CN116973388B - 检测装置及用于电芯检测的检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种检测装置及用于电芯检测的检测方法，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构以及检测机构。所述旋转机构设置于所述支撑机构，所述旋转机构包括：旋转支架和旋转盘，所述旋转支架设置于所述支撑机构，所述旋转盘可相对于所述旋转支架进行周向转动；所述传送机构穿过所述旋转盘，且所述传送机构适于传送电芯；所述检测机构设置于所述旋转盘，所述检测机构包括：射线源和探测器，所述射线源与所述探测器适于对所述传送机构上的所述电芯进行检测，且所述射线源与所述探测器适于在所述旋转盘上进行周向旋转。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。

Description

检测装置及用于电芯检测的检测方法

技术领域

本发明涉及无损检测领域，具体涉及一种检测装置及用于电芯检测的检测方法。

背景技术

随着锂电池的需求不断扩大，市场对锂电池品质的要求越来越高，当前对锂电池尤其是动力电池的一致性要求日趋严格。在一些现有技术中，使用传统的工业CT方案，探测器与光机静止对电芯进行扫描，对要检测的电芯角位的位置精度以及角位的形变要求较高，在检测过程中受电芯位置、电芯角位变形等客观因素的影响，导致检测质量难以提升，且误判率过高。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种检测装置，所述检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。

本发明还旨在提出一种用于电信检测的检测方法，所述检测方法使用上述检测装置对电芯进行检测。

根据本发明第一方面实施例的检测装置，所述检测装置包括：支撑机构、旋转机构、传送机构、检测机构以及角度传感机构。所述旋转机构设置于所述支撑机构，所述旋转机构包括：旋转支架和旋转盘，所述旋转支架设置于所述支撑机构，所述旋转盘可相对于所述旋转支架进行周向转动；所述传送机构穿过所述旋转盘，且所述传送机构适于传送电芯；所述检测机构设置于所述旋转盘，所述检测机构包括：射线源和探测器，所述射线源与所述探测器适于对所述传送机构上的所述电芯进行检测，且所述射线源与所述探测器适于在所述旋转盘上进行周向旋转；所述角度传感机构与所述旋转机构信号连接，所述角度传感机构用于检测所述射线源或所述探测器是否到达预设区间，当所述射线源或所述探测器到达所述预设区间时控制所述旋转盘降低转速。

根据本发明第一方面实施例的检测装置，旋转机构设置在支撑机构上，且旋转机构上设置有检测机构，检测机构可在旋转机构上进行周向旋转，传送机构穿过旋转盘，电芯可在传送机构上穿过旋转盘，从而实现电芯的连续检测，角度传感机构可对检测机构的旋转角度进行检测。当需要检测装置对电芯进行检测时，首先传送机构将电芯传送至检测区域，检测机构的射线源与探测器在旋转盘上进行周向旋转，进而对位于检测区域内的电芯进行检测，需要说明的是，检测区域为射线源与探测器连线之间的区域，检测机构在此区域可对电芯进行检测。检测机构通过在旋转盘上进行周向旋转，可对电芯进行多方位检测，从而对每个电芯的极片对齐情况以及极片的焊接情况进行检测，并且对电芯在传送机构上的摆放位置以及摆放角度不做要求，并且当射线源或探测器旋转至预设区间时，角度传感机构会向旋转机构发送信号，使旋转盘的降低转速，此时检测机构的检测频率不变，通过较低的转速，可对电芯的检测更精细。由此，检测装置可在降低电芯摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。

在一些实施例中，所述角度传感器包括至少两个角度传感器，两个所述角度传感器沿所述旋转支架的周向间隔设置，并用于检测所述射线源或所述探测器的位置，以在所述射线源或所述探测器在旋转至两个所述角度传感器之间时使所述旋转盘的降低转速。

在一些实施例中，所述角度传感机构包括：沿旋所述旋转支架周向依次间隔设置的第一角度传感器、第二角度传感器、第三角度传感器和第四角度传感器。所述第一角度传感器、所述第二角度传感器、所述第三角度传感器和所述第四角度传感器用于检测所述射线源或所述探测器的位置，以在所述射线源或所述探测器旋转至第一角度传感器与第二角度传感器之间、第三角度传感器与第四角度传感器之间时使所述旋转盘降低转速，在所述射线源或所述探测器旋转至第二角度传感器与第三角度传感器之间、第四角度传感器与第一角度传感器之间时使所述旋转盘提高转速。

在一些实施例中，所述旋转盘上设有两个相对设置的径向移动机构，所述径向移动机构可沿所述旋转盘的径向靠近或远离所述旋转盘的圆心。

进一步地，所述射线源与所述探测器设置在所述径向移动机构上，以使所述射线源与所述探测器在检测位置和所述避让位置之间切换。

在一些实施例中，所述旋转机构还包括：位置传感器，所述位置传感器可对传送机构上的所述电芯的位置进行检测。

在一些实施例中，所述检测机构还包括：筛选机构，所述筛选机构适于在所述检测机构检测到所述电芯不合格时将所述电芯转移至废料区。

根据本发明第二方面实施例的用于电芯检测的检测方法，适用于通过检测装置对电芯进行检测，所述检测方法包括：将电芯放置于传送机构；传送机构传送电芯至检测区域；角度传感机构检测射线源或探测器是否到达预设区间，当所述射线源或所述探测器到达所述预设区间时控制旋转盘降低转速；检测机构对所述电芯进行缺陷检测。

在一些实施例中，在将所述电芯放置于所述传送机构时，将所述电芯摆放至预设角度，其中，所述预设角度为15°-75°。

在一些实施例中，所述检测机构对所述电芯进行检测前还包括：所述位置传感器对所述电芯的位置进行检测；若所述电芯的位置与所述检测机构不存在干涉，则所述传送机构传送所述电芯运动至检测区域；若所述电芯的位置与所述检测机构存在干涉，则检测机构进行避让。

进一步地，所述检测机构对所述电芯进行检测前还包括：旋转盘带动射线源与探测器转动一定角度，以对所述电芯进行避让；所述传送机构传送所述电芯运动至检测区域；所述旋转盘带动所述射线源与所述探测器进行周向转动以对所述电芯进行检测；所述传送机构传送所述电芯移出所述检测区域。

在一些实施例中，所述检测机构对所述电芯进行检测前还包括：旋转盘带动射线源与探测器进行周向转动；射线源与探测器由检测位置切换至避让位置；所述传送机构传送所述电芯运动至检测区域；所述射线源与所述探测器由所述避让位置切换至所述检测位置；所述旋转盘带动所述射线源与所述探测器进行周向转动以对所述电芯进行检测；所述传送机构传送所述电芯移出所述检测区域。

在一些实施例中，在所述旋转盘带动所述射线源与所述探测器进行周向转动以对所述电芯进行检测时，包括：当射线源或探测器旋转至第一角度传感器与第二角度传感器之间、第三角度传感器与第四角度传感器之间时使旋转盘降低转速；当射线源或探测器旋转至第二角度传感器与第三角度传感器之间、第四角度传感器与第一角度传感器之间时使旋转盘提高转速。

可选地，筛选机构将不合格的所述电芯转移至废料区。

本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。

附图说明

本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：

图1是本发明第一方面实施例的检测装置的主视图。

图2是本发明第一方面实施例的检测装置的俯视剖面图。

附图标记：

检测装置100、

支撑机构10、

旋转机构20、旋转支架21、旋转盘22、径向移动机构221、检测机构23、射线源231、探测器232、旋转连接件24、位置传感器25、

传送机构30、定位模组31、第一定位部311、第二定位部312、

筛选机构40、

角度传感机构50、第一角度传感器51、第二角度传感器52、第三角度传感器53、第四角度传感器54、

电芯200。

具体实施方式

下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。

在本发明的描述中，需要理解的是，术语“中心”、“纵向”、“横向”、“长度”、“宽度”、“厚度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”、“顺时针”、“逆时针”、“轴向”、“径向”、“周向”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。此外，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本发明的描述中，除非另有说明，“多个”的含义是两个或两个以上。

在本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。

下面参考图1-图2描述根据本发明实施例的检测装置100及用于电芯200检测的检测方法。

如图1-图2所示，根据本发明第一方面实施例的检测装置100，检测装置100包括：支撑机构10、旋转机构20、传送机构30、检测机构23以及角度传感机构50。

其中，旋转机构20设置于支撑机构10，旋转机构20包括：旋转支架21和旋转盘22，旋转支架21设置于支撑机构10，旋转盘22可相对于旋转支架21进行周向转动；传送机构30穿过旋转盘22，且传送机构30适于传送电芯200；检测机构23设置于旋转盘22，检测机构23包括：射线源231和探测器232，射线源231与探测器232适于对传送机构30上的电芯200进行检测，且射线源231与探测器232适于在旋转盘22上进行周向旋转，所述角度传感机构50与所述旋转机构20信号连接，所述角度传感机构50用于检测所述射线源231或所述探测器232是否到达预设区间，当所述射线源231或所述探测器232到达所述预设区间时控制所述旋转盘22降低转速。

具体而言，旋转机构20设置在支撑机构10上，且旋转机构20上设置有检测机构23，检测机构23可在旋转机构20上进行周向旋转，传送机构30穿过旋转盘22，电芯200可在传送机构30上穿过旋转盘22，从而实现电芯200的连续检测，角度传感机构可对检测机构的旋转角度进行检测。当需要检测装置100对电芯200进行检测时，首先传送机构30将电芯200传送至检测区域，检测机构23的射线源231与探测器232在旋转盘22上进行周向旋转，进而对位于检测区域内的电芯200进行检测，需要说明的是，检测区域为射线源231与探测器232连线之间的区域，检测机构23在此区域可对电芯200进行检测。检测机构23通过在旋转盘22上进行周向旋转，可对电芯200进行多方位检测，从而对每个电芯200的极片对齐情况以及极片的焊接情况进行检测，并且对电芯200在传送机构30上的摆放位置以及摆放角度不做要求，并且当射线源231或探测器232旋转预设区间时，角度传感机构50会向旋转机构20发送信号，使旋转盘22的降低转速，此时检测机构23的检测频率不变，通过较低的转速，可对电芯的检测更精细。

可以理解的是，预设区间可通过角度传感机构50进行设置，且预设区间可以为旋转盘22旋转周向上的任意区域，例如当电芯200放置在传送机构30上且传送机构30将电芯200传送至检测区域时，预设区间可以为旋转盘22周向上靠近电芯200侧面的部分区域，也可以为旋转盘22周向上靠近电芯200顶面或底面的部分区域，可根据实际需要进行设置。

当预设区间为旋转盘22周向上靠近电芯200侧面的部分区域时，旋转盘22带动射线源231或探测器232运动至该区域会降低转速，此时的检测机构23可增加在预设区域内的检测时长，从而增加对电芯200侧面的检测量，提高检测精度。

旋转机构20通过旋转支架21设置在支撑机构10上，旋转支架21可对旋转盘22进行支撑，旋转盘22可在旋转支架21上进行周向转动，射线源231与探测器232固定于旋转盘22上，且可跟随旋转盘22进行同步转动，在对电芯200进行检测时，射线源231与探测器232可对围绕位于检测区域内的电芯200进行周向转动，以在多个方位对电芯200进行出束扫描。通过旋转盘22带动射线源231与探测器232进行周向转动，可对位于检测区域内的电芯200进行多方位扫描，从而提高电芯200检测质量。

根据本发明第一方面实施例的检测装置100，检测装置100可在降低电芯200摆放需求的同时，提高检测质量以及检测效率。

可选地，检测装置100还包括检测控制系统，检测控制系统包括：

若电芯200在进入检测区域时将与旋转机构发生碰撞，旋转机构20控制旋转盘带动射线源231与探测器232转动一定角度，对电芯200进行避让；

若电芯200在进入检测区域时将与旋转机构发生碰撞，射线源231与探测器232由检测位置切换至避让位置，对电芯200进行避让；

角度传感机构50检测射线源231或探测器232是否到达预设区间，当射线源231或探测器232到达预设区间时控制旋转盘22降低转速。

进一步地，所述旋转机构20还包括：旋转连接件24，旋转连接件24设置在旋转支架21与旋转盘22之间，降低旋转支架21与旋转盘22之间的阻力，以使旋转盘22进行自由转动。

需要说明的是，这里对旋转连接件24的结构不做具体限制，旋转连接件24可以为圆形滑轨与圆形滑块的组合件，也可以为设置于旋转支架21与旋转盘22之间的轴承。

当旋转连接件24为圆形滑轨与圆形滑块时，圆形滑轨可设置于旋转支架21与旋转盘22的其中一个上，圆形滑块可设置在旋转支架21与旋转盘22的另一个上，圆形滑轨与圆形滑块相互啮合，可使旋转盘22在旋转支架21上进行自由转动。

可选地，所述旋转机构20还包括：驱动电机、驱动齿轮与从动齿部，驱动电机固定在旋转支架21上，驱动齿轮设置在驱动电机的电机轴上，从动齿部设置在旋转盘22的外侧，驱动齿轮与从动齿部啮合。由此，旋转盘22可在驱动电机的驱动下进行周向转动，进而提高电芯200的检测效率。

需要说明的是，从动齿轮部可以为设置在旋转盘22外侧的一整圈外齿，也可以为设置在旋转盘22外侧的部分外齿。当从动齿部为设置在旋转盘22外侧的一整圈外齿时，旋转盘22可在驱动电机的驱动下进行连续的周向转动，当从动齿部为设置在旋转盘22外侧的部分外齿时，旋转盘22可在驱动电机的驱动下进行一定角度的往复转动，可根据实际需要进行选择。

在一些实施例中，所述角度传感机构50包括至少两个角度传感器，两个所述角度传感器沿所述旋转支架21的周向间隔设置，并用于检测所述射线源231或所述探测器232的位置，以在所述射线源231或所述探测器232在旋转至两个所述角度传感器之间时使所述旋转盘22的降低转速，其中所述预设区间为相邻两个所述角度传感器之间的区间。

进一步地，角度传感机构50包括：沿旋旋转支架21周向依次间隔设置的第一角度传感器51、第二角度传感器52、第三角度传感器53和第四角度传感器54。第一角度传感器51、第二角度传感器52、第三角度传感器53和第四角度传感器54用于检测射线源231或探测器232的位置，以在射线源231或探测器232旋转至第一角度传感器51与第二角度传感器52之间、第三角度传感器53与第四角度传感器54之间时使旋转盘22降低转速，在射线源231或探测器232旋转至第二角度传感器52与第三角度传感器53之间、第四角度传感器54与第一角度传感器51之间时使旋转盘22提高转速，其中所述预设区间为所述第一角度传感器(51)与所述第二角度传感器(52)之间的区间、第三角度传感器(53)与所述第四角度传感器(54)的区间。

具体而言，通过设置多个角度传感器，可使旋转盘22在带动检测机构23进行旋转时进行变速转动，检测机构23可在第一角度传感器51与第二角度传感器52之间、第三角度传感器53与第四角度传感器54之间降低转速，从而实现更精准的检测，而在第二角度传感器52与第三角度传感器53之间、第四角度传感器54与第一角度传感器51之间提高减速。当通过检测装置100对电芯200进行检测时，首先传送机构30将电芯200传送至检测区域，由于电芯200本身的结构特性，在其侧面具有较多的检测信息，在现有技术中一般采用检测装置匀速转动对电芯进行检测，但当射线源231或探测器232运动至电芯侧面时，由于速度较快，采集到的信息较少，导致电芯检测质量较差。而通过设置角度传感机构50，在射线源231或探测器232运动至电芯侧面时，控制旋转盘22降低转速，可大大增加信息采集量，进而提高检测精度，而在电芯检测信息较少的顶面或底面上，可提高检测机构23的转速，进而保证检测效率。

由此，通过设置角度传感机构50，可进一步提高检测装置的检测精度以及检测效率。

可选地，角度传感机构还可以为编码器，编码器与驱动电机同轴设置，编码器用于检测射线源或探测器是否到达预设区间，当射线源或探测器到达预设区间时控制旋转盘降低转速。

在一些实施例中，旋转盘22上设有两个相对设置的径向移动机构221，径向移动机构221可沿旋转盘22的径向靠近或远离旋转盘22的圆心。射线源231与探测器232设置在径向移动机构221上，以使射线源231与探测器232在检测位置和避让位置之间切换。

具体而言，通过径向移动机构221，射线源231与探测器232可分别在旋转盘22的直径方向进行移动，以实现相互靠近或相互远离，当射线源231与探测器232均向旋转盘22的圆心处靠近时，可移动至检测位置，此时射线源231与探测器232的距离较近，具有较高的检测精度，当射线源231与探测器232均远离旋转盘22的圆心时，可移动至避让位置，此时射线源231与探测器232的距离较远，当传送机构30将电芯200传送至检测区域时，电芯200的边角可能会与检测机构23发生干涉，通过将射线源231与探测器232切换至避让位置，可对电芯200形成避让，防止对电芯200以及检测机构23造成损坏。

由此，通过使射线源231与探测器232在检测位置和避让位置之间切换，可在保证检测精度的同时，提高检测的安全性。

进一步地，传送机构30还包括间隔设置的多个定位模组31，定位模组31适于对电芯200进行定位。在将电芯200摆放在传送机构30上时，可通过定位模组31对电芯200进行定位，使每个电芯200的被测边角均处于合适位置，在传送机构30将电芯200移动至检测区域时，保证每个电芯200的检测边角均处于同一位置，进而提高检测精度。

可选地，定位模组31包括第一定位部311和第二定位部312，第一定位部311与第二定位部312相互垂直，且第一定位部311与第二定位部312均固定于传送机构30上，第一定位部311与第二定位部312的形成夹角内侧形成定位空间，待测电芯200的边角可置于定位空间内，且电芯200的相邻两边分别与第一定位部311和第二定位部312相互止抵。

具体而言，当需要对电芯200进行检测时，将电芯200放置在传送机构30上，且将电芯200的一个边角放置在定位空间内，并将边角的相邻两边分别与第一定位部311和第二定位部312止抵，此时电芯200可固定在传送机构30上，以此方法依次对电芯200进行放置，可保证电芯200的摆放规律。

由此，在后续通过检测机构23对电芯200边角进行检测时，无需调整电芯200位置即可检测，在保证检测精度的同时，提高检测效率。

需要说明的是，这里对定位模组31与传送机构30的连接方式不做具体限制，例如定位模组31可通过粘接、螺接或卡接的方式与传送机构30进行连接，可根据实际需要选择。

进一步可选地，第一定位部311和第二定位部312可以为形成于传送机构30上的凹槽或凸起，在将电芯200放置在传送机构30上时，可将电芯200的边角放入凹槽或凸起内，这样即可对电芯200的位置进行固定。

可选地，定位模组31固定于传送机构30时，具有预设角度，其中预设角度为0°-75°。

示例性地，预设角度可以为0°、5°、10°、15°、20°、25°、30°、35°、40°、45°、50°、55°、60°、65°、70°、75°，可根据实际需要进行设置。

需要说明的是，这里对定位模组31在传送机构30上的数量以及设置位置不做具体限制，例如定位模组31可设置在传送机构30中线并间隔设置，定位模组31还可设置在传送机构30的中线两侧并排设置，可根据实际需要进行选择。

可以理解的是，根据定位模组31设置方式的不同，电芯200在传送机构30上的摆放方式也不同。

当定位模组31设置在传送机构30的中线上并等距设置时，为保证检测机构23对电芯200的检测质量，可将定位模组31设置成预设角度，以使检测机构23可对电芯200的边角进行检测，电芯200可通过将边角放置在定位空间内，并将边角的相邻两边分别与第一定位部311和第二定位部312止抵，此时多个电芯200可等距放置在传送机构30上。如图2所示，若示例性地将定位模组31的预设角度设置为45°，电芯200在传送机构30上也为倾斜45°摆放，当传送机构30将电芯200传送至检测区域时，检测机构23可对电芯200的边角进行周向检测，进而提高检测精度。

当定位模组31设置在传送机构30的中线两侧并排设置时，定位模组31可将预设角度设为0°且对角放置，这样可同时对两个电芯200进行固定，当检测装置100中设置有旋转台时，可通过旋转台将旋转机构20设置一定角度，使检测机构23与传送机构30的中心形成一定夹角，此时传送机构30上设置有两个电芯200，两个电芯200在定位模组31的约束下为收尾相连的对角设置在传送机构30的中线两侧，检测机构23可同时对两个电芯200的边角进行检测，进而提高检测效率。

在一些实施例中，旋转机构20还包括：位置传感器25，位置传感器25可对传送机构30上的电芯200的位置进行检测。通过位置传感器25，可对传送机构30上电芯200的位置进行检测，位置传感器25与旋转机构20信号连接，在传送机构30传送电芯200进入检测区域之前，位置传感器25进行检测，当位置传感器25检测到电芯200的位置与检测机构23即将发生干涉时，则向旋转机构20发送避让信号，旋转盘22带动射线源231与探测器232停止周向转动并对电芯200进行避让，当位置传感器25检测到电芯200位置与检测机构23不会发生干涉或未检测到电芯200时，旋转盘22带动射线源231与探测器232继续进行周向转动。

由此，可在电芯200检测时防止电芯200与检测机构23发生碰撞，提高检测安全性。

需要说明的是，这里对位置传感器25的种类不做具体限制，例如位置传感器25可以为光学位置传感器25、超声波位置传感器25、光幕传感器以及摄像头。

当位置传感器25为光学位置传感器25时，通过发射器发射光束，若位于传送机构30上的电芯200与旋转机构20干涉，发射器发射的光束在触碰到电芯200时则会反射回光学位置传感器25，此时传感器可计算出旋转机构20与电芯200之间的距离，当二者距离小于设定阈值时，光学位置传感器25向旋转机构20发送避让信号，旋转盘22带动射线源231与探测器232停止周向转动并对电芯200进行避让，当光学位置传感器25未接收到反射信号，或接收到信号后通过计算，电芯200与旋转机构20之间的距离大于等于设定阈值时，旋转盘22带动射线源231与探测器232继续进行周向转动。

当位置传感器25为光幕传感器时，光幕传感器可设置于旋转机构20的上游，并设置在传送机构30附近，当光幕传感器检测到光幕被遮挡时，光幕传感器向旋转机构20发送避让信号，旋转带动射线源231与探测器232停止周向转动并对电芯200进行避让，当光幕传感器检测到光幕未被遮挡时，旋转盘22带动射线源231与探测器232继续进行周向转动。

当位置传感器25为摄像头时，摄像头可设置在旋转支架21上，摄像头可对位于传送机构30上的电芯200进行拍摄，通过识别图像中的电芯200位置，可判断电芯200与旋转机构20时候干涉，当通过摄像头拍摄的图像计算得出电芯200将与旋转机构20发生碰撞时，摄像头向旋转机构20发送避让信号，旋转盘22带动射线源231与探测器232停止周向转动并对电芯200进行避让，当摄像头拍摄的图像中未出现电芯200或通过摄像头拍摄的图像计算得出电芯200与旋转机构20不会发生碰撞时，摄像头向旋转盘22机构发送信号，旋转盘22带动射线源231与探测器232继续进行周向转动。

需要说明的是，这里对位置传感器25在检测装置100上的位置不做具体限制，只要保证位置传感器25可对电芯200与旋转机构20是否发生碰撞进行检测即可，可根据需要进行设置。

在一些实施例中，检测机构23还包括：筛选机构40，筛选机构40适于在检测机构23检测到电芯200不合格时将电芯200转移至废料区。

具体而言，筛选机构40适于在检测机构23检测到电芯200不合格时，将不合格电芯200转移至废料区。在检测机构23对电芯200检测完成后，若电芯200内部缺陷情况无法满足要求，筛选机构40可在传送机构30上将不合格的电芯200筛选出，并转移至废料区，以便合格的电芯200进入下一步工序。由此，可提高检测装置100的检测效率。

可以理解的是，在本申请中与检测装置100对应的检测系统，可对检测装置100检测的电芯200进行一一对应编号，当筛选机构40将不合格电芯200转移至废料区时，检测系统将与该不合格电芯200对应的的编号以及图像也随之剔除。

也就是说，电芯200首先在传送机构30的传送下被检测机构23检测，若检测机构23检测到该电芯200不合格，筛选机构40则将该电芯200转移至废料区，与此同时在检测系统内，与不合格电芯200对应的编号以及图像被剔除，当电芯200通过检测机构23的检测，并判断为合格时，可使合格电芯200进入下一步工序。由此，可降低系统资源占用率，进而使检测装置100具有更高的检测效率。

根据本发明第二方面实施例的用于电芯200检测的检测方法，检测方法适用于上述实施例中任一项的检测装置100，检测方法包括：将电芯200放置于传送机构30；传送机构30传送电芯200；检测机构23对电芯200进行检测。

在一些实施例中，在将电芯200放置于传送机构30时，将电芯200摆放至预设角度，其中，预设角度为15°-75°。

具体而言，将电芯200摆放至预设角度，可使电芯200的中心线与传送机构30延伸方向具有一定角度，也就是将电芯200倾斜摆放在传送机构30上，这样在传送机构30将电芯200移动至检测区域时，可使电芯200的边角处于检测区域内。

由此，可在提高检测效果的同时提高检测装置100的检测效率。

示例性地，预设角度可以为15°、20°、25°、30°、35°、40°、45°、50°、55°、60°、65°、70°、75°，可根据实际需要进行设置。

如图2所示，下面根据本发明的具体实施例对电芯200的检测方法进行说明。

实施例一：

将电芯200放置于传送机构30，并将电芯200摆放至预设角度；

旋转盘22带动射线源231与探测器232进行周向转动，此时传送机构30平行于检测机构23的旋转轴心延伸设置，传送机构30对电芯200进行传送；

位置传感器25对电芯200位置进行检测，若检测到电芯200在进入检测区域时将与旋转机构20发生碰撞，则向旋转机构20发送避让信号；

旋转机构20接收到位置传感器25的避让信号，控制旋转盘带动射线源231与探测器232转动一定角度，对电芯200进行避让；

传送机构30将电芯200传送至检测区域；

位置传感器25对电芯200位置进行检测，若未检测到电芯200或检测到电芯200位置不会与旋转机构20发生碰撞，则向旋转机构20发送信号；

旋转机构20接收到位置传感器25的信号后，控制旋转盘22带动射线源231与探测器232进行周向转动，角度传感机构50检测射线源231或探测器232是否到达预设区间，当射线源231或探测器232到达预设区间时控制旋转盘22降低转速；

检测机构23在预设区间对电芯200进行缺陷检测；

在扫描完成后，位置传感器25对电芯200位置进行检测，若检测到电芯200在输出过程中将与旋转机构20发生碰撞，则向旋转机构20发送避让信号；

旋转机构20接收到位置传感器25的避让信号，控制旋转盘22带动射线源231与探测器232转动一定角度，对电芯200进行避让；

其中，当射线源231或探测器232旋转至第一角度传感器51与第二角度传感器52之间、第三角度传感器53与第四角度传感器54之间时使旋转盘22降低转速；

当射线源231或探测器232旋转至第二角度传感器52与第三角度传感器53之间、第四角度传感器54与第一角度传感器51之间时使旋转盘22提高转速；

传送机构30传送电芯200移出检测区域；

筛选机构40将不合格的所述电芯200转移至废料区。

实施例二：

将电芯200放置于传送机构30，并将电芯200摆放至预设角度；

旋转盘22带动射线源231与探测器232进行周向转动，此时传送机构30平行于检测机构23的旋转轴心延伸设置，传送机构30对电芯200进行传送；

位置传感器25对电芯200位置进行检测，若检测到电芯200在进入检测区域时将与旋转机构20发生碰撞，则向旋转机构20发送避让信号；

旋转机构20接收到位置传感器25的避让信号，射线源231与探测器232由检测位置切换至避让位置，对电芯200进行避让；

传送机构30将电芯200传送至检测区域；

位置传感器25对电芯200位置进行检测，若未检测到电芯200或检测到电芯200位置不会与旋转机构20发生碰撞，则向旋转机构20发送信号；

旋转机构20接收到位置传感器25的信号后，射线源231与探测器232由避让位置切换至检测位置；

旋转机构20接收到位置传感器25的信号后，控制旋转盘22带动射线源231与探测器232进行周向转动，角度传感机构50检测射线源231或探测器232是否到达预设区间，当射线源231或探测器232到达预设区间时控制旋转盘22降低转速；

检测机构23在预设区间对电芯200进行缺陷检测；

在扫描完成后，位置传感器25对电芯200位置进行检测，若检测到电芯200在输出过程中将与旋转机构20发生碰撞，则向旋转机构20发送避让信号；

旋转机构20接收到位置传感器25的避让信号，射线源231与探测器232由检测位置切换至避让位置，对电芯200进行避让；

其中，当射线源231或探测器232旋转至第一角度传感器51与第二角度传感器52之间、第三角度传感器53与第四角度传感器54之间时使旋转盘22降低转速；

当射线源231或探测器232旋转至第二角度传感器52与第三角度传感器53之间、第四角度传感器54与第一角度传感器51之间时使旋转盘22提高转速；

传送机构30传送电芯200移出检测区域；

筛选机构40将不合格的所述电芯200转移至废料区。

在本说明书的描述中，参考术语“实施例”、“示例”等的描述意指结合该实施例或示例描述的具体特征、结构、材料或者特点包含于本发明的至少一个实施例或示例中。在本说明书中，对上述术语的示意性表述不一定指的是相同的实施例或示例。而且，描述的具体特征、结构、材料或者特点可以在任何的一个或多个实施例或示例中以合适的方式结合。

尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。

Claims (13)

1.一种检测装置，其特征在于，包括：

支撑机构(10)；

旋转机构(20)，所述旋转机构(20)设置于所述支撑机构(10)，所述旋转机构(20)包括：旋转支架(21)和旋转盘(22)，所述旋转支架(21)设置于所述支撑机构(10)，所述旋转盘(22)可相对于所述旋转支架(21)进行周向转动；

传送机构(30)，所述传送机构(30)穿过所述旋转盘(22)，且所述传送机构(30)适于传送电芯(200)；

检测机构(23)，所述检测机构(23)设置于所述旋转盘(22)，所述检测机构(23)包括：射线源(231)和探测器(232)，所述射线源(231)与所述探测器(232)适于对所述传送机构(30)上的所述电芯(200)进行检测，且所述射线源(231)与所述探测器(232)适于在所述旋转盘(22)上进行周向旋转；

角度传感机构(50)，所述角度传感机构(50)与所述旋转机构(20)信号连接，所述角度传感机构(50)用于检测所述射线源(231)或所述探测器(232)是否到达预设区间，当所述射线源(231)或所述探测器(232)到达所述预设区间时控制所述旋转盘(22)降低转速；

所述角度传感机构(50)包括至少两个角度传感器，两个所述角度传感器沿所述旋转支架(21)的周向间隔设置，并用于检测所述射线源(231)或所述探测器(232)的位置，以在所述射线源(231)或所述探测器(232)在旋转至两个所述角度传感器之间时使所述旋转盘(22)的降低转速，其中所述预设区间为相邻两个所述角度传感器之间的区间。

2.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述角度传感机构(50)包括：沿旋所述旋转支架(21)周向依次间隔设置的第一角度传感器(51)、第二角度传感器(52)、第三角度传感器(53)和第四角度传感器(54)，所述第一角度传感器(51)、所述第二角度传感器(52)、所述第三角度传感器(53)和所述第四角度传感器(54)用于检测所述射线源(231)或所述探测器(232)的位置，以在所述射线源(231)或所述探测器(232)旋转至第一角度传感器(51)与第二角度传感器(52)之间、第三角度传感器(53)与第四角度传感器(54)之间时使所述旋转盘(22)降低转速，在所述射线源(231)或所述探测器(232)旋转至第二角度传感器(52)与第三角度传感器(53)之间、第四角度传感器(54)与第一角度传感器(51)之间时使所述旋转盘(22)提高转速，其中所述预设区间为所述第一角度传感器(51)与所述第二角度传感器(52)之间的区间、第三角度传感器(53)与所述第四角度传感器(54)的区间。

3.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述旋转盘(22)上设有两个相对设置的径向移动机构(221)，所述径向移动机构(221)可沿所述旋转盘(22)的径向靠近或远离所述旋转盘(22)的圆心。

4.根据权利要求3所述的检测装置，其特征在于，所述射线源(231)与所述探测器(232)设置在所述径向移动机构(221)上，以使所述射线源(231)与所述探测器(232)在检测位置和避让位置之间切换。

5.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，所述旋转机构(20)还包括：位置传感器(25)，所述位置传感器(25)可对传送机构(30)上的所述电芯(200)的位置进行检测。

6.根据权利要求1所述的检测装置，其特征在于，还包括：筛选机构(40)，所述筛选机构(40)适于在所述检测机构(23)检测到所述电芯(200)不合格时将所述电芯(200)转移至废料区。

7.一种用于电芯检测的检测方法，其特征在于，适用于权利要求1-6中任一项所述的检测装置，所述检测方法包括：

将电芯(200)放置于传送机构(30)；

传送机构(30)传送电芯(200)至检测区域；

角度传感机构(50)检测射线源(231)或探测器(232)是否到达预设区间，当所述射线源(231)或所述探测器(232)到达所述预设区间时控制旋转盘(22)降低转速；

检测机构(23)在所述预设区间对所述电芯(200)进行缺陷检测。

8.根据权利要求7所述的检测方法，其特征在于，在将所述电芯(200)放置于所述传送机构(30)时，将所述电芯(200)摆放至预设角度，其中，所述预设角度为15°-75°。

9.根据权利要求8所述的检测方法，其特征在于，所述检测机构(23)对所述电芯(200)进行检测前还包括：

所述位置传感器(25)对所述电芯(200)的位置进行检测；

若所述电芯(200)的位置与所述检测机构(23)不存在干涉，则所述传送机构(30)传送所述电芯(200)运动至检测区域；

若所述电芯(200)的位置与所述检测机构(23)存在干涉，则检测机构(23)进行避让。

10.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述检测机构(23)对所述电芯(200)进行检测前还包括：

旋转盘(22)带动射线源(231)与探测器(232)转动一定角度，以对所述电芯(200)进行避让；

所述传送机构(30)传送所述电芯(200)运动至检测区域；

所述旋转盘(22)带动所述射线源(231)与所述探测器(232)进行周向转动以对所述电芯(200)进行检测；

所述传送机构(30)传送所述电芯(200)移出所述检测区域。

11.根据权利要求9所述的检测方法，其特征在于，所述检测机构(23)对所述电芯(200)进行检测前还包括：

旋转盘(22)带动射线源(231)与探测器(232)进行周向转动；

射线源(231)与探测器(232)由检测位置切换至避让位置；

所述传送机构(30)传送所述电芯(200)运动至检测区域；

所述射线源(231)与所述探测器(232)由所述避让位置切换至所述检测位置；

所述旋转盘(22)带动所述射线源(231)与所述探测器(232)进行周向转动以对所述电芯(200)进行检测；

所述传送机构(30)传送所述电芯(200)移出所述检测区域。

12.根据权利要求10-11所述的检测方法，其特征在于，在所述旋转盘(22)带动所述射线源(231)与所述探测器(232)进行周向转动以对所述电芯(200)进行检测时，包括：

当射线源(231)或探测器(232)旋转至第一角度传感器(51)与第二角度传感器(52)之间、第三角度传感器(53)与第四角度传感器(54)之间时使旋转盘(22)降低转速；

当射线源(231)或探测器(232)旋转至第二角度传感器(52)与第三角度传感器(53)之间、第四角度传感器(54)与第一角度传感器(51)之间时使旋转盘(22)提高转速。

13.根据权利要求10-11所述的检测方法，其特征在于，筛选机构(40)将不合格的所述电芯(200)转移至废料区。