CN117054305A - 监测仪及其校准方法、装置和存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种监测仪及其校准方法、装置和存储介质，其中，监测仪为射线法颗粒物监测仪，方法包括：分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，第一数列为等差数列；分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列；将第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据数据校准系数对颗粒物浓度值与射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。由此，提高监测仪校准准确性和测量精度。

Description

监测仪及其校准方法、装置和存储介质

技术领域

本发明涉及大气颗粒物监测技术领域，尤其涉及一种监测仪的校准方法、一种计算机可读存储介质、一种监测仪的校准装置和一种监测仪。

背景技术

目前，通常采用β射线法对环境空气中的颗粒物（PM10，PM2.5，PM1.0等）进行测量，其中，β射线法的原理为当β射线通过沉积着颗粒物的滤膜时，β射线的能量衰减，进而可以通过对衰减量的测定便可计算出颗粒物的质量，在应用时需用采用标准膜片对β射线测量系统进行校准。

然而，相关技术的问题在于，标准膜片通常由PET薄膜制成，其对应的颗粒物浓度标准范围约为700-1500ug/cm²，校准膜片的颗粒物校准浓度区间大大超过了实际空气中颗粒物浓度，引入了较大的相对误差，导致实际测量浓度值的准确性无法判断。

发明内容

本发明旨在至少在一定程度上解决相关技术中的技术问题之一。为此，本发明的第一个目的在于提出一种监测仪的校准方法，能够优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

本发明的第二个目的在于提出一种计算机可读存储介质。

本发明的第三个目的在于提出一种监测仪的校准装置。

本发明的第四个目的在于提出一种监测仪。

为达到上述目的，本发明第一方面实施例提出了一种监测仪的校准方法，其中，所述监测仪为射线法颗粒物监测仪，所述方法包括：分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据所述每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，所述第一数列为等差数列；分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据所述每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列；将所述第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据所述数据校准系数对颗粒物浓度值与所述射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。

根据本发明实施例的监测仪的校准方法，通过分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，第一数列为等差数列，同时，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列，然后，将第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据数据校准系数对颗粒物浓度值与射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。由此，优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

另外，根据本发明实施例的监测仪的校准方法，还可以具有如下的附加技术特征：

根据本发明的一个实施例，所述根据所述每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，包括：依次获取所述每个标准膜片的膜片质量与所述基准膜片的膜片质量之间的差值，并根据所述差值构建所述第一数列。

根据本发明的一个实施例，所述第一数列的公差为50ug/cm²。

根据本发明的一个实施例，所述多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量和所述基准膜片的膜片质量均大于预设膜片质量阈值。

根据本发明的一个实施例，所述方法包括：通过高精度天平分别获取所述基准膜片的膜片质量和所述多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量。

根据本发明的一个实施例，所述分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，包括：分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片的在预设时间内的射线粒子数测量值数据集；根据Grubbs检验法和所述每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集，分别获取中每个标准膜片所述多个标准膜片的射线粒子数测量值。

根据本发明的一个实施例，所述将所述第一数列和第二数列进行拟合，包括：通过最小二乘法将所述第一数列和所述第二数列进行拟合。

为达到上述目的，本发明第二方面实施例提出的计算机可读存储介质，其上存储有监测仪的校准程序，所述监测仪的校准程序被处理器执行时实现前述本发明实施例的监测仪的校准方法。

根据本发明实施例的计算机可读存储介质，通过处理器执行监测仪的校准程序，能够优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

为达到上述目的，本发明第三方面实施例提出了一种监测仪的校准装置，其中，所述监测仪为射线法颗粒物监测仪，所述装置包括：第一获取模块，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据所述每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，所述第一数列为等差数列；第二获取模块，用于分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据所述每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列；校准模块，用于将所述第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据所述数据校准系数对颗粒物浓度值与所述射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。

根据本发明实施例的监测仪的校准装置，通过第一获取模块分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，第一数列为等差数列，并通过第二获取模块分别获取多个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列，以及，通过校准模块将第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据数据校准系数对颗粒物浓度值与射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。由此，优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

为达到上述目的，本发明第四方面实施例提出的监测仪，包括前述本发明实施例的监测仪的校准装置。

根据本发明实施例的监测仪，通过采用前述监测仪的校准装置，能够优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

本发明附加的方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

图1是根据本发明一个实施例的监测仪的结构示意图；

图2是根据本发明实施例的监测仪的校准方法的流程示意图；

图3是根据本发明一个实施例的监测仪的校准方法的流程示意图；

图4是根据本发明实施例的监测仪的校准装置的方框示意图；

图5是根据本发明实施例的监测仪的校准装置的方框示意图。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，旨在用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

下面参考附图描述本发明实施例的监测仪的校准方法、计算机可读存储介质、监测仪的校准装置和监测仪。

在介绍本发明实施例的监测仪的校准方法和监测仪的校准装置之前，先对本发明实施例的监测仪进行说明，具体地，在本发明的一些实施例中，监测仪可以为射线法颗粒物监测仪，其中，如图1所示，射线法颗粒物监测仪1000可以包括切割器1、进样管2、β射线放射源3、β射线检测器4、滤带5和采样泵6，另外，射线法颗粒物监测仪1000基于β射线法进行颗粒物监测，β射线法的颗粒物监测原理为公知技术，在此不再赘述。

图2是根据本发明实施例的监测仪的校准方法的流程示意图。

具体地，在本发明的一些实施例中，如图2所示，监测仪的校准方法，包括：

S101，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据每个标准膜片的的膜片质量与基准膜片的膜片质量值构建第一数列，其中，第一数列为等差数列。

具体地，在本发明的一些实施例中，根据每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，包括：依次获取每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量之间的差值，并根据差值构建第一数列。

举例而言，在本发明的该实施例中，假设标准膜片的数量为8个，那么可分别获取基准膜片的膜片质量M₀以及每个标准膜片的膜片质量M₁、M₂、M₃、M₄、M₅、M₆、M₇和M₈，进而，根据每个标准膜片的膜片质量M₁~M₈与基准膜片的膜片质量M₀构建第一数列X_m{X_m1,X_m2,X_m3,X_m4,X_m5,X_m6,X_m7,X_m8}，其中，X_m1=|M₁-M₀|，X_m2=|M₂-M₀|，X_m3=|M₃-M₀|，X_m4=|M₄-M₀|，X_m5=|M₅-M₀|，X_m6=|M₆-M₀|，X_m7=|M₇-M₀|，X_m8=|M₈-M₀|，其中，第一数列为等差数列，即第1个标准膜片的膜片质量M₁与基准膜片的膜片质量M₀满足（|M₁-M₀|）＜M_s，并且，第2个标准膜片的膜片质量M₂与第1个标准膜片的膜片质量M₁满足（|M₂-M₁|）＜M_s，第3个标准膜片的膜片质量M₃与第2个标准膜片的膜片质量M₂满足（|M₃-M₂|）＜M_s，第4个标准膜片的膜片质量M₄与第3个标准膜片的膜片质量M₃满足（|M₄-M₃|）＜M_s，第5个标准膜片的膜片质量M₅与第4个标准膜片的膜片质量M₄满足（|M₅-M₄|）＜M_s，第6个标准膜片的膜片质量M₆与第5个标准膜片的膜片质量M₅满足（|M₆-M₅|）＜M_s，第7个标准膜片的膜片质量M₇与第6个标准膜片的膜片质量M₆满足（|M₇-M₆|）＜M_s，第8个标准膜片的膜片质量M₈与第7个标准膜片的膜片质量M₇满足（|M₈-M₇|）＜M_s，其中，M_s为第一数列的公差。

应理解的是，在本发明的上述实施例中，基于每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量之间的差值的第一数列为等差数列，使得多个标准膜片之间的质量均匀间隔，从而，可以在不改变现有工艺制造精度的基础上，通过基准膜片和多个标准膜片实现对监测仪的多点校准，使得校准点可以处于更符合实际测量环境下的颗粒物浓度区间。另外，相对于现有技术的单点校准方法而言，在本发明的实施例中，通过结合基准膜片与多个标准膜片来实现对监测仪的多点校准，使得校准点更符合实际测量环境下的颗粒物浓度区间，从而，实现监测仪的精确校准，优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性。

可选地，在本发明的一些实施例中，方法包括：通过高精度天平分别获取基准膜片的膜片质量和多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量。

需要说明的是，高精度天平作为用于测量质量的仪器，具有较高的分辨率和精确度，其分辨率单位最小可以达到微克（μg）或纳克（ng），因此，在本发明的该实施例中，可以通过高精度天平对多个标准膜片的质量进行精准测定，以分别获取基准膜片的膜片质量和多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，进而，根据每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列。

S102，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列。

具体地，在本发明的一些实施例中，如图3所示，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，包括：

S201，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集。

可以理解的是，在本发明的该实施例中，可以通过射线法监测仪测量多个标准膜片中每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集I_mn。

S202，根据Grubbs检验法和每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值。

应理解的是，在本发明的该实施例中，由于多个标准膜片中每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集符合正态分布，因此，可以通过Grubbs检验法对多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值数据集I_mn进行校验，以获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值I_m，从而，确保多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值的准确性。

举例而言，在本发明的上述实施例中，假设标准膜片的数量为8个，那么可以分别获取多个标准膜片中每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集I_1n、I_2n、I_3n、I_4n、I_5n、I_6n、I_7n和I_8n，进而，根据Grubbs检验法和每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集I_1n~I_8n，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值I₁、I₂、I₃、I₄、I₅、I₆、I₇和I₈，然后，根据射线粒子数测量值I₀~I₈结合下述公式构建第二数列L_nm{ln（I₁/I₂)，ln（I₁/I₃)，ln（I₁/I₄)，ln（I₁/I₅)，ln（I₁/I₆)，ln（I₁/I₇)，ln（I₁/I₈)}。

具体地，公式如下所示：

((ln(I₀/I₁))/)*K - ((ln(I₀/I₂))//>)*K = △M；

(ln(I₀/I₁) - ln(I₀/I₂))/)*K =△M；

(ln((I₀/I₁)*(I₂/I₀)) )/)*K =△M；

(ln(I₂/I₁))/)*K =△M，

其中，I₀为基准膜片β射线的初始强度，I₁为在穿过膜片质量为M₁的标准膜片后β射线的强度，I₂为在穿过膜片质量为M₂的标准膜片后β射线的强度，△M 为吸收物质的质量厚度，即标准膜片与基准膜片之间的质量差，单位为 ug / cm²，为β射线的质量吸收系数（衰减系数）,/>=μ/ρ,单位为cm²/ug，μ为标准膜片的线性吸收系数，ρ为标准膜片的密度，K为校准系数，K=（△M）/S*Xm，S为标准膜片面积，单位为cm²，Xm为膜片质量厚度，单位为ug/cm² 。

S103，将第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据数据校准系数对颗粒物浓度值与射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。

进一步地，在本发明的一些实施例中，将第一数列和第二数列进行拟合，包括：通过最小二乘法将第一数列和第二数列进行拟合。

可以理解的是，在本发明的该实施例中，可以通过最小二乘法将第一数列X_m{X_m1,X_m2,X_m3,X_m4,X_m5,X_m6,X_m7,X_m8}和第二数列L_nm{ln（I₁/I₂)，ln（I₁/I₃)，ln（I₁/I₄)，ln（I₁/I₅)，ln（I₁/I₆)，ln（I₁/I₇)，ln（I₁/I₈)}进行拟合，以获得二阶、三阶或四阶的参数集，进而基于该参数集获取数据校准系数，并根据数据校准系数对颗粒物浓度值与射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。

进一步地，在本发明的一些实施例中，第一数列的公差为50ug/cm²。

可以理解的是，在本发明的该实施例中，第一数列的公差可以根据实际测量环境进行相应的标定，例如，第一数列的公差可以优选为50ug/cm²，其中，以标准膜片的数量为8个为例，则第一数列满足以下关系：|M₂-M₁|<50ug/cm²,|M₃-M₂|<50ug/cm²,|M₄-M₃|<50ug/cm²,|M₅-M₄|<50ug/cm²,|M₆-M₅|<50ug/cm²,|M₇-M₆|<50ug/cm²，|M₈-M₇|<50ug/cm²，由此，使得校准点可以处于符合实际测量环境下的颗粒物浓度区间，从而，实现监测仪的精确校准，优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性。

需要说明的是，在上述本发明的实施例中，第一数列的公差还可以设定为10ug/cm²、20ug/cm²、30ug/cm²、40ug/cm²或60ug/cm²等，其中，第一数列的公差用于确保多个标准膜片的膜片质量间隔均匀。

进一步地，在本发明的一些实施例中，基准膜片的膜片质量和多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量均大于预设膜片质量阈值。

可以理解的是，在本发明的实施例中，预设膜片质量阈值的取值范围可以为700ug/cm²至1500ug/cm²，由此，可以在不改变现有工艺制造精度的基础上，通过基准膜片和多个标准膜片实现对监测仪的多点校准，使得校准点可以处于更符合实际测量环境下的颗粒物浓度区间。

综上，根据本发明实施例的监测仪的校准方法，根据本发明实施例的监测仪的校准方法，通过分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，第一数列为等差数列，同时，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列，然后，将第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据数据校准系数对颗粒物浓度值与射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。由此，优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

基于前述本发明实施例的监测仪的校准方法，本发明实施例提出了一种计算机可读存储介质，其上存储有监测仪的校准程序，监测仪的校准程序被处理器执行时实现前述本发明实施例的监测仪的校准方法。

需要说明的是，本发明实施例的计算机可读存储介质在执行其上存储有的监测仪的校准程序时，能够实现与前述本发明实施例的监测仪的校准方法一一对应的具体实施方式，为减少冗余，在此不再赘述。

综上，根据本发明实施例的计算机可读存储介质，通过处理器执行监测仪的校准程序，能够优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

图4是根据本发明实施例的监测仪的校准装置的方框示意图。

具体地，在本发明的一些实施例中，如图4所示，监测仪的校准装置2000包括：第一获取模块10、第二获取模块20和校准模块30。

其中，第一获取模块10分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，第一数列为等差数列；第二获取模块20用于分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列；校准模块30用于将第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据数据校准系数对颗粒物浓度值与射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。

进一步地，在本发明的一些实施例中，第一获取模块10具体用于，依次获取每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量之间的差值，并根据差值构建第一数列。

进一步地，在本发明的一些实施例中，第一数列的公差为50ug/cm²。

进一步地，在本发明的一些实施例中，基准膜片的膜片质量和多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量均大于预设膜片质量阈值。

进一步地，在本发明的一些实施例中，第一获取模块10还用于，通过高精度天平分别获取基准膜片的膜片质量和多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量。

进一步地，在本发明的一些实施例中，第二获取模块20具体用于，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集；根据Grubbs检验法和每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值。

进一步地，在本发明的一些实施例中，校准模块30具体用于，通过最小二乘法将第一数列和第二数列进行拟合。

需要说明的是，本发明实施例的监测仪的校准装置的具体实施方式与前述本发明实施例的监测仪的校准方法的具体实施方式一一对应，为减少冗余，在此不再赘述。

综上，根据本发明实施例的监测仪的校准装置，根据本发明实施例的监测仪的校准装置，通过第一获取模块分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，第一数列为等差数列，并通过第二获取模块分别获取多个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列，以及，通过校准模块将第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据数据校准系数对颗粒物浓度值与射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。由此，优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

基于前述本发明实施例的监测仪的校准装置2000，本发明实施例提出了一种监测仪3000，其中，如图5所示，监测仪3000包括前述本发明实施例的监测仪的校准装置2000。

需要说明的是，本发明实施例的监测仪在采用前述本发明实施例的监测仪的校准装置时的具体实施方式与前述本发明实施例的监测仪的校准方法的具体实施方式一一对应，为减少冗余，在此不再赘述。

综上，根据本发明实施例的监测仪，通过采用前述监测仪的校准装置，能够优化监测仪的测量精度，并提高测量结果的准确性，进而，增强监测仪的可靠性和稳定性，且有助于实现不同监测仪之间的一致性和可比性。

需要说明的是，在流程图中表示或在此以其他方式描述的逻辑和/或步骤，例如，可以被认为是用于实现逻辑功能的可执行指令的定序列表，可以具体实现在任何计算机可读介质中，以供指令执行系统、装置或设备（如基于计算机的系统、包括处理器的系统或其他可以从指令执行系统、装置或设备取指令并执行指令的系统）使用，或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用。就本说明书而言，"计算机可读介质"可以是任何可以包含、存储、通信、传播或传输程序以供指令执行系统、装置或设备或结合这些指令执行系统、装置或设备而使用的装置。计算机可读介质的更具体的示例（非穷尽性列表）包括以下：具有一个或多个布线的电连接部（电子装置），便携式计算机盘盒（磁装置），随机存取存储器（RAM），只读存储器（ROM），可擦除可编辑只读存储器（EPROM或闪速存储器），光纤装置，以及便携式光盘只读存储器（CDROM）。另外，计算机可读介质甚至可以是可在其上打印所述程序的纸或其他合适的介质，因为可以例如通过对纸或其他介质进行光学扫描，接着进行编辑、解译或必要时以其他合适方式进行处理来以电子方式获得所述程序，然后将其存储在计算机存储器中。

应当理解，本发明的各部分可以用硬件、软件、固件或它们的组合来实现。在上述实施方式中，多个步骤或方法可以用存储在存储器中且由合适的指令执行系统执行的软件或固件来实现。例如，如果用硬件来实现，和在另一实施方式中一样，可用本领域公知的下列技术中的任一项或他们的组合来实现：具有用于对数据信号实现逻辑功能的逻辑门电路的离散逻辑电路，具有合适的组合逻辑门电路的专用集成电路，可编程门阵列（PGA），现场可编程门阵列（FPGA）等。

在本说明书的描述中，参考术语“一个实施例”、“一些实施例”、“示例”、“具体示例”、或“一些示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。

此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。在本发明的描述中，“多个”的含义是至少两个，例如两个，三个等，除非另有明确具体的限定。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系，除非另有明确的限定。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

在本发明中，除非另有明确的规定和限定，第一特征在第二特征“上”或“下”可以是第一和第二特征直接接触，或第一和第二特征通过中间媒介间接接触。而且，第一特征在第二特征“之上”、“上方”和“上面”可是第一特征在第二特征正上方或斜上方，或仅仅表示第一特征水平高度高于第二特征。第一特征在第二特征“之下”、“下方”和“下面”可以是第一特征在第二特征正下方或斜下方，或仅仅表示第一特征水平高度小于第二特征。

尽管上面已经示出和描述了本发明的实施例，可以理解的是，上述实施例是示例性的，不能理解为对本发明的限制，本领域的普通技术人员在本发明的范围内可以对上述实施例进行变化、修改、替换和变型。

Claims (10)

1.一种监测仪的校准方法，其特征在于，所述监测仪为射线法颗粒物监测仪，所述方法包括：

分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据所述每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，所述第一数列为等差数列；

分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据所述每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列；

将所述第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据所述数据校准系数对颗粒物浓度值与所述射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。

2.根据权利要求1所述的监测仪的校准方法，其特征在于，所述根据所述每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，包括：

依次获取所述每个标准膜片的膜片质量与所述基准膜片的膜片质量之间的差值，并根据所述差值构建所述第一数列。

3.根据权利要求2所述的监测仪的校准方法，其特征在于，所述第一数列的公差为50ug/cm²。

4.根据权利要求3所述的监测仪的校准方法，其特征在于，所述多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量和所述基准膜片的膜片质量均大于预设膜片质量阈值。

5.根据权利要求2-4中任一项所述的监测仪的校准方法，其特征在于，所述方法包括：通过高精度天平分别获取所述基准膜片的膜片质量和所述多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量。

6.根据权利要求1所述的监测仪的校准方法，其特征在于，所述分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，包括：

分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集；

根据Grubbs检验法和所述每个标准膜片在预设时间内的射线粒子数测量值数据集，分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值。

7.根据权利要求1所述的监测仪的校准方法，其特征在于，所述将所述第一数列和第二数列进行拟合，包括：

通过最小二乘法将所述第一数列和所述第二数列进行拟合。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，其上存储有监测仪的校准程序，所述监测仪的校准程序被处理器执行时实现根据权利要求1-7中任一项所述的监测仪的校准方法。

9.一种监测仪的校准装置，其特征在于，所述监测仪为射线法颗粒物监测仪，所述装置包括：

第一获取模块，分别获取多个标准膜片中每个标准膜片的膜片质量，并根据所述每个标准膜片的膜片质量与基准膜片的膜片质量构建第一数列，其中，所述第一数列为等差数列；

第二获取模块，用于分别获取所述多个标准膜片中每个标准膜片的射线粒子数测量值，并根据所述每个标准膜片的射线粒子数测量值构建第二数列；

校准模块，用于将所述第一数列和第二数列进行拟合，以获取数据校准系数，并根据所述数据校准系数对颗粒物浓度值与所述射线粒子数测量值的映射关系进行校准，以便于根据校准后的映射关系进行颗粒物浓度监测。

10.一种监测仪，其特征在于，所述监测仪包括权利要求9所述的监测仪的校准装置。