CN116482519A - 一种微集成电路的自测试管理系统 - Google Patents

Abstract

本发明公开了一种微集成电路的自测试管理系统，涉及电路测试技术领域，解决了只是单纯的对整个微集成电路进行测试，内部节点是否异常并不能快速得知，整体测试效果并不佳的技术问题，根据所对应的测试区间，对微集成电路进行电流监测分析，分析电流预警值所出现的次数以及具体时长，是否会因数值波动造成误判，以此提升微集成电路异常判定的准确度，便于外部人员及时得知微集成电路的状态；对故障信号进行接收，并根据所接收的故障信号，对微集成电路进行节点分析测试，根据节点测试结果，生成对应微集成电路的测试编码，根据测试编码匹配出现的故障原因，操作人员可通过测试编码快速及时了解对应微集成电路的状态，提升整个系统的操作实用性。

Description

一种微集成电路的自测试管理系统

技术领域

本发明属于电路测试技术领域，具体是一种微集成电路的自测试管理系统。

背景技术

集成电路是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。

专利公开号为CN85108326A的发明公开了一种自测试超大规模集成电路包括完成超大规模集成电路器件基本功能的功能块。具有内部图形发生器以便在测试控制器的控制下产生预定的图形。测试控制器响应通过接口电路从外部控制总线接收的外部信号执行预定测试程序。功能块的输出被输入到识别电路将其输出与预定的测试标准相比较。测试控制器测出识别电路的输出且如果在被处理的测试图形数据及预定的测试标准之间未能进行有效比较，则在测试程序末尾产生故障信号。

针对于微集成电路，在具体测试过程中，一般根据对应微集成电路的输出电流，来判定对应微集成电路的故障状态，但此种判定方式，并不精准，仍存在以下不足需进行改进：

1、会因电流的数值波动，造成误判，导致整体的故障判定结果不准确；

2、只是单纯的对整个微集成电路进行测试，内部节点是否异常并不能快速得知，整体测试效果并不佳。

发明内容

本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一；为此，本发明提出了一种微集成电路的自测试管理系统，用于解决只是单纯的对整个微集成电路进行测试，内部节点是否异常并不能快速得知，整体测试效果并不佳的技术问题。

为实现上述目的，根据本发明的第一方面的实施例提出一种微集成电路的自测试管理系统，包括自测试端、自测试管理中心以及显示终端；

所述自测试管理中心包括测试参数分析单元、存储单元、判定单元、区间参数分析单元、异常区间确认单元、节点分析单元以及信号生成单元；

所述自测试端，用于对微集成电路进行自测试处理，向微集成电路内输入最佳的测试电压，并对测试所得的电流参数传输至自测试管理中心内；

所述测试参数分析单元，对自测试端所产生的电流参数进行接收，并根据所接收的电流参数，对微集成电路是否正常进行分析并生成异常信号，并将分析参数传输至判定单元和存储单元内；

所述区间参数分析单元，根据接收到的异常信号，对微集成电路进行再测试处理，对测试的电压区间进行确认，并分析此电压区间内，对应集成电路所产生的电流参数，并对此类电流参数进行分析，确定微集成电路所处的异常状态；

所述异常区间确认单元，对异常区间分析信号进行接收，并根据所对应的测试区间，对微集成电路进行电流监测分析，在指定周期内，分析电流预警值所出现的次数以及具体时长，来判定是否异常；

所述节点分析单元，对故障信号进行接收，并根据所接收的故障信号，对微集成电路进行节点分析测试，根据节点测试结果，生成对应微集成电路的测试编码，并根据测试编码匹配出现的故障原因。

优选的，所述测试参数分析单元，对微集成电路是否正常进行分析的具体方式为：

限定单组监测周期T1，其中T1为预设值，对此监测周期T1内，对微集成电路所产生的电流参数进行接收，并根据电流参数的最大值以及最小值，确定此电流参数的电流区间，并将所确定的电流区间传输至判定单元内；

所述判定单元，对所确定的电流区间进行接收，并根据所接收的电流区间对微集成电路进行异常判定，并生成异常信号，传输至区间参数分析单元内，其中进行判定的具体方式为：

从存储单元内获取预设区间，其中预设区间的两端最值均为预设值，其具体取值均由外部人员进行拟定；

分析电流区间是否属于预设区间内，当电流区间∈预设区间时，生成正常信号，代表对应的微集成电路处于正常运行状态，当电流区间∉预设区间时，生成异常信号，并将所产生的异常信号传输至区间参数分析单元内。

优选的，所述区间参数分析单元，对微集成电路进行再测试处理的具体方式为：

限定三组测试区间，其中三组测试区间分别为（0，X1]，（X1，X2]以及（X2，X3]，其中X1、X2以及X3均为预设值，其中X3为微集成电路所能承受的最大电压值；

对自测试端执行三组测试区间过程中所产生的三组电流参数进行采集，并生成三组对应的电流参数区间，其中三组电流参数区间分别为（0，L1]，（L1，L2]以及（L2，L3]；

根据预设的微集成电路的电路值，获取对应三组测试区间所对应的最佳电流区间，依次将三组电流参数区间与最佳电流区间进行比对，当三组电流参数区间均不属于最佳电流区间时，生成故障信号，并将故障信号传输至节点分析单元内；

当三组电流参数区间其中有两组或一组属于最佳电流区间时，则生成异常区间分析信号，并将对应的测试区间和异常区间分析信号传输至异常区间确认单元内；

当三组电流参数区间均属于最佳电流区间时，生成正常信号，代表对应的微集成电路处于正常运行状态。

优选的，所述异常区间确认单元，对微集成电路进行电流监测分析的具体方式为：

限定监测周期T2，其中T2为预设值，在此监测周期T2内，对测试区间内所出现的电流参数实时监测，并将实时监测的电流参数标定为DL_i，其中i代表不同的时间段，时间段单位为秒；

将电流参数DL_i与预设参数Y1进行比对，其中预设参数Y1为预设值，当DL_i≤Y1时，不进行任何处理，反之，将对应的电流参数标记为预警参数；

获取预警参数所出现的次数标记为CS，并将预警参数所出现的具体时长标记为SC；

采用得到比对参数BD，其中C1以及C2均为预设的固定系数因子；

将比对参数BD与预设参数Y2进行比对，其中预设参数Y2为预设值，当BD≤Y2时，通过信号生成单元生成正常信号，并将正常信号传输至显示终端内进行展示，反之，将对应的微集成电路标定为异常集成电路，通过信号生成单元生成异常信号，并将异常信号传输至显示终端内进行展示，供外部人员进行查看。

优选的，所述节点分析单元，对微集成电路进行节点分析测试的具体方式为：

对微集成电路内部若干个节点进行依次测试，在测试节点处输入指定的测试电压，并分析是否存在测试电流，若指定节点处，存在测试电流，则将对应的节点标定为“1”，若不存在测试电流，则将对应的节点标记为“0”；

按照对应的节点顺序以及根据节点标定值1以及0，生成属于对应微集成电路的测试编码；

分析测试编码内是否连续出现节点标定值“0”，若连续出现两组节点标定值“0”，则代表对应的微集成电路内出现连续的节点异常，则通过信号生成单元生成温度异常信号，若并未连续出现节点标定值“0”，则代表对应的微集成电路内出现断点的节点异常或只出现某处节点的节点异常，故通过信号生成单元生成节点异常信号或线路异常信号；

将所生成的测试编码以及对应的信号传输至显示终端内进行展示，供外部人员进行查看。

与现有技术相比，本发明的有益效果是：根据异常信号，对微集成电路进行再测试处理，对测试的电压区间进行确认，并分析此电压区间内，对应集成电路所产生的电流参数，并对此类电流参数进行分析，确定微集成电路所处的异常状态，将对应的微集成电路判定为异常电路或故障电路；

根据异常电路，对异常区间分析信号进行接收，并根据所对应的测试区间，对微集成电路进行电流监测分析，在指定周期内，分析电流预警值所出现的次数以及具体时长，来判定是否异常，是否会因数值波动造成误判，以此提升微集成电路异常判定的准确度，便于外部人员及时得知微集成电路的状态；

再对故障信号进行接收，并根据所接收的故障信号，对微集成电路进行节点分析测试，根据节点测试结果，生成对应微集成电路的测试编码，并根据测试编码匹配出现的故障原因，操作人员可通过测试编码快速及时了解对应微集成电路的状态，提升整个系统的操作实用性。

附图说明

图1为本发明原理框架示意图。

具体实施方式

下面将结合实施例对本发明的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例，都属于本发明保护的范围。

请参阅图1，本申请提供了一种微集成电路的自测试管理系统，包括自测试端、自测试管理中心以及显示终端；

所述自测试端与自测试管理中心之间双向连接，所述自测试管理中心与显示终端输入端电性连接；

所述自测试管理中心包括测试参数分析单元、存储单元、判定单元、区间参数分析单元、异常区间确认单元、节点分析单元以及信号生成单元，所述测试参数分析单元与存储单元之间双向连接，所述测试参数分析单元以及存储单元均与判定单元输入端电性连接，所述判定单元与区间参数分析单元输入端电性连接，所述区间参数分析单元与节点分析单元以及异常区间确认单元输入端电性连接，所述异常区间确认单元与信号生成单元输入端电性连接；

所述自测试端，用于对微集成电路进行自测试处理，向微集成电路内输入最佳的测试电压，并对测试所得的电流参数传输至自测试管理中心内；

所述自测试管理中心内部的测试参数分析单元，对自测试端所产生的电流参数进行接收，并根据所接收的电流参数，对微集成电路是否正常进行分析，并将分析参数传输至判定单元和存储单元内，其中进行分析的具体方式为：

限定单组监测周期T1，其中T1为预设值，一般取值10min，对此监测周期T1内，对微集成电路所产生的电流参数进行接收，并根据电流参数的最大值以及最小值，确定此电流参数的电流区间，并将所确定的电流区间传输至判定单元内。

所述判定单元，对所确定的电流区间进行接收，并根据所接收的电流区间对微集成电路进行异常判定，并生成异常信号，传输至区间参数分析单元内，其中进行判定的具体方式为：

从存储单元内获取预设区间，其中预设区间的两端最值均为预设值，其具体取值均由外部人员进行拟定；

分析电流区间是否属于预设区间内，当电流区间∈预设区间时，生成正常信号，代表对应的微集成电路处于正常运行状态，当电流区间∉预设区间时，生成异常信号，并将所产生的异常信号传输至区间参数分析单元内。

结合实际应用场景分析，其中所接收的电流区间为50-150，但预设的电流区间为70-170，故，此时的电流区间不属于对应的预设区间，故生成异常信号。

所述区间参数分析单元，根据接收到的异常信号，对微集成电路进行再测试处理，对测试的电压区间进行确认，并分析此电压区间内，对应集成电路所产生的电流参数，并对此类电流参数进行分析，确定微集成电路所处的异常状态，其中，进行再测试处理的具体方式为：

限定三组测试区间，其中三组测试区间分别为（0，X1]，（X1，X2]以及（X2，X3]，其中X1、X2以及X3均为预设值，其具体取值均由外部人员根据经验拟定，其中X3为微集成电路所能承受的最大电压值；

对自测试端执行三组测试区间过程中所产生的三组电流参数进行采集，并生成三组对应的电流参数区间，其中三组电流参数区间分别为（0，L1]，（L1，L2]以及（L2，L3]，其中测试区间（0，X1]所对应的电流参数区间为（0，L1]，测试区间（X1，X2]所对应的电流参数区间为（L1，L2]，测试区间（X2，X3]所对应的电流参数区间为（L2，L3]；

根据预设的微集成电路的电路值，获取对应三组测试区间所对应的最佳电流区间，依次将三组电流参数区间与最佳电流区间进行比对，当三组电流参数区间均不属于最佳电流区间时，生成故障信号，并将故障信号传输至节点分析单元内；

当三组电流参数区间其中有两组或一组属于最佳电流区间时，则生成异常区间分析信号，并将对应的测试区间和异常区间分析信号传输至异常区间确认单元内；

当三组电流参数区间均属于最佳电流区间时，生成正常信号，代表对应的微集成电路处于正常运行状态。

结合实际应用场景分析，三组测试区间分别为：（0，15]，（15，30]以及（30，45]；

其中测试区间（0，15]所对应的电流参数区间为（0，5]，（5，9.8]以及（9.8，15.2]；

其中，三组最佳的电流区间分别为（0，5]，（5，10]以及（10，15]：

其中，两组测试区间则不属于对应的电流区间，则生成异常区间分析信号，并将所生成的异常区间分析信号传输至对应单元内。

所述异常区间确认单元，对异常区间分析信号进行接收，并根据所对应的测试区间，对微集成电路进行电流监测分析，在指定周期内，分析电流预警值所出现的次数以及具体时长，来判定是否异常，其中进行电流监测分析的具体方式为：

限定监测周期T2，其中T2为预设值，一般取值5min，在此监测周期T2内，对测试区间内所出现的电流参数实时监测，并将实时监测的电流参数标定为DL_i，其中i代表不同的时间段，时间段单位为秒；

将电流参数DL_i与预设参数Y1进行比对，其中预设参数Y1为预设值，其具体取值由操作人员根据经验拟定，当DL_i≤Y1时，不进行任何处理，反之，将对应的电流参数标记为预警参数；

获取预警参数所出现的次数标记为CS，并将预警参数所出现的具体时长标记为SC；

采用得到比对参数BD，其中C1以及C2均为预设的固定系数因子，其具体取值由操作人员自行拟定；

将比对参数BD与预设参数Y2进行比对，其中预设参数Y2为预设值，其具体取值由操作人员根据经验拟定，当BD≤Y2时，通过信号生成单元生成正常信号，并将正常信号传输至显示终端内进行展示，反之，将对应的微集成电路标定为异常集成电路，通过信号生成单元生成异常信号，并将异常信号传输至显示终端内进行展示，供外部人员进行查看。

所述节点分析单元，对故障信号进行接收，并根据所接收的故障信号，对微集成电路进行节点分析测试，根据节点测试结果，生成对应微集成电路的测试编码，并根据测试编码匹配出现的故障原因，其中，进行分析测试的具体方式为：

对微集成电路内部若干个节点进行依次测试，在测试节点处输入指定的测试电压，并分析是否存在测试电流，若指定节点处，存在测试电流，则将对应的节点标定为“1”，若不存在测试电流，则将对应的节点标记为“0”；

按照对应的节点顺序以及根据节点标定值1以及0，生成属于对应微集成电路的测试编码；

分析测试编码内是否连续出现节点标定值“0”，若连续出现两组节点标定值“0”，则代表对应的微集成电路内出现连续的节点异常，则通过信号生成单元生成温度异常信号，若并未连续出现节点标定值“0”，则代表对应的微集成电路内出现断点的节点异常或只出现某处节点的节点异常，故通过信号生成单元生成节点异常信号或线路异常信号；

将所生成的测试编码以及对应的信号传输至显示终端内进行展示，供外部人员进行查看。

结合实际应用场景分析，在某组微集成电路内，存在五组测试节点，每组测试节点的测试结果判断依次为：正常、故障、故障、正常、故障；

故，便可生成对应的测试编码，且测试编码的表现形式则为：1、0、0、1、0；

将所生成的测试编码进行分析，因内部出现了连续的两组节点标定值“0”，代表此微集成电路内出现连续的节点异常，则通过信号生成单元生成温度异常信号，供外部人员进行查看，作出应对措施。

上述公式中的部分数据均是去除量纲取其数值计算，公式是由采集的大量数据经过软件模拟得到最接近真实情况的一个公式；公式中的预设参数和预设阈值由本领域的技术人员根据实际情况设定或者通过大量数据模拟获得。

本发明的工作原理：首先对微集成电路进行自测试处理，并根据所接收的电流参数，对微集成电路是否正常进行分析，对所确定的电流区间进行接收，并根据所接收的电流区间对微集成电路进行异常判定；

后续再根据异常信号，对微集成电路进行再测试处理，对测试的电压区间进行确认，并分析此电压区间内，对应集成电路所产生的电流参数，并对此类电流参数进行分析，确定微集成电路所处的异常状态，将对应的微集成电路判定为异常电路或故障电路；

根据异常电路，对异常区间分析信号进行接收，并根据所对应的测试区间，对微集成电路进行电流监测分析，在指定周期内，分析电流预警值所出现的次数以及具体时长，来判定是否异常，是否会因数值波动造成误判，以此提升微集成电路异常判定的准确度，便于外部人员及时得知微集成电路的状态；

再对故障信号进行接收，并根据所接收的故障信号，对微集成电路进行节点分析测试，根据节点测试结果，生成对应微集成电路的测试编码，并根据测试编码匹配出现的故障原因，操作人员可通过测试编码快速及时了解对应微集成电路的状态，提升整个系统的操作实用性。

以上实施例仅用以说明本发明的技术方法而非限制，尽管参照较佳实施例对本发明进行了详细说明，本领域的普通技术人员应当理解，可以对本发明的技术方法进行修改或等同替换，而不脱离本发明技术方法的精神和范围。

Claims (5)

1.一种微集成电路的自测试管理系统，其特征在于，包括自测试端、自测试管理中心以及显示终端；

所述自测试管理中心包括测试参数分析单元、存储单元、判定单元、区间参数分析单元、异常区间确认单元、节点分析单元以及信号生成单元；

所述自测试端，用于对微集成电路进行自测试处理，向微集成电路内输入最佳的测试电压，并对测试所得的电流参数传输至自测试管理中心内；

所述测试参数分析单元，对自测试端所产生的电流参数进行接收，并根据所接收的电流参数，对微集成电路是否正常进行分析并生成异常信号，并将分析参数传输至判定单元和存储单元内；

所述区间参数分析单元，根据接收到的异常信号，对微集成电路进行再测试处理，对测试的电压区间进行确认，并分析此电压区间内，对应集成电路所产生的电流参数，并对此类电流参数进行分析，确定微集成电路所处的异常状态；

所述异常区间确认单元，对异常区间分析信号进行接收，并根据所对应的测试区间，对微集成电路进行电流监测分析，在指定周期内，分析电流预警值所出现的次数以及具体时长，来判定是否异常；

所述节点分析单元，对故障信号进行接收，并根据所接收的故障信号，对微集成电路进行节点分析测试，根据节点测试结果，生成对应微集成电路的测试编码，并根据测试编码匹配出现的故障原因。

2.根据权利要求1所述的一种微集成电路的自测试管理系统，其特征在于，所述测试参数分析单元，对微集成电路是否正常进行分析的具体方式为：

限定单组监测周期T1，其中T1为预设值，对此监测周期T1内，对微集成电路所产生的电流参数进行接收，并根据电流参数的最大值以及最小值，确定此电流参数的电流区间，并将所确定的电流区间传输至判定单元内；

所述判定单元，对所确定的电流区间进行接收，并根据所接收的电流区间对微集成电路进行异常判定，并生成异常信号，传输至区间参数分析单元内，其中进行判定的具体方式为：

从存储单元内获取预设区间，其中预设区间的两端最值均为预设值，其具体取值均由外部人员进行拟定；

分析电流区间是否属于预设区间内，当电流区间∈预设区间时，生成正常信号，代表对应的微集成电路处于正常运行状态，当电流区间∉预设区间时，生成异常信号，并将所产生的异常信号传输至区间参数分析单元内。

3.根据权利要求2所述的一种微集成电路的自测试管理系统，其特征在于，所述区间参数分析单元，对微集成电路进行再测试处理的具体方式为：

限定三组测试区间，其中三组测试区间分别为（0，X1]，（X1，X2]以及（X2，X3]，其中X1、X2以及X3均为预设值，其中X3为微集成电路所能承受的最大电压值；

对自测试端执行三组测试区间过程中所产生的三组电流参数进行采集，并生成三组对应的电流参数区间，其中三组电流参数区间分别为（0，L1]，（L1，L2]以及（L2，L3]；

根据预设的微集成电路的电路值，获取对应三组测试区间所对应的最佳电流区间，依次将三组电流参数区间与最佳电流区间进行比对，当三组电流参数区间均不属于最佳电流区间时，生成故障信号，并将故障信号传输至节点分析单元内；

当三组电流参数区间其中有两组或一组属于最佳电流区间时，则生成异常区间分析信号，并将对应的测试区间和异常区间分析信号传输至异常区间确认单元内；

当三组电流参数区间均属于最佳电流区间时，生成正常信号，代表对应的微集成电路处于正常运行状态。

4.根据权利要求3所述的一种微集成电路的自测试管理系统，其特征在于，所述异常区间确认单元，对微集成电路进行电流监测分析的具体方式为：

限定监测周期T2，其中T2为预设值，在此监测周期T2内，对测试区间内所出现的电流参数实时监测，并将实时监测的电流参数标定为DL_i，其中i代表不同的时间段，时间段单位为秒；

将电流参数DL_i与预设参数Y1进行比对，其中预设参数Y1为预设值，当DL_i≤Y1时，不进行任何处理，反之，将对应的电流参数标记为预警参数；

获取预警参数所出现的次数标记为CS，并将预警参数所出现的具体时长标记为SC；

采用得到比对参数BD，其中C1以及C2均为预设的固定系数因子；

将比对参数BD与预设参数Y2进行比对，其中预设参数Y2为预设值，当BD≤Y2时，通过信号生成单元生成正常信号，并将正常信号传输至显示终端内进行展示，反之，将对应的微集成电路标定为异常集成电路，通过信号生成单元生成异常信号，并将异常信号传输至显示终端内进行展示，供外部人员进行查看。

5.根据权利要求4所述的一种微集成电路的自测试管理系统，其特征在于，所述节点分析单元，对微集成电路进行节点分析测试的具体方式为：

对微集成电路内部若干个节点进行依次测试，在测试节点处输入指定的测试电压，并分析是否存在测试电流，若指定节点处，存在测试电流，则将对应的节点标定为“1”，若不存在测试电流，则将对应的节点标记为“0”；

按照对应的节点顺序以及根据节点标定值1以及0，生成属于对应微集成电路的测试编码；

分析测试编码内是否连续出现节点标定值“0”，若连续出现两组节点标定值“0”，则代表对应的微集成电路内出现连续的节点异常，则通过信号生成单元生成温度异常信号，若并未连续出现节点标定值“0”，则代表对应的微集成电路内出现断点的节点异常或只出现某处节点的节点异常，故通过信号生成单元生成节点异常信号或线路异常信号；

将所生成的测试编码以及对应的信号传输至显示终端内进行展示，供外部人员进行查看。