CN116777910A - 显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备 - Google Patents
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- 238000000605 extraction Methods 0.000 title claims abstract description 60
- 238000011156 evaluation Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 238000012360 testing method Methods 0.000 claims abstract description 165
- 239000003086 colorant Substances 0.000 claims abstract description 62
- 238000000034 method Methods 0.000 claims abstract description 45
- 238000009826 distribution Methods 0.000 claims description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 claims description 8
- 238000012546 transfer Methods 0.000 claims description 5
- 238000001514 detection method Methods 0.000 abstract description 13
- 230000008439 repair process Effects 0.000 abstract description 3
- 238000003860 storage Methods 0.000 description 9
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 7
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 6
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 4
- 229910003460 diamond Inorganic materials 0.000 description 3
- 239000010432 diamond Substances 0.000 description 3
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 3
- 238000003384 imaging method Methods 0.000 description 3
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 3
- 230000008569 process Effects 0.000 description 3
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 3
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 2
- 239000000284 extract Substances 0.000 description 2
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 230000001105 regulatory effect Effects 0.000 description 2
- 239000000654 additive Substances 0.000 description 1
- 230000000996 additive effect Effects 0.000 description 1
- 238000005311 autocorrelation function Methods 0.000 description 1
- 229910052799 carbon Inorganic materials 0.000 description 1
- 238000012937 correction Methods 0.000 description 1
- 238000013500 data storage Methods 0.000 description 1
- 239000000835 fiber Substances 0.000 description 1
- 238000005286 illumination Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000014759 maintenance of location Effects 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000011158 quantitative evaluation Methods 0.000 description 1
- 238000013139 quantization Methods 0.000 description 1
- 238000009877 rendering Methods 0.000 description 1
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 1
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G02—OPTICS
- G02F—OPTICAL DEVICES OR ARRANGEMENTS FOR THE CONTROL OF LIGHT BY MODIFICATION OF THE OPTICAL PROPERTIES OF THE MEDIA OF THE ELEMENTS INVOLVED THEREIN; NON-LINEAR OPTICS; FREQUENCY-CHANGING OF LIGHT; OPTICAL LOGIC ELEMENTS; OPTICAL ANALOGUE/DIGITAL CONVERTERS
- G02F1/00—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics
- G02F1/01—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour
- G02F1/13—Devices or arrangements for the control of the intensity, colour, phase, polarisation or direction of light arriving from an independent light source, e.g. switching, gating or modulating; Non-linear optics for the control of the intensity, phase, polarisation or colour based on liquid crystals, e.g. single liquid crystal display cells
- G02F1/1306—Details
- G02F1/1309—Repairing; Testing
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0242—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations
- G01M11/0257—Testing optical properties by measuring geometrical properties or aberrations by analyzing the image formed by the object to be tested
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01M—TESTING STATIC OR DYNAMIC BALANCE OF MACHINES OR STRUCTURES; TESTING OF STRUCTURES OR APPARATUS, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
- G01M11/00—Testing of optical apparatus; Testing structures by optical methods not otherwise provided for
- G01M11/02—Testing optical properties
- G01M11/0292—Testing optical properties of objectives by measuring the optical modulation transfer function
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
- G06T7/0004—Industrial image inspection
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T7/00—Image analysis
- G06T7/90—Determination of colour characteristics
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/10—Image acquisition modality
- G06T2207/10024—Color image
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
- G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
- G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
- G06T2207/30108—Industrial image inspection
- G06T2207/30121—CRT, LCD or plasma display
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
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- General Physics & Mathematics (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Nonlinear Science (AREA)
- Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Geometry (AREA)
- Quality & Reliability (AREA)
- Optics & Photonics (AREA)
- Crystallography & Structural Chemistry (AREA)
- Testing, Inspecting, Measuring Of Stereoscopic Televisions And Televisions (AREA)
Abstract
本发明提供一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备,属于显示屏检测领域,方法包括以下步骤:确定MTF测试图案;MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案;获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像;基于拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图,和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。本发明提供的评估方法通过将MTF测试图案设计成彩色,并提取对应原色的子像素亮度图和/或彩色子像素亮度图可以实现对子像素亮度提取精度的快速准确评估,对于Demura和AOI设备实现更好的修复。
Description
技术领域
本发明属于显示屏检测领域,更具体地,涉及一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备。
背景技术
以液晶显示器(Liquid Crystal Display,LCD)和有机发光二极管显示器(Organic Light-Emitting Diode,OLED)为代表的平板显示器件在人们生活中日益普及。然而平板显示器件在制备过程中经历的工艺流程步骤多,每一步流程都可能引入瑕疵和缺陷,最终影响显示屏的良率并增加成本,因此在生产流程中需要利用光测量设备(Luminance Measuring Device,LMD)设备对显示屏进行拍摄和检测。使用LMD对显示屏进行拍摄的两个典型目的是自动光学检测(Automatic Optical Inspection,AOI)和亮色度均匀性校正(DeMura),这两个LMD应用场景都需要基于LMD拍摄到的屏体图像对屏体每个子像素的亮度进行精确提取。产线显示屏检测对LMD的要求严格。最重要的两个要求分别是快速性和准确性。
一种现有方案在显示屏显示的白画面下进行取像和子像素亮度逐个提取,之后参见专利文献CN110136212A采用自相关函数法对白画面的RGB子像素亮度提取精度评估,但其在不同空间频率精度和RGB子像素亮度值提取串扰评估方面缺乏直观的结果,不利于对子像素亮度提取精度做出快速评估,并且对影响白画面子像素亮度提取的不同颜色子像素间的串扰缺乏针对性的评估措施,导致子像素亮度提取精度评估准确性无法保证。
另一种现有方案将RGB子像素分别单独点亮,之后可以通过均方根误差(RootMean Squared Error,RMSE)来判断子像素提取精度,但用该方法依赖于事先知道屏体各子像素的准确亮度,或者假设屏体各像素具有相同的亮度值;但是若事先知道各像素准确亮度,则没必要做取像和子像素亮度提取精度评估,且一般待评价的屏体在Demura之前一般具有显示不均匀性,无法保证各像素具有相同的亮度值,导致提取精度评估不准确。另外,对各个子像素分别单独点亮取像需要反复操作,无法做出快速评估。
发明内容
针对现有技术的缺陷,本发明的目的在于提供一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备,旨在解决现有显示屏子像素亮度无法快速提取评估且提取精度评估的准确性无法保证的问题。
为实现上述目的,第一方面,本发明提供了一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法,包括以下步骤:
确定调制传递函数(Modulation Transfer Function,MTF)测试图案,所述MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案;
获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像;
基于所述拍摄图像提取至少一个原色(primary color)的子像素亮度图,和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。
具体地,MTF测试图案在至少一种原色的基础上得到,基于拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图,具体为:根据MTF测试图案所包括的原色从拍摄图像中提取对应原色的子像素亮度图。另外,基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图为MTF测试图案对应的子像素亮度图。
进一步地,需要说明的是,本发明通过拍摄一次MTF测试图案的显示图像,可以提取至少一个原色的子像素亮度图,并基于原色子像素亮度图得到拍摄图像对应的多颜色子像素亮度图;之后基于多个颜色子像素亮度图可以直观的评估子像素亮度提取精度,也可以基于原色子像素亮度图通过算法定量评估子像素亮度提取精度。评估算法本领域技术人员可以根据实际需要进行选择,以能够准确评估提取精度为准。
在一种可能的实施例中,每个颜色的二维MTF测试图案包括具有不同空间频率的横向条形图案和/或具有不同空间频率的纵向条形图案。
在一种可能的实施例中,所述横向条形图案和纵向条形图案相交。
具体地,MTF测试图案具有不同的空间频率,既可直观也可定量地评估不同空间频率下的子像素亮度提取精度。
可以理解的是,MTF测试图案间的空隙区域以及MTF图案中心的正方形区域可以通过RMSE等方法评估屏体噪声水平。
在一种可能的实施例中,所述不同空间频率包括:低频、中频以及高频。
在一种可能的实施例中,所述MTF测试图案包括多个彩色二维MTF测试图案,每个彩色二维MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案;所述MTF测试图案被待测显示屏显示时,多个彩色二维MTF测试图案分散分布在显示屏的显示画面上。
在一种可能的实施例中,所述MTF测试图案被待测显示屏显示时,多个彩色二维MTF测试图案分散分布在显示屏的四角和中心。
具体地,所述MTF测试图案被待测显示屏显示时,显示屏的四角和中心位置均显示有多个彩色二维MTF测试图案。
在一种可能的实施例中,所述彩色二维MTF测试图案在各颜色通道对应的原色子像素上具有预设的灰阶差;所述灰阶差指背景图和前景图的通道灰阶值之差。
在一种可能的实施例中,所述MTF测试图案的子像素分布方式参考待测显示屏设置;其中,所述分布方式包括:子像素大小、原色子像素数量比值、排列间隔及排列方向。
在一种可能的实施例中,所述彩色二维MTF测试图案包括的多个颜色的二维MTF测试图案之间相互不重叠,单个颜色的二维MTF测试图案的高频图案分布在四角,且高频图案至少需包括一个前景图案为单像素图形。
具体地,彩色二维MTF测试图案包括的多个颜色的二维MTF测试图案之间相互不重叠,彩色二维MTF测试图案的四角均覆盖有二维MTF测试图案,且单个颜色的二维MTF测试图案的高频图案分布在四角,且高频图案覆盖至少一个单像素图形,以保证多个彩色二维MTF测试图案被显示屏四角显示时显示屏四角呈有单像素点显示。由于MTF测试图案四角包括单像素点,可用于提取LMD设备的点扩散函数(Point Spread Function,PSF),PSF是保障LMD设备高精度提取子像素亮度的关键参数,这样无需再单独对被测显示屏点亮单像素图案提取PSF,节约了评估时间。
在一种可能的实施例中,基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,具体为:
将所提取的原色子像素亮度图合并得到多个颜色的子像素亮度图。
第二方面,本发明提供了一种显示屏子像素亮度提取精度评估系统,包括:
MTF测试图案确定单元,用于确定MTF测试图案;所述MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案;
拍摄图像获取单元,用于获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像;
子像素亮度图提取单元,用于基于所述拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图,和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。
在一种可能的实施例中,所述MTF测试图案确定单元确定的MTF测试图案中每个颜色的二维MTF测试图案包括具有不同空间频率的横向条形图案和具有不同空间频率的纵向条形图案,且所述横向条形图案和纵向条形图案相交。
第三方面,本发明提供一种电子设备,包括:至少一个存储器,用于存储程序;至少一个处理器,用于执行存储器存储的程序,当存储器存储的程序被执行时,处理器用于执行第一方面或第一方面的任一种可能的实施例所描述的方法。
第四方面,本发明提供一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有计算机程序,当计算机程序在处理器上运行时,使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实施例所描述的方法。
第五方面,本发明提供一种计算机程序产品,当计算机程序产品在处理器上运行时,使得处理器执行第一方面或第一方面的任一种可能的实施例所描述的方法。
总体而言,通过本发明所构思的以上技术方案与现有技术相比,具有以下有益效果:
本发明提供一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备,在提供的MTF测试图案中原色子像素在不同位置同时点亮,可实现在一副画面中对子像素亮度提取精度的评估,相比于传统的纯色画面分别点亮大大节约了点屏时间;MTF测试图案中原色子像素在不同位置同时点亮,更接近于显示屏实际的工作状态,解决了传统分开点屏时子像素亮度测量值与实际屏体工作时子像素亮度值差异的问题。另外,MTF测试图案分散分布在显示屏上,例如可以分布于屏体四角和中心,可同时实现对屏体不同位置的亮度提取精度的评估,且由于MTF测试图案四角为单像素点,可用于提取LMD设备的PSF,节约了评估时间。
本发明提供一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备,MTF测试图案具有多个颜色,既可直观也可定量对子像素亮度提取精度和提取的不同颜色亮度间的串扰进行评估。MTF测试图案具有不同的空间频率,则既可直观也可定量地评估不同空间频率下子像素亮度提取精度和提取的子像素亮度间的串扰。
综上可知,本发明提供的评估方法可以实现对子像素亮度提取精度的快速准确评估,对于Demura和AOI设备实现更好的修复和检测效果具有有益作用。
附图说明
图1是本发明实施例提供的显示屏检测系统架构图;
图2是本发明实施例提供的显示屏子像素亮度提取精度评估方法流程图;
图3(a)是本发明实施例提供的一维MTF测试图案;
图3(b))是本发明实施例提供的单色二维MTF测试图案;
图3(c))是本发明实施例提供的彩色二维MTF测试图案;
图3(d))是本发明实施例提供的最终的MTF测试图案;
图4(a)是本发明实施例提供的R子像素亮度图;
图4(b)是本发明实施例提供的G子像素亮度图;
图4(c)是本发明实施例提供的B子像素亮度图;
图5是本发明实施例提供的绿色二维MTF提取到的RGB三原色子像素灰阶值截线图;
图6(a)是本发明实施例提供的基于有机发光二极管(Organic Light-EmittingDiode,OLED)屏体像素网格排布图;
图6(b)是本发明实施例提供的OLED屏体R原色子像素实际排列及位置编号图;
图6(c)是本发明实施例提供的OLED屏体单色二维MTF测试图案;
图7是本发明实施例提供的显示屏子像素亮度提取精度评估系统架构图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。应当理解,此处所描述的具体实施例仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
本发明中术语“和/或”,是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。本文中符号“/”表示关联对象是或者的关系,例如A/B表示A或者B。
在本发明中,除非另有说明,“多个”的含义是指两个或者两个以上,例如,多个颜色是指两个或者两个以上的颜色等。
需要说明的是,本发明中所提到的显示屏指的是用于显示的器件、装置或者设备,还可被叫做显示屏、显示面板、显示器件或者显示装置等等。本发明对显示屏的具体型号和类型不做任何限定,本发明提供的子像素亮度提取精度评估方法适用于任何显示屏。
接下来,对本发明实施例中提供的技术方案进行介绍。
图1是本发明实施例提供的显示屏检测系统架构图;其中,检测系统是为显示面板Demura和AOI服务,其硬件结构与典型的Demura相似。如图1所示,检测系统包括:LMD、处理器(即个人计算机(Personal Computer,PC)主机)、显示器及图像发生器(PatternGenerator,PG)等设备。
上述检测系统的检测对象是待测显示屏,操作员可以在显示器上看到设备提取到的子像素亮度提取图以及对提取值的客观评价结果。
其中,PG用于生产MTF测试图案并发送给待测显示屏显示MTF测试图案;之后LMD拍摄显示屏显示MTF测试图案的显示画面并发送给处理器。处理器基于拍摄的图像对显示屏每个像素的亮度进行精确提取,以对显示屏进行AOI检测和DeMura。
图2是本发明实施例提供的显示屏子像素亮度提取精度评估方法流程图;如图2所示,包括以下步骤:
S101,确定调制传递函数MTF测试图案;所述MTF测试图案包括颜色的二维MTF测试图案;
可选地,MTF测试图案包括多个彩色二维MTF测试图案,每个彩色二维MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案。
在一个示例中,图3(a)-图3(d)是本发明实施例提供的MTF测试图案示意图;其中,图3(a)为一维MTF测试图案,图3(b)为单色二维MTF测试图案,图3(c)为彩色二维MTF测试图案,图3(d)为最终的MTF测试图案。
由图3(a)可知,一维MTF测试图案包括具有不同空间频率的纵向图案。
由图3(b)可知,单色二维MTF测试图案包括具有不同空间频率的横向条形图案和具有不同空间频率的纵向条形图案,且横向条形图案和纵向条形图案相交。
由图3(c)可知,彩色二维MTF测试图案100包括多个颜色的二维MTF测试图案。
需要说明的是,原色是指显示屏在光学和视觉领域中用于创建所有其他颜色的基本颜色。常见的显示屏原色是红色(R)、绿色(G)和蓝色(B),它们也被称为RGB原色。一般每个屏体像素同时具有RGB三原色子像素,每个像素内典型的RGB子像素个数为1:1:1或0.5:1:0.5。每个子像素的亮度高低都可通过对应的灰阶值独立调控,通过调整每个原色的亮度,可以产生出各种可见的颜色,如白色(W)可通过相同灰阶值的RGB混合得到。
具体地,多个颜色的二维MTF测试图案可以是包括所有原色或部分原色的二维MTF测试图案,也可以包括所有或部分原色的二维MTF测试图案和原色之间合成色的二维MTF测试图案,也可以只包括所有或部分原色之间合成色的二维MTF测试图案。例如:彩色二维MTF测试图案可以为包括R、G及B三个颜色的二维MTF测试图案,或包括R、G、B及W四个颜色的二维MTF测试图案,或包括R、G、B、W、C、M及Y七个颜色的二维MTF测试图案,或包括C、M、Y及K四个颜色的二维MTF测试图案等等方案。
其中,R代表红色,G代表绿色,B代表蓝色,W代表白色,C代表青色(C=G+B),M代表洋红色(M=R+B),Y代表黄色(Y=R+G),K代表黑色,K=0相当于W=255,K=255相当于W=0。
由图3(d)可知,MTF测试图案包括多个彩色二维MTF测试图案100,且MTF测试图案被显示屏显示时,多个彩色二维MTF测试图案分散分布在显示屏上。
示例地,多个彩色二维MTF测试图案分散分布在显示屏上,可以是分散分布在显示屏的四周和中心。除分布在四周和中心外,若显示屏尺寸足够大,可以将彩色二维MTF测试图案的尺寸相应调大或者在显示屏的四周和中心之外额外布置一些彩色二维MTF测试图案,以保证能够兼顾测试到显示屏的各块区域。
可以理解的是,每个彩色二维MTF测试图案所包括的各个颜色的二维MTF测试图案的排列顺序可以不是唯一确定的,不同颜色的二维MTF测试图案可以重叠也可以不重叠。当不同颜色的二维MTF测试图案不重叠时,若显示屏的四角显示了彩色二维MTF测试图案,则MTF测试图案四角为单像素点,可用于提取LMD设备的PSF,无需再单独对被测显示屏点亮单像素图案提取PSF,可以节约评估时间。
进一步地,若每个彩色二维MTF测试图案所包括的各个颜色的二维MTF测试图案的排列顺序可以不是唯一确定的,则MTF测试图案内不同彩色二维MTF测试图案可以完全相同,也可能会不同。只要保证每个彩色二维MTF测试图案均包括多个颜色的二维MTF测试图案即可。
可选地,本发明提供的MTF测试图案由具有不同空间频率和不同颜色的二维彩色MTF测试图案构成。该评估测试图案显示于待评价的显示屏、显示面板或显示器上,经Demura或AOI设备取像后提取子像素逐点亮度,MTF测试图案区域对应的子像素亮度用于对亮度提取精度进行快速评估。
可选地,本发明提供的彩色二维MTF测试图案由多个具有相同形状、不同颜色的二维MTF图像构成。典型的颜色组合为RGBW,按照2行2列进行排列。二维MTF图像由具有不同空间频率的横向和纵向的传统一维MTF测试图求交集得到。
可选地,MTF测试图案由前景亮区和背景暗区构成,区域内各自灰阶值保持不变,如R色的二维MTF图案,其GB通道的灰阶值可以为100且前景区的R通道灰阶值可以为150,又如W色的二维MTF图,其RGB通道的前景灰阶值可以为150且背景灰阶值可以为100。在对应的示例中,以图3(c)为例,示例中R颜色MTF测试图案的前景色RGB三通道灰阶值为(150,100,100),示例中G颜色MTF测试图案的前景色RGB三通道灰阶值为(100,150,100),示例中B颜色MTF测试图案的前景色RGB三通道灰阶值为(100,100,150),示例中W颜色MTF测试图案的前景色RGB三通道灰阶值为(150,150,150);而不同颜色MTF测试图案的背景色RGB三通道灰阶值均为(100,100,100)。
进一步地,背景图和前景图分辨率分别可以为200×200和162×162像素,二者中心对齐。前景图为对称分布的矩形波图样,从中心到边缘依次为低频(周期可以为10)、中频(周期可以为6和4)和高频(周期可以为2)。中低频各可以有3个周期,高频可以有4个周期,占空比均可以为50%,中心可以为16×16的前景正方形块。与传统MTF测试图案相比,本发明使用的彩色二维MTF测试图案具有以下特点:灰阶差分布在不同颜色通道上;具有高中低多个空间频率而不是固定单一频率;条形图案具有横向和纵向两个方向。
在其它实施案例中,以上提到的典型参数可以有其它选择。例如前景图和背景图灰阶可以根据实际需求修改,如在对显示屏低灰阶子像素亮度提取精度要求高的场合中可使用前景图37灰阶,背景图32灰阶或者选择其他灰阶值,保证各颜色通道对应的原色子像素上具有预设的灰阶差即可。
需要说明的是,灰阶差的设置是为了能够将MTF测试图案显示出来,否则只能看到一个均匀颜色画面。
S102,获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像;
S103,基于所述拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图,和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。
进一步地,原色以不同比例混合时,会产生其他颜色。在不同的色彩空间系统中,有不同的原色组合。可以分为“加色法”和“减色法”两种系统。对于这两种原色组合系统,均可以基于原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图。其中,可以通过将所有或者部分原色子像素亮度图合并的方式得到多个颜色的子像素亮度图。此处得到的多个颜色的子像素亮度图是MTF测试图案被拍摄时拍摄画面对应的子像素亮度图。
在一个具体的实施例中,本发明提供一种典型的检测工作流程,具体步骤如下:
a)生成对焦测试图案,其分辨率与待测显示屏分辨率相同,并在不同位置放置彩色二维MTF测试图案。
其中,典型的前景和背景灰阶可以依次为150和100,典型的位置是屏体四角和中心。
当然,上述灰阶值或灰阶差本领域技术人员可以根据实际需要选择调整,本发明对此参数的具体数值并不做任何限定,上述提到的参数仅用于举例说明,便于读者理解。
另外,彩色二维MTF测试图案分布在显示屏的位置本领域技术人员也可以按照需求调整设置,可以不是上述典型位置。
b)在待测显示面板上显示测试图案;
c)LMD取像,得到MTF图案;
d)计算机对取像结果进行RGB三原色像素的逐个像素亮度提取;
e)对提取的亮度结果按照被测屏体的Gamma值还原为屏体灰阶值;
需要说明的是,上述步骤中提到的Gamma值是一个拟合的参数,用于描述显示屏子像素输出亮度和输入灰阶值之间的关系,它通常被定义为双对数坐标系下输出亮度与输入灰阶之间的直线斜率。
f)计算机绘制MTF图像的亮度提取结果截面图(可选步骤);
g)计算机将结果显示在显示器上。
在一个具体的示例中,若彩色二维MTF测试图案包括R、G、B及W四个颜色的二维MTF测试图案,具体图案可以为图3(c)所示,则图4(a)为R子像素亮度图,图4(b)为G子像素亮度图,图4(c)为B子像素亮度图;通过将RGB三通道合并在一起得到RGB多通道子像素亮度图,即得到MTF测试图案100对应的多个颜色子像素亮度图,以便直观观察判断子像素亮度提取精度;另外可通过各个通道的子像素亮度图进一步定量计算对应的子像素亮度提取精度。
从图4(a)-图4(c)可以看出,正常情况下单通道子像素亮度图中的其他颜色所在位置看不到MTF条形图案,这表明子像素亮度提取精度高,串扰低。
进一步地,为对子像素亮度提取精度进行定量评估,可对图4(a)-图4(c)提取的子像素亮度图进行直线截取,画出不同像素位置的提取值。图5是本发明实施例提供的G色二维MTF提取到的RGB三原色子像素灰阶值截线图;由图5可看出,本发明提取的RB子像素灰阶差信号非常微弱,G子像素的高频细节保留程度较好,RGB间亮度串扰非常弱,可见本发明对RGB子像素提取精度及串扰具有良好的量化评估能力。
需要说明的是,在其他实施案例中,如被测显示屏是OLED屏体,若其RGB子像素数量并非1:1:1,则根据实际情况设计MTF测试图案。典型的修改方式为旋转MTF测试图案的方向,使其中各矩形长宽方向与屏体子像素实际排列方向相同。以OLED典型的钻石排列为例,其像素网格如图6(a)所示,每个白色的正方形内即为一个像素,由图6(a)可见每个像素内RGB子像素实际比例为0.5:1:0.5,RB子像素和相邻像素共用。对于OLED钻石排列,其RB子像素正方形阵列与屏体夹角为45°,因此R原色子像素实际排列及位置编号可按照图6(b)中标注的Ri,j执行,其中i和j分别代表旋转后的行列序号,基于OLED钻石排列旋转MTF方向得到的单色MTF测试图案参见图6(c)所示。为避免屏体SPR算法干扰,通常需要关闭OLED屏的子像素渲染(Sub-pixel Rendering,SPR),以直接驱动RGB子像素的方式进行屏体驱动。
可以理解的是,由于显示屏的像素分布可能不是传统横纵坐标方向,且各个子像素的比例可能不是均匀分布。则在对显示屏进行检测之前,需要将MTF测试图案的子像素分布方式参考待测显示屏设置;其中,所述分布方式包括:子像素大小、原色子像素数量比值、排列间隔及排列方向等等。
综上所述,本发明提出了一种对显示屏子像素亮度提取精度的快速和精确评估方法。在现有Demura和AOI设备中,可以实现对子像素亮度提取精度、成像系统MTF以及RGB亮度提取数据串扰等多个方面的直观和定量评估,对于Demura和AOI设备实现更好的修复和检测效果具有有益作用。
图7是本发明实施例提供的显示屏子像素亮度提取精度评估系统架构图;如图7所示,评估系统包括:
MTF测试图案确定单元710,用于确定MTF测试图案;所述MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案;
拍摄图像获取单元720,用于获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像;
子像素亮度图提取单元730,用于基于所述拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图,和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。
需要说明的是,上述各个单元的详细功能实现可参见前述方法实施例中的介绍,在此不做赘述。
应当理解的是,上述系统用于执行上述实施例中的方法,系统中相应的程序单元,其实现原理和技术效果与上述方法中的描述类似,该系统的工作过程可参考上述方法中的对应过程,此处不再赘述。
基于上述实施例中的方法,本发明实施例提供了一种电子设备。该设备可以包括:至少一个用于存储程序的存储器和至少一个用于执行存储器存储的程序的处理器。其中,当存储器存储的程序被执行时,处理器用于执行上述实施例中所描述的方法。
基于上述实施例中的方法,本发明实施例提供了一种计算机可读存储介质,计算机可读存储介质存储有计算机程序,当计算机程序在处理器上运行时,使得处理器执行上述实施例中的方法。
基于上述实施例中的方法,本发明实施例提供了一种计算机程序产品,当计算机程序产品在处理器上运行时,使得处理器执行上述实施例中的方法。
可以理解的是,本发明实施例中的处理器可以是中央处理单元(centralprocessing unit,CPU),还可以是其他通用处理器、数字信号处理器(digitalsignalprocessor,DSP)、专用集成电路(application specific integrated circuit,ASIC)、现场可编程门阵列(field programmable gate array,FPGA)或者其他可编程逻辑器件、晶体管逻辑器件,硬件部件或者其任意组合。通用处理器可以是微处理器,也可以是任何常规的处理器。
本发明实施例中的方法步骤可以通过硬件的方式来实现,也可以由处理器执行软件指令的方式来实现。软件指令可以由相应的软件模块组成,软件模块可以被存放于随机存取存储器(random access memory,RAM)、闪存、只读存储器(read-only memory,ROM)、可编程只读存储器(programmable rom,PROM)、可擦除可编程只读存储器(erasable PROM,EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(electrically EPROM,EEPROM)、寄存器、硬盘、移动硬盘、CD-ROM或者本领域熟知的任何其它形式的存储介质中。一种示例性的存储介质耦合至处理器,从而使处理器能够从该存储介质读取信息,且可向该存储介质写入信息。当然,存储介质也可以是处理器的组成部分。处理器和存储介质可以位于ASIC中。
在上述实施例中,可以全部或部分地通过软件、硬件、固件或者其任意组合来实现。当使用软件实现时,可以全部或部分地以计算机程序产品的形式实现。所述计算机程序产品包括一个或多个计算机指令。在计算机上加载和执行所述计算机程序指令时,全部或部分地产生按照本发明实施例所述的流程或功能。所述计算机可以是通用计算机、专用计算机、计算机网络、或者其他可编程装置。所述计算机指令可以存储在计算机可读存储介质中,或者通过所述计算机可读存储介质进行传输。所述计算机指令可以从一个网站站点、计算机、服务器或数据中心通过有线(例如同轴电缆、光纤、数字用户线(DSL))或无线(例如红外、无线、微波等)方式向另一个网站站点、计算机、服务器或数据中心进行传输。所述计算机可读存储介质可以是计算机能够存取的任何可用介质或者是包含一个或多个可用介质集成的服务器、数据中心等数据存储设备。所述可用介质可以是磁性介质(例如,软盘、硬盘、磁带)、光介质(例如,DVD)、或者半导体介质(例如固态硬盘(solid state disk,SSD))等。
可以理解的是,在本发明的实施例中涉及的各种数字编号仅为描述方便进行的区分,并不用来限制本发明的实施例的范围。
本领域的技术人员容易理解,以上所述仅为本发明的较佳实施例而已,并不用以限制本发明,凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等,均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (12)
1.一种显示屏子像素亮度提取精度评估方法,其特征在于,包括以下步骤:
确定调制传递函数MTF测试图案,所述MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案;
获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像;
基于所述拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图,和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,每个颜色的二维MTF测试图案包括具有不同空间频率的横向条形图案和/或具有不同空间频率的纵向条形图案。
3.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述横向条形图案和纵向条形图案相交。
4.根据权利要求2所述的方法,其特征在于,所述不同空间频率包括:低频、中频以及高频。
5.根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其特征在于,所述MTF测试图案包括多个彩色二维MTF测试图案,每个彩色二维MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案;
所述MTF测试图案被待测显示屏显示时,多个彩色二维MTF测试图案分散分布在显示屏的显示画面上。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述彩色二维MTF测试图案在各颜色通道对应的原色子像素上具有预设的灰阶差;所述灰阶差指背景图和前景图的通道灰阶值之差。
7.根据权利要求1-4中任一项所述的方法,其特征在于,所述MTF测试图案的子像素分布方式参考待测显示屏设置;其中,所述分布方式包括:子像素大小、原色子像素数量比值、排列间隔及排列方向。
8.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述MTF测试图案被待测显示屏显示时,多个彩色二维MTF测试图案分散分布在显示屏的四角和中心。
9.根据权利要求8所述的方法,其特征在于,所述彩色二维MTF测试图案包括的多个颜色的二维MTF测试图案之间相互不重叠,单个颜色的二维MTF测试图案的高频图案分布在四角,且高频图案至少需包括一个前景图案为单像素图形。
10.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,具体为:
将所提取的原色子像素亮度图合并得到多个颜色的子像素亮度图。
11.一种显示屏子像素亮度提取精度评估系统,其特征在于,包括:
MTF测试图案确定单元,用于确定调制传递函数MTF测试图案;所述MTF测试图案包括多个颜色的二维MTF测试图案;
拍摄图像获取单元,用于获取待测显示屏显示所述MTF测试图案的拍摄图像;
子像素亮度图提取单元,用于基于所述拍摄图像提取至少一个原色的子像素亮度图,和/或基于所提取的原色子像素亮度图得到多个颜色的子像素亮度图,以根据子像素亮度图评估子像素亮度提取精度。
12.一种电子设备,其特征在于,包括:
至少一个存储器,用于存储程序;
至少一个处理器,用于执行所述存储器存储的程序,当所述存储器存储的程序被执行时,所述处理器用于执行如权利要求1至10任一项所述的方法。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311045382.5A CN116777910B (zh) | 2023-08-18 | 2023-08-18 | 显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202311045382.5A CN116777910B (zh) | 2023-08-18 | 2023-08-18 | 显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116777910A true CN116777910A (zh) | 2023-09-19 |
CN116777910B CN116777910B (zh) | 2023-11-28 |
Family
ID=87993418
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202311045382.5A Active CN116777910B (zh) | 2023-08-18 | 2023-08-18 | 显示屏子像素亮度提取精度评估方法、系统及电子设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116777910B (zh) |
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PB01 | Publication | ||
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