CN116539649A - 基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法 - Google Patents
基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116539649A CN116539649A CN202310726611.3A CN202310726611A CN116539649A CN 116539649 A CN116539649 A CN 116539649A CN 202310726611 A CN202310726611 A CN 202310726611A CN 116539649 A CN116539649 A CN 116539649A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- gamma
- stop
- annihilation
- signal
- positron annihilation
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Pending
Links
- 238000005259 measurement Methods 0.000 title claims abstract description 33
- 230000004807 localization Effects 0.000 title claims abstract description 13
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 8
- 230000002285 radioactive effect Effects 0.000 claims abstract description 20
- 238000001514 detection method Methods 0.000 claims abstract description 6
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 15
- 238000001228 spectrum Methods 0.000 claims description 9
- 230000005251 gamma ray Effects 0.000 claims description 7
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 claims description 5
- XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N Silicon Chemical compound [Si] XUIMIQQOPSSXEZ-UHFFFAOYSA-N 0.000 claims description 3
- 238000009825 accumulation Methods 0.000 claims description 3
- 238000012216 screening Methods 0.000 claims description 3
- 229910052710 silicon Inorganic materials 0.000 claims description 3
- 239000010703 silicon Substances 0.000 claims description 3
- 229910016036 BaF 2 Inorganic materials 0.000 claims description 2
- 238000000691 measurement method Methods 0.000 claims 1
- 239000000523 sample Substances 0.000 description 45
- 239000010408 film Substances 0.000 description 10
- 239000000463 material Substances 0.000 description 7
- 230000005855 radiation Effects 0.000 description 5
- 239000013078 crystal Substances 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 3
- 239000007787 solid Substances 0.000 description 3
- 239000010409 thin film Substances 0.000 description 3
- 241001637516 Polygonia c-album Species 0.000 description 2
- 239000000126 substance Substances 0.000 description 2
- 230000002123 temporal effect Effects 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 238000012512 characterization method Methods 0.000 description 1
- 238000007796 conventional method Methods 0.000 description 1
- 230000001627 detrimental effect Effects 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000004958 nuclear spectroscopy Methods 0.000 description 1
- 238000011160 research Methods 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
- G01N23/22—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material
- G01N23/225—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by measuring secondary emission from the material using electron or ion
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/36—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
- G01T1/361—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry with a combination of detectors of different types, e.g. anti-Compton spectrometers
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01T—MEASUREMENT OF NUCLEAR OR X-RADIATION
- G01T1/00—Measuring X-radiation, gamma radiation, corpuscular radiation, or cosmic radiation
- G01T1/36—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry
- G01T1/362—Measuring spectral distribution of X-rays or of nuclear radiation spectrometry with scintillation detectors
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
- G01N2223/00—Investigating materials by wave or particle radiation
- G01N2223/10—Different kinds of radiation or particles
- G01N2223/108—Different kinds of radiation or particles positrons; electron-positron annihilation
-
- Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
- Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
- Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
- Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
- Y02E30/30—Nuclear fission reactors
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- Spectroscopy & Molecular Physics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Health & Medical Sciences (AREA)
- Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
- Molecular Biology (AREA)
- High Energy & Nuclear Physics (AREA)
- General Health & Medical Sciences (AREA)
- Immunology (AREA)
- Pathology (AREA)
- Biochemistry (AREA)
- Analytical Chemistry (AREA)
- Chemical & Material Sciences (AREA)
- Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)
Abstract
本发明提供一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法，包括源室、起始伽马探测器、第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器；在放射源一侧设置样品，样品与放射源固定于源室中心；第一停止伽马探测器与第二停止伽马探测器以放射源为中心对称放置于源室外，起始伽马探测器于源室外部任意位置放置；所述起始伽马探测器负责对22Na放射源发射正电子时级联产生的伴随伽马射线进行探测，所述第一停止伽马探测器和所述第二停止伽马探测器分别对正电子湮没后产生的两个反向发射的湮没伽马射线进行探测。本发明通过测量湮没伽马被探测的时间差准确定位正电子湮没位置，实现对薄膜样品中正电子湮没寿命的测量。
Description
技术领域
本发明属于核谱学和核探测技术领域，具体涉及一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法。
背景技术
正电子湮没是材料中原子级缺陷的无损灵敏探针，在材料缺陷分布及演化规律研究中具有独特优势。正电子湮没寿命测量通过测量正电子在物质中的湮没寿命，表征物质中缺陷的种类及浓度。
常规正电子湮没寿命测量中常采用两片完全相同且足够厚的样品紧密包裹22Na放射源，形成“样品-放射源-样品”三明治式测量结构。22Na放射源在衰变释放正电子时会伴随发射1.28MeV的起始伽马射线，正电子在样品中湮没时会反向产生两个0.511MeV的湮没伽马射线。通常采用一个伽马探测器探测起始伽马射线的发生时间作为正电子产生的起始时间，利用另外一个伽马探测器探测两个湮没伽马射线中一个的发生时间作为正电子的停止时间，统计起始时间和停止时间之间的时间差得到正电子湮没寿命谱。由于放射源产生的正电子具有连续能谱，在材料中具有一定的射程分布。因此，目前的测量结构对测量样品的厚度有严格的要求，需保证所有能量的正电子均在样品中湮没。然而，对于薄膜样品，正电子有可能穿透薄膜，在其他材料中湮没，将使正电子湮没寿命谱中引入测量噪声，不利于薄膜样品中微观结构的准确表征。
因此，如何准确定位正电子的湮没位置，排除薄膜样品以外材料中的正电子湮没成分，筛选出样品中的正电子湮没事例，将是基于放射源常规方法应用于薄膜样品正电子湮没寿命测量的关键。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法，包括源室、起始伽马探测器、第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器；在放射源一侧设置样品，样品与放射源固定于源室中心；第一停止伽马探测器与第二停止伽马探测器以放射源为中心对称放置于源室外，起始伽马探测器于源室外部任意位置放置；起始伽马探测器负责对22Na放射源发射正电子时级联产生的1.28MeV伽马射线进行探测，第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器分别对正电子湮没后产生的两个反向发射的0.511MeV湮没伽马射线进行探测。本发明通过测量两个湮没伽马射线被探测的时间差，准确定位正电子湮没位置，筛选出样品中的正电子湮没事例，突破测量样品厚度限制，实现对薄膜样品中正电子湮没寿命的测量。
为达到上述目的，本发明采用如下技术方案：
一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统，包括源室、起始伽马探测器、第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器；在放射源一侧设置样品，样品与放射源固定于源室中心；第一停止伽马探测器与第二停止伽马探测器以放射源为中心对称放置于源室外，起始伽马探测器于源室外部任意位置放置；起始伽马探测器负责对22Na放射源发射正电子时级联产生的1.28MeV伽马射线进行探测，第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器分别对正电子湮没后产生的两个反向发射的0.511MeV湮没伽马射线进行探测。
进一步地，所述源室和停止伽马探测器用于筛选出样品中的正电子湮没事例；所述源室内部为真空环境，几何形状、内部空间大小以及源室壁的厚度根据具体应用场景而具体布置，需保证未进入样品的正电子在距离样品足够远的源室壁上湮没，且需满足两个湮没伽马光子被探测的时间差其中，ΔL为两个湮没伽马光子被探测的光程差，c为光速，TR1与TR2分别为第一、第二停止伽马探测器的时间分辨率；第一、第二停止伽马探测器同时探测正电子湮没后产生的两个反向发射的0.511MeV湮没伽马射线，并根据测量在样品和在源室壁湮没的两个伽马射线被探测的时间差ΔT的差异性，定位正电子的湮没位置，从而排除入射到源室壁的正电子湮没事例，只保留在样品中的正电子湮没事例。
进一步地，所述起始和第一、第二停止伽马探测器均采用具有高时间分辨的闪烁体和与之耦合的快响应的光电转换器，所述闪烁体包括BaF2、LaBr3、LYSO，所述光电转换器包括光电倍增管、硅光电倍增管。
本发明还提供一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统的测量方法，包括：
步骤1、起始伽马探测器探测到伽马射线后，产生起始伽马信号；第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器探测到伽马射线后，分别产生第一停止伽马信号和第二停止伽马信号；
步骤2、信号采集模块负责对起始伽马信号、第一停止伽马信号和第二停止伽马信号进行采集，并将波形数据传输至数据处理模块进行处理；
步骤3、数据处理模块对波形数据进行能量甄别、定时、湮没事例的判选以及寿命谱统计。
进一步地，所述步骤3中，对于起始伽马信号和停止伽马信号，能量阈值分别设置为1.28MeV伽马射线的光电峰和0.511MeV伽马射线的光电峰，以提高时间测量精度，排除背底环境中其他伽马的干扰，并分别经过定时后生成起始定时信号、第一停止定时信号和第二停止定时信号；在一定时间窗内，计算起始定时信号和其中一个停止定时信号之间的时间差，作为每个正电子湮没事例的寿命；只有当同时探测到起始伽马信号、第一停止伽马信号和第二停止伽马信号，且在一定时间窗内同时存在第一停止伽马信号和第二停止伽马信号时，将输出正电子湮没事例记录与否的判选信号；当有判选信号输出时，说明该事例为样品中一个有效的正电子湮没事例，将进行时间差计算；而当无判选信号输出时，说明该事例中正电子不在样品中湮没，时间差计算将被抑制，同时数据处理模块直接进入下一个事例的处理，从而筛选出样品中的正电子湮没事例。最后，将对每个有效正电子湮没事例对应的时间差进行统计，经过足够事例积累，生成正电子湮没寿命谱。
有益效果：
(1)本发明测量结构简单，可精确定位正电子湮没位置，充分排除在薄膜样品以外的正电子湮没事例，筛选出薄膜中的正电子湮没事例，实现了薄膜样品中正电子湮没寿命的准确测量。
(2)本发明对样品的厚度没有限制，在满足薄膜样品测量要求的同时适用于厚样品的测量。
(3)本发明对样品的种类和数量没有限制，原则上只要样品的距离大于系统的位置分辨能力，系统均能筛选出不同位置处样品的湮没信息。
附图说明
图1为本发明的基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统示意图；
图2为本发明的测量电路示意图；
图3为信号判选时间窗示意图；
图4为停止伽马探测器采用不同直径晶体时所需源室最小半径；
图5为系统筛选在不同种类薄膜样品中正电子湮没事例时的一种测量结构示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本发明进行进一步详细说明。应当理解，此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明，并不用于限定本发明。此外，下面所描述的本发明各个实施方式中所涉及到的技术特征只要彼此之间未构成冲突就可以相互组合。
本发明的基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统可同时探测正电子湮没产生的两个0.511MeV伽马射线，通过测量这两个湮没伽马射线被探测的时间差，准确定位正电子湮没位置，筛选出样品中的正电子湮没事例，突破测量样品厚度限制，实现对薄膜样品中正电子湮没寿命的测量。
如图1所示，本发明的基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统包括源室、起始伽马探测器、第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器。与传统“样品-放射源-样品”测量结构不同，本发明只需在放射源一侧设置样品，样品与放射源固定于源室中心。第一停止伽马探测器与第二停止伽马探测器以放射源为中心对称放置于源室外，起始伽马探测器于源室外部任意位置放置。起始伽马探测器负责对22Na放射源发射正电子时级联产生的1.28MeV伽马射线进行探测，第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器分别对正电子湮没后产生的两个反向发射的0.511MeV湮没伽马射线进行探测。
由于22Na放射源产生的正电子朝全空间各向同性发射，一部分正电子进入样品中湮没；一部分正电子未进入样品或者穿透样品，最终在源室壁湮没。正电子在样品材料和源室壁材料中湮没后均会产生湮没伽马光子，需排除在源室壁材料中的正电子湮没事例对测量的影响。
本发明中，通过设置两个停止伽马探测器同时探测正电子湮没后产生的两个反向发射的0.511MeV湮没伽马射线，来排除非样品中的正电子湮没事例，筛选出样品中的正电子湮没事例。如图1所示，在阴影部分立体角之外入射到源室壁的正电子，其在源室壁湮没产生的两个湮没伽马射线不会被两个停止伽马探测器同时探测到，故可排除此部分正电子湮没事例。
进入样品中湮没的正电子以及在阴影部分立体角之内入射到源室壁的正电子，其湮没后产生的两个湮没伽马射线可以被两个停止伽马探测器同时探测到，这两个湮没伽马射线被两个停止探测器探测到的时间差ΔL为两个湮没伽马光子被探测的光程差，c为光速。在样品中湮没产生的两个伽马射线被两个停止探测器探测到的时间差可以看作平均值为0、标准差/>的单高斯函数R(δ)，可以如下公式表示：
其中，δ为由于两个停止伽马探测器时间分辨引起的时间差的偏差，TR1与TR2分别为第一、第二停止伽马探测器的时间分辨率。而在源室壁湮没产生的两个湮没伽马射线被两个停止探测器探测的时间差可以看作平均值为标准差为/>的单高斯函数。因此可根据测量两个湮没伽马射线被探测的时间差的差异，定位正电子的湮没位置，从而排除在阴影部分立体角之内入射到源室壁的正电子湮没事例，最终只保留在样品中的正电子湮没事例。
为充分排除非样品中的正电子湮没事例，筛选出样品中的有效湮没事例，本发明设计的测量电路，如图2所示。
起始伽马探测器探测到伽马射线后，产生起始伽马信号；第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器探测到伽马射线后，分别产生第一停止伽马信号和第二停止伽马信号。信号采集模块负责对起始伽马信号、第一停止伽马信号和第二停止伽马信号进行采集，并将波形数据传输至数据处理模块进行处理。
数据处理模块负责对波形数据进行能量甄别、定时、湮没事例的判选以及寿命谱统计。
对于起始伽马信号和停止伽马信号，能量阈值分别设置为1.28MeV伽马射线的光电峰和0.511MeV伽马射线的光电峰，以提高时间测量精度，排除其他伽马背底干扰，并分别经过定时后生成起始定时信号、第一停止定时信号和第二停止定时信号。在第一时间窗内(百纳秒量级)，计算起始定时信号和其中一个停止定时信号之间的时间差，作为每个正电子湮没事例的寿命。如图3所示，只有在第一时间窗内同时探测到起始伽马信号、第一停止伽马信号和第二停止伽马信号，且在第二时间窗内同时存在第一停止伽马信号和第二停止伽马信号时，将输出正电子湮没事例记录与否的判选信号；第二时间窗应包含绝大多数的第一停止伽马信号和第二停止伽马信号，可将该时间窗设置为R(δ)的十分之一高宽(FWTM，Full width at one-tenth maximum)，当有判选信号输出时，说明该事例为样品中一个有效的正电子湮没事例，将进行时间差计算；而当无判选信号输出时，说明该事例中正电子不在样品中湮没，时间差计算将被抑制，同时数据处理模块直接进入下一个事例的处理，从而排除非样品中的正电子湮没事例。最后，将对每个有效正电子湮没事例对应的时间差进行统计，经过足够事例积累，生成正电子湮没寿命谱。
为保证正电子湮没寿命测量的精度，起始和停止伽马探测器均采用具有高时间分辨的闪烁体探测器，一般由时间性能较好的闪烁体(比如BaF2、LaBr3、LYSO等)和与之耦合的快响应光电转换器(比如光电倍增管、硅光电倍增管等)组成。
源室内部为真空环境，原则上可为任意几何形状，其内部空间大小以及源室壁的厚度根据具体应用场景而具体布置，需保证未进入样品的正电子在距离样品足够远的源室壁上湮没，需满足两个湮没伽马光子被探测的时间差图1中球形源室为本发明的一个具体的实施例，源室球壳的半径依赖于停止伽马探测器的几何尺寸以及时间分辨率。若两个停止伽马探测器的时间分辨都为100ps，则在源室壁上湮没的两个湮没伽马光子被探测的光程差应大于8cm。假设停止伽马探测器晶体直径为D，源室半径为R，根据几何关系可得到在源室上湮没伽马光子被探测得光程差最小为/>如图4所示为停止伽马探测器采用不同直径晶体时所需源室最小半径，若探测器采用尺寸为Φ30mm×20mm的BaF2晶体时，源室半径应>43mm。
本发明中对样品的厚度没有限制，在满足薄膜样品测量要求的同时适用于厚样品的测量。同时，本发明对样品的种类和数量没有限制，原则上只要样品的距离大于系统的位置分辨能力，系统均能筛选出不同位置处样品的湮没信息，图5为一个可能的“样品-源”测量结构，具体的测量结构根据具体应用场景而具体布置。
本领域的技术人员容易理解，以上所述仅为本发明的较佳实施例而已，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内所作的任何修改、等同替换和改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。
Claims (5)
1.一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统，其特征在于：包括源室、起始伽马探测器、第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器；在放射源一侧设置样品，样品与放射源固定于源室中心；第一停止伽马探测器与第二停止伽马探测器以放射源为中心对称放置于源室外，起始伽马探测器于源室外部任意位置放置；起始伽马探测器负责对22Na放射源发射正电子时级联产生的1.28MeV伽马射线进行探测，第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器分别对正电子湮没后产生的两个反向发射的0.511MeV湮没伽马射线进行探测；通过测量两个湮没伽马射线被探测的时间差，准确定位正电子湮没位置，筛选出样品中的正电子湮没事例，实现对薄膜样品中正电子湮没寿命的测量。
2.根据权利要求1所述的一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统，其特征在于：所述源室和停止伽马探测器用于筛选出样品中的正电子湮没事例；所述源室内部为真空环境，几何形状、内部空间大小以及源室壁的厚度根据具体应用场景而具体布置，保证未进入样品的正电子在距离样品足够远的源室壁上湮没，满足两个湮没伽马射线被探测的时间差其中，ΔL为两个湮没伽马光子被探测的光程差，c为光速，TR1与TR2分别为第一、第二停止伽马探测器的时间分辨率；第一、第二停止伽马探测器同时探测正电子湮没后产生的两个反向发射的0.511MeV湮没伽马射线，并根据测量在样品和在源室壁湮没的两个湮没伽马射线被探测的时间差ΔT的差异性，定位正电子的湮没位置，从而排除入射到源室壁的正电子湮没事例，只保留在样品中的正电子湮没事例。
3.根据权利要求1所述的一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统，其特征在于：所述起始和第一、第二停止伽马探测器均采用具有高时间分辨的闪烁体和与之耦合的快响应的光电转换器，所述闪烁体包括BaF2、LaBr3、LYSO，所述光电转换器包括光电倍增管、硅光电倍增管。
4.根据权利要求1-3之一所述的一种基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统的测量方法，其特征在于，包括如下步骤：
步骤1、起始伽马探测器探测到伽马射线后，产生起始伽马信号；第一停止伽马探测器和第二停止伽马探测器探测到伽马射线后，分别产生第一停止伽马信号和第二停止伽马信号；
步骤2、信号采集模块负责对起始伽马信号、第一停止伽马信号和第二停止伽马信号进行采集，并将波形数据传输至数据处理模块进行处理；
步骤3、数据处理模块对波形数据进行能量甄别、定时、湮没事例的判选以及寿命谱统计。
5.根据权利要求4所述的测量方法，其特征在于，所述步骤3中，对于起始伽马信号和停止伽马信号，能量阈值分别设置为1.28MeV伽马射线的光电峰和0.511MeV伽马射线的光电峰，以提高时间测量精度，排除背底环境中其他伽马的干扰，并分别经过定时后生成起始定时信号、第一停止定时信号和第二停止定时信号；在一定时间窗内，计算起始定时信号和其中一个停止定时信号之间的时间差，作为每个正电子湮没事例的寿命；只有当同时探测到起始伽马信号、第一停止伽马信号和第二停止伽马信号，且在一定时间窗内同时存在第一停止伽马信号和第二停止伽马信号时，将输出正电子湮没事例记录与否的判选信号；当有判选信号输出时，说明该事例为样品中一个有效的正电子湮没事例，将进行时间差计算；当无判选信号输出时，说明该事例中正电子不在样品中湮没，时间差计算被抑制，同时数据处理模块直接进入下一个事例的处理，从而筛选出样品中的正电子湮没事例；最后，将对每个有效正电子湮没事例对应的时间差进行统计，经过足够事例积累，生成正电子湮没寿命谱。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310726611.3A CN116539649A (zh) | 2023-06-19 | 2023-06-19 | 基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202310726611.3A CN116539649A (zh) | 2023-06-19 | 2023-06-19 | 基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法 |
Publications (1)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116539649A true CN116539649A (zh) | 2023-08-04 |
Family
ID=87452658
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202310726611.3A Pending CN116539649A (zh) | 2023-06-19 | 2023-06-19 | 基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116539649A (zh) |
-
2023
- 2023-06-19 CN CN202310726611.3A patent/CN116539649A/zh active Pending
Similar Documents
| Publication | Publication Date | Title |
|---|---|---|
| US7439519B2 (en) | Neutron detection based on coincidence signal | |
| JP5027124B2 (ja) | パルス波形分析による単一トランスデューサ内同時発生放射線の検出のための方法及び装置 | |
| CN110082368B (zh) | 一种基于硅光电倍增器(SiPM)的正电子湮没寿命谱仪 | |
| Glebov et al. | Prototypes of National Ignition Facility neutron time-of-flight detectors tested on OMEGA | |
| Nakamura et al. | A large-area two-dimensional scintillator detector with a wavelength-shifting fibre readout for a time-of-flight single-crystal neutron diffractometer | |
| US8373129B2 (en) | Cargo inspection system for special nuclear materials (SNM) | |
| CN110361773B (zh) | 一种定位未知能谱中子辐射场中子源位置的方法 | |
| US7683335B2 (en) | Threshold Cerenkov detector with radial segmentation | |
| CN116539649A (zh) | 基于位置定位的正电子湮没寿命测量系统及方法 | |
| Hirayama et al. | Three-dimensional tracking multi-segmented proportional gas counter for β-decay spectroscopy of unstable nuclei | |
| Popescu et al. | Compton background suppression with a multi-element scintillation detector using high speed data acquisition and digital signal processing | |
| Trong et al. | Checking the 8Be anomaly with a two-arm electron positron pair spectrometer | |
| Gupta et al. | Pulse height and timing characteristics of CsI (Tl)-Si (PIN) detector for γ‐rays and fission fragments | |
| Nakamura et al. | Development of a wavelength-shifting-fibre-based scintillator neutron detector as an alternative to 3He at J-PARC/MLF | |
| Pestotnik et al. | Aerogel RICH for forward PID at Belle II | |
| CN113640857A (zh) | 一种漂移管探测器位置分辨率的测量装置和方法 | |
| CN116609371A (zh) | 基于源装置的正电子湮没寿命测量系统及方法 | |
| CN116500072A (zh) | 一种用于薄膜样品表征的正电子湮没寿命测量装置及方法 | |
| Simons et al. | Beta-particle spectroscopy with active gamma-ray discrimination | |
| US20040114716A1 (en) | Remote sensing device to detect materials of varying atomic numbers | |
| JP2671952B2 (ja) | 放射線検出器の非一様性の検査方法 | |
| Linhart et al. | First measurement of X-rays generated by runaway electrons in tokamaks using a TimePix3 device with 1 mm thick silicon sensor | |
| Ayaz-Maierhafer et al. | Sensing of 252 Cf fission gamma rays using same-size glass detectors | |
| CN116519726A (zh) | 一种用于薄膜样品表征的正电子湮没寿命高效测量系统及方法 | |
| Pritchard | Signal Processing, Performance Metrics, and Lifetime of a 6LiF: ZnS (Ag) Neutron Detector with WLS Fibers and SiPM Photodetector |
Legal Events
| Date | Code | Title | Description |
|---|---|---|---|
| PB01 | Publication | ||
| PB01 | Publication | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
| SE01 | Entry into force of request for substantive examination |