制开关sw3。
根据上述对检测系统的阐述，检测系统的工作过程如下：
步骤1：控制电路选择需要检测的触摸通道，将其接入整体检测电路100，
步骤2：控制电路默认断开充电通路，使能放电通路，此操作为默认操作，放掉触摸按键组101的电荷，避免测量误差，
步骤3：控制电路发出使能检测的脉冲信号，计数器TMR0开始计时，同时充电开关sw1闭合，放电开关sw2断开，充电通路使能，放电通路关闭，恒流源ICCS对触摸按键组101进行充电，此时比较器本体输出为逻辑0，
步骤4：等待充电通路将触摸按键组101充电到迟滞比较器104的上限阈值VH，比较器本体输出翻转为逻辑1，数字控制模块105检测到此上升沿，将充电开关sw1断开，放电开关sw2闭合，放电通路使能，对触摸按键组101进行放电，
步骤5：等待放电通路对触摸按键组101放电到迟滞比较器104的下限阈值VL，比较器本体输出翻转为逻辑0，数字控制模块105检测到此下降沿，将充电开关sw1闭合，放电开关sw2断开，充电通路使能，再次对触摸按键组101进行充电，且计数器TMR1检测到下降沿时，计数加1，
步骤6：不断重复步骤4和步骤5，直到计数器TMR1计数值达到设置的溢出值，计数器TMR1的溢出信号立即让计数器TMR0的计数停止计时，数字控制模块105检测到该溢出信号后关闭触摸检测功能以及读取、保存计数器TMR0的计数值，结束该通道的触摸检测，
步骤7：控制电路继续选择下一触摸通道，重复步骤1-6，直到所有的触摸通道均已检测完成，
步骤8：控制电路根据检测结果输出对应的触发信号。
检测结果为控制电路根据计数器TMR0的计数值的变化，判断触摸动作是否成立。
上述工作过程换而言之为：触摸通道被选中之后，本发明利用恒流源ICCS对其充电，当其充电到迟滞比较器104的上限阈值VH时，比较器本体输出为逻辑1，控制电路检测到比较器本体输出的变化，断开充电通路，使能放电通路，待到触摸按键组101的外部电容放电到迟滞比较器104的下限阈值VL时，比较器本体输出为逻辑0，控制电路检测到比较器本体输出的变化，再次使能充电通路，断开放电通路。不断重复上述充放电过程，直到计数器TMR1溢出。在整个充放电时期计数器TMR0一直以内部时钟频率计数，直到计数器TMR1溢出将其计数停止，此时，一路触摸通道的触摸动作检测完成，且多次充放电的时间则被计数器TMR0记录下来，数字控制模块105根据检查计数器TMR0计数值的变化，最终实现判断触摸动作是否成立。
由于某些情况下电容变化微小，即使外部电容变化，触摸按键组101单次充放电时间实在太短，难以进行有效分辨，整体检测电路100还可调整对触摸按键组101进行充放电的次数以实现单次充放电时的时间差的累积，本发明中，通过调节计数器TMR1的溢出值以实现充放电次数的调节，进而累积单次充放电时间差，最终改变计数器TMR0的计数值，便于控制电路去判断触摸动作是否成立。
作为本发明的应用补充，本实施例中还提供了本发明电路的一种应用实例，提供一种对检测的数据进行处理的方式，并不代表本发明仅适用于下述应用流程。
S1：初始化流程，触摸检测的相关设置，包括TMR1的溢出值，检测的通道数等，
S2：使能一次触摸检测，
S3：判断是否为初次检测，本发明需要检测无触摸时的基准数据，
S4：如果是初次检测，将该次检测到的数据作为该通道的无触摸基准数据，
S5：如果不是初次检测，则判断是否触发触摸，判断方式是：如果该通道检测数据减去基准数据大于某预设值，则判断为有触摸发生，反正认为没有触摸，
S6：如果判断是有触摸触发，则执行预设的处理流程，
S7：判断到没有触摸发生，则利用此次生成的数据生成新的基准值，方法是利用滑动平均算法，在判断没有触摸时，将数据进行滑动平均，
S8：触摸检测完成后，执行完所有的操作，延时固定时间再次使用触摸检测。
以上所述仅是本发明的优选实施方式，本发明的保护范围并不仅局限于上述实施例，凡属于本发明思路下的技术方案均属于本发明的保护范围。应当指出，对于本技术领域的普通技术人员来说，在不脱离本发明原理前提下的若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (7)
1.一种电容式触摸按键检测系统，其特征在于，所述检测系统包括触摸按键组(101)以及整体检测电路(100)，当所述触摸按键组(101)的外部电容变化，所述整体检测电路(100)对所述触摸按键组(101)不断进行充放电，通过对多次充放电时间的计数以及记录以进行电容变化的检测以及输出触发信号，所述整体检测电路(100)还可调整对所述触摸按键组(101)进行充放电的次数以实现单次充放电时的时间差的累积。。
2.根据权利要求1所述的电容式触摸按键检测系统，其特征在于，所述触摸按键组(101)形成有多路触摸通道，可接入到所述整体检测电路(100)中；
所述整体检测电路(100)包括依次连接的模拟多路选择器(102)、充放电电路(103)、迟滞比较器(104)以及数字控制模块(105)；
所述模拟多路选择器(102)与所述触摸按键组(101)连接，并在接收到所述数字控制模块(105)的控制信号之后从所述触摸按键组(101)中选择一路触摸通道接入至所述整体检测电路(100)中进行电容检测；
所述充放电电路(103)与所述模拟多路选择器(102)选择的所述触摸通道连接，所述充放电电路(103)在接收到所述数字控制模块(105)的控制信号后对所述触摸通道循环进行充放电；
所述迟滞比较器(104)包括偏置电路以及比较器本体，所述偏置电路设置所述比较器本体的上限阈值、下限阈值分别为VH、VL，所述比较器本体的电压输入端与所述充放电电路(103)连接；
所述数字控制模块(105)接受来自所述迟滞比较器(104)的输出信号以控制所述模拟多路选择器(102)、充放电电路(103)，包括计数器TMR0、计数器TMR1以及控制电路，所述计数器TMR0根据内部时钟计数，所述计数器TMR1根据所述迟滞比较器(104)输出的下降沿计数。
3.根据权利要求2所述的电容式触摸按键检测系统，其特征在于，通过调节所述计数器TMR1的溢出值以实现充放电次数的调节。
4.根据权利要求3所述的电容式触摸按键检测系统，其特征在于，所述充放电电路(103)包括依次连接的恒流源ICCS、充电开关sw1、放电电阻R以及放电开关sw2，所述充电开关sw1、放电开关sw2均与所述控制电路连接，所述充放电电路(103)通过恒流源ICCS进行充电，通过放电电阻R进行放电。
5.根据权利要求4所述的电容式触摸按键检测系统，其特征在于，所述模拟多路选择器(102)与所述数字控制模块(105)之间设置有控制开关sw3。
6.根据权利要求5所述的电容式触摸按键检测系统，其特征在于，所述检测系统的工作过程如下：
步骤1：控制电路选择需要检测的触摸通道，将其接入整体检测电路(100)，
步骤2：控制电路默认断开充电通路，使能放电通路，此操作为默认操作，放掉触摸按键组(101)的电荷，
步骤3：控制电路发出使能检测的脉冲信号，计数器TMR0开始计时，同时充电开关sw1闭合，放电开关sw2断开，充电通路使能，放电通路关闭，恒流源ICCS对触摸按键组(101)进行充电，此时比较器本体输出为逻辑0，
步骤4：等待充电通路将触摸按键组(101)充电到迟滞比较器(104)的上限阈值VH，比较器本体输出翻转为逻辑1，数字控制模块(105)检测到此上升沿，将充电开关sw1断开，放电开关sw2闭合，放电通路使能，对触摸按键组(101)进行放电，
步骤5：等待放电通路对触摸按键组(101)放电到迟滞比较器(104)的下限阈值VL，比较器本体输出翻转为逻辑0，数字控制模块(105)检测到此下降沿，将充电开关sw1闭合，放电开关sw2断开，充电通路使能，再次对触摸按键组(101)进行充电，且计数器TMR1检测到下降沿时，计数加1，
步骤6：不断重复步骤4和步骤5，直到计数器TMR1计数值达到设置的溢出值，计数器TMR1的溢出信号立即让计数器TMR0的计数停止计时，数字控制模块(105)检测到该溢出信号后关闭触摸检测功能以及读取、保存计数器TMR0的计数值，结束该通道的触摸检测，
步骤7：控制电路继续选择下一触摸通道，重复步骤1-6，直到所有的触摸通道均已检测完成，
步骤8：控制电路根据检测结果输出对应的触发信号。
7.根据权利要求6所述的电容式触摸按键检测系统，其特征在于，所述检测结果为所述控制电路根据所述计数器TMR0的计数值的变化，判断触摸动作是否成立。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110918541.2A CN113644905B (zh) | 2021-08-11 | 2021-08-11 | 一种电容式触摸按键检测系统 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202110918541.2A CN113644905B (zh) | 2021-08-11 | 2021-08-11 | 一种电容式触摸按键检测系统 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN113644905A true CN113644905A (zh) | 2021-11-12 |
| CN113644905B CN113644905B (zh) | 2024-01-05 |
Family
ID=78420781
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202110918541.2A Active CN113644905B (zh) | 2021-08-11 | 2021-08-11 | 一种电容式触摸按键检测系统 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN113644905B (zh) |
Cited By (1)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114691439A (zh) * | 2022-05-31 | 2022-07-01 | 上海泰矽微电子有限公司 | 一种可扩展通道的电容触摸检测芯片电路及检测方法 |
Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20100102832A1 (en) * | 2008-10-27 | 2010-04-29 | Microchip Technology Incorporated | Automated Capacitive Touch Scan |
| CN104935320A (zh) * | 2014-03-20 | 2015-09-23 | 安凯(广州)微电子技术有限公司 | 一种电容式触摸按键状态的检测方法 |
| CN109245753A (zh) * | 2018-11-13 | 2019-01-18 | 珠海巨晟科技股份有限公司 | 电容式触摸按键的判键系统 |
| CN111198626A (zh) * | 2018-11-16 | 2020-05-26 | 珠海格力电器股份有限公司 | 电容式触摸按键的基准值校正方法、装置及存储介质 |
| CN112073047A (zh) * | 2020-09-09 | 2020-12-11 | 上海东软载波微电子有限公司 | 电容式触摸按键系统及其控制方法 |
| CN113037265A (zh) * | 2019-12-24 | 2021-06-25 | 上海美仁半导体有限公司 | 电器设备、触控芯片、电容触控按键的检测装置和方法 |
-
2021
- 2021-08-11 CN CN202110918541.2A patent/CN113644905B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US20100102832A1 (en) * | 2008-10-27 | 2010-04-29 | Microchip Technology Incorporated | Automated Capacitive Touch Scan |
| CN104935320A (zh) * | 2014-03-20 | 2015-09-23 | 安凯(广州)微电子技术有限公司 | 一种电容式触摸按键状态的检测方法 |
| CN109245753A (zh) * | 2018-11-13 | 2019-01-18 | 珠海巨晟科技股份有限公司 | 电容式触摸按键的判键系统 |
| CN111198626A (zh) * | 2018-11-16 | 2020-05-26 | 珠海格力电器股份有限公司 | 电容式触摸按键的基准值校正方法、装置及存储介质 |
| CN113037265A (zh) * | 2019-12-24 | 2021-06-25 | 上海美仁半导体有限公司 | 电器设备、触控芯片、电容触控按键的检测装置和方法 |
| CN112073047A (zh) * | 2020-09-09 | 2020-12-11 | 上海东软载波微电子有限公司 | 电容式触摸按键系统及其控制方法 |
Non-Patent Citations (2)
| Title |
|---|
| CHENCHI LUO等: "Compressive Sensing for Sparse Touch Detection on Capacitive Touch Screens", 《IEEE JOURNAL ON EMERGING AND SELECTED TOPICS IN CIRCUITS AND SYSTEMS ( VOLUME: 2, ISSUE: 3, SEPTEMBER 2012)》 * |
| 柴智;贾卫华;: "一种简单的电容式触摸按键实现方法", 中国集成电路 * |
Cited By (2)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| CN114691439A (zh) * | 2022-05-31 | 2022-07-01 | 上海泰矽微电子有限公司 | 一种可扩展通道的电容触摸检测芯片电路及检测方法 |
| CN114691439B (zh) * | 2022-05-31 | 2022-08-26 | 上海泰矽微电子有限公司 | 一种可扩展通道的电容触摸检测芯片电路及检测方法 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN113644905B (zh) | 2024-01-05 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN103109196B (zh) | 静电容量变化检测方法、装置及使用该方法的触摸检测方法、装置 | |
| CN106055183B (zh) | 电容检测电路 | |
| CN109274363B (zh) | 一种电容式触摸按键的判键系统 | |
| US8125232B2 (en) | Capacitive sensing device and method | |
| US20200220542A1 (en) | Capacitive Sensing | |
| CN102667690B (zh) | 用于执行电容式触摸感测和接近检测的方法及装置 | |
| US8797049B2 (en) | Low power capacitive touch detector | |
| US20060055416A1 (en) | Capacitance measuring apparatus and method, and program | |
| CN112073047B (zh) | 电容式触摸按键系统及其控制方法 | |
| CN104794433A (zh) | 指纹识别系统和方法 | |
| CN101685364B (zh) | 触摸面板的传感装置及方法 | |
| CN102193032A (zh) | 一种具有高精度高稳定性的自电容变化测量电路 | |
| TW201140408A (en) | Capacitance measurement device for a touch control device | |
| CN102594327A (zh) | 一种电容式感应按键及其按键检测方法 | |
| CN110739953B (zh) | 一种电容触摸按键的场景式信号自适应处理方法及电子装置 | |
| CN110084082B (zh) | 一种电子设备、指纹识别装置及其手指触摸检测电路 | |
| CN113644905A (zh) | 一种电容式触摸按键检测系统 | |
| CN109245753A (zh) | 电容式触摸按键的判键系统 | |
| CN110161318B (zh) | 一种电容检测电路及检测方法 | |
| CN111900973A (zh) | 一种基于fpga的触摸按键检测电路和检测方法 | |
| CN214473623U (zh) | 电容检测电路 | |
| CN114285398A (zh) | 一种电容充电型触摸按键检测电路及检测方法 | |
| CN112039512A (zh) | 电容式触摸按键系统及其按键检测方法 | |
| CN102346607B (zh) | 触控感测电路及方法 | |
| CN116203411A (zh) | 一种应用于mcu中触摸按键电容检测方法及其系统 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant |