CN116627372B - Pnl物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请公开PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质，涉及图像显示领域，基于对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；响应于接收到对全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在预览界面的第二显示区域生成目标颗粒局部对齐的局部预览图像；响应于接收到对局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在第二显示区域中动态调整和显示局部预览图像的目标预览区域，以显示出目标颗粒在目标预览区域的轮廓对齐效果。该方案可以同步显示全景预览和局部预览，在局域预览的区域进行图像放大缩小和移动操作，提高缺陷检测效率。

Description

PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质

技术领域

本申请实施例涉及AOI图像检测领域，特别涉及一种PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质。

背景技术

PCB又称印刷电路板，是电子元器件进行电气连接的载体，PCB生产过程是基于元件轮廓母版全景图，在PNL基板上通过数控定位冲压形成各种特定形状的Pcs颗粒板，Pcs是组成PCB的最小组成颗粒或最小组成单位，该区域中包括若干电子元器件，一个完整的PNL基板上通常设置有若干Pcs。在PNL基板上冲压生成后，需要对PNL基板进行扫描，然后对扫描的全景图像上的PNL物料进行缺陷检测。

在相关技术中PNL物料时，需要将扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行对齐，也即将实物的扫描图像映射到母版全景图中，生成预览画面。由于基板上的PNL物料密集、扫描图像的像素极大、且Pcs数量较多，图片预览需要逐级放大电子元器件进行位置偏移检测。若将所有PNL物料整体对齐预览显示就需要为计算机提供更多的算力，且这种对齐和预览需要很长的加载时间。若采用单个局部Pcs对齐预览显示的方法，则无法可视化显示当前检测的Pcs在整个全景图中的具体位置，不便于操作。

发明内容

本申请实施例提供一种PNL物料对齐预览显示方法、装置、设备及存储介质，解决PNL物料整体对齐预览显示加载时间过长和单个局部预览无法定位的问题。

一方面，本申请提供一种PNL物料对齐预览显示方法，所述方法包括：

响应于接收到全景预览和局部预览显示的对齐特征点，基于所述对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；

响应于接收到对所述全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在所述预览界面的第二显示区域生成所述目标颗粒局部对齐的局部预览图像；

响应于接收到对所述局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在所述第二显示区域中动态调整和显示所述局部预览图像的目标预览区域，以显示出所述目标颗粒在所述目标预览区域的轮廓对齐效果。

可选的，所述全景预览图像中显示有若干颗粒，当其中一个颗粒被选择为候选颗粒时，在所述候选颗粒所处的图像区域生成遮罩层。

可选的，每个颗粒的图像区域显示有对应的颗粒物料和外围线框，所述外围线框包围颗粒的结构边缘，所述遮罩层基于所述外围线框包围的图像区域生成。

可选的，当所述候选颗粒被确定为所述目标颗粒时，读取所述目标颗粒图像区域内所有元件轮廓母版全景图像数据和扫描图像数据，并根据所述对齐特征点在所述第二显示区域生成局部对齐的所述局部预览图像。

可选的，当所述候选颗粒被确定为所述目标颗粒时，基于所述目标颗粒的尺寸形状框选局部预览区，读取所述局部预览区中包含的所有扫描图像数据以及所述目标颗粒图像区域内所有元件轮廓母版全景图像数据；其中，所述目标颗粒位于框选的所述局部预览区中；

根据所述对齐特征点在所述第二显示区域生成局部对齐的所述局部预览图像。

可选的，所述局部预览图像中显示有所述目标颗粒的所有颗粒元件、所述外围线框、以及用于对所有颗粒进行缺陷检测的内围框线。

可选的，所述局部预览图像中显示有包含所述目标颗粒在内的所有颗粒、所述目标颗粒的外围线框、以及用于对所述目标颗粒的所有颗粒元件进行缺陷检测的内围框线。

另一方面，本申请提供一种PNL物料局部对齐预览显示装置，所述装置包括：

全景预览模块，用于响应于接收到全景预览和局部预览显示的对齐特征点，基于所述对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；

局部预览模块，用于响应于接收到对所述全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在所述预览界面的第二显示区域生成所述目标颗粒局部对齐的局部预览图像；

调整显示模块，用于响应于接收到对所述局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在所述第二显示区域中动态调整和显示所述局部预览图像的目标预览区域，以显示出所述目标颗粒在所述目标预览区域的轮廓对齐效果。

又一方面，本申请提供一种计算机设备，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现上述方面所述的PNL物料对齐预览显示方法。

又一方面，本申请提供一种计算机可读存储介质，所述可读存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现上述方面所述的PNL物料对齐预览显示方法。

本申请实施例提供的技术方案带来的有益效果至少包括：对全景预览图像进行锁定，不对其进行图像操作，转而根据对全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在预览界面额外显示区针对目标颗粒局部对齐的局部预览图像。因为局部预览图像相比较全局预览具有更少的图像数据和元件轮廓数据，所以可选择在局部预览区域进行图像操作，对计算机算力要求不高，且加载速度更快。这种在全景预览显示和选定添加遮罩层，局部预览和图像放大缩小操作的方式可以形成鲜明对照，相比于多个单独Pcs预览可以快速定位，相比于全景多级放大预览可以节省算力，加快预览速度和提高缺陷检测的效率。

附图说明

图1是本申请实施例提供的PNL物料对齐预览显示方法的流程图；

图2是本申请实施例提供的全景扫描图像的界面示意图；

图3是本申请实施例提供的显示全景预览图像和局部预览图像的界面示意图；

图4是在全景预览图像选中目标颗粒和显示遮罩层的界面示意图；

图5是一种在第二显示区域显示局部预览图像的界面示意图；

图6是另一种在第二显示区域显示局部预览图像的界面示意图；

图7是图5和图6中目标颗粒的局部放大示意图；

图8是计算机设备显示全景预览图像和局部预览图像的显示效果图；

图9是对局部预览图像中目标颗粒图像区域进行放大操作的显示效果图；

图10是在目标颗粒图像区域展示轮廓对齐效果和全景定位效果图；

图11是PNL物料局部对齐预览显示装置的结构框图；

图12是PNL物料局部对齐预览显示装置的结构示意图。

具体实施方式

为使本申请的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合附图对本申请实施方式作进一步地详细描述。

在本文中提及的“多个”是指两个或两个以上。“和/或”，描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系，例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。字符“/”一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。

因为PNL物料是基于元件轮廓母版进行冲压制作的，所以在PNL物料检测阶段需要将元件轮廓母版全景图像和PNL的扫描图像进行比对，具体根据Pcs上元件和母版图中元件轮廓的重叠或包围情况进行缺陷诊断。而扫描图像是根据PNL基板和元件轮廓母版全景图像一比一还原的高清图像，对算力要求较高，且加载时间较长。在一些实际应用中采用局部分割放大显示的方法，这种方案在PNL基板上的Pcs形状结构各不相同检测比较高效，因为可以凭借肉眼可以快速该分割部分Pcs在整个PNL基板上的位置，而对于大批量相同Pcs的情况，校验人员不仅需要不断切换加载各个分割Pcs，在形状结构完全相同或相似的，肉眼很难确定在全局图像的具体位置，影响缺陷检测的进程。

图1是本申请实施例提供的PNL物料对齐预览显示方法的流程图，具体包括如下步骤：

S1，响应于接收到全景预览和局部预览显示的对齐特征点，基于对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像。

对齐特征点是在设计元件轮廓母版全景图时和PNL基板时设计的若干用于匹配的特征点，通常是围绕Pcs设置(设计元件轮廓母版全景图像中同样设置有匹配特征点)。在进行对齐显示时，用户可以通过可视化界面选择对齐特征点的数量，通常是选择3个特征点或更多，具体数量在此不作限定。

元件轮廓母版全景图像是对PNL基板进行冲压的设计蓝图，如CAD母版图或其他母版图等，其中包含所有Pcs和Pcs上元件轮廓。扫描图像是通过线扫相机对PNL基板进行扫描生成的全景照片/图像，且与元件轮廓母版全景图的尺寸是一一对应的。

图2是一种基于PNL基板扫描获得全景扫描图像的界面示意图，PNL基板包括若干Pcs，也即颗粒单位，Pcs的结构可以相同或不同，具体摆放位置和数量根据实际生产和设计决定。在选定对齐特征点后，基于对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，匹配过程加载两个图像中是数据，并在预览界面的第一显示区域显示全景对齐后的全景预览图像。预览界面可以是在原扫描图像界面上生成的悬浮界面，也可以是替换原始扫描图像或操作界面后显示的界面。

S2，响应于接收到对全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在预览界面的第二显示区域生成目标颗粒局部对齐的局部预览图像。

图3是一种可能的显示全景预览图像和局部预览图像的界面示意图，该预览界面至少包括第一显示区域和第二显示区域，两个显示区域左右分布，全景预览图像位于第一显示区域(在未选择据局部放大时第二显示区域中不显示)。该全景预览图像是不可执行图像放大、缩小和移动操作的图像，仅显示出全局对齐后的显示效果。因为扫描图像中包含有所有Pcs和Pcs上的元件/物料，所以在全景预览图像中无法看清Pcs的细节。这种模糊化的处理无需很高的算力，响应速度更快。

在一些实施例中，第一显示区域和第二显示区域还可以在预览界面中上下分布或以其他形式分布。

S3，响应于接收到对局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在第二显示区域中动态调整和显示局部预览图像的目标预览区域，以显示出目标颗粒在目标预览区域的轮廓对齐效果。

如图7，所示在第二显示区域显示出局部预览图像后，就可以根据实际操作需求手动选取感兴趣的区域进行局域预览操作，显示出更多的元件及线框细节，并根据显示的细节信息进行缺陷检测评估。

综上所述，该方案通过将PNL物料的缺陷检测分成全景预览和局部预览双显示的效果，在未选定感兴趣目标颗粒的情况下，在全景预览图像中不显示具体的元件线框；在选定目标颗粒的情况下，再进行局部预览，以显示目标颗粒的局部预览图像，并显示详细的元件和线框细节，便于观察目标预览区域的轮廓对齐效果，这种基于目标颗粒局部显示的效果可以降低对设备的算力要求，加快预览和缺陷检测的效率。

在一种可能的实施方式中，在显示全景预览图后，在其中的选择操作是通过鼠标的移动位置决定的，也就是检测鼠标在全景预览图像中的坐标位置。而全景预览图像中的Pcs全是经过元件轮廓母版全景图像对齐映射的，也就是每个Pcs所占据的像素大小/图像范围和坐标也是确定的。当控制鼠标移动的坐标落入Pcs所占据的图像范围时，表示选中该目标Pcs，进而在预览界面的第二显示区域生成目标颗粒局部对齐的局部预览图像。

在另一些实施方式中，还可以接收选择操作的指令，根据指令对应的图像坐标范围确定选择的目标Pcs，如通过键盘输入指令或触控操作确定目标Pcs。

因为全景预览图像中无法显示出详细的轮廓对齐效果，所以本申请在第一预览区域中显示的全景预览图像是仅包含外围线框和Pcs元件的。如图4所示，是一种对全景预览图像的放大显示的效果图，一个PNL上包含若干Pcs，而每个pcs上都包含有大量元件。在全景对齐显示阶段，仅将对齐后元件轮廓母版全景图像中Pcs的外围框线渲染和显示出来，而不显示Pcs上的元件轮廓线，这样可以大幅降低加载全景预览显示图像所需的算力和加载时间。

在图4中，外围框线410是源于元件轮廓母版全景图像提取和显示的，且包围每个Pcs的结构边缘，对应的Pcs元器件420全部位于外围框线410的图像区域内。在一些实施例中，对全景预览图像中的所有Pcs，在确定鼠标或选择操作是否落入Pcs所占据的图像范围时，可以基于外围框线确定。

为了更方便的定位局部预览图像的位置，本方案中在鼠标移动/输入指令/触屏点击操作选中全景预览图像中的其中一个Pcs时，将其确定为候选Pcs，继而根据外围线框410包围的图像区域生成遮罩层430。当鼠标离开外围线框410包围的图像区域后自动消失。而在用户确定将该候选pcs进行局部对齐预览显示时，也即确定将全景预览图像中的候选Pcs确定为目标Pcs，在预览界面的第二显示区域生成局部对齐的局部预览图像，同时将目标Pcs图像区域的遮罩层锁定显示。

在全景预览图像选定的局部预览区域主要基于目标Pcs的结构确定。在一种可能的实施方式中，局部预览区域就是目标Pcs图像区域。在确定该区域后读取目标Pcs图像区域内对应所有元件轮廓母版全景图像数据和扫描图像数据，并根据对齐特征点在第二显示区域生成局部对齐的局部预览图像。如图5和图7(图7是图6中A处放大图)中的左侧部分所示，在第二显示区域仅有选中的单一目标Pcs区域的局部对齐图像，此局部预览相比于全景预览图，不仅显示有目标Pcs的外围框线710、内部所有元件730、以及元件730的内围框线720全部显示出来。缺陷检测正是基于元件730的内围框线720的位置关系确定。

然而在另一些实施例中，Pcs的结构通常是不规则和不统一的，而在PNL上的排版位置是根据空间优化后确定的，而在Pcs结构不规则且摆放位置较近时，这时可以通过框选区域来对一个较大范围内的两种图像数据进行对齐预览。

具体包括如下步骤：

A，在选定目标Pcs后，可以直接根据基于目标Pcs的尺寸形状框选局部预览区，该框选区域以外围线框构的各边交点来确定。

B，确定框选区域后，读取局部预览区中包含的所有扫描图像数据以及目标Pcs图像区域内所有元件轮廓母版全景图像数据。此时的目标Pcs必然包含于框选的局部预览区中。

C，根据对齐特征点在第二显示区域生成局部对齐的局部预览图像。

如图6和图7所示，在局部预览图像中不仅显示有目标Pcs的外围框线710、所有Pcs内围框线720和元件730，还包含有其他Pcs的其他元件740，其他元件740本质上不属于目标Pcs的范畴，所以无需显示对应的内围框线。这样可以提前看到目标Pcs周侧的颗粒结构，针对性进行抽检。

当然在其他实施例中，还可以将局部预览图像包含的所有Pcs、Pcs包含的元件、外维框线和内围框线全部显示，这样可以减少局部预览的次数，例如L型和I型Pcs的摆放，在预览L型时，可以直接将I型一起预览，提高预览检测效率。

在一些其他实施例中，还可以根据Strip块划分预览显示区域，在实际的生产过程中，对于某些工艺的尺寸需求或其它需求，会将大的PNL基板分割为多个小的Strip块，而Strip块上包含有若干个Pcs颗粒，多个Strip块组成一个完整的PNL基板。基于这种生产结构，在选中目标Pcs并生成遮罩层时，直接将对应所属的Strip块区域内所有的Pcs进行局部对齐预览显示，这样相对于全局加载的方式，同样可以减少加载时间和选取局部浏览次数。

对局部预览图像的预览调节操作包括对局部预览图像进行放大、缩小和移动操作。因为全景预览图像是无法进行放大缩小和移动操作的，仅用于对照定位，而局部预览图像可以，这就类似于CAD的放大操作，用户可以对关键区域进行组级放大操作，以观察元件轮廓对齐效果，如图2，图8-图10所示。图8中在左侧全景预览图中选定目标Pcs后，右侧显示的是以尺寸框选显示的局部预览图，图9和图10是对其进行多次放大操作显示的细节图。

综上所述，本申请实施例通过对全景预览图像进行锁定，不对其进行图像操作，转而根据对全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在预览界面额外显示区针对目标颗粒局部对齐的局部预览图像。因为局部预览图像相比较全局预览具有更少的图像数据和元件轮廓数据，所以可选择在局部预览区域进行图像操作，对计算机算力要求不高，且加载速度更快。这种在全景预览显示和选定添加遮罩层，局部预览和图像放大缩小操作的方式可以形成鲜明对照，相比于多个单独Pcs预览可以快速定位，相比于全景多级放大预览可以节省算力，加快预览速度和提高缺陷检测的效率。

图11示出了本申请实施例提供的PNL物料对齐预览显示方法装置，所述装置包括：

全景预览模块1110，用于响应于接收到全景预览和局部预览显示的对齐特征点，基于所述对齐特征点对全景扫描图像和CAD母版图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；

局部预览模块1120，用于响应于接收到对所述全景预览图像中目标Pcs的选择操作，在所述预览界面的第二显示区域生成所述目标Pcs局部对齐的局部预览图像；

调整显示模块1130，用于响应于接收到对所述局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在所述第二显示区域中动态调整和显示所述局部预览图像的目标预览区域，以显示出所述目标Pcs在所述目标预览区域的颗粒轮廓。

本申请实施例提供的PNL物料对齐预览显示装置，可以应用于如上述实施例中提供的PNL物料对齐预览显示方法，相关细节参考上述方法实施例，其实现原理和技术效果类似，在此不再赘述。

需要说明的是，本申请实施例中提供的PNL物料对齐预览显示装置在进行全景和局部预览显示时，仅以上述各功能模块/功能单元的划分进行举例说明，在实际应用中，可以根据需要而将上述功能分配由不同的功能模块/功能单元完成，即将PNL物料对齐预览显示装置的内部结构划分成不同的功能模块/功能单元，以完成以上描述的全部或者部分功能。另外，上述方法实施例提供的PNL物料对齐预览显示方法的实施方式与本实施例提供的PNL物料对齐预览显示装置的实施方式属于同一构思，本实施例提供的PNL物料对齐预览显示装置的具体实现过程详见上述方法实施例，这里不再赘述。

图12示出了本申请一个示例性实施例提供的计算机设备的结构框图。是桌上型计算机、笔记本电脑、掌上电脑以及云端服务器等计算机设备。该计算机设备可以包括，但不限于，处理器和存储器。其中，处理器和存储器可以通过总线或者其他方式连接。其中，处理器可以为中央处理器(Central Processing Unit，CPU)。处理器还可以为其他通用处理器、数字信号处理器(Digital Signal Processor，DSP)、专用集成电路(ApplicationSpecific Integrated Circuit，ASIC)、现场可编程门阵列(Field-Programmable GateArray，FPGA)或者其他可编程逻辑器件、图形处理器(Graphics Processing Unit，GPU)、嵌入式神经网络处理器(Neural-network Processing Unit，NPU)或者其他专用的深度学习协处理器、分立门或者晶体管逻辑器件、分立硬件组件等芯片，或者上述各类芯片的组合。

处理器可以包括一个或多个处理核心，比如4核心处理器、8核心处理器等。处理器可以采用DSP(Digital Signal Processing，数字信号处理)、FPGA(Field－ProgrammableGate Array，现场可编程门阵列)、PLA(Programmable Logic Array，可编程逻辑阵列)中的至少一种硬件形式来实现。处理器1701也可以包括主处理器和协处理器，主处理器是用于对在唤醒状态下的数据进行处理的处理器，也称CPU(Central Processing Unit，中央处理器)；协处理器是用于对在待机状态下的数据进行处理的低功耗处理器。在一些实施例中，处理器可以集成有GPU(Graphics Processing Unit，图像处理器)，GPU用于负责显示屏所需要显示的内容的渲染和绘制。一些实施例中，处理器还可以包括AI(ArtificialIntelligence，人工智能)处理器，该AI处理器用于处理有关机器学习的计算操作。

存储器作为一种非暂态计算机可读存储介质，可用于存储非暂态软件程序、非暂态计算机可执行程序以及模块，如本申请上述实施方式中的方法对应的程序指令/模块。处理器通过运行存储在存储器中的非暂态软件程序、指令以及模块，从而执行处理器的各种功能应用以及数据处理，即实现上述方法实施方式中的方法。存储器可以包括存储程序区和存储数据区，其中，存储程序区可存储操作系统、至少一个功能所需要的应用程序；存储数据区可存储处理器所创建的数据等。此外，存储器可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非暂态存储器，例如至少一个磁盘存储器件、闪存器件、或其他非暂态固态存储器件。在一些实施方式中，存储器可选包括相对于处理器远程设置的存储器，这些远程存储器可以通过网络连接至处理器。上述网络的实例包括但不限于互联网、企业内部网、局域网、移动通信网及其组合。

在一些实施例中，计算机设备还可选包括有：外围设备接口和至少一个外围设备。处理器、存储器和外围设备接口之间可以通过总线或信号线相连。各个外围设备可以通过总线、信号线或电路板与外围设备接口相连。具体地，外围设备包括：射频电路、显示屏、键盘中的至少一种。

外围设备接口可被用于将I/O(Input/Output，输入/输出)相关的至少一个外围设备连接到处理器和存储器。在一些实施例中，处理器、存储器和外围设备接口被集成在同一芯片或电路板上；在一些其他实施例中，处理器、存储器和外围设备接口中的任意一个或两个可以在单独的芯片或电路板上实现，本实施例对此不加以限定。

显示屏用于显示UI(User Interface，用户界面)。该UI可以包括图形、文本、图标、视频及其它们的任意组合。当显示屏是触摸显示屏时，显示屏还具有采集在显示屏的表面或表面上方的触摸信号的能力。该触摸信号可以作为控制信号输入至处理器进行处理。此时，显示屏还可以用于提供虚拟按钮和/或虚拟键盘，也称软按钮和/或软键盘。在一些实施例中，显示屏可以为一个，设置在计算机设备的前面板；在另一些实施例中，显示屏可以为至少两个，分别设置在计算机设备的不同表面或呈折叠设计；在另一些实施例中，显示屏可以是柔性显示屏，设置在计算机设备的弯曲表面上或折叠面上。甚至，显示屏还可以设置成非矩形的不规则图形，也即异形屏。显示屏可以采用LCD(Liquid Crystal Display，液晶显示屏)、OLED(Organic Light-Emitting Diode，有机发光二极管)等材质制备。

电源用于为计算机设备中的各个组件进行供电。电源可以是交流电、直流电、一次性电池或可充电电池。当电源包括可充电电池时，该可充电电池可以是有线充电电池或无线充电电池。有线充电电池是通过有线线路充电的电池，无线充电电池是通过无线线圈充电的电池。该可充电电池还可以用于支持快充技术。

本领域技术人员可以理解，图12中示出的结构并不构成对计算机设备的限定，可以包括比图示更多或更少的组件，或者组合某些组件，或者采用不同的组件布置。

本申请实施例还公开一种计算机可读存储介质。具体来说，计算机可读存储介质用于存储计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时，实现上述方法实施方式中的方法。本领域技术人员可以理解，实现本申请上述实施方式方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的程序可存储于计算机可读取存储介质中，该程序在执行时，可包括如上述各方法的实施方式的流程。其中，所述存储介质可为磁碟、光盘、只读存储记忆体(Read-Only Memory，ROM)、随机存储记忆体(Random AccessMemory，RAM)、快闪存储器(Flash Memory)、硬盘(Hard Disk Drive，缩写：HDD)或固态硬盘(Solid-State Drive，SSD)等；所述存储介质还可以包括上述种类的存储器的组合。

本具体实施例仅仅是对本发明的解释，其并不是对本发明的限制，本领域技术人员在阅读完本说明书后可以根据需要对本实施例做出没有创造性贡献的修改，但只要在本发明的权利要求范围内都受到专利法的保护。

Claims (8)

1.一种PNL物料对齐预览显示方法，其特征在于，所述方法包括：

响应于接收到全景预览和局部预览显示的对齐特征点，基于所述对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；所述全景预览图像中显示有若干颗粒，且对齐后的所述全景预览图像显示所述元件轮廓母版全景图像中颗粒的外围线框，不显示内围框线，所述外围线框包围颗粒的结构边缘；

响应于接收到对所述全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在所述预览界面的第二显示区域生成所述目标颗粒局部对齐的局部预览图像；所述局部预览图像中显示有所述目标颗粒的所有元件、所述外围线框、以及用于对所有颗粒进行缺陷检测的所述内围框线；

响应于接收到对所述局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在所述第二显示区域中动态调整和显示所述局部预览图像的目标预览区域，以显示出所述目标颗粒在所述目标预览区域的轮廓对齐效果。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述全景预览图像中显示有若干颗粒，当其中一个颗粒被选择为候选颗粒时，在所述候选颗粒所处的图像区域生成遮罩层。

3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述候选颗粒被确定为所述目标颗粒时，读取所述目标颗粒图像区域内所有元件轮廓母版全景图像数据和扫描图像数据，并根据所述对齐特征点在所述第二显示区域生成局部对齐的所述局部预览图像。

4.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，当所述候选颗粒被确定为所述目标颗粒时，基于所述目标颗粒的尺寸形状框选局部预览区，读取所述局部预览区中包含的所有扫描图像数据以及所述目标颗粒图像区域内所有元件轮廓母版全景图像数据；其中，所述目标颗粒位于框选的所述局部预览区中；

根据所述对齐特征点在所述第二显示区域生成局部对齐的所述局部预览图像。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述局部预览图像中还显示有包含所述目标颗粒在内的所有颗粒、所述目标颗粒的外围线框、以及用于对所述目标颗粒的所有颗粒元件进行缺陷检测的内围框线。

6.一种PNL物料对齐预览显示方法装置，其特征在于，所述装置包括：

全景预览模块，用于响应于接收到全景预览和局部预览显示的对齐特征点，基于所述对齐特征点对全景扫描图像和元件轮廓母版全景图像进行匹配，在预览界面的第一显示区域生成全景对齐后的全景预览图像；所述全景预览图像中显示有若干颗粒，且对齐后的所述全景预览图像显示所述元件轮廓母版全景图像中颗粒的外围线框，不显示内围框线，所述外围线框包围颗粒的结构边缘；

局部预览模块，用于响应于接收到对所述全景预览图像中目标颗粒的选择操作，在所述预览界面的第二显示区域生成所述目标颗粒局部对齐的局部预览图像；所述局部预览图像中显示有所述目标颗粒的所有元件、所述外围线框、以及用于对所有颗粒进行缺陷检测的所述内围框线；

调整显示模块，用于响应于接收到对所述局部预览图像的预览调节操作，基于对应的操作指令，在所述第二显示区域中动态调整和显示所述局部预览图像的目标预览区域，以显示出所述目标颗粒在所述目标预览区域的轮廓对齐效果。

7.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括处理器和存储器，所述存储器中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由所述处理器加载并执行以实现如权利要求1至5任一所述的PNL物料对齐预览显示方法。

8.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述可读存储介质中存储有至少一条指令、至少一段程序、代码集或指令集，所述至少一条指令、所述至少一段程序、所述代码集或指令集由处理器加载并执行以实现如权利要求1至5任一所述的PNL物料对齐预览显示方法。