CN117059015A - 一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质。该方法包括：按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数，通过本发明的技术方案，能够根据测试图片列表自动选取芯片需要调整的参数并调整芯片的参数，进而达到优化显示效果的目的。

Description

一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本发明实施例涉及计算机技术领域，尤其涉及一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

由于LED显示屏灯板的结构、出厂批次不同。一般在控制系统通过智能设置点屏后，都需要调节芯片(例如：列驱动芯片和行驱动芯片)相关的参数来优化显示效果。

现有技术中，用户只能通过研读集成芯片手册相关的功能来调节芯片相关参数，进而达到优化显示效果的目的。

现有方案的缺点在于：

1.集成芯片手册提供的参数较多，并且命名专业，用户学习成本较高；

2.LED显示屏出现的一些异常情况，一般用户难以和芯片参数进行关联，因此，调节芯片相关参数后，依旧会出现显示异常的情况，无法达到优化显示效果的目的。

发明内容

本发明实施例提供一种芯片参数调整方法、装置、设备及存储介质，解决了用户在难以将芯片参数与显示屏显示效果进行关联的情况下，无法通过调节芯片参数优化显示效果的问题，能够根据测试图片的异常类型和待调整芯片的型号自动匹配出芯片需要调整的参数，自动调整芯片的参数，进而达到优化显示效果的目的。

根据本发明的一方面，提供了一种芯片参数调整方法，包括：

按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片；

当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。

根据本发明的另一方面，提供了一种芯片参数调整装置，该芯片参数调整装置包括：

执行模块，用于按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片；

参数确定模块，用于当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。

根据本发明的另一方面，提供了一种电子设备，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行本发明任一实施例所述的芯片参数调整方法。

根据本发明的另一方面，提供了一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现本发明任一实施例所述的芯片参数调整方法。

本发明实施例通过按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数，解决了用户在难以将芯片参数与显示屏显示效果进行关联的情况下，无法通过调节芯片参数优化显示效果的问题，能够根据测试图片的异常类型和待调整芯片的型号自动匹配出需要调整的参数，自动调整芯片的参数，进而达到优化显示效果的目的。

应当理解，本部分所描述的内容并非旨在标识本发明的实施例的关键或重要特征，也不用于限制本发明的范围。本发明的其它特征将通过以下的说明书而变得容易理解。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例中所需要使用的附图作简单地介绍，应当理解，以下附图仅示出了本发明的某些实施例，因此不应被看作是对范围的限定，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他相关的附图。

图1是本发明实施例中的一种芯片参数调整方法的流程图；

图2是本发明实施例中的异常图片示意图；

图3是本发明实施例中的上鬼影调节控件示意图；

图4是本发明实施例中的下鬼影调节控件示意图；

图5是本发明实施例中的第一行偏暗补偿控件示意图；

图6是本发明实施例中的跳灰调节控件示意图；

图7是本发明实施例中的低灰偏色调节控件示意图；

图8是本发明实施例中的耦合调节控件示意图；

图9是本发明实施例中的一种芯片参数调整系统的结构示意图；

图10是本发明实施例中的另一种芯片参数调整方法的流程图；

图11是本发明实施例中的一种芯片参数调整装置的结构示意图；

图12是本发明实施例中的一种电子设备的结构示意图。

具体实施方式

为了使本技术领域的人员更好地理解本发明方案，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要说明的是，本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

可以理解的是，在使用本公开各实施例公开的技术方案之前，均应当依据相关法律法规通过恰当的方式对本公开所涉及个人信息的类型、使用范围、使用场景等告知用户并获得用户的授权。

实施例一

图1为本发明实施例提供的一种芯片参数调整方法的流程图，本实施例可适用于芯片参数调整的情况，该方法可以由本发明实施例中的芯片参数调整装置来执行，该装置可采用软件和/或硬件的方式实现，如图1所示，该方法具体包括如下步骤：

S110，按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片。

需要说明的是，典型的测试图片列表包括：网格、色条、灰度以及棋盘四种类型测试图片。

其中，所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片。

其中，所述测试图片的颜色可以包括：红色、绿色、蓝色、白色以及黑色，所述测试图片的颜色还可以只包括：红色、黑色以及白色。需要说明的是，测试图片的颜色越多，调节芯片参数后，得到的显示效果越好。例如可以是，测试图片列表包括：网格线为红色的网格图片、网格线为绿色的网格图片、网格线为蓝色的网格图片、网格线为白色的网格图片，网格图片中除网格线外其他区域为黑色。

其中，所述测试图片列表中的测试图片可以按照预设顺序排列，例如可以是，所述测试图片列表从上至下依次为：网格线为红色的网格图片、网格线为绿色的网格图片、网格线为蓝色的网格图片、网格线为白色的网格图片、红色的灰度图片、绿色的灰度图片、蓝色的灰度图片、白色的灰度图片、色条为红色的色条图片、色条为绿色的色条图片、色条为蓝色的色条图片、色条为白色的色条图片(色条图片中除色条外其他区域为黑色)、红黑相间的棋盘图片、绿黑相间的棋盘图片、蓝黑相间的棋盘图片以及白黑相间的棋盘图片，所述测试图片列表可以包括16张测试图片。所述测试图片列表中的测试图片的排列顺序还可以根据异常类型确定，例如可以是，获取异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片；根据异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片生成测试图片列表。

具体的，通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片的方式可以为：按照测试图片列表中测试图片的排列顺序，依次显示测试图片列表中的测试图片，首个测试图片直接显示，若非首个测试图片，则当上一显示测试图片为正常图片后，显示当前测试图片。

其中，所述目标设备可以为相机，也可以为其他能够采集显示屏上显示的内容的设备，本发明实施例对此不进行限制。

具体的，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数的方式可以为：若测试图片存在异常，且异常类型为上鬼影，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的消隐值和消隐等级。若测试图片存在异常，且异常类型为下鬼影，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的消影等级和消影时间。若测试图片存在异常，且异常类型为坏点十字线，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的去除坏点对应的参数(例如可以是，0或者1，其中，1代表点选去除坏点)。若测试图片存在异常，且异常类型为低灰横条纹，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的低灰横条纹消除对应的参数(与去除坏点相似，在此不进行赘述)。若测试图片存在异常，且异常类型为首行偏暗，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的第一行偏暗补偿和第一行偏暗补偿时间。若测试图片存在异常，且异常类型为色块，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的色块消除对应的参数(与去除坏点相似，在此不进行赘述)。若测试图片存在异常，且异常类型为跳灰，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的低灰均匀性。若测试图片存在异常，且异常类型为低灰偏色，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的低灰偏色补偿。若测试图片存在异常，且异常类型为耦合，则根据测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的耦合优化参数。

在一个具体的例子中，按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作的方式可以为：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，根据测试图片和测试图片对应的目标图片判断所述测试图片是否存在异常，若测试图片为正常图片，则根据测试图片列表确定下一测试图片，显示下一测试图片，若测试图片存在异常，则获取所述测试图片的异常类型，根据所述测试图片的异常类型生成参数调节界面，并显示参数调节界面，以供用户在参数调节界面上调节芯片参数，并在用户调节芯片参数后，控制显示屏显示调节后的芯片参数对应的图片，在对芯片参数进行调节的过程中，每次调节完芯片参数，需要获取显示屏显示的调节后的芯片参数对应的图片，并根据显示屏显示的调节后的芯片参数对应的图片和测试图片对应的目标图片判断调节后的芯片参数对应的图片是否存在异常，直至调节后的芯片参数对应的图片为正常图片，结束调节芯片参数的操作。

需要说明的是，若遍历所述调整参数后，所述测试图片无法调整至正常图片，则获取所述测试图片的目标图片参数，其中，所述目标图片参数包括：网格线类型、线宽、间距以及灰度值中的至少一种；基于所述目标图片参数对所述测试图片进行更新，并通过调整所述参数使所述更新后的测试图片调整为正常图片。若遍历所述调整参数后，所述测试图片依旧无法调整至正常图片，则说明测试图片的异常并不明显，则通过更新测试图片的参数，使得测试图片的异常变的更加明显，以便于更容易通过调整所述参数使更新后的测试图片调整为正常图片。

此外，目标操作还可以包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，且所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片的相似度大于目标相似度阈值，则获取所述测试图片的目标图片参数，基于所述目标图片参数对所述测试图片进行更新，根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述更新后的测试图片调整为正常图片。

S120，当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。

具体的，当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数的方式可以为：在通过目标设备获取测试图片列表中最后一个测试图片之后，若根据测试图片列表中最后一个测试图片和测试图片对应的目标图片确定测试图片为正常图片，则将调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数的方式还可以为：在通过目标设备获取测试图片列表中最后一个测试图片之后，若根据测试图片列表中最后一个测试图片和测试图片对应的目标图片确定最后一个测试图片存在异常，则根据最后一个测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述最后一个测试图片调整为正常图片，获取调整芯片的当前参数确，并将调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。

目标芯片参数需要说明的是，每个测试图片可能存在至少一种类型的异常，因此，需要通过调整芯片参数，逐一分析异常，并对存在的异常进行处理，直至得到正常图片。

在另一个具体的例子中，根据异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片生成测试图片列表，根据异常类型列表中异常类型的排列顺序，依次显示测试图片，依次判断每个测试图片是否存在异常，若测试图片正常，则保存待调整芯片的当前参数，若芯片异常，则对待调整芯片的参数进行调整，直至测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数，也就是，直至最后一个异常类型对应的测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。

可选的，按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，包括：

在将上一个测试图片调整为正常图片之后，对当前测试图片执行目标操作；

或者；

在根据上一个测试图片和上一个测试图片对应的目标图片确定上一个测试图片为正常图片之后，对当前测试图片执行目标操作。

需要说明的是，若为测试图片列表中的首个测试图片，则直接对首个测试图片执行目标操作，若非测试图片列表的首个测试图片，则需要在上一个测试图片调整为正常图片之后，对当前测试图片执行目标操作；或者，在根据上一个测试图片和上一个测试图片对应的目标图片确定上一个测试图片为正常图片之后，对当前测试图片执行目标操作。

可选的，在按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作之前，还包括：

获取异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片；

根据异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片生成测试图片列表。

其中，所述异常类型列表包括：上鬼影、下鬼影、坏点十字线、首行偏暗、低灰横条纹、色块、低灰偏色、跳灰以及耦合中的至少一种。如图2所示，分别为存在上鬼影、下鬼影、坏点十字线、首行偏暗、低灰横条纹、色块、低灰偏色、跳灰以及耦合的图片。

具体的，获取异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片的方式可以为：查询测试图片和异常类型的对应关系表，得到每个异常类型对应的测试图片。

具体的，根据异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片生成测试图片列表的方式可以为：根据异常类型列表中异常类型的排列顺序和每个异常类型对应的测试图片生成测试图片列表。

需要说明的是，测试图片和异常类型存在对应关系，例如可以是，网格图片对应的异常类型包括：上鬼影、下鬼影以及坏点十字线；灰度图片对应的异常类型包括：首行偏暗、色块以及低灰横条纹；色条图片对应的异常类型包括：跳灰以及低灰偏色；棋盘图片对应的异常类型包括：耦合。

可选的，在根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数之前，还包括：

若所述测试图片存在异常，且所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片的相似度大于目标相似度阈值，则获取所述测试图片的目标图片参数，其中，所述目标图片参数包括：网格线类型、线宽、间距以及灰度值中的至少一种；

基于所述目标图片参数对所述测试图片进行更新。其中，所述目标图片参数还可以包括：网格线颜色、灰度图像对应的颜色、色条颜色以及网格颜色。

具体的，若所述测试图片存在异常，且所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片的相似度大于目标相似度阈值，则获取所述测试图片的目标图片参数的方式可以为：若所述测试图片存在异常，且所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片的相似度大于目标相似度阈值，则显示参数调节界面，以便于用户基于参数调节界面对测试图片的目标图片参数进行调整。

所述参数调整界面包括：图片参数调整区域和芯片参数调整区域。

需要说明的是，在测试图片存在异常的情况下，调整测试图片的目标图片参数是为了凸显异常，用户基于调整后的测试图片调整芯片参数，能够达到更好的显示效果。

可选的，若所述测试图片存在异常，则获取所述测试图片的目标图片参数，包括：

若所述测试图片存在异常，则获取所述测试图片的图片类型；

根据所述测试图片的图片类型确定所述测试图片对应的目标图片参数。

具体的，根据所述测试图片的图片类型确定所述测试图片对应的目标图片参数的方式可以为：若测试图片的图片类型为网格类型，则测试图片对应的目标图片参数可以为网格线类型和网格间距，若测试图片的图片类型为灰度图片，则测试图片对应的目标图片参数可以为灰度值。

可选的，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，包括：

获取异常类型列表，其中，所述异常类型列表包括：至少一个异常类型；

根据异常类型列表依次判断所述测试图片是否存在异常类型列表中的异常；

若所述测试图片存在异常类型列表中的异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数。

其中，所述异常类型列表中的异常类型从上至下依次可以为：上鬼影、下鬼影、坏点十字线、首行偏暗、低灰横条纹、色块、低灰偏色、跳灰以及耦合。

需要说明的是，根据异常类型列表中异常类型的顺序，逐一分析测试图片是否存在上述异常，若存在，则通过对所述待调整芯片的参数进行调整来解决测试图片的异常，直至通过调整后的待调整芯片的参数显示的测试图片为正常图片。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为上鬼影，则根据待调整芯片的身份标识信息确定上鬼影对应的消隐值的调节范围和上鬼影对应的消隐等级的调节范围；

接收用户在上鬼影对应的消隐值的调节范围中选取的消隐值和上鬼影对应的消隐等级的调节范围中选取的消隐等级；

根据所述消隐值和所述消隐等级对所述待调整芯片的参数进行调整。

其中，所述待调整芯片的身份标识信息可以为所述待调整芯片的型号，还可以为其他用于表征待调整芯片身份的标识信息。

需要说明的是，接收用户在上鬼影对应的消隐值的调节范围中选取的消隐值和上鬼影对应的消隐等级的调节范围中选取的消隐等级的方式可以为：根据上鬼影对应的消隐值的调节范围和上鬼影对应的消隐等级的调节范围生成上鬼影调节控件，所述上鬼影调节控件包括：消隐值调节控件和消隐等级调节控件，用户通过消隐值调节控件调节消隐值，得到用户在上鬼影对应的消隐值的调节范围中选取的消隐值，用户通过消隐等级调节控件调节消隐等级，得到用户在上鬼影对应的消隐等级的调节范围中选取的消隐等级。

在一个具体的例子中，如图3所示，消隐相位由接收卡控制，范围[0～1000]*8ns，所有芯片都适用；译码芯片的参数做归一化处理，调节范围[0～100％]。译码芯片以ICND2013为例，芯片手册的消隐等级为bit[3:0]，实际范围0～15，归一化计算：

gain＝(bit[3:0])/15*100％；步长为6.7％。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为下鬼影，则根据待调整芯片的身份标识信息确定下鬼影对应的消影等级的调节范围和下鬼影对应的消影时间的调节范围；

接收用户在下鬼影对应的消影等级的调节范围中选取的消影等级和下鬼影对应的消影时间的调节范围中选取的消影时间；

根据所述消影等级和所述消影时间对所述待调整芯片的参数进行调整。

其中，所述下鬼影对应的消影等级的调节范围包括：下鬼影对应的红色消影等级的调节范围、下鬼影对应的绿色消影等级的调节范围以及下鬼影对应的蓝色消影等级的调节范围中的至少一种。所述下鬼影对应的消影时间的调节范围包括：下鬼影对应的红色消影时间的调节范围、下鬼影对应的绿色消影时间的调节范围以及下鬼影对应的蓝色消影时间的调节范围中的至少一种。

其中，所述第二消影等级包括：红色第二消影等级、绿色第二消影等级以及蓝色第二消影等级中的至少一种，所述消影时间包括：红色消影时间、绿色消影时间以及蓝色消影时间中的至少一种。

具体的，接收用户在下鬼影对应的消影等级的调节范围中选取的第二消影等级和下鬼影对应的消影时间的调节范围中选取的消影时间包括：接收用户在下鬼影对应的红色消影等级的调节范围、下鬼影对应的绿色消影等级的调节范围以及下鬼影对应的蓝色消影等级的调节范围中的至少一种调节范围中选取的第二消影等级和用户在下鬼影对应的红色消影时间的调节范围、下鬼影对应的绿色消影时间的调节范围以及下鬼影对应的蓝色消影时间的调节范围中的至少一种调节范围中选取的消影时间。

需要说明的是，接收用户在下鬼影对应的消影等级的调节范围中选取的第二消影等级和下鬼影对应的消影时间的调节范围中选取的消影时间的方式可以为：根据下鬼影对应的消影等级的调节范围和下鬼影对应的消影时间的调节范围生成下鬼影调节控件，所述下鬼影调节控件包括：消影时间调节控件和消影等级调节控件，用户通过消影时间调节控件调节消影时间，得到用户在下鬼影对应的消影时间的调节范围中选取的消影时间，用户通过消影等级调节控件调节消影等级，得到用户在下鬼影对应的消影等级的调节范围中选取的第二消影等级。

在一个具体的例子中，如图4所示，本发明实施例支持调节消影时间和消影等级，两个参数由驱动芯片控制，界面做归一化处理，调节范围[0～100％]，以ICN2055为例，消影等级对应参数Reg0x1E[4:0],消影时间对应参数Reg0x0D[4:0],归一化计算：

Gain1＝(0x1E[4:0])/31*100％，步长为3.2％；

Gain2＝(0x0D[4:0])/31*100％，步长为3.2％。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为坏点十字线，则生成去除坏点控件；

接收用户针对去除坏点控件的选取操作，调用去除坏点接口对所述待调整芯片的参数进行调整。

在一个具体的例子中，若所述测试图片的异常类型为坏点十字线，则显示去除坏点控件，若用户勾选去除坏点控件，则调用去除坏点接口对所述待调整芯片的参数进行调整。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为低灰横条纹，则生成低灰横条纹消除控件；

接收用户针对低灰横条纹消除控件的选取操作，调用低灰横条纹消除接口对所述待调整芯片的参数进行调整。

其中，所述低灰横条纹消除控件可以包括：红色低灰横条纹消除控件、绿色低灰横条纹消除控件以及蓝色低灰横条纹消除控件。

具体的，接收用户针对低灰横条纹消除控件的选取操作，调用低灰横条纹消除接口对所述待调整芯片的参数进行调整的方式可以为：接收用户针对红色低灰横条纹消除控件、绿色低灰横条纹消除控件以及蓝色低灰横条纹消除控件中的任一控件的选取操作，调用选取的控件对应的低灰横条纹消除接口对所述待调整芯片的参数进行调整。

在一个具体的例子中，若所述测试图片的异常类型为低灰横条纹，则生成红色低灰横条纹消除控件、绿色低灰横条纹消除控件以及蓝色低灰横条纹消除控件，若测试图像为红色，接收用户针对红色低灰横条纹消除控件的选取操作，调用红色低灰横条纹消除接口对所述待调整芯片的参数进行调整。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为首行偏暗，则根据待调整芯片的身份标识信息确定首行偏暗对应的第一行偏暗补偿的调节范围和首行偏暗对应的第一行偏暗补偿时间的调节范围；

接收用户在首行偏暗对应的第一行偏暗补偿的调节范围中选取的第一行偏暗补偿和首行偏暗对应的第一行偏暗补偿时间的调节范围中选取的第一行偏暗补偿时间；

根据所述第一行偏暗补偿和所述第一行偏暗补偿时间对所述待调整芯片的参数进行调整。

其中，所述首行偏暗对应的第一行偏暗补偿的调节范围包括：首行偏暗对应的红色第一行偏暗补偿的调节范围、首行偏暗对应的绿色第一行偏暗补偿的调节范围以及首行偏暗对应的蓝色第一行偏暗补偿的调节范围中的至少一种。

其中，所述首行偏暗对应的第一行偏暗补偿时间的调节范围包括：首行偏暗对应的红色第一行偏暗补偿时间的调节范围、首行偏暗对应的绿色第一行偏暗补偿时间的调节范围以及首行偏暗对应的蓝色第一行偏暗补偿时间的调节范围中的至少一种。

其中，所述第一行偏暗补偿包括：红色第一行偏暗补偿、绿色第一行偏暗补偿以及蓝色第一行偏暗补偿中的至少一种。所述第一行偏暗补偿时间包括：红色第一行偏暗补偿时间、绿色第一行偏暗补偿时间以及蓝色第一行偏暗补偿时间中的至少一种。

具体的，接收用户在首行偏暗对应的第一行偏暗补偿的调节范围中选取的第一行偏暗补偿和首行偏暗对应的第一行偏暗补偿时间的调节范围中选取的第一行偏暗补偿时间的方式可以为：接收用户在首行偏暗对应的红色第一行偏暗补偿的调节范围、首行偏暗对应的绿色第一行偏暗补偿的调节范围以及首行偏暗对应的蓝色第一行偏暗补偿的调节范围中的至少一种调节范围中选取的第一行偏暗补偿和用户在首行偏暗对应的红色第一行偏暗补偿时间的调节范围、首行偏暗对应的绿色第一行偏暗补偿时间的调节范围以及首行偏暗对应的蓝色第一行偏暗补偿时间的调节范围中至少一种调节范围中选取的第一行偏暗补偿时间。

在一个具体的例子中，如图5所示，本发明实施例支持调节第一行偏暗补偿和第一行偏暗补偿时间，两个参数由驱动芯片控制，界面做归一化处理，调节范围[0～100％]。

以ICN2055为例，第一行偏暗补偿对应参数Reg0x18[5:4]、Reg0x19[7:5],第一行偏暗补偿时间对应参数Reg0x0E[4:0]，归一化计算：

Gain1＝(0x18[5:4]<<2+0x19[7:5])/31*100％，步长为3.2％；

Gain2＝(0x0E[4:0])/31*100％，步长为3.2％。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为色块，则生成色块消除控件；

接收用户针对色块消除控件的选取操作，调用色块消除接口对所述待调整芯片的参数进行调整。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为跳灰，则根据待调整芯片的身份标识信息确定跳灰对应的低灰均匀性的调节范围；

接收用户在跳灰对应的低灰均匀性的调节范围中选取的低灰均匀性；

根据所述低灰均匀性对所述待调整芯片的参数进行调整。

其中，所述跳灰对应的低灰均匀性的调节范围包括：跳灰对应的红色低灰均匀性的调节范围、跳灰对应的绿色低灰均匀性的调节范围以及跳灰对应的蓝色低灰均匀性的调节范围中的至少一种。

具体的，接收用户在跳灰对应的低灰均匀性的调节范围中选取的低灰均匀性的方式可以为：接收用户在跳灰对应红色低灰均匀性的调节范围、跳灰对应的绿色低灰均匀性的调节范围以及跳灰对应的蓝色低灰均匀性的调节范围中的至少一种调节范围中选取的低灰均匀性。

其中，所述低灰均匀性包括：红色低灰均匀性、绿色低灰均匀性以及蓝色低灰均匀性中的至少一种。

在一个具体的例子中，如图6所示，本发明实施例支持调节低灰均匀性，参数由驱动芯片控制，界面做归一化处理，调节范围[0～100％]。

以ICN2055为例，低灰均匀性对应参数reg0x10[7:6]，归一化计算：

Gain＝(0x10[7:6])/3*100％，步长为33.3％。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为低灰偏色，则根据待调整芯片的身份标识信息确定低灰偏色对应的低灰偏色补偿的调节范围；

接收用户在低灰偏色对应的低灰偏色补偿的调节范围中选取的低灰偏色补偿；

根据所述低灰偏色补偿对所述待调整芯片的参数进行调整。

其中，所述低灰偏色对应的低灰偏色补偿的调节范围包括：低灰偏色对应的红色低灰偏色补偿的调节范围、低灰偏色对应的绿色低灰偏色补偿的调节范围以及低灰偏色对应的蓝色低灰偏色补偿的调节范围中的至少一种。

其中，所述低灰偏色补偿包括：红色低灰偏色补偿、绿色低灰偏色补偿以及蓝色低灰偏色补偿中的至少一种。

具体的，接收用户在低灰偏色对应的低灰偏色补偿的调节范围中选取的低灰偏色补偿的方式可以为：接收用户在低灰偏色对应的红色低灰偏色补偿的调节范围、低灰偏色对应的绿色低灰偏色补偿的调节范围以及低灰偏色对应的蓝色低灰偏色补偿的调节范围中的至少一种调节范围中选取的低灰偏色补偿。

在一个具体的例子中，如图7所示，本发明实施例支持调节低灰偏色补偿，参数由驱动芯片控制，界面做归一化处理，调节范围[0～100％]。

以ICN2055为例，低灰偏色补偿对应参数reg0x11[13:11]，归一化计算：

Gain＝(0x11[13:11])/7*100％，步长为14.3％。

可选的，根据所述测试图片的异常类型对所述待调整芯片的参数进行调整，包括：

若所述测试图片的异常类型为耦合，则根据待调整芯片的身份标识信息确定耦合对应的耦合优化参数的调节范围；

接收用户在耦合对应的耦合优化参数的调节范围中选取的耦合优化参数；

根据所述耦合优化参数对所述待调整芯片的参数进行调整。

其中，所述耦合优化参数可以包括至少两种，例如可以是，Reg0x0C[7:0]和Reg0x20[4:0]。

在一个具体的例子中，如图8所示，本发明实施例支持调节耦合优化1的参数和耦合优化2的参数，两个参数由驱动芯片控制，界面做归一化处理，调节范围[0～100％]。

以ICN2055为例，耦合优化1对应参数Reg0x0C[7:0]，耦合优化2对应参数Reg0x20[4:0]，归一化计算：

Gain1＝(0x0C[7:0])/255*100％，步长为0.4％；

Gain2＝(0x20[4:0])/31*100％，步长为3.2％。

可选的，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，包括：

获取测试图片对应的目标图片；

若根据所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片确定所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数。

具体的，若根据所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片确定所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数的方式可以为：若所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片的相似度小于第一相似度阈值，则确定所述测试图片存在异常，根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数。若所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片的相似度大于或者等于第一相似度阈值，则确定所述测试图片为正常图片。

在一个具体的例子中，通过待调整芯片控制显示屏依次显示所述测试图片列表中的测试图片，由于测试图片列表中的首个测试图片为网格线为红色的网格图片，则通过待调整芯片控制显示屏显示网格线为红色的网格图片，获取相机拍摄显示屏上显示的网格线为红色的网格图片，根据相机拍摄的图片和网格线为红色的网格图片对应的目标图片确定显示屏上显示的网格线为红色的网格图片是否为正常图片，若为正常图片，则显示第二个测试图片，若为异常图片，则获取网格线为红色的网格图片的异常类型，根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，根据待调整芯片预设的参数生成参数调节界面，并显示参数调节界面，根据用户针对参数调节界面输入的调整后的芯片参数控制显示屏显示调整后的网格图片，获取相机拍摄显示屏上显示的调整后的网格图片，根据调整后的网格图片和网格线为红色的网格图片对应的目标图片确定显示屏上显示的调整后的网格图片是否为正常图片，若为正常图片，则显示第二个测试图片，若为异常图片，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使测试图片调整为正常图片，以此类推，直至通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片列表中的最后一个测试图片，由于测试图片列表中的最后一个测试图片为白黑相间的棋盘图片，则通过待调整芯片控制显示屏显示白黑相间的棋盘图片，获取相机拍摄的显示屏上显示的白黑相间的棋盘图片，根据相机拍摄的棋盘图片和白黑相间的棋盘图片对应的目标图片确定显示屏上显示的白黑相间的棋盘图片是否为正常图片，若为正常图片，则获取待调整芯片的当前参数，并将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。若为异常图片，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，根据待调整芯片预设的参数生成参数调节界面，并显示参数调节界面，根据用户针对参数调节界面输入的调整后的芯片参数控制显示屏显示调整后的棋盘图片，获取相机拍摄显示屏上显示的调整后的棋盘图片，根据调整后的棋盘图片和白黑相间的棋盘图片对应的目标图片确定显示屏上显示的调整后的棋盘图片是否为正常图片，若为正常图片，则获取待调整芯片的当前参数，并将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数，若为异常图片，则继续调整芯片参数，直至显示屏上显示的棋盘图片为正常图片。

在另一个具体的例子中，如图9所示，本发明实施例提供的芯片参数调整系统包括：相机、安装有待调整芯片的设备以及LED显示屏，其中，所述相机用于对LED显示屏进行拍照，通过将测试图片对应的目标图片与相机拍出的图片对比，判断测试图片是否存在异常。本发明实施例中，测试图片列表包括：网格、色条、灰度以及棋盘四种类型，按照网格、灰度、色条、棋盘的顺序设置向导(网格可以处理很多不易察觉到的问题，优先处理，执行顺序即按照上述思路设计)，由于不同的芯片的调节方式以及参数均存在差异，故需要本系统对不同芯片进行兼容，根据不同异常类型对应的参数调整策略对待调整芯片的参数进行调整，进而达到优化显示效果的目的。

自动调试步骤如图10所示：

步骤1、整理常见的异常类型作为向导(例如可以是包括：上鬼影、下鬼影、坏点十字线、首行偏暗、低灰横条纹、色块、低灰偏色、跳灰、耦合共9个向导)；

步骤2、通过待调整芯片控制显示屏显示向导i对应的测试图片，通过相机拍摄向导i对应的LED显示屏画面；

步骤3、将向导i对应的LED显示屏画面(测试图片)与标准测试画面(测试图片对应的目标图片)进行对比；

步骤4、若向导i对应的测试图片均与测试图片对应的目标图片一致，且i<n，则获取待调整芯片的当前参数，保存待调整芯片的当前参数，i+1，返回执行步骤2；

步骤5、若向导n对应的测试图片均与测试图片对应的目标图片不一致，则执行步骤6；

步骤6、调整向导i对应的参数，在调整向导i对应的参数之后，返回执行步骤2。

需要说明的是，向导i对应的测试图片可以包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片。

本发明实施例提供的芯片参数调整系统通过向导的方式引导用户进行操作，减少学习难度，增强用户体验。

本实施例的技术方案，通过按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数，能够根据测试图片列表自动选取芯片需要调整的参数并调整芯片的参数，进而达到优化显示效果的目的。

实施例二

图11为本发明实施例提供的一种芯片参数调整装置的结构示意图。本实施例可适用于芯片参数调整的情况，该装置可采用软件和/或硬件的方式实现，该装置可集成在任何提供芯片参数调整功能的设备中，如图11所示，所述芯片参数调整装置具体包括：执行模块210和参数确定模块220。

其中，执行模块，用于按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片；

参数确定模块，用于当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。

上述产品可执行本发明任意实施例所提供的方法，具备执行方法相应的功能模块和有益效果。

实施例三

图12示出了可以用来实施本发明的实施例的电子设备10的结构示意图。电子设备旨在表示各种形式的数字计算机，诸如，膝上型计算机、台式计算机、工作台、个人数字助理、服务器、刀片式服务器、大型计算机、和其它适合的计算机。电子设备还可以表示各种形式的移动装置，诸如，个人数字处理、蜂窝电话、智能电话、可穿戴设备(如头盔、眼镜、手表等)和其它类似的计算装置。本文所示的部件、它们的连接和关系、以及它们的功能仅仅作为示例，并且不意在限制本文中描述的和/或者要求的本发明的实现。

如图12所示，电子设备10包括至少一个处理器11，以及与至少一个处理器11通信连接的存储器，如只读存储器(ROM)12、随机访问存储器(RAM)13等，其中，存储器存储有可被至少一个处理器执行的计算机程序，处理器11可以根据存储在只读存储器(ROM)12中的计算机程序或者从存储单元18加载到随机访问存储器(RAM)13中的计算机程序，来执行各种适当的动作和处理。在RAM 13中，还可存储电子设备10操作所需的各种程序和数据。处理器11、ROM 12以及RAM 13通过总线14彼此相连。输入/输出(I/O)接口15也连接至总线14。

电子设备10中的多个部件连接至I/O接口15，包括：输入单元16，例如键盘、鼠标等；输出单元17，例如各种类型的显示器、扬声器等；存储单元18，例如磁盘、光盘等；以及通信单元19，例如网卡、调制解调器、无线通信收发机等。通信单元19允许电子设备10通过诸如因特网的计算机网络和/或各种电信网络与其他设备交换信息/数据。

处理器11可以是各种具有处理和计算能力的通用和/或专用处理组件。处理器11的一些示例包括但不限于中央处理单元(CPU)、图形处理单元(GPU)、各种专用的人工智能(AI)计算芯片、各种运行机器学习模型算法的处理器、数字信号处理器(DSP)、以及任何适当的处理器、控制器、微控制器等。处理器11执行上文所描述的各个方法和处理，例如芯片参数调整方法。

在一些实施例中，芯片参数调整方法可被实现为计算机程序，其被有形地包含于计算机可读存储介质，例如存储单元18。在一些实施例中，计算机程序的部分或者全部可以经由ROM 12和/或通信单元19而被载入和/或安装到电子设备10上。当计算机程序加载到RAM 13并由处理器11执行时，可以执行上文描述的芯片参数调整方法的一个或多个步骤。备选地，在其他实施例中，处理器11可以通过其他任何适当的方式(例如，借助于固件)而被配置为执行芯片参数调整方法。

本文中以上描述的系统和技术的各种实施方式可以在数字电子电路系统、集成电路系统、场可编程门阵列(FPGA)、专用集成电路(ASIC)、专用标准产品(ASSP)、芯片上系统的系统(SOC)、负载可编程逻辑设备(CPLD)、计算机硬件、固件、软件、和/或它们的组合中实现。这些各种实施方式可以包括：实施在一个或者多个计算机程序中，该一个或者多个计算机程序可在包括至少一个可编程处理器的可编程系统上执行和/或解释，该可编程处理器可以是专用或者通用可编程处理器，可以从存储系统、至少一个输入装置、和至少一个输出装置接收数据和指令，并且将数据和指令传输至该存储系统、该至少一个输入装置、和该至少一个输出装置。

用于实施本发明的方法的计算机程序可以采用一个或多个编程语言的任何组合来编写。这些计算机程序可以提供给通用计算机、专用计算机或其他可编程数据处理装置的处理器，使得计算机程序当由处理器执行时使流程图和/或框图中所规定的功能/操作被实施。计算机程序可以完全在机器上执行、部分地在机器上执行，作为独立软件包部分地在机器上执行且部分地在远程机器上执行或完全在远程机器或服务器上执行。

在本发明的上下文中，计算机可读存储介质可以是有形的介质，其可以包含或存储以供指令执行系统、装置或设备使用或与指令执行系统、装置或设备结合地使用的计算机程序。计算机可读存储介质可以包括但不限于电子的、磁性的、光学的、电磁的、红外的、或半导体系统、装置或设备，或者上述内容的任何合适组合。备选地，计算机可读存储介质可以是机器可读信号介质。机器可读存储介质的更具体示例会包括基于一个或多个线的电气连接、便携式计算机盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或快闪存储器)、光纤、便捷式紧凑盘只读存储器(CD-ROM)、光学储存设备、磁储存设备、或上述内容的任何合适组合。

为了提供与用户的交互，可以在电子设备上实施此处描述的系统和技术，该电子设备具有：用于向用户显示信息的显示装置(例如，CRT(阴极射线管)或者LCD(液晶显示器)监视器)；以及键盘和指向装置(例如，鼠标或者轨迹球)，用户可以通过该键盘和该指向装置来将输入提供给电子设备。其它种类的装置还可以用于提供与用户的交互；例如，提供给用户的反馈可以是任何形式的传感反馈(例如，视觉反馈、听觉反馈、或者触觉反馈)；并且可以用任何形式(包括声输入、语音输入或者、触觉输入)来接收来自用户的输入。

可以将此处描述的系统和技术实施在包括后台部件的计算系统(例如，作为数据服务器)、或者包括中间件部件的计算系统(例如，应用服务器)、或者包括前端部件的计算系统(例如，具有图形用户界面或者网络浏览器的用户计算机，用户可以通过该图形用户界面或者该网络浏览器来与此处描述的系统和技术的实施方式交互)、或者包括这种后台部件、中间件部件、或者前端部件的任何组合的计算系统中。可以通过任何形式或者介质的数字数据通信(例如，通信网络)来将系统的部件相互连接。通信网络的示例包括：局域网(LAN)、广域网(WAN)、区块链网络和互联网。

计算系统可以包括客户端和服务器。客户端和服务器一般远离彼此并且通常通过通信网络进行交互。通过在相应的计算机上运行并且彼此具有客户端-服务器关系的计算机程序来产生客户端和服务器的关系。服务器可以是云服务器，又称为云计算服务器或云主机，是云计算服务体系中的一项主机产品，以解决了传统物理主机与VPS服务中，存在的管理难度大，业务扩展性弱的缺陷。

应该理解，可以使用上面所示的各种形式的流程，重新排序、增加或删除步骤。例如，本发明中记载的各步骤可以并行地执行也可以顺序地执行也可以不同的次序执行，只要能够实现本发明的技术方案所期望的结果，本文在此不进行限制。

上述具体实施方式，并不构成对本发明保护范围的限制。本领域技术人员应该明白的是，根据设计要求和其他因素，可以进行各种修改、组合、子组合和替代。任何在本发明的精神和原则之内所作的修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明保护范围之内。

Claims (10)

1.一种芯片参数调整方法，其特征在于，包括：

按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片；

当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，包括：

在将上一个测试图片调整为正常图片之后，对当前测试图片执行目标操作；

或者；

在根据上一个测试图片和上一个测试图片对应的目标图片确定上一个测试图片为正常图片之后，对当前测试图片执行目标操作。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作之前，还包括：

获取异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片；

根据异常类型列表中每个异常类型对应的测试图片生成测试图片列表。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数之前，还包括：

若所述测试图片存在异常，且所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片的相似度大于目标相似度阈值，则获取所述测试图片的目标图片参数，其中，所述目标图片参数包括：网格线类型、线宽、间距以及灰度值中的至少一种；

基于所述目标图片参数对所述测试图片进行更新。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，若所述测试图片存在异常，则获取所述测试图片的目标图片参数，包括：

若所述测试图片存在异常，则获取所述测试图片的图片类型；

根据所述测试图片的图片类型确定所述测试图片对应的目标图片参数。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，包括：

获取异常类型列表，其中，所述异常类型列表包括：至少一个异常类型；

根据异常类型列表依次判断所述测试图片是否存在异常类型列表中的异常；

若所述测试图片存在异常类型列表中的异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，包括：

获取测试图片对应的目标图片；

若根据所述测试图片和所述测试图片对应的目标图片确定所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数。

8.一种芯片参数调整装置，其特征在于，包括：

执行模块，用于按照设定时序依次根据测试图片列表执行目标操作，其中，所述目标操作包括：通过待调整芯片控制显示屏显示测试图片，通过目标设备获取测试图片，若所述测试图片存在异常，则根据所述测试图片的异常类型和所述待调整芯片的型号匹配所述待调整芯片预设的参数，并通过调整所述参数使所述测试图片调整为正常图片；所述测试图片列表包括：至少一种颜色的网格类型测试图片、至少一种颜色的灰度类型测试图片、至少一种颜色的色条类型测试图片以及至少一种颜色的棋盘类型的测试图片中的至少一种测试图片；

参数确定模块，用于当测试图片列表中最后一个测试图片为正常图片时，将待调整芯片的当前参数确定为待调整芯片的目标芯片参数。

9.一种电子设备，其特征在于，所述电子设备包括：

至少一个处理器；以及

与所述至少一个处理器通信连接的存储器；其中，

所述存储器存储有可被所述至少一个处理器执行的计算机程序，所述计算机程序被所述至少一个处理器执行，以使所述至少一个处理器能够执行权利要求1-7中任一项所述的芯片参数调整方法。

10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有计算机指令，所述计算机指令用于使处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的芯片参数调整方法。