CN116350251A - 用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置 - Google Patents
用于ct探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置 Download PDFInfo
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Abstract
本发明公开了一种用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，包括：调节主体结构，一侧部开设有观察通道；晶体模组准直器固定于调节主体结构，探测器晶体对应位于晶体模组准直器；两组螺旋测微器，分别固接于调节主体结构对应观察通道的两侧位置，两组螺旋测微器的位移输出端均与探测器晶体的基板之间相对应设置；两组弹簧柱塞，分别固接于调节主体结构对应观察通道的对向侧面，两组弹簧柱塞与探测器晶体的基板之间相对应设置；两组弹簧柱塞与两组螺旋测微器之间相一一对应设置。解决了现有调节装置的调节精度及装置稳定性不足的技术问题。
Description
技术领域
本发明涉及CT数据图像采集技术领域，具体而言，涉及一种用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置。
背景技术
在现代医疗主流CT系统中，探测器模块作为CT采集图像数据的器件，在整个CT系统中的作用至关重要。球管发射X射线，X射线全程覆盖要扫描的人体某一部位，探测器模块采集到X射线，将其转化为电信号并经过数据采集和转换单元转换为数字信息后存储在图像处理系统中，图像处理系统经过一系列的校正算法和图像重建算法生成图像显示在显示器上。
为了准确地采集人体某一部位的投影数据，探测器模块中的探测器晶体需要与晶体模组准直器配合使用。其中，晶体模组准直器的主要作用是减少散射效应对探测器模块上的成像物理像素单元成像时的影响，即，由于散射效应使被探测信号偏离了X射线强度的真实测量结果，导致CT图像偏移或伪影，这就需要使用调节装置将探测器晶体模块上的成像物理像素单元与晶体模组准直器的ASG(防散射栅格)之间以高精度对齐，否则会影响CT图像成像质量。
现有的调节装置主要通过简单的细牙螺栓调节，且仅改变探测器晶体模块基板的X向位移，以调节探测器晶体上的成像物理像素单元与晶体模组准直器之间的位置。但是，在实际使用过程中，细牙螺栓调节工装的调节精度及装置稳定性存在不足，一次调成率较低，难以达到生产调试所需的精度要求，且除X向外，Z向也需要进行调节，以进一步满足生产调试的精度要求。
发明内容
为此，本发明提供了一种用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，以解决现有调节装置的调节精度及装置稳定性不足的技术问题。
为了实现上述目的，本发明提供如下技术方案：
一种用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，包括：
调节主体结构，一侧部开设有观察通道；所述晶体模组准直器固定于所述调节主体结构，所述探测器晶体对应位于所述晶体模组准直器的上方，且所述探测器晶体与所述观察通道之间相对应设置；
两组螺旋测微器，分别固接于所述调节主体结构对应所述观察通道的一侧面，且两组所述螺旋测微器分别一一对应位于所述观察通道的两侧位置，两组所述螺旋测微器的位移输出端均对应穿过所述调节主体结构，且两组所述螺旋测微器的位移输出端均与所述探测器晶体的基板之间相对应设置；
两组弹簧柱塞，分别固接于所述调节主体结构对应所述观察通道的对向侧面，两组所述弹簧柱塞的弹力输出端均穿过所述调节主体结构，且两组所述弹簧柱塞与所述探测器晶体的基板之间相对应设置；
两组所述弹簧柱塞与两组所述螺旋测微器之间相一一对应设置。
在上述技术方案的基础上，对本发明做如下进一步说明：
作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构的底部固接有架高支承座。
所述架高支承座的底部固接有支撑底板。
作为本发明的进一步方案，所述支撑底板为矩形板体结构，且矩形所述支撑底板的顶端面固接有若干组提拉把手。
作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构在对应所述观察通道的两侧位置分别固接有第一X向定位块和第二X向定位块，两组所述螺旋测微器的固定端分别与所述第一X向定位块和所述第二X向定位块之间相固接设置。
作为本发明的进一步方案，还包括：
两组数显千分测微计，分别与所述调节主体结构之间相固接设置，且两组所述数显千分测微计分别与所述探测器晶体的闪烁体之间相对应设置。
作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构在对应所述观察通道的对向侧面分别固接有第一千分表定位块和第二千分表定位块；两组所述数显千分测微计分别一一对应与所述第一千分表定位块和所述第二千分表定位块之间相固接设置。
作为本发明的进一步方案，还包括：
两组数显微分头，分别固接于所述调节主体结构，且两组所述数显微分头一一对应位于所述观察通道所处侧面的两个相临侧面，两组所述数显微分头的位移输出端均与所述探测器晶体的基板之间相对应设置。
作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构在对应所述观察通道所处侧面的两个相临侧面还分别固接有第一Z向定位块和第二Z向定位块；两组所述数显微分头分别一一对应与所述第一Z向定位块和所述第二Z向定位块之间相固接设置。
作为本发明的进一步方案，所述晶体模组准直器的两侧部分别设有固定压块，所述固定压块与所述调节主体结构之间固接相连。
两组所述数显微分头的位移输出端均对应穿过所述固定压块。
作为本发明的进一步方案，所述调节主体结构在对应所述观察通道的中间上部还设有竖直刻线标。
本发明具有如下有益效果：
1、该装置通过螺旋测微器替代传统细牙螺栓，并通过螺旋测微器基于调节主体结构带动探测器晶体基板进行X向移动，同时利用弹簧柱塞能够基于调节主体结构在螺旋测微器的对向作用于探测器晶体，以此实现螺旋测微器与弹簧柱塞相互对顶探测器晶体基板，将探测器晶体基板调节到合理位置，能够实现在非常小的距离内达到微米级的精度控制，有效提升了调节精度。
2、该装置利用数显千分测微计直接作用于探测器晶体，可实现对探测器晶体在X向的位移量的精准量测，进而实现了探测器晶体上的成像物理像素单元与晶体模组准直器的对齐精度的改善，提高了调试效率。
3、该装置借助数显微分头新增Z向调节带动探测器晶体基板进行Z向移动，提高了探测器晶体上的成像物理像素单元与晶体模组准直器之间的Z向位置精度，改变了传统单向调节模式，同时利用数显微分头减少了人为误差，降低了探测器调试的试错成本，提高了探测器机械制造的成品率及调试效率。
4、该装置新增了支撑底板、架高支承座及提拉把手，提高了装置的稳定性，人员的可操作性空间，以及装置的移动便携性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本发明所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本发明所揭示的技术内容得能涵盖的范围内。
图1为本发明实施例提供的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置的整体轴测结构示意图。
图2为本发明实施例提供的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置的俯视结构示意图。
图3为本发明实施例提供的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置的前视结构示意图。
图4为本发明实施例提供的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置的侧视结构示意图。
附图中，各标号所代表的部件列表如下：
支撑底板1、提拉把手11；
架高支承座2；
晶体模组准直器3、固定压块31；
探测器晶体4；螺旋测微器5；
调节主体结构6、观察通道61、第一X向定位块62、第二X向定位块63、第一Z向定位块64、第二Z向定位块65、第一千分表定位块66、第二千分表定位块67；
弹簧柱塞7；数显微分头8；数显千分测微计9。
具体实施方式
以下由特定的具体实施例说明本发明的实施方式，熟悉此技术的人士可由本说明书所揭露的内容轻易地了解本发明的其他优点及功效，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。
本说明书所引用的如“上”、“下”、“左”、“右”、“中间”等用语，亦仅为便于叙述的明了，而非用以限定本发明可实施的范围，其相对关系的改变或调整，在无实质变更技术内容下，当亦视为本发明可实施的范畴。
如图1至图4所示，本发明实施例提供了一种用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，包括支撑底板1、架高支承座2、晶体模组准直器3、探测器晶体4、螺旋测微器5、调节主体结构6、弹簧柱塞7、数显微分头8和数显千分测微计9，用以通过螺旋测微器5替代传统细牙螺栓，并通过螺旋测微器5基于调节主体结构6带动探测器晶体4基板进行X向移动，同时利用弹簧柱塞7能够基于调节主体结构6在螺旋测微器5的对向作用于探测器晶体4，以此实现螺旋测微器5与弹簧柱塞7相互对顶探测器晶体4基板，将探测器晶体4基板调节到合理位置，能够实现在非常小的距离内达到微米级的精度控制，有效提升了调节精度；并且，利用数显千分测微计9直接作用于探测器晶体4，可实现对探测器晶体4在X向的位移量的精准量测，进而实现了探测器晶体4上的成像物理像素单元与晶体模组准直器3的对齐精度的改善，提高了调试效率；此外，借助数显微分头8新增Z向调节带动探测器晶体4基板进行Z向移动，提高了探测器晶体4上的成像物理像素单元与晶体模组准直器3之间的Z向位置精度，改变了传统单向调节模式，同时利用数显微分头8减少了人为误差，降低了探测器调试的试错成本。具体设置如下：
请参考图1至图4，所述支撑底板1为矩形板体结构，且矩形所述支撑底板1的顶端面固接有若干组提拉把手11，用以借助提拉把手11方便地提起支撑底板1，以此提高了人员的可操作性空间，以及装置的移动便携性。
所述架高支承座2通过内六角圆柱头螺栓固接于所述支撑底板1的顶端面，用以借助支撑底板1增强装置整体的稳定性；所述调节主体结构6通过内六角圆柱头螺栓固接于所述架高支承座2的上部，用以借助架高支承座2使得装置整体抬高，进而使产线人员的可操作性空间增大；所述晶体模组准直器3固定设于所述调节主体结构6的上部，且所述晶体模组准直器3的两侧部分别设有固定压块31，所述固定压块31通过高头滚花螺钉与所述调节主体结构6之间固接相连，用以通过固定压块31更稳定可靠地压紧晶体模组准直器3。
所述探测器晶体4对应位于所述晶体模组准直器3的上方，且所述探测器晶体4闪烁体具有测量基准点，相较于原有将测量基准点作用于探测器晶体4基板，因探测器晶体4上的成像物理像素单元的基准主要依靠于闪烁体，探测器晶体4与闪烁体之间的相对位置存在误差，因此通过将测量基准点作用于闪烁体上，使得测量基准点更加的可靠精准。所述调节主体结构6的一侧面开设有观察通道61，所述观察通道61与所述探测器晶体4之间相对应设置，用以通过观察通道61观察探测器晶体4基准。
请继续参考图1，所述调节主体结构6在对应所述观察通道61的两侧位置分别固接有第一X向定位块62和第二X向定位块63，所述第一X向定位块62和所述第二X向定位块63均固接有一组螺旋测微器5，两组所述螺旋测微器5的位移输出端均对应穿过X向定位块和所述调节主体结构6，且两组所述螺旋测微器5的位移输出端均与所述探测器晶体4的基板之间相对应设置；所述调节主体结构6在所述观察通道61的对向侧面固接有两组弹簧柱塞7，两组所述弹簧柱塞7与两组所述螺旋测微器5之间相一一对应设置，且两组所述弹簧柱塞7的弹力输出端均穿过所述调节主体结构6与所述探测器晶体4的基板之间相对应设置；用以通过上述设置实现螺旋测微器5能够基于调节主体结构6带动探测器晶体4基板进行X向移动，同时弹簧柱塞7能够基于调节主体结构6在螺旋测微器5的对向作用于探测器晶体4，以此实现螺旋测微器5与弹簧柱塞7相互对顶探测器晶体4基板，将探测器晶体4基板调节到合理位置，能够实现在小距离内达到微米级的精度控制，有效提升了调节精度；同时可单独调节X向每一个螺旋测微器5，带动探测器晶体4在X向移动，从而达到直接控制探测器晶体4闪烁体进行微型移动的目的；此外，使用的螺旋测微器5带有棘轮结构，借助棘轮结构具有的阻尼效果可有效控制力度大小。
所述调节主体结构6在所述观察通道61的对向侧面分别固接有第一千分表定位块66和第二千分表定位块67；所述第一千分表定位块66和所述第二千分表定位块67均固接有一组所述数显千分测微计9，所述数显千分测微计9与所述探测器晶体4闪烁体之间相对应设置，用以使得数显千分测微计9能够直接作用于闪烁体，通过数显千分测微计9测量探测器晶体4闪烁体在X向的位移量，使调节精度及稳定性大幅提升，且数值可视化，有效改善了探测器晶体4上的成像物理像素单元与晶体模组准直器5的对齐精度；同时，使用数显千分测微计9相较于传统千分表读数更加直接准确，可有效缩短产线人员的读数时间及读数出错率，进而以此提升了调试效率。
所述调节主体结构6在对应所述观察通道61所处侧面的两个相临侧面还分别固接有第一Z向定位块64和第二Z向定位块65，所述第一Z向定位块64和所述第二Z向定位块65均固接有一组所述数显微分头8，两组所述数显微分头8的位移输出端均对应穿过Z向定位块和所述固定压块31，且两组所述数显微分头8的位移输出端均与所述探测器晶体4的基板之间相对应设置；所述调节主体结构6在对应所述观察通道61的中间上部还设有竖直刻线标，用以通过竖直刻线标作为精密对准时的测量基准线，并通过观察竖直刻线标，使两组数显微分头8相互对顶探测器晶体4基板，将探测器晶体沿Z向移动调节到具体基准位置，可有效增加调节Z向位置精度，并通过将调节数值可视化，使位置清楚可控，且数显读数更加直接准确，另外还可基于数显微分头8内置阻尼有效控制力度大小，以此改变了传统单向调节模式，实现四向可调，减少了人为误差，降低了探测器调试试错成本，提高了探测器的成品率及调试效率。
上述用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置的使用过程如下：
通过调节主体结构6上的定位销，将探测器晶体4与晶体模组准直器3布置于调节装置主体6。
通过两组固定压块31压住晶体模组准直器3，并用高头滚花螺钉固定。
通过调节X向的螺旋测微器5配合弹簧柱塞7，使探测器晶体4到达基准零点位置。
使数显千分测微计9指针归零。
通过调节X向的螺旋测微器5，使探测器晶体4与晶体模组准直器3在X向对齐。
通过观察调节主体结构6的观察通道61的边线，调节Z向的数显微分头8，使探测器晶体4与晶体模组准直器3在Z向达到基准位置。
基于探测器晶体4紧固与晶体模组准直器3对应的螺栓。
虽然，上文中已经用一般性说明及具体实施例对本发明作了详尽的描述，但在本发明基础上，可以对之作一些修改或改进，这对本领域技术人员而言是显而易见的。因此，在不偏离本发明精神的基础上所做的这些修改或改进，均属于本发明要求保护的范围。
Claims (10)
1.一种用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，包括：
调节主体结构，一侧部开设有观察通道；所述晶体模组准直器固定于所述调节主体结构，所述探测器晶体对应位于所述晶体模组准直器的上方，且所述探测器晶体与所述观察通道之间相对应设置；
两组螺旋测微器，分别固接于所述调节主体结构对应所述观察通道的一侧面，且两组所述螺旋测微器分别一一对应位于所述观察通道的两侧位置，两组所述螺旋测微器的位移输出端均对应穿过所述调节主体结构，且两组所述螺旋测微器的位移输出端均与所述探测器晶体的基板之间相对应设置；
两组弹簧柱塞，分别固接于所述调节主体结构对应所述观察通道的对向侧面，两组所述弹簧柱塞的弹力输出端均穿过所述调节主体结构，且两组所述弹簧柱塞与所述探测器晶体的基板之间相对应设置；
两组所述弹簧柱塞与两组所述螺旋测微器之间相一一对应设置。
2.根据权利要求1所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，
所述调节主体结构的底部固接有架高支承座；
所述架高支承座的底部固接有支撑底板。
3.根据权利要求2所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，
所述支撑底板为矩形板体结构，且矩形所述支撑底板的顶端面固接有若干组提拉把手。
4.根据权利要求1所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，
所述调节主体结构在对应所述观察通道的两侧位置分别固接有第一X向定位块和第二X向定位块，两组所述螺旋测微器的固定端分别与所述第一X向定位块和所述第二X向定位块之间相固接设置。
5.根据权利要求1所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，还包括：
两组数显千分测微计，分别与所述调节主体结构之间相固接设置，且两组所述数显千分测微计分别与所述探测器晶体的闪烁体之间相对应设置。
6.根据权利要求5所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，
所述调节主体结构在对应所述观察通道的对向侧面分别固接有第一千分表定位块和第二千分表定位块；两组所述数显千分测微计分别一一对应与所述第一千分表定位块和所述第二千分表定位块之间相固接设置。
7.根据权利要求1所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，还包括：
两组数显微分头，分别固接于所述调节主体结构，且两组所述数显微分头一一对应位于所述观察通道所处侧面的两个相临侧面，两组所述数显微分头的位移输出端均与所述探测器晶体的基板之间相对应设置。
8.根据权利要求7所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，
所述调节主体结构在对应所述观察通道所处侧面的两个相临侧面还分别固接有第一Z向定位块和第二Z向定位块；两组所述数显微分头分别一一对应与所述第一Z向定位块和所述第二Z向定位块之间相固接设置。
9.根据权利要求7所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，
所述晶体模组准直器的两侧部分别设有固定压块，所述固定压块与所述调节主体结构之间固接相连；
两组所述数显微分头的位移输出端均对应穿过所述固定压块。
10.根据权利要求1或7所述的用于CT探测器晶体与晶体模组准直器的对位调节装置，其特征在于，
所述调节主体结构在对应所述观察通道的中间上部还设有竖直刻线标。
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