CN117129770A - 一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法 - Google Patents
一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN117129770A CN117129770A CN202310944638.XA CN202310944638A CN117129770A CN 117129770 A CN117129770 A CN 117129770A CN 202310944638 A CN202310944638 A CN 202310944638A CN 117129770 A CN117129770 A CN 117129770A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- antenna
- field
- axis
- state
- compact
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 77
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 26
- 238000012937 correction Methods 0.000 title claims abstract description 11
- 238000010168 coupling process Methods 0.000 claims abstract description 4
- 238000005859 coupling reaction Methods 0.000 claims abstract description 4
- 230000008878 coupling Effects 0.000 claims abstract description 3
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 27
- 238000005070 sampling Methods 0.000 claims description 10
- 230000003595 spectral effect Effects 0.000 claims description 10
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 claims description 7
- 238000010586 diagram Methods 0.000 abstract description 9
- 230000000694 effects Effects 0.000 abstract description 8
- 238000012545 processing Methods 0.000 abstract description 5
- 238000009434 installation Methods 0.000 abstract description 4
- 230000009466 transformation Effects 0.000 abstract description 4
- 230000006835 compression Effects 0.000 abstract description 2
- 238000007906 compression Methods 0.000 abstract description 2
- 230000010287 polarization Effects 0.000 description 8
- 238000004422 calculation algorithm Methods 0.000 description 6
- 230000004044 response Effects 0.000 description 5
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 3
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 3
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 3
- 238000013519 translation Methods 0.000 description 3
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 2
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 2
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 description 1
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000005764 inhibitory process Effects 0.000 description 1
- 239000007769 metal material Substances 0.000 description 1
- 238000003801 milling Methods 0.000 description 1
- 230000000737 periodic effect Effects 0.000 description 1
- 230000008569 process Effects 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000010998 test method Methods 0.000 description 1
- 238000011179 visual inspection Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R29/00—Arrangements for measuring or indicating electric quantities not covered by groups G01R19/00 - G01R27/00
- G01R29/08—Measuring electromagnetic field characteristics
- G01R29/10—Radiation diagrams of antennas
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Electromagnetism (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Variable-Direction Aerials And Aerial Arrays (AREA)
Abstract
本发明公开了一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，包括如下步骤：进行第一次安装和场地校准，建立太赫兹紧缩场测试环境；得到天线第一状态下的远场方向图进行第二次安装和场地校准，得到天线第二状态下的远场方向图进行坐标变换，得到第一状态坐标系下的第二状态方向图得到去除紧缩场自身场地耦合的方向图本发明降低了由于太赫兹频段紧缩场反射面加工所形成的栅网效应对于待测天线方向图结果的影响，提高了太赫兹紧缩场测试天线的精度。
Description
技术领域
本发明涉及一种紧缩场测试测试栅瓣修正方法，特别是一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，属于天线测量技术领域。
背景技术
紧缩场作为天线测试家族的重要组成部分，在太赫兹领域也有着一席之地。与近场太赫兹频段对于机械精度要求相似(500GHz，平面近场0.012mm)，紧缩场的机械精度主要取决于形成平面波的反射面精度，一般反射面为金属材质，在加工时采用大块进行铣研，然后通过拼接校准的方式实现。
肉眼观察反射面如镜面的表面的一道道竖线条，其形成原因主要由于在加工中铣刀沿该方向进行扫描，沿垂直方向进行步进造成的。形成了um量级的起伏纹路，该纹路在频率较低时(300GHz)，对于静区性能不会产生过多影响，但是对于太赫兹较高频率，该结构就会由于其特殊的周期性结构形成了栅网效应，对方向图测试造成一定的影响。
发明内容
本发明解决的技术问题是：提供了一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，该方法利用现有测试设备对待测天线进行多次测试，通过数学算法，计算得到去除紧缩场自身耦合的方向图，实现了太赫兹紧缩场由于栅网效应所造成的影响的抑制效果。
本发明的技术解决方案是：
一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，包括如下步骤：
1)建立天线坐标系O’-X’Y’Z’和场地坐标系O-XYZ；其中，天线坐标系与待测天线的反射面固连；
2)令天线坐标系和场地坐标系的位置关系形成第一状态；建立太赫兹紧缩场测试环境；第一状态下，天线坐标系和场地坐标系中的三轴重合；
3)利用待测天线收发电磁波信号，进行数据采样；逐点完成待测天线第一状态的方向图测试，得到第一状态的方向图数据
4)将待测天线绕天线Z轴旋转90°，令天线坐标系和场地坐标系的位置关系形成第二状态；建立太赫兹紧缩场测试环境；天线Z轴与待测天线的反射面指向相同且过待测天线反射面的几何中点；
5)利用待测天线收发电磁波信号，进行数据采样；逐点完成待测天线第二状态的方向图测试，得到第二状态的方向图数据
6)将步骤5)获得的第二状态的方向图数据由天线坐标系转换到场地坐标系下；得到与第一状态相同坐标状态的第二状态方向图数据/>
7)根据步骤3)获得的第一状态的方向图数据和步骤6)获得的与第一状态相同坐标状态的第二状态方向图数据/>确定干扰波谱函数B(kx,ky)；
8)根据步骤7)确定的干扰波谱函数B(kx,ky)，添加紧缩场理想波束函数δ(kx,ky)，利用反卷积公式得到去除紧缩场耦合的方向图
优选地，建立场地坐标系O’-X’Y’Z’，具体为：
场地坐标系的原点O’位于待测天线反射面的几何中心；
场地Z’轴平行于待测天线转台的方位轴，场地Z’轴的正向指向来波方向；
场地Y’轴平行于待测天线转台的俯仰轴，场地Y’轴正向指向地心的反向；
建立待测天线坐标系O-XYZ，具体为：
XOY平面位于待测天线反射面内。
优选地，第一状态对应天线X轴与场地X’轴平行、天线Y轴与场地Y’轴平行、待测天线Z轴与场地Z’轴平行。
优选地，第二状态对应天线X轴与场地Y’轴平行、天线Y轴的正向指向场地X’轴负向、天线Z轴与场地Z’轴平行。
优选地，确定干扰波谱函数B(kx,ky)的方法，具体为：
其中，kaut-sll为待测天线主瓣宽度对应的波谱宽度，kx为天线X轴方向的波谱值，ky为天线Y轴方向的波谱值；B′(kx,ky)为含有栅瓣干扰的波谱函数；N为忽略测试底噪引起的杂散波谱的电平阈值；N根据太赫兹紧凑场系统方向图测试的动态范围确定；θ为天线Z轴与场地Z’轴之间的夹角；为天线Z轴在场地坐标系X’O’Y’面内的投影与场地X’轴之间的夹角。
优选地，N比太赫兹紧凑场系统方向图测试的动态范围小30dB。
优选地，得到去除紧缩场耦合的方向图的方法，具体为：
其中，deco为反卷积计算。
优选地，待测天线第一状态的方向图测试对应：θ取值范围-50，+50°，步长为0.1°，步长的取值范围为0.01°～2°；且保持零度不变；
优选地，待测天线第二状态的方向图测试对应：θ取值范围-50，+50°，步长为0.1°，步长的取值范围为0.01°～2°；且保持90°不变。
优选地，步骤3)和步骤5)中，方向图测试的数据采样间隔应小于Δmax；
Δmax由下式确定：
其中，θ3dB等于待测天线的3dB波束宽度。
本发明与现有技术相比的有益效果是：
(1)本发明利用普通紧缩场测试设备，无需增加额外硬件设备，仅通过数据处理计算得到去除太赫兹紧缩场反射面栅网效应影响的方向图数据，提高了天线的测试精度；
(2)本发明中的算法对于频率没有要求，不但可以用于太赫兹紧缩场，还可以推广至普通紧缩场，用于提升测试精度。
(3)本发明中的算法隐含了多次平均效应，能够在一定程度改善系统动态范围，进一步提升精度。
附图说明
图1为本发明方法步骤流程图；
图2(a)为待测天线第一状态坐标系架设状态示意图；
图2(b)为待测天线第二状态坐标系架设状态示意图；
图3为算法仿真验证对比图；
图4无算法实测验证对比图。
具体实施方式
下面结合附图和具体实施例对本发明做详细的说明，具体如下：
1、太赫兹紧缩场测试环境
太赫兹紧缩场包括：平面波生成装置、机械子系统、射频子系统和控制子系统组成。
平面波生成装置包括：反射面、紧缩场馈源。平面波生成装置用于将球面电磁波转换为准平面电磁波，将来波方向定义为Z轴。通过反射面的特殊形状，将紧缩场馈源发射的球面电磁波转换为准平面波，平面波所在的区域为静区。
机械子系统包括：馈源转台和待测天线转台。紧缩场馈源安置于馈源转台上，用于天线测试时馈源的转动，可以用来改变反射电磁波的极化。待测天线状态主要用于承载待测天线，以及改变测试时待测天线的姿态。待测天线转台设置有平行水平面的方位旋转轴、垂直于水平面的俯仰旋转轴、以及与方位旋转轴、俯仰旋转轴分别正交的极化旋转轴组成。
选择与待测天线收发频段对应的紧缩场馈源组成平面波生成装置，并安装在机械子系统的紧缩场馈源转台上。
射频子系统产生、发射、采集所需要测试频段的电磁波信号，控制子系统负责协同各个硬件进行自动化工作并进行采集数据的存储和分析。
一般待测天线转台设置有平行水平面的方位轴、垂直于水平面的俯仰轴、以及与方位轴、俯仰轴分别正交的极化轴组成。
待测天线坐标系：O-XYZ；待测天线转台坐标系：O1-X1 Y1 Z1；
初始状态下，Z1轴与极化轴重合，Y1轴与方位轴重合，X1轴与俯仰轴重合。
通过校准，可以使待测天线坐标系和待测天线转台坐标系两个坐标系中的三轴对应平行，故可以将两个坐标系合并，用待测天线坐标系来代表待测天线转台坐标系。
建立场地坐标系O’-X’Y’Z’：
场地坐标系的原点O’位于平面波生成装置中反射面的几何中心；
场地Z’轴平行于待测天线转台的方位轴，场地Z’轴的正向指向来波方向；
场地Y’轴平行于待测天线转台的俯仰轴，场地Y’轴正向指向地心的反向；
建立待测天线坐标系O-XYZ：
天线Z轴与天线指向相同且过平面波生成装置中反射面的几何中点；
XOY平面位于待测天线反射面内。
测试时通过旋转待测天线转台改变待测天线坐标系相对于场地坐标系的位置关系，形成夹角，获得不同角度的方向图测试数据。
一般测试均需要进行场地校准，场地校准即将待测天线坐标系与场地坐标系建立确定关系或调整为三轴对应平行，如图2(a)所示。调整过程可以借助于经纬仪、激光跟踪仪等机械测量设备。
2、紧缩场一般天线的具体步骤如下：
(1)按照紧缩场测试方法将待测天线进行安装和场地校准，建立紧缩场测试环境；
(2)设定扫描范围、采样间隔、测试频率，所述扫描范围为对应天线方向图所需要考察的范围；所述采样间隔为天线方向图采集的位置密度，一般要求为不大于波束宽度的的十分之一，如天线方向图波束宽度0.1度，采样间隔设置不能大于0.01度。测试频率为天线标称频率工作范围内的典型频率值，这些频率可以是等间隔的也可以是非等间距的，例如，当天线频率范围为325GHz～500GHz时，为该天线所要测试频率组成的列表，如：325GHz、412.5GHz、500GHz等；
(3)操作控制子系统进行待测天线方向图测试。
(4)进行所需要测试结果的处理与结果输出。
3、紧缩场方向图测试栅瓣修正算法
根据紧缩场测试原理可知，紧缩场其实为一副天线，紧缩场测试所使用的其实为紧缩场天线的近场区域，故天线测试的响应为紧缩场近场波谱与待测天线方向图的积分。
式中
——紧缩场自身方向图；
B(kx,ky)——紧缩场波谱函数；
——波谱函数系数；
——紧缩场测试结果方向图；
——待测天线真实方向图；
理想情况下因为紧缩场静区同一个Z坐标上的幅度和相位均为常数(平面波)，不考虑系数则为1，即故波谱函数为冲击函数B(kx,ky)＝δ(kx,ky)。
所以紧缩场与待测天线的响应即为待测天线自身方向图。
若紧缩场波谱中不仅包含有理想紧缩场的波谱还有栅网结构和其他原因导致的波谱，则得到的待测天线方向图就包含了紧缩场自身的耦合响应。
若能够求得栅网的干扰波谱B1(kx,ky)，通过上式的反运算即可求得待测天线的理想方向图。
可以利用波谱函数能量为正的特点，在不考虑相位的情况下可以通过下式求解干扰波谱，对于相位的影响可以认为是幅度波谱的矢量叠加后的整体效果，所以也无需考虑相位。
设天线第一状态测试响应：
天线第二状态测试响应，同时通过坐标变换得到同样坐标系下，对于同一个待测天线，自身的方向图不会随着测试次数的不同有改变，故：
第一状态对应：θ取值范围-50，+50°，步长为0.1°，步长的取值范围为0.01°～2°；且保持0°不变；
驱动待测天线转台带动待测天线绕待测天线坐标系Z轴旋转90°；
第二状态对应：θ取值范围-50，+50°，步长为0.1°，步长的取值范围为0.01°～2°；且保持90°不变。
对(式8)与(式9)做差并取绝对值，因为幅度波谱均为正值，且干扰波谱落在同一个位置上的概率极低，可以认为两个状态的干扰波谱没有重合的部分，故得到(式10)。
通过(式8)与(式9)求和，得到两个状态的方向图结果(式11)。
通过对(式11)的观察可以看出与(式10)相比仅仅添加了冲击函数，故将(式10)所得结果的离散波谱中添加冲击函数，然后对其求反卷积即可得到待测天线修正后方向图
基于上述原理分析，本发明提出了一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，结合图1流程具体为：
(1)、对待测天线进行第一状态下的安装和场地校准，建立太赫兹紧缩场测试环境。其中，太赫兹紧缩场由平面波生成装置、机械子系统、射频子系统、控制子系统组成。平面波生成装置将球面电磁波转换为准平面电磁波，来波方向一般定义为Z轴。机械子系统主要包含馈源转台和待测天线转台。一般待测天线转台由方位、俯仰、极化以及底部的平移四轴组成。待测天线安装在待测天线转台上，场地校准将待测天线坐标系与场地坐标系建立确定关系或调整为三轴对应平行即待测天线X轴与场地X’轴平行、待测天线Y轴与场地Y’轴平行、待测天线Z轴与场地Z’轴平行，如图2(a)所示。选择对应频率的紧缩场馈源安装在紧缩场馈源转台上。
(2)、利用紧缩场控制子系统自动转动转台并控制射频发射信号，同时进行数据采集与记录，逐点完成待测天线第一状态的方向图测试，得到第一状态的方向图数据为天线Z轴与场地Z’轴之间的夹角；为天线Z轴在场地坐标系X’O’Y’面投影与场地X’轴之间的夹角。
(3)、参考步骤(1)，对待测天线进行第二状态安装和场地校准，可以直接利用待测天线极化轴旋转90度，然后再进行场地校准，这样可以不需要对待测天线进行重新安装。场地校准将待测天线坐标系与场地坐标系建立确定关系或调整为三轴对应平行即待测天线X轴与场地Y轴平行、待测天线Y轴正向指向场地X轴负向、待测天线Z轴与场地Z轴平行，如图2(b)所示。利用待测天线转台平移轴将天线放置于与第一状态尽量相同的静区位置(即保证两坐标系的三轴平行，原点重合)，若位置基本一致可不进行平移操作。
(4)、参照步骤(2)，对待测天线进行第二状态的方向图测试，得到第二状态的方向图数据
(5)、利用坐标变换对步骤(4)所得到的结果进行运算，得到与第一状态相同坐标状态的方向图数据
(6)利用步骤(2)和步骤(5)得到的方向图数据通过下式进行计算，得到干扰波谱函数B(kx,ky)，因为实际测试时有底噪、环境等干扰，计算时需要将小信号波谱滤除。
式中kaut-sll为待测天线主瓣宽度对应的波谱宽度，N为忽略测试底噪引起的杂散波谱的电平阈值。N的取值一般为40dB。主要取决于太赫兹紧凑场系统方向图测试的动态范围，若动态范围较差，可以适当降低该值，若动态范围较好可以适当提升该值，一般原则为N值比动态范围小30dB，选这个规律，能覆盖大部分工程需求。即动态范围为70dB时N取40dB。B′(kx,ky)为含有栅瓣干扰的波谱函数。
kx为天线坐标系X轴方向的波谱值，ky为天线坐标系Y轴方向的波谱值。
(7)添加紧缩场理想波束函数δ(kx,ky)利用反卷积公式得到去除紧缩场耦合的方向图
式中deco为反卷积计算。
步骤(2)和(4)测试的方向图采样间隔应小于Δmax；
其中，Δmax由下式确定：
式中θ3dB等于待测天线的3dB波束宽度。
步骤(3)中采用待测天线转台极化轴旋转90度是因为方向图测试一般进行和/>两个切面的测试居多，旋转90度第二状态对应/>和/>刚好对应第一状态坐标系下的/>和/>方便计算。旋转角度若不是90度，则需要进行相应的角度变换，且测试的切线位置也需要进行一一对应。
图2(a)待测天线与待测天线转台固连，待测天线坐标系与场地坐标系三轴对应平行。假设该状态下测试旋转方位轴得到方向图数据对应Theta为-50到50，间隔1度，对应101个方向图数据。此时的Phi为0度。
图2(b)待测天线使用待测转台极化轴进行旋转，旋转顺时针90度，则待测天线坐标系与场地坐标系关系就发生变化，形成了Z轴对应Z’轴，X轴对应Y’轴，Y轴对应X’轴。此状态需要旋转俯仰轴，以达到与第一状态数据对应的效果。此时方向图对应的Phi为90度。
图3为仿真验证结果，点线为第一状态方向图测试结果，横点线为状态2经过坐标变化后的方向图测试结果，可以看出在两者结果在±1度和±3度方向图结果出现了不一致性，该不一致即由栅网结构导致。实线带点的线为修正结果，实线带三角的为没有栅网结构影响的方向图结果。修正后结果的重合性验证该方法的有效性。
图4为实测结果，虚线为第一状态方向图测试结果，实线为第二状态经过坐标变化后的方向图测试结果，可以看出在多处均有不一致的地方。点线为修正结果。
本发明虽然已以较佳实施例公开如上，但其并不是用来限定本发明，任何本领域技术人员在不脱离本发明的精神和范围内，都可以利用上述揭示的方法和技术内容对本发明技术方案做出可能的变动和修改，因此，凡是未脱离本发明技术方案的内容，依据本发明的技术实质对以上实施例所作的任何简单修改、等同变化及修饰，均属于本发明技术方案的保护范围。在不冲突的情况下，本申请实施例以及实施例中的技术特征可以相互组合。
本发明说明书中未作详细描述的内容属本领域技术人员的公知技术。
Claims (10)
1.一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，包括如下步骤：
1)建立天线坐标系O’-X’Y’Z’和场地坐标系O-XYZ；其中，天线坐标系与待测天线的反射面固连；
2)令天线坐标系和场地坐标系的位置关系形成第一状态；建立太赫兹紧缩场测试环境；第一状态下，天线坐标系和场地坐标系中的三轴重合；
3)利用待测天线收发电磁波信号，进行数据采样；逐点完成待测天线第一状态的方向图测试，得到第一状态的方向图数据
4)将待测天线绕天线Z轴旋转90°，令天线坐标系和场地坐标系的位置关系形成第二状态；建立太赫兹紧缩场测试环境；天线Z轴与待测天线的反射面指向相同且过待测天线反射面的几何中点；
5)利用待测天线收发电磁波信号，进行数据采样；逐点完成待测天线第二状态的方向图测试，得到第二状态的方向图数据
6)将步骤5)获得的第二状态的方向图数据由天线坐标系转换到场地坐标系下；得到与第一状态相同坐标状态的第二状态方向图数据/>
7)根据步骤3)获得的第一状态的方向图数据和步骤6)获得的与第一状态相同坐标状态的第二状态方向图数据/>确定干扰波谱函数B(kx,ky)；
8)根据步骤7)确定的干扰波谱函数B(kx,ky)，添加紧缩场理想波束函数δ(kx,ky)，利用反卷积公式得到去除紧缩场耦合的方向图
2.根据权利要求1所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，建立场地坐标系O’-X’Y’Z’，具体为：
场地坐标系的原点O’位于待测天线反射面的几何中心；
场地Z’轴平行于待测天线转台的方位轴，场地Z’轴的正向指向来波方向；
场地Y’轴平行于待测天线转台的俯仰轴，场地Y’轴正向指向地心的反向；
建立待测天线坐标系O-XYZ，具体为：
XOY平面位于待测天线反射面内。
3.根据权利要求2所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，第一状态对应天线X轴与场地X’轴平行、天线Y轴与场地Y’轴平行、待测天线Z轴与场地Z’轴平行。
4.根据权利要求3所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，第二状态对应天线X轴与场地Y’轴平行、天线Y轴的正向指向场地X’轴负向、天线Z轴与场地Z’轴平行。
5.根据权利要求4所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，确定干扰波谱函数B(kx,ky)的方法，具体为：
其中，kaut-sll为待测天线主瓣宽度对应的波谱宽度，kx为天线X轴方向的波谱值，ky为天线Y轴方向的波谱值；B′(kx,ky)为含有栅瓣干扰的波谱函数；N为忽略测试底噪引起的杂散波谱的电平阈值；N根据太赫兹紧凑场系统方向图测试的动态范围确定；θ为天线Z轴与场地Z’轴之间的夹角；为天线Z轴在场地坐标系X’O’Y’面内的投影与场地X’轴之间的夹角。
6.根据权利要求5所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，N比太赫兹紧凑场系统方向图测试的动态范围小30dB。
7.根据权利要求6所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，得到去除紧缩场耦合的方向图的方法，具体为：
其中，deco为反卷积计算。
8.根据权利要求5～7任意之一所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，待测天线第一状态的方向图测试对应：θ取值范围-50，+50°，步长为0.1°，步长的取值范围为0.01°～2°；且保持零度不变。
9.根据权利要求8所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，待测天线第二状态的方向图测试对应：θ取值范围-50，+50°，步长为0.1°，步长的取值范围为0.01°～2°；且保持90°不变。
10.根据权利要求8所述的一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法，其特征在于，步骤3)和步骤5)中，方向图测试的数据采样间隔应小于Δmax；
Δmax由下式确定：
其中，θ3dB等于待测天线的3dB波束宽度。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310944638.XA CN117129770A (zh) | 2023-07-28 | 2023-07-28 | 一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310944638.XA CN117129770A (zh) | 2023-07-28 | 2023-07-28 | 一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117129770A true CN117129770A (zh) | 2023-11-28 |
Family
ID=88853619
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310944638.XA Pending CN117129770A (zh) | 2023-07-28 | 2023-07-28 | 一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117129770A (zh) |
-
2023
- 2023-07-28 CN CN202310944638.XA patent/CN117129770A/zh active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| JP6337030B2 (ja) | Ｍａｓｓｉｖｅ−ＭＩＭＯアンテナ測定装置およびその指向性測定方法 | |
| Kassim et al. | The 74 MHz system on the very large array | |
| CN109581279B (zh) | 一种超宽带多波束系统测向精度的校正方法及装置 | |
| US8330661B2 (en) | System and method for measuring antenna radiation pattern in Fresnel region based on phi-variation method | |
| CN110618408B (zh) | 一种精密测距系统天线相位中心的系统标定方法 | |
| RU2291464C2 (ru) | Способ измерения угла места целей при наличии отражений принимаемого эхосигнала от земной поверхности и импульсная наземная трехкоординатная радиолокационная станция для его реализации | |
| US5432523A (en) | Elliptical near field test facility | |
| CN113381187B (zh) | 球面相控阵天线坐标远近场比较修正方法 | |
| CN111366793B (zh) | 一种减小截断误差的平面天线近场测量方法及系统 | |
| CN107783092A (zh) | 基于链条关系式的近场后向rcs测量系统及方法 | |
| CN104515909A (zh) | 一种基于相关法的大天线方向图测量方法 | |
| CN110907904A (zh) | 一种太阳法方位波束宽度修正方法 | |
| JP6678554B2 (ja) | アンテナ測定装置 | |
| CN113239524A (zh) | 基于移动旋转参考系仿真计算电扫阵列天线相位中心方法 | |
| Culotta-López et al. | On the uncertainty sources of drone-based outdoor far-field antenna measurements | |
| US6288683B1 (en) | Antenna mirror surface measuring/adjusting device | |
| CN117129770A (zh) | 一种大型紧缩场太赫兹天线测试栅瓣修正方法 | |
| JP2010237069A (ja) | レーダ反射断面積計測装置 | |
| Brinegar | Passive direction finding: combining amplitude and phase based methods | |
| CN114994597A (zh) | 一种基于均匀圆阵的干涉仪测向方法 | |
| CN115639513A (zh) | 一种用于等效全向辐射功率测试的快速高效阵列波束偏角校准方法 | |
| CN110532631B (zh) | 基于信道容量灵敏度的6g通信天线阵元位置公差确定方法 | |
| CN114996965A (zh) | 一种小口径低频段阵列搭建及测向校准方法 | |
| CN111965602B (zh) | 一种相控阵雷达幅相一致性检测方法和系统 | |
| Moch et al. | Pointwise probe correction applied to a robot-based mm-wave antenna test range |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |