CN117218991A - 基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统，包括若干个发光探测元件、数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路；发光探测元件包括发光与探测一体化的叠层器件和薄膜晶体管控制模块；若干个发光探测元件组成的阵列；其中，发光探测元件用于发光或探测光强；数据线控制电路用于控制阵列中行或列的发光探测元件；扫描线控制电路用于控制阵列中列或行的发光探测元件；测试源端控制电路用于为阵列中的发光探测元件提供工作电压；测试漏端控制电路用于测量阵列中的电流。本发明实施例同时具备发光与探测功能，提高了设备的集成度、轻薄度和便携性，可广泛应用于光电器件领域。

Description

基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统

技术领域

本发明涉及光电器件领域，尤其涉及一种基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统。

背景技术

随着光电半导体材料的不断创新与突破，以及器件光学结构设计技术的成熟，光电探测器以及发光二极管在通信、医疗、显示、传感等领域得到了迅速的发展与应用。然而，现有的光电探测器和发光二极管不能集于一体，在应用方面受到了较大限制。

例如，屏下摄像头将屏幕与摄像头结合，以改善以往摄像头造成屏幕有部分不能显示的缺陷，但在该设计中为了让屏下摄像头发挥作用，采用与其他位置不同的透明导线，减小屏幕发光像素，还是会造成屏幕观感不一致等问题。在屏下指纹识别时，当前的技术主要采用光学或超声波技术检测并识别指纹信息，设计有单独的光学或超声波发射检测模块，并将该指纹识别模块与屏幕相组装，该设计对识别模块与屏幕之间的连接有较高要求，并且加装识别模块也会带来厚度增加、机械强度减弱等问题。

发明内容

有鉴于此，本发明实施例的目的是提供一种基于发光探测一体化器件的屏幕及其控制方法和系统，该屏幕将光电探测器和发光二极管集于一体，同时具备发光与探测功能，每个发光探测元件能够单独控制，使得屏幕发光均匀，整个屏幕的显示效果一致，并提高了设备的集成度、轻薄度和便携性，便于推广应用。

第一方面，本发明实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕，包括若干个发光探测元件、数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路；发光探测元件包括发光与探测一体化的叠层器件和薄膜晶体管控制模块；若干个发光探测元件组成阵列，每个发光探测元件的四个端口分别与数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路连接，其中，

发光探测元件，用于发光或探测光强；

数据线控制电路，用于控制阵列中行或列的发光探测元件；

扫描线控制电路，用于控制阵列中列或行的发光探测元件；扫描线控制电路和数据线控制电路中一个电路控制行的发光探测元件、另一个电路控制列的发光探测元件；

测试源端控制电路，用于为阵列中的发光探测元件提供工作电压；

测试漏端控制电路，用于测量阵列中的电流。

可选地，发光与探测一体化的叠层器件包括第一电源端、源端、漏端和透明电极；薄膜晶体管控制模块包括第一端口、第二端口、第三端口和第二电源端；第三端口与透明电极连接；第一端口与数据线控制电路连接，第二端口与扫描线控制电路连接，源端与测试源端控制电路连接，漏端与测试漏端控制电路连接。

可选地，第二电源端与第一电源端的电压差的范围为4V至8V。

第二方面，本发明实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，应用于如上所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，包括：

控制数据线控制电路和扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；工作模式包括发光模式和探测模式；

控制数据线控制电路和扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；

和/或，

控制测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式。

可选地，发光模式下的控制方法，具体包括：

控制数据线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第一预设电压，控制扫描线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第二预设电压，使得薄膜晶体管控制模块的第二电源端的电压施加到发光与探测一体化的叠层器件的透明电极上，以使发光探测元件发光。

可选地，探测模式下的控制方法，具体包括：

控制数据线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第三预设电压，控制扫描线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第四预设电压，使得薄膜晶体管控制模块的第二电源端与发光与探测一体化的叠层器件的透明电极断开，以使发光探测元件处于熄灭状态；

并控制测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或列的电流，以测得熄灭的发光探测元件接收到的光强。

可选地，探测模式下的控制方法还包括：

控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或列的电流，记录电流并进行分析，得到熄灭的发光探测元件接收到的光强。

可选地，控制数据线控制电路或扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件发光，并控制预设行或预设列上的发光探测元件的光强，以使屏幕显示预设图像；其中，发光探测元件所发出的光包括可发出不同颜色的发光探测元件。

第三方面，本发明实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的系统，包括：

第一模块，用于控制数据线控制电路和扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；工作模式包括发光模式和探测模式；

第二模块，用于控制数据线控制电路和扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；；

第三模块，用于控制测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式。

第四方面，本发明实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的系统，包括基于发光探测一体化器件的屏幕以及与基于发光探测一体化器件的屏幕连接的计算机设备；其中，

基于发光探测一体化器件的屏幕，用于进行发光或探测光强；

计算机设备包括：

至少一个处理器；

至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

当至少一个程序被至少一个处理器执行，使得至少一个处理器实现如上所述的方法。

实施本发明实施例包括以下有益效果：本实施例采用发光与探测一体化的叠层器件，提高了发光效率，增强了器件的光伏效应；本实施例采用若干个发光探测元件组成的阵列，将光电探测器和发光二极管集于一体，同时具备发光与探测功能，减少了对于屏幕结构中传感器的使用，从而提高了屏幕的集成度、便携性、轻薄度等；同时阵列中的各个发光探测元件分别与数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路连接，使得每个发光探测元件都可实现独立控制发光强度，各个发光探测元件之间互不影响，从而使得屏幕各处显色均匀，显示效果一致，具有更高的应用灵活性，便于推广应用。

附图说明

图1是本发明实施例提供的第一种基于发光探测一体化器件的屏幕的结构示意图；

图2是本发明实施例提供的一种发光探测元件的结构示意图；

图3是本发明实施例提供的一种发光与探测一体化的叠层器件的结构示意图；

图4是本发明实施例提供的一种发光与探测一体化的叠层器件的简化结构示意图；

图5是本发明实施例提供的另一种发光与探测一体化的叠层器件的结构示意图；

图6是本发明实施例提供的一种发光探测元件的控制电路结构示意图；

图7是本发明实施例提供的另一种发光探测元件的控制电路结构示意图；

图8是本发明实施例提供的一种基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法；

图9是本发明实施例提供的第二种基于发光探测一体化器件的屏幕的结构示意图；

图10是本发明实施例提供的第三种基于发光探测一体化器件的屏幕的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和具体实施例对本发明做进一步的详细说明。对于以下实施例中的步骤编号，其仅为了便于阐述说明而设置，对步骤之间的顺序不做任何限定，实施例中的各步骤的执行顺序均可根据本领域技术人员的理解来进行适应性调整。

在以下的描述中，涉及到“一些实施例”，其描述了所有可能实施例的子集，但是可以理解，“一些实施例”可以是所有可能实施例的相同子集或不同子集，并且可以在不冲突的情况下相互结合。

在以下的描述中，所涉及的术语“第一\第二\第三”仅仅是是区别类似的对象，不代表针对对象的特定排序，可以理解地，“第一\第二\第三”在允许的情况下可以互换特定的顺序或先后次序，以使这里描述的本发明实施例能够以除了在这里图示或描述的以外的顺序实施。

除非另有定义，本发明实施例所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本发明实施例中所使用的术语只是为了描述本发明实施例的目的，不是旨在限制本发明。

对本发明实施例进行进一步详细说明之前，对本发明实施例中涉及的名词和术语进行说明，本发明实施例中涉及的名词和术语适用于如下的解释。

如图1所示，本发明实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕，包括若干个发光探测元件、数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路；发光探测元件包括发光与探测一体化的叠层器件和薄膜晶体管控制模块；若干个发光探测元件组成阵列，每个发光探测元件的四个端口分别与数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路连接，其中，

发光探测元件，用于发光或探测光强；

数据线控制电路，用于控制阵列中行或列的发光探测元件；

扫描线控制电路，用于控制阵列中列或行的发光探测元件；扫描线控制电路和数据线控制电路中一个电路控制行的发光探测元件、另一个电路控制列的发光探测元件；

测试源端控制电路，用于为阵列中的发光探测元件提供工作电压；

测试漏端控制电路，用于测量阵列中的电流。

具体地，若干个发光探测元件组成m行×n列的阵列，m和n的数量根据实际情况确定，本发明实施例中不做限定，仅提供实施例以供参考，例如，9个发光探测元件组成3行×3列的阵列。

在一个具体的实施例中，发光探测元件1-9组成3×3的阵列；数据线控制电路通过线路1-3与发光探测元件1-9连接，扫描线控制电路通过线路4-6与发光探测元件1-9连接，测试漏端控制电路通过线路7-9，测试源端控制电路通过线路10-12与发光探测元件1-9连接。

如图2所示，发光与探测一体化的叠层器件包括第一电源端Vcom、源端Test-S、漏端Test-D和透明电极；薄膜晶体管控制模块包括第一端口X、第二端口Y、第三端口和第二电源端Vdd；第三端口与透明电极连接；第一端口X与数据线控制电路连接，第二端口Y与扫描线控制电路连接，源端Test-S与测试源端控制电路连接，漏端Test-D与测试漏端控制电路连接。

如图3所示，本实施例提供一种发光与探测一体化的叠层器件，包括金属电极、发光二极管(LED)、透明电极、电介质层、漏极、半导体层、源极和透明衬底，其中，金属电极、发光二极管(LED)、透明电极、电介质层依次连接，漏极、半导体层和源极同时与电介质层以及透明衬底连接；发光与探测一体化的叠层器件的等效符号示意图如图4所示，该叠层器件为二极管结构和场效应晶体管结构的结合，二极管结构包括金属电极、发光二极管(LED)、透明电极和电介质层，二极管结构构成场效应晶体管结构的等效栅极。图4为发光与探测一体化的叠层器件的简化结构示意图。

具体地，发光与探测一体化的叠层器件的工作电压为第二电源端Vdd与第一电源端Vcom电压差，当电压差足够大时才可使发光与探测一体化的叠层器件发光。

具体地，通过控制对第一端口X和第二端口Y提供的电压大小，来控制第二电源端Vdd的电压是否施加给发光与探测一体化的叠层器件；当对第一端口X提供第一预设电压，并对第二端口Y提供第二预设电压时，使得第二电源端Vdd的电压传递到透明电极上，从而使得发光与探测一体化的叠层器件发光，在发光模式下工作；当对第一端口X提供第三预设电压，并对第二端口Y提供第四预设电压时，使得第二电源端Vdd与透明电极断开，从而使得发光与探测一体化的叠层器件处于熄灭状态，在探测模式下工作。

具体地，当在探测模式下工作的发光与探测一体化的叠层器件受到光照时，光从透明衬底入射到LED中，使其产生栅电压；在第一电源端Vcom施加第五预设电压，使得源极和漏极之间导通，并在源极和漏极之间施加电压，放大由于光照产生的微小栅电压的变化，将电压变化转换为电流变化并在漏端输出，从而实现对所受光照的光强检测。

具体地，第五预设电压的范围为3V至5V。

具体地，源极和漏极之间导通时，场效应晶体管结构的等效栅压为第一电源端Vcom的电压和叠层器件的工作电压之和。

如图5所示，本发明实施例提供了另一种结构的发光与探测一体化的叠层器件，该叠层器件在如图3所示的叠层器件的基础上增加了一层LED，其中LED1和LED2之间设置有连接层；叠层发光二极管与单层发光二极管对比，叠层发光二极管的发光效率更高，光吸收能力更强，光伏效应也更强，使得叠层器件在受到光照时，晶体管结构中可产生更大的栅压变化，从而使得电流变化增加，增强了器件的灵敏度，提高检测限。

具体地，本发明实施例的叠层器件中的LED层的数量根据实际情况确定，本发明实施例不做限定，仅提供实施例以供参考。

如图6所示，在另一个实施例中，将发光与探测一体化的叠层器件的第二电源端Vdd合并到第一端口X中，使得第一端口X同时起到控制叠层器件发光和为叠层器件提供电压的作用；其中，薄膜晶体管控制模块包括第一晶体管T1和第一电容C1；数据线Data Line用于为叠层器件提供第一工作电压，并为第一电容C1充电；扫描线Scan line提供第二工作电压以使第一晶体管T1导通，以使数据线的第一工作电压传导到叠层器件和电容上，从而使得发光探测元件发光。

具体地，使得第一端口X同时起到控制叠层器件发光和为叠层器件提供电压的作用的电路结构包括但不限于如图5所示的电路结构，具体的电路根据实际情况确定，本发明实施例中不做限定，仅提供具体实施例以供参考。

如图7所示，本发明实施例还提供一种发光探测元件的控制电路结构，包括发光与探测一体化的叠层器件和薄膜晶体管控制模块，数据线Data Line与数据线控制电路连接，扫描线Scan Line与扫描线控制电路连接；其中，薄膜晶体管控制模块包括第二晶体管T2、第三晶体管T3和第二电容C2。在发光模式下，将数据线和扫描线同时置于高电位，使得晶体管T2导通，对第二电容C2进行充电，并为第三晶体管T3提供高栅极电压，使得第三晶体管T3导通，从而令第二电源端Vdd的电压施加到叠层器件的透明电极上，使发光探测元件发光。

进一步地，对于阵列中的发光探测元件，通过快速切换不同发光探测元件的工作模式，来使得不同发光探测元件在视觉效果上显现出同时发光的状态，从而实现预设图像的显示。例如，将发光探测元件1的数据线和扫描线同时置于高电位，使得发光探测元件1发光后，快速切换至发光探测元件5的数据线和扫描线同时置于高电位，使得发光探测元件5发光，此时将发光探测元件1的数据线和扫描线处于低电位；由于发光探测元件中的第二电容C2在数据线和扫描线处于低电位时持续为第三晶体管T3提供高电势，因此发光探测元件1的数据线和扫描线处于低电位可持续发光；快速切换发光探测元件1的数据线和扫描线的电位和发光探测元件5的数据线和扫描线的电位，从而实现不同发光探测元件的同时发光。

具体地，通过控制数据线和扫描线上的电压，来控制第三晶体管T3的栅极电压和导通状态；通过改变第三晶体管T3的导通程度，来改变施加在透明电极的电压大小，从而实现发光探测元件发光强弱的控制。

具体地，在探测模式下，数据线和扫描线处于低电位，第二晶体管T2和第三晶体管T3均截止，透明电极电势悬空，在第一电源端Vcom施加第五预设电压；第五预设电压使得叠层器件的晶体管结构处于工作状态，并达到跨导最大值，以增强器件的传感灵敏度；第五预设电压的具体数值根据实际情况确定，本发明实施例中不做限定，仅提供具体实施例以供参考，例如，第五预设电压为4V。

可选地，第二电源端与第一电源端的电压差的范围为4V至8V。

具体地，在发光模式下，第二电源端与第一电源端之间需要足够大的电压差，才可使发光探测元件发光；其中，电压差的范围为4V至8V，具体的电压差根据实际情况确定，本发明实施例不做限定。

如图8所示，本发明实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，应用于如上所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，包括：

S100、控制数据线控制电路和扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；工作模式包括发光模式和探测模式；

S210、控制数据线控制电路和扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；

和/或，

S220、控制测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式。

具体地，测试源端控制电路包括工作电源和控制芯片，工作电源的电压值根据实际情况确定，本发明实施例不做限定，仅提供实施例以供参考，例如，工作电源的电压可为10V。

具体地，数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路各自包括若干条线路，每条线路与一列或一行的发光探测元件连接，使得每个发光探测元件都分别与数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路连接，从而实现对每个发光探测元件的独立控制。

具体地，通过数据线控制电路控制发光探测元件中第一端口的电压，和通过扫描线控制电路控制发光探测元件中第二端口的电压，来选择发光探测元件中的薄膜晶体管控制模块是否为发光与探测一体化的叠层器件提供工作电压，从而选择发光探测元件的工作模式。

可选地，发光模式下的控制方法，具体包括：

S211、控制数据线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第一预设电压，控制扫描线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第二预设电压，使得薄膜晶体管控制模块的第二电源端的电压施加到发光与探测一体化的叠层器件的透明电极上，以使发光探测元件发光。

在一个具体的实施例中，对于如图1所示的基于发光探测一体化器件的屏幕，控制数据线控制电路的线路1和线路2导通，为薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第一预设电压；控制扫描线控制电路的线路5导通，为薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第二预设电压，使得薄膜晶体管控制模块的第二电源端的电压施加到发光与探测一体化的叠层器件的透明电极上，以使发光探测元件2和发光探测元件5发光。

可选地，探测模式下的控制方法，具体包括：

S221、控制数据线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第三预设电压，控制扫描线控制电路为薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第四预设电压，使得薄膜晶体管控制模块的第二电源端与发光与探测一体化的叠层器件的透明电极断开，以使发光探测元件处于熄灭状态；

S222、并控制测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或列的电流，以测得熄灭的发光探测元件接收到的光强。

在一个具体的实施例中，对于如图1所示的基于发光探测一体化器件的屏幕，控制数据线控制电路通过线路3为薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第三预设电压，控制扫描线控制电路通过线路5为薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第四预设电压，使得薄膜晶体管控制模块的第二电源端与发光与探测一体化的叠层器件的透明电极断开，以使发光探测元件8处于熄灭状态；控制测试源端控制电路的线路11导通，控制测试漏端控制电路监测发光探测元件8的电流，以测得发光探测元件8接收到的光强。

具体地，测试漏端控制电路不可通过发光状态下的发光探测元件的来探测光强，只可通过熄灭状态下的发光探测元件来探测光强。

可选地，探测模式下的控制方法还包括：

S223、控制测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或列的电流，记录电流并进行分析，得到熄灭的发光探测元件接收到的光强。

具体地，对测试漏端控制电路获得的电流数据进行分析处理，得到熄灭的发光探测元件接收到的光强和入射光的波长，包括：利用发光探测元件的电流-光强-波长特性曲线，以及测得的电流值，建立方程式求解得到入射光的光强和波长。

可选地，控制数据线控制电路或扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件发光，并控制预设行或预设列上的发光探测元件的光强，以使屏幕显示预设图像；其中，发光探测元件所发出的光包括可发出不同颜色的发光探测元件。。

在一个具体的实施例中，发光探测元件包括红色发光探测元件、绿色发光探测元件和蓝色发光探测元件，不同颜色的发光探测元件的响应曲线和对入射光的探测范围不同，红色、绿色和蓝色发光探测元件组成一个发光单元；发光单元中发光探测元件的组成方式根据实际情况确定，本发明实施例中不做限定，仅提供具体实施例以供参考，例如，如图9所示，在3×3的阵列中，每行包括发红光、绿光和蓝光的发光探测元件，组成一个像素单元，通过控制不同颜色的发光探测元件的发光强度，使得像素单元发出预设颜色的光线，从而使得屏幕显示预设图像。

如图10所示，在一个具体的实施例中，本发明实施例的屏幕可用于指纹检测；其中，由若干个发光探测元件组成的阵列中，相邻的发光探测元件处于不同的工作模式，分别为发光模式和探测模式。由于皮肤表面存在凹凸不平的指纹，指纹凹凸状态不同之处对发光探测元件发出的光的反射强度不同，阵列中不同位置的处于探测模式的发光探测元件探测到光强也不同，从而形成了指纹图像，实现指纹检测。

具体地，用于指纹检测的阵列的面积小于手指覆盖在屏幕上的面积，以使手指进行指纹检测时可覆盖整个阵列；阵列中的发光探测元件的数量、行数和列数根据实际需求确定，本发明实施例中不做限定，仅提供实施例以供参考，例如，包括但不限于3×3的阵列。

实施本发明实施例包括以下有益效果：本实施例采用发光与探测一体化的叠层器件，包括叠层发光二极管，提高了发光效率，增强了器件的光伏效应，且在受到关照的情况下，可使叠层器件中的晶体管结构产生更大的栅压变化，从而产生更大的电流变化，提高了器件的灵敏度；本实施例采用若干个发光探测元件组成的阵列，将光电探测器和发光二极管集于一体，同时具备发光与探测功能，减少了对于屏幕结构中传感器的使用，无需在屏幕中另外增设检测模块，从而提高了屏幕的集成度、便携性、轻薄度等；同时阵列中的各个发光探测元件分别与数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路连接，使得每个发光探测元件都可实现独立控制发光强度，在所需的不同的位置控制发光探测元件发出不同强度的光，各个发光探测元件之间互不影响，从而使得屏幕各处显色均匀，显示效果一致，具有更高的应用灵活性，便于推广应用。

本发明实施例提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的系统，包括：

第一模块，用于控制所述数据线控制电路和所述扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；所述工作模式包括发光模式和探测模式；

第二模块，用于控制所述数据线控制电路和所述扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；；

第三模块，用于控制所述测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制所述测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式。

可见，上述方法实施例中的内容均适用于本系统实施例中，本系统实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。

本发明实施例还提供了一种基于发光探测一体化器件的屏幕的系统，包括基于发光探测一体化器件的屏幕以及与基于发光探测一体化器件的屏幕连接的计算机设备；其中，

基于发光探测一体化器件的屏幕，用于进行发光或探测光强；

计算机设备包括：

至少一个处理器；

至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

当至少一个程序被至少一个处理器执行，使得至少一个处理器实现如上所述的方法。

其中，存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序以及非暂态性计算机可执行程序。存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的远程存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

可见，上述方法实施例中的内容均适用于本装置实施例中，本装置实施例所具体实现的功能与上述方法实施例相同，并且达到的有益效果与上述方法实施例所达到的有益效果也相同。

以上是对本发明的较佳实施进行了具体说明，但本发明创造并不限于所述实施例，熟悉本领域的技术人员在不违背本发明精神的前提下还可做作出种种的等同变形或替换，这些等同的变形或替换均包含在本申请权利要求所限定的范围内。

Claims (10)

1.一种基于发光探测一体化器件的屏幕，其特征在于，包括若干个发光探测元件、数据线控制电路、扫描线控制电路、测试漏端控制电路和测试源端控制电路；所述发光探测元件包括发光与探测一体化的叠层器件和薄膜晶体管控制模块；若干个所述发光探测元件组成阵列，每个所述发光探测元件的四个端口分别与所述数据线控制电路、所述扫描线控制电路、所述测试漏端控制电路和所述测试源端控制电路连接，其中，

所述发光探测元件，用于发光或探测光强；

所述数据线控制电路，用于控制阵列中行或列的发光探测元件；

所述扫描线控制电路，用于控制阵列中列或行的发光探测元件；所述扫描线控制电路和所述数据线控制电路中一个电路控制行的发光探测元件、另一个电路控制列的发光探测元件；

所述测试源端控制电路，用于为阵列中的发光探测元件提供工作电压；

所述测试漏端控制电路，用于测量阵列中的电流。

2.根据权利要求1所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，其特征在于，所述发光与探测一体化的叠层器件包括第一电源端、源端、漏端和透明电极；所述薄膜晶体管控制模块包括第一端口、第二端口、第三端口和第二电源端；所述第三端口与所述透明电极连接；所述第一端口与所述数据线控制电路连接，所述第二端口与所述扫描线控制电路连接，所述源端与所述测试源端控制电路连接，所述漏端与所述测试漏端控制电路连接。

3.根据权利要求2所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，其特征在于，所述第二电源端与所述第一电源端的电压差的范围为4V至8V。

4.一种基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，其特征在于，应用于如权利要求1-3任一项所述的基于发光探测一体化器件的屏幕，包括：

控制所述数据线控制电路和所述扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；所述工作模式包括发光模式和探测模式；

控制所述数据线控制电路和所述扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；

和/或，

控制所述测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制所述测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式。

5.根据权利要求4所述的基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，其特征在于，发光模式下的控制方法，具体包括：

控制所述数据线控制电路为所述薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第一预设电压，控制所述扫描线控制电路为所述薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第二预设电压，使得所述薄膜晶体管控制模块的第二电源端的电压施加到所述发光与探测一体化的叠层器件的透明电极上，以使所述发光探测元件发光。

6.根据权利要求4所述的基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，其特征在于，探测模式下的控制方法，具体包括：

控制所述数据线控制电路为所述薄膜晶体管控制模块的第一端口提供第三预设电压，控制所述扫描线控制电路为所述薄膜晶体管控制模块的第二端口提供第四预设电压，使得所述薄膜晶体管控制模块的第二电源端与所述发光与探测一体化的叠层器件的透明电极断开，以使所述发光探测元件处于熄灭状态；

并控制所述测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制所述测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或列的电流，以测得熄灭的发光探测元件接收到的光强。

7.根据权利要求4所述的基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，其特征在于，探测模式下的控制方法，还包括：

控制所述测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或列的电流，记录所述电流并进行分析，得到熄灭的发光探测元件接收到的光强。

8.根据权利要求4所述的基于发光探测一体化器件的屏幕的控制方法，其特征在于，所述控制方法还包括：控制所述数据线控制电路或所述扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件发光，并控制所述预设行或预设列上的发光探测元件的光强，以使所述屏幕显示预设图像；其中，所述发光探测元件包括可发出不同颜色的发光探测元件。

9.一种基于发光探测一体化器件的屏幕的系统，其特征在于，包括：

第一模块，用于控制所述数据线控制电路和所述扫描线控制电路控制预设行或预设列上的发光探测元件的工作模式；所述工作模式包括发光模式和探测模式；

第二模块，用于控制所述数据线控制电路和所述扫描线控制电路为阵列中预设行或预设列的发光探测元件提供工作电压，以使发光探测元件工作在发光模式；；

第三模块，用于控制所述测试源端控制电路为阵列中的发光探测元件提供工作电压，控制所述测试漏端控制电路监测发光的发光探测元件所在行或所在列的电流，以使发光探测元件工作在探测模式。

10.一种基于发光探测一体化器件的屏幕的系统，其特征在于，包括基于发光探测一体化器件的屏幕以及与所述基于发光探测一体化器件的屏幕连接的计算机设备；其中，所述基于发光探测一体化器件的屏幕，用于进行发光或探测光强；

所述计算机设备包括：

至少一个处理器；

至少一个存储器，用于存储至少一个程序；

当所述至少一个程序被所述至少一个处理器执行，使得所述至少一个处理器实现如权利要求4-8任一项所述的方法。