CN116859313A - 磁场测量仪的校准检测方法、系统、设备和存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种磁场测量仪的校准检测方法、系统、设备和存储介质，该方法包括：获取当前测量结果，当前测量结果为利用当前的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的；基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准，其中，参考测量结果为利用处于经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到。通过上述方式，本申请能够对磁场测量仪进行准确的校准检测。

Description

磁场测量仪的校准检测方法、系统、设备和存储介质

技术领域

本申请涉及仪器检测技术领域，特别是涉及一种磁场测量仪的校准检测方法、系统、设备和存储介质。

背景技术

磁场测量仪作为测量电磁场的仪器，需要进行定期校准检测，传统的校准检测方法需要磁场产生装置能够产生已知的可精确计算的大小磁场，然后利用已知的磁场强度和磁场测量仪接收的磁场强度进行对比，确定磁场测量仪是否需要校准。但该能够产生已知的可精确计算的大小磁场的磁场产生装置一般价格昂贵，且对使用者来说，操作难度较大，故需要定期(例如每年1次)将磁场测量仪运输到专门的有资质的磁场测量仪校准检测机构进行校准检测。

因此，如何对磁场测量仪进行准确的校准检测，特别在使用不能产生可精确计算的磁场的磁场产生装置的场景下，对磁场测量仪进行准确的校准检测至关重要。

发明内容

本申请主要解决的技术问题是提供一种磁场测量仪的校准检测方法、系统、设备和存储介质，能够对磁场测量仪进行准确的校准检测。

为解决上述技术问题，本申请采用的一个技术方案是：提供一种磁场测量仪的校准检测方法，该方法包括：获取当前测量结果，当前测量结果为利用当前的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的；基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准，其中，参考测量结果为利用处于经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到。

其中，当前测量结果包括分别对磁场产生装置产生的不同频率下的磁场进行测量得到的若干第一子测量结果，参考测量结果包括分别对磁场产生装置产生的不同频率下的磁场进行测量得到的若干第二子测量结果；基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准，包括：分别获取各目标频率下的第一子测量结果和第二子测量结果之间的第二差异；基于各目标频率下的第二差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。

其中，基于各目标频率下的第二差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准，包括：响应于存在预设数量个目标频率下的第二差异大于或等于预设差异阈值，确定磁场测量仪当前需要校准。

其中，获取当前测量结果，包括：对于磁场产生装置产生的各频率下的磁场，获取各频率下的测量磁场强度，各频率下的测量磁场强度是当前的磁场测量仪对磁场产生装置产生的各频率下的磁场进行测量得到；对各测量磁场强度分别作为一第一子测量结果；或者，对各测量磁场强度进行归一化处理，将经归一化处理的各测量磁场强度分别作为一第一子测量结果。

其中，磁场产生装置包括磁场产生线圈，对各测量磁场强度进行归一化处理，包括：对于各测量磁场强度，将测量磁场强度除以磁场产生线圈产生对应磁场时的电参数，电参数为电流或电压。

其中，磁场产生装置包括磁场产生线圈，每个频率下的第一子测量结果和第二子测量结果均有多个，同一频率下的不同第一子测量结果或不同第二子测量结果是：磁场产生装置在频率下改变磁场产生线圈的电流而得到的；其中，分别获取各目标频率下的第一子测量结果和第二子测量结果之间的第二差异，包括：对于各目标频率，对目标频率下的多个第一子测量结果进行预设统计得到第一统计值、以及对目标频率下的多个第二子测量结果进行预设统计得到第二统计值，获取第一统计值和第二统计值之间的差值作为目标频率对应的第二差异；和/或在基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准之前，校准检测方法还包括：对于各频率，对比频率下的各第一子测量结果，响应于频率下的各第一子测量结果之间的偏差超出预设范围，确定磁场测量仪需要校准或者将当前测量结果中的频率下的第一子测量结果剔除。

其中，磁场产生装置包括函数信号发生器、电阻和磁场产生线圈，函数信号发生器、电阻与磁场产生线圈串联形成回路，函数信号发生器用于向磁场产生线圈输出交流电信号，以使磁场产生线圈产生磁场，且函数信号发生器能够调整交流电信号的幅值、频率和波形。

为解决上述技术问题，本申请采用的另一个技术方案是：提供一种磁场测量仪的校准检测系统，该系统包括磁场测量仪、磁场产生装置、以及与磁场测量仪连接的处理设备，磁场测量仪包括探头，磁场产生装置包括磁场产生线圈，探头位于磁场产生线圈的磁场范围内；其中，磁场产生装置用于控制磁场产生线圈产生磁场；磁场测量仪用于通过探头测量得到磁场产生装置产生的磁场，得到测量结果；处理设备能够接收磁场测量仪测量得到的测量结果，并基于测量结果执行上述方法。

其中，探头固定于距离磁场产生线圈的中心30-70毫米之间；和/

或，磁场产生线圈的直径在10-30厘米之间，匝数在10-30匝之间。

为解决上述技术问题，本申请采用的再一个技术方案是：提供一种电子设备，包括相互耦接的存储器和处理器，存储器存储有程序指令；处理器用于执行存储器中存储的程序指令，以实现上述方法。

为解决上述技术问题，本申请采用的又一个技术方案是：提供一种计算机可读存储介质，用于存储程序指令，该程序指令能够被执行以实现上述方法。

上述方案，将经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果作为参考测量结果，在获取当前测量结果后，可基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。由于参考测量结果为经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果，该参考测量结果能够表示磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场的测量准确度，故利用当前测量结果与经校准状态对应的参考测量结果对比的方式，能够对磁场测量仪进行准确的校准检测，尤其是在使用不能产生可精确计算的磁场的磁场产生装置的场景下，能够对磁场测量仪进行准确的校准检测。

附图说明

图1是本申请提供的磁场测量仪的校准检测方法一实施例的流程示意图；

图2是本申请提供的磁场产生装置一实施例的框架示意图；

图3是图1所示步骤S12一实施例的流程示意图；

图4是本申请提供的磁场测量仪的校准检测系统一实施例的框架示意图；

图5是本申请提供的电子设备一实施例的框架示意图；

图6是本申请提供的计算机可读存储介质的框架示意图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案及效果更加清楚、明确，以下参照附图并举实施例对本申请进一步详细说明。

另外，若本申请实施例中有涉及“第一”、“第二”等的描述，则该“第一”、“第二”等的描述仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示其相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括至少一个该特征。另外，各个实施例之间的技术方案可以相互结合，但是必须是以本领域普通技术人员能够实现为基础，当技术方案的结合出现相互矛盾或无法实现时应当认为这种技术方案的结合不存在，也不在本申请要求的保护范围之内。

需要说明的是，磁场测量仪为测量电磁场的仪器，需要每年定期送至专门的有资质的校准检测机构进行校准检测，其中，专门的有资质的磁场测量仪校准检测机构为了保证磁场测量仪校准测量结果的准确性，需使用能够产生均匀的且可精确计算磁场大小的磁场产生装置产生已知大小磁场，然后利用已知的磁场强度和探头接收的磁场强度进行对比，确定磁场测量仪的测量结果是否准确，是否需要校准。其中，若磁场测量仪接收到的磁场强度大小和磁场产生装置产生的已知磁场强度大小的差异在合理范围内，则说明磁场测量仪的测量结果是准确的，不需要进行校准；若差异不在合理范围内，则可根据该具体差异确定磁场测量仪的测量结果的具体误差，并确定需要校准的程度。

而本申请提供的磁场测量仪的校准检测方法对磁场产生装置产生的磁场的精度要求均不高，无论磁场产生装置是否能够产生已知的精确的磁场强度(即无论磁场产生装置产生的磁场强度是否已知)，只需预先确定出能表征磁场测量仪对该磁场产生装置产生磁场的测量结果为准确的参考测量结果，然后，在获取当前的磁场测量仪对该磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的当前测量结果后，对比当前测量结果和参考测量结果的差异，根据测量结果的差异确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。其中，确定参考测量结果和确定当前测量结果是不同测量时间段的磁场测量仪对相同的磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果。可以理解的是，当前测量结果和参考测量结果差异越小，说明当前测量时刻下的磁场测量仪的测量结果越准确，反之，差异越大，说明磁场测量仪的测量结果越不准确，越需要进行校准。

同时需要说明的是，为了保证参考测量结果的准确性，本申请是将经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果，作为参考测量结果。其中，经校准状态的磁场测量仪表示已进行校准，且能够表征磁场测量仪测量结果准确性的一种状态，例如，为校准后的预设时间段内或预设测量次数内使用磁场测量仪的一种状态，故在该校准状态下利用磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果是准确的。

示例性的，无论磁场产生装置X产生的磁场强度是否已知或是否能够精确计算得到，利用经校准状态的磁场测量仪对该磁场产生装置X产生的磁场进行测量得到参考测量结果A，由于磁场测量仪是经校准状态的测量仪器(例如是刚经过校准，此时的测量结果是准确的)，故参考测量结果A为磁场测量仪对磁场产生装置X产生的磁场进行测量得到的准确结果，后续在获取到当前的磁场测量仪对磁场产生装置X进行测量得到的当前测量结果B后，可利用当前测量结果B和参考测量结果A对比，得到磁场测量仪的校准检测结果，即磁场测量仪是否需要进行校准。

请参阅图1，图1是本申请提供的磁场测量仪的校准检测方法一实施例的流程示意图。需注意的是，若有实质上相同的结果，本实施例并不以图1所示的流程顺序为限。如图1所示，本实施例包括：

S11：获取当前测量结果，当前测量结果为利用当前的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的。

本实施例用于利用当前测量结果，与参考测量结果的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。

本文中的磁场测量仪为一用于测量空间(例如是工作车间或公共场所等)的磁场强度的测量仪器，磁场测量仪一般会配备一个外接式的测量探头，可对磁场环境进行测量得到测量结果，以评估人员等所处的环境的磁场强度，进而便于保障从事工业生产、保险业务及服务性行业内专业人士的健康和安全，此外，磁场测量仪还可对磁性产品在工作状态下的磁性能进行检测，从而能够达到控制产品质量的目的。

本文中的磁场产生装置可为能够产生磁场的任何装置，本文对磁场产生装置产生的磁场的精度要求不高，无论磁场产生装置产生的磁场的精度大小(即无论磁场产生装置是否能够产生已知的精确大小的磁场强度)，均可使用本实施例方法得到准确的校准检测结果。在一实施方式中，如图2所示，图2是本申请提供的磁场产生装置一实施例的框架示意图。磁场产生装置20包括函数信号发生器1、电阻2和磁场产生线圈3。一般情况下，有资质的磁场测量仪校准检测机构的磁场产生线圈3的尺寸(包括线圈的直径)需要非常大(例如直径为1米)才能使磁场产生线圈3中心产生的磁场是均匀的可精确计算的磁场，也就是说，一般情况下，磁场产生线圈3的尺寸需要非常大才能保证磁场产生装置20能够产生可精确计算的磁场。而本实施例中，由于无论磁场产生装置是否能够产生已知的精确的磁场强度(即无论磁场产生装置产生的磁场强度是否已知)，均可利用本申请提供的磁场测量仪的校准检测方法进行准确的校准检测，故本实施例中的磁场产生装置可以做成较小的尺寸(例如磁场产生线圈的尺寸可为直径在10-30厘米之间)。此外，磁场产生线圈3可以是任何类型的能够产生磁场的线圈，可以但不限于是辐射环线圈，还可以是亥姆霍玆线圈等。

本实施方式中，磁场产生装置20中的函数信号发生器1、电阻2与磁场产生线圈3串联形成回路，函数信号发生器1用于向磁场产生线圈3输出交流电信号，以使磁场产生线圈3产生磁场，且函数信号发生器1能够调整交流电信号的幅值、频率和波形，以能够调整输出不同的交流电信号，使磁场产生线圈3产生不同的磁场。

其中，磁场产生装置20为磁场发射装置，磁场测量仪为磁场接收仪器，磁场测量仪能够对磁场产生装置20产生的磁场进行测量，得到对应的测量结果。本实施例中，获取的当前测量结果是利用当前的磁场测量仪对磁场产生装置20产生的磁场进行测量得到的结果。

S12：基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准，其中，参考测量结果为利用处于经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到。

需要说明的是，磁场测量仪的校准检测实质上是检测当前的磁场测量仪的当前测量结果是否准确，是否需要进行校准。其中，若当前的磁场测量仪的当前测量结果是准确的，则无需进行校准，反之，若当前的磁场测量仪的当前测量结果是不准确的，则需要进行校准，以使校准后磁场测量仪能够对环境的磁场强度进行准确测量。

本实施例中，预先利用处于经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的，能够表征磁场测量仪测量结果是准确的结果作为参考测量结果，然后，在获取当前测量结果后，确定当前测量结果和参考测量结果的第一差异，基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前的测量结果是否是准确的，是否需要进行校准。

由前文描述可知，经校准状态的磁场测量仪表示已进行校准，且能够表征磁场测量仪测量结果准确性的一种状态，故利用处于经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的参考测量结果，是表征磁场测量仪能够对该磁场产生装置产生磁场进行准确测量的结果。

在一实施方式中，为了进一步提高最终的校准检测结果的准确性，减小只根据对一个交流电信号下的当前测量结果和参考测量结果的差异带来的检测误差，可调整磁场产生装置中函数信号发生器向磁场产生线圈输出交流电信号的幅值或频率或者波形，以使函数信号发生器向磁场产生线圈输出不同的交流电信号，进而根据磁场测量仪对不同交流电信号下的磁场的测量结果和对应的参考测量结果的差异确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。

在一些实施例中，可调整磁场产生装置中函数信号发生器向磁场产生线圈输出交流电信号的幅值，根据不同幅值下的当前测量结果和参考测量结果的差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。其中，幅值越大，产生的磁场强度越大，本实施例方式可检测磁场测量仪在各种磁场强度下的测量结果是否是准确的，磁场测量仪是否需要校准。

在另一些实施例中，还可调整磁场产生装置中函数信号发生器向磁场产生线圈输出交流电信号的频率，根据不同频率下的当前测量结果和参考测量结果的差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。本实施例中，当前测量结果包括当前的磁场测量仪分别对磁场产生装置产生的不同频率下(不同目标频率下)的磁场进行测量得到的若干第一子测量结果，参考测量结果包括处于校准状态下的磁场测量仪分别对磁场产生装置产生的不同频率下的磁场进行测量得到的若干第二子测量结果。

可选地，可根据如下步骤获取包含若干第一子测量结果的当前测量结果：对于磁场产生装置产生的各频率下的磁场，先利用当前的磁场测量仪对磁场产生装置产生的各频率下的磁场进行测量得到各频率下的测量磁场强度，然后，将各测量磁场强度分别作为一个第一子测量结果。

优选地，为了减少磁场产生装置在不同输出频率下对应的外部环境对第一子测量结果的影响，还可根据如下步骤获取包含若干第一子测量结果的当前测量结果：对于磁场产生装置产生的各频率下的磁场，先利用当前的磁场测量仪对磁场产生装置产生的各频率下的磁场进行测量得到各频率下的测量磁场强度，然后对各测量磁场强度进行归一化处理，将经归一化处理的各测量磁场强度分别作为一个第一子测量结果。

其中，磁场产生装置包括用于产生磁场的磁场产生线圈，对各测量磁场强度进行归一化处理，包括：对于各测量磁场强度，将测量磁场强度除以磁场产生线圈产生对应磁场时的电参数，其中，电参数为电流或电压。也就是说，对于各测量磁场强度，将测量磁场强度除以磁场产生线圈产生对应磁场时经过磁场产生线圈的电流或者电压，得到的结果作为第一子测量结果。

需要说明的是，在一些实施例中，每个频率下的第一子测量结果和第二子测量结果均有多个，其中，在步骤S12之前，对于各频率，对比该频率下的各第一子测量结果，如果该频率下的各第一子测量结果之间的偏差超出预设范围，则确定磁场测量仪当前需要进行校准，或者将当前测量结果中的该频率下的第一子测量结果剔除，选择偏差未超出预设范围的目标频率下的第一子测量结果进行后续校准检测。其中，预设范围可根据实际检测效果进行确定，此处不做具体限定。

上述方案，将经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果作为参考测量结果，在获取当前测量结果后，可基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。由于参考测量结果为经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果，该参考测量结果能够表示磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场的测量准确度，故利用当前测量结果与经校准状态对应的参考测量结果对比的方式，能够对磁场测量仪进行准确的校准检测，尤其是在使用不能产生可精确计算的磁场的磁场产生装置的场景下，能够对磁场测量仪进行准确的校准检测。

需要说明的是，上述校准检测方法对磁场产生装置产生的磁场的精度要求均不高，即无论磁场产生装置是否能够产生已知的精确的磁场强度(无论磁场产生装置产生的磁场强度是否已知)，均可利用上述方法准确确定磁场测量仪当前是否需要进行校准，因此，可由上述方法的使用者自己制作简易的磁场产生装置，无需制作的磁场产生装置能够产生已知的精确的磁场强度。

请参阅图3，图3是图1所示步骤S12一实施例的流程示意图。需注意的是，若有实质上相同的结果，本实施例并不以图3所示的流程顺序为限。如图3所示，本实施例中，步骤S12包括：

S31：分别获取各目标频率下的第一子测量结果和第二子测量结果之间的第二差异。

本实施例用于基于各目标频率下的第一子测量结果和第二子测量结果之间的第二差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。

在一实施方式中，各目标频率下的第一子测量结果和第二子测量结果的数量均为1个，对于各目标频率，可先分别获取该目标频率下的第一子测量结果和第二子测量结果之间的第二差异，进而基于各目标频率下的第二差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。举例来说，当前测量结果包括目标频率分别为f1、f2、f3对应的第一子测量结果A1、A2、A3；参考测量结果包括目标频率分别为f1、f2、f3对应的第二子测量结果B1、B2、B3，分别获取第一子测量结果和第二子测量结果的差异C1(A1-B1)、C2(A2-B2)和C3(A3-B3)，基于C1、C2和C3确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。

在另一实施方式中，每个频率下的第一子测量结果和第二子测量结果均有多个，其中，同一频率下的不同第一子测量结果或不同第二子测量结果是：磁场产生装置在该频率下改变磁场产生线圈的电流而得到的。

以同一频率下的不同第一子测量结果的获取过程举例，在同一频率下，可通过调节磁场产生装置中函数信号发生器向磁场产生线圈输出交流电信号的幅值的方式，或者调节磁场产生装置中电阻的方式，改变磁场产生线圈的电流，然后利用磁场测量仪对磁场产生装置产生的该频率，不同电流下的磁场进行测量得到各第一子测量结果。

本实施方式中，在每个频率下的第一子测量结果和第二子测量结果均有多个的情况下，对于各目标频率，先对目标频率下的多个第一子测量结果进行预设统计得到第一统计值，以及对目标频率下的多个第二子测量结果进行预设统计得到第二统计值；然后获取第一统计值和第二统计值之间的差值作为目标频率对应的第二差异。其中，对目标频率下的多个第一子测量结果和多个第二子测量结果进行的预设统计可根据实际需要进行预先设定，例如预设统计可以是将目标频率下的多个第一子测量结果和多个第二子测量结果分别进行加和平均计算，得到对应的第一统计值和第二统计值。需要说明的是，目标频率下的各第一子测量结果之间的偏差未超过预设范围，各第一子测量结果之间的偏差均在合理范围内。

S32：基于各目标频率下的第二差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。

本实施例中，若存在预设数量个目标频率下的第二差异大于或等于预设差异阈值，说明存在预设数量个错误的第一子测量结果，则说明存在预设数量个不准确的测量结果，确定磁场测量仪当前需要校准。其中，具体的预设数量可根据实际检测效果等进行确定，此处不做具体限定。

请参阅图4，图4是本申请提供的磁场测量仪的校准检测系统一实施例的框架示意图。本实施例中，如图4所示，校准检测系统100包括磁场测量仪10、磁场产生装置20、以及与磁场测量仪10连接的处理设备30。其中磁场测量仪10包括探头11，磁场产生装置20包括磁场产生线圈3，探头11位于磁场产生线圈3的磁场范围内。其中，磁场产生装置20用于控制磁场产生线圈3产生磁场，磁场测量仪10用于通过探头11测量得到磁场产生装置20产生的磁场，得到测量结果，处理设备30能够接收磁场测量仪10测量得到的测量结果，并基于测量结果执行上述方法。

请继续参阅图4，在另一实施例中，磁场产生装置20还包括函数信号发生器1和电阻2，其中，磁场产生装置20中的函数信号发生器1、电阻2与磁场产生线圈3串联形成回路，函数信号发生器1用于向磁场产生线圈3输出交流电信号，以使磁场产生线圈3产生磁场，且函数信号发生器1能够调整交流电信号的幅值、频率和波形，以能够调整输出不同的交流电信号，使磁场产生线圈3产生不同的磁场，电阻2用于通过改变阻值以调整磁场产生线圈3的电流。

当然，在其他实施方式中，在不需要调整磁场产生线圈3的电流的情况下，也可不设置电阻2，即磁场产生装置20包括函数信号发生器1、与磁场产生线圈3。

由于上述校准检测方法对磁场产生装置产生的磁场的精度要求均不高，即无论磁场产生装置是否能够产生已知的精确的磁场强度(无论磁场产生装置产生的磁场强度是否已知)，均可利用上述方法准确确定磁场测量仪当前是否需要进行校准，故可由上述方法的使用者自己制作简易的磁场产生装置，无需制作的磁场产生装置能够产生已知的精确的磁场强度。

请继续参阅图4，在一些实施例中，为了使磁场测量仪10能够准确的测量磁场产生装置20产生的磁场，可控制探头11和磁场产生线圈3的中心的距离d在预设距离范围内，具体的预设距离范围可根据实际需要确定。可选地，可将探头11固定于距离磁场产生线圈3的中心30-70毫米之间。

在一些实施例中，可由上述方法的使用者自己制作简易的磁场产生装置，具体的线圈类型、线圈的直径和匝数可根据实际情况(例如已有的材料)进行确定。可选地，磁场产生线圈3的直径在10-30厘米之间，匝数在10-30匝之间，此外，磁场产生线圈3可以但不限于是辐射环线圈，还可以是亥姆霍玆线圈等。

请参阅图5，图5是本申请提供的电子设备一实施例的框架示意图。本实施方式中，电子设备50包括相互耦接的存储器51和处理器52。

存储器51存储有程序指令，处理器52用于执行存储器51中存储的程序指令，以实现上述任一方法实施方式的步骤。在一个具体的实施场景中，电子设备50可以包括但不限于：微型计算机、服务器，此外，电子设备50还可以包括笔记本电脑、平板电脑等移动设备，在此不做限定。

具体而言，处理器52用于控制其自身以及存储器51以实现上述任一实施方式的步骤。处理器52还可以称为CPU(Central Processing Unit，中央处理单元)。处理器52可能是一种集成电路芯片，具有信号的处理能力。处理器52还可以是通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor,DSP)、专用集成电路(Application Specific IntegratedCircuit,ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable Gate Array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件。通用处理器可以是微处理器或者该处理器也可以是任何常规的处理器等。另外，处理器52可以由集成电路芯片共同实现。

请参阅图6，图6是本申请提供的计算机可读存储介质的框架示意图。本申请实施例的计算机可读存储介质60存储有程序指令61，该程序指令61被执行时实现上述方法中任一实施例以及任意不冲突的组合所提供的方法。其中，该程序指令61可以形成程序文件以软件产品的形式存储在上述计算机可读存储介质60中，以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请各个实施方式方法的全部或部分步骤。而前述的计算机可读存储介质60包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(ROM，Read-Only Memory)、随机存取存储器(RAM，Random Access Memory)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质，或者是计算机、服务器、手机、平板等终端设备。

上述方案，将经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果作为参考测量结果，在获取当前测量结果后，可基于当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定磁场测量仪当前是否需要进行校准。由于参考测量结果为经校准状态的磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的结果，该参考测量结果能够表示磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场的测量准确度，故利用当前测量结果与经校准状态对应的参考测量结果对比的方式，能够对磁场测量仪进行准确的校准检测，尤其是在使用不能产生可精确计算的磁场的磁场产生装置的场景下，能够对磁场测量仪进行准确的校准检测。

上文对各个实施例的描述倾向于强调各个实施例之间的不同之处，其相同或相似之处可以互相参考，为了简洁，本文不再赘述。

以上所述仅为本申请的实施方式，并非因此限制本申请的专利范围，凡是利用本申请说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换，或直接或间接运用在其他相关的技术领域，均同理包括在本申请的专利保护范围内。

Claims (11)

1.一种磁场测量仪的校准检测方法，其特征在于，所述方法包括：

获取当前测量结果，所述当前测量结果为利用当前的所述磁场测量仪对磁场产生装置产生的磁场进行测量得到的；

基于所述当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定所述磁场测量仪当前是否需要进行校准，其中，所述参考测量结果为利用处于经校准状态的所述磁场测量仪对所述磁场产生装置产生的磁场进行测量得到。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述当前测量结果包括分别对所述磁场产生装置产生的不同频率下的磁场进行测量得到的若干第一子测量结果，所述参考测量结果包括分别对所述磁场产生装置产生的不同频率下的磁场进行测量得到的若干第二子测量结果；

所述基于所述当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定所述磁场测量仪当前是否需要进行校准，包括：

分别获取各目标频率下的第一子测量结果和第二子测量结果之间的第二差异；

基于各所述目标频率下的第二差异，确定所述磁场测量仪当前是否需要进行校准。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述基于各所述目标频率下的第二差异，确定所述磁场测量仪当前是否需要进行校准，包括：

响应于存在预设数量个所述目标频率下的所述第二差异大于或等于预设差异阈值，确定所述磁场测量仪当前需要校准。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述获取当前测量结果，包括：

对于所述磁场产生装置产生的各频率下的磁场，获取各频率下的测量磁场强度，所述各频率下的测量磁场强度是当前的所述磁场测量仪对所述磁场产生装置产生的各频率下的磁场进行测量得到；

对各所述测量磁场强度分别作为一所述第一子测量结果；或者，对各所述测量磁场强度进行归一化处理，将经归一化处理的各所述测量磁场强度分别作为一所述第一子测量结果。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述磁场产生装置包括磁场产生线圈，所述对各所述测量磁场强度进行归一化处理，包括：

对于各所述测量磁场强度，将所述测量磁场强度除以所述磁场产生线圈产生对应所述磁场时的电参数，所述电参数为电流或电压。

6.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述磁场产生装置包括磁场产生线圈，每个频率下的所述第一子测量结果和第二子测量结果均有多个，同一频率下的不同所述第一子测量结果或不同所述第二子测量结果是：所述磁场产生装置在所述频率下改变所述磁场产生线圈的电流而得到的；其中，

所述分别获取各目标频率下的第一子测量结果和第二子测量结果之间的第二差异，包括：对于各所述目标频率，对所述目标频率下的多个第一子测量结果进行预设统计得到第一统计值、以及对所述目标频率下的多个第二子测量结果进行所述预设统计得到第二统计值，获取所述第一统计值和第二统计值之间的差值作为所述目标频率对应的第二差异；和/或

在所述基于所述当前测量结果和参考测量结果之间的第一差异，确定所述磁场测量仪当前是否需要进行校准之前，所述方法还包括：

对于各频率，对比所述频率下的各所述第一子测量结果，响应于所述频率下的各所述第一子测量结果之间的偏差超出预设范围，确定所述磁场测量仪需要校准或者将所述当前测量结果中的所述频率下的所述第一子测量结果剔除。

7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述磁场产生装置包括函数信号发生器、电阻和磁场产生线圈，所述函数信号发生器、所述电阻与所述磁场产生线圈串联形成回路，所述函数信号发生器用于向所述磁场产生线圈输出交流电信号，以使所述磁场产生线圈产生磁场，且所述函数信号发生器能够调整所述交流电信号的幅值、频率和波形。

8.一种磁场测量仪的校准检测系统，其特征在于，所述系统包括磁场测量仪、磁场产生装置、以及与磁场测量仪连接的处理设备，所述磁场测量仪包括探头，所述磁场产生装置包括磁场产生线圈，所述探头位于所述磁场产生线圈的磁场范围内；

其中，所述磁场产生装置用于控制所述磁场产生线圈产生磁场；

所述磁场测量仪用于通过探头测量得到所述磁场产生装置产生的磁场，得到测量结果；

所述处理设备能够接收所述磁场测量仪测量得到的测量结果，并基于所述测量结果执行权利要求1至7任一项所述的方法。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述探头固定于距离所述磁场产生线圈的中心30-70毫米之间；

和/或，所述磁场产生线圈的直径在10-30厘米之间，匝数在10-30匝之间。

10.一种电子设备，其特征在于，包括相互耦接的存储器和处理器，

所述存储器存储有程序指令；

所述处理器用于执行所述存储器中存储的程序指令，以实现权利要求1-7任一项所述的方法。

11.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质存储有能够被处理器运行的程序指令，所述程序指令能够被执行以实现权利要求1-7任一项所述的方法。