CN116610511B - 一种存储测试设备及其测试方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，涉及存储测试技术领域，存储测试设备用于获取待测机的性能指标测试数据，存储测试设备包括：数据传输模块，通过接口与待测机电性连接；配置模块，配置模块的输出端电性连接于数据传输模块，配置模块包括配置信息，其中配置信息包括接口的硬件信息、自动化测试进程的预设循环次数和循环中止时间；以及码流下发模块，码流下发模块的输出端电性连接于数据传输模块，其中码流下发模块存储测试指令，在自动化测试进程中，测试指令通过接口发送至待测机。本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，能够通过串口高效且准确地测试安卓设备的性能。

Description

一种存储测试设备及其测试方法

技术领域

本发明涉及存储测试技术领域，特别涉及一种存储测试设备及其测试方法。

背景技术

安卓（Android）是一种基于Linux内核的自由及开放源代码的操作系统。安卓系统主要应用于移动设备，如智能手机和平板电脑、电视机和机顶盒等等。安卓系统的性能测试依赖于特定接口，而对于部分家居设备以及移动设备，例如电视机和机顶盒，以及执法记录仪等设备，性能测试是难以进行的。

而手动测试安卓系统的性能，操作步骤重复、繁杂，且多次循环测试之间等待的时间无法做到统一的时间间隔，随机性较大。并且性能测试数据的生成和总结都依赖于人工，浪费人力且效率不高，容易出错。

发明内容

本发明的目的在于提供一种存储测试设备及其测试方法，能够通过串口高效且准确地测试安卓设备的性能。

为解决上述技术问题，本发明是通过以下技术方案实现的：

如上所述，本发明提供了一种存储测试设备，所述存储测试设备用于获取待测机的性能指标测试数据，所述存储测试设备包括：

数据传输模块，通过接口与所述待测机电性连接；

配置模块，所述配置模块的输出端电性连接于所述数据传输模块，所述配置模块包括配置信息，其中所述配置信息包括所述接口的硬件信息、自动化测试进程的预设循环次数和循环中止时间；以及

码流下发模块，所述码流下发模块的输出端电性连接于所述数据传输模块，其中所述码流下发模块存储测试指令，在所述自动化测试进程中，所述测试指令通过所述接口发送至所述待测机。

在本发明一实施例中，所述接口为串口。

在本发明一实施例中，所述测试指令包括测试数据删除指令和多个问询指令，其中测试数据删除指令位于所述测试指令的首行，所述问询指令位于所述测试指令的末行。

在本发明一实施例中，所述存储测试设备包括报告生成模块，所述报告生成模块的输入端电性连接于所述数据传输模块，在所述自动化测试进程中，所述报告生成模块接收所述性能指标测试数据，并获得可视化报表。

本发明提供了一种存储测试设备的测试方法，基于如上所述的一种存储测试设备，包括以下步骤：

在存储测试设备上编辑测试配置信息，其中所述测试配置信息包括待测机的接口信息和预设循环次数，以及循环中止时间；

所述存储测试设备调用所述测试配置信息，启动自动化测试进程并记录所述自动化测试进程的执行次数；

在所述自动化测试进程中，所述存储测试设备将测试指令发送给所述待测机，由所述待测机中的测试软件执行所述测试指令，并获得性能指标测试数据；以及

在本轮所述自动化测试级进程结束后，间隔所述循环中止时间，并启动下一轮自动化测试进程，直到所述自动化测试进程的执行次数达到所述预设循环次数。

在本发明一实施例中，在本轮所述自动化测试进程结束后，所述存储测试设备根据所述性能指标测试数据，获取可视化报表。

在本发明一实施例中，获取所述可视化报表的步骤包括：

在自动化测试进程结束后，所述测试软件根据所述性能指标测试数据，生成性能指标日志文件；以及

所述存储测试设备从所述待测机中提取所述性能指标日志文件，并生成可视化报表。

在本发明一实施例中，启动下一轮所述自动化测试进程的步骤包括：

所述存储测试设备对所述待测机发送问询指令，且所述存储测试设备接收所述待测机反馈的问询结果；以及

当所述问询结果为所述自动化测试进程结束，所述存储测试设备开始计时，直到计时达到所述循环中止时间，开启下一轮所述自动化测试进程。

在本发明一实施例中，在所述自动化测试进程中，在所述存储测试设备发送所述测试指令的同时，所述测试软件执行所述测试指令的操作，并生成测试数据。

在本发明一实施例中，在所述自动化测试进程中，在执行所述测试指令的测试内容前，删除所述待测机中上一轮的所述性能指标测试数据。

本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，测试机能够通过串口向安卓设备下发码流，自动执行测试软件的自动化测试。并且还能通过串口实时监测安卓设备端的测试软件是否测试结束。并且根据本发明提供的存储测试设备及其测试方法，能够基于串口实现循环的自动化测试进程，并且能保证每个循环准确且互不干扰。并且，在循环的自动化测试进程结束后，本发明提供的存储测试设备能够生成对应性能指标测试数据的可视化报表，避免了人工转移数据的误差。根据本发明提供的存储测试设备及其测试方法，实现了对不同接口类型的安卓设备的性能测试，节约了大量的人力成本，节省了大部分手工测试时间，并提升了测试数据的准确性。

当然，实施本发明的任一产品并不一定需要同时达到以上所述的所有优点。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例的技术方案，下面将对实施例描述所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1为本发明一实施例中存储测试设备和第一类待测机的结构示意图。

图2为本发明一实施例步骤S10至步骤S30的流程图。

图3为本发明一实施例中步骤S10的流程图。

图4为本发明一实施例中步骤S20的流程图。

图5为本发明一实施例中步骤S30的流程图。

图6为本发明一实施例中测试机和第二类待测机的结构示意图

图中：100、测试机；101、数据传输模块；102、配置模块；103、码流下发模块；104、报告生成模块；200、第一类待测机；201、第一类接口；202、存储器；203、控制器；204、测试软件；300、第二类待测机；301、第二类接口。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

本发明提供的存储测试设备能够测试多种不同接口类型的待测设备。在本实施例中，待测设备为装载了安卓系统的设备。其中待测设备可以是具备存储功能的任何设备，例如平板和手机等智能设备，又例如电视机和机顶盒等家居设备，又例如执法测试仪和行车记录仪等设备。在本实施例中，待测设备包括第一类待测机200和第二类待测机300。其中，第一类待测机200包括第一类接口201，第一类接口201为串口，其中第一类接口201可以是数据通信的发送端接口和接收端接口，且具体可以是TTL、RS232、RS485等串口。安卓设备能够通过第一类接口201与电平转换芯片连接。具体的，安卓设备通过第一类接口201转换为USB电平，接着连接至测试端。第二类待测机300包括第二类接口301，第二类接口301为type-c接口。

请参阅图1所示，本发明提供了一种存储测试设备，所述存储测试设备包括测试机100。其中测试机100包括数据传输模块101、配置模块102和码流下发模块103，以及报告生成模块104。数据传输模块101通过第一类接口201与第一类待测机200电性连接。配置模块102可由测试人员进行操作，设置配置信息并生成配置文件。码流下发模块103存储有自动化测试指令，其中码流下发模块103与数据传输模块101电性连接，从而通过码流下发模块103将自动化测试指令传输给第一类待测机200。报告生成模块104与数据传输模块101电性连接。第一类待测机200测试完成后，测试数据通过第一类接口201传回数据传输模块101，报告生成模块104接收测试数据，并根据测试数据生成测试报告。

请参阅图1所示，第一类待测机200包括存储器202、控制器203和测试软件204。其中存储器202可以是NAND闪存或静态存储器（Static Random Access Memory，SRAM），控制器203不限于微程序控制器。控制器203与存储器202电性连接，调控存储器202的存储进程。在本实施例中，测试软件204为性能测试软件，且具体为安卓系统的性能测试软件。其中测试软件204例如为Android Bench软件。在本实施例中，数据传输模块101通过第一类接口201与控制器203电性连接，从而将测试指令发送给控制器203。控制器203能够控制测试软件204的运行进程。具体的，在控制器203接收到测试指令后，执行对应的测试指令，通过测试软件204获取第一类待测机200的性能指标数据。其中，测试数据被存储在存储器202中。在测试结束后，测试数据通过第一类接口201和数据传输模块101被传输给报告生成模块104。

请参阅图1和图2所示，本发明提供了一种存储测试设备的测试方法，能够对第一类待测机200和第二类待测机300进行性能测试。其中，所述测试方法包括步骤S10至步骤S30。

步骤S10、在存储测试设备上编辑测试配置信息，其中测试配置信息包括待测机的串口信息和预设循环次数，以及循环中止时间。

步骤S20、存储测试设备调用测试配置信息，启动自动化测试进程并记录自动化测试进程的循环次数。

步骤S30、在形成可视化报表后，间隔循环中止时间后，启动下一次自动化测试进程，直到自动化测试进程的执行次数达到预设循环次数，输出可视化报表。

请参阅图1至图3所示，在本发明一实施例中，在步骤S10中，在测试开始前，通过串口和数据线将第一类待测机200与测试机100电性连接。具体的，数据传输模块101与控制器203和存储器202电性连接。对于第二类待测机300，通过Type-C接口和数据线将第二类待测机300与测试机100电性连接。在本实施例中，在本实施例中，步骤S10至步骤S50可用于测试第一类待测机200。其中，测试配置信息为测试进程中所需利用的参数信息。在本实施例中，步骤S10包括步骤S11至步骤S14。

步骤S11、通过串口将第一类待测机连接至测试机。

步骤S12、编辑第一类待测机的串口信息，其中串口信息包括串口编号和串口波特率。

步骤S13、编辑自动化测试进程的预设循环次数。

步骤S14、编辑每一次循环自动化测试进程的循环中止时间。

请参阅图1至图3所示，在本发明一实施例中，在步骤S11中，完成对第一类待测机200的连接，接着在步骤S12中，获取第一类待测机200的串口信息。在本实施例中，测试机100可以是Windows系统。在连接串口后，通过Windows系统调取串口编号。其中第一类接口201的传输速率为串口波特率。其中测试人员可以根据测试需求调整串口波特率。在步骤S13中，自动化测试进程的预设循环次数由测试人员预设。在本实施例中，预设循环次数为大于等于例如5次，且具体可以是5次~10次，以兼顾性能测试的准确性和效率。在步骤S14中，每一次循环时，测试机100时都会完成对第一类待测机200的完整自动化测试进程。其中每一次循环之间的时间间隔为循环中止时间。不同循环的数据可以通过循环中止时间进行明确的区分，且有利于测试人员介入测试。在本实施例中，通过数据传输模块101和配置模块102，可以完成对测试配置信息的设置。

请参阅图1和图2，以及图4所示，在发明一实施例中，在步骤S20中，在测试开始时，测试机100调取配置模块102中的测试配置信息，并根据测试配置信息，初始化串口信息和时钟信息。初始化完成后，根据测试人员选择测试开始时间。每次自动化测试进程开始时，记录当前自动化测试进程的执行次数。当开启测试后，自动化测试进程会循环进行，直到达到预设循环次数。具体的，步骤S20包括步骤S21至步骤S27。

步骤S21、测试机对待测机输入测试指令。

步骤S22、待测机接收到测试指令后，自动执行测试数据删除指令，删除测试软件中的第一测试数据，其中第一测试数据为前一轮循环的性能指标测试数据。

步骤S23、删除第一测试数据后，待测机的测试软件执行测试指令，并生成第二测试数据，其中第二测试数据为本轮循环的性能指标测试数据。

步骤S24、判断自动化测试进程是否结束。

步骤S25、当自动化测试进程是否结束，将第二测试数据发送给测试机，获取可视化报表。

步骤S26、从自动化测试进程结束起计时，是否已到达循环中止时间。

步骤S27、开启下一次自动化测试进程。

请参阅图1和图2，以及图4所示，在发明一实施例中，在步骤S21中，测试指令有多条，且测试指令存储在码流下发模块103。当启动自动化测试进程，测试机100对第一类待测机200输入测试指令。其中，测试指令按条传输。在步骤S22中，第一类待测机200接收到测试指令后，自动执行测试数据删除指令。删除测试软件204中的第一测试数据。在本实施例中，将上一轮自动化测试进程中获得的性能指标测试数据定义为第一测试数据，将本轮自动化测试进程中获得的性能指标测试数据定义为第二测试数据。其中，第一测试数据和第二测试数据非固定的数据，随着循环的进行，当前的第二测试数据也会变成下一轮循环中的第一测试数据。删除第一测试数据后，获得的第二测试数据是纯净且可靠的。在本实施例中，第一轮自动化测试进程中，第一类待测机200接收到测试指令后，立即删除存储器202中的测试数据。在最后一轮自动化测试进程结束后，保留存储器202中的第二测试数据。需要说明的是，测试指令包括测试数据删除指令。在本实施例中，测试指令有多行，其中测试数据删除指令可以设置在首行。

请参阅图1和图2，以及图4所示，在发明一实施例中，在步骤S23中，在删除第一测试数据后，第一类待测机200根据测试指令到达的顺序，依次自行测试指令的对应操作。具体的，由测试软件204执行测试指令的对应操作。在本实施例中，在测试机100对第一类待测机200发送测试指令的同时，第一类待测机200执行已达到的测试指令，以提升测试的效率。在测试软件204执行测试指令后，获得第二测试数据。其中第二测试数据被存储在存储器202中。在步骤S24中，在测试指令传输完毕后，测试机100等待接收第二测试数据。在步骤S25中，自动化测试进程结束，则将第二测试数据发送给测试机100，并获取可视化报表。若自动化测试进程未结束，则返回步骤S21，继续输入下一条测试指令。其中，测试指令的条数时固定的，且由测试人员预设。因此可以通过测试指令是否输送完毕，判断测试软件204的自动化测试进程是否结束。在本实施例中，测试指令包括问询指令，其中问询指令用于询问当前的自动化测试进程是否结束。其中问询指令设置在测试指令的末行，且问询指令有多条。当测试软件204测试结束后，控制器203将反馈结果发回测试机100，测试机100停止下发测试指令的码流，并且自动化测试进程结束。

请参阅图1和图2，以及图4所示，在发明一实施例中，在步骤S26中，在测试机100接收到第二测试数据后，开始计时，当达到循环中止时间后，执行步骤S27，开启下一轮自动化测试进程。在本实施例中，每轮自动测试进程之间的时间间隔相等，且为循环中止时间。其中循环中止时间例如为5min。在循环中止时间内，测试机100从第一类待测机200中提取第二测试数据。

请参阅图1和图2，以及图4所示，在发明一实施例中，码流下发模块103包括测试指令和数据传输指令。在自动化测试进程结束后，码流下发模块103对第一类待测机200发送数据传输指令，从而提取出第二测试数据。其中，第二测试数据的传输发生在循环中止时间内。在步骤S30中，根据第二测试数据生成可视化报表，并将可视化报表输出。具体的，步骤S30包括步骤S31至步骤S33。

步骤S31、判断自动化测试进程是否结束。

步骤S32、当自动化测试进程结束，根据第二测试数据，形成自动化测试进程的性能指标日志文件。

步骤S33、待测机对测试机发送性能指标日志文件。

步骤S34、根据性能指标日志文件，测试机生成并输出可视化报表。

请参阅图1和图2，以及图5所示，在发明一实施例中，在步骤S31中，通过问询指令确定自动化测试进程是否结束。在本实施例中，当第一类待测机200接收到问询指令，对测试机100返回查询结果。其中，查询结果可以是不同信号数值。例如信号1对应自动化测试进程结束，信号0对应自动化测试进程未结束。当自动化测试进程结束后，执行步骤S32。在步骤S32中，根据第二测试数据，测试软件204生成自动化测试进程的性能指标日志文件。其中日志文件的格式为可被测试机100解析的文件类型。在步骤S33中，第一类待测机200将性能指标日志文件发送给测试机100。测试机100解析性能指标日志文件，生成可视化报表。其中可视化报表可以是exl表格。测试人员根据生成的可视化报表可以直接了解到第一类待测机200的测试结果，以便于进行后续调试。

请参阅图1和图2，以及图5所示，在发明一实施例中，在步骤S30中，每次循环结束后，测试数据都会生成对应的性能指标日志文件。在本实施例中，每次循环后的性能指标日志文件记录在同一个可视化报表中。具体的，从第二次循环开始的性能指标日志文件都记录在第一次循环后形成的可视化报表中，以便于数据的归纳。

请参阅图1和图6所示，在本发明一实施例中，存储测试设备用于获取第二类待测机300的性能数据。在本实施例中，码流下发模块103包括测试激活指令，用于测试第二类待测机300。其中测试激活指令例如为为安卓调试桥（Android Debug Bridge）的命令。第二类待测机300包括第二类接口301，其中第二类接口301为Type-C接口。与第一类待测机200一致，第二类待测机300还包括存储器202、控制器203和测试软件204。其中测试软件204为AndroBench软件。在本实施例中，存储器202中存储测试指令。对于第二类待测机300，在测试开始前，将测试指令通过第二类接口301传输至第二类待测机300，并存储在存储器202中。测试开始时，测试机100对第二类待测机300发送测试激活指令。测试软件204执行测试指令对应的操作，从而实现对第二类待测机300的性能测试。在本实施例中，在完成完整的循环测试后，测试数据通过第二类接口301传输给测试机100。

本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，能够测试不同接口类型的待测机，其中待测机为装载了安卓系统的设备。其中，存储测试设备用于获取待测机的性能指标测试数据。且存储测试包括数据传输模块、配置模块、码流下发模块和报告生成模块。其中数据传输模块通过接口与待测机电性连接。配置模块的输出端电性连接于数据传输模块，且配置模块包括配置信息。其中配置信息包括接口的硬件信息、自动化测试进程的预设循环次数和循环中止时间。码流下发模块的输出端电性连接于数据传输模块，其中码流下发模块存储测试指令，在自动化测试进程中，测试指令通过接口发送至待测机。报告生成模块的输入端电性连接于数据传输模块，在自动化测试进程中，报告生成模块接收性能指标测试数据，并获得可视化报表。本发明提供了一种存储测试设备及其测试方法，测试机能够通过串口向安卓设备下发码流，自动执行测试软件的自动化测试。并且还能通过串口实时监测安卓设备端的测试软件是否测试结束。并且根据本发明提供的存储测试设备及其测试方法，能够基于串口实现循环的自动化测试进程，并且能保证每个循环准确且互不干扰。并且，在循环的自动化测试进程结束后，本发明提供的存储测试设备能够生成对应性能指标测试数据的可视化报表，避免了人工转移数据的误差。根据本发明提供的存储测试设备及其测试方法，实现了对不同接口类型的安卓设备的性能测试，节约了大量的人力成本，节省了大部分手工测试时间，并提升了测试数据的准确性。

以上公开的本发明实施例只是用于帮助阐述本发明。实施例并没有详尽叙述所有的细节，也不限制该发明仅为所述的具体实施方式。显然，根据本说明书的内容，可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例，是为了更好地解释本发明的原理和实际应用，从而使所属技术领域技术人员能很好地理解和利用本发明。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。

Claims (7)

1.一种存储测试设备，其特征在于，所述存储测试设备用于获取待测机的性能指标测试数据，其中所述待测机中装载安卓系统，且所述待测机包括测试软件，所述存储测试设备包括：

数据传输模块，通过接口与所述待测机电性连接，以将测试指令传输给所述待测机，其中所述接口为串口或Type-C接口，其中所述测试指令包括测试数据删除指令和多个问询指令，所述测试数据删除指令位于所述测试指令的首行，所述问询指令位于所述测试指令的末行，其中在自动化测试进程中，在所述存储测试设备发送所述测试指令的同时，所述测试软件执行所述测试指令的操作，并生成所述性能指标测试数据；

配置模块，所述配置模块的输出端电性连接于所述数据传输模块，所述配置模块包括配置信息，其中所述配置信息包括所述接口的硬件信息、自动化测试进程的预设循环次数和循环中止时间，其中所述循环中止时间为相邻自动化测试进程的间隔时间，其中所述接口的硬件信息包括串口编号和串口波特率；以及

码流下发模块，所述码流下发模块的输出端电性连接于所述数据传输模块，其中所述码流下发模块存储所述测试指令，在所述自动化测试进程中，所述测试指令通过所述接口发送至所述待测机；

其中所述待测机接收到所述测试指令后，所述测试软件启动并获取所述性能指标测试数据。

2.根据权利要求1所述的一种存储测试设备，其特征在于，所述存储测试设备包括报告生成模块，所述报告生成模块的输入端电性连接于所述数据传输模块，在所述自动化测试进程中，所述报告生成模块接收所述性能指标测试数据，并获得可视化报表。

3.一种存储测试设备的测试方法，基于如权利要求1所述的一种存储测试设备，其特征在于，包括以下步骤：

在所述存储测试设备上编辑测试配置信息，其中所述测试配置信息包括待测机的接口信息和预设循环次数，以及循环中止时间，其中所述接口的硬件信息包括串口编号和串口波特率；

所述存储测试设备调用所述测试配置信息，启动自动化测试进程并记录所述自动化测试进程的执行次数；

在所述自动化测试进程中，所述存储测试设备通过接口和数据传输模块将测试指令发送给所述待测机，其中所述接口为串口或Type-C接口，由所述待测机中的测试软件执行所述测试指令，并获得性能指标测试数据，其中在所述自动化测试进程中，在所述存储测试设备发送所述测试指令的同时，所述测试软件执行所述测试指令的操作，并生成所述性能指标测试数据，其中所述测试指令包括测试数据删除指令和多个问询指令，所述测试数据删除指令位于所述测试指令的首行，所述问询指令位于所述测试指令的末行；以及

在本轮所述自动化测试进程结束后，间隔所述循环中止时间，并启动下一轮自动化测试进程，直到所述自动化测试进程的执行次数达到所述预设循环次数，其中所述循环中止时间为相邻自动化测试进程的间隔时间。

4.根据权利要求3所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，在本轮所述自动化测试进程结束后，所述存储测试设备根据所述性能指标测试数据，获取可视化报表。

5.根据权利要求4所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，获取所述可视化报表的步骤包括：

在自动化测试进程结束后，所述测试软件根据所述性能指标测试数据，生成性能指标日志文件；以及

所述存储测试设备从所述待测机中提取所述性能指标日志文件，并生成可视化报表。

6.根据权利要求3所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，启动下一轮所述自动化测试进程的步骤包括：

所述存储测试设备对所述待测机发送问询指令，且所述存储测试设备接收所述待测机反馈的问询结果；以及

当所述问询结果为所述自动化测试进程结束，所述存储测试设备开始计时，直到计时达到所述循环中止时间，开启下一轮所述自动化测试进程。

7.根据权利要求3所述的一种存储测试设备的测试方法，其特征在于，在所述自动化测试进程中，在执行所述测试指令的测试内容前，删除所述待测机中上一轮的所述性能指标测试数据。