CN116430151B - 一种用于多个试样电老化试验的电极系统的制备方法 - Google Patents
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Abstract
本发明涉及电极领域，公开了一种用于多个试样电老化试验的电极系统，电极系统包括支撑架、上电极、下电极、螺丝，支撑架的上部设置顶板，下部设置底板；顶板、底板上对应设置螺纹孔，顶板的上部、底板的下部分别设置导电条，导电条上设置与螺纹孔对应的通孔，上电极的顶部，下电极的底部分别设置凹槽，凹槽内部设置与螺丝匹配的螺纹，所述螺丝依次穿过通孔、螺纹孔后与上电极或下电极连接；上电极与下电极之间夹持待测片状试样。本发明解决了只使用一对电极进行片状试样的电老化试验造成的耗费大量的时间的问题。
Description
技术领域
本发明涉及电极领域，更具体地涉及一种用于多个试样电老化试验的电极系统及其制备方法。
背景技术
随着经济科技的发展，各行业对电力的需求日益增长，通过高压输电可以有效地减少损耗来提高经济性，随着电压的上升，对于电缆以及其他高压电力设备绝缘性能要求不断提高。在各种电力设备和电缆投入使用后，受到长期电老化，热老化，机械力以及其他环境因素的影响，绝缘部分会逐渐劣化并最终失效而短路使得设备烧毁或线路被切断，从而导致电力系统出现故障造成损失。为了提高高压电力设备绝缘的可靠性，对于其进行研究势在必行，从材料出发是个不错的选择。
在对绝缘材料的研究中，其试样大多为片状试样。常常在交流、直流等条件下进行电老化试验来研究其绝缘性能，需要用一对圆柱电极夹住试样，两端加上电压进行试验。在加速老化的过程中，场强越高，与实际情况的工作场强差值就越大，劣化机理也会存在变化，得出的试验结果会存在误差，无法准确地评估该材料的绝缘性能。为了让试验更加接近实际的老化过程，则需要尽可能地降低场强，使其更加接近实际工作的场强，场强一旦降低，电老化试验的时间则会大幅度增加；除此之外，在试验的过程中，试样之间存在差异，试验环境也会有所变化，需要进行多次试验得到大量的数据来减小这些干扰因素对试验结果的影响。综上所述，如果只使用一对电极进行试验则会耗费大量的时间。为了能够加快实验进度节省人力，或在固定时间内得到更多的试验数据以减小试验误差，设计一个能同时进行多次电老化试验的电极系统是十分必要的。
发明内容
为解决上述技术问题，本发明提供一种用于多个试样电老化试验的电极系统及其制备方法。
本发明采用的具体方案为：一种用于多个试样电老化试验的电极系统，所述电极系统包括支撑架、上电极、下电极、螺丝，所述支撑架的上部设置顶板，下部设置底板；所述顶板、底板上对应设置螺纹孔，所述顶板的上部、底板的下部分别设置导电条，所述导电条上设置与螺纹孔对应的通孔，所述上电极的顶部，下电极的底部分别设置凹槽，所述凹槽内部设置与螺丝匹配的螺纹，所述螺丝依次穿过通孔、螺纹孔后与上电极或下电极连接；与顶板连接的所述导电条的端部设置第一连接孔，所述支柱穿过第一连接孔与导电条连接；与底板连接的所述导电条的端部设置第二连接孔，所述支柱穿过第二连接孔与导电条连接，所述上电极与下电极之间夹持待测片状试样。
所述支撑架为由4根支柱、顶板、底板组成的方形框架。
所述上电极及下电极均为柱状电极。
所述顶板上设置的螺纹孔的个数为12个。
所述导电条为铝条。
所述支柱的中部的直径大于所述支柱两端的直径。
所述上电极为黄铜圆柱电极。
另一方面，本发明提供一种用于片状试样电老化电极系统的制作方法，所述方法包括如下步骤：
步骤一、底板、顶板及支架组成支撑架，在顶板及底板对应位置分别设置螺纹孔，通过仿真软件确定干扰距离；
步骤二、在顶板的顶部及底板的底部分别设置导电条，导电条上设置与螺纹孔配合的通孔；
步骤三、螺栓伸入支撑架内分别与上电极或下电极连接，上电极与下电极之间夹持待测片状试样；
步骤四、将设置在顶板上的导电条与高压端导线连接，设置在底板上的导电条与接地导线连接，构成测试用的回路。
本发明相对于现有技术具有如下有益效果：
本发明提供一种用于多个试样电老化试验的电极系统，电极系统包括支撑架、上电极、下电极、螺丝，支撑架的上部设置顶板，下部设置底板；顶板、底板上对应设置螺纹孔，顶板的上部、底板的下部分别设置导电条，导电条上设置与螺纹孔对应的通孔，所述上电极的顶部，下电极的底部分别设置凹槽，凹槽内部设置与螺丝匹配的螺纹，螺丝依次穿过通孔、螺纹孔后与上电极或下电极连接；与顶板连接的所述导电条的端部设置第一连接孔，支柱穿过第一连接孔与导电条连接；与底板连接的所述导电条的端部设置第二连接孔，支柱穿过第二连接孔与导电条连接，所述上电极与下电极之间夹持待测片状试样，解决了目前只能使用一对电极进行片状试样电老化试验耗费大量的时间的问题。另一方面，本发明提供的一种电极系统可以同时进行多个绝缘材料片状试样电老化的试验，该系统可以装配多对电极以达到同时进行多组试验的目的，时间成本低。
附图说明
图1为本发明电极系统组装示意图；
图2为本发明中上电极示意图；
图3为本发明中顶板图；
图4为本发明中支柱图；
图5为本发明中导电条图；
图6为实施例1中的仿真模型图(理想模型)；
图7为实施例1中的仿真模型图(非理想模型)；
图8为实施例1中的仿真电场图(理想模型)；
图9为实施例1中的仿真电场图(非理想模型)；
图10为实施例1的实验电路图；
图11为电极系统及试样组装图；
图12为击穿试样实物图；
图13为击穿前放电次数随电压幅值变化折线图。
其中，附图标记分别为：
图中，1、支撑架，2、上电极，3、下电极，4、螺丝，5、顶板,6、底板,7、导电条，8、螺纹孔，9、通孔，10、待测片状试样，11、凹槽，12、支柱。
具体实施方式
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明了，下面通过附图中示出的具体实施例来描述本发明。但是应该理解，这些描述只是示例性的，而并非要限制本发明的范围。此外，在以下说明中，省略了对公知结构和技术的描述，以避免不必要地混淆本发明的概念。
在本发明中，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”、“固定”等术语应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或成一体；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通或两个元件的相互作用关系。对于本领域的普通技术人员而言，可以根据具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
本发明提供一种用于多个试样电老化试验的电极系统，所述电极系统包括支撑架1、上电极2、下电极3、螺丝4，所述支撑架1的上部设置顶板5，下部设置底板6；所述顶板5、底板6上对应设置螺纹孔8，所述顶板5的上部、底板6的下部分别设置导电条7，所述导电条7上设置与螺纹孔8对应的通孔9，所述上电极2的顶部，下电极3的底部分别设置凹槽11，所述凹槽11内部设置与螺丝4匹配的螺纹，所述螺丝4依次穿过通孔9、螺纹孔8后与上电极2或下电极3连接；与顶板5连接的所述导电条7的端部设置第一连接孔，所述支柱穿过第一连接孔与导电条7连接；与底板6连接的所述导电条7的端部设置第二连接孔，所述支柱穿过第二连接孔与导电条7连接，所述上电极2与下电极3之间夹持待测片状试样。
所述支撑架1为由4根支柱、顶板5、底板6组成的方形框架。所述上电极2及下电极3均为柱状电极。所述顶板5上设置的螺纹孔8的个数为12个。所述导电条7为铝条。所述支柱的中部的直径大于所述支柱两端的直径。所述电极为黄铜圆柱电极。
本发明提供一种用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，所述方法包括如下步骤：步骤一、底板、顶板及支架组成支撑架，在顶板及底板对应位置分别设置螺纹孔，通过仿真软件确定干扰距离；步骤二、在顶板的顶部及底板的底部分别设置导电条，导电条上设置与螺纹孔配合的通孔；步骤三、螺栓伸入支撑架内分别与上电极或下电极连接，上电极与下电极之间夹持待测片状试样；步骤四、将设置在顶板上的导电条与高压端导线连接，设置在底板上的导电条与接地导线连接，构成测试用的回路。
本发明所述电极系统可以用于多种电极，具体的尺寸参数由试验所采用的具体电极大小和试样的大小决定。电极系统的支撑架由环氧材料组成，分为顶板、底板和四个支柱。所述支柱中间粗，两端细，且带有螺纹，且在四个角上都有与支柱对应的孔，将支柱分别插入顶板、底板的孔中，再旋入螺母即可完成支撑架的组装。顶板、底板是结构与材质相同的环氧板，为了便于拿取试样，在顶板或底板上可以并排设置两排螺纹孔用于装配上、下电极，螺纹孔的数量根据实验需求确定。根据螺纹孔的位置设计带有通孔的铝条，铝条长度大于螺孔距离，在延长处多打一个孔(第一连接孔)用于连接。把铝条上的通孔与顶板、底板的其中一排螺纹孔对齐，然后分别拧入螺丝，在螺丝上装上柱状电极，则可使得上、下电极中心对准。顶板、底板间距离由所选柱电极的高度决定，该距离大于上、下电极高度之和，以便于旋动上电极来拿取试样，向下旋动上电极压紧试样时使用测力扳手来旋动螺丝，保证每对电极间压力相同，减少试验误差。所有上、下电极在铝条的作用下达到了并联的效果。其中，相邻的上电极间的距离需要综合考虑电极间干扰以及试样大小，干扰问题可使用电磁仿真软件验证。
实施例1
采用干式空心电抗器匝间绝缘片状试样的指数衰减振荡电压电老化试验。根据GB1408-89，上、下电极为一对大小相同的直径25mm、高25mm的黄铜圆柱电极，电极边缘均倒圆成半径为3mm的圆弧，上、下电极的中部有深度为12mm的M6螺纹。本实施例中所述系统中的顶板、底板由两块相同的环氧板组成，其四个角为装配孔，用于插入支柱(环氧柱)的端部，板孔直径为15mm，环氧柱柱螺纹为M14，略小于板孔的直径，支柱的中部的直径为20mm，大于板孔直径，以便于固定。环氧板中部根据试验需求有2排共12个螺纹孔，通过电磁软件如Maxwell或Comsol进行仿真，理想模型为空间中只有一组电极，非理想模型为空间中有三组电极，电极间距离从0开始，在电极两端加上1000V电压，通过调节距离，观察电场图，对比理想状态和非理想状态的电场强度，得到距离为0m时几乎无影响，即紧密相邻的电极组共同测试待测试样，彼此互不干扰，本实施例中使用的试样尺寸为40mm×40mm×0.5mm，相邻的不同的电极组之间留出间隙，将螺纹孔间距离定为50mm。上电极的高度为25mm，为了使上电极能上下旋动，则顶板与底板之间的距离为60mm，即环氧柱的中部的长度。环氧板厚度为20mm，环氧柱的端部的尺寸为50mm，使得其插入环氧板后有足够的空间旋入螺母进行固定。根据环氧板上螺纹孔的位置确定铝条的通孔，使每个铝条上的通孔能与环氧板的螺纹孔对齐，在本实施例中，将铝条延长至环氧板外部，再打一个孔便于接线。使用M14螺母和M6螺丝组装整个电极系统，通过旋动螺丝使上电极移动，放入试样后，需使用测力扳手旋动螺丝使所有电极间压力相同，最后将高压端导线接在上铝条，下铝条接地构成回路即可进行试验。
使用该电极系统进行试验，探究在指数衰减振荡电压的累积作用下，电压幅值对双层聚酯薄膜的寿命影响。试验电路图如图10所示。
图中，T1为调压器，T2为试验变压器，T3为触发脉冲变压器，D为高压硅堆，R1为保护电阻，R2为阻尼电阻，Cc为主电容，S为球隙开关，RH与RL构成电阻分压器，CH与CL构成电容分压器，L为电感线圈，C为电极系统以及试样如图11所示。
将电压幅值设置为6kV，7kV，8kV分别进行试验，每次同时进行12个试样的试验，将12对聚酯薄膜样品夹在电极之间，接入主回路，每秒钟放电一次，当样品击穿时记录时间得出放电次数，去掉最大值和最小值再计算平均数。击穿试样实物图如图12所示。
试验数据如下所示：
表1试样在不同电压幅值下电老化特性数据
根据以上数据可知，在指数衰减振荡电压的累计作用下，双层聚酯薄膜电老化寿命随着电压幅值的增大而减小，符合试验预期结果。
本发明中所述的电极系统可通过安装多个电极组来提高试验效率，解决了电极对心问题以及多个电极的组装复杂的问题，便于接线，且可以通过仿真手段来验证多对电极间的是否存在干扰的问题。
以上附图及解释说明仅为本发明的一种具体实施方式，但本发明的具体保护范围不仅限以上解释说明，任何在本发明揭露的技术思路范围内，及根据本发明的技术方案加以简单地替换或改变，都应在本发明的保护范围之内。
Claims (7)
1.一种用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，其特征在于，所述方法包括如下步骤：
步骤一、底板（6）、顶板（5）及支架组成支撑架（1），在顶板（5）及底板（6）对应位置分别设置螺纹孔（8），通过仿真软件确定干扰距离；
步骤二、在顶板（5）的顶部及底板（6）的底部分别设置导电条（7），导电条（7）上设置与螺纹孔（8）配合的通孔（9）；
步骤三、螺栓伸入支撑架（1）内分别与上电极（2）或下电极（3）连接，上电极（2）与下电极（3）之间夹持待测片状试样；
步骤四、将设置在顶板（5）上的导电条（7）与高压端导线连接，设置在底板（6）上的导电条（7）与接地导线连接，构成测试用的回路；
采用上述方法制备的多个试样电老化试验的电极系统包括支撑架（1）、上电极（2）、下电极（3）、螺丝（4），所述支撑架（1）的上部设置顶板（5），下部设置底板（6）；所述顶板（5）、底板（6）上对应设置螺纹孔（8），所述顶板（5）的上部、底板（6）的下部分别设置导电条（7），所述导电条（7）上设置与螺纹孔（8）对应的通孔（9），所述上电极（2）的顶部，下电极（3）的底部分别设置凹槽（11），所述凹槽（11）内部设置与螺丝（4）匹配的螺纹，所述螺丝（4）依次穿过通孔（9）、螺纹孔（8）后与上电极（2）或下电极（3）连接；与顶板（5）连接的所述导电条（7）的端部设置第一连接孔，所述支柱（12）穿过第一连接孔与导电条（7）连接；与底板（6）连接的所述导电条（7）的端部设置第二连接孔，所述支柱（12）穿过第二连接孔与导电条（7）连接，所述上电极（2）与下电极（3）之间夹持待测片状试样。
2.根据权利要求1所述的用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，其特征在于，所述支撑架（1）为由4根支柱（12）、顶板（5）、底板（6）组成的方形框架。
3.根据权利要求2所述的用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，其特征在于，所述上电极（2）及下电极（3）均为柱状电极。
4.根据权利要求3所述的用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，其特征在于，所述顶板（5）上设置的螺纹孔（8）的个数为12个。
5.根据权利要求4所述的用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，其特征在于，所述导电条（7）为铝条。
6.根据权利要求5所述的用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，其特征在于，所述支柱（12）的中部的直径大于所述支柱（12）两端的直径。
7.根据权利要求6所述的用于多个试样电老化试验的电极系统的制作方法，其特征在于，所述上电极（2）为黄铜圆柱电极。
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Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005062153A (ja) * | 2003-07-30 | 2005-03-10 | Jsr Corp | 回路基板の検査装置および回路基板の検査方法 |
| CN104122465A (zh) * | 2014-07-22 | 2014-10-29 | 西安交通大学 | 多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置及方法 |
| CN104880653A (zh) * | 2015-05-28 | 2015-09-02 | 国网山东省电力公司电力科学研究院 | 一种用于交直流高压试验的针-板电极电晕放电装置 |
| CN205317896U (zh) * | 2016-01-28 | 2016-06-15 | 哈尔滨理工大学 | 一种用于研究片状绝缘试样老化机理的电极系统 |
| CN211785654U (zh) * | 2019-12-26 | 2020-10-27 | 福建毫米电子有限公司 | 一种单层片式瓷介电容器测试夹具 |
| CN114814498A (zh) * | 2022-05-17 | 2022-07-29 | 中国南方电网有限责任公司超高压输电公司检修试验中心 | 绝缘材料老化试验装置及试验方法 |
-
2023
- 2023-04-25 CN CN202310454871.XA patent/CN116430151B/zh active Active
Patent Citations (6)
| Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
|---|---|---|---|---|
| JP2005062153A (ja) * | 2003-07-30 | 2005-03-10 | Jsr Corp | 回路基板の検査装置および回路基板の検査方法 |
| CN104122465A (zh) * | 2014-07-22 | 2014-10-29 | 西安交通大学 | 多组片状试样在电压与温度梯度下的联合老化装置及方法 |
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| CN205317896U (zh) * | 2016-01-28 | 2016-06-15 | 哈尔滨理工大学 | 一种用于研究片状绝缘试样老化机理的电极系统 |
| CN211785654U (zh) * | 2019-12-26 | 2020-10-27 | 福建毫米电子有限公司 | 一种单层片式瓷介电容器测试夹具 |
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