CN116736072A - 卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents
卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116736072A CN116736072A CN202310492321.7A CN202310492321A CN116736072A CN 116736072 A CN116736072 A CN 116736072A CN 202310492321 A CN202310492321 A CN 202310492321A CN 116736072 A CN116736072 A CN 116736072A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- test
- calibration
- tested
- card
- area
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 365
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 48
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 16
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 16
- 238000012797 qualification Methods 0.000 claims description 3
- 238000000638 solvent extraction Methods 0.000 claims description 3
- 230000000875 corresponding effect Effects 0.000 description 16
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 10
- 238000007599 discharging Methods 0.000 description 9
- 230000006870 function Effects 0.000 description 4
- 230000008569 process Effects 0.000 description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 4
- 238000005457 optimization Methods 0.000 description 3
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 description 2
- 230000002596 correlated effect Effects 0.000 description 2
- 230000007423 decrease Effects 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 239000011159 matrix material Substances 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 2
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 230000001276 controlling effect Effects 0.000 description 1
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000011990 functional testing Methods 0.000 description 1
- 230000006872 improvement Effects 0.000 description 1
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 1
- 239000000463 material Substances 0.000 description 1
- 238000005192 partition Methods 0.000 description 1
- 238000004088 simulation Methods 0.000 description 1
- 230000003068 static effect Effects 0.000 description 1
- 238000012546 transfer Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02P—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN THE PRODUCTION OR PROCESSING OF GOODS
- Y02P90/00—Enabling technologies with a potential contribution to greenhouse gas [GHG] emissions mitigation
- Y02P90/30—Computing systems specially adapted for manufacturing
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Electric Properties And Detecting Electric Faults (AREA)
Abstract
本发明实施例提供一种卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质，属于FCT测试技术领域。方法包括：获取上料区的待测卡件的测试工单；根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位；将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准；在待测卡件完成校准后，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位；根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。本发明通过根据待测卡件的测试工单对测试区和校准区进行划分工位，相同测试类型的待测卡件放置在同一校准工位和同一测试工位上，多个卡件在同一校准工位上完成校准后，统一有序的移至该校准工位对应的测试工位上，产品的校准测试能够有序进行，提高产品的测试效率。
Description
技术领域
本发明涉及FCT测试技术领域，具体地涉及一种卡件测试控制方法、一种卡件测试控制装置、一种电子设备及一种计算机可读存储介质。
背景技术
FCT系统为功能测试系统，用于对待测试目标板提供模拟运行唤醒，让其处于工作状态进行测试，从而得到测试数据。
现有的FCT系统在对待测目标板进行测试时，由于待测目标板的测试工位的数量和布局结构的限制，以及每种待测目标板的测试项的类型差异，不同测试项的产品的测试作业不能有序高效的进行，导致产品的测试效率相对较低。
发明内容
本发明实施例的目的是提供一种卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质，解决不同测试项的产品的测试作业不能有序高效的进行，导致产品的测试效率相对较低等问题。
为了实现上述目的，本发明提供一种卡件测试控制方法，所述方法包括：
获取上料区的待测卡件的测试工单；
根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位；
将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准；
在待测卡件完成校准后，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位；
根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。
优选地，所述测试工单从所述待测卡件上设置的具有唯一标识的测试标签内读取出，所述测试工单包括：工单号、产品型号、产品编号、校准项和测试类型，所述测试类型包括至少一个测试项。
优选地，还包括：对校准区进行划分，包括：
计算不同测试类型的第一测试用时；
根据第一测试用时构建多个第一用时区间，每个第一用时区间内的最大第一测试用时与最小第一测试用时的差值小于第一预设值；
根据第一用时区间的数量和第一用时区间的平均时长大小对校准区进行划分，得到每个第一用时区间在校准区内的校准工位的位置和校准位数量。
优选地，还包括：对测试区进行划分，包括：
计算不同测试类型的第二测试用时；
根据第二测试用时构建多个第二用时区间，每个第二用时区间内的最大第二测试用时与最小第二测试用时的差值小于第二预设值；
根据第二用时区间的数量和第二用时区间的平均时长大小对测试区进行划分，得到每个第二用时区间在测试区内的测试工位的位置和测试位数量。
优选地，根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位，包括：
根据待测卡件的测试类型匹配第一用时区间；
根据第一用时区间确定该待测卡件在校准区中的校准工位；
确定存在空闲状态的校准工位，将待测卡件移至空闲状态的校准工位。
优选地，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位，包括：
根据已完成校准的待测卡件的测试类型匹配第二用时区间；
根据第二用时区间确定该待测卡件在测试区中的测试工位；
统计校准区内已完成校准的待测卡件的数量和测试区中处于空闲状态的测试工位；
在同一校准工位中已完成校准的待测卡件的数量达到第一预设数量时，按该校准工位的待测卡件的移入顺序依次将待测卡件移至测试区的空闲状态的测试工位。
优选地，该方法还包括：
获取待测卡件完成测试后的测试结果；其中，所述测试结果包括测试合格和测试不合格；
统计测试区内已完成测试的卡件数量；
在每一测试工位中完成测试的卡件数量达到第二预设数量时，将每一测试工位中测试合格的卡件移至合格下料区，以及将测试不合格的卡件移至不合格下料区。
本发明还提供一种卡件测试控制装置，用于实现上述的卡件测试控制方法，所述装置包括：
获取模块，用于获取上料区的待测卡件的测试工单；
第一匹配模块，用于根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位；
校准模块，用于将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准；
第二匹配模块，用于在待测卡件完成校准后，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位；
测试模块，用于根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。
本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的卡件测试控制方法。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述的卡件测试控制方法。
通过上述技术方案，本发明至少具有如下技术效果：
本发明通过根据待测卡件的测试工单对测试区和校准区进行划分工位，相同测试项的待测卡件放置在同一校准工位和同一测试工位上，多个卡件在同一校准工位上完成校准后，统一有序的移至该校准工位对应的测试工位上，产品的校准测试能够有序进行，能有效提高产品的测试效率。
本发明实施例的其它特征和优点将在随后的具体实施方式部分予以详细说明。
附图说明
附图是用来提供对本发明实施例的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与下面的具体实施方式一起用于解释本发明实施例，但并不构成对本发明实施例的限制。在附图中：
图1是本发明一种实施方式提供的卡件测试控制方法的应用场景图；
图2是本发明一种实施方式提供的卡件测试控制方法的流程图；
图3是本发明一种实施方式提供的卡件测试控制装置的框图。
附图标记说明
1-测试机箱；2-工作台；3-测试墙；4-上料区；5-合格下料区；6-不合格下料区；7-六轴机械手。
具体实施方式
以下结合附图对本发明实施例的具体实施方式进行详细说明。应当理解的是，此处所描述的具体实施方式仅用于说明和解释本发明实施例，并不用于限制本发明实施例。
图1是本发明一种实施方式提供的卡件测试控制方法应用场景示意图，如图1所示，该场景包括至少一个测试机箱1，该测试机箱1呈正六边形结构，测试机箱1内部具有工作台2，工作台2的上方后侧布置有多个测试墙3，每个测试墙3上设置有呈矩阵分布的工位，工作台2的正前方设置有上料区4、合格下料区5和不合格下料区6，上料区4内具有放置有多个待测卡件，工作台2的中部设置有一个六轴机械手7，六轴机械手7通过旋转实现对待测卡件的上料、移料和下料。
在本实施例中，待测卡件的测试作业的流程为，待测卡件先进行校准作业，如：对卡件的电阻、电压和电流进行校准；完成校准后再对待测卡进行测试作业，测试完成后，根据测试结果将将合格的卡件放入到合格下料区5，将不合格的卡件放入不合格下料区6；根据待测卡件的测试流程，对测试机箱1的内部空间的布局方式为：沿着六轴机械手7的周向方向，依次布置上料区4、校准区、测试区、下料区，下料区可可分为不合格下料区6和合格下料区5。
在图1中，测试墙3共配置有三扇，由于待测卡件的校准项的数量少且恒定，而测试项的数量不唯一，因此将靠近上料区4的第一扇测试墙3作为校准区，其余两扇测试墙3作为测试区。
基于图1所示的应用场景，本发明实施例提供一种卡件测试控制方法。图2是本发明一种实施方式提供的卡件测试控制方法的流程图，如图2所示，所述方法包括：
步骤S101：获取上料区的待测卡件的测试工单；
在本实施例中，所述测试工单从所述待测卡件上设置的具有唯一标识的测试标签内读取出，所述测试工单包括：工单号、产品型号、产品编号、校准项和测试类型，所述测试类型包括至少一个测试项，测试项为电压、电流、功率、功率因素、频率、占空比等，测试类型可以是一个测试项，也可以是多个测试项；校准项为电阻、电压和电流。
在本实施例中，测试标签可以是二维码、条形码、RFID等中的任一种，测试标签贴在待测卡件上，将扫码器、读取器等识别仪器安装在六轴机械手端部上，六轴机械手的夹爪通过视觉定位移动上料区内，通过识别仪器读取测试标签内存储的测试工单的信息。
在获取到待测卡件的测试工单后，需要对测试工单校对，若校对成功则说明该测试标签有效，然后再根据测试工单执行校准作业和测试作业。
步骤S102：根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位；
由于校准作业的校准项数量是恒定的而测试作业的测试项数量不唯一的且每项的测试要求时间也是不一样的，因此需要根据待测卡件的测试类型对校准区的工位进行划分。
具体地，还包括：对校准区进行划分，包括：
步骤a01：计算不同测试类型的第一测试用时，即将所有的测试项进行排列组合，得到不同测试项组合的测试类型，然后计算测试类型的第一测试用时，第一测试用时包括一项测试项的用时、以及多项测试项的组合用时；
步骤a02：根据第一测试用时构建多个第一用时区间，每个第一用时区间内的最大第一测试用时与最小第一测试用时的差值小于第一预设值；
在本实施例中，也就是说将相同用时或相近用时的多个第一测试用时作为一个第一用时区间，该区间中的所有测试类型的测试用时之间的差值均小于第一预设值，第一预设值根据校准工位和测试工位的数量进行确定，由于该应用场景只有一个机械臂，该机械臂完成上料、转移料和下料所有作业，当测试区和校准区的总工位的数量越大，第一预设值越大，即第一预设值与总工位的数量成正相关。
步骤a03：根据第一用时区间的数量和第一用时区间的平均时长大小对校准区进行划分，得到每个第一用时区间在校准区内的校准工位的位置和校准位数量。
具体地，根据第一用时区间的数量将校准区划分为相同数量的区域，每个区域作为一个校准工位，每一校准工位具有多个校准位，每个校准工位中的校准位的数量与第一用时区间的平均时长大小呈负相关，即随着平均时长的增加划分的区域内的布置校准位数量逐渐降低，同时随着平均时长的增加划分的校准工位的位置高度逐渐增加。
例如在校准区的底部区域内，用于放置平均时长最小的第一时间区间所对应的测试项，且该区域内划分的测试位数量最多，该区域的待测卡件的换料更加频繁；而在校准区的顶部区域内，用于放置平均时长最大的第一时间区间所对应的测试项，且该区域内划分的测试位数量最少，该区域的待测卡件的换料频率最低。
作为本实施例的进一步优化，根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位，包括：
步骤b01：根据待测卡件的测试类型匹配第一用时区间，根据测试类型的测试项计算出该待测卡件的实际用时，判断该实际用时位于那一第一用时区间内。
步骤b02：根据第一用时区间确定该待测卡件在校准区中的校准工位；
在本实施例中，在匹配出第一用时区间后，就可以匹配该第一用时区间所对应的校准工位；
步骤b03：确定存在空闲状态的校准工位，将待测卡件移至空闲状态的校准工位。
步骤S103：将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准；
六轴机械手将待测卡件移至对应的校准工位后，放置在校准工位的校准装置再次读取放置在该工位内的待测卡件上的测试标签内的数据，获取该待测卡件的校准项，根据校准项切换对应的校准电路将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准。
步骤S104：在待测卡件完成校准后，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位；
在本实施例中，为了保证单个机械手的作业效率，同样需要对测试区的工位进行划分，且在相同或相近测试用时的待测卡件放置在于校准区相同高度的测试区内。具体地，所述方法还包括：对测试区进行划分，包括：
步骤c01：计算不同测试类型的第二测试用时，即将所有的测试项进行排列组合，得到不同测试项组合的测试类型，然后计算测试类型的第二测试用时，第二测试用时包括一项测试项的用时、以及多项测试项的组合用时；
步骤c02：根据第二测试用时构建多个第二用时区间，每个第二用时区间内的最大第二测试用时与最小第二测试用时的差值小于第二预设值；
在本实施例中，也就是说将相同用时或相近用时的多个第二测试用时作为一个第二用时区间，该区间中的所有测试类型的测试用时之间的差值均小于第二预设值，第二预设值根据测试工位的数量进行确定，由于该应用场景只有一个机械臂，该机械臂完成上料、转移料和下料所有作业，当测试区的总工位的数量越大，第二预设值越大，即第二预设值与测试区总工位的数量成正相关。
步骤c03：根据第二用时区间的数量和第二用时区间的平均时长大小对测试区进行划分，得到每个第二用时区间在测试区内的测试工位的位置和测试位数量。
具体地，根据第二用时区间的数量将测试区划分为相同数量的区域，每个区域作为一个测试工位，每一测试工位具有多个测试位，每个测试工位的测试位数量与第二用时区间的平均时长大小呈负相关，即随着平均时长的增加划分的区域内的布置测试位数量逐渐降低，同时随着平均时长的增加划分的区域的位置高度逐渐增加。
例如在测试区的底部区域内，用于放置平均时长最小的第二用时区间所对应的测试项，且该区域内划分的测试位数量最多，该区域的待测卡件的下料更加频繁；而在测试区的顶部区域内，用于放置平均时长最大的第二用时区间所对应的测试项，且该区域内划分的测试位数量最少，该区域的待测卡件的下料频率最低。
作为本实施例的进一步优化，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位，包括：
步骤d01：根据已完成校准的待测卡件的测试类型匹配第二用时区间；
在本实施例中，再次采集已完成校准的待测卡件的测试工单，获取该待测卡件的测试类型，根据测试项计算出该待测卡件的实际用时，判断该实际用时位于那一第二时间区间内；
步骤d02：根据第二用时区间确定该待测卡件在测试区中的测试工位；
在本实施例中，在匹配出第二用时区间后，就可以匹配该第二用时区间所对应的测试工位；
步骤d03：统计校准区内已完成校准的待测卡件的数量和测试区中处于空闲状态的测试工位；
步骤d04：在同一校准工位中已完成校准的待测卡件的数量达到第一预设数量时，按该校准工位的待测卡件的移入顺序依次将待测卡件移至测试区的空闲状态的测试工位。
因此，相同或相近测试时长的待测卡件放置在同一高度的校准工位和测试工位内，在同一高度的校准工位和测试工位内，当校准区内存在已完成校准的待测卡件时，且已完成校准的待测卡件的数量达到第一预设数量时，以及对应的测试区内存在空闲状态的测试工位，此时按“先进先出”的原则，将已完成校准的待测卡件移至对应的测试工位；由于相同或相近测试时长的待测卡件位于相同高度，此时六轴机械手在竖直方向上位移量相对较少，待测卡件从校准区移至测试区的路径最短，机械手的转移效率更高，能够提升测试效率。
步骤S105：根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。
在本实施例中，六轴机械手将待测卡件移校准工位移至对应的测试工位后，放置在测试工位的测试装置再次读取放置在该工位内的待测卡件上的测试标签内的数据，获取该待测卡件的测试项；由于测试项的差异，每个测试工位的测试装置具有所有类型的测试项，可以设置矩阵电路对每种测试项对应的测试电路进行切换，然后依次根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至在匹配的测试工位进行测试作业。
作为本实施例的进一步优化，所述方法还包括：
步骤e01：获取待测卡件完成测试后的测试结果；其中，所述测试结果包括测试合格和测试不合格；
步骤e02：统计测试区内已完成测试的卡件数量；
步骤e03：在每一测试工位中完成测试的卡件数量达到第二预设数量时，将每一测试工位中测试合格的卡件移至合格下料区，以及将测试不合格的卡件移至不合格下料区。
本发明通过根据待测卡件的测试工单对测试区和校准区进行划分工位，相同测试项的待测卡件放置在同一校准工位和同一测试工位上，多个卡件在同一校准工位上完成校准后，统一有序的移至该校准工位对应的测试工位上，产品的校准测试能够有序进行，能有效提高产品的测试效率。
图3是本发明一种实施方式提供的卡件测试控制装置的框图，如图3所示，本实施例还提供一种卡件测试控制装置，用于实现上述的卡件测试控制方法，所述装置包括：
获取模块，用于获取上料区的待测卡件的测试工单；
第一匹配模块，用于根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位；
校准模块，用于将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准；
第二匹配模块，用于在待测卡件完成校准后，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位；
测试模块，用于根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。
本发明还提供一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述的卡件测试控制方法。
本发明还提供一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该程序被处理器执行时实现上述的卡件测试控制方法。
本发明通过根据待测卡件的测试工单对测试区和校准区进行划分工位，相同测试项的待测卡件放置在同一校准工位和同一测试工位上，多个卡件在同一校准工位上完成校准后，统一有序的移至该校准工位对应的测试工位上，产品的校准测试能够有序进行，能有效提高产品的测试效率。
本领域内的技术人员应明白，本申请的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此，本申请可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且，本申请可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本申请是参照根据本申请实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器，使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中，使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品，该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上，使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理，从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
在一个典型的配置中，计算设备包括一个或多个处理器(CPU)、输入/输出接口、网络接口和内存。
存储器可能包括计算机可读介质中的非永久性存储器，随机存取存储器(RAM)和/或非易失性内存等形式，如只读存储器(ROM)或闪存(flash RAM)。存储器是计算机可读介质的示例。
计算机可读介质包括永久性和非永久性、可移动和非可移动媒体可以由任何方法或技术来实现信息存储。信息可以是计算机可读指令、数据结构、程序的模块或其他数据。计算机的存储介质的例子包括，但不限于相变内存(PRAM)、静态随机存取存储器(SRAM)、动态随机存取存储器(DRAM)、其他类型的随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、电可擦除可编程只读存储器(EEPROM)、快闪记忆体或其他内存技术、只读光盘只读存储器(CD-ROM)、数字多功能光盘(DVD)或其他光学存储、磁盒式磁带，磁带磁磁盘存储或其他磁性存储设备或任何其他非传输介质，可用于存储可以被计算设备访问的信息。按照本文中的界定，计算机可读介质不包括暂存电脑可读媒体(transitory media)，如调制的数据信号和载波。
还需要说明的是，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、商品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、商品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个……”限定的要素，并不排除在包括要素的过程、方法、商品或者设备中还存在另外的相同要素。
以上仅为本申请的实施例而已，并不用于限制本申请。对于本领域技术人员来说，本申请可以有各种更改和变化。凡在本申请的精神和原理之内所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本申请的权利要求范围之内。
Claims (10)
1.一种卡件测试控制方法，其特征在于，所述方法包括：
获取上料区的待测卡件的测试工单；
根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位；
将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准；
在待测卡件完成校准后，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位；
根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试工单从所述待测卡件上设置的具有唯一标识的测试标签内读取出，所述测试工单包括：工单号、产品型号、产品编号、校准项和测试类型，所述测试类型包括至少一个测试项。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：对校准区进行划分，包括：
计算不同测试类型的第一测试用时；
根据第一测试用时构建多个第一用时区间，每个第一用时区间内的最大第一测试用时与最小第一测试用时的差值小于第一预设值；
根据第一用时区间的数量和第一用时区间的平均时长大小对校准区进行划分，得到每个第一用时区间在校准区内的校准工位的位置和校准位数量。
4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，还包括：对测试区进行划分，包括：
计算不同测试类型的第二测试用时；
根据第二测试用时构建多个第二用时区间，每个第二用时区间内的最大第二测试用时与最小第二测试用时的差值小于第二预设值；
根据第二用时区间的数量和第二用时区间的平均时长大小对测试区进行划分，得到每个第二用时区间在测试区内的测试工位的位置和测试位数量。
5.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位，包括：
根据待测卡件的测试类型匹配第一用时区间；
根据第一用时区间确定该待测卡件在校准区中的校准工位；
确定存在空闲状态的校准工位，将待测卡件移至空闲状态的校准工位。
6.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位，包括：
根据已完成校准的待测卡件的测试类型匹配第二用时区间；
根据第二用时区间确定该待测卡件在测试区中的测试工位；
统计校准区内已完成校准的待测卡件的数量和测试区中处于空闲状态的测试工位；
在同一校准工位中已完成校准的待测卡件的数量达到第一预设数量时，按该校准工位的待测卡件的移入顺序依次将待测卡件移至测试区的空闲状态的测试工位。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，该方法还包括：
获取待测卡件完成测试后的测试结果；其中，所述测试结果包括测试合格和测试不合格；
统计测试区内已完成测试的卡件数量；
在每一测试工位中完成测试的卡件数量达到第二预设数量时，将每一测试工位中测试合格的卡件移至合格下料区，以及将测试不合格的卡件移至不合格下料区。
8.一种卡件测试控制装置，用于实现权利要求1-7中任一项所述的卡件测试控制方法，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取上料区的待测卡件的测试工单；
第一匹配模块，用于根据测试工单为待测卡件匹配校准区内预划分的校准工位；
校准模块，用于将待测卡件移至匹配的校准工位进行校准；
第二匹配模块，用于在待测卡件完成校准后，根据测试工单为待测卡件匹配测试区内预划分的测试工位；
测试模块，用于根据校准顺序将校准工位上的待测卡件移至匹配的测试工位进行测试。
9.一种电子设备，包括存储器、处理器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器上运行的计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1-7中任一项所述的卡件测试控制方法。
10.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，该程序被处理器执行时实现权利要求1-7中任一项所述的卡件测试控制方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310492321.7A CN116736072B (zh) | 2023-05-04 | 2023-05-04 | 卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310492321.7A CN116736072B (zh) | 2023-05-04 | 2023-05-04 | 卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116736072A true CN116736072A (zh) | 2023-09-12 |
| CN116736072B CN116736072B (zh) | 2024-03-26 |
Family
ID=87903358
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310492321.7A Active CN116736072B (zh) | 2023-05-04 | 2023-05-04 | 卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116736072B (zh) |
Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3621999A (en) * | 1968-11-18 | 1971-11-23 | Bull General Electric | Arrangement for the selection of columns of record cards |
| US6530049B1 (en) * | 2000-07-06 | 2003-03-04 | Lattice Semiconductor Corporation | On-line fault tolerant operation via incremental reconfiguration of field programmable gate arrays |
| CN104482953A (zh) * | 2014-12-01 | 2015-04-01 | 科世达（上海）管理有限公司 | 一种自动测试设备的自动校准方法、控制装置和系统 |
| CN205103339U (zh) * | 2015-11-04 | 2016-03-23 | 厦门顺拓电子有限公司 | 一种带自动多工位功能的电学参数测试仪 |
| CN209542744U (zh) * | 2019-01-15 | 2019-10-25 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 板卡测试设备 |
| CN111445115A (zh) * | 2020-03-20 | 2020-07-24 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 测试项校验方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 |
| CN112611960A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-04-06 | 福建福清核电有限公司 | 一种ups电路板卡检测装置 |
| CN113252665A (zh) * | 2021-04-27 | 2021-08-13 | 深圳市安仕新能源科技有限公司 | 产品测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN114035025A (zh) * | 2021-11-02 | 2022-02-11 | 上海电子信息职业技术学院 | 一种便携式电站仪控系统板卡自动测试装置及测试方法 |
| CN216526154U (zh) * | 2021-10-29 | 2022-05-13 | 国能智深控制技术有限公司 | 一种卡件的测试系统 |
| CN114690025A (zh) * | 2022-05-31 | 2022-07-01 | 浙江瑞测科技有限公司 | 一种多工位并行测试方法 |
| CN114691490A (zh) * | 2022-02-23 | 2022-07-01 | 南京南瑞继保电气有限公司 | Dcs屏柜自动测试方法、设备、系统及可读存储介质 |
| CN114705970A (zh) * | 2022-03-30 | 2022-07-05 | 天水华天科技股份有限公司 | 一种多工位ft芯片测试系统及方法 |
| CN116692442A (zh) * | 2023-05-04 | 2023-09-05 | 国能智深(天津)控制技术有限公司 | 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质 |
-
2023
- 2023-05-04 CN CN202310492321.7A patent/CN116736072B/zh active Active
Patent Citations (14)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| US3621999A (en) * | 1968-11-18 | 1971-11-23 | Bull General Electric | Arrangement for the selection of columns of record cards |
| US6530049B1 (en) * | 2000-07-06 | 2003-03-04 | Lattice Semiconductor Corporation | On-line fault tolerant operation via incremental reconfiguration of field programmable gate arrays |
| CN104482953A (zh) * | 2014-12-01 | 2015-04-01 | 科世达（上海）管理有限公司 | 一种自动测试设备的自动校准方法、控制装置和系统 |
| CN205103339U (zh) * | 2015-11-04 | 2016-03-23 | 厦门顺拓电子有限公司 | 一种带自动多工位功能的电学参数测试仪 |
| CN209542744U (zh) * | 2019-01-15 | 2019-10-25 | 广州视源电子科技股份有限公司 | 板卡测试设备 |
| CN111445115A (zh) * | 2020-03-20 | 2020-07-24 | Oppo（重庆）智能科技有限公司 | 测试项校验方法、装置、电子设备和计算机可读存储介质 |
| CN112611960A (zh) * | 2020-12-31 | 2021-04-06 | 福建福清核电有限公司 | 一种ups电路板卡检测装置 |
| CN113252665A (zh) * | 2021-04-27 | 2021-08-13 | 深圳市安仕新能源科技有限公司 | 产品测试方法、装置、电子设备及存储介质 |
| CN216526154U (zh) * | 2021-10-29 | 2022-05-13 | 国能智深控制技术有限公司 | 一种卡件的测试系统 |
| CN114035025A (zh) * | 2021-11-02 | 2022-02-11 | 上海电子信息职业技术学院 | 一种便携式电站仪控系统板卡自动测试装置及测试方法 |
| CN114691490A (zh) * | 2022-02-23 | 2022-07-01 | 南京南瑞继保电气有限公司 | Dcs屏柜自动测试方法、设备、系统及可读存储介质 |
| CN114705970A (zh) * | 2022-03-30 | 2022-07-05 | 天水华天科技股份有限公司 | 一种多工位ft芯片测试系统及方法 |
| CN114690025A (zh) * | 2022-05-31 | 2022-07-01 | 浙江瑞测科技有限公司 | 一种多工位并行测试方法 |
| CN116692442A (zh) * | 2023-05-04 | 2023-09-05 | 国能智深(天津)控制技术有限公司 | 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质 |
Also Published As
| Publication number | Publication date |
|---|---|
| CN116736072B (zh) | 2024-03-26 |
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| CN109264275B (zh) | 基于机器人的智能仓库管理方法、装置和存储介质 | |
| JP6854349B2 (ja) | 物品整理タスクの生成、物品整理方法及び装置 | |
| CN108073146B (zh) | 使用架构表示的要求的自动化处理控制硬件工程规划 | |
| CN111325506A (zh) | 仓库配置方法及装置、存储介质、电子装置 | |
| Popović et al. | Application of genetic algorithms for sequencing of AS/RS with a triple-shuttle module in class-based storage | |
| CN116736072B (zh) | 卡件测试控制方法、装置、设备及存储介质 | |
| CN108734431A (zh) | 一种驻店物流调度的订单智能选店方法及装置 | |
| CN111123728A (zh) | 无人车仿真方法、装置、设备及计算机可读介质 | |
| CN116477262A (zh) | 机器人取货方法、装置、计算机可读存储介质和仓储系统 | |
| CN116692442B (zh) | 基于老化测试的板卡上下料方法、装置、设备及存储介质 | |
| US10892836B2 (en) | Automated RFID tag profiling at application | |
| CN113071839A (zh) | 机器人配置方法、装置、控制终端和仓储系统 | |
| CN109523314B (zh) | 一种基于ai技术的供应链管控方法及其系统和存储介质 | |
| CN111813719B (zh) | 数据轮询方法、装置及终端设备 | |
| CN110888949A (zh) | 基于三维地图的设备告警屏蔽方法、装置、设备及介质 | |
| US9251543B2 (en) | Predictive method, apparatus and program product | |
| CN112069641B (zh) | 一种容器空间的分配方法、分配装置及终端设备 | |
| CN109426559B (zh) | 命令下发方法和装置、存储介质、处理器 | |
| CN112182073A (zh) | 电力量测数据展示方法及系统 | |
| CN111967682A (zh) | 设备上架方案寻优方法、装置及终端设备 | |
| TW202143078A (zh) | 測試路徑統籌方法、電子設備及存儲介質 | |
| CN116382377B (zh) | 一种用于基站机柜温控的多联机控制方法及系统 | |
| CN109523189A (zh) | 一种车辆调度方法及系统 | |
| CN109241066B (zh) | 请求处理方法及装置 | |
| CN111626661B (zh) | 资产盘点方法 |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| GR01 | Patent grant | ||
| TR01 | Transfer of patent right | ||
| TR01 | Transfer of patent right |
Effective date of registration: 20240419 Address after: Room 2-5378, Building A, No. 6 Huafeng Road, Huaming High tech Industrial Zone, Dongli District, Tianjin, 300300 Patentee after: Guoneng Zhishen (Tianjin) Control Technology Co.,Ltd. Country or region after: China Patentee after: Guoneng Zhishen Control Technology Co.,Ltd. Address before: Room 2-5378, Building A, No. 6 Huafeng Road, Huaming High tech Industrial Zone, Dongli District, Tianjin, 300300 Patentee before: Guoneng Zhishen (Tianjin) Control Technology Co.,Ltd. Country or region before: China |