CN116520065A - 电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质 - Google Patents

电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质 Download PDF

Info

Publication number
CN116520065A
CN116520065A CN202310788759.XA CN202310788759A CN116520065A CN 116520065 A CN116520065 A CN 116520065A CN 202310788759 A CN202310788759 A CN 202310788759A CN 116520065 A CN116520065 A CN 116520065A
Authority
CN
China
Prior art keywords
tested
equipment
test data
neutron flux
target
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Granted
Application number
CN202310788759.XA
Other languages
English (en)
Other versions
CN116520065B (zh
Inventor
邝野
习伟
陶伟
董飞龙
吴雨沼
王泽宇
白晋川
陈波
谢心昊
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Southern Power Grid Digital Grid Research Institute Co Ltd
Original Assignee
Southern Power Grid Digital Grid Research Institute Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Southern Power Grid Digital Grid Research Institute Co Ltd filed Critical Southern Power Grid Digital Grid Research Institute Co Ltd
Priority to CN202310788759.XA priority Critical patent/CN116520065B/zh
Publication of CN116520065A publication Critical patent/CN116520065A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116520065B publication Critical patent/CN116520065B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/003—Environmental or reliability tests
    • G—PHYSICS
    • G01—MEASURING; TESTING
    • G01N—INVESTIGATING OR ANALYSING MATERIALS BY DETERMINING THEIR CHEMICAL OR PHYSICAL PROPERTIES
    • G01N23/00—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00
    • G01N23/005—Investigating or analysing materials by the use of wave or particle radiation, e.g. X-rays or neutrons, not covered by groups G01N3/00 – G01N17/00, G01N21/00 or G01N22/00 by using neutrons
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
    • G06F11/00—Error detection; Error correction; Monitoring
    • G06F11/36—Preventing errors by testing or debugging software
    • G06F11/3668—Software testing
    • G06F11/3672—Test management
    • G06F11/3688—Test management for test execution, e.g. scheduling of test suites
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06Q—INFORMATION AND COMMUNICATION TECHNOLOGY [ICT] SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES; SYSTEMS OR METHODS SPECIALLY ADAPTED FOR ADMINISTRATIVE, COMMERCIAL, FINANCIAL, MANAGERIAL OR SUPERVISORY PURPOSES, NOT OTHERWISE PROVIDED FOR
    • G06Q50/00—Information and communication technology [ICT] specially adapted for implementation of business processes of specific business sectors, e.g. utilities or tourism
    • G06Q50/06—Energy or water supply
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02E—REDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E30/00—Energy generation of nuclear origin
    • Y02E30/30—Nuclear fission reactors

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Health & Medical Sciences (AREA)
  • Business, Economics & Management (AREA)
  • General Health & Medical Sciences (AREA)
  • Economics (AREA)
  • Public Health (AREA)
  • Marketing (AREA)
  • Immunology (AREA)
  • Pathology (AREA)
  • Analytical Chemistry (AREA)
  • Chemical & Material Sciences (AREA)
  • Life Sciences & Earth Sciences (AREA)
  • Water Supply & Treatment (AREA)
  • Human Resources & Organizations (AREA)
  • Biochemistry (AREA)
  • Primary Health Care (AREA)
  • Strategic Management (AREA)
  • Tourism & Hospitality (AREA)
  • General Business, Economics & Management (AREA)
  • Environmental & Geological Engineering (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Monitoring And Testing Of Nuclear Reactors (AREA)
  • Analysing Materials By The Use Of Radiation (AREA)

Abstract

本申请涉及一种电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质。该方法包括：获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；控制发射装置按照各所述目标中子通量区间多次重复向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备在各所述目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；对各所述测试数据进行分析，确定所述待测设备的性能参数。采用本方法能够提高高海拔等特殊地区下的电力设备系统的运行安全。

Description

电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质
技术领域
本申请涉及电力设备技术领域，特别是涉及一种电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质。
背景技术
随着设备信息技术的飞速发展，智能电网建设的加速推进，全面信息化、智能化的电网二次设备（主要包括电力专用芯片、控制单元和继电保护装置等）已占据主流市场。
但在电力系统的大规模应用中，空间高能粒子引起的粒子翻转效应出现的频率越来越高，而粒子翻转效应一般会使得数据传输发生错误，从而导致电力装置发生异常，进而可能造成异常跳闸、停电之类的事故，影响电力系统及其中的电力设备的运行安全。
目前，在海拔比较高的特殊地区，由于高海拔地区中子通量较大，因此出现粒子翻转效应的可能性也会相对较高，更会严重影响高海拔地区电力系统的动态工作安全，基于此，如何保证高海拔等特殊地区下的电力设备的安全运行就显得尤为重要。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种能够提高高海拔等特殊地区下的电力设备系统的运行安全的电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质。
第一方面，本申请提供了一种电力设备性能参数预测方法，该方法包括：
获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；
控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；
对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
在其中一个实施例中，上述获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间包括：
获取多个初始中子通量区间；
控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据；
根据各初始测试数据，从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间。
在其中一个实施例中，根据各初始测试数据，从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间，包括：
对各初始测试数据进行分析，确定各初始测试数据对应的质量量化指标；
根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定各目标测试数据；
将各目标测试数据对应的初始中子通量区间确定为各目标中子通量区间。
在其中一个实施例中，性能参数包括待测设备的敏感度、待测设备的耐受度以及待测设备的使用寿命中的至少一个。
在其中一个实施例中，上述方法还包括：
确定不同的待测设备对应的性能参数；
根据各待测设备对应的性能参数，从各待测设备中确定目标待测设备；目标待测设备与预设场景相匹配。
在其中一个实施例中，待测设备中包括多个待测器件，不同的待测器件具有各自匹配的多个不同的目标中子通量区间。
在其中一个实施例中，上述控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据包括：
控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据；
根据各子测试数据确定测试数据。
在其中一个实施例中，根据各子测试数据确定测试数据，包括：
控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备整体对应的整体测试数据；
根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据。
在其中一个实施例中，上述控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据，包括：
在待测设备动态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的动态测试数据；
在待测设备静态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的静态测试数据；
根据动态测试数据和静态测试数据确定测试数据。
在其中一个实施例中，上述待测设备中包括纠错码模块，纠错码模块用于减小待测设备的粒子翻转效应。
第二方面，本申请还提供了一种电力设备性能参数预测装置，该装置包括：
获取模块，用于获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；
控制模块，用于控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；
确定模块，用于对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
第三方面，本申请还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括存储器和处理器，存储器存储有计算机程序，处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；
控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；
对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
第四方面，本申请还提供了一种电力设备性能参数预测系统，该电力设备性能参数预测系统包括发射装置、待测设备、辅助测试装置以及上述第三方面的计算机设备，发射装置、待测设备以及辅助测试装置均与计算机设备连接；
计算机设备用于控制发射装置向待测设备发射中子束流；
计算机设备还用于控制辅助测试装置向待测设备提供外部输入；
该计算机设备还用于执行上述第一方面的方法的步骤。
第五方面，本申请还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；
控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；
对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
第六方面，本申请还提供了一种计算机程序产品，该计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；
控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；
对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
上述电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质，先通过获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间，再通过控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，从而获得待测设备在各个目标中子通量区间辐照下对应的测试数据，最后再通过对测试数据进行分析，可以确定出待测设备的性能参数；该方法中，可以根据不同待测设备的调整不同的目标中子通量区间，以避免由于不同的待测设备对大气中子辐照的敏感度不同而采用单一的目标中子通量区间进行辐照而导致的测试数据的准确性不高的问题；通过发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，可以使得获取到的测试数据准确性更高；通过对获得的测试数据进行分析，可以获得待测设备的性能参数，通过对待测设备的性能参数进行分析，可以确定出在高海拔等特殊地区下待测设备的性能参数，从而对待测设备的使用情况例如使用寿命进行预测，有利于对待测设备的稳定性以及可靠性进行评估，还可以供技术人员根据评估结果选择性能参数相对较好的待测设备，以提高高海拔等特殊地区下的电力设备系统的运行安全。
附图说明
图1为一个实施例中实施例中电力设备性能参数预测方法的应用环境图；
图2为一个实施例中电力设备性能参数预测方法的流程示意图；
图3为另一个实施例中电力设备性能参数预测方法的流程示意图；
图4为另一个实施例中电力设备性能参数预测方法方法的实验装置图；
图5为另一个实施例中电力设备性能参数预测方法的流程示意图；
图6为另一个实施例中电力设备性能参数预测方法的流程示意图；
图7为另一个实施例中电力设备性能参数预测方法的流程示意图；
图8为另一个实施例中电力设备性能参数预测方法的流程示意图；
图9为一个实施例中电力设备性能参数预测装置的结构框图；
图10为一个实施例中计算机设备的内部结构图。
具体实施方式
为了使本申请的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本申请进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本申请，并不用于限定本申请。
本申请实施例提供的电力设备性能参数预测方法，可以应用于图1所示的实验装置中。其中，实验装置包括发射装置、待测设备、放置待测设备的实验台以及远程控制装置，还包括为待测设备提供外部输入的辅助实验装置，该辅助实验装置主要包括辅助实验器件以及接线柜；远程控制装置主要包括上位机，该上位机上可以运行上位机测试软件；各个装置之间的连接方式可以为串口线、网线、光纤线、电力线等；其中，发射装置、待测设备以及放置待测设备的实验台、辅助实验装置位于辐照间中，远程控制装置位于控制室中，控制室和辐照间之间有辐射隔离措施，测试人员位于控制室中进行实验；其中，上位机可以控制发射装置向待测设备发射中子束流；在实验过程中，可以通过对发射装置和实验台的机械结构进行动态调节，调整中子束流的入射角度、辐照区域以及中子强度大小。
在一个实施例中，如图2所示，提供了一种电力设备性能参数预测方法，以该方法应用于图1中的终端为例进行说明，包括以下步骤：
S202，获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间。
其中，待测设备可以为控制单元和基于控制单元构建的继电保护装置，也可以为控制单元或者继电保护装置中的任一个，还可以为控制单元中的每个单一元器件，例如电力专用芯片、外围器件（例如嵌入式多媒体卡EMMC、双倍数据率同步动态随机存取存储器DDR、闪存FLASH等）以及其他硬件资源；还可以为控制单元中的各个元器件的任意组合。
在本步骤中，由于待测设备对中子辐照的敏感程度不一样，因此需要先获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子区间，以避免待测设备出现死机、损坏的情况或者长时间照射待测设备导致不出现粒子翻转效应的情况发生；另外，对于每个待测设备均需要确定出多个不同的目标中子通量区间，多个不同的目标中子通量区间用于对待测设备进行辐照，获得每个待测设备的粒子翻转效应，而且通过多个不同的目标中子通量区间进行多次重复实验可以提高实验的准确性。
S204，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据。
其中，发射装置主要是指中子束流发射装置，该发射装置主要包括大气中子辐照谱仪、偏转磁铁、准直器、通量调节器，大气中子辐照谱仪主要用于向待测设备发射中子束流，模拟高海拔等特殊地区下的大气中子对待测设备的辐照；例如，可以通过发射装置中的偏转磁铁、准直器、通量调节器和放置待测设备的实验台对进行大气中子辐照谱仪发出的中子束流的入射角度、辐照区域以及中子通量大小进行动态调节，从而将大气中子辐照谱仪发出的束斑约束在一个指定边长的正方形内，使得大部分高速中子束流都集中在该正方形内，可以实现对待测设备的辐照；具体在对大气中子辐照谱仪发出的中子束流的入射角度、辐照区域以及中子通量进行动态调节时，可以是同时通过旋转和平移放置待测设备实验台的位置，控制中子束流的入射角度，另外通过控制大气中子辐照谱仪的工况和通量调节器，可以改变中子通量的大小。
其中，大气中子辐照谱仪是中国散裂中子源唯一的能量范围跨度达12个量级的高能中子谱仪，可提供与大气中子能谱接近的、能谱覆盖从meV~GeV的全能谱中子束流，在样品处提供的中子通量相当于地面中子通量的约10^9倍，具有加速测试能力；中子能谱、束斑、通量大范围可调，中子束斑均匀性好，束流品质高，用于满足不同样品不同环境的辐照试验。
在本步骤中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；测试数据主要包括待测设备在不同的目标中子通量区间辐照下获得的单粒子翻转次数以及多粒子翻转次数，还可以获得待测设备发生单粒子翻转以及多粒子翻转时的时间信息、待测设备在发生单粒子翻转以及多粒子翻转时所对应的地址信息等。
S206，对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
在本步骤中，通过对上述步骤中获得的测试数据中的待测设备在不同的目标中子通量区间辐照下获得的单粒子翻转次数以及多粒子翻转次数进行分析，可以确定出待测设备的性能参数，其中，作为可选的实施例，性能参数可以包括待测设备的敏感度、待测设备的耐受度以及待测设备的使用寿命中的至少一个；具体地，以待测设备为控制单元、继电保护装置以及控制单元中的每个单一元器件为例，确定性能参数的步骤如下：
根据测试数据可以分析得到控制单元中的每个单一元器件的敏感度为：
其中，为单位时间内发生单比特翻转的平均个数，为单位时间内发生多比 特翻转的平均个数，为目标中子通量区间的强度，k代表单比特翻转的权重。
根据实验测试可以分析得到继电保护装置、控制单元的敏感度为：
其中t为继电保护装置和控制单元在大气中子辐照下正常工作的时间，为当前 测试的目标中子通量区间强度。
根据测试数据可得控制单元、继电保护装置在某地区的耐受度为：
其中，为当地自然环境下的大气中子辐照强度，为敏感度。
此外可以根据控制单元、装置在大气中子加速辐照测试下的正常工作时间，换算出在高海拔地区等特殊环境下，待测设备的正常工作时长的理论值。
举例说明，假如待测设备在A工况下正常工作了5分钟，A工况下的中子通量强度为，根据公开数据可知珠三角地区地面的中子通量强度为，那么通过 计算可知大气中子辐照加速实验的加速比为4.11*10^8，在当前实验环境下测试1分钟相当 于在珠三角地区测试782.78年。
通过对待测设备的性能参数进行分析，可以换算出在高海拔等特殊地区下待测设备的敏感度、耐受度，还能够推导出待测设备在高海拔等特殊地区下正常工作时间，从而对待测设备的使用寿命进行预测，因而有利于对待测设备的稳定性以及可靠性进行评估，还可以供技术人员根据评估结果选择性能参数相对较好的待测设备，以提高高海拔等特殊地区下的电力设备系统的运行安全
在上述实施例中，先通过获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间，再通过控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，从而获得待测设备在各个目标中子通量区间辐照下对应的测试数据，最后再通过对测试数据进行分析，可以确定出待测设备的性能参数；该方法中，可以根据不同待测设备的调整不同的目标中子通量区间，以避免由于不同的待测设备对大气中子辐照的敏感度不同而采用单一的目标中子通量区间进行辐照而导致的测试数据的准确性不高的问题；通过发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，可以使得获取到的测试数据准确性更高；通过对获得的测试数据进行分析，可以获得待测设备的性能参数，通过对待测设备的性能参数进行分析，可以确定出在高海拔等特殊地区下待测设备的性能参数，从而对待测设备的使用情况例如使用寿命进行预测，有利于对待测设备的稳定性以及可靠性进行评估，还可以供技术人员根据评估结果选择性能参数相对较好的待测设备，以提高高海拔等特殊地区下的电力设备系统的运行安全。
上述实施例中提到了可以获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间，以下实施例就对获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间的具体过程进行详细说明。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测方法，在上述实施例的基础上，如图3所示，上述S202可以包括以下步骤：
S302，获取多个初始中子通量区间。
S304，控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据。
S306，根据各初始测试数据，从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间。
其中，初始中子通量区间的获取可以为技术人员提前根据经验设定的中子通量区间；控制控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备发射中子束流并获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据的具体过程和上述S204中的过程相同，这里就不再赘述。
在上述步骤中，控制发射装置按照各目标中子通量区间单次向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据；再对待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据进行分析，就可以从各初始中子通量区间中选择出与待测设备相匹配的多个不同的目标中子通量区间，这些目标中子通量区间可以用于后续实验。
需要说明的是，该初始测试数据中主要包括待测设备在不同的初始中子通量区间辐照下获得的单粒子翻转次数以及多粒子翻转次数，还可以获得待测设备发生单粒子翻转以及多粒子翻转时的时间信息、待测设备在发生单粒子翻转以及多粒子翻转时所对应的地址信息等。
在获取多个初始中子通量区间之前，需要完成实验的准备工作，具体准备工作如下：
（1）确定实验初始条件，包括实验对象以及摆放位置、中子束流大小及入射角度，可以根据待测设备大小确定束斑大小，使得束斑能够刚好覆盖待测设备；
（2）完成各个实验装置之间的物理连接，参考图1，实验装置可以包括上述实施例中提到的发射装置、待测设备、放置待测设备的实验台以及控制发射装置向待测设备发射中子束流的远程控制装置之外，还可以包括为待测设备提供外部输入的辅助实验装置；辅助实验装置主要包括辅助实验器件以及接线柜，各个装置之间的连接方式可以为串口线、网线、光纤线、电力线等；其中，发射装置、待测设备以及放置待测设备的实验台、辅助实验装置位于辐照间中，远程控制装置位于控制室中，控制室和辐照间之间有辐射隔离措施，测试人员位于控制室中进行实验；
（4）对待测设备进行上电，待测设备上电自动运行测试程序；以测试程序运行在控制单元为例，在控制单元上的单一元器件测试中实现对粒子翻转效应的量化监测，得到初始测试数据；
（5）测试人员运行上位机测试软件，通过上位机软件能够远程访问待测设备的liunx系统，并可实时监测待测设备的运行状态，并监测测试程序的输出，得到初始测试数据。
具体地，上位机测试软件基于应用程序开发框架QT完成开发，主要实现串口数据的收发和以及辅助实验装置的控制，串口模块部分设计首先创建一个QT窗口应用程序，包含一个主窗口；可以在主窗口中添加3个下拉列表框组件类QComboBox控件，分别用于选择串口号、波特率、数据位、停止位和奇偶校验位；在主窗口中添加一个按钮QPushButton控件，用于打开和关闭串口；在主窗口中添加一个文本编辑QTextEdit控件，用于显示串口数据；在主窗口中添加一个行编辑QLineEdit控件，用于输入发送的数据；在主窗口中添加一个QPushButton控件，用于发送数据。在主窗口中添加一个状态栏QStatusBar控件，用于显示状态信息；在主窗口中添加一个串口QSerialPort对象，用于实现串口通信。在打开串口按钮的槽函数中，打开串口，并设置串口参数；在关闭串口按钮的槽函数中，关闭串口；在发送按钮的槽函数中，向串口发送数据；在串口数据可读的槽函数中，读取并显示串口数据；在串口错误槽函数中，显示错误信息。
辅助实验装置控制部分主要用于给待测器件提供外部输入，这里以控制继保仪来实现三相电流的动态调节为例来说明此部分的设计，其他辅助实验设备也类似，在主界面中主要包括参数设置界面、控制按钮界面、测试结果显示界面；其中参数设置界面中包含设置电流值、测试时间、采样率等选项；电流值提供三个文本框，分别用于设置三相电流的值。
测试时间提供一个文本框，用于设置测试的时间长度；采样率提供一个下拉列表，用于设置采样率；其中使用标签类QLabel，用于显示文本信息；使用文本框类QLineEdit，用于接收用户输入；使用下拉列表类QComboBox，用于提供选项列表；控制按钮界面主要包括三个按钮，分别用于控制继保仪输出的三相电流的参数；每个按钮使用一个滑动条和一个显示框，用于设置和显示电流的值。用户可以通过拖动滑动条来调整电流的值，同时在显示框中显示当前的电流值；其中使用滑动条类QSlider，用于调整电流值；显示框类QSpinBox，用于显示当前电流值；测试结果显示界面用于实时显示装置监测的电流值，可以通过滚动条或翻页方式查看历史数据；使用文本编辑器QTextEdit文本编辑器类，用于显示测试结果。使用动区域类QScrollArea用于提供滚动条。
在上述实施例中，通过获取多个初始中子通量区间，再控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备发射中子束流，从而获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据，最后根据各初始测试数据从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间；该方法中，由于在获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据之前对待测设备所匹配的目标中子通量区间进行提前确定，即根据初始测试数据从初始中子通量区间中选出适合后续实验的目标中子通量区间，可以使得实验结果更为准确，避免在进行实验过程中出现待测设备死机、损坏的情况，或者长时间照射待测设备导致不出现粒子翻转效应的情况发生。
上述实施例中提到了可以根据各初始测试数据从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间，以下实施例中就对从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间的具体过程进行详细说明。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测方法，在上述实施例的基础上，如图4所示，上述S306可以包括以下步骤：
S402，对各初始测试数据进行分析，确定各初始测试数据对应的质量量化指标。
其中，质量量化指标是指初始测试数据中适合完成后续实验的指标参数，例如质量量化指标可以是的指标，也可以是初始测试数据是否有缺失的指标，还可以是初始测试数据是否有完善的指标。
在本步骤中，上位机在获得各初始测试数据之后，可以对各初始测试数据进行分析处理，从而确定出各测试数据对应的质量量化指标。
S404，根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定各目标测试数据。
在本步骤中，在确定出各测试数据对应的质量量化指标之后，上位机可以根据各质量量化指标对给初始测试数据进行筛选，从而确定出各初始测试数据中确定各目标测试数据；例如，若质量量化指标为初始测试数据是否有损坏，可以从质量量化指标中选择初始数据没有损坏的，接着可以根据质量量化指标从各初始测试数据中确定出各目标测试数据；其中，目标测试数据主要指单粒子翻转次数以及多粒子翻转次数。
S406，将各目标测试数据对应的初始中子通量区间确定为各目标中子通量区间。
在本步骤中，在根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定出各目标测试数据之后，再将各目标测试数据所对应的初始中子通量区间确定为各目标中子通量区间。
上述实施例中，由于先对初始测试数据进行分析确定出各初始测试数据对应的质量量化指标，再根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定出各目标测试数据，最后再根据各个目标测数据确定出各个目标测数据所对应的初始中子通量区间，可以使得确定的目标中子通量区间更为准确，为后续实验提供了很好的测试数据基础。
在另一个实施例中，在上述实施例的基础上，待测设备中包括多个待测器件，不同的待测器件具有各自匹配的多个不同的目标中子通量区间。
其中，待测设备可以包括一个元器件，也可以包括多个元器件，包括的单个元器件可以为控制单元、基于控制单元构建的继电保护装置中的任一个，还可以为控制单元中的每个单一元器件，例如电力专用芯片、外围器件（例如EMMC、DDR、FLASH等）以及其他硬件资源；包括的多个元器件可以为控制单元和继电保护装置的整体组合，也可以为控制单元中的各个元器件的任意组合。
一般来说，因为不同的待测器件对大气中子辐照的敏感度不同，因此不同的待测器件所匹配的目标中子通量区间是不相同的；为了确保性测试数据的准确性，可以对不同的待测器件均选取多个目标中子通量区间；例如，可以对控制单元中的每一个元器件均选取3个中子通量区间进行多组实验。后续对待测器件进行辐照实验时，可以按照待测设备各自对应的目标中子通量区间及进行辐照。
上述实施例中，通过对不同的待测器件匹配多个不同的目标中子通量区间，不仅可以精确性地对各个待测器件单独进行辐照，对各个待测器件进行全面分析；还可以精确到每一个待测器件，使得获得的测试数据更加准确全面，进而方便对后续待测设备的性能参数进行预测。
上述实施例中提到了可以通过对各测试数据进行分析，确定出待测设备的性能参数，以下实施例就对不同待测设备的性能参数进行分析，从而根据各个待测设备的性能参数确定出目标待测设备的具体过程进行详细说明。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测方法，在上述实施例的基础上，如图5所示，该方法还可以包括以下步骤：
S502，确定不同的待测设备对应的性能参数。
在本步骤中，技术人员可以对同种功能下的不同型号的待测设备进行中子辐照实验，从而确定出不同的待测设备对应的性能参数；需要说明的是，这里的性能参数主要是指上述实施例中提到的待测设备的敏感度。
S504，根据各待测设备对应的性能参数，从各待测设备中确定目标待测设备；目标待测设备与预设场景相匹配。
在本步骤中，在确定不同的待测设备对应的性能参数之后，技术人员根据各个待测设备所对应的性能参数，从各待测设备中确定出目标待测设备，该目标待测设备与预设的场景相匹配；以DDR元器件为例，技术人员可以选择不同型号的DDR元器件，如第一DDR元器件、第二DDR元器件和第三DDR元器件，接着对第一DDR元器件、第二DDR元器件和第三DDR元器件分别进行中子辐照实验，从而确定出第一DDR元器件、第二DDR元器件和第三DDR元器件所对应的敏感度，接着对第一DDR元器件、第二DDR元器件和第三DDR元器件所对应的敏感度进行对比，从中选出敏感度最低的DDR元器件，该DDR元器件即为目标待测设备。
在上述实施例中，通过确定不同的待测设备对应的性能参数，并根据不同的待测设备对应的性能参数从各待测设备中确定出目标待测设备；该方法中，通过对不同的待测设备所对应的性能参数进行分析，可以从不同的待测设备中选出目标待测设备，这样有利于有利于对待测设备的稳定性进行评估，进而可以提高高海拔等特殊地区下的电力设备系统的运行安全。
上述实施例中提到了可以通过控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据，以下实施例就对获取待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据的具体过程进行说明。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测方法，在上述实施例的基础上，如图6所示，上述S204可以包括以下步骤：
S602，控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据。
在本步骤中，控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；其中，各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据。
具体地，这里在对待测器件发射中子束流时，可以对每个待测器件在动态工作的过程中和静态工作的过程中均向待测器件发射中子束流；另外，待测器件可以为控制单元和基于控制单元构建的继电保护装置，也可以为控制单元或者继电保护装置中的任一个，还可以为控制单元中的每个单一元器件，例如电力专用芯片、外围器件（例如EMMC、DDR、FLASH等）以及其他硬件资源；还可以为控制单元中的各个元器件的任意组合。
以待测器件为控制单元为例，在测试过程中，上位机可以控制控制单元在liunx系统上运行nbench、iperf3、lmbench、CoreMarK、Dhrystone、sysbench等第三方性能软件，通过第三方测试软件，尽可能的调用控制单元上的硬件资源，使控制单元位于较高负荷下运转，通过上位机软件监测第三方软件是否会出现异常。
以待测器件为继电保护装置为例，在测试过程中，继电保护装置可以运行过流保护、零序过流保护程序、三相不一致程序，来模拟电网中实际继电保护装置的运行。通过继保仪对继电保护装置进行加量，来模拟实际电网的运行，实验中在继保仪上编制自动化测试用例，来动态调节电流，从而实现对装置保护功能的测试。同时使用上位机软件来监测继电保护装置的运行状态。举例来说，对于装置的相过流保护功能，实验步骤可以为继电保护装置初始化，投入过流保护的控制字，设置过流保护定值；在继保仪上编制测试用例，使得电流从0A开始，每次累加0.1A，每个相电流值可以停留5min，同时，在每次累加电流时，控制发射装置按照继电保护装置对应的目标中子通量区间多次重复向继电保护装置发射中子束流，获得继电保护装置在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据，同时观察继电保护装置是否能够正常检测输入的相电流，当输入的相电流大于某一个值时，观察继电保护装置是否会正常触发保护跳闸；重复上述实验过程多次，记录测试数据。
S604，根据各子测试数据确定测试数据。
在本步骤中，在获得各个待测器件的子测试数据之后，可以根据各子测试数据确定出测试数据；具体地，通过各子测试数据确定出测试数据的过程可以为将各子数据组合获得测试数据；或者，可以根据技术人员的需求选取各子测试数据中的部分进行组合，具体选取的子测试数据这里不做限定。
上述实施例中，通过控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据，再根据获得的各待测器件对应的子测试数据确定出测试数据；该方法中，通过发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，可以使得获取到的子测试数据准确性更高；另外，技术人员可以按照技术需求对不同的待测器件或者对不同组合的待测器件或者对整体待测器件进行中子辐照实验，灵活性高，实用性强。
上述实施例中提到了可以根据各子测试数据确定出测试数据，以下实施例就对根据子测试数据确定出测试数据的具体过程进行详细说明。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测方法，在上述实施例的基础上，如图7所示，上述S604可以包括以下步骤：
S702，控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备整体对应的整体测试数据。
在本步骤中，上位机可以控制发射装置根据待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复地向待测设备发射中子束流，从而获得待测设备整体对应的整体测试数据。
S704，根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据。
在本步骤中，在获得整体测试数据和子测试数据之后，可以根据整体测试数据和子测试数据确定出最终的测试数据；具体地，根据整体测试数据和子测试数据确定测试数据的过程可以为将待测设备的整体测试数据以及该待测设备中的各个元器件的子测试数据组合在一起，获得最终的测试数据；或者还可以为测试人员根据实际需求根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据，这里不做具体限定。
上述实施例中，通过控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，从而可以获得待测设备整体对应的整体测试数据；通过对根据各子测试数据和整体测试数据可以确定出最终的测试数据；该方法中，通过控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，可以使得获取到的整体测试数据准确性更高；另外，各子测试数据的选取是可以根据实际需求进行选取的，因此灵活性更高，同时，根据子测试数据和整体测试数据获得最终的数据，不仅可以获得各待测器件的子测试数据，还可以获得待测器件整体的整体测试数据，因此，获得的数据更加全面，从而使得获得的性能参数更为准确，进一步可以提高高海拔等特殊地区下的电力设备系统的运行安全。
上述实施例中提到了可以控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据的一种工作状态；以下实施例就对控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据的另一种工作状态进行详细说明。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测方法，在上述实施例的基础上，如图8所示，上述S204还可以包括以下步骤：
S802，在待测设备动态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的动态测试数据。
在本步骤中，在待测设备动态工作过程中，即对待测设备上的数据进行刷新，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，从而可用获得待测设备对应的动态测试数据；以待测设备为控制单元上单一元器件DDR为例，在对DDR元器件进行动态测试时，可以将控制单元测试程序动态工作在控制单元上，可以得到DDR元器件对应的动态测试数据；具体地，对DDR元器件动态测试的逻辑如下：
（1）控制单元上电，确认控制单元处于正常动态工作状态；
（2）可以将裸机测试程序部署在FLASH上，并加载裸机测试程序在电力专用芯片内部的SRAM上动态工作；
（3）将DDR中前面1G的存储空间初始化为0x5a5a5a5a；
（4）开启大气中子辐照；
（5）遍历DDR地址中的数值，判断是否出现比特翻转效应；
（6）记录出现比特翻转效应的对应的地址，并回写正确的值到相应的地址处。
（7）多次重复步骤（5）、（6）；
（8）统计每轮扫描的比特翻转效应中单比特翻转和多比特翻转的次数以及发生单比特翻转和多比特翻转的地址；
（9）关闭大气中子辐照，结束实验。
需要说明的是，在测试的过程中测试程序不应该部署在被测的元器件上，以避免大气中子辐照对测试程序的影响，对于每个元器件应该单独进行测试，且每个元器件的大气中子辐照强度、中子入射角度、辐照时间、实验轮次要根据元器件特性确定，实验完成后能够得到每个元器件所对应的动态测试数据。
S804，在待测设备静态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的静态测试数据。
在本步骤中，在待测设备静态工作过程中，即对待测设备上的数据不进行刷新，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的静态测试数据；具体地，以待测设备为控制单元上单一元器件DDR为例，对DDR元器件静态测试的逻辑如下：
（1）控制单元上电，确认控制单元处于正常静态工作状态；
（2）可以将裸机测试程序部署在FLASH上，并加载裸机测试程序在电力专用芯片内部的SRAM上静态工作；
（3）将DDR中前面1G的存储空间初始化为0x5a5a5a5a；
（4）开启大气中子辐照；
（5）遍历DDR地址中的数值，判断是否出现比特翻转效应；
（6）记录出现比特翻转效应的对应的地址，并回写正确的值到相应的地址处。
（7）多次重复步骤（5）、（6）；
（8）统计每轮扫描的比特翻转效应中单比特翻转和多比特翻转的次数以及发生单比特翻转和多比特翻转的地址；
（9）关闭大气中子辐照，结束实验。
需要说明的是，在动态测试和静态测试的过程中可能会出现无法访问单一元器件或者控制单元出现异常死机的问题，此时应该记录此现象并断电重启，开始下一轮实验。
S806，根据动态测试数据和静态测试数据确定测试数据。
在本步骤中，在获得动态测试数据和静态测试数据之后，可以根据动态测试数据和静态测试数据确定出最终的测试数据；具体地，根据动态测试数据和静态测试数据确定测试数据的过程可以为将不同待测设备的静态测试数据组合在一起，再将不同待测设备的动态测试数据组合在一起，从而获得最终的测试数据；或者也可以将同一个待测设备的动态测试数据和静态测试数据组合在一起，再将不同设备对应的动态测试数据和静态测试数据整合在一起，最终获得测试数据；还可以为其他的组合方式，这里不做具体限定。
上述实施例中，通过对待测设备在动态工作过程中的动态测试数据和静态工作过程中的静态测试数据分别进行获取，确定出最终的测试数据；可以分别对待测设备在数据刷新和数据不刷新两种情况下对待测设备进行分析，这样可以获得待测设备在不同的工作状态下的性能参数，进而使得对待测设备的分析更加全面，进一步可以提高高海拔等特殊地区下的电力设备系统的运行安全。
上述实施例中提到了待测设备可以包括多个待测器件，在上述实施例的基础上，还可以在待测器件中加入纠错模块，以下实施例就对在待测器件中加入纠错模块之后所带来的技术效果进行详细说明。
在另一个实施例中，在上述实施例的基础上待测设备中包括纠错码模块，纠错码模块用于减小待测设备的粒子翻转效应。
其中，纠错码模块，主要用于减小单粒子翻转效应，具体地，可以在控制单元中的电力专用芯片的内部静态随机存取存储器SRAM、二级缓存L2 cache、DDR控制器、EMMC控制器中均加入纠错码模块。
纠错码模块主要采用的是错误检测和纠正ECC技术，ECC技术是一种利用冗余编码实现内存错误检测和纠正的技术。它通过在每个内存存储单元中添加额外的冗余数据来实现错误检测和纠正。ECC技术具有纠一检多的能力，即它可以纠正多个内存错误，同时检测到更多的错误。具体得，ECC技术的实现原理如下：
将内存存储单元分为若干个比特位，然后为每个比特位添加一个额外的校验比特。这些校验比特可以通过不同的编码方案生成，常用的编码方案包括单误差校正双误差检验SECDED、海明Hamming码和BCH码等。
校验比特的值由相应比特位中的值计算而来。例如，对于一个8位存储单元，可以将校验比特设置为使该存储单元中所有比特的值之和为偶数或奇数的值。如果发生错误，校验比特的值将与相应的比特位进行比较，以检测错误。
当数据从内存读取时，ECC电路会对读取的数据进行校验，并与相应的校验比特进行比较。如果校验比特与数据不匹配，则说明存在内存错误。此时，ECC电路会根据校验比特的信息自动纠正存储单元中的错误，并在错误修正后重新计算校验比特，以确保数据的完整性。
ECC技术不仅可以通过校验比特来检测单个存储单元中的错误，而且还可以利用校验比特之间的关系来检测多个存储单元中的错误。例如，如果两个存储单元中的校验比特之和不同，则说明这两个存储单元中至少有一个比特错误。
考虑到电力专用芯片的应用场景及可靠性要求，电力专用芯片内部SRAM、L2cache、DDR控制器、EMMC控制器中加入ECC纠错设计，可以增强电力装置受大气中子宇宙射线单粒子翻转效应影响的防护性能。
上述实施例中，通过在待测设备中加入纠错码模块，可以纠正多个内存错误，进而可以增强待测设备受大气中子宇宙射线单粒子翻转效应影响的防护功能。
以下给出一个详细实施例来对本申请中电力设备性能参数预测方法的过程进行说明，在上述实施例的基础上，该方法的实现过程可以包括以下内容：
S1，获取多个初始中子通量区间；
S2，控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备及待测设备中的各个待测器件发射中子束流，获得待测设备及待测设备中的各个待测器件在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据；其中，待测设备中包括多个待测器件，不同的待测器件具有各自匹配的多个不同的目标中子通量区间；待测设备中还包括纠错码模块，纠错码模块用于减小待测设备的粒子翻转效应；
S3，对各初始测试数据进行分析，确定各初始测试数据对应的质量量化指标；
S4，根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定各目标测试数据；
S5，将各目标测试数据对应的初始中子通量区间确定为各目标中子通量区间；
S6，在动态工作过程中，控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据；
S7，控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备整体对应的整体测试数据；
S8，在动态工作过程中，根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据；
S9，在静态工作过程中，控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据；
S10，控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备整体对应的整体测试数据；
S11，在静态工作过程中，根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据；
S12，对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数；其中，性能参数包括待测设备的敏感度、待测设备的耐受度以及待测设备的使用寿命中的至少一个；
S13，确定不同的待测设备对应的性能参数；
S14，根据各待测设备对应的性能参数，从各待测设备中确定目标待测设备；目标待测设备与预设场景相匹配。
应该理解的是，虽然如上的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本申请实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的电力设备性能参数预测方法的电力设备性能参数预测装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个电力设备性能参数预测装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于电力设备性能参数预测方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，如图9所示，提供了一种电力设备性能参数预测装置，包括：获取模块11、控制模块12和确定模块13，其中：
获取模块11，用于获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；
控制模块12，用于控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；
确定模块13，用于对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
可选的，上述性能参数包括待测设备的敏感度、待测设备的耐受度以及待测设备的使用寿命中的至少一个。
上述电力设备性能参数预测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测装置，在上述实施例的基础上，上述获取模块11可以包括：
初始中子通量区间获取单元，用于获取多个初始中子通量区间；
初始测试数据获取单元，用于控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据；
目标中子通量区间确定单元，用于根据各初始测试数据，从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间。
可选的，上述目标中子通量区间确定单元，可以包括：
质量量化指标确定子单元，用于对各初始测试数据进行分析，确定各初始测试数据对应的质量量化指标；
目标测试数据确定子单元，目标测试数据确定根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定各目标测试数据；
目标中子通量区间确定子单元，将各目标测试数据对应的初始中子通量区间确定为各目标中子通量区间。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测装置，在上述实施例的基础上，上述装置还可以包括目标待测设备确定模块，该目标待测设备确定模块可以包括：
性能参数确定单元，用于确定不同的待测设备对应的性能参数；
目标待测设备确定单元，用于根据各待测设备对应的性能参数，从各待测设备中确定目标待测设备；目标待测设备与预设场景相匹配。
在另一个实施例中，在上述实施例的基础上，待测设备中包括多个待测器件，不同的待测器件具有各自匹配的多个不同的目标中子通量区间。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测装置，在上述实施例的基础上，上述控制模块12可以包括：
子测试数据获取单元，用于控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据；
第一测试数据确定单元，用于根据各子测试数据确定测试数据。
可选的，上述第一测试数据确定单元，可以包括：
整体测试数据获取子单元，用于控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备整体对应的整体测试数据；
测试数据确定子单元，用于根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据。
在另一个实施例中，提供了另一种电力设备性能参数预测装置，在上述实施例的基础上，上述控制模块12还可以包括：
动态测试数据获取单元，用于在待测设备动态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的动态测试数据；
静态测试数据获取单元，用于在待测设备静态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的静态测试数据；
第二测试数据确定单元，用于根据动态测试数据和静态测试数据确定测试数据。
在另一实施例中，在上述实施例的基础上，待测设备中还包括纠错码模块，纠错码模块用于减小待测设备的粒子翻转效应。
上述性能参数预测装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是上位机，其内部结构图可以如图10所示。该计算机设备包括处理器、存储器、输入/输出接口、通信接口、显示单元和输入装置。其中，处理器、存储器和输入/输出接口通过系统总线连接，通信接口、显示单元和输入装置通过输入/输出接口连接到系统总线。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统和计算机程序。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的输入/输出接口用于处理器与外部设备之间交换信息。该计算机设备的通信接口用于与外部的终端进行有线或无线方式的通信，无线方式可通过WIFI、移动蜂窝网络、NFC（近场通信）或其他技术实现。该计算机程序被处理器执行时以实现一种电力设备性能参数预测方法。该计算机设备的显示单元用于形成视觉可见的画面，可以是显示屏、投影装置或虚拟现实成像装置。显示屏可以是液晶显示屏或者电子墨水显示屏，该计算机设备的输入装置可以是显示屏上覆盖的触摸层，也可以是计算机设备外壳上设置的按键、轨迹球或触控板，还可以是外接的键盘、触控板或鼠标等。
本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构，仅仅是与本申请方案相关的部分结构的框图，并不构成对本申请方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现以下步骤：
获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
获取多个初始中子通量区间；控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据；根据各初始测试数据，从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
对各初始测试数据进行分析，确定各初始测试数据对应的质量量化指标；根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定各目标测试数据；将各目标测试数据对应的初始中子通量区间确定为各目标中子通量区间。
在一个实施例中，性能参数包括待测设备的敏感度、待测设备的耐受度以及待测设备的使用寿命中的至少一个。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
确定不同的待测设备对应的性能参数；根据各待测设备对应的性能参数，从各待测设备中确定目标待测设备；目标待测设备与预设场景相匹配。
在一个实施例中，待测设备中包括多个待测器件，不同的待测器件具有各自匹配的多个不同的目标中子通量区间。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据；根据各子测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备整体对应的整体测试数据；根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，处理器执行计算机程序时还实现以下步骤：
在待测设备动态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的动态测试数据；在待测设备静态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的静态测试数据；根据动态测试数据和静态测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，待测设备中包括纠错码模块，纠错码模块用于减小待测设备的粒子翻转效应。
在一个实施例中，提供了一种电力设备性能参数预测系统，该性能参数预测系统包括发射装置、待测设备、辅助测试装置以及计算机设备，发射装置、待测设备以及辅助测试装置均与计算机设备连接；计算机设备用于控制发射装置向待测设备发射中子束流；计算机设备还用于控制辅助测试装置向待测设备提供外部输入，该系统可以执行上述电力设备性能参数预测方法的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
获取多个初始中子通量区间；控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据；根据各初始测试数据，从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
对各初始测试数据进行分析，确定各初始测试数据对应的质量量化指标；根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定各目标测试数据；将各目标测试数据对应的初始中子通量区间确定为各目标中子通量区间。
在一个实施例中，性能参数包括待测设备的敏感度、待测设备的耐受度以及待测设备的使用寿命中的至少一个。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
确定不同的待测设备对应的性能参数；根据各待测设备对应的性能参数，从各待测设备中确定目标待测设备；目标待测设备与预设场景相匹配。
在一个实施例中，待测设备中包括多个待测器件，不同的待测器件具有各自匹配的多个不同的目标中子通量区间。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据；根据各子测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备整体对应的整体测试数据；根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
在待测设备动态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的动态测试数据；在待测设备静态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的静态测试数据；根据动态测试数据和静态测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，待测设备中包括纠错码模块，纠错码模块用于减小待测设备的粒子翻转效应。
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现以下步骤：
获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；对各测试数据进行分析，确定待测设备的性能参数。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
获取多个初始中子通量区间；控制发射装置按照各初始中子通量区间单次向待测设备发射中子束流，获得待测设备在各初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据；根据各初始测试数据，从各初始中子通量区间中确定多个不同的目标中子通量区间。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
对各初始测试数据进行分析，确定各初始测试数据对应的质量量化指标；根据各质量量化指标从各初始测试数据中确定各目标测试数据；将各目标测试数据对应的初始中子通量区间确定为各目标中子通量区间。
在一个实施例中，性能参数包括待测设备的敏感度、待测设备的耐受度以及待测设备的使用寿命中的至少一个。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
确定不同的待测设备对应的性能参数；根据各待测设备对应的性能参数，从各待测设备中确定目标待测设备；目标待测设备与预设场景相匹配。
在一个实施例中，待测设备中包括多个待测器件，不同的待测器件具有各自匹配的多个不同的目标中子通量区间。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
控制发射装置按照各待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的待测器件发射中子束流，获得各待测器件对应的子测试数据；各待测器件的子测试数据为待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据；根据各子测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
控制发射装置按照待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备整体对应的整体测试数据；根据各子测试数据和整体测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，计算机程序被处理器执行时还实现以下步骤：
在待测设备动态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的动态测试数据；在待测设备静态工作过程中，控制发射装置按照各目标中子通量区间多次重复向待测设备发射中子束流，获得待测设备对应的静态测试数据；根据动态测试数据和静态测试数据确定测试数据。
在一个实施例中，待测设备中包括纠错码模块，纠错码模块用于减小待测设备的粒子翻转效应。
需要说明的是，本申请所涉及的用户信息（包括但不限于用户设备信息、用户个人信息等）和数据（包括但不限于用于分析的数据、存储的数据、展示的数据等），均为经用户授权或者经过各方充分授权的信息和数据，且相关数据的收集、使用和处理需要遵守相关国家和地区的相关法律法规和标准。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本申请所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器（ReRAM）、磁变存储器（Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM）、铁电存储器（Ferroelectric Random Access Memory，FRAM）、相变存储器（Phase Change Memory，PCM）、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（Static Random AccessMemory，SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic RandomAccessMemory，DRAM）等。本申请所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本申请所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上实施例仅表达了本申请的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本申请专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本申请构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本申请的保护范围。因此，本申请的保护范围应以所附权利要求为准。

Claims (15)

1.一种电力设备性能参数预测方法，其特征在于，所述方法包括：
获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；
控制发射装置按照各所述目标中子通量区间多次重复向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备在各所述目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；
对各所述测试数据进行分析，确定所述待测设备的性能参数。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间，包括：
获取多个初始中子通量区间；
控制发射装置按照各所述初始中子通量区间单次向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备在各所述初始中子通量区间辐照下对应的初始测试数据；
根据各所述初始测试数据，从各所述初始中子通量区间中确定所述多个不同的目标中子通量区间。
3.根据权利要求2所述的方法，其特征在于，所述根据各所述初始测试数据，从各所述初始中子通量区间中确定所述多个不同的目标中子通量区间，包括：
对各所述初始测试数据进行分析，确定各所述初始测试数据对应的质量量化指标；
根据各所述质量量化指标从各所述初始测试数据中确定各目标测试数据；
将各所述目标测试数据对应的初始中子通量区间确定为各所述目标中子通量区间。
4.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述性能参数包括所述待测设备的敏感度、所述待测设备的耐受度以及所述待测设备的使用寿命中的至少一个。
5.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述方法还包括：
确定不同的待测设备对应的性能参数；
根据各所述待测设备对应的性能参数，从各所述待测设备中确定目标待测设备；所述目标待测设备与预设场景相匹配。
6.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述待测设备中包括多个待测器件，不同的所述待测器件具有各自匹配的多个不同的目标中子通量区间。
7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述控制发射装置按照各所述目标中子通量区间多次重复向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备在各所述目标中子通量区间辐照下对应的测试数据，包括：
控制发射装置按照各所述待测器件匹配的多个目标中子通量区间多次重复向相应的所述待测器件发射中子束流，获得各所述待测器件对应的子测试数据；各所述待测器件的子测试数据为所述待测器件在匹配的多个目标中子通量区间辐照下获得的数据；
根据各所述子测试数据确定所述测试数据。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述根据各所述子测试数据确定所述测试数据，包括：
控制发射装置按照所述待测设备整体匹配的多个目标中子通量区间多次重复向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备整体对应的整体测试数据；
根据各所述子测试数据和所述整体测试数据确定所述测试数据。
9.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述控制发射装置按照各所述目标中子通量区间多次重复向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备在各所述目标中子通量区间辐照下对应的测试数据，包括：
在所述待测设备动态工作过程中，控制发射装置按照各所述目标中子通量区间多次重复向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备对应的动态测试数据；
在所述待测设备静态工作过程中，控制发射装置按照各所述目标中子通量区间多次重复向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备对应的静态测试数据；
根据所述动态测试数据和所述静态测试数据确定所述测试数据。
10.根据权利要求1-3任一项所述的方法，其特征在于，所述待测设备中包括纠错码模块，所述纠错码模块用于减小所述待测设备的粒子翻转效应。
11.一种电力设备性能参数预测装置，其特征在于，所述装置包括：
获取模块，用于获取与待测设备匹配的多个不同的目标中子通量区间；
控制模块，用于控制发射装置按照各所述目标中子通量区间多次重复向所述待测设备发射中子束流，获得所述待测设备在各所述目标中子通量区间辐照下对应的测试数据；
确定模块，用于对各所述测试数据进行分析，确定所述待测设备的性能参数。
12.一种计算机设备，包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，其特征在于，所述处理器执行所述计算机程序时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。
13.一种电力设备性能参数预测系统，其特征在于，所述电力设备性能参数预测系统包括发射装置、待测设备、辅助测试装置以及权利要求12所述的计算机设备，所述发射装置、所述待测设备以及所述辅助测试装置均与所述计算机设备连接；
所述计算机设备用于控制所述发射装置向所述待测设备发射中子束流；
所述计算机设备还用于控制所述辅助测试装置向所述待测设备提供外部输入；
所述计算机设备还用于执行权利要求1-10任一项所述的方法步骤。
14.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。
15.一种计算机程序产品，包括计算机程序，其特征在于，该计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至10中任一项所述的方法的步骤。
CN202310788759.XA 2023-06-30 2023-06-30 电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质 Active CN116520065B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310788759.XA CN116520065B (zh) 2023-06-30 2023-06-30 电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310788759.XA CN116520065B (zh) 2023-06-30 2023-06-30 电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116520065A true CN116520065A (zh) 2023-08-01
CN116520065B CN116520065B (zh) 2023-10-20

Family

ID=87394427

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310788759.XA Active CN116520065B (zh) 2023-06-30 2023-06-30 电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116520065B (zh)

Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108132400A (zh) * 2017-12-18 2018-06-08 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统
CN110988969A (zh) * 2019-11-07 2020-04-10 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 大气中子辐射试验方法、系统和装置
CN112660430A (zh) * 2020-12-03 2021-04-16 中国航天科工集团第二研究院 一种混合场中子辐射环境仿真系统及方法
CN112687412A (zh) * 2020-12-28 2021-04-20 兰州大学 堆芯快中子通量自给能探测器
CN114912334A (zh) * 2021-02-08 2022-08-16 中国科学院微电子研究所 单粒子翻转截面测试方法、装置、电子设备及存储介质
CN115097277A (zh) * 2022-06-20 2022-09-23 南方电网科学研究院有限责任公司 柔性直流换流阀功率单元的大气中子加速辐照试验方法
US20220392854A1 (en) * 2021-06-07 2022-12-08 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Integrated circuit with intentional radiation intolerance
US20220392848A1 (en) * 2021-06-07 2022-12-08 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Integrated circuit with programmable radiation tolerance
CN116068003A (zh) * 2022-12-19 2023-05-05 中国原子能科学研究院 辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质
CN116153380A (zh) * 2022-12-05 2023-05-23 中国南方电网有限责任公司 一种针对fpga内部ram的单粒子翻转检测方法

Patent Citations (10)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108132400A (zh) * 2017-12-18 2018-06-08 中国电子产品可靠性与环境试验研究所 大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统
CN110988969A (zh) * 2019-11-07 2020-04-10 中国电子产品可靠性与环境试验研究所（（工业和信息化部电子第五研究所）（中国赛宝实验室）） 大气中子辐射试验方法、系统和装置
CN112660430A (zh) * 2020-12-03 2021-04-16 中国航天科工集团第二研究院 一种混合场中子辐射环境仿真系统及方法
CN112687412A (zh) * 2020-12-28 2021-04-20 兰州大学 堆芯快中子通量自给能探测器
CN114912334A (zh) * 2021-02-08 2022-08-16 中国科学院微电子研究所 单粒子翻转截面测试方法、装置、电子设备及存储介质
US20220392854A1 (en) * 2021-06-07 2022-12-08 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Integrated circuit with intentional radiation intolerance
US20220392848A1 (en) * 2021-06-07 2022-12-08 Bae Systems Information And Electronic Systems Integration Inc. Integrated circuit with programmable radiation tolerance
CN115097277A (zh) * 2022-06-20 2022-09-23 南方电网科学研究院有限责任公司 柔性直流换流阀功率单元的大气中子加速辐照试验方法
CN116153380A (zh) * 2022-12-05 2023-05-23 中国南方电网有限责任公司 一种针对fpga内部ram的单粒子翻转检测方法
CN116068003A (zh) * 2022-12-19 2023-05-05 中国原子能科学研究院 辐照条件下的状态确定方法、装置、设备及介质

Non-Patent Citations (3)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Title
张振力;张振龙;韩建伟;安广朋;蔡明辉;封国强;马英起;: "临近空间大气中子诱发电子器件单粒子翻转模拟研究", 空间科学学报, vol. 31, no. 03, pages 350 - 354 *
王月玲;薛海卫;郭刚;雷志军;史淑廷;刘建成;: "一种用于评估抗辐射DSP单粒子翻转的试验方法", 微电子学与计算机, vol. 35, no. 10, pages 53 - 57 *
王鹏;张道阳;薛茜男;: "航空辐射环境SRAM存储芯片单粒子翻转实验综述", 电子技术应用, vol. 42, no. 07, pages 26 - 28 *

Also Published As

Publication number Publication date
CN116520065B (zh) 2023-10-20

Similar Documents

Publication Publication Date Title
US20140203836A1 (en) Method of characterizing the sensitivity of an electronic component subjected to irradiation conditions
CN110988969B (zh) 大气中子辐射效应测试方法和装置
US11409623B2 (en) Integrated circuit (IC) power-up testing method and device, and electronic equipment
CN108169660A (zh) 大气中子下fpga单粒子效应检测数据区分方法和系统
Beyster et al. Measurements of neutron spectra in water, polyethylene, and zirconium hydride
CN107942174B (zh) 大气中子诱发的fpga器件失效率检测方法和系统
CN108122597A (zh) 大气中子下sram单粒子效应检测数据区分方法和系统
CN116520065B (zh) 电力设备性能参数预测方法、装置、设备和存储介质
Menicucci et al. Simplified procedures for COTS TID testing: A comparison between 90 Sr and 60 Co
CN108132400A (zh) 大气中子诱发的电子器件失效率预计方法和系统
JP2004125633A (ja) 半導体デバイスの宇宙線中性子ソフトエラー耐性評価方法
CN111929559B (zh) 大气中子导致的功率器件的失效率评估方法及装置
Lackey Proton Scattering in NOvA Test Beam
KR102419347B1 (ko) 방사선 검출기 검증 장치 및 방법
CN111781219A (zh) 大气中子辐射效应测试系统以及方法
CN117743062B (zh) 一种应用于存储器芯片的抗辐照检测方法
CN117743065B (zh) 存储器芯片辐照检测方法
CN114422041B (zh) 一种核信号模拟方法、装置、终端及存储介质
CN113132521B (zh) 移动终端软故障测试方法和系统
CN111709120B (zh) α粒子有效通量的分析方法、装置及计算机存储介质
Elter Neutron monitoring based on the higher order statistics of fission chamber signals
George et al. Neutron soft errors in Xilinx FPGAs at lawrence berkeley national laboratory
Bergsma Prompt lepton production in a proton beamdump experiment
Autran et al. Real-time soft-error rate testing of semiconductor memories on the European test platform ASTEP
Bainbridge Influence of highly ionising events on the CMS APV25 readout chip

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant
CP03 Change of name, title or address

Address after: Room 86, room 406, No.1, Yichuang street, Zhongxin Guangzhou Knowledge City, Huangpu District, Guangzhou City, Guangdong Province

Patentee after: Southern Power Grid Digital Grid Research Institute Co.,Ltd.

Country or region after: China

Address before: Room 86, room 406, No.1, Yichuang street, Zhongxin Guangzhou Knowledge City, Huangpu District, Guangzhou City, Guangdong Province

Patentee before: Southern Power Grid Digital Grid Research Institute Co.,Ltd.

Country or region before: China