CN117131098A - 基于嵌入式设备的数据查找方法、装置、设备、测温方法 - Google Patents

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Abstract

本发明公开基于嵌入式设备的数据查找方法、装置、设备、测温方法,其中,基于嵌入式设备的数据查找方法,待查找的数据为a,查找范围包括有m个数据b,m个数据b分别赋予地址下标A;取自然数k,使得m≤2^k;当m不等于2^k时,增加i个数据b并进行地址下标A赋值,使得m+i=2^k;以2^k个数据b为运算范围,执行二分法查找数据b,并且,在执行二分法的过程中,当与数据a进行比较的数据b的地址下标A大于/等于m时,则判定数据a小于当前对比的数据b;通过增设i个数据b,使得运算范围正好等于2^k个数据b,这样提高了二分法的执行速度,减小了嵌入式设备的运算量,从而可以快速找到所需数据,基于这样的原理,可以实现快速测温的目的。

Description

基于嵌入式设备的数据查找方法、装置、设备、测温方法
技术领域
本发明涉及数据查找和测温技术领域,尤其是指基于嵌入式设备的数据查找方法、装置、设备、测温方法。
背景技术
通常,由于电机连续工作,使得电机发热过高,烧毁电机,传统的做法是通过降低电机的使用频率,保证电机不过热。然而这种做法有两个问题:一是没有充分发挥电机的性能,二是当环境温度过高时,电机哪怕低频次使用,依然会有烧毁情况发生。
在实际当中,也有使用温度传感器来监控电机的温度,在电机温度过高时,停止电机的工作,只有当电机温度在安全范围内时才允许电机工作,但在与一些电机生产厂家沟通后发现,改造现有电机,加装测温功能,要么成本巨大,要么厂家根本不愿意去做,并且,我们即使安装了温度传感器,也会因为电机结构的问题,测量的值有一定的延时与传导误差。
专利文献CN 102638150 A,公开了测量电机温度的方法,其主要原理是通过测量线圈当前工作的电阻值来得到当前温度,因为不同温度对应不同的电阻值,而控制部中具备表格,该表格用于根据测量到的当前电阻的两端电压来计算线圈的温度,这种方式,在不改变现有电机结构的基础上可快速精准的测量电机线圈当前温度。
但是,目前所能知道的测温方法,还是不够快速,所以基于上述情况,我们进行研究,从而得到快速测温的方法,并在这过程中得到数据快速查找的方法。
发明内容
有鉴于此,本发明针对现有技术存在之缺失,其主要目的是提供基于嵌入式设备的数据查找方法、装置、设备、测温方法,其能快速查找数据并实现快速测温。
为实现上述目的,本发明采用如下之技术方案:
第一方面,基于嵌入式设备的数据查找方法,设待查找的数据为a,
查找范围包括有m个数据b,m个数据b升序排列并分别赋予地址下标A,所述地址下标A按照自然数列赋值;
取自然数k,使得m≤2^k;
当m不等于2^k时,按照升序排列的规则增加i个数据b并继续按自然数列进行地址下标A赋值,使得m+i=2^k,从第0个数据b到第m-1个数据b共m个数据b真实存在于内存中,记作实表区,从第m个数据b到第(m+i-1)共i个数据b,其不存在于内存中,也不存在于任何地方,记作虚表区;
以2^k个数据b为运算范围,执行二分法查找数据b,并且,在执行二分法的过程中,当与数据a进行比较的数据b的地址下标A大于/等于m时,则判定数据a小于当前对比的数据b。
作为一种优选方案,所述k取符合条件的值中的最小值,以减小运算量。
第二方面,基于嵌入式设备的数据查找装置,用于执行第一方面所述的数据查找方法。
第三方面,嵌入式设备,包括第二方面所述的数据查找装置。
第四方面,基于嵌入式设备的导电体测温方法,
获取导电体的当前工作状态的电阻值r,其中,所述导电体在不同温度T下对应不同的电阻值r;
嵌入式设备中预设有m个数据组N,每一数据组N中包括有电阻值R和与该电阻值对应的温度值T,m个数据组N根据电阻值R的大小升序排列并分别赋予地址下标A,所述地址下标A按照自然数列赋值;
取自然数k,使得m≤2^k;
当m不等于2^k时,按照升序排列的规则增加i个数据组N并继续按自然数列进行地址下标A赋值并继续按照自然数列进行地址下标A赋值,使得m+i=2^k,从第0个数据组N到第m-1个数据组N共m个数据组N真实存在于内存中,记作实表区,从第m个数据组N到第(m+i-1)共i个数据组N,其不存在于嵌入式设备的内存中,也不存在于任何地方,记作虚表区;
以2^k个数据组N为运算范围,嵌入式设备执行二分法查找电阻值r,并且,在执行二分法的过程中,当与电阻值r进行比较的电阻值R的地址下标A大于/等于m时,则判定电阻值r小于当前对比的电阻值R;
当找到与电阻值r对应的电阻值R,即可根据该电阻值R得到对应的温度T。
第五方面,电机测温方法,与第四方面所述的基于嵌入式设备的导电体测温方法相同,其中,所述导电体为电机线圈。
本发明与现有技术相比具有明显的优点和有益效果,具体而言,由上述技术方案可知,其主要是如果查找范围的数据b的数量不等于2^k,那就增设虚表区,使得运算范围正好等于2^k个数据b,这样提高了二分法的执行速度,减小了嵌入式设备的运算量,从而可以快速找到所需数据,基于这样的原理,可以实现快速测温的目的(即快速找到与监测得到的电阻值r相应的温度T),如果运算范围不等于2^k个数据b,那嵌入式设备执行二分法的时候就会增加运算量,不能达到快速测温的目的。
为更清楚地阐述本发明的结构特征和功效,下面结合具体实施例来对本发明进行详细说明。
具体实施方式
为了使本发明的目的,技术方案及优点更加清楚明白,以下结合实施实例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
需要说明的是,当元件被称为“固定于”另一个元件,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。
实施例1,提供一种基于嵌入式设备的数据查找方法;
设待查找的数据为a;
查找范围包括有m个数据b,m个数据b升序排列并分别赋予地址下标A,所述地址下标A按照自然数列赋值;
取自然数k,使得m≤2^k;此处,优选的,所述k取符合条件的值中的最小值,以减小运算量;
当m不等于2^k时,按照升序排列的规则增加i个数据b并继续自然数列进行地址下标A赋值并继续按照自然数列进行地址下标A赋值,使得m+i=2^k,从第0个数据b到第m-1个数据b共m个数据b真实存在于内存中,记作实表区,从第m个数据b到第(m+i-1)共i个数据b,其不存在于内存中,也不存在于任何地方,记作虚表区;
以2^k个数据b为运算范围,执行二分法查找数据b,并且,在执行二分法的过程中,当与数据a进行比较的数据b的地址下标A大于/等于m时,则判定数据a小于当前对比的数据b。
这里,例举实际数据进行详细说明:
假设数据a=560;
假设m=700,则实表区有700个数据b,需要说明的是,这700个数据b的升序排列规则可以是(1,2,3,…700),也可以是(2,4,6,…1400),还可以是(2^1,2^2,2^3,…2^700),此处取实表区数据b=(1,2,3,…700);
由于2^9<700<2^10,故k可取大于等于10的自然数,此处为了减小运算量,取k=10;
为了使得m+i=2^k,故i=324,即虚表区的数据b有324个,按照前述实表区的数据b的升序规则进行排列,则虚表区的数据b=(701,702,703,…1024);
故m+i=2^k为700+324=2^10;
由于2^10=1024,故A=(0,1,2,3…1023);
将A和所有的数据b(即实表区和虚表区的数据b)对应形成表格如下:
A 数据b
0 1
1 2
2 3
………… …………
m+i-1 1024
之后,执行二分法在1024个数据b中找到数据a(560),并且,在执行二分法的过程中,当与数据a(560)进行比较的数据b的地址下标A大于/等于m时,则判定数据a(560)小于当前对比的数据b,因为数据b的地址下标A大于/等于m时,说明比较的是虚表区中的数据b,将其判定为数据a(560)小于当前对比的数据b,可以让二分法执行时将查找区间不断往实表区偏移,最后可以在实表区中找到数据a(560)。
另外,所述基于嵌入式设备的数据查找方法,可以适用在多个领域,不仅仅局限本申请中提到的电机测温领域,只要是涉及数据查找的领域,都可以适用。
实施例2,提供一种基于嵌入式设备的导电体测温方法,其与实施例1所述的方法类似,区别在于,实施例2查找的是数据组,具体如下;
获取导电体的当前工作状态的电阻值r,其中,所述导电体在不同温度T下对应不同的电阻值r;此处,是通过分别测量导电体的工作电压以及与导电体串联的外部电阻的工作电压,之后,利用两者的电压之比乘以外部电阻,即可获取当前电阻值r;
嵌入式设备中预设有m个数据组N,每一数据组N中包括有电阻值R和与该电阻值对应的温度值T,m个数据组N根据电阻值R的大小升序排列并分别赋予地址下标A,所述地址下标A按照自然数列赋值;
取自然数k,使得m≤2^k;
当m不等于2^k时,按照升序排列的规则增加i个数据组N并继续自然数列进行地址下标A赋值并继续按照自然数列进行地址下标A赋值,使得m+i=2^k,从第0个数据组N到第m-1个数据组N共m个数据组N真实存在于内存中,记作实表区,从第m个数据组N到第(m+i-1)共i个数据组N,其不存在于嵌入式设备的内存中,也不存在于任何地方,记作虚表区;
以2^k个数据组N为运算范围,嵌入式设备执行二分法查找电阻值r,并且,在执行二分法的过程中,当与电阻值r进行比较的电阻值R的地址下标A大于/等于m时,则判定电阻值r小于当前对比的电阻值R;
当找到与电阻值r对应的电阻值R,即可根据该电阻值R得到对应的温度T。
这里,例举实际数据进行详细说明:
假设电阻值r=300;
假设m=500,则实表区有500个数据组N,进一步,假设这500个数据组N中的电阻值R和温度T的对应情况如下:
(电阻值R,温度T)={(10,30),(20,30),(30,31),(40,32)…(5000,100)},此处,电阻值R需按照升序排列,而温度值T则与相应的电阻值R对应即可;
由于2^8<500<2^9,故k可取大于等于9的自然数,此处为了减小运算量,取k=9;
为了使得m+i=2^k,故i=12,即虚表区的数据组N有12组,按照前述实表区的数据组N的升序规则进行排列,则虚表区的数据组N为(电阻值R,温度T)={(5010,/),(5020,/),(5030,/),…(5120,/)};由于虚表区不是我们的实际所需数据,所以,虚表区的温度可以不设定;
故m+i=2^k为500+12=2^9;
由于2^9=512,故A=(0,1,2,3…511);
将A和所有的数据组N(即实表区和虚表区的数据组N)对应形成表格如下:
A 数据组N
0 (10,30)
1 (20,30)
2 (30,31)
………… …………
m+i-1 (5120,/)
之后,执行二分法,利用电阻值r(300)与数据组N中的电阻值R进行比较,在512个电阻值R中找到电阻值r(300),找到的电阻值R就对应着一个温度T,这样就可以确定当前电阻值下的电机温度了,并且,在执行二分法的过程中,当与电阻值r(300)进行比较的电阻值R的地址下标A大于/等于m时,则判定电阻值r(300)小于当前对比的电阻值R,因为电阻值R的地址下标A大于/等于m时,说明比较的是虚表区中的电阻值R,将其判定为电阻值r(300)小于当前对比的电阻值R,可以让二分法执行时将查找区间不断往实表区偏移,最后可以在实表区中找到电阻值r(300)。
实施例3,提供一种电机测温方法,与实施例2所述的基于嵌入式设备的导电体测温方法相同,这里不再赘述,其中,所述导电体为电机线圈。
以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的原则之内所作的任何修改,等同替换和改进等均应包含本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.基于嵌入式设备的数据查找方法,设待查找的数据为a,其特征在于:
查找范围包括有m个数据b,m个数据b升序排列并分别赋予地址下标A,所述地址下标A按照自然数列赋值;
取自然数k,使得m≤2^k;
当m不等于2^k时,按照升序排列的规则增加i个数据b并继续按自然数列进行地址下标A赋值,使得m+i=2^k,从第0个数据b到第m-1个数据b共m个数据b真实存在于内存中,记作实表区,从第m个数据b到第(m+i-1)共i个数据b,其不存在于内存中,也不存在于任何地方,记作虚表区;
以2^k个数据b为运算范围,执行二分法查找数据b,并且,在执行二分法的过程中,当与数据a进行比较的数据b的地址下标A大于/等于m时,则判定数据a小于当前对比的数据b。
2.根据权利要求1所述的基于嵌入式设备的数据查找方法,其特征在于:所述k取符合条件的值中的最小值,以减小运算量。
3.基于嵌入式设备的数据查找装置,其特征在于:用于执行权利要求1或2所述的数据查找方法。
4.嵌入式设备,其特征在于:包括权利要求3所述的数据查找装置。
5.基于嵌入式设备的导电体测温方法,其特征在于:
获取导电体的当前工作状态的电阻值r,其中,所述导电体在不同温度T下对应不同的电阻值r;
嵌入式设备中预设有m个数据组N,每一数据组N中包括有电阻值R和与该电阻值对应的温度值T,m个数据组N根据电阻值R的大小升序排列并分别赋予地址下标A,所述地址下标A按照自然数列赋值;
取自然数k,使得m≤2^k;
当m不等于2^k时,按照升序排列的规则增加i个数据组N并继续按自然数列进行地址下标A赋值并继续按照自然数列进行地址下标A赋值,使得m+i=2^k,从第0个数据组N到第m-1个数据组N共m个数据组N真实存在于内存中,记作实表区,从第m个数据组N到第(m+i-1)共i个数据组N,其不存在于嵌入式设备的内存中,也不存在于任何地方,记作虚表区;
以2^k个数据组N为运算范围,嵌入式设备执行二分法查找电阻值r,并且,在执行二分法的过程中,当与电阻值r进行比较的电阻值R的地址下标A大于/等于m时,则判定电阻值r小于当前对比的电阻值R;
当找到与电阻值r对应的电阻值R,即可根据该电阻值R得到对应的温度T。
6.电机测温方法,其特征在于,与权利要求5所述的基于嵌入式设备的导电体测温方法相同,其中,所述导电体为电机线圈。
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