CN117192251A - 一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质，其中，方法包括：获取目标超级电容器；基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有技术在对超级电容器的老化性能进行测试时测试的周期长，实用性差的问题，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

Description

一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质

技术领域

本发明实施例涉及超级电容器制备技术领域，尤其涉及一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质。

背景技术

超级电容器是一种介于双电层电容器与锂离子电池之间的新型储能器件，目前已成为了产业发展的重点研究领域。在制备出超级电容器后，一般会对其进行老化，以增加超级电容器的容量和寿命。因此，如何评价不同老化工序的优劣具有重要的意义。目前，评价混合型超级电容器的老化效果多采用循环寿命测试的方法，但超级电容器的寿命相比于其它储能器件的寿命长，因而循环寿命测试的周期非常长，实用性差。

发明内容

本发明实施例提供了一种超级电容器的老化性能测试方法、装置、设备和存储介质，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

第一方面，本发明实施例提供了一种超级电容器的老化性能测试方法，该方法包括：

获取目标超级电容器；

基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；

基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

第二方面，本发明实施例提供了一种超级电容器的老化性能测试装置，该装置包括：

超级电容器获取模块，用于获取目标超级电容器；

分容开路电压获取模块，用于基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；

老化性能测试模块，用于基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

第三方面，本发明实施例提供了一种计算机设备，该计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现任一实施例所述的超级电容器的老化性能测试方法。

第四方面，本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现任一实施例所述的超级电容器的老化性能测试方法。

本发明实施例所提供的技术方案，通过获取目标超级电容器；基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有技术在对超级电容器的老化性能进行测试时测试的周期长，实用性差的问题，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

附图说明

图1是本发明实施例提供的一种超级电容器的老化性能测试方法流程图；

图2是本发明实施例提供的又一种超级电容器的老化性能测试方法流程图；

图3是本发明实施例提供的一种进行超级电容器的老化性能测试的工作流程图；

图4是本发明实施例提供的一种超级电容器的老化性能测试装置的结构示意图；

图5是本发明实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

图1是本发明实施例提供的一种超级电容器的老化性能测试方法流程图，本发明实施例可适用于对超级电容器的老化性能进行测试的场景中，该方法可以由超级电容器的老化性能测试装置执行，该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现。

如图1所示，超级电容器的老化性能测试方法包括以下步骤：

S110、获取目标超级电容器。

其中，目标超级电容器可以是需要对其老化性能进行检测的超级电容器。在获取目标超级电容器的过程中，可以先获取没有经过老化处理的原始的超级电容器，再将该超级电容器进行老化处理，进而得到目标超级电容器。

S120、基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压。

其中，预设分容场景可以是对超级电容器进行分容处理的场景。分容处理可以是对超级电容器进行充放电时检测电量指标的一种处理方式。具体的，在基于预设分容场景对目标超级电容器进行分容处理时，可以先将超级电容器在预设的分容温度下进行分容，再将分容处理后的超级电容器在常温中冷却一段时间。

进一步的，老化是超级电容器随时间变长其性能逐渐下降的自然现象。为了较好模拟超级电容器的老化过程，可以使各个预设分容场景的相关指标的差值保持在一定的阈值内，以更真实的还原超级电容器的老化过程。示例性的，可以对预设分容场景的分容温度、冷却温度和冷却时间设置相应的阈值，以使不同预设分容场景的分容温度、冷却温度和冷却时间之间的差值保持在一定的阈值范围之内，，避免因为相关指标的差值过大，影响还原超级电容器的老化过程的真实性。

分容开路电压可以是目标超级电容器在预设分容场景进行分容处理后的开路电压。具体的，当目标超级电容器在预设分容场景进行分容处理后，可以对其开路电压进行检测，进而确定目标超级电容器在该预设分容场景下的分容开路电压。类似的，可以将当目标超级电容器分别置于多个不同预设分容场景进行分容处理，进而确定目标超级电容器在各个预设分容场景下的分容开路电压。

S130、基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

其中，目标老化性能测试结果可以是目标超级电容器的老化测试结果。在实际开发过程中，我们根据规律和经验总结出相邻两次开路电压的差值越趋近于0，则说明超级电容器重现性好，性能稳定，后续的长期性能好，也即老化性能较好。因此我们通过基于各个分容开路电压的数值变化差异，侧面推测目标超级电容器的老化性能的优劣。

具体的，目标老化性能测试结果可以包括合格和不合格两种老化性能测试结果。以预设分容场景的数量为两个为例，可以将目标超级电容器在两个预设分容场景下的分容开路电压进行作差，再将差值与预设的参考差值电压阈值进行对比，并根据对比结果确定目标老化性能测试结果。例如，当开路电压差值小于参考差值电压阈值时，表明目标超级电容器的在使用中的储能变化较小，性能较稳定，此时目标老化性能测试结果可以是老化性能测试合格；当开路电压差值大于参考差值电压阈值时，表明目标超级电容器的在使用中的储能变化较大，性能不太稳定，此时目标老化性能测试结果可以是老化性能测试不合格。

此外，在预设分容场景的数量大于两个时，也可以根据分容顺序，依次将相邻两个的预设分容场景的分容开路电压进行作差，再将多个差值与相应的参考阈值进行比较，并根据比较结果确定目标老化性能测试结果。此处预设分容场景的数量和基于分容开路电压的数值变化差异确定目标老化性能测试结果的评判标准不进行限定，用户可以根据需要自行设定。

本发明实施例所提供的技术方案，通过获取目标超级电容器；基于至少两个预设分容场景分别对目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；基于各个分容开路电压的数值变化差异，确定目标超级电容器的目标老化性能测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有技术在对超级电容器的老化性能进行测试时测试的周期长，实用性差的问题，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

图2是本发明实施例提供的又一种超级电容器的老化性能测试方法流程图，本发明实施例可适用于对超级电容器的老化性能进行测试的场景中，本实施例在上述实施例的基础上，进一步的说明如何获取目标超级电容器，如何基于至少两个预设分容场景分别对目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压，以及如何基于各个分容开路电压的数值变化差异，确定目标超级电容器的目标老化性能测试结果。该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现，集成于具有应用开发功能的计算机设备中。

如图2所示，超级电容器的老化性能测试方法包括以下步骤：

S210、获取初始超级电容器，并基于预设老化场景对所述取初始超级电容器进行老化处理，得到目标超级电容器。

其中，初始超级电容器可以是未经过老化处理的原始的超级电容器。预设老化场景可以是预设用于对超级电容器进行老化的场景。在预设老化场景中，可以先将超级电容器充电至预设的电压后，再将超级电容器在高温环境中的老化一定时长，随后，可以再将高温的超级电容器在常温环境下冷却一段时间，进而完成超级电容器的老化过程。目标超级电容器可以是需要对其老化性能进行检测的超级电容器。具体的，可以先获取初始超级电容器，并基于预设老化场景对取初始超级电容器进行老化处理，进而得到目标超级电容器。

S220、基于第一预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到第一分容开路电压。

其中，第一预设分容场景可以是对超级电容器进行分容处理的场景。具体的，在基于第一预设分容场景对目标超级电容器进行分容处理时，可以先将超级电容器在预设的分容温度下进行分容，再将分容处理后的超级电容器在常温中冷却一段时间。示例性的，可以基于第一分容温度对目标超级电容器进行分容处理；将分容处理后的超级电容器在第一静置温度下冷却第一预设静置时长。

其中，第一分容温度可以是在第一预设分容场景中对目标超级电容器进行分容的温度。第一静置温度可以是在第一预设分容场景中对目标超级电容器进行静置的温度。第一预设静置时长可以是在第一预设分容场景中对目标超级电容器进行静置的时长。进一步，第一分容温度、第一静置温度和第一预设静置时长可以通过人为进行预设，用户可以根据需要对三个参数进行设置。通过对分容处理的分容温度、静置温度和静置时长等参数进行设置，可以对分容场景的相关指标进行控制，便于后续基于超级电容器在不同分容场景下的分容表现，确定其老化性能。

进一步的，第一分容开路电压可以是目标超级电容器在第一预设分容场景进行分容处理后的开路电压。当基于第一预设分容场景对目标超级电容器进行分容处理后，可以检测目标超级电容器分容处理后的开路电压，进而得到第一分容开路电压。

S230、基于第二预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到第二分容开路电压。

其中，第二预设分容场景可以是再次对超级电容器进行分容处理的场景。具体的，在基于第二预设分容场景对目标超级电容器进行分容处理时，可以先将超级电容器在预设的分容温度下进行分容，再将分容处理后的超级电容器在常温中冷却一段时间。示例性的，可以基于第二分容温度对目标超级电容器进行分容处理；将分容处理后的超级电容器在第二静置温度下冷却第二预设静置时长。

其中，第二分容温度可以是在第二预设分容场景中对目标超级电容器进行分容的温度。第二静置温度可以是在第二预设分容场景中对目标超级电容器进行静置的温度。第二预设静置时长可以是在第二预设分容场景中对目标超级电容器进行静置的时长。进一步，第二分容温度、第二静置温度和第二预设静置时长也可以通过人为进行预设，用户可以根据需要对三个参数进行设置。

进一步的，第二分容开路电压可以是目标超级电容器在第二预设分容场景进行分容处理后的开路电压。当基于第二预设分容场景对目标超级电容器进行分容处理后，可以检测目标超级电容器分容处理后的开路电压，进而得到第二分容开路电压。

此外，老化是超级电容器随时间变长其性能逐渐下降的自然现象。为了较好模拟超级电容器的老化过程，可以使第一预设分容场景和第二预设分容场景的相关指标的差值保持在一定的阈值内。具体的，可以对两个场景中的分容温度、静置温度和静置时长的差值保持在一定的阈值内。示例性的，第一分容温度和第二分容温度的差值小于预设分容温度阈值，第一静置温度和第二静置温度的差值小于预设静置温度阈值，第一静置时长和第二静置时长的差值小于预设静置时长阈值。

其中，预设分容温度阈值可以是对两个场景的分容温度的差值设定的阈值。预设静置温度阈值可以是对两个场景的静置温度的差值设定的阈值。设静置时长阈值可以是对两个场景的静置时长的差值设定的阈值。通过将第一预设分容场景和第二预设分容场景的相关指标的差值保持在一定的阈值内，可以使两个场景近似相同，避免因为相关指标的差值过大，影响还原超级电容器的老化过程的真实性。

示例性的，在获取目标电容器并对其进行两次分容时，包括以下步骤：

步骤一：超级电容器化成后充至3.0～4.2V，放入高温环境T1下老化16～96h，再将超级电容器放入常温环境T2下冷却24h，而后将超级电容器放入常温环境T3下存储24～144h。

步骤二：对步骤一的超级电容器在常温环境T3下进行第一次分容，在常温环境T4下第一次静置4～6天，检测超级电容器的开路电压OCV(open-circuit voltage)1；

步骤三：对步骤二的超级电容器常温环境T5下进行第二次分容，在常温环境T6下第二次静置4～6天，检测超级电容器的开路电压OCV2。

其中，高温环境T1为40～65℃。常温环境T2为20～30℃。两次分容时均先对超级电容器进行放电，再循环充放电2次，再以1～10C电流恒流充电至3.0～3.4V，最后恒压充电，恒压充电截止条件为电流小于0.02C或时间5min。第一次分容的环境温度T3的温度为20～30℃，第二次分容的环境温度T5的温度为20～30℃，T3和T5的差值不超过3℃。第一次静置的环境温度T4的温度为20～30℃，第二次静置的环境温度T6的温度为20～30℃，T4和T6的差值不超过1℃。第一次静置时间和第二次静置时间差值不超过6h。

S240、将所述第一分容开路电压和所述第二分容开路电压进行作差处理，得到开路电压差值。

其中，开路电压差值可以是超级电容器经过不同场景下分容处理后的开路电压的差值。具体的，可以将第一分容开路电压和第二分容开路电压进行作差处理，得到开路电压差值。

由于开路电压差值是目标超级电容器经过不同场景下分容处理后的开路电压的差值，所以可以该数值可以侧面反映目标超级电容器的性能。也即开路电压差值越趋近于0，则说明目标超级电容器在使用中的储能变化越小，性能越稳定，表明目标超级电容器的老化性能越好。

S250、将所述开路电压差值与预设参考差值电压阈值进行对比，并根据对比结果确定所述目标老化性能测试结果。

其中，预设参考差值电压阈值可以是针对开路电压差值设置的参考阈值。目标老化性能测试结果可以是目标超级电容器的老化测试结果。目标老化性能测试结果可以包括合格和不合格两种老化性能测试结果。具体的，可以将开路电压差值与预设参考差值电压阈值进行对比，并根据对比结果确定目标老化性能测试结果。示例性的，当开路电压差值小于预设参考差值电压阈值时，表明目标超级电容器的在使用中的储能变化较小，性能较稳定，此时目标老化性能测试结果可以是老化性能测试合格；当开路电压差值大于预设参考差值电压阈值时，表明目标超级电容器的在使用中的储能变化较大，性能不太稳定，此时目标老化性能测试结果可以是老化性能测试不合格。

示例性的，图3是本发明实施例提供的一种进行超级电容器的老化性能测试的工作流程图。如图3所示进行超级电容器的老化性能测试的工作流程为：首先将超级电容器充电至3.0～4.2V，高温环境T1下老化16～96h，常温环境T2下冷却24h，常温环境T3下存储24～144h，进而完成老化工序；随后在常温环境T3下进行第一次分容，常温环境T4下第一次静置4～6天，测OCV1，紧接着常温环境T5下进行第二次分容，常温环境T6下第二次静置4～6天，测OCV2，计算OCV1和OCV2的差值，最后根据差值确定老化性能检测结果。

为了验证本发明实施例技术方案的对于检测超级电容器老化性能的有效性，我们进行了多组实验。其中，实施例1包括以下步骤：

步骤一：混合型超级电容器化成后充至3.5V，放入高温环境55℃下老化48h，再将混合型超级电容器放入常温环境25℃下冷却24h，而后将混合型超级电容器放入常温环境25℃下存储72h。

步骤二：对步骤一的混合型超级电容器在常温环境25℃下进行第一次分容，在常温环境25℃下第一次静置5天，检测混合型超级电容器的开路电压OCV1；

步骤三：对步骤二的混合型超级电容器常温环境25℃下进行第二次分容，在常温环境25℃下第二次静置5天，检测混合型超级电容器的开路电压OCV2；

步骤四：计算ΔOCV＝OCV1-OCV2，比较不同老化工序的ΔOCV值，如ΔOCV的绝对值＜5mV，说明老化工序达到老化效果，且ΔOCV的绝对值越接近0，说明该老化工序的老化效果越好。

分容程序先进行放电，再循环充放电2次，再以5C电流恒流充电至3.3V，最后恒压充电，恒压充电截止条件为电流小于0.02C或时间5min。

进一步，可以采用传统的循环充放电测试方法检测上述评价结果的有效性，循环测试流程为：10C恒流充电至4.2V，恒压充电1min，然后10C恒流放电至2.5V，循环3000次。

此外，相较于实施例1，我们也进行多组对比实施例：

实施例2

本实施例包括实施例1大部分操作步骤，其不同之处在于：

步骤一中，混合型超级电容器化成后充至3.3V，放入高温环境60℃下老化60h。

实施例3

本实施例包括实施例1大部分操作步骤，其不同之处在于：

步骤一中，混合型超级电容器化成后充至3.7V，放入高温环境50℃下老化72h。

对比例1

本实施例包括实施例1大部分操作步骤，其不同之处在于：

步骤一中，混合型超级电容器化成后充至3.3V，放入高温环境45℃下老化4h。

对比例2

本实施例包括实施例1大部分操作步骤，其不同之处在于：

步骤二中，在常温环境20℃下第一次静置5天，检测混合型超级电容器的开路电压OCV1；

步骤三中，在常温环境30℃下第二次静置5天，检测混合型超级电容器的开路电压OCV2。

对比例3

本实施例包括实施例1大部分操作步骤，其不同之处在于：

步骤二中，对混合型超级电容器在常温环境30℃下进行第一次分容；

步骤三中，对混合型超级电容器常温环境20℃下进行第二次分容。

不同实施例的测试结果如表1所示：

表1不同实施例的老化测试结果

由从表1的实施例和对比例2测试结果可以看出，ΔOCV越接近0，循环充放电3000次的容量保持率越好。表明本法明实施例的技术方案在检测超级电容器老化性能时有较高的准确性。

对比例2，ΔOCV比实施例1大比较多，但寿命比较接近。这是OCV1和OCV2检测的温度相差较大，导致老化效果误判。

对比例3，ΔOCV比实施例1大比较多，但寿命比较接近。这是第一次分容和第二次分容的温度相差较大，导致老化效果误判。

由以上试验可以得出，相对于循环寿命测试的方法，本发明的方法可便捷、直观地反应出混合型超级电容器不同老化工序的优劣，大大缩短了超级电容器研发的周期，从而有助于超级电容器生产厂家快速筛选出合适的老化工艺。

本发明实施例所提供的技术方案，通过取初始超级电容器，并基于预设老化场景对所述取初始超级电容器进行老化处理，得到目标超级电容器；基于第一预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到第一分容开路电压；基于第二预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到第二分容开路电压；将所述第一分容开路电压和所述第二分容开路电压进行作差处理，得到开路电压差值；将所述开路电压差值与预设参考差值电压阈值进行对比，并根据对比结果确定所述目标老化性能测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有技术在对超级电容器的老化性能进行测试时测试的周期长，实用性差的问题，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

图4是本发明实施例提供的一种超级电容器的老化性能测试装置的结构示意图，本发明实施例可适用于对超级电容器的老化性能进行测试的场景中，该装置可以由软件和/或硬件的方式来实现，集成于具有应用开发功能的计算机设备中。

如图4所示，超级电容器的老化性能测试装置包括：超级电容器获取模块310、分容开路电压获取模块320和老化性能测试模块330。

其中，超级电容器获取模块310，用于获取目标超级电容器；分容开路电压获取模块320，用于基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；老化性能测试模块330，用于基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

本发明实施例所提供的技术方案，通过获取目标超级电容器；基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。本发明实施例的技术方案解决了现有技术在对超级电容器的老化性能进行测试时测试的周期长，实用性差的问题，可以根据超级电容器多次进行分容处理后的开路电压的差值，确定超级电容器的目标老化性能，缩短超级电容器老化性能的测试周期，提高测试方法的实用性。

在一种可选的实施方式中，所述分容开路电压获取模块320具体用于：所述预设分容场景的数量为两个的情况下，基于第一预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到第一分容开路电压；基于第二预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到第二分容开路电压。

在一种可选的实施方式中，所述老化性能测试模块330具体用于：将所述第一分容开路电压和所述第二分容开路电压进行作差处理，得到开路电压差值；将所述开路电压差值与预设参考差值电压阈值进行对比，并根据对比结果确定所述目标老化性能测试结果。

在一种可选的实施方式中，所述分容开路电压获取模块320包括：分容处理单元，用于：基于第一分容温度对所述目标超级电容器进行分容处理；将分容处理后的超级电容器在第一静置温度下冷却第一预设静置时长。

在一种可选的实施方式中，所述分容处理单元还用于：基于第二分容温度对所述目标超级电容器进行分容处理；将分容处理后的超级电容器在第二静置温度下冷却第二预设静置时长。

在一种可选的实施方式中，所述第一分容温度和所述第二分容温度的差值小于预设分容温度阈值，所述第一静置温度和所述第二静置温度的差值小于预设静置温度阈值，所述第一静置时长和所述第二静置时长的差值小于预设静置时长阈值。

在一种可选的实施方式中，超级电容器获取模块310具体用于：取初始超级电容器；基于预设老化场景对所述取初始超级电容器进行老化处理，得到所述目标超级电容器。

本发明实施例所提供的超级电容器的老化性能测试装置可执行本发明任意实施例所提供的超级电容器的老化性能测试方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

图5为本发明实施例提供的一种计算机设备的结构示意图。图5示出了适于用来实现本发明实施方式的示例性计算机设备12的框图。图5显示的计算机设备12仅仅是一个示例，不应对本发明实施例的功能和使用范围带来任何限制。计算机设备12可以是任意具有计算能力的终端设备，可以配置于超级电容器的老化性能测试设备中。

如图5所示，计算机设备12以通用计算设备的形式表现。计算机设备12的组件可以包括但不限于：一个或者多个处理器或者处理单元16，系统存储器28，连接不同系统组件(包括系统存储器28和处理单元16)的总线18。

总线18可以是几类总线结构中的一种或多种，包括存储器总线或者存储器控制器，外围总线，图形加速端口，处理器或者使用多种总线结构中的任意总线结构的局域总线。举例来说，这些体系结构包括但不限于工业标准体系结构(ISA)总线，微通道体系结构(MAC)总线，增强型ISA总线、视频电子标准协会(VESA)局域总线以及外围组件互连(PCI)总线。

计算机设备12典型地包括多种计算机系统可读介质。这些介质可以是任何能够被计算机设备12访问的可用介质，包括易失性和非易失性介质，可移动的和不可移动的介质。

系统存储器28可以包括易失性存储器形式的计算机系统可读介质，例如随机存取存储器(RAM)30和/或高速缓存32。计算机设备12可以进一步包括其它可移动/不可移动的、易失性/非易失性计算机系统存储介质。仅作为举例，存储系统34可以用于读写不可移动的、非易失性磁介质(图5未显示，通常称为“硬盘驱动器”)。尽管图5中未示出，可以提供用于对可移动非易失性磁盘(例如“软盘”)读写的磁盘驱动器，以及对可移动非易失性光盘(例如CD-ROM，DVD-ROM或者其它光介质)读写的光盘驱动器。在这些情况下，每个驱动器可以通过一个或者多个数据介质接口与总线18相连。系统存储器28可以包括至少一个程序产品，该程序产品具有一组(例如至少一个)程序模块，这些程序模块被配置以执行本发明各实施例的功能。

具有一组(至少一个)程序模块42的程序/实用工具40，可以存储在例如系统存储器28中，这样的程序模块42包括但不限于操作系统、一个或者多个应用程序、其它程序模块以及程序数据，这些示例中的每一个或某种组合中可能包括网络环境的实现。程序模块42通常执行本发明所描述的实施例中的功能和/或方法。

计算机设备12也可以与一个或多个外部设备14(例如键盘、指向设备、显示器24等)通信，还可与一个或者多个使得用户能与该计算机设备12交互的设备通信，和/或与使得该计算机设备12能与一个或多个其它计算设备进行通信的任何设备(例如网卡，调制解调器等等)通信。这种通信可以通过输入/输出(I/O)接口22进行。并且，计算机设备12还可以通过网络适配器20与一个或者多个网络(例如局域网(LAN)，广域网(WAN)和/或公共网络，例如因特网)通信。如图5所示，网络适配器20通过总线18与计算机设备12的其它模块通信。应当明白，尽管图5中未示出，可以结合计算机设备12使用其它硬件和/或软件模块，包括但不限于：微代码、设备驱动器、冗余处理单元、外部磁盘驱动阵列、RAID系统、磁带驱动器以及数据备份存储系统等。

处理单元16通过运行存储在系统存储器28中的程序，从而执行各种功能应用以及数据处理，例如实现本发实施例所提供的超级电容器的老化性能测试方法，该方法包括：

获取目标超级电容器；

基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；

基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

本实施例提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现如本发明任意实施例所提供的超级电容器的老化性能测试方法，包括：

获取目标超级电容器；

基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；

基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

本发明实施例的计算机存储介质，可以采用一个或多个计算机可读的介质的任意组合。计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如可以是但不限于：电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子(非穷举的列表)包括：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(EPROM或闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本文件中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。

计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。

计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、电线、光缆、RF等等，或者上述的任意合适的组合。

可以以一种或多种程序设计语言或其组合来编写用于执行本发明操作的计算机程序代码，程序设计语言包括面向对象的程序设计语言，诸如Java、Smalltalk、C++，还包括常规的过程式程序设计语言，诸如“C”语言或类似的程序设计语言。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中，远程计算机可以通过任意种类的网络，包括局域网(LAN)或广域网(WAN)，连接到用户计算机，或者，可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。

本领域普通技术人员应该明白，上述的本发明的各模块或各步骤可以用通用的计算装置来实现，它们可以集中在单个计算装置上，或者分布在多个计算装置所组成的网络上，可选地，他们可以用计算机装置可执行的程序代码来实现，从而可以将它们存储在存储装置中由计算装置来执行，或者将它们分别制作成各个集成电路模块，或者将它们中的多个模块或步骤制作成单个集成电路模块来实现。这样，本发明不限制于任何特定的硬件和软件的结合。

注意，上述仅为本发明的较佳实施例及所运用技术原理。本领域技术人员会理解，本发明不限于这里的特定实施例，对本领域技术人员来说能够进行各种明显的变化、重新调整和替代而不会脱离本发明的保护范围。因此，虽然通过以上实施例对本发明进行了较为详细的说明，但是本发明不仅仅限于以上实施例，在不脱离本发明构思的情况下，还可以包括更多其他等效实施例，而本发明的范围由所附的权利要求范围决定。

Claims (10)

1.一种超级电容器的老化性能测试方法，其特征在于，包括：

获取目标超级电容器；

基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；

基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述预设分容场景的数量为两个的情况下，所述基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压，包括：

基于第一预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到第一分容开路电压；

基于第二预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到第二分容开路电压。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果，包括：

将所述第一分容开路电压和所述第二分容开路电压进行作差处理，得到开路电压差值；

将所述开路电压差值与预设参考差值电压阈值进行对比，并根据对比结果确定所述目标老化性能测试结果。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于第一预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，包括：

基于第一分容温度对所述目标超级电容器进行分容处理；

将分容处理后的超级电容器在第一静置温度下冷却第一预设静置时长。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述基于第二预设分容场景对所述目标超级电容器进行分容处理，包括：

基于第二分容温度对所述目标超级电容器进行分容处理；

将分容处理后的超级电容器在第二静置温度下冷却第二预设静置时长。

6.根据权利要求5任一所述的方法，其特征在于，所述第一分容温度和所述第二分容温度的差值小于预设分容温度阈值，所述第一静置温度和所述第二静置温度的差值小于预设静置温度阈值，所述第一静置时长和所述第二静置时长的差值小于预设静置时长阈值。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取目标超级电容器，包括：

取初始超级电容器；

基于预设老化场景对所述取初始超级电容器进行老化处理，得到所述目标超级电容器。

8.一种超级电容器的老化性能测试装置，其特征在于，所述装置包括：

超级电容器获取模块，用于获取目标超级电容器；

分容开路电压获取模块，用于基于至少两个预设分容场景分别对所述目标超级电容器进行分容处理，并检测分容处理后超级电容器的开路电压，得到至少两个分容开路电压；

老化性能测试模块，用于基于各个所述分容开路电压的数值变化差异，确定所述目标超级电容器的目标老化性能测试结果。

9.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：

一个或多个处理器；

存储器，用于存储一个或多个程序；

当所述一个或多个程序被所述一个或多个处理器执行，使得所述一个或多个处理器实现如权利要求1-7中任一所述的超级电容器的老化性能测试方法。

10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现如权利要求1-7中任一所述的超级电容器的老化性能测试方法。