CN116367943A - 叠层造形物的缺陷预测方法及叠层造形物的制造方法 - Google Patents

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Abstract

本发明为一种叠层造形物的缺陷预测方法，其为使金属粉末熔融凝固而制造的叠层造形物的缺陷预测方法，其特征在于包括：亮度数据获取工序，获取从在所述金属粉末熔融凝固时所形成的熔融池发出的光的亮度数据；评价用数据选取工序，从所述亮度数据中选取评价用数据；及评价工序，使用所述评价用数据来推定所述叠层造形物有无缺陷，所述评价用数据包括亮度平均值及亮度标准偏差。

Description

叠层造形物的缺陷预测方法及叠层造形物的制造方法
技术领域
本发明涉及一种叠层造形物的缺陷预测方法及叠层造形物的制造方法。
背景技术
金属叠层造形法是向基板上的原料粉末供给激光束或电子束等热源，使原料粉末熔融凝固而形成凝固层，并重复所述操作而获得三维形状的金属叠层造形物。根据所述金属叠层造形法，可通过净成形或近净成形获得三维形状的金属叠层造形物。
关于所制造的零件是否有缺陷的判断方法，例如作为非破坏检查方法，有利用X射线计算机断层(Computed Tomography，CT)扫描法的内部缺陷的检测，或利用阿基米德法的密度测定。X射线CT扫描法除了计测需要时间以外，对于大型零件而言分辨率有限。而且，阿基米德法无法检测个别的缺陷，针对少量缺陷的检测精度低。因此，例如，根据专利文献1，提出检测被照射光束的被照射点的外观性状，并基于其获得更高精度的叠层造形物。
现有技术文献
专利文献
专利文献1：国际公开2018/043349号公报
发明内容
发明所要解决的问题
但是，专利文献1仅限于通过检测外观性状来判别是否产生烟气或溅射。
因此，在本发明中，提供一种能够推定叠层造形物有无缺陷的叠层造形物的缺陷预测方法及叠层造形物的制造方法。
解决问题的技术手段
本发明的叠层造形物的缺陷预测方法是使金属粉末熔融凝固而制造的叠层造形物的缺陷预测方法，其特征在于包括：亮度数据获取工序，获取从在所述金属粉末熔融凝固时所形成的熔融池发出的光的亮度数据；评价用数据选取工序，从所述亮度数据中选取评价用数据；及评价工序，使用所选取的所述评价用数据来推定所述叠层造形物有无缺陷，所述评价用数据包括亮度平均值及亮度标准偏差。
而且，优选为在所述评价用数据选取工序中，根据所述亮度平均值与所述亮度标准偏差算出变动系数CV，在所述评价工序中，使用所述变动系数CV来推定所述叠层造形物有无缺陷。
而且，本发明为一种叠层造形物的制造方法，其特征在于包括：粉末供给工序，供给金属粉末；叠层造形工序，包括：造形工序，对金属粉末照射热源，使所述金属粉末熔融及凝固而将叠层造形物造形；及亮度数据获取工序，获取从在所述金属粉末熔融时所形成的熔融池发出的光的亮度数据；以及检查工序，包括：评价用数据选取工序，从所述亮度数据中选取评价用数据；及评价工序，使用所述评价用数据来推定所述叠层造形物有无缺陷，所述评价用数据包括亮度平均值及亮度标准偏差。
而且，优选为在所述评价用数据选取工序中，根据所述亮度平均值与所述亮度标准偏差算出变动系数CV，在所述评价工序中，使用变动系数CV来推定所述叠层造形物有无缺陷。
而且，优选为在所述检查工序中，还包括：选择工序，决定是否继续所述叠层造形工序。
发明的效果
根据本发明，能够提供一种能够推定叠层造形物有无缺陷的叠层造形物的缺陷预测方法及叠层造形物的制造方法。
附图说明
[图1]图1是表示推定叠层造形物有无缺陷的缺陷预测方法的流程的流程图。
[图2]图2是表示叠层造形物的形状变化所伴随的亮度变动的图。
[图3]图3是表示粉末床位置引起的亮度变动的图。
[图4]图4是表示设定变动系数的范围的方法的图。
[图5]图5是表示粉末床方式(选择性激光熔化(Selective Laser Melting，SLM)法)的叠层造形装置的结构及叠层造形方法的例子的示意图。
[图6]图6是表示叠层造形物的制造方法的流程的流程图。
具体实施方式
本发明是一种使金属粉末熔融凝固而制造的叠层造形物的缺陷预测方法，其特征之一在于包括：亮度数据获取工序，获取从在所述金属粉末熔融凝固时所形成的熔融池发出的光的亮度数据；评价用数据选取工序，从所述亮度数据中选取评价用数据；及评价工序，使用所述评价用数据来推定所述叠层造形物有无缺陷，所述评价用数据包括亮度平均值及亮度标准偏差。
以下，参照附图对本发明的实施方式进行说明。首先，使用图1～图4对叠层造形物的缺陷预测方法(缺陷的评价方法)进行说明，然后，使用图5～图6对叠层造形物的制造方法进行说明。
＜叠层造形物的缺陷预测方法＞
[亮度数据获取工序(S101)]
首先，对金属粉末照射热源等，使金属粉末熔融，由此在形成熔融池时，获取从熔融地发出的光的亮度(亮度数据)。作为热源，可使用激光束等。
本实施方式所使用的光例如可使用照射激光束时的反射光、或者因熔融池或热影响部的温度上升所产生的光、对金属熔融所产生的金属蒸气照射激光束进行等离子体化所产生的等离子体光等。优选为对检测灵敏度高的亮度进行检测即可。具体而言，对从熔融池及其附近发出的光、换言之为波长为600nm以上、1100nm以下的范围的光进行检测即可。
作为光的亮度(亮度数据)的获取(检测)方法，例如可使用科学级金属氧化物半导体(scientific complementary metal oxide semiconductor，sCMOS)相机。作为sCMOS相机的规格，例如像素数为5万像素以上且拍摄速度为每秒1帧左右即可。更具体而言，可使用EOSTATE Exposure OT(EOS公司制造)。EOSTATE Exposure OT是通过将被从竖直上方照射激光的造形区域所产生的亮度设置为斜上方的sCMOS相机对熔融地周边进行拍摄。sCMOS相机相对于造形面而设置于斜上方，但可通过在软件上修正距离、角度而转换为从上方观察的图像。由sCMOS相机获取的亮度(OT亮度)为造形中的近红外线区域的亮度即可。为了获取近红外线区域的亮度，例如在sCMOS相机设置带通滤波器即可。
[评价用数据选取工序(S103)]
其次，从在亮度数据获取工序(S101)中所获得的亮度数据中选取评价用数据。评价用数据包括亮度平均值及亮度标准偏差。
亮度平均值是以Gv表示亮度的单位，以蓝色表示为零的情况，以红色表示为最大值4.5×104，由此阶段性地进行颜色显示，将造形中每100msec(拍摄速度：100msec)的亮度(颜色程度)进行累计，亮度平均值即为累计所得者的平均值。即，亮度平均值是亮度图像的各像素亮度值的平均值(1像素图像中所获取的亮度的平均值)。而且，亮度标准偏差表示各层中的图像各像素亮度的偏差的评价。
[评价工序(S105)]
然后，将预先设定的亮度平均值范围及亮度标准偏差范围与所述亮度平均值及所述标准偏差进行比较，推定叠层造形物有无缺陷。具体而言，作为缺陷有无的推定(评价)方法，将所选取的亮度平均值与亮度标准偏差在预先设定的亮度平均值范围与亮度标准偏差范围内进行比较即可。例如，在相对于预先设定的亮度平均值范围与亮度标准偏差范围，所选取的亮度平均值与亮度标准偏差的值在范围内的情况下，可判断叠层造形物无缺陷。
此外，在本说明书中，有时将推定叠层造形物有无缺陷简称为对缺陷进行评价。
亮度平均值范围与亮度标准偏差范围例如预先获取有缺陷的叠层造形物、或无缺陷的叠层造形物的亮度数据，从所述亮度数据中选取亮度平均值与亮度标准偏差，设为亮度平均值的最大值减去最小值所得的值(亮度平均值范围)、及亮度标准偏差的最大值减去最小值所得的值(亮度标准偏差范围)即可。
如上文所说明那样，通过使用将亮度进行平均所得的值(亮度平均值)，可降低对局部产生的亮度信号异常的灵敏度，而且，通过使用亮度标准偏差，能够对叠层造形物各层中的各造形点的亮度的偏差进行评价，因此也能够侦测局部的亮度信号异常引起的缺陷或造形不良。
而且，在评价用数据选取工序(S103)中，优选为根据亮度平均值与亮度标准偏差算出变动系数CV(Coefficient of Variation)，并使用所算出的变动系数CV对叠层造形物的缺陷进行评价。变动系数CV是使用亮度平均值与亮度标准偏差这两个参数所算出的系数，具体而言，为通过式(1)所示的算出式所算出的值(亮度标准偏差除以亮度平均值所得的无因次的值)。此外，叠层造形通常为在使金属粉末熔融、凝固而形成的凝固层上反复使金属粉末熔融、凝固而叠层，式中的层指其一层量的层。
CV＝σn/Xn…式(1)
CV：变动系数
Xn：n层时的亮度平均值(Gv)
σn：n层时的亮度标准偏差(Gv)
作为使用变动系数CV的缺陷的评价方法(使用变动系数CV的评价工序)，将所算出的变动系数CV与预先设定的变动系数CV范围进行比较即可。例如，在相对于预先设定的变动系数CV范围，所算出的变动系数CV的值在范围内的情况下，可判断叠层造形物无缺陷。
作为预先设定的变动系数CV的范围(变动系数CV范围)的设定方法，例如预先获取有缺陷或无缺陷的叠层造形物的亮度数据，根据所述亮度数据算出变动系数CV，并基于所述变动系数CV设定变动系数CV范围即可。
具体而言，如图4所示，在相对于预先设定的变动系数CV范围，所算出的变动系数CV在范围内的情况下，可评价(推定)为叠层造形物无缺陷。另一方面，在变动系数CV超过范围的情况下，可评价(推定)为叠层造形物有缺陷。此外，变动系数CV范围按照叠层造形物的形状或造形条件适当设定即可。
通过使用变动系数CV，即使在亮度平均值与亮度标准偏差容易变动的环境(条件)下，也能够抑制缺陷的评价精度降低，因此优选。
作为亮度平均值与亮度标准偏差发生变动的环境(条件)，可列举叠层造形物的形状。认为其原因在于：因叠层造形物的形状发生变化，导致激光束的照射面积产生差异，伴随于此，热扩散速度产生差异，由此所发出的光的亮度数据产生差异。例如，将如图2(a)所示的包括区域1(200)与区域2(300)的叠层造形物的叠层造形的过程中所获取的亮度平均值的推移示于图2(b)，将亮度标准偏差的推移示于图2(c)。如图2(b)及图2(c)所示，可知亮度平均值从区域1(200)进入区域2(300)后变化为较低的值，亮度标准偏差从区域1进入区域2后变化为较高的值。
而且，在叠层造形体的造形位置(粉末床位置)不同的情况下，也存在亮度平均值与亮度标准偏差容易变动的情况。图3(a)表示在俯瞰底板(103)时粉末床位置1(220)与粉末床位置2(320)的位置关系。而且，图3(b)表示在粉末床位置1(220)进行叠层造形而成的试验片1(210)与在粉末床位置2(320)进行叠层造形而成的试验片2(310)的亮度平均值的推移，图3(c)表示在粉末床位置1(220)进行叠层造形而成的试验片1(210)与在粉末床位置2(320)进行叠层造形而成的试验片2(310)的亮度标准偏差的推移。此外，试验片1(210)与试验片2(310)设为相同的加热(造形)条件。如图3(b)与图3(c)所示，若如在粉末床位置2(320)进行叠层造形而成的试验片2(310)那样，若在与流动气体(400)的接触频度高的位置进行叠层造形，则与试验片1(210)相比，试验片2(310)容易被冷却，在将试验片2(310)造形时亮度平均值与标准偏差数值以较低的值推移。而且，除了所述所例示的冷却环境以外，也存在容易通过改变造形条件使亮度平均值与亮度标准偏差变动的情况。
如上所述，在叠层造形体的形状发生变化的情况或者造形位置或造形条件不同的情况下，无因次的变动系数CV适于对如上所述的环境(条件)的差异进行一维评价，即使存在如上所述的环境(条件)的差异，也能够抑制缺陷的评价精度降低，因此更优选。
＜叠层造形物的制造方法＞
上文已对叠层造形物的缺陷预测方法进行了说明，若为本发明的缺陷预测方法，则也能够对叠层造形中的叠层造形物的缺陷进行评价，并且制造叠层造形物。
作为叠层造形物的制造方法的一实施方式，其特征之一在于包括：粉末供给工序，供给金属粉末；叠层造形工序，包括：造形工序，对金属粉末照射热源，使所述金属粉末熔融及凝固，将叠层造形物造形；及亮度数据获取工序，获取从在所述金属粉末熔融时所形成的熔融池发出的光的亮度数据；以及检查工序，包括：评价用数据选取工序，从所述亮度数据中选取评价用数据；及评价工序，使用所述评价用数据来推定所述叠层造形物有无缺陷，所述评价用数据为亮度平均值与亮度标准偏差。以下，使用图5及图6对各工序进行详细说明。
图5是表示制造叠层造形物的叠层造形装置100的概要的图。叠层造形装置100包括载台102、底板103、将金属粉末105供给至底板103的粉末供给用容器104、用来在底板103上形成粉末床107的重涂机106、激光振荡器108、检流计镜110、将未熔融的金属粉末105回收的未熔融粉末回收用容器111、sCMOS相机113、以及亮度数据获取装置及评价用数据选取装置114，所述sCMOS相机113对于利用从激光振荡器108照射的激光束109使金属粉末105熔融、凝固所获得的凝固层112，检测从在金属粉末105熔融时所形成的熔融池发出的光，所述亮度数据获取装置及评价用数据选取装置114将由sCMOS相机检测到的光转换为亮度数据，并选取评价用数据。而且，图6表示叠层造形物的制造方法的流程。
(叠层造形工序)
[粉末供给工序：S201]
首先，使载台102下降想要叠层造形的叠层造形物101的一层厚度(例如约20μm～50μm)。其次，从粉末供给用容器104向载台102的上表面的底板103供给金属(原料)粉末105，利用重涂机106使金属粉末105变得平坦，形成粉末床107(粉末层)。
[造形工序：S203]
接着，基于想要造形的叠层造形物101的形状信息、例如由3D-计算机辅助设计(computer-aided design，CAD)数据转换的2D切片数据，叠层造形为所需的形状。具体而言，使从激光振荡器108照射的热源、例如从激光振荡器108照射的激光束109穿过检流计镜110，对铺满于底板103上的未熔融的粉末床107上的金属粉末105进行照射，由此形成微小的熔融池。然后，一边照射激光束109一边进行扫描，由此使金属粉末105熔融、凝固，形成2D切片形状的凝固层112。此外，可将未熔融的金属粉末105回收于未熔融粉末回收用容器111中等。
[亮度数据获取工序：S205]
在所述造形工序(S203)中进行叠层造形物的n+1层的粉末的熔融、凝固，同时，使用sCMOS相机113与亮度数据获取装置及评价用数据选取装置114，获取凝固层n层之前的粉末熔融时的亮度数据。此处，作为sCMOS相机113的规格，如上所述，例如像素数为400万像素以上，且拍摄速度为每秒10帧左右即可。更具体而言，sCMOS相机113与亮度数据获取装置及评价用数据选取装置114例如可使用EOSTATE Exposure OT(EOS公司制造)。EOSTATEExposure OT是利用将被从竖直上方照射激光的造形区域所产生的亮度设置为斜上方的sCMOS相机对熔融地周边进行拍摄。sCMOS相机相对于造形面而设置于斜上方，但可在软件上修正距离、角度，转换为从上方观察的图像。利用sCMOS相机所获取的亮度(OT亮度)为造形中的近红外线区域的亮度即可。为了获取近红外线区域的亮度，例如在sCMOS相机设置带通滤波器即可。
一层量的叠层完成后，使载台102下降，将新的金属粉末105供给至凝固层112上，形成新的粉末床107。对所述新形成的粉末床107照射激光束109使其熔融凝固，由此形成新的凝固层。之后重复进行粉末供给工序(S201)与造形工序(S203)，将凝固层112叠层，由此可制造所需的叠层造形物101。而且，也可以重复进行粉末供给工序(S201)与造形工序(S203)，在造形后执行检查工序，例如可包括至评价用数据选取工序(S207)为止重复进行。
(检查工序)
[评价用数据选取工序：S207]
从利用亮度数据获取装置及评价用数据选取装置114所获取的亮度数据中选取(输出)评价用数据、即亮度平均值与亮度标准偏差。此时，优选为进一步算出亮度平均值的最大值、及亮度标准偏差的最大值减去最小值所得的值。
[评价工序：S209]
接着，使用所选取的亮度平均值与亮度标准偏差，对缺陷进行评价，若为良好，则重复进行各工序(S201～S207)直至获得所需形状的叠层造形物为止。作为缺陷的评价，例如将所选取的亮度平均值与亮度标准偏差在预先设定的亮度平均值范围与亮度标准偏差范围内进行比较即可。例如，相对于预先设定的亮度平均值范围与亮度标准偏差范围，在所选取的亮度平均值与亮度标准偏差在范围内的情况下，可判断叠层造形物无缺陷。而且，在凝固层n层之前的叠层造形物无缺陷的情况下，继续进行各工序(S201～S207)即可。
此外，亮度平均值与亮度标准偏差根据叠层造形物的形状、及造形条件(输出、扫描速度、扫描间距(扫描间隔)、叠层厚度)而发生变化，因此预先设定的亮度平均值范围与亮度标准偏差范围根据所需的叠层造形物适当变更即可。
此处，在所述评价用数据选取工序(S207)中，优选为使用亮度平均值与亮度标准偏差算出变动系数CV。
而且，优选为针对各叠层造形物、各凝固层预先设定变动系数CV范围。将预先决定的变动系数CV范围与所算出的变动系数CV进行比较，由此可推定叠层造形物的叠层的部分有无缺陷。例如，相对于预先设定的变动系数CV范围，在所算出的变动系数CV为所述设定的范围内的情况下，即在推定造形n层之前的叠层造形物无缺陷(评价为良好)的情况下，继续进行叠层造形工序与检查工序(S201～S207)即可。
而且，即使在变动系数CV超过预先设定的变动系数范围的情况下，在判断通过其后的加工处理能够应对的情况下，也为继续进行各工序(S201～S207)即可。而且，暂时中断叠层造形工序，进行造形条件或切片数据的修正等，从n+1层起反映出这些变更后的造形条件或修正后的切片数据而重新开始叠层造形工序，重复进行各工序(S201～S207)，而制造叠层造形物即可。如上所述，例如也可将变动系数CV在变动系数范围内或范围外时判断是否继续进行各工序的工序称为选择工序，可在所述各工序进一步设置选择工序。
由此，能够针对一批(一板)叠层造形的各零件、各层、即在过程中(实时)推定有无缺陷，因此能够一边检查叠层造形物一边制造叠层造形物。
在所述工序结束时，在叠层造形物的全部凝固层(熔融、凝固的层)中，记录熔融、凝固时来自熔融池的亮度信号强度作为亮度平均值与标准偏差并保存，由此能够推定(评价)叠层造形物内部有无产生缺陷。
由于将叠层造形物101叠层于底板103上而一体制作，故而成为被未熔融的金属粉末105覆盖的状态，因此在取出时，将金属粉末105与叠层造形物101冷却后，将未熔融的金属粉末105回收，从粉末叠层造形装置100中取出叠层造形物101与底板103即可。其后使叠层造形物101与底板103分离(切断等)，由此可获得叠层造形物。
此外，作为本实施方式的叠层造形方式，可使用粉末床方式(powder bedfusion)。粉末床方式(powder bed fusion)是铺满金属粉末而准备粉末床，照射成为热能的激光束或电子束而仅使造形的部分熔融、凝固或烧结的方法。以激光束作为热源而使粉末床的造形的部分熔融、凝固的方法称为选择性激光熔融法(Selective Laser Melting：SLM法)，使粉末床的造形的部分烧结但不至于熔融的方法称为选择性激光烧结法(Selective Laser Sintering：SLS法)。在以激光束作为热源的方法中，通常可在氮气等惰性气体环境下进行叠层造形。而且，粉末床方式也可以电子束作为热源，称为选择性电子束熔融法(Selective Electron Beam Melting：SEBM法)或电子束熔融法(Electron BeamMelting：EBM法)。在以电子束作为热源的方法中，可在高真空下进行叠层造形。
以上，已对叠层造形物的制造方法的一实施方式进行了说明，在过程中可推定叠层造形物有无缺陷，且灵活运用其评价结果，由此能够立即应用新的叠层造形条件来制造叠层造形物，因此也可以期待减小叠层造形物的缺陷率的效果。而且，例如无需利用非破坏检查X射线CT评价缺陷，也可以期待零件的制造成本降低。
实施例
以下，对实施例进行说明。
使用粉末叠层造形装置(EOS公司制造的EOS M290)及监测(monitoring)机器(EOSTATE Exposure光学层析成像(Optical Tomography，OT))，制造叠层造形物，并推定其缺陷的有无。
叠层造形所使用的金属粉末为表1所示的Ni-Cr-Mo系合金。
金属粉末具有表1的合金组成(单位：质量％)。作为金属粉末的制作方法，以成为表1的合金组成的方式制备成为原料的Ni、Cr、Mo、Ta各原料，通过真空气体雾化法进行造粒粉末化，将所述造粒粉末过筛，制作粒径为10μm～53μm、平均粒径(d50)约为35μm的金属粉末。
[表1]
所使用的金属粉末的组成(单位：质量％)
元素 Ni Cr Mo Ta
组成 Bal 19 19 1.8
按照如图5所示的叠层造形物的制造方法的流程图的顺序，叠层制造圆杆形状的叠层造形物(直径3.5mm×高度5mm，轴方向为叠层方向)，针对熔融凝固的各层获取亮度数据。此外，作为叠层造形条件，设定为叠层厚度0.04mm、激光输出300W，且设为激光扫描速度960mm/秒、扫描间距0.11mm。
在所述叠层造形条件下制作(造形)叠层造形物(试样No.1～No.4)。试样No.2～No.4为确认到亮度高至试样No.1的亮度平均值最大值以上的叠层造形物。从在造形试样No.1～No.4时所获取的亮度数据中选取亮度平均值与亮度标准偏差。而且，根据所选取的这些亮度平均值与亮度标准偏差算出变动系数CV。
(利用X射线CT扫描的缺陷的评价)
对于试样No.1～No.4，使用X射线CT扫描对内部缺陷进行评价。X射线CT扫描使用微焦点X射线CT系统(岛津(SHIMADZU)，InspeXio SMX-225CT FPD HR)，将测定条件设为测定电压220V、电流70μA。图像解析使用VGStudioMAX3.2(岛津制作所公司制造)。X射线CT扫描的分辨率设定为0.018mm。
表2中示出试样No.1～No.4各自的亮度平均值与亮度标准偏差、亮度平均值的最大值与亮度标准偏差范围(亮度标准偏差的最大值减去最小值所得的值)、变动系数CV、及利用X射线CT的缺陷确认的结果。
[表2]
Figure BDA0004206919840000121
如表2所示，亮度平均值的最大值亮度标准偏差范围、变动系数CV最小的试样No.1在使用X射线CT的评价中也未发现缺陷。另一方面，在试样No.2～No.4中，亮度平均值最大值或亮度标准偏差范围均大于试样No.1，在使用X射线CT的评价中也发现了缺陷。
根据以上，例如在本实施例所制造的造形形状及造形条件下，若由叠层造形物所获得的亮度平均值与亮度标准偏差小于试样No.2的亮度平均值的最大值且在亮度标准偏差范围内，则可评价为叠层造形物无缺陷。而且，在使用变动系数CV的情况下也是同样，只要所算出的变动系数CV在试样No.2的变动系数CV范围内，则可评价为叠层造形物无缺陷。
此外，上述实施方式或实施例是为了帮助理解本发明而说明，本发明并不仅限定于所记载的具体的结构。
符号的说明
100：叠层造形装置
101：叠层造形物
102：载台
103：底板
104：粉末供给用容器
105：金属粉末
106：重涂机
107：粉末床(粉末层)
108：激光振荡器
109：激光束
110：检流计镜
111：未熔融粉末回收用容器
112：2D切片形状的凝固层
113：sCMOS相机
114：亮度数据获取装置及评价用数据选取装置
200：区域1
210：试验片1
220：粉末床位置1
300：区域2
310：试验片2
320：粉末床位置2
400：流动气体

Claims (5)

1.一种叠层造形物的缺陷预测方法，其为使金属粉末熔融凝固而制造的叠层造形物的缺陷预测方法，其特征在于包括：
亮度数据获取工序，获取从在所述金属粉末熔融凝固时所形成的熔融池发出的光的亮度数据；
评价用数据选取工序，从所述亮度数据中选取评价用数据；及
评价工序，使用所述评价用数据来推定所述叠层造形物有无缺陷，
所述评价用数据包括亮度平均值及亮度标准偏差。
2.根据权利要求1所述的叠层造形物的缺陷预测方法，其特征在于：
在所述评价用数据选取工序中，
根据所述亮度平均值与所述亮度标准偏差算出变动系数CV，
在所述评价工序中，
使用所述变动系数CV来推定所述叠层造形物有无缺陷。
3.一种叠层造形物的制造方法，其特征在于包括：
粉末供给工序，供给金属粉末；
叠层造形工序，包括：造形工序，对金属粉末照射热源，使所述金属粉末熔融及凝固而将叠层造形物造形；及亮度数据获取工序，获取从在所述金属粉末熔融时所形成的熔融池发出的光的亮度数据；以及
检查工序，包括：评价用数据选取工序，从所述亮度数据中选取评价用数据；及评价工序，使用所述评价用数据来推定所述叠层造形物有无缺陷，
所述评价用数据包括亮度平均值及亮度标准偏差。
4.根据权利要求3所述的叠层造形物的制造方法，其特征在于：
在所述评价用数据选取工序中，
根据所述亮度平均值与所述亮度标准偏差算出变动系数CV，
在所述评价工序中，
使用变动系数CV来推定所述叠层造形物有无缺陷。
5.根据权利要求3或4所述的叠层造形物的制造方法，其特征在于：
在所述检查工序中，还包括：
选择工序，决定是否继续所述叠层造形工序。
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