CN116506277B - 一种多通道智能测试分析处理系统及方法 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种多通道智能测试分析处理系统及方法，属于通信测试分析技术领域。本发明包括多通道频稳测试模块、上位机、智能分析模块以及数据预警模块；所述多通道频稳测试模块用于搭建多通道频稳测试系统，所述多通道频稳测试系统包括时钟分配单元、多路混频滤波单元、转接背板、数据处理单元以及电源，所述多通道频稳测试系统以多通道的方式实现并行测量；所述多通道频稳测试模块的输出端与所述上位机的输入端相连接；所述上位机的输出端与所述智能分析模块的输入端相连接；所述智能分析模块的输出端与所述数据预警模块的输入端相连接。

Description

一种多通道智能测试分析处理系统及方法

技术领域

本发明涉及通信测试分析技术领域，具体为一种多通道智能测试分析处理系统及方法。

背景技术

频稳测试是指对输入的频率标准信号的频率准确度、短期稳定度等进行测试。通过数据处理和计算，可得到频率日波动、开机特性和频率漂移率等参数。大多应用于相控雷达阵、无线电导航系统、自动控制系统等测试；科研院所等对频率信号质量要求较高的场合或者在计量部门和晶振生产厂家中测量短期稳定度。在现有技术中，目前采用直接数字混频方法设计的频率稳定度测量设备主要为symmtricom公司的5120系列和3120模块。其存在较大的不足，例如目前的测量设备只能测试一个通道，测试效率不高，在面对测试任务量大的工作中，需要耗费大量的时间。而一旦发展成为多通道并行，又会对数据的精确产生一定的影响，目前的多通道测量往往只能在指标要求不高的场合中有所作为。

发明内容

本发明的目的在于提供一种多通道智能测试分析处理系统及方法，以解决上述背景技术中提出的问题。

为了解决上述技术问题，本发明提供如下技术方案：一种多通道智能测试分析处理方法，该方法包括以下步骤：

S1、搭建多通道频稳测试系统，以多通道的方式实现并行测量频率稳定度，接通上位机，显示多通道频稳测试系统的输出数据，同时形成数据报表；

S2、获取多通道频稳测试系统的历史输出数据，构建数据智能分析模型，调用上位机中的数据报表，生成数据分析结果；

S3、设立数据偏离阈值，在数据分析结果不满足数据偏离阈值时，生成警示信息，输出至管理员端口；

S4、管理员端口在接收到警示信息后，智能识别数据分析结果，输出故障优先排查顺序至维修端口。

根据上述技术方案，所述构建数据智能分析模型包括：

获取多通道频稳测试系统的历史输出数据，以任一测试项A作为训练样本，训练分类器模型，进行决策，构建训练集L；

其中L＝{(x₁，y₁)、(x₂，y₂)、……、(x_N，y_N)}，x_N为输入特征向量，包括相位差、频率、稳定度；y_N为输入样本的正负标签，指通过非线性映射函数把输入特征向量从输入空间投影至高维特征空间；其中，y_N取值为+1或-1，系统设置偏差值，若存在一组多通道测量下，实际数据与测量数据差值高于偏差值的通道数量超出K，记为+1；不超出K，记为-1；其中，K根据多通道数量进行设置；

构建超平面：

wx+b＝0

其中，w代表法向量；b代表位移；

设置支持向量到达超平面的距离d，则存在一组多通道测量下，实际数据与测量数据差值高于偏差值的通道数量超出K，其对应的样本数据点到达超平面的距离应大于或等于支持向量到达超平面的距离：

在所有超平面中，寻找最优解构建最大间隔超平面：

构建松弛变量v_i，以及对松弛变量的支付代价函数：

其中，F代表惩罚参数，其大于0；其中松弛变量也大于0；

引入拉格朗日乘数α，定义拉格朗日函数，利用拉格朗日函数计算输出最优解w_j、b_j；则经由w_j、b_j形成的超平面记为最大间隔超平面：

w_jx+b_j＝0

获得分类决策函数P(x)为：

其中，T(u，x_i)代表核函数；

调用上位机中的数据报表，计算每一组多通道数据与最大间隔超平面之间的距离，距离均取绝对值，对所有距离进行求和，生成数据分析结果。

在上述技术方案中，通过利用历史测试数据，对离散的数据点进行分类处理，设置+1与-1两个区域，以通道不符合数量作为分类依据，实现数据点在测量偏差上的分类，通过支持向量定位最大间隔超平面，说明在当前情况下基于所有历史数据，能够找到一个最优的分类平面，这是调用相关的实时数据报表，每一份数据报表存在多通道下的多项数据，基于每一项数据通过决策函数输出其与最优的分类平面(即最大间隔超平面)之间的距离关系，从而反映出当前测量下数据偏离的程度，以距离求和作为最终的判断方式，求和越大，代表偏离的数据能力越高，最后再通过距离之间的最值情况判断距离数据之间的趋势变化，若存在测量偏差，则包含软硬件原因以及数据原因，若为软硬件原因，则一组多通道数据中会同时出现多个通道偏差，且数据之间偏差分别不会较为悬殊；若为数据原因，则一组多通道数据会出现较为相差悬殊的数据列表，此时可考虑为数据读取或者输出部分存在问题。

根据上述技术方案，所述输出故障优先排查顺序包括：

设立数据偏离阈值，在数据分析结果不满足数据偏离阈值时，生成警示信息，输出至管理员端口；

管理员端口在接收到警示信息后，智能识别数据分析结果，调用每一组多通道数据与最大间隔超平面之间的距离；

取所有距离的绝对值进行最值计算，若最值计算结果超出系统设置的最值计算阈值，则优先排查数据报表；若最值计算结果未超出系统设置的最值计算阈值，则优先排查多通道频稳测试系统的软硬件数据。

根据上述技术方案，该系统包括多通道频稳测试模块、上位机、智能分析模块以及数据预警模块；

所述多通道频稳测试模块用于搭建多通道频稳测试系统，所述多通道频稳测试系统包括时钟分配单元、多路混频滤波单元、转接背板、数据处理单元以及电源，所述多通道频稳测试系统以多通道的方式实现并行测量；所述上位机用于接收并显示多通道频稳测试模块的输出数据，同时形成数据报表；所述智能分析模块用于调用上位机中的数据报表，构建数据智能分析模型，生成数据分析结果；所述数据预警模块用于根据数据分析结果计算数据偏离值，在数据偏离值不满足阈值时，发出预警信息至管理员端口；

所述多通道频稳测试模块的输出端与所述上位机的输入端相连接；所述上位机的输出端与所述智能分析模块的输入端相连接；所述智能分析模块的输出端与所述数据预警模块的输入端相连接。

根据上述技术方案，所述时钟分配单元用于为多路混频滤波单元提供AD采样及滤波时钟，利用内部的9.7MHz高稳晶振提供高稳定度、低相噪时钟源，通过10倍频器倍频到97MHz，再通过分配放大电路输出，输出时钟频率为97MHz；

所述多路混频滤波单元用于将输入信号进行数字化采样、混频、抽取、滤波以及计算角度，所述多路混频滤波单元包括INPUT端、自动增益控制电路AGC、功分器以及FPGA；所述INPUT端用于输入被测正弦信号，设置频率范围1MHz—30MHz，幅度3—+17dBm，最大直流偏置±5V，所述被测正弦信号先去直流再经过自动增益控制电路AGC调整幅度至固定值，所述固定值与AD最大输入幅度匹配，调整后通过功分器分成3路，其中两路分别送至两片ADC进行采样，另一路送至FPGA，所述FPGA用于完成NCO，通过双通道混频器、滤波器以及反三角函数转换为计算角度，发送至数据处理单元；

所述转接背板包含差分时钟接口、时钟芯片、供电接口、混频板与背板间的插卡式连接器，用于向各单元供电、数据转接以及提供差分时钟，所述差分时钟接口将时钟分配单元送来的97MHz时钟引入转接背板，在转接背板上通过时钟芯片1分6路分配至各插槽，转接背板通过SPI总线将信号从单个混频板直接连接到数据处理单元；

所述数据处理单元用于接收混频板数据并解析、进行数字信号处理运算以及发送结果给上位机，所述数字信号处理运算还包括的多通道控制器，能够实现控制多通道之间任意选择进行互相关运算，多通道之间单独开始或停止测试；

所述数据处理单元包括双ARM平台，FPGA通过自定义类SPI接口与前端混频板通信，接收完数据并进行解析，求减后得到差值送入双ARM平台进行运算，所述双ARM平台包括ARM运算单元、ARM网口单元；ARM运算单元通过SPI总线从FPGA读取求减后的角度值，进行运算得到相差、稳定度以及频率值的结果，所述ARM网口单元通过千兆网口发送给上位机；

所述电源用于进行电源分配转换，提供不同的电源输出至转接背板，电源与转接背板之间以电缆方式连接。

根据上述技术方案，所述FPGA与双ARM平台之间通过SPI总线方式传送角度值，且只从FPGA向双ARM平台单方向传送，属性信息通过串口双向传递。

根据上述技术方案，所述上位机包括液晶屏、绘图单元以及报表单元；

所述液晶屏用于显示多通道串行下每一个测试项的曲线、数据；所述每一个测试项包括相位差、频率、稳定度；所述绘图单元用于根据测试项的曲线、数据智能绘图；所述报表单元用于根据多通道频稳测试模块的输出数据，形成数据报表。

根据上述技术方案，所述智能分析模块包括调用单元和数据智能分析单元；

所述调用单元用于调用上位机中的数据报表；所述数据智能分析单元用于构建数据智能分析模型，生成数据分析结果；

所述调用单元的输出端与所述数据智能分析单元的输入端相连接。

根据上述技术方案，所述数据预警模块包括结果计算单元和预警单元；

所述结果计算单元用于根据数据分析结果计算数据偏离值；所述预警单元用于设立阈值，在数据偏离值不满足阈值时，发出预警信息至管理员端口；

所述结果计算单元的输出端与所述预警单元的输入端相连接。

与现有技术相比，本发明所达到的有益效果是：本发明将领域内常用的多通道串行测量改为多通道并行测量，使用FPGA取代5216芯片来完成下变频滤波任务，优化改善算法进一步提高指标，并实时并行显示测量结果提高测试效率。同时对测试数据进行进一步的校准数据分析，在排查故障方面提供优先的解决方法，进一步提高数据的准确程度，有利于进入高指标要求场合，提高测试仪器的使用场景范围，实现测量数据的智能测试分析处理。

附图说明

附图用来提供对本发明的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明，并不构成对本发明的限制。

在附图中：

图1是本发明一种多通道智能测试分析处理系统及方法的流程示意图；

图2是本发明一种多通道智能测试分析处理系统的FPGA与ARM连接示意图。

具体实施方式

下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1-图2，在本实施例一中，提供一种多通道智能测试分析处理方法，该方法包括搭建多通道频稳测试系统，以多通道的方式实现并行测量频率稳定度，接通上位机，显示多通道频稳测试系统的输出数据，同时形成数据报表；

获取多通道频稳测试系统的历史输出数据，构建数据智能分析模型，调用上位机中的数据报表，生成数据分析结果；

所述构建数据智能分析模型包括：

获取多通道频稳测试系统的历史输出数据，以任一测试项A作为训练样本，训练分类器模型，进行决策，构建训练集L；

其中L＝{(x₁，y₁)、(x₂，y₂)、……、(x_N，y_N)}，x_N为输入特征向量，包括相位差、频率、稳定度；y_N为输入样本的正负标签，指通过非线性映射函数把输入特征向量从输入空间投影至高维特征空间；其中，y_N取值为+1或-1，系统设置偏差值，若存在一组多通道测量下，实际数据与测量数据差值高于偏差值的通道数量超出K，记为+1；不超出K，记为-1；其中，K根据多通道数量进行设置；

构建超平面：

wx+b＝0

其中，w代表法向量；b代表位移；

设置支持向量到达超平面的距离d，则存在一组多通道测量下，实际数据与测量数据差值高于偏差值的通道数量超出K，其对应的样本数据点到达超平面的距离应大于或等于支持向量到达超平面的距离：

在所有超平面中，寻找最优解构建最大间隔超平面：

构建松弛变量v_i，以及对松弛变量的支付代价函数：

其中，F代表惩罚参数，其大于0；其中松弛变量也大于0；

在计算距离过程中，需要对系数进行放缩处理，借助支持向量机数学算法，可知约束条件为：s.t.y_i(w*x_i+b)≥1 i＝1,2,3，…，N；

此时对任一数据点(x_i，y_i)引入松弛变量v_i≥0；

即新的约束条件为：

y_i(w*x_i+b)≥1-v_i

对每个松弛变量ε_i，支付一个代价，从而将目标函数转为支付代价函数

引入拉格朗日乘数α，定义拉格朗日函数：

其中，拉格朗日乘数α取(α₁，α₂，…，α_N)^T；

利用拉格朗日函数计算输出最优解w_j、b_j；则经由w_j、b_j形成的超平面记为最大间隔超平面：

w_jx+b_j＝0

其中，核函数取高斯核函数，获得分类决策函数P(x)为：

调用上位机中的数据报表，计算每一组多通道数据与最大间隔超平面之间的距离，距离均取绝对值，对所有距离进行求和，生成数据分析结果。

所述输出故障优先排查顺序包括：

设立数据偏离阈值，在数据分析结果不满足数据偏离阈值时，生成警示信息，输出至管理员端口；

管理员端口在接收到警示信息后，智能识别数据分析结果，调用每一组多通道数据与最大间隔超平面之间的距离；

取所有距离的绝对值进行最值计算，若最值计算结果超出系统设置的最值计算阈值，则优先排查数据报表；若最值计算结果未超出系统设置的最值计算阈值，则优先排查多通道频稳测试系统的软硬件数据。

在本实施例二中，提供一种系统，该系统包括多通道频稳测试模块、上位机、智能分析模块以及数据预警模块；

所述多通道频稳测试模块用于搭建多通道频稳测试系统，所述多通道频稳测试系统包括时钟分配单元、多路混频滤波单元、转接背板、数据处理单元以及电源，所述多通道频稳测试系统以多通道的方式实现并行测量；所述上位机用于接收并显示多通道频稳测试模块的输出数据，同时形成数据报表；所述智能分析模块用于调用上位机中的数据报表，构建数据智能分析模型，生成数据分析结果；所述数据预警模块用于根据数据分析结果计算数据偏离值，在数据偏离值不满足阈值时，发出预警信息至管理员端口；

所述多通道频稳测试模块的输出端与所述上位机的输入端相连接；所述上位机的输出端与所述智能分析模块的输入端相连接；所述智能分析模块的输出端与所述数据预警模块的输入端相连接。

所述时钟分配单元用于为多路混频滤波单元提供AD采样及滤波时钟，利用内部的9.7MHz高稳晶振提供高稳定度、低相噪时钟源，通过10倍频器倍频到97MHz，再通过分配放大电路输出，输出时钟频率为97MHz；

所述多路混频滤波单元用于将输入信号进行数字化采样、混频、抽取、滤波以及计算角度，所述多路混频滤波单元包括INPUT端、自动增益控制电路AGC、功分器以及FPGA；所述INPUT端用于输入被测正弦信号，设置频率范围1MHz—30MHz，幅度3—+17dBm，最大直流偏置±5V，所述被测正弦信号先去直流再经过自动增益控制电路AGC调整幅度至固定值，所述固定值与AD最大输入幅度匹配，调整后通过功分器分成3路，其中两路分别送至两片ADC进行采样，另一路送至FPGA，所述FPGA用于完成NCO，通过双通道混频器、滤波器以及反三角函数转换为计算角度，发送至数据处理单元；

所述转接背板包含差分时钟接口、时钟芯片、供电接口、混频板与背板间的插卡式连接器，用于向各单元供电、数据转接以及提供差分时钟，所述差分时钟接口将时钟分配单元送来的97MHz时钟引入转接背板，在转接背板上通过时钟芯片1分6路分配至各插槽，转接背板通过SPI总线将信号从单个混频板直接连接到数据处理单元；

所述数据处理单元用于接收混频板数据并解析、进行数字信号处理运算以及发送结果给上位机，所述数字信号处理运算还包括的多通道控制器，能够实现控制多通道之间任意选择进行互相关运算，多通道之间单独开始或停止测试；

所述数据处理单元包括双ARM平台，FPGA通过自定义类SPI接口与前端混频板通信，接收完数据并进行解析，求减后得到差值送入双ARM平台进行运算，所述双ARM平台包括ARM运算单元、ARM网口单元；ARM运算单元通过SPI总线从FPGA读取求减后的角度值，进行运算得到相差、稳定度以及频率值的结果，所述ARM网口单元通过千兆网口发送给上位机；

所述电源用于进行电源分配转换，提供不同的电源输出至转接背板，电源与转接背板之间以电缆方式连接。

所述FPGA与双ARM平台之间通过SPI总线方式传送角度值，且只从FPGA向双ARM平台单方向传送，属性信息通过串口双向传递。

所述上位机包括液晶屏、绘图单元以及报表单元；

所述液晶屏用于显示多通道串行下每一个测试项的曲线、数据；所述每一个测试项包括相位差、频率、稳定度；所述绘图单元用于根据测试项的曲线、数据智能绘图；所述报表单元用于根据多通道频稳测试模块的输出数据，形成数据报表。

所述智能分析模块包括调用单元和数据智能分析单元；

所述调用单元用于调用上位机中的数据报表；所述数据智能分析单元用于构建数据智能分析模型，生成数据分析结果；

所述调用单元的输出端与所述数据智能分析单元的输入端相连接。

所述数据预警模块包括结果计算单元和预警单元；

所述结果计算单元用于根据数据分析结果计算数据偏离值；所述预警单元用于设立阈值，在数据偏离值不满足阈值时，发出预警信息至管理员端口；

所述结果计算单元的输出端与所述预警单元的输入端相连接。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。

最后应说明的是：以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，对于本领域的技术人员来说，其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (8)

1.一种多通道智能测试分析处理方法，其特征在于：该方法包括以下步骤：

S1、搭建多通道频稳测试系统，以多通道的方式实现并行测量频率稳定度，接通上位机，显示多通道频稳测试系统的输出数据，同时形成数据报表；

S2、获取多通道频稳测试系统的历史输出数据，构建数据智能分析模型，调用上位机中的数据报表，生成数据分析结果；

S3、设立数据偏离阈值，在数据分析结果不满足数据偏离阈值时，生成警示信息，输出至管理员端口；

S4、管理员端口在接收到警示信息后，智能识别数据分析结果，输出故障优先排查顺序至维修端口；

所述构建数据智能分析模型包括：

获取多通道频稳测试系统的历史输出数据，以任一测试项A作为训练样本，训练分类器模型，进行决策，构建训练集L；

其中L＝{(x₁，y₁)、(x₂，y₂)、……、(x_N，y_N)}，x_N为输入特征向量，包括相位差、频率、稳定度；y_N为输入样本的正负标签，指通过非线性映射函数把输入特征向量从输入空间投影至高维特征空间；其中，y_N取值为+1或-1，系统设置偏差值，若存在一组多通道测量下，实际数据与测量数据差值高于偏差值的通道数量超出K，记为+1；不超出K，记为-1；其中，K根据多通道数量进行设置；

构建超平面：

wx+b＝0

其中，w代表法向量；b代表位移；

设置支持向量到达超平面的距离d，则存在一组多通道测量下，实际数据与测量数据差值高于偏差值的通道数量超出K，其对应的样本数据点到达超平面的距离应大于或等于支持向量到达超平面的距离：

在所有超平面中，寻找最优解构建最大间隔超平面：

构建松弛变量v_i，以及对松弛变量的支付代价函数：

其中，F代表惩罚参数，其大于0；其中松弛变量也大于0；

引入拉格朗日乘数α，定义拉格朗日函数，利用拉格朗日函数计算输出最优解w_j、b_j；则经由w_j、b_j形成的超平面记为最大间隔超平面：

w_jx+b_j＝0

获得分类决策函数P(x)为：

其中，T(u，x_i)代表核函数；

调用上位机中的数据报表，计算每一组多通道数据与最大间隔超平面之间的距离，距离均取绝对值，对所有距离进行求和，生成数据分析结果。

2.根据权利要求1所述的一种多通道智能测试分析处理方法，其特征在于：所述输出故障优先排查顺序包括：

设立数据偏离阈值，在数据分析结果不满足数据偏离阈值时，生成警示信息，输出至管理员端口；

管理员端口在接收到警示信息后，智能识别数据分析结果，调用每一组多通道数据与最大间隔超平面之间的距离；

取所有距离的绝对值进行最值计算，若最值计算结果超出系统设置的最值计算阈值，则优先排查数据报表；若最值计算结果未超出系统设置的最值计算阈值，则优先排查多通道频稳测试系统的软硬件数据。

3.应用权利要求1所述的一种多通道智能测试分析处理方法的多通道智能测试分析处理系统，其特征在于：该系统包括多通道频稳测试模块、上位机、智能分析模块以及数据预警模块；

所述多通道频稳测试模块用于搭建多通道频稳测试系统，所述多通道频稳测试系统包括时钟分配单元、多路混频滤波单元、转接背板、数据处理单元以及电源，所述多通道频稳测试系统以多通道的方式实现并行测量；所述上位机用于接收并显示多通道频稳测试模块的输出数据，同时形成数据报表；所述智能分析模块用于调用上位机中的数据报表，构建数据智能分析模型，生成数据分析结果；所述数据预警模块用于根据数据分析结果计算数据偏离值，在数据偏离值不满足阈值时，发出预警信息至管理员端口；

所述多通道频稳测试模块的输出端与所述上位机的输入端相连接；所述上位机的输出端与所述智能分析模块的输入端相连接；所述智能分析模块的输出端与所述数据预警模块的输入端相连接。

4.根据权利要求3所述的多通道智能测试分析处理系统，其特征在于：所述时钟分配单元用于为多路混频滤波单元提供AD采样及滤波时钟，利用内部的9.7MHz高稳晶振提供高稳定度、低相噪时钟源，通过10倍频器倍频到97MHz，再通过分配放大电路输出，输出时钟频率为97MHz；

所述多路混频滤波单元用于将输入信号进行数字化采样、混频、抽取、滤波以及计算角度，所述多路混频滤波单元包括INPUT端、自动增益控制电路AGC、功分器以及FPGA；所述INPUT端用于输入被测正弦信号，设置频率范围1MHz—30MHz，幅度3—+17dBm，最大直流偏置±5V，所述被测正弦信号先去直流再经过自动增益控制电路AGC调整幅度至固定值，所述固定值与AD最大输入幅度匹配，调整后通过功分器分成3路，其中两路分别送至两片ADC进行采样，另一路送至FPGA，所述FPGA用于完成NCO，通过双通道混频器、滤波器以及反三角函数转换为计算角度，发送至数据处理单元；

所述转接背板包含差分时钟接口、时钟芯片、供电接口、混频板与背板间的插卡式连接器，用于向各单元供电、数据转接以及提供差分时钟，所述差分时钟接口将时钟分配单元送来的97MHz时钟引入转接背板，在转接背板上通过时钟芯片1分6路分配至各插槽，转接背板通过SPI总线将信号从单个混频板直接连接到数据处理单元；

所述数据处理单元用于接收混频板数据并解析、进行数字信号处理运算以及发送结果给上位机，所述数字信号处理运算还包括的多通道控制器，能够实现控制多通道之间任意选择进行互相关运算，多通道之间单独开始或停止测试；

所述数据处理单元包括双ARM平台，FPGA通过自定义类SPI接口与前端混频板通信，接收完数据并进行解析，求减后得到差值送入双ARM平台进行运算，所述双ARM平台包括ARM运算单元、ARM网口单元；ARM运算单元通过SPI总线从FPGA读取求减后的角度值，进行运算得到相差、稳定度以及频率值的结果，所述ARM网口单元通过千兆网口发送给上位机；

所述电源用于进行电源分配转换，提供不同的电源输出至转接背板，电源与转接背板之间以电缆方式连接。

5.根据权利要求4所述的多通道智能测试分析处理系统，其特征在于：所述FPGA与双ARM平台之间通过SPI总线方式传送角度值，且只从FPGA向双ARM平台单方向传送，属性信息通过串口双向传递。

6.根据权利要求3所述的多通道智能测试分析处理系统，其特征在于：所述上位机包括液晶屏、绘图单元以及报表单元；

所述液晶屏用于显示多通道串行下每一个测试项的曲线、数据；所述每一个测试项包括相位差、频率、稳定度；所述绘图单元用于根据测试项的曲线、数据智能绘图；所述报表单元用于根据多通道频稳测试模块的输出数据，形成数据报表。

7.根据权利要求3所述的多通道智能测试分析处理系统，其特征在于：所述智能分析模块包括调用单元和数据智能分析单元；

所述调用单元用于调用上位机中的数据报表；所述数据智能分析单元用于构建数据智能分析模型，生成数据分析结果；

所述调用单元的输出端与所述数据智能分析单元的输入端相连接。

8.根据权利要求3所述的多通道智能测试分析处理系统，其特征在于：所述数据预警模块包括结果计算单元和预警单元；

所述结果计算单元用于根据数据分析结果计算数据偏离值；所述预警单元用于设立阈值，在数据偏离值不满足阈值时，发出预警信息至管理员端口；

所述结果计算单元的输出端与所述预警单元的输入端相连接。