CN117076814A - 基于光弹调制器的波长数据处理方法、装置、设备及介质 - Google Patents
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Abstract
本申请涉及光学测量技术领域，揭示了基于光弹调制器的波长数据处理方法、装置、设备及介质。该方法包括：获取光的参考波长，以及参考波长相对于光弹晶体的第一压力光学系数；计算参考波长的标准相位延迟量，作为参考相位延迟量；获取光的待修正波长，以及待修正波长相对于光弹晶体的第二压力光学系数，待修正波长为除参考波长之外的波长；根据参考波长、第一压力光学系数、参考相位延迟量、待修正波长，以及第二压力光学系数，计算待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量；获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于理论相位延迟量，修正实际相位延迟量。本申请不再局限于如传统方法一样需要选择最小波长，因此适用范围更加广泛。
Description
技术领域
本申请涉及光学测量技术领域，特别地，涉及基于光弹调制器的波长数据处理方法、装置、设备及介质。
背景技术
目前多通道光弹调制器波长修正主要采用多项式拟合算法来实现。多通道光弹调制器测量系统通常由光学测量模块和信号处理模块两部分组成，其中光学测量模块由光源、起偏器、光弹调制器、检偏器组成，共同完成对入射光偏振态的调制；信号处理模块由光电探测器、光弹调制器控制器和计算机组成。其基本原理是使光弹调制器工作在稳定状态下，对激光器产生的入射信号光进行调制，然后通过光强探测器所测得的调制光强信号,获取所需信号参数后，利用光学模型对相位延迟进行校正，在控制电压为固定值的情况下，选择最小波长为参考波长，确定其实际相位延迟量，根据多项式拟合算法修正其他波长所对应的相位延时。
现有的多通道光弹调制器波长修正算法，需要采取最小波长为参考波长，如果测量波长小于参考波长时，对应修正的相位延迟和实际的相位延迟相差较大，测量结果有较大的误差。产生此现象的原因是应力在光弹调制器通光区域的非均匀空间分布会对相位延迟产生一定影响，此现象在紫外光区域比红外光区域更加明显。另外，传统的波长修正算法多采用多项式拟合的方法，该方法要处理较多的光谱数据，而且产生了较大误差。
发明内容
本申请的目的在于提供基于光弹调制器的波长数据处理方法、装置、设备及介质，不再局限于选择最小波长，因此适用范围更加广泛。
本申请的其他特性和优点将通过下面的详细描述变得显然，或部分地通过本申请的实践而习得。
根据本申请实施例的一个方面，提供了一种基于光弹调制器的波长数据处理方法，所述光弹调制器包括光弹晶体，所述方法包括：获取光的参考波长，以及所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；计算所述参考波长的标准相位延迟量，作为参考相位延迟量；获取光的待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数，所述待修正波长为除所述参考波长之外的波长；根据所述参考波长、所述第一压力光学系数、所述参考相位延迟量、所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量；获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量。
根据本申请的一些实施例，通过如下公式计算所述参考波长的标准相位延迟量：
其中，δ0表示所述参考波长的标准相位延迟量；d表示所述光弹晶体的厚度；λ0表示参考波长；C(λ0)表示所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数。
根据本申请的一些实施例，所述计算所述待修正波长的标准相位延迟量，包括：
通过最小二乘算法模型计算所述待修正波长的标准相位延迟量。
根据本申请的一些实施例，所述最小二乘算法模型，包括：
其中，δ表示所述待修正波长的标准相位延迟量；δ0表示所述参考波长的标准相位延迟量；λ0表示参考波长；C(λ0)表示所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；λ表示待修正波长；C(λ)表示所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数。
根据本申请的一些实施例，所述基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量，包括：基于所述理论相位延迟量和所述实际相位延迟量，计算所述待修正波长的相位延迟误差值；基于所述相位延迟误差值，修正所述实际相位延迟量。
根据本申请的一些实施例，所述基于所述相位延迟误差值，修正所述实际相位延迟量，包括：如果所述相位延迟误差值的绝对值大于设定阈值，则基于所述相位延迟误差值，所述实际相位延迟量进行误差补偿；如果所述相位延迟误差值的绝对值小于或等于设定阈值，则不对所述实际相位延迟量进行修正。
根据本申请的一些实施例，在基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量之后，所述方法还包括：基于所述参考波长的理论相位延迟量，以及经过相位延迟量修正后的待修正波长的相位延迟量，并行测量光的全光谱信号。
根据本申请实施例的一个方面，提供了一种基于光弹调制器的波长数据处理装置，所述光弹调制器包括光弹晶体，所述装置包括：第一获取单元，用于获取光的参考波长，以及所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；第一计算单元，用于计算所述参考波长的标准相位延迟量，作为参考相位延迟量；第二获取单元，用于获取光的待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数，所述待修正波长为除所述参考波长之外的波长；第二计算单元，用于根据所述参考波长、所述第一压力光学系数、所述参考相位延迟量、所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量；修正单元，用于获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量。
根据本申请实施例的一个方面，提供了一种计算机可读介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上述实施例中所述的基于光弹调制器的波长数据处理方法。
根据本申请实施例的一个方面，提供了一种电子设备，包括：一个或多个处理器；存储器，用于存储所述处理器的可执行指令，当所述可执行指令被所述一个或多个处理器执行时，使得所述一个或多个处理器实现如上述实施例中所述的基于光弹调制器的波长数据处理方法。
由以上本申请的技术方案，与现有技术相比，其显著的有益效果在于：
(1)修正过程中，考虑压力光学系数对波长的影响后，可选取任意波长为参考波长，不需要选取最小波长为参考波长，现有波长修正算法在波长小于参考波长时，会导致真实的相位延迟与参考值不一致，会导致光谱形状出现失真，形成伪波峰或者波谷，降低测量精度。
(2)考虑了压力光学系数，光弹晶体厚度，折射率等参数，使得算法不仅在可见光和近红外区域有效，而在紫外区域也能正常工作。
(3)采用最小二乘算法，提高了测量系统精度，对误差进行了验证，排除了偶然性因素对测量精度的影响。
应当理解的是，以上的一般描述和后文的细节描述仅是示例性和解释性的，并不能限制本申请。
附图说明
通过参照附图详细描述其示例性实施例，本申请的上述和其它特征及优点将变得更加明显。
图1示出了根据本申请一个实施例的流程图；
图2示出了根据本申请一个实施例的实验光路图；
图3示出了根据本申请一个实施例的基于光弹调制器的波长数据处理装置简图；
图4示出了根据本申请一个实施例的电子设备的计算机系统的结构示意图。附图标记说明如下：1、光弹调制器；2、激光光源；3、起偏器；4、检偏器；5、光强采集模块；6、数据处理器。
具体实施方式
现在将参考附图更全面地描述示例实施方式。然而，示例实施方式能够以多种形式实施，且不应被理解为限于在此阐述的范例；相反，提供这些实施方式使得本申请将更加全面和完整，并将示例实施方式的构思全面地传达给本领域的技术人员。
此外，所描述的特征、结构或特性可以以任何合适的方式结合在一个或更多实施例中。在下面的描述中，提供许多具体细节从而给出对本申请的实施例的充分理解。然而，本领域技术人员将意识到，可以实践本申请的技术方案而没有特定细节中的一个或更多，或者可以采用其它的方法、组元、装置、步骤等。在其它情况下，不详细示出或描述公知方法、装置、实现或者操作以避免模糊本申请的各方面。
附图中所示的方框图仅仅是功能实体，不一定必须与物理上独立的实体相对应。即，可以采用软件形式来实现这些功能实体，或在一个或多个硬件模块或集成电路中实现这些功能实体，或在不同网络和/或处理器装置和/或微控制器装置中实现这些功能实体。
附图中所示的流程图仅是示例性说明，不是必须包括所有的内容和操作/步骤，也不是必须按所描述的顺序执行。例如，有的操作/步骤还可以分解，而有的操作/步骤可以合并或部分合并，因此实际执行的顺序有可能根据实际情况改变。
根据一些实施例，如图1-2所示，本申请提供一种基于光弹调制器的波长数据处理方法，所述光弹调制器1包括光弹晶体，所述方法包括：
步骤101，获取光的参考波长，以及所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；步骤102，计算所述参考波长的标准相位延迟量，作为参考相位延迟量；步骤103，获取光的待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数，所述待修正波长为除所述参考波长之外的波长；步骤104，根据所述参考波长、所述第一压力光学系数、所述参考相位延迟量、所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量；步骤105，获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量。
基于上述实施例，如图2所示，在步骤101中，激光光源2工作后产生稳定的激光发送至起偏器3，激光经过起偏器3后变为线偏振光，线偏振光通过光弹调制器1进行相位调制后再经过检偏器4，其中，光经过检偏器4后，沿检偏器4光轴方向的偏振分量可以透过，其他光不能通过，通过检偏器4之后的光被光强采集模块5转换成电信号并上传到数据处理器6进行分析处理。数据处理器6获取任意光的波长作为参考波长，以及获取参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数，第一压力光学系数为随参考波长变化的常数。
在步骤102中，通过参考波长计算出最大相位延迟作为标准相位延迟量，该标准相位延迟量作为参考相位延迟量。
在步骤103中，数据处理器6通过光强采集模块5获取参考波长之外的其他光，并获取其他光的波长作为待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数。
在步骤104中，根据所述参考波长、所述第一压力光学系数、所述参考相位延迟量、所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，建立最小二乘算法模型，根据最小二乘算法模型计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量。
在步骤105中，数据处理器6通过光强采集模块5获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量。
相较于传统的方法，本申请的优势在于：(1)修正过程中，考虑压力光学系数对波长的影响后，可选取任意波长为参考波长，不需要选取最小波长为参考波长，现有波长修正算法在波长小于参考波长时，会导致真实的相位延迟与参考值不一致，会导致光谱形状出现失真，形成伪波峰或者波谷，降低测量精度。
(2)考虑了压力光学系数，光弹晶体厚度，折射率等参数，使得算法不仅在可见光和近红外区域有效，而在紫外区域也能正常工作。
(3)采用最小二乘算法，提高了测量系统精度，对误差进行了验证，排除了偶然性因素对测量精度的影响。
根据一些实施例，通过如下公式计算所述参考波长的标准相位延迟量：
其中，δ0表示所述参考波长的标准相位延迟量；d表示所述光弹晶体的厚度；λ0表示参考波长；C(λ0)表示所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数。其中，压力光学系数，又称光弹性系数，是材料的特性常数。指是透明材料在受力后，会出现各项异性产生双折射现象。
根据一些实施例，所述最小二乘算法模型，包括：
其中，δ表示所述待修正波长的标准相位延迟量；δ0表示所述参考波长的标准相位延迟量；λ0表示参考波长；C(λ0)表示所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；λ表示待修正波长；C(λ)表示所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数。
根据一些实施例，所述基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量，包括：基于所述理论相位延迟量和所述实际相位延迟量，计算所述待修正波长的相位延迟误差值；基于所述相位延迟误差值，修正所述实际相位延迟量。
基于上述实施例，所述基于所述相位延迟误差值，修正所述实际相位延迟量，包括：如果所述相位延迟误差值的绝对值大于设定阈值，则基于所述相位延迟误差值，所述实际相位延迟量进行误差补偿；如果所述相位延迟误差值的绝对值小于或等于设定阈值，则不对所述实际相位延迟量进行修正。其中，设定阈值可根据实际需求改变阈值大小。
根据一些实施例，在基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量之后，所述方法还包括：基于所述参考波长的理论相位延迟量，以及经过相位延迟量修正后的待修正波长的相位延迟量，并行测量光的全光谱信号。
在一些实施例中，光强采集模块5采集到的信号，首先传输到带通滤波器，滤波器由一系列滤波算法组成，可根据实际情况选择不同的滤波参数，如滤波范围、计算精度和处理速度等，来改变滤波器性能，滤除非感兴趣区域的信号，随后通过快速傅里叶变换模块(fast Fourier transform,FFT)对信号做频谱分析，然后从信号的频谱信号中提取倍频信号的频谱信息。提取频谱信号信息后，需要对每个波长对应的相位延迟进行修正。输出修正后的参数，判断误差大小，满足精度要求后，输出修正后的相位延迟。
以下介绍本申请的装置实施例，可以用于执行本申请上述实施例中的基于光弹调制器的波长数据处理方法。
图3示出了本申请一个实施例中基于光弹调制器的波长数据处理装置的简图，所述光弹调制器1包括光弹晶体，所述基于光弹调制器的波长数据处理装置200包括：第一获取单元201，用于获取光的参考波长，以及所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；第一计算单元202，用于计算所述参考波长的标准相位延迟量，作为参考相位延迟量；第二获取单元203，用于获取光的待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数，所述待修正波长为除所述参考波长之外的波长；第二计算单元204，用于根据所述参考波长、所述第一压力光学系数、所述参考相位延迟量、所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量；修正单元205，用于获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量。
基于上述实施例，如图2所示，在第一获取单元201中，激光光源2工作后产生稳定的激光发送至起偏器3，激光经过起偏器3后变为线偏振光，线偏振光通过光弹调制器1进行相位调制后再经过检偏器4，其中，光经过检偏器4后，沿检偏器4光轴方向的偏振分量可以透过，其他光不能通过，通过检偏器4之后的光被光强采集模块5转换成电信号并上传到数据处理器6进行分析处理。数据处理器6获取任意光的波长作为参考波长，以及获取参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数，第一压力光学系数为随参考波长变化的常数。
在第一计算单元202中，通过参考波长计算出最大相位延迟作为标准相位延迟量，该标准相位延迟量作为参考相位延迟量。
在第二获取单元203中，数据处理器6通过光强采集模块5获取参考波长之外的其他光，并获取其他光的波长作为待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数。
在第二计算单元204中，根据所述参考波长、所述第一压力光学系数、所述参考相位延迟量、所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，建立最小二乘算法模型，根据最小二乘算法模型计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量。
在修正单元205中，数据处理器6通过光强采集模块5获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量。
相较于传统的装置，本申请的优势在于：(1)修正过程中，考虑压力光学系数对波长的影响后，可选取任意波长为参考波长，不需要选取最小波长为参考波长，现有波长修正算法在波长小于参考波长时，会导致真实的相位延迟与参考值不一致，会导致光谱形状出现失真，形成伪波峰或者波谷，降低测量精度。
(2)考虑了压力光学系数，光弹晶体厚度，折射率等参数，使得算法不仅在可见光和近红外区域有效，而在紫外区域也能正常工作。
(3)采用最小二乘算法，提高了测量系统精度，对误差进行了验证，排除了偶然性因素对测量精度的影响。
图4示出了适于用来实现本申请实施例的电子设备的计算机系统的结构示意图。
需要说明的是，图4示出的电子设备的计算机系统300仅是一个示例，不应对本申请实施例的功能和使用范围带来任何限制。
如图4所示，计算机系统300包括中央处理单元(Central Processing Unit，CPU)301，其可以根据存储在只读存储器(Read-Only Memory，ROM)302中的程序或者从储存部分308加载到随机访问存储器(Random Access Memory，RAM)303中的程序而执行各种适当的动作和处理，例如执行上述实施例中所述的基于光弹调制器的波长数据处理方法。在RAM303中，还存储有系统操作所需的各种程序和数据。CPU301、ROM302以及RAM303通过总线304彼此相连。输入/输出(Input/Output，I/O)接口305也连接至总线304。
以下部件连接至I/O接口305：包括键盘、鼠标等的输入部分306；包括诸如阴极射线管(Cathode Ray Tube，CRT)、液晶显示器(Liquid Crystal Display，LCD)等以及扬声器等的输出部分307；包括硬盘等的储存部分308；以及包括诸如LAN(Local Area Network，局域网)卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分309。通信部分309经由诸如因特网的网络执行通信处理。驱动器310也根据需要连接至I/O接口305。可拆卸介质311，诸如磁盘、光盘、磁光盘、半导体存储器等等，根据需要安装在驱动器310上，以便于从其上读出的计算机程序根据需要被安装入储存部分308。
特别地，根据本申请的实施例，上文参考流程图描述的过程可以被实现为计算机软件程序。例如，本申请的实施例包括一种计算机程序产品，其包括承载在计算机可读介质上的计算机程序，该计算机程序包含用于执行流程图所示的方法的程序代码。在这样的实施例中，该计算机程序可以通过通信部分309从网络上被下载和安装，和/或从可拆卸介质311被安装。在该计算机程序被中央处理单元(CPU)301执行时，执行本申请的系统中限定的各种功能。
需要说明的是，本申请实施例所示的计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质或者是上述两者的任意组合。计算机可读存储介质例如可以是——但不限于——电、磁、光、电磁、红外线、或半导体的系统、装置或器件，或者任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子可以包括但不限于：具有一个或多个导线的电连接、便携式计算机磁盘、硬盘、随机访问存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦式可编程只读存储器(Erasable Programmable Read Only Memory，EPROM)、闪存、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(Compact Disc Read-Only Memory，CD-ROM)、光存储器件、磁存储器件、或者上述的任意合适的组合。在本申请中，计算机可读存储介质可以是任何包含或存储程序的有形介质，该程序可以被指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用。而在本申请中，计算机可读的信号介质可以包括在基带中或者作为载波一部分传播的数据信号，其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式，包括但不限于电磁信号、光信号或上述的任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质以外的任何计算机可读介质，该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令执行系统、装置或者器件使用或者与其结合使用的程序。计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输，包括但不限于：无线、有线等等，或者上述的任意合适的组合。
附图中的流程图和框图，图示了按照本申请各种实施例的系统、方法和计算机程序产品的可能实现的体系架构、功能和操作。其中，流程图或框图中的每个方框可以代表一个模块、程序段、或代码的一部分，上述模块、程序段、或代码的一部分包含一个或多个用于实现规定的逻辑功能的可执行指令。也应当注意，在有些作为替换的实现中，方框中所标注的功能也可以以不同于附图中所标注的顺序发生。例如，两个接连地表示的方框实际上可以基本并行地执行，它们有时也可以按相反的顺序执行，这依所涉及的功能而定。也要注意的是，框图或流程图中的每个方框、以及框图或流程图中的方框的组合，可以用执行规定的功能或操作的专用的基于硬件的系统来实现，或者可以用专用硬件与计算机指令的组合来实现。
描述于本申请实施例中所涉及到的单元可以通过软件的方式实现，也可以通过硬件的方式来实现，所描述的单元也可以设置在处理器中。其中，这些单元的名称在某种情况下并不构成对该单元本身的限定。
作为另一方面，本申请还提供了一种计算机程序产品或计算机程序，该计算机程序产品或计算机程序包括计算机指令，该计算机指令存储在计算机可读存储介质中。电子设备的处理器从计算机可读存储介质读取该计算机指令，处理器执行该计算机指令，使得该电子设备执行上述实施例中所述的基于光弹调制器的波长数据处理方法。
作为另一方面，本申请还提供了一种计算机可读介质，该计算机可读介质可以是上述实施例中描述的电子设备中所包含的；也可以是单独存在，而未装配入该电子设备中。上述计算机可读介质承载有一个或者多个程序，当上述一个或者多个程序被一个该电子设备执行时，使得该电子设备实现上述实施例中所述的基于光弹调制器的波长数据处理方法。
应当注意，尽管在上文详细描述中提及了用于动作执行的设备的若干模块或者单元，但是这种划分并非强制性的。实际上，根据本申请的实施方式，上文描述的两个或更多模块或者单元的特征和功能可以在一个模块或者单元中具体化。反之，上文描述的一个模块或者单元的特征和功能可以进一步划分为由多个模块或者单元来具体化。
通过以上的实施方式的描述，本领域的技术人员易于理解，这里描述的示例实施方式可以通过软件实现，也可以通过软件结合必要的硬件的方式来实现。因此，根据本申请实施方式的技术方案可以以软件产品的形式体现出来，该软件产品可以存储在一个非易失性存储介质(可以是CD-ROM，U盘，移动硬盘等)中或网络上，包括若干指令以使得一台计算设备(可以是个人计算机、服务器、触控终端、或者网络设备等)执行上述实施例中所述的基于光弹调制器的波长数据处理方法。
本领域技术人员在考虑说明书及实践这里公开的实施方式后，将容易想到本申请的其它实施方案。本申请旨在涵盖本申请的任何变型、用途或者适应性变化，这些变型、用途或者适应性变化遵循本申请的一般性原理并包括本申请未公开的本技术领域中的公知常识或惯用技术手段。
应当理解的是，本申请并不局限于上面已经描述并在附图中示出的精确结构，并且可以在不脱离其范围进行各种修改和改变。本申请的范围仅由所附的权利要求来限制。
Claims (10)
1.一种基于光弹调制器的波长数据处理方法，其特征在于，所述光弹调制器包括光弹晶体，所述方法包括：
获取光的参考波长，以及所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；
计算所述参考波长的标准相位延迟量，作为参考相位延迟量；
获取光的待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数，所述待修正波长为除所述参考波长之外的波长；
根据所述参考波长、所述第一压力光学系数、所述参考相位延迟量、所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量；
获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，通过如下公式计算所述参考波长的标准相位延迟量：
其中，δ0表示所述参考波长的标准相位延迟量；d表示所述光弹晶体的厚度；λ0表示参考波长；C(λ0)表示所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述计算所述待修正波长的标准相位延迟量，包括：
通过最小二乘算法模型计算所述待修正波长的标准相位延迟量。
4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述最小二乘算法模型，包括：
其中，δ表示所述待修正波长的标准相位延迟量；δ0表示所述参考波长的标准相位延迟量；λ0表示参考波长；C(λ0)表示所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；λ表示待修正波长；C(λ)表示所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数。
5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量，包括：
基于所述理论相位延迟量和所述实际相位延迟量，计算所述待修正波长的相位延迟误差值；
基于所述相位延迟误差值，修正所述实际相位延迟量。
6.根据权利要求5所述的方法，其特征在于，所述基于所述相位延迟误差值，修正所述实际相位延迟量，包括：
如果所述相位延迟误差值的绝对值大于设定阈值，则基于所述相位延迟误差值，所述实际相位延迟量进行误差补偿；
如果所述相位延迟误差值的绝对值小于或等于设定阈值，则不对所述实际相位延迟量进行修正。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量之后，所述方法还包括：
基于所述参考波长的理论相位延迟量，以及经过相位延迟量修正后的待修正波长的相位延迟量，并行测量光的全光谱信号。
8.一种基于光弹调制器的波长数据处理装置，其特征在于，所述光弹调制器包括光弹晶体，所述装置包括：
第一获取单元，用于获取光的参考波长，以及所述参考波长相对于所述光弹晶体的第一压力光学系数；
第一计算单元，用于计算所述参考波长的标准相位延迟量，作为参考相位延迟量；
第二获取单元，用于获取光的待修正波长，以及所述待修正波长相对于所述光弹晶体的第二压力光学系数，所述待修正波长为除所述参考波长之外的波长；
第二计算单元，用于根据所述参考波长、所述第一压力光学系数、所述参考相位延迟量、所述待修正波长，以及所述第二压力光学系数，计算所述待修正波长的标准相位延迟量，作为理论相位延迟量；
修正单元，用于获取待修正波长的实际相位延迟量，并基于所述理论相位延迟量，修正所述实际相位延迟量。
9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括一个或多个处理器和一个或多个存储器，所述一个或多个存储器中存储有至少一条程序代码，所述至少一条程序代码由所述一个或多个处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一项所述的波长数据处理方法所执行的操作。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质中存储有至少一条程序代码，所述至少一条程序代码由处理器加载并执行以实现如权利要求1至7任一项所述的波长数据处理方法所执行的操作。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210509289.4A CN117076814A (zh) | 2022-05-10 | 2022-05-10 | 基于光弹调制器的波长数据处理方法、装置、设备及介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202210509289.4A CN117076814A (zh) | 2022-05-10 | 2022-05-10 | 基于光弹调制器的波长数据处理方法、装置、设备及介质 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN117076814A true CN117076814A (zh) | 2023-11-17 |
Family
ID=88714015
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202210509289.4A Pending CN117076814A (zh) | 2022-05-10 | 2022-05-10 | 基于光弹调制器的波长数据处理方法、装置、设备及介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN117076814A (zh) |
-
2022
- 2022-05-10 CN CN202210509289.4A patent/CN117076814A/zh active Pending
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