CN116433228B - 废旧电子产品回收方法及其回收系统 - Google Patents

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Abstract

本发明涉及废旧电子产品回收技术领域,特别涉及废旧电子产品回收方法及其回收系统。本发明通过将废旧电子产品分为可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品,这样便于对可拆卸电子产品进行进一步的分类,通过将可拆卸电子产品分为外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品,这样便于仅对外观无缺陷电子产品的内部零件参数进行检测判断,分为优良电子产品和劣质电子产品,从而针对优良电子产品和劣质电子产品分别进行再利用和粉碎的回收,通过层层分类筛选可以将废旧电子产品中进行更加细化的分类,不仅使得回收成本更加准确,而且还大大节省了人力成本。

Description

废旧电子产品回收方法及其回收系统
技术领域
本发明涉及废旧电子产品回收技术领域,特别涉及废旧电子产品回收方法及其回收系统。
背景技术
电子产品是以电能为工作基础的相关产品,主要包括:电话、电视机、影碟机(VCD、SVCD、DVD)、录像机、摄录机、收音机、收录机、组合音箱、激光唱机(CD)、电脑、移动通信产品等。
目前废旧电子产品回收方法的主要方式是人力分类,不仅难以满足大批量的回收需求,而且只能根据外观进行分类,无法对废旧电子产品的内部零器件的参数质量进行分类回收,进而会由于分类不够细化而导致回收成本不准确的问题。
发明内容
本发明的主要目的为提供废旧电子产品回收方法,旨在解决废旧电子产品的回收利用效率低和资源利用效益低的技术问题。
本发明提供了废旧电子产品回收方法,包括:
对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品;
对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品;
获取所述外观无缺陷电子产品的多个零件参数,其中,所述零件参数包括使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积;
将多个所述零件参数输入至校对模型中,得到第二检测结果;
判断所述第二检测结果是否小于预设参数;
若所述第二检测结果小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品,并对所述优良电子产品进行再利用回收;
若所述第二检测结果不小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品,则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。
作为优选,所述对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品的步骤,包括:
获取废旧电子产品的连接方式;
判断所述连接方式是整体连接还是散装连接;
若所述连接方式是整体连接,则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品;
若所述连接方式是散装连接,则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。
作为优选,所述对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果的步骤,包括:
获取可拆卸电子产品的表面图像,并对所述表面图像进行灰度化处理,得到灰度图;
提取所述灰度图的多个形状特征向量,并对所述多个形状特征向量进行加权计算,得到外观检测值,其中,计算公式为:
其中,V表示外观检测值,M表示特征向量的数目,T表示每个特征向量;
判断所述外观检测值是否超过第一预设值;
若所述外观检测值超过第一预设值,则判定可拆卸电子产品的第一检测结果为外观有缺陷电子产品;
若所述外观检测值未超过第一预设值,则判定外观无缺陷电子产品。
作为优选,所述将多个所述零件参数输入至校对模型中,得到第二检测结果的步骤,包括:
获取外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量、使用时长、磨损系数和磨损面积;
获取标准电子产品中多个零件的使用寿命、第二零件质量和总面积;
根据多个零件的使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积以及标准电子产品的使用寿命、第二零件质量和总面积计算每个零件的第二检测结果,其中,计算公式为:
其中,P表示每个零件的第二检测结果,t表示外观无缺陷电子产品中每个零件的使用时长,n表示外观无缺陷电子产品中每个零件的第一零件质量,s表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损面积,Q表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损系数,T表示标准电子产品的使用寿命,N表示标准电子产品的第二零件质量,S表示标准电子产品的总面积。
作为优选,所述获取外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量的步骤,包括:
获取多个零件的产品信息;
根据所述产品信息获取质量标准信息;
根据所述质量标准信息和产品信息对所述多个零件进行质量检测,得到第一零件质量。
作为优选,所述判断所述第二检测结果是否小于预设参数的步骤之后,还包括:
获取优良电子产品的总体数量以及每个优良电子产品的体积;
根据优良电子产品的总体数量和每个优良电子产品的体积进行排序,得到优良电子产品集合;
根据所述优良电子产品集合计算外观无缺陷电子产品的优品率。
作为优选,所述根据所述优良电子产品集合计算外观无缺陷电子产品的优品率的步骤,包括:
获取优良电子产品集合,获取劣质电子产品数量,并根据所述集合和劣质电子产品数量计算外观无缺陷电子产品的优品率,其中,计算公式为:
其中,W表示优品率,A表示优良电子产品集合,B表示劣质电子产品数量。
本发明还提供了废旧电子产品回收系统,包括:
分类模块,用于对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品;
第一检测模块,用于对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品;
获取模块,用于获取所述外观无缺陷电子产品的多个零件参数,其中,所述零件参数包括使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积;
输入模块,用于将多个所述零件参数输入至校对模型中,得到第二检测结果;
判断模块,用于判断所述第二检测结果是否小于预设参数;
若所述第二检测结果小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品,并对所述优良电子产品进行再利用回收;
若所述第二检测结果不小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品,则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。
作为优选,所述分类模块,包括:
获取单元,用于获取废旧电子产品的连接方式;
第一判定单元,用于判断所述连接方式是整体连接还是散装连接;
若所述连接方式是整体连接,则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品;
若所述连接方式是散装连接,则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。
作为优选,所述第一检测模块,包括:
第二判定单元,用于判断所述第一检测结果是否达到预设外观标准;
若所述第一检测结果达到预设外观标准,则判定废旧电子产品为外观无缺陷电子产品;
若所述第一检测结果未达到预设外观标准,则判定废旧电子产品为外观有缺陷电子产品。
本发明的有益效果为:本发明通过将废旧电子产品分为可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品,这样便于对可拆卸电子产品进行进一步的分类,通过将可拆卸电子产品分为外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品,这样便于仅对外观无缺陷电子产品的内部零件参数进行检测判断,分为优良电子产品和劣质电子产品,从而针对优良电子产品和劣质电子产品分别进行再利用和粉碎的回收,通过层层分类筛选可以将废旧电子产品中进行更加细化的分类,不仅使得回收成本更加准确,而且还大大节省了人力成本。
附图说明
图1为本实施例中的废旧电子产品回收方法流程示意图。
本发明目的的实现、功能特点及优点将结合实施例,参照附图做进一步说明。
具体实施方式
应当理解,此处所描述的具体实施例仅仅用以解释本发明,并不用于限定本发明。
如图1所示,本发明提供废旧电子产品回收方法,包括:
S1、对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品;
S2、对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品;
S3、获取所述外观无缺陷电子产品的多个零件参数,其中,所述零件参数包括使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积;
S4、将多个所述零件参数输入至校对模型中,得到第二检测结果;
S5、判断所述第二检测结果是否小于预设参数;
若所述第二检测结果小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品,并对所述优良电子产品进行再利用回收;
若所述第二检测结果不小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品,则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。
如上述步骤S1-S5所述,目前废旧电子产品回收方法的主要方式是人力分类,不仅难以满足大批量的回收需求,而且只能根据外观进行分类,无法对废旧电子产品的内部零器件的参数质量进行分类回收,本发明通过将废旧电子产品分为可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品,这样便于对可拆卸电子产品进行进一步的分类,通过将可拆卸电子产品分为外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品,这样便于仅对外观无缺陷电子产品的内部零件参数进行检测判断,分为优良电子产品和劣质电子产品,从而针对优良电子产品和劣质电子产品分别进行再利用和粉碎的回收,本方法的详细分类有助于提高回收利用率,例如,目前零件回收市场的回收方式主要是统一回收,主要是将废旧电子产品根据预设类别进行分类成家用电器和IT电子产品,进而根据家用电器和IT电子产品的价值进行回收,而本方法是将所有废旧电子产品依次根据其是否可拆卸、外观是否有缺陷以及内部零件的参数进行,且内部零件参数包括但不仅限于使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积,这里仅考虑相对最能影响废旧电子产品的回收价值的参数,因此零件参数可以根据实际需求进行选择,例如利用 X 射线荧光光谱仪等设备进行金属元素成分分析,从而确定废旧电子产品中的主要材质类型和含量等,从而可以根据分类的结果,制定不同的回收方案,包括废旧资源再利用和粉碎成原材料供工厂源头进行生产等,例如将重金属含量较高的零件进行特殊处理,将可回收的金属材质分离出来等,而对于不可回收的重金属材质,进行无害化处理,以防止废旧电子产品对环境造成污染和危害,无害化处理的方式包括但不仅限于物理处理、化学处理或热处理等,以使其变为无害物质,通过层层分类筛选可以将废旧电子产品中进行更加细化的分类,不仅使得回收成本更加准确,而且还大大节省了人力成本,使得该回收方法更加有优势。
综上,本实施例针对现有废旧电子产品回收处理方法存在的问题,提出了创新性的处理方案,其首先将废旧电子产品分为可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品,再将可拆卸电子产品分为外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品,最后通过使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积等零件参数计算得出的第一检测结果来将外观无缺陷电子产品分为优良电子产品和劣质电子产品,从而能够提高回收处理效率和回收利用率,从而达到更加环保和节能的效果,有助于保护环境,实现资源可持续利用。
在一个实施例中,所述对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品的步骤,包括:
S6、获取废旧电子产品的连接方式;
S7、判断所述连接方式是整体连接还是散装连接;
若所述连接方式是整体连接,则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品;
若所述连接方式是散装连接,则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。
如上述步骤S6-S7所述,本发明通过废旧电子产品的连接方式是整体连接还是散装连接,来将废旧电子产品分为可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品,对于不可拆卸电子产品仅需根据外观以及性能等方面进行价值评估即可估算回收成本,而对于可拆卸电子产品则需要进行进一步的细化分类,进而可以更加准确的评估回收成本。
在一个实施例中,所述对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果的步骤,包括:
S8、获取可拆卸电子产品的表面图像,并对所述表面图像进行灰度化处理,得到灰度图;
S9、提取所述灰度图的多个形状特征向量,并对所述多个形状特征向量进行加权计算,得到外观检测值,其中,计算公式为:
其中,V表示第一检测结果,M表示特征向量的数目,T表示每个特征向量;
S10、判断所述外观检测值是否超过第一预设值;
若所述外观检测值超过第一预设值,则判定可拆卸电子产品的第一检测结果为外观有缺陷电子产品;
若所述外观检测值未超过第一预设值,则判定外观无缺陷电子产品。
如上述步骤S8-S10所述,确定外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品的方式主要是根据第一检测结果,其中,第一检测结果可以是外观是否有划痕、磨损、掉漆或磕碰等等,通过获取可拆卸电子产品的多个特征向量,进而对其进行加权计算,从而可以使得计算得到的外观检测值更加客观、准确,通过外观检测值来判断电子产品是外观无缺陷电子产品还是外观有缺陷电子产品,对于外观有缺陷电子产品,由于其外观不可回收,则只需要考虑其零部件的回收价值即可,这样可以更加细化的区分可拆卸电子产品,使得回收成本更精确。
在一个实施例中,所述将多个所述零件参数输入至校对模型中,得到第二检测结果的步骤,包括:
S11、获取外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量、使用时长、磨损系数和磨损面积;
获取标准电子产品中多个零件的使用寿命、第二零件质量和总面积;
根据多个零件的使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积以及标准电子产品的使用寿命、第二零件质量和总面积计算每个零件的第二检测结果,其中,计算公式为:
其中,P表示每个零件的第二检测结果,t表示外观无缺陷电子产品中每个零件的使用时长,n表示外观无缺陷电子产品中每个零件的第一零件质量,s表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损面积,Q表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损系数,T表示标准电子产品的使用寿命,N表示标准电子产品的第二零件质量,S表示标准电子产品的总面积。
如上述步骤S11所述,通过计算外观无缺陷电子产品的使用时长与标准电子产品的使用寿命的比值、外观无缺陷电子产品的第一零件质量与标准电子产品的第二零件质量的比值以及外观无缺陷电子产品的磨损面积与标准电子产品的总面积之间的比值与磨损系数之间的乘积,这样得到的外观无缺陷电子产品的磨损程度是选取相对最能影响废旧电子产品的回收价值的参数计算得出的,从而使得计算出的磨损程度更具说服力,通过磨损程度来对外观无缺陷电子产品进行进一步的分类,即磨损程度低的回收价值越高,磨损程度高的回收价值低,这样可以便于回收人员合理的去选择回收对应产品。
在一个实施例中,所述获取外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量的步骤,包括:
S12、获取多个零件的产品信息;
S13、根据所述产品信息获取质量标准信息;
S14、根据所述质量标准信息和产品信息对所述多个零件进行质量检测,得到第一零件质量。
如上述步骤S12-S14所述,获取多个零件的产品信息和质量标准信息,并根据产品信息和质量标准信息进行检测得到的零件质量,这样获取得到的零件质量更加标准精确,从而可以提高第二检测结果的准确度,提高回收效率。
在一个实施例中,所述判断所述第二检测结果是否小于预设参数的步骤之后,还包括:
S15、获取优良电子产品的总体数量以及每个优良电子产品的体积;
S16、根据优良电子产品的总体数量和每个优良电子产品的体积进行排序,得到优良电子产品集合;
S17、根据所述优良电子产品集合计算外观无缺陷电子产品的优品率;
所述根据所述优良电子产品集合计算外观无缺陷电子产品的优品率的步骤,包括:
S18、获取优良电子产品集合,获取劣质电子产品数量,并根据所述集合和劣质电子产品数量计算外观无缺陷电子产品的优品率,其中,计算公式为:
其中,W表示优品率,A表示优良电子产品集合,B表示劣质电子产品数量。
如上述步骤S15-S18所述,本发明通过优良电子产品数量的体积从大到小进行排序得到的集合和劣质电子产品数量计算出外观无缺陷电子产品的优品率,从而可以清楚的得知该批废旧电子产品的价值,对于优品率较高的废旧电子产品,更加具有回收的价值。
本发明还提供废旧电子产品回收系统,包括:
分类模块,用于对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品;
第一检测模块,用于对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品;
获取模块,用于获取所述外观无缺陷电子产品的多个零件参数,其中,所述零件参数包括使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积;
输入模块,用于将多个所述零件参数输入至校对模型中,得到第二检测结果;
判断模块,用于判断所述第二检测结果是否小于预设参数;
若所述第二检测结果小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品,并对所述优良电子产品进行再利用回收;
若所述第二检测结果不小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品,则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。
在一个实施例中,所述分类模块,包括:
获取单元,用于获取废旧电子产品的连接方式;
第一判定单元,用于判断所述连接方式是整体连接还是散装连接;
若所述连接方式是整体连接,则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品;
若所述连接方式是散装连接,则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。
在一个实施例中,所述第一检测模块,包括:
第二判定单元,用于判断所述第一检测结果是否达到预设外观标准;
若所述第一检测结果达到预设外观标准,则判定废旧电子产品为外观无缺陷电子产品;
若所述第一检测结果未达到预设外观标准,则判定废旧电子产品为外观有缺陷电子产品。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程,是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成,所述的计算机程序可存储与一非易失性计算机可读取存储介质中,该计算机程序在执行时,可包括如上述各方法的实施例的流程。其中,本申请所提供的和实施例中所使用的对存储器、存储、数据库或其它介质的任何引用,均可包括非易失性和/或易失性存储器。非易失性存储器可以包括只读存储器(ROM)、可编程ROM(PROM)、电可编程ROM(EPROM)、电可擦除可编程ROM(EEPROM)或闪存。易失性存储器可包括随机存取存储器(RAM)或者外部高速缓冲存储器。作为说明而非局限,RAM通过多种形式可得,诸如静态RAM(SRAM)、动态RAM(DRAM)、同步DRAM(SDRAM)、双速据率SDRAM(SSRSDRAM)、增强型SDRAM(ESDRAM)、同步链路(Synchlink)DRAM(SLDRAM)、存储器总线(Rambus)直接RAM(RDRAM)、直接存储器总线动态RAM(DRDRAM)、以及存储器总线动态RAM(RDRAM)等。
需要说明的是,在本文中,术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、装置、物品或者方法不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其它要素,或者是还包括为这种过程、装置、物品或者方法所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括该要素的过程、装置、物品或者方法中还存在另外的相同要素。
以上所述仅为本发明的优选实施例,并非因此限制本发明的专利范围,凡是利用本发明说明书及附图内容所作的等效结构或等效流程变换,或直接或间接运用在其他相关的技术领域,均同理包括在本发明的专利保护范围内。

Claims (9)

1.废旧电子产品回收方法,其特征在于,包括:
对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品;
对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品;
获取所述外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量、使用时长、磨损系数和磨损面积;
获取标准电子产品中多个零件的使用寿命、第二零件质量和总面积;
根据多个零件的使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积以及标准电子产品的使用寿命、第二零件质量和总面积计算每个零件的第二检测结果,其中,计算公式为:
其中,P表示每个零件的第二检测结果,t表示外观无缺陷电子产品中每个零件的使用时长,n表示外观无缺陷电子产品中每个零件的第一零件质量,s表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损面积,Q表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损系数,T表示标准电子产品的使用寿命,N表示标准电子产品的第二零件质量,S表示标准电子产品的总面积;
判断所述第二检测结果是否小于预设参数;
若所述第二检测结果小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品,并对所述优良电子产品进行再利用回收;
若所述第二检测结果不小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品,则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。
2.根据权利要求1所述的废旧电子产品回收方法,其特征在于,所述对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品的步骤,包括:
获取废旧电子产品的连接方式;
判断所述连接方式是整体连接还是散装连接;
若所述连接方式是整体连接,则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品;
若所述连接方式是散装连接,则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。
3.根据权利要求1所述的废旧电子产品回收方法,其特征在于,所述对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果的步骤,包括:
获取可拆卸电子产品的表面图像,并对所述表面图像进行灰度化处理,得到灰度图;
提取所述灰度图的多个形状特征向量,并对所述多个形状特征向量进行加权计算,得到外观检测值,其中,计算公式为:
其中,V表示外观检测值,M表示特征向量的数目,T1、T2、、、Tn表示每个特征向量;
判断所述外观检测值是否超过第一预设值;
若所述外观检测值超过第一预设值,则判定可拆卸电子产品的第一检测结果为外观有缺陷电子产品;
若所述外观检测值未超过第一预设值,则判定外观无缺陷电子产品。
4.根据权利要求1所述的废旧电子产品回收方法,其特征在于,所述获取外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量的步骤,包括:
获取多个零件的产品信息;
根据所述产品信息获取质量标准信息;
根据所述质量标准信息和产品信息对所述多个零件进行质量检测,得到第一零件质量。
5.根据权利要求1所述的废旧电子产品回收方法,其特征在于,所述判断所述第二检测结果是否小于预设参数的步骤之后,还包括:
获取优良电子产品的总体数量以及每个优良电子产品的体积;
根据优良电子产品的总体数量和每个优良电子产品的体积进行排序,得到优良电子产品集合;
根据所述优良电子产品集合计算外观无缺陷电子产品的优品率。
6.根据权利要求5所述的废旧电子产品回收方法,其特征在于,所述根据所述优良电子产品集合计算外观无缺陷电子产品的优品率的步骤,包括:
获取优良电子产品集合,获取劣质电子产品数量,并根据所述集合和劣质电子产品数量计算外观无缺陷电子产品的优品率,其中,计算公式为:
其中,W表示优品率,A表示优良电子产品集合,B表示劣质电子产品数量。
7.废旧电子产品回收系统,其特征在于,包括:
分类模块,用于对废旧电子产品进行分类,得到可拆卸电子产品和不可拆卸电子产品;
检测模块,用于对所述可拆卸电子产品的外观进行检测,得到第一检测结果,其中,所述第一检测结果包括外观无缺陷电子产品和外观有缺陷电子产品;
第一获取模块,用于获取所述外观无缺陷电子产品中多个零件的第一零件质量、使用时长、磨损系数和磨损面积;
第二获取模块,用于获取标准电子产品中多个零件的使用寿命、第二零件质量和总面积;
计算模块,用于根据多个零件的使用时长、磨损系数、第一零件质量和磨损面积以及标准电子产品的使用寿命、第二零件质量和总面积计算每个零件的第二检测结果,其中,计算公式为:
其中,P表示每个零件的第二检测结果,t表示外观无缺陷电子产品中每个零件的使用时长,n表示外观无缺陷电子产品中每个零件的第一零件质量,s表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损面积,Q表示外观无缺陷电子产品中每个零件的磨损系数,T表示标准电子产品的使用寿命,N表示标准电子产品的第二零件质量,S表示标准电子产品的总面积;
判断模块,用于判断所述第二检测结果是否小于预设参数;
若所述第二检测结果小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是优良电子产品,并对所述优良电子产品进行再利用回收;
若所述第二检测结果不小于预设参数,判定外观无缺陷电子产品是劣质电子产品,则对所述劣质电子产品进行粉碎回收。
8.根据权利要求7所述的废旧电子产品回收系统,其特征在于,所述分类模块,包括:
第一获取单元,用于获取废旧电子产品的连接方式;
第一判定单元,用于判断所述连接方式是整体连接还是散装连接;
若所述连接方式是整体连接,则判定废旧电子产品为不可拆卸电子产品;
若所述连接方式是散装连接,则判定废旧电子产品为可拆卸电子产品。
9.根据权利要求7所述的废旧电子产品回收系统,其特征在于,所述检测模块,包括:
第二获取单元,用于获取可拆卸电子产品的表面图像,并对所述表面图像进行灰度化处理,得到灰度图;
提取单元,用于提取所述灰度图的多个形状特征向量,并对所述多个形状特征向量进行加权计算,得到外观检测值;
第二判定单元,用于判断所述外观检测值是否超过第一预设值;
若所述外观检测值超过第一预设值,则判定可拆卸电子产品的第一检测结果为外观有缺陷电子产品;
若所述外观检测值未超过第一预设值,则判定外观无缺陷电子产品。
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