CN116595921A - 一种soc芯片系统问题定位方法及装置 - Google Patents

一种soc芯片系统问题定位方法及装置 Download PDF

Info

Publication number
CN116595921A
CN116595921A CN202310608100.1A CN202310608100A CN116595921A CN 116595921 A CN116595921 A CN 116595921A CN 202310608100 A CN202310608100 A CN 202310608100A CN 116595921 A CN116595921 A CN 116595921A
Authority
CN
China
Prior art keywords
memory
information
writing operation
checking
soc
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202310608100.1A
Other languages
English (en)
Inventor
陈俊寒
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
SPL Electronic Technology Co Ltd
Original Assignee
SPL Electronic Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by SPL Electronic Technology Co Ltd filed Critical SPL Electronic Technology Co Ltd
Priority to CN202310608100.1A priority Critical patent/CN116595921A/zh
Publication of CN116595921A publication Critical patent/CN116595921A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Classifications

    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F30/00Computer-aided design [CAD]
    • G06F30/30Circuit design
    • G06F30/32Circuit design at the digital level
    • G06F30/33Design verification, e.g. functional simulation or model checking
    • G06F30/3308Design verification, e.g. functional simulation or model checking using simulation
    • GPHYSICS
    • G06COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06FELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F2115/00Details relating to the type of the circuit
    • G06F2115/02System on chip [SoC] design
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02DCLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES IN INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES [ICT], I.E. INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGIES AIMING AT THE REDUCTION OF THEIR OWN ENERGY USE
    • Y02D10/00Energy efficient computing, e.g. low power processors, power management or thermal management

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Evolutionary Computation (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Debugging And Monitoring (AREA)

Abstract

本发明属于IC验证技术领域,具体涉及一种SOC芯片系统问题定位方法及装置。本发明通过从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,通过将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory的方式标记程序运行节点,并设置专门的监控器,当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果;则当SOC芯片系统加载驱动程序仿真后发现存在问题时,通过检查写操作对应的memory地址以及写入的信息,找到写入信息不正确的memory地址对应的程序运行节点,仅检查对应节点前的驱动程序以及出现错误的仿真时间点所对应的波形即可实现问题定位,提高定位效率;并且基本不改变原有的程序结构,可复用性强,方便项目迭代或工作交接。

Description

一种SOC芯片系统问题定位方法及装置
技术领域
本发明属于IC验证技术领域,具体涉及一种SOC芯片系统问题定位方法及装置。
背景技术
IC验证中,特别是在SOC芯片系统验证中,经常需要加载固件程序进行仿真,然后通过观测相关信号的结果状态来证明是否功能正确。一般地,一段驱动程序对应一种功能实现,较复杂的功能的实现与证明则需要通过很多步骤的执行,比如配置参数、响应中断、读相应结果状态值或输出结果到相应文件、检查结果或文件的正确性等;则现有技术中对SOC芯片系统的检查方法如下:
由于SOC芯片往往存在很多寄存器,专门存储各个模块或系统的状态值,则对于某种功能的检查,应用程序可以通过读取相应的状态寄存器,然后比较结果检查;除此之外,有些模块是有数据输出到芯片管脚的,这种则需要在验证平台上进行检测获取,并与参考模型的文件进行一致性对比。
以上检查的方法都是通过检查结果数据的正确性来进行证明功能正确,所以当最后结果比较不一致需要进行问题定位时,往往需要借助仿真工具调出波形进行检查哪个步骤出现问题;这种通过仿真波形进行问题定位的方法,对于简单功能来说能保证正常的定位效率,但如果对于较复杂的功能来说,由于其驱动程序的复杂性,对应的波形也很长,需要一段代码程序一段波形逐个的检查,将会消耗大量时间,问题定位的难度较大且定位效率较低。
发明内容
本发明的目的在于提供一种SOC芯片系统问题定位方法及装置,用于解决现有技术中SOC芯片系统的问题定位方法在功能复杂的情况下问题定位的难度较大且定位效率较低的问题。
为了实现上述目的,本发明提供了一种SOC芯片系统问题定位方法,包括如下步骤:
1)从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,对选取的程序运行节点进行标记;标记方式为对选取的程序运行节点设置对应的用于写入SOC芯片系统的某段memory设定标记信息,以在驱动程序仿真运行至选取的程序运行节点时,将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory;
2)设置监控器,对该段memory的写操作进行监控;当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址以及写入的信息,同时核对所写入信息的正确性,然后输出写操作检查结果;所述检查结果包括写操作信息检查状态;
3)SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后,对仿真结果数据与对应期望值的一致性进行检查;当仿真结果数据与对应期望值不一致时,通过检查仿真报告,进行问题定位;所述仿真报告包括输出的写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果。
上述技术方案的有益效果为:从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,通过将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory的方式标记程序运行节点,并设置专门的监控器,当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果;由此,当SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后发现存在问题时,通过检查写操作对应的memory地址以及写入的信息,找到写入信息不正确的memory地址对应的程序运行节点,仅检查对应节点前的驱动程序以及出现错误的仿真时间点所对应的波形即可实现问题定位,从而减少问题定位所需要处理的数据量,提高定位效率。
进一步地,所述程序运行节点包括进入中断、退出中断、进入某循环、退出某循环、进入某工作状态或退出某工作状态的时刻。
上述技术方案的有益效果为:在进行选取时,选取有参考意义的节点进行标记,由此能够尽量保证在后续的问题定位过程中对功能完整的各段驱动程序进行分析,便于将SOC芯片系统出现问题的位置与memory中写操作出现问题的位置进行对应。
进一步地,所述检查结果还包括写操作对应的仿真时间点。
上述技术方案的有益效果为:在后续分析中,能够根据写操作对应的仿真时间点,查找出现错误的仿真时间点所对应的波形并进行针对性分析,无需对大量输出波形进行检查,降低问题定位的难度。
进一步地,所述输出写操作对应的memory地址以及写入的信息的方式为:将对应的memory地址以及存储的信息进行打印;
所述输出写操作检查结果的方式为:将写操作检查结果进行打印。
上述技术方案的有益效果为:便于后续相人员直接查看和相关程序读取。
进一步地,所述设定标记信息包括自定义字符串和/或读取的相关寄存器的结果值。
本发明还提供了一种SOC芯片系统问题定位装置,包括处理器,所述处理器用于执行程序指令,以实现如下步骤:
1)从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,对选取的程序运行节点进行标记;标记方式为对选取的程序运行节点设置对应的用于写入SOC芯片系统的某段memory设定标记信息,以在驱动程序仿真运行至选取的程序运行节点时,将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory;
2)设置监控器,对该段memory的写操作进行监控;当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址以及写入的信息,同时核对所写入信息的正确性,然后输出写操作检查结果;所述检查结果包括写操作信息检查状态;
3)SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后,对仿真结果数据与对应期望值的一致性进行检查;当仿真结果数据与对应期望值不一致时,通过检查仿真报告,进行问题定位;所述仿真报告包括输出的写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果。
上述技术方案的有益效果为:从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,通过将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory的方式标记程序运行节点,并设置专门的监控器,当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果;由此,当SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后发现存在问题时,通过检查写操作对应的memory地址以及写入的信息,找到写入信息不正确的memory地址对应的程序运行节点,仅检查对应节点前的驱动程序以及出现错误的仿真时间点所对应的波形即可实现问题定位,从而减少问题定位所需要处理的数据量,提高定位效率。
进一步地,所述程序运行节点包括进入中断、退出中断、进入某循环、退出某循环、进入某工作状态或退出某工作状态的时刻。
上述技术方案的有益效果为:在进行选取时,选取有参考意义的节点进行标记,由此能够尽量保证在后续的问题定位过程中对功能完整的各段驱动程序进行分析,便于将SOC芯片系统出现问题的位置与memory中写操作出现问题的位置进行对应。
进一步地,所述检查结果还包括写操作对应的仿真时间点。
上述技术方案的有益效果为:在后续分析中,能够根据写操作对应的仿真时间点,查找出现错误的仿真时间点所对应的波形并进行针对性分析,无需对大量输出波形进行检查,降低问题定位的难度。
进一步地,所述输出写操作对应的memory地址以及写入的信息的方式为:将对应的memory地址以及存储的信息进行打印;
所述输出写操作检查结果的方式为:将写操作检查结果进行打印。
上述技术方案的有益效果为:便于后续相人员直接查看和相关程序读取。
进一步地,所述设定标记信息包括自定义字符串和/或读取的相关寄存器的结果值。
附图说明
图1为本发明SOC芯片系统问题定位方法实施例中SOC芯片系统问题定位方法的流程框图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明了,以下结合附图及实施例,对本发明进行进一步详细说明。
SOC芯片系统问题定位方法实施例
本实施例给出了一种SOC芯片系统问题定位方法的技术方案,参照图1,该SOC芯片系统问题定位方法包括如下步骤:
1)从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,对选取的程序运行节点进行标记;标记方式为对选取的程序运行节点设置对应的用于写入SOC芯片系统的某段memory设定标记信息,以在驱动程序仿真运行至选取的程序运行节点时,将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory;
在进行选取时,最好选取有参考意义的节点进行标记,如本实施例中,程序运行节点包括进入中断、退出中断、进入某循环、退出某循环、进入某工作状态或退出某工作状态的时刻,由此能够尽量保证在后续的问题定位过程中对功能完整的各段驱动程序进行分析,便于将SOC芯片系统出现问题的位置与memory中写操作出现问题的位置进行对应;设定标记信息可以包括自定义信息,如字符串0x5555aaaa,或读取的相关寄存器的结果值,或者其他信息等,在将对应的设定标记信息写入某段范围的memory时,同时需要将memory写地址递增,示例如下:
......//此处可以是中断开始、中断结束、某循环开始、某循环结束、某工作状态开始、某工作状态结束时刻等
Message=Rd_reg(some_reg_adr);//or Message=0x5555aaaa or othermessage;
Wr_mem(message_adr,message);
Message_adr++;
2)设置监控器,对该段memory的写操作进行监控;当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址以及写入的信息,同时核对所写入信息的正确性,然后输出写操作检查结果;其中,检查结果包括写操作信息检查状态,还包括写操作对应的仿真时间点;在后续分析中,能够根据写操作对应的仿真时间点,查找出现错误的仿真时间点所对应的波形并进行针对性分析,无需对大量输出波形进行检查,降低问题定位的难度。
本实施例中,在SOC系统验证平台上建立一个监控器,专门监控该段memory的写操作,具体输出写操作对应的memory地址以及写入的信息的方式为:将对应的memory地址以及存储的信息进行打印;同理,输出写操作检查结果的方式为:将写操作检查结果进行打印,便于后续相人员直接查看和相关程序读取。
由此,当检测到写操作时,进行“写信息”(即写操作写入的对应设定标记信息)检查,并且打印对应memory地址、对应memory存储信息、对应写操作信息检查状态以及写操作的仿真时间点;实现该步骤监控器的示例如下:
其中,1`mem_wr/`mem_wadr/`mem_wdata是该段memory的写使能/写地址/写信息;
`adr_min/`adr_max是上述memory的地址范围的开始/结束,表示用来存储写操作写入的对应设定标记信息的内存范围;ref_wdata是SOC系统验证平台上的参考模型所输出的期望值集合,供上述memory进行存储信息比较,以核对所写入信息的正确性;$time是仿真时间点。
3)SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后,对仿真结果数据与对应期望值的一致性进行检查;当仿真结果数据与对应期望值不一致时,通过检查仿真报告,进行问题定位;本实施例中,仿真报告包括输出的写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果;也即SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后,发现仿真结果存在问题时,即可在仿真报告中找到打印出的memory写信息的检查报告(包括打印的写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果),然后根据检查报告中记录的情况,进行问题定位分析,即可定位到问题一开始出现的位置以及时间点;比如以下一段信息打印报告:
memory message compare pass!
100ns:mem_wadr=0x300,mem_wdata=0x5555aaaa;ref_wdata=0x5555aaaa;
memory message compare pass!
200ns:mem_wadr=0x304,mem_wdata=0x5555bbbb;ref_wdata=0x5555bbbb;
memory message compare pass!
300ns:mem_wadr=0x308,mem_wdata=0x5555cccc;ref_wdata=0x5555cccc;
memory message compare fail!
400ns:mem_wadr=0x30c,mem_wdata=0x55551111;ref_wdata=0x5555dddd;
memory message compare pass!
500ns:mem_wadr=0x310,mem_wdata=0x5555eeee;ref_wdata=0x5555eeee;
该信息报告提示,在400ns出现memory写操作,但写地址0x30c对应的实际“写信息”与参考模型输出的对应位置的参考“写信息”不一致,其中,参考“写信息”应该为0x5555dddd,而不是0x55551111,表明在该写信息对应的节点处可能存在问题;因此通过该报告,可在驱动程序中找到对应的节点,然后就可以检查对应节点前面的驱动程序以及出现错误的仿真时间点所对应的波形,通过分析定位,即可找到问题,实现SOC芯片系统问题快速定位,提高定位效率;
并且,本实施例的SOC芯片系统问题定位方法通过memory做标记,比起传统的打印函数,更加便捷可靠,而且还能够自动化检查信息的正确性,方便验证人员对问题定位分析。由于该问题定位方法基本不改变原有的程序结构,因此不受具体驱动程序内容的约束,可复用性强,方便项目迭代或工作交接。
SOC芯片系统问题定位装置实施例
本实施例给出了一种SOC芯片系统问题定位装置的技术方案,包括处理器,该处理器用于执行程序指令,以实现如下SOC芯片系统问题定位方法步骤,也即上述SOC芯片系统问题定位方法实施例中的SOC芯片系统问题定位方法步骤:
1)从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,对选取的程序运行节点进行标记;标记方式为对选取的程序运行节点设置对应的用于写入SOC芯片系统的某段memory设定标记信息,以在驱动程序仿真运行至选取的程序运行节点时,将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory;
2)设置监控器,对该段memory的写操作进行监控;当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址以及写入的信息,同时核对所写入信息的正确性,然后输出写操作检查结果;检查结果包括写操作信息检查状态;
3)SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后,对仿真结果数据与对应期望值的一致性进行检查;当仿真结果数据与对应期望值不一致时,通过检查仿真报告,进行问题定位;仿真报告包括输出的写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果。
由于本实施例的SOC芯片系统问题定位装置的具体工作原理及工作过程已经在上述SOC芯片系统问题定位方法实施例中进行了详细说明,则此处不再赘述。
本发明具有如下特点:
①从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,通过将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory的方式标记程序运行节点,并设置专门的监控器,当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果;由此,当SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后发现存在问题时,通过检查写操作对应的memory地址以及写入的信息,找到写入信息不正确的memory地址对应的程序运行节点,仅检查对应节点前的驱动程序以及出现错误的仿真时间点所对应的波形即可实现问题定位,从而减少问题定位所需要处理的数据量,提高定位效率。
②通过memory做标记,比起传统的打印函数,更加便捷可靠,而且还能够自动化检查信息的正确性,方便验证人员对问题定位分析。
③本发明的问题定位方法基本不改变原有的程序结构,因此不受具体驱动程序内容的约束,可复用性强,方便项目迭代或工作交接。
应当理解的是,本发明的上述具体实施方式仅仅用于示例性说明或解释本发明的原理,而不构成对本发明的限制。

Claims (10)

1.一种SOC芯片系统问题定位方法,其特征在于,包括如下步骤:
1)从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,对选取的程序运行节点进行标记;标记方式为对选取的程序运行节点设置对应的用于写入SOC芯片系统的某段memory设定标记信息,以在驱动程序仿真运行至选取的程序运行节点时,将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory;
2)设置监控器,对该段memory的写操作进行监控;当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址以及写入的信息,同时核对所写入信息的正确性,然后输出写操作检查结果;所述检查结果包括写操作信息检查状态;
3)SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后,对仿真结果数据与对应期望值的一致性进行检查;当仿真结果数据与对应期望值不一致时,通过检查仿真报告,进行问题定位;所述仿真报告包括输出的写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果。
2.根据权利要求1所述的SOC芯片系统问题定位方法,其特征在于,所述程序运行节点包括进入中断、退出中断、进入某循环、退出某循环、进入某工作状态或退出某工作状态的时刻。
3.根据权利要求1或2所述的SOC芯片系统问题定位方法,其特征在于,所述检查结果还包括写操作对应的仿真时间点。
4.根据权利要求1或2所述的SOC芯片系统问题定位方法,其特征在于,所述输出写操作对应的memory地址以及写入的信息的方式为:将对应的memory地址以及存储的信息进行打印;
所述输出写操作检查结果的方式为:将写操作检查结果进行打印。
5.根据权利要求1或2所述的SOC芯片系统问题定位方法,其特征在于,所述设定标记信息包括自定义字符串和/或读取的相关寄存器的结果值。
6.一种SOC芯片系统问题定位装置,其特征在于,包括处理器,所述处理器用于执行程序指令,以实现如下步骤:
1)从SOC芯片系统的驱动程序中选取至少一个程序运行节点,对选取的程序运行节点进行标记;标记方式为对选取的程序运行节点设置对应的用于写入SOC芯片系统的某段memory设定标记信息,以在驱动程序仿真运行至选取的程序运行节点时,将对应的设定标记信息写入SOC芯片系统的某段memory;
2)设置监控器,对该段memory的写操作进行监控;当监控器检测到该段memory的写操作时,输出写操作对应的memory地址以及写入的信息,同时核对所写入信息的正确性,然后输出写操作检查结果;所述检查结果包括写操作信息检查状态;
3)SOC芯片系统加载驱动程序进行仿真后,对仿真结果数据与对应期望值的一致性进行检查;当仿真结果数据与对应期望值不一致时,通过检查仿真报告,进行问题定位;所述仿真报告包括输出的写操作对应的memory地址、写入的信息以及写操作检查结果。
7.根据权利要求6所述的SOC芯片系统问题定位装置,其特征在于,所述程序运行节点包括进入中断、退出中断、进入某循环、退出某循环、进入某工作状态或退出某工作状态的时刻。
8.根据权利要求6或7所述的SOC芯片系统问题定位装置,其特征在于,所述检查结果还包括写操作对应的仿真时间点。
9.根据权利要求6或7所述的SOC芯片系统问题定位装置,其特征在于,所述输出写操作对应的memory地址以及写入的信息的方式为:将对应的memory地址以及存储的信息进行打印;
所述输出写操作检查结果的方式为:将写操作检查结果进行打印。
10.根据权利要求6或7所述的SOC芯片系统问题定位装置,其特征在于,所述设定标记信息包括自定义字符串和/或读取的相关寄存器的结果值。
CN202310608100.1A 2023-05-26 2023-05-26 一种soc芯片系统问题定位方法及装置 Pending CN116595921A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310608100.1A CN116595921A (zh) 2023-05-26 2023-05-26 一种soc芯片系统问题定位方法及装置

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310608100.1A CN116595921A (zh) 2023-05-26 2023-05-26 一种soc芯片系统问题定位方法及装置

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN116595921A true CN116595921A (zh) 2023-08-15

Family

ID=87598939

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310608100.1A Pending CN116595921A (zh) 2023-05-26 2023-05-26 一种soc芯片系统问题定位方法及装置

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116595921A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN112331253B (zh) 一种芯片的测试方法、终端和存储介质
KR19980079573A (ko) 메모리 검사 방법 및 장치
CN1153347A (zh) 总线分析器及其测试内总线的方法
CN105760268A (zh) 一种片上随机存取存储器内建自测试方法和装置
CN113343617B (zh) 软硬件协同仿真方法
WO2023060863A1 (zh) 一种数字测试向量自动学习方法及系统
CN111400992A (zh) 一种自动化验证装箱布局布线的测试方法及系统
US20050204345A1 (en) Method and apparatus for monitoring computer software
CN101923494B (zh) 一种存储器控制器验证系统、方法及记分板
US6012157A (en) System for verifying the effectiveness of a RAM BIST controller's ability to detect faults in a RAM memory using states indicating by fault severity information
CN112216340A (zh) 硬盘测试方法、装置、存储介质及电子设备
CN115640768A (zh) 用于仿真电路的方法、装置、设备、介质和程序产品
CN115684896A (zh) 芯片可测性设计测试方法、测试平台及其生成方法及装置
CN114660437A (zh) 一种波形文件生成方法及装置
CN107704351B (zh) 一种芯片的验证方法和装置
US7577557B2 (en) Simulator and simulation method for behaviors of processors
CN117290165A (zh) 一种芯片测试的方法、系统、装置及存储介质
CN116595921A (zh) 一种soc芯片系统问题定位方法及装置
CN113378502B (zh) 验证信号走向配码的测试方法、装置、介质及设备
CN115964237A (zh) 一种针对中央处理器cpu的功能及性能测试方法及装置
CN114780421A (zh) 基于虚拟指令集平台的异常测试方法、系统及存储介质
US20110270599A1 (en) Method for testing integrated circuit and semiconductor memory device
CN114077538A (zh) 程序调试方法、装置及可读存储介质
CN111488723A (zh) 一种基于脚本的soc芯片存储控制器自动化仿真验证方法
CN111427731B (zh) 一种自动化拆分码流及验证码流的测试方法和系统

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
CB02 Change of applicant information
CB02 Change of applicant information

Address after: Room 4005, block a, block 8, area C, Wanke Yuncheng phase III, Liuxin 4th Street, Xili community, Xili street, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong 518000

Applicant after: Shenzhen Smart Microelectronics Technology Co.,Ltd.

Address before: Room 4005, block a, block 8, area C, Wanke Yuncheng phase III, Liuxin 4th Street, Xili community, Xili street, Nanshan District, Shenzhen, Guangdong 518000

Applicant before: SPL ELECTRONIC TECHNOLOGY CO.,LTD.