CN117030547A - 有效粒子数的确认方法及装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本发明实施例公开了有效粒子数的确定方法，方法包括：获取检测样本的总粒子数，以及各个粒子的脉冲信号；基于脉冲信号进行波形特征分析，得到各个粒子的波形特征参数，波形特征参数至少包括：粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值；根据各个粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值，生成检测样本中粒子的特征参数分布图；确定特征参数分布图的有效区域，及确定有效区域内的有效粒子数。对检测样本中所有粒子的波形特征参数进行统计得到特征参数分布图，进一步得到特征参数分布图的有效区域内的有效粒子数，排除了不在有效区域内的被误检为有效粒子的数值，得到更加准确的有效粒子数。

Description

有效粒子数的确认方法及装置、设备及存储介质

技术领域

本发明涉及样本检测技术领域，尤其涉及基于有效粒子数的确认方法及装置、设备及存储介质。

背景技术

在对样本采集时，会对样本中的有效粒子进行分析，所以在对样本粒子进行采集时，辨别粒子是否有效十分重要。

在实际情况中，通过对粒子产生的脉冲信号进行采集来判断样本中的粒子数，但采集过程中会受到不同因素的影响，导致获取到的粒子数不够准确，例如，粒子的形态存在不同、采集粒子脉冲信号时的采样频率不同、粒子流动速度的不同都会影响粒子的脉冲信号的形态，以及采集时噪声信号的干扰，也会影响粒子的脉冲信号形态，由此会影响在判断粒子是否有效的判断结果，因此，导致在识别有效粒子存在误差大的问题。

发明内容

基于此，有必要针对上述问题，提出有效粒子数的确认方法及装置、设备及存储介质，以减小有效粒子的识别误差。

为实现上述目的，本申请第一方面提供一种有效粒子数的确认方法，所述方法包括：

获取检测样本的总粒子数，以及各个粒子的脉冲信号；

基于所述脉冲信号进行波形特征分析，得到各个粒子的波形特征参数，所述波形特征参数至少包括：粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值；

根据所述各个粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值，生成所述检测样本中粒子的特征参数分布图；

确定所述特征参数分布图的有效区域，及确定所述有效区域内的有效粒子数，其中，所述有效区域的面积为所述特征参数分布图总面积与预设的面积占比的乘积。

进一步的，所述波形特征类型包括峰高、峰宽、半峰宽、前峰宽、后峰宽、前峰斜率和后峰斜率中的一种或多种；

则所述根据所述各个粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值，生成所述检测样本中粒子的特征参数分布图，具体包括：

基于所述各个粒子的波形特征参数，提取所述各个粒子的波形特征参数中属于同一目标波形特征类型的波形特征值，形成所述目标波形特征类型对应的特征值集，所述目标波形特征参数为所述波形特征参数所有类型中的任意一种；

利用所述目标波形特征类型对应的波形特征值集，生成所述检测样本中粒子的各波形特征类型对应的特征参数分布图。

进一步的，所述利用所述目标波形特征类型对应的波形特征值集，生成所述检测样本中粒子的各波形特征类型对应的特征参数分布图，具体包括：

对目标波形特征类型的波形特征值按照预设的阈值进行分组，得到所述目标波形特征类型的分布直方图，所述分布直方图包括包含粒子的波形特征值大小与粒子数量之间的关系。

进一步的，所述确定所述特征参数分布图的有效区域，及确定所述有效区域内的有效粒子数，具体包括：

当所述波形特征类型为一种类型时，获取目标波形特征类型的特征参数分布图的有效区域，并确认所述有效区域中的粒子数量，得到所述有效粒子数。

进一步的，所述确定所述特征参数分布图的有效区域，及确定所述有效区域内的有效粒子数，具体包括：

当所述波形特征类型为多种类型时，获取目标波形特征类型的特征参数分布图的有效区域；

确认所述有效区域中的有效粒子，并得到各个波形特征类型的有效粒子集合；

对所述各个波形特征类型的有效粒子集合进行并集处理，得到目标有效粒子集合；

统计所述目标有效粒子集合内的粒子数，得到所述有效区域内的有效粒子数。

进一步的，在所述确定所述特征参数分布图的有效区域之前还包括：

获取所述特征参数分布图的特征点，所述特征点至少包括极值点和对称点；

将所述特征点代入预设的高斯分布函数中，计算得到所述波形特征类型的目标高斯分布函数；

则所述确定所述特征参数分布图的有效区域，具体包括：

确定所述目标高斯分布函数的有效区域，所述有效区域为基于所述目标高斯分布函数的最高点的纵轴线对称的区域。

进一步的，所述获取所述特征参数分布图的特征点，具体包括：

获取所述特征参数分布图的最高点，并将所述最高点作为所述极值点，以及获取基于所述最高点对称的左对称点和右对称点；

其中，所述左对称点横坐标到所述最高点横坐标的距离，与所述右对称点横坐标到所述最高点的距离相等，所述左对称点和所述右对称点的纵坐标的差值不大于预设的第一阈值；

或，

所述左对称点和所述右对称点的纵坐标相同，所述左对称点横坐标到所述最高点横坐标的距离，与所述右对称点横坐标到所述最高点横坐标的距离之间的差值不大于预设的第二阈值。

为实现上述目的，本申请第二方面提供一种有效粒子数的确认装置，所述装置包括：信号获取单元、信号处理单元和粒子确定单元；

所述信号获取单元，用于获取检测样本的总粒子数，以及各个粒子的脉冲信号；

所述信号处理单元，用于基于所述脉冲信号进行波形特征分析，得到各个粒子的波形特征参数，所述波形特征参数至少包括：粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值；

根据所述各个粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值，生成所述检测样本中粒子的特征参数分布图；

所述粒子确定单元，用于确定所述特征参数分布图的有效区域，及确定所述有效区域内的有效粒子数，其中，所述有效区域的面积为所述特征参数分布图总面积与预设的面积占比的乘积。

为实现上述目的，本申请第三方面提供一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如第一方面所述方法的步骤。

为实现上述目的，本申请第四方面提供一种计算机设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如第一方面所述方法的步骤。

采用本发明实施例，具有如下有益效果：

本发明实施例公开了有效粒子数的确定方法，方法包括：获取检测样本的总粒子数，以及各个粒子的脉冲信号；基于脉冲信号进行波形特征分析，得到各个粒子的波形特征参数，波形特征参数至少包括：粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值；根据各个粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值，生成检测样本中粒子的特征参数分布图；确定特征参数分布图的有效区域，及确定有效区域内的有效粒子数，其中，有效区域的面积为特征参数分布图总面积与预设的面积占比的乘积。对检测样本中所有粒子的波形特征参数进行统计得到特征参数分布图，进一步得到特征参数分布图的有效区域内的有效粒子数，排除了不在有效区域内的被误检为有效粒子的数值，得到更加准确的有效粒子数。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

其中：

图1为本发明实施例的有效粒子数的确认方法的流程示意图；

图2为本发明实施例中检测仪器的工作原理图；

图3为本发明实施例中不同大小粒子通过小孔时产生的脉冲信号的示意图；

图4为本发明实施例的目标粒子的脉冲信号的波形特征分布图；

图5为本发明实施例的有效粒子数的确认装置的结构框图；

图6为本申请实施例中计算机设备的内部结构图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

识别样本中的有效粒子的目的是为了检测样本浓度，所以为获取准确的有效粒子的数量是为了得到更加精准的样本浓度。现有的识别有效粒子的方法，主要是通过提取每个粒子的脉冲信号的峰值，砍掉峰值过低或过高的脉冲，实现对有效脉冲的识别。但是利用该种方法会砍掉大量有效粒子，且识别结果还会受到脉冲信号的采样频率、样本中粒子流动速度等其它影响因素，导致检测结果误差较大。

基于此，本发明实施例提出有效粒子数的确认方法，请参阅图1，图1是本发明实施例的有效粒子数的确认方法的流程示意图，方法包括：

步骤110，获取检测样本的总粒子数，以及各个粒子的脉冲信号。

具体的，通过医疗仪器对检测样本中的粒子进行分析，识别检测样本中的有效粒子。例如医疗仪器中的血液分析仪，临床又称血细胞分析仪、血球分析仪，主要用于检测血液标本，是对血液中有形成分进行定性、定量分析，并提供相关信息的仪器，具体的，可利用血液分析仪对血液样本进行分析，得到血液样本的有效粒子数。

在本发明实施例中，在用于识别检测样本有效粒子的检测仪器的小孔两端加上稳定电流，当检测样本中的有效粒子通过小孔时，会产生若干个脉冲信号，可参阅图2，图2为检测仪器的工作原理图，如图2所示，通过在检测仪器中添加分析电路，在小孔的两端添加恒流源。在将检测样本稀释后加入检测仪器中进行粒子检测。每当检测样本中的粒子通过小孔时会产生电阻，此时可以获取各个粒子产生的电压脉冲信号，根据检测到的电压脉冲信号的数量，来确定检测样本中的总粒子数。

此外请参阅图3，图3为本发明实施例中不同大小粒子通过小孔时产生的脉冲信号的示意图，可以看出粒子体积越大电阻就越大，此时脉冲信号的峰值就越大。因此本发明通过利用粒子体积与其产生的脉冲信号的峰值成正比的特点，判断检测样本中粒子是否有效。

步骤120，基于脉冲信号进行波形特征分析，得到各个粒子的波形特征参数，波形特征参数至少包括：粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值。

具体的，波形特征参数可以体现脉冲信号的波形特征，波形特征类型可以是脉冲信号的极值、脉冲信号上两点之间的斜率、脉冲信号上两点之间的宽度等等，均可表示该脉冲信号的波形特征。同时记录每个脉冲信号的波形特征类型分别对应的波形特征值，以便进行分类分析。

步骤130，根据各个粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值，生成检测样本中粒子的特征参数分布图。

在获取到各个粒子的波形特征类型分别对应的波形特征值之后，由于每个粒子的大小不同，产生的脉冲信号不同，进而载同一类型的波形特征参数下，每个粒子的波形特征值的大小也不相同，所以对波形特征值进行统计，得到波形特征值与粒子数之间关系的特征参数分布图。

步骤140，确定特征参数分布图的有效区域，及确定有效区域内的有效粒子数，其中，有效区域的面积为特征参数分布图总面积与预设的面积占比的乘积。

由于在检测的过程中会出现各种因素，导致检测到的脉冲信号出现偏差，所以应该对脉冲信号进行一些筛选。又由于波形特征体现脉冲信号的形态，所以可以对波形特征值的大小进行筛选，将符合预设标准的特征值对应的粒子作为有效粒子。具体的，根据特征参数分布图构成的总面积与预设面积占比的乘积的面积，确定有效区域面积的大小，并得到有效区域面积内所包括的粒子数，进而得到有效粒子数。

通过对检测样本中所有粒子的波形特征参数进行统计得到特征参数分布图，进一步得到特征参数分布图的有效区域内的有效粒子数，排除了不在有效区域内的被误检为有效粒子的数值，得到更加准确的有效粒子数。

进一步的，波形特征类型包括峰高、峰宽、半峰宽、前峰宽、后峰宽、前峰斜率和后峰斜率中的一种或多种。

具体的，请参阅图4，图4为本发明实施例的目标粒子的脉冲信号的波形特征分布图。图4中P为目标粒子的峰值点，即P点在位置的高度为峰高，峰宽为起点和终点横坐标之间距离，A、B两点为半峰值点，半峰宽为两个半峰值点A、B两点的横坐标之间的距离，前峰宽为半峰值点A与峰值点P横坐标之间的距离，前峰宽为半峰值点B与峰值点P横坐标之间的距离，前峰斜率为半峰值点A与峰值点P之间的斜率，后峰斜率为半峰值点B与峰值点P之间的斜率。

则根据各个粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值，生成检测样本中粒子的特征参数分布图，具体包括：基于各个粒子的波形特征参数，提取各个粒子的波形特征参数中属于同一目标波形特征类型的波形特征值，形成目标波形特征类型对应的特征值集，目标波形特征参数为波形特征参数所有类型中的任意一种；利用目标波形特征类型对应的波形特征值集，生成检测样本中粒子的各波形特征类型对应的特征参数分布图。可以理解的是，为了得到更加精准的有效粒子的检测结果，可以选择更多的波形特征类型进行检测，并根据波形特征类型的进行分类得到每个类型的特征值集，根据特征值集进行分析，确定有效粒子数。

本发明实施例提供一种特征参数分布图的生成方法，那么利用目标波形特征类型对应的波形特征值集，生成检测样本中粒子的各波形特征类型对应的特征参数分布图，具体包括：对目标波形特征类型的波形特征值按照预设的阈值进行分组，得到目标波形特征类型的分布直方图，分布直方图包括包含粒子的波形特征值大小与粒子数量之间的关系。

按照预设的阈值根据所有粒子的特征值的大小确定，根据特征值的大小范围对特征值进行区段划分，例如，某一波形特征类型的特征值大小范围为1-100，那么可以将阈值设置成10，即分为10个区段[1-10]，[11-20]，[21-30]，……，[91-100]，将各个区段内所包含的粒子数进行统计，得到该波形特征参数的分布直方图。可以理解的是，阈值越小所得到的的分布直方图就越近似一条曲线。

按统计学原理无论按脉冲信号的任何波形特征类型的特征值进行统计，得到分布图都是符合正态分布的，但是受噪声干扰信号和粒子碎片等以及采样频率流动速度等因素的影响，粒子脉冲信号的特征参数分布图就呈非正态分布。因此为了减小偏差，在步骤140，确定特征参数分布图的有效区域之前还包括：获取特征参数分布图的特征点，特征点至少包括极值点和对称点；将特征点代入预设的高斯分布函数中，计算得到波形特征类型的目标高斯分布函数。

由于正态分布的特征是对称，那么可以选取代表特征参数分布图的特征点进行分析，例如极值点和对称点。将代表特征参数分布图的特征值代入预设的高斯分布函数中，得到呈正态分布的目标高斯函数，通过对呈非正态分布的特征参数分布图进行校正，来消除受噪声干扰信号和粒子碎片等因素影响。

进一步的本发明实施例还提出特征点的获取方法，即获取特征参数分布图的特征点，具体包括：获取特征参数分布图的最高点，并将最高点作为极值点，以及获取基于最高点对称的左对称点和右对称点；其中，左对称点横坐标到最高点横坐标的距离，与右对称点横坐标到最高点的距离相等，左对称点和右对称点的纵坐标的差值不大于预设的第一阈值；或，左对称点和右对称点的纵坐标相同，左对称点横坐标到最高点横坐标的距离，与右对称点横坐标到最高点横坐标的距离之间的差值不大于预设的第二阈值。

考虑到可能会存在没有基于峰值点完全对称的两个点，所以，可以选取横坐标基于峰值点对称，纵坐标的差值小于预设的第一阈值的两个点作为对称点；也可以选取，纵坐标相同，横坐标到峰值点横坐标的距离的差值，小于预设第二阈值的两个点作为对称点。其中，第一阈值可以为y＝τ*Y，τ为常数，Y为左对称点和右对称点纵坐标的差。第一阈值可以为x＝τ*X，τ为常数，X为左对称点和右对称点横坐标的差。

将左对称点和右对称点代入高斯分布函数中得到目标高斯函数之后，即可根据目标高斯分布函数、预设的补偿系数和总粒子数进行计算，得到检测样本中的有效粒子数。

在确定目标高斯分布函数之后，即可基于目标高斯分布函数确定有效区域，具体的，确定特征参数分布图的有效区域，具体包括：确定目标高斯分布函数的有效区域，有效区域为基于目标高斯分布函数的最高点的纵轴线对称的区域。

接下来介绍选择一种波形特征类型和选择多种波形特征类型，得到有效粒子数的方法。

一、当波形特征类型为一种类型时，获取目标波形特征类型的特征参数分布图的有效区域，并确认有效区域中的粒子数量，得到有效粒子数。

具体的，当选择峰高、峰宽、半峰宽、前峰宽、后峰宽、前峰斜率和后峰斜率中的一种波形特征类型时，确定特征参数分布图中的有效区域的位置后，将有效区域内的所包含粒子作为有效粒子，统计该有效粒子的数量，得到有效粒子数。

二、当波形特征类型为多种类型时，获取目标波形特征类型的特征参数分布图的有效区域；确认有效区域中的有效粒子，并得到各个波形特征类型的有效粒子集合；对各个波形特征类型的有效粒子集合进行并集处理，得到目标有效粒子集合；统计目标有效粒子集合内的粒子数，得到有效区域内的有效粒子数。

具体的，当选择峰高、峰宽、半峰宽、前峰宽、后峰宽、前峰斜率和后峰斜率中的多种波形特征类型时，先按照波形特征类型，分别求出各个类型对应的有效区域，以及每个有效区域内的有效粒子集合。为了避免有些有效粒子被误判为无效粒子，故将每个有效粒子集合内的粒子均作为有效粒子。即获取所有有效粒子集合的并集，将并集中的粒子数量作为有效粒子数量。

本发明实施例还提出有效粒子数的确认装置，请参阅图5，图5为本发明实施例的有效粒子数的确认装置的结构框图，装置包括：信号获取单元501、信号处理单元502和粒子确定单元503。

信号获取单元501，用于获取检测样本的总粒子数，以及各个粒子的脉冲信号。

信号处理单元502，用于基于脉冲信号进行波形特征分析，得到各个粒子的波形特征参数，波形特征参数至少包括：粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值。

根据各个粒子的波形特征类型，及波形特征类型对应的波形特征值，生成检测样本中粒子的特征参数分布图。

粒子确定单元503，用于确定特征参数分布图的有效区域，及确定有效区域内的有效粒子数，其中，有效区域的面积为特征参数分布图总面积与预设的面积占比的乘积。

本发明实施例中提出的有效粒子数的确认装置，通过对检测样本中所有粒子的波形特征参数进行统计得到特征参数分布图，进一步得到特征参数分布图的有效区域内的有效粒子数，排除了不在有效区域内的被误检为有效粒子的数值，得到更加准确的有效粒子数。

图6示出了本发明一个实施例中计算机设备的内部结构图。该计算机设备具体可以是终端，也可以是系统。如图6所示，该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该计算机设备的非易失性存储介质存储有操作系统，还可存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器实现上述方法实施例中的各个步骤。该内存储器中也可储存有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时，可使得处理器执行上述方法实施例中的各个步骤。本领域技术人员可以理解，图6中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。

在一个实施例中，提出了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行上述方法实施例中的各个步骤。

在一个实施例中，提出了一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时，使得处理器执行上述方法实施例中的各个步骤。

本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限，RAM以多种形式可得，诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双数据率SDRAM(DDRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。

以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。

以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请专利的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (10)

1.一种有效粒子数的确认方法，其特征在于，所述方法包括：

获取检测样本的总粒子数，以及各个粒子的脉冲信号；

基于所述脉冲信号进行波形特征分析，得到各个粒子的波形特征参数，所述波形特征参数至少包括：粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值；

根据所述各个粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值，生成所述检测样本中粒子的特征参数分布图；

确定所述特征参数分布图的有效区域，及确定所述有效区域内的有效粒子数，其中，所述有效区域的面积为所述特征参数分布图总面积与预设的面积占比的乘积。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述波形特征类型包括峰高、峰宽、半峰宽、前峰宽、后峰宽、前峰斜率和后峰斜率中的一种或多种；

则所述根据所述各个粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值，生成所述检测样本中粒子的特征参数分布图，具体包括：

基于所述各个粒子的波形特征参数，提取所述各个粒子的波形特征参数中属于同一目标波形特征类型的波形特征值，形成所述目标波形特征类型对应的特征值集，所述目标波形特征参数为所述波形特征参数所有类型中的任意一种；

利用所述目标波形特征类型对应的波形特征值集，生成所述检测样本中粒子的各波形特征类型对应的特征参数分布图。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述利用所述目标波形特征类型对应的波形特征值集，生成所述检测样本中粒子的各波形特征类型对应的特征参数分布图，具体包括：

对目标波形特征类型的波形特征值按照预设的阈值进行分组，得到所述目标波形特征类型的分布直方图，所述分布直方图包括包含粒子的波形特征值大小与粒子数量之间的关系。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述特征参数分布图的有效区域，及确定所述有效区域内的有效粒子数，具体包括：

当所述波形特征类型为一种类型时，获取目标波形特征类型的特征参数分布图的有效区域，并确认所述有效区域中的粒子数量，得到所述有效粒子数。

5.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述确定所述特征参数分布图的有效区域，及确定所述有效区域内的有效粒子数，具体包括：

当所述波形特征类型为多种类型时，获取目标波形特征类型的特征参数分布图的有效区域；

确认所述有效区域中的有效粒子，并得到各个波形特征类型的有效粒子集合；

对所述各个波形特征类型的有效粒子集合进行并集处理，得到目标有效粒子集合；

统计所述目标有效粒子集合内的粒子数，得到所述有效区域内的有效粒子数。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在所述确定所述特征参数分布图的有效区域之前还包括：

获取所述特征参数分布图的特征点，所述特征点至少包括极值点和对称点；

将所述特征点代入预设的高斯分布函数中，计算得到所述波形特征类型的目标高斯分布函数；

则所述确定所述特征参数分布图的有效区域，具体包括：

确定所述目标高斯分布函数的有效区域，所述有效区域为基于所述目标高斯分布函数的最高点的纵轴线对称的区域。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述获取所述特征参数分布图的特征点，具体包括：

获取所述特征参数分布图的最高点，并将所述最高点作为所述极值点，以及获取基于所述最高点对称的左对称点和右对称点；

其中，所述左对称点横坐标到所述最高点横坐标的距离，与所述右对称点横坐标到所述最高点的距离相等，所述左对称点和所述右对称点的纵坐标的差值不大于预设的第一阈值；

或，

所述左对称点和所述右对称点的纵坐标相同，所述左对称点横坐标到所述最高点横坐标的距离，与所述右对称点横坐标到所述最高点横坐标的距离之间的差值不大于预设的第二阈值。

8.一种有效粒子数的确认装置，其特征在于，所述装置包括：信号获取单元、信号处理单元和粒子确定单元；

所述信号获取单元，用于获取检测样本的总粒子数，以及各个粒子的脉冲信号；

所述信号处理单元，用于基于所述脉冲信号进行波形特征分析，得到各个粒子的波形特征参数，所述波形特征参数至少包括：粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值；

根据所述各个粒子的波形特征类型，及所述波形特征类型对应的波形特征值，生成所述检测样本中粒子的特征参数分布图；

所述粒子确定单元，用于确定所述特征参数分布图的有效区域，及确定所述有效区域内的有效粒子数，其中，所述有效区域的面积为所述特征参数分布图总面积与预设的面积占比的乘积。

9.一种计算机可读存储介质，存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。

10.一种计算机设备，包括存储器和处理器，其特征在于，所述存储器存储有计算机程序，所述计算机程序被所述处理器执行时，使得所述处理器执行如权利要求1至7中任一项所述方法的步骤。