CN116341011B - 一种检测系统及方法 - Google Patents
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Abstract
本发明提供一种检测系统及方法,该系统包括第一模块和第二模块:第一模块,用于向数据校验模块发送读取预设数据的请求;第二模块,用于接收预设数据和预设数据对应的校验信息;根据预设数据和预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息;向数据校验模块发送第一数据和第一校验信息;第一模块,还用于接收数据校验模块发送的校验结果;在校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配时,确定数据校验模块功能异常;在校验结果指示第一数据和第一校验信息不匹配时,确定数据校验模块功能正常。该检测系统用以检测数据校验模块的功能是否精确,解决了当前缺少对数据校验模块功能的检测的问题。
Description
技术领域
本发明涉及数据安全技术领域,尤其涉及一种检测系统及方法。
背景技术
当前,一种数据处理系统包括主设备与从设备,主设备与从设备之间会进行数据的交互。数据的读写请求是由主设备中与外界交互的模块直接与从设备的静态随机存取存储器(Static Random-Access Memory,SRAM)进行交互,但是该方式对于主设备写入的数据和读取的数据均未添加校验信息,缺乏数据的安全保证。
因此,考虑到数据读写的安全性,可以在主设备中加入数据校验模块。当主设备中与外界交互的模块发送数据的写请求时,该请求会先到达数据校验模块,然后数据校验模块给所要写的数据生成相应的校验信息,并将该数据和其相应的校验信息共同写入到SRAM中。当主设备中与外界交互的模块发送数据的读请求时,SRAM同样会先将所要读取的数据及其相应的校验信息发送到数据校验模块,数据校验模块检验该读取数据及其相应的校验信息是否匹配,并将检验结果和该数据均返给主设备中与外界交互的模块。
但是,当SRAM受到破坏时,有概率导致其存储的数据或数据相应的校验信息发生反转导致数据不再安全。此时,若数据校验模块检验功能不精确,有概率无法发现读取的SRAM中的数据不匹配,数据存在错误,并直接将错误的数据发送给主设备中与外界交互的模块,致使主设备所在的系统混乱。因此,亟需对数据校验模块的功能进行检测,确定数据校验模块的检验功能是否精确。
发明内容
本发明提供一种检测系统及方法,用以检测数据校验模块的功能是否精确,解决了当前缺少对数据校验模块功能的检测的问题。
第一方面,本发明实施例提供一种检测系统,包括第一模块和第二模块:
所述第一模块,用于向数据校验模块发送读取预设数据的请求;
所述第二模块,用于接收所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息;根据所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息;其中,所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息,所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成的;或者,所述第一数据为所述预设数据,所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成的;向所述数据校验模块发送所述第一数据和所述第一校验信息;
所述第一模块,用于接收所述数据校验模块发送的校验结果;在所述校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配时,确定所述数据校验模块功能异常;在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息不匹配时,确定所述数据校验模块功能正常。
通过上述系统,在读取预设数据时,接收到数据校验模块对于该数据和其对应的校验信息的校验结果。由于该数据或该数据对应的校验信息在第二模块中进行过转换,因此所要读取的数据与校验信息不匹配,从而在接收数据校验模块发送的校验结果时,如果数据校验模块判断数据与校验信息匹配,则确定数据校验模块的功能异常。采用上述系统可以实现对数据校验模块功能是否正常进行判断,在确定数据校验模块功能异常后,就可以对数据校验模块及时修复,可以避免将数据校验模块将错误的数据发送给主设备中与外界交互的模块,进而避免主设备所在的系统混乱。
可选地,在所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息时,所述第一数据与所述预设数据为不同的数据。
通过上述系统,第一数据与预设数据为不同的数据可以确保第一数据与第一校验信息不匹配。
可选地,在所述第一数据为所述预设数据时,所述第一校验信息与所述预设数据对应的校验信息为不同的校验信息。
通过上述系统,第一校验信息与预设数据对应的校验信息为不同的校验信息可以确保第一数据与第一校验信息不匹配。
可选地,所述第一模块,还用于在所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成时,向所述第二模块发送所述第一转换数据,以使所述第二模块根据所述第一转换数据转换所述预设数据生成所述第一数据。
可选地,所述第一模块,还用于向所述第二模块发送第一使能信号,所述第一使能信号用于控制所述第二模块转换所述预设数据。
可选地,所述第一模块,还用于在所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成时,向所述第二模块发送所述第二转换数据,以使所述第二模块根据所述第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成所述第一校验信息。
可选地,所述第一模块,还用于向所述第二模块发送第二使能信号,所述第二使能信号用于控制所述第二模块转换所述预设数据对应的校验信息。
可选地,在向所述数据校验模块发送读取预设数据的请求之前,所述第一模块,还用于向所述数据校验模块发送写入所述预设数据的请求,以使所述数据校验模块生成所述预设数据对应的校验信息,并将所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息写入第一设备。
第二方面,本发明实施例提供一种检测方法,包括:
向数据校验模块发送读取预设数据的请求;
接收所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息;
根据所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息;其中,所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息,所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成的;或者,所述第一数据为所述预设数据,所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成的;
向所述数据校验模块发送所述第一数据和所述第一校验信息;
接收所述数据校验模块发送的校验结果;在所述校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配时,确定所述数据校验模块功能异常;在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息不匹配时,确定所述数据校验模块功能正常。
可选地,还包括:在向所述数据校验模块发送读取预设数据的请求之前,还向所述数据校验模块发送写入所述预设数据的请求,以使所述数据校验模块生成所述预设数据对应的校验信息,并将所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息写入第一设备。
另外,第二方面中任一种实现方式所带来的技术效果可参见第一方面中不同实现方式所带来的技术效果,此处不再赘述。
附图说明
图1为本发明中现有的主设备与从设备之间进行数据读写的示意图;
图2为本发明实施例提供的一种检测系统的系统架构图;
图3为本发明实施例提供的一种检测方法的流程示意图;
图4为本发明实施例提供的一种检测方法的示意图。
具体实施方式
为了使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚,下面将结合附图对本发明作进一步地详细描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部份实施例,而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其它实施例,都属于本发明保护的范围。
本发明实施例描述的应用场景是为了更加清楚的说明本发明实施例的技术方案,并不构成对于本发明实施例提供的技术方案的限定,本领域普通技术人员可知,随着新应用场景的出现,本发明实施例提供的技术方案对于类似的技术问题,同样适用。其中,在本发明的描述中,除非另有说明,“多个”的含义是两个或两个以上。
当前,为了保证主设备与主设备相应的存储数据的从设备之间读写数据的安全性,在主设备中加入了数据校验模块。主设备中存在与外界进行交互的模块,该模块可以发送数据的读写请求。当该模块发送数据的写请求时,该请求会先到达数据校验模块,从而数据校验模块基于算法给所要写的数据生成相应的校验信息,并将该数据和其相应的校验信息共同写入到从设备的SRAM中。
在主设备中的与外界交互的模块发送数据的读请求时,SRAM会先将所要读取的数据及其相应的校验信息发送到数据校验模块,从而数据校验模块根据该数据再次生成其相应的校验信息,进而数据校验模块判断再次生成的校验信息与读取的校验信息是否为同一校验信息。在校验信息为同一校验信息时,数据校验模块将检验结果匹配与所要读取的数据均返给主设备中与外界交互的模块;当校验信息不是同一校验信息时,数据校验模块将检验结果不匹配与所要读取的数据均返给主设备中与外界交互的模块。
但是,从设备的SRAM有概率受到高能粒子、瞬态高温等破坏导致其存储的数据或数据相应的校验信息发生反转,数据不再安全。此时,若数据校验模块由于时间太久硬件老化等原因导致检验功能不精确,有概率无法发现读取的SRAM中的数据不匹配,数据存在错误,并直接将错误的数据发送给主设备中与外界交互的模块,致使主设备所在的系统混乱。
示例性地,图1为当前主设备与从设备之间进行数据读写的示意图,其中,设定模块y为主设备中与外界交互的模块。
首先,模块y向数据校验模块发送写入数据请求,数据校验模块接收到该数据后,采用算法为数据生成校验信息,并将数据与数据的校验信息写入到从设备SRAM中。接着,模块y向数据校验模块发送读取数据请求,数据校验模块从从设备SRAM获取相应的数据和校验信息。数据校验模块再次根据算法对该数据生成校验信息,并比较新生成的校验信息与接收到的校验信息是否一致,进而判断来自从设备SRAM的数据和校验信息是否匹配。最后数据校验模块将判断数据和校验信息是否匹配的检验结果和数据均发送给模块y。
但是,在数据校验模块检验功能不精确时,有概率将来自从设备SRAM的不匹配的数据和校验信息误判为匹配,并将该检验结果和数据均发送给模块y。从而导致主设备使用了错误的数据,致使主设备所在的系统混乱。
因此,当前亟需对数据校验模块的检验功能进行检测,确定其的检验功能是否精确。
基于此,本申请提出了一种检测系统,用以检测数据校验模块的功能是否精确,解决了当前缺少对数据校验模块功能的检测,致使数据校验模块在检验功能出现问题时有概率将错误的数据引入到主设备中,导致主设备所在系统混乱的问题。
图2为本申请提出的一种检测系统的系统架构图。具体地,如图2所示,一种检测系统100包括第一模块101和第二模块102。其中,第一模块101和第二模块102还可以合为一个模块来实现检测功能,本申请以第一模块101和第二模块102分开实现检测功能来做具体说明。
具体地,第一模块101,用于向数据校验模块发送读取预设数据的请求。
具体地,第二模块102,用于接收预设数据和预设数据对应的校验信息,并根据预设数据和预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息。其中,当第一校验信息为预设数据对应的校验信息时,第一数据是根据第一转换数据转换预设数据生成的;或者,当第一数据为预设数据时,第一校验信息为根据第二转换数据转换预设数据对应的校验信息生成的。第二模块102向数据校验模块发送第一数据和第一校验信息。
具体地,第一模块101,还用于接收数据校验模块发送的校验结果。在校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配时,确定数据校验模块功能异常;在校验结果指示第一数据和第一校验信息不匹配时,确定数据校验模块功能正常。
关于检测系统100中各个组成部分的具体功能可以参考下述图3和图4所示实施例的相关描述。
图3为本申请提出的一种检测方法的流程图,图4为本申请提出的一种检测方法的示意图,结合图3和图4对本申请提出的一种检测方法进行具体说明:
具体地,第一模块和第二模块可以在其相应的主设备的内部,也可以在其相应的主设备之外,本申请不做限定。本申请以第一模块和第二模块处于主备内部进行具体说明。
步骤301:第一模块向数据校验模块发送读取预设数据的请求。
示例性地,第一模块在向数据校验模块发送读取预设数据的请求之前,第一模块还向数据校验模块发送写入预设数据的请求,从而数据校验模块可以生成预设数据对应的校验信息,并将预设数据和预设数据对应的校验信息写入第一设备中。其中,第一设备为第一模块相应的主设备之外的设备,如图4所示,第一设备可以是从设备。
示例性地,第一模块向数据校验模块发送写入预设数据的请求需要在不影响其相应的主设备的正常工作的情况下,即其相应的主设备中的与外界交互的模块工作完毕,处于空闲状态。
具体地,如图4所示,模块y为主设备中与外界交互的模块,在第一模块不工作时,模块y与现有技术相同,仍然直接向数据校验模块发送写入数据请求和读取数据请求,并接收检验结果和数据。在模块y处于空闲状态时,第一模块向数据校验模块发送写入预设数据的请求。
具体地,数据校验模块通过算法来生成预设数据对应的校验信息。其中,算法可以是校验和纠错算法(Error Checking and Correction,ecc)或奇偶校验位算法(parity),该算法还可以是其他任意可以用于生成校验信息的算法,本申请不做限定。
具体地,校验信息可以是校验码,还可以是其他任意形式的校验信息,本申请不做限定。
具体地,在预设数据和预设数据对应的校验信息被写入第一设备中后,第一模块向数据校验模块发送读取该预设数据的请求。
步骤302:数据校验模块向第一设备发送读取预设数据的请求。
示例性地,如图4所示,在步骤301中数据校验模块接收到来自第一模块的读取预设数据的请求后,数据校验模块向第一设备发送读取预设数据的请求。
步骤303:第一设备向第二模块发送预设数据和预设数据对应的校验信息。
示例性地,在步骤302中数据校验模块向第一设备发送读取预设数据的请求后,第一设备将预设数据和预设数据对应的校验信息发送给第二模块。
具体地,如图4所示,第二模块可以读取来自从设备SRAM的预设数据和预设数据对应的校验信息。
步骤304:第二模块根据预设数据和预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息。
示例性地,在步骤303中第二模块接收到预设数据和预设数据对应的校验信息,第二模块可以根据该预设数据和预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息。
示例性地,在第二模块确定第一数据和第一校验信息之前,如图4所示,第一模块会向第二模块发送转换数据和使能信号。具体地,第一模块可以在向数据校验模块发送读取预设数据的请求时,向第二模块发送转换数据和使能信号;或者,第一模块可以在第二模块接收到预设数据和预设数据对应的校验信息之前向第二模块发送转换数据和使能信号;或者,第一模块还可以在第二模块接收到预设数据和预设数据对应的校验信息之后向第二模块发送转换数据和使能信号;或者第一模块可以在向数据校验模块发送读取预设数据的请求时向第二模块发送转换数据,在第二模块接收到预设数据和预设数据对应的校验信息之前或之后向第二模块发使能信号等。
具体地,第一模块可以在第二模块确定第一数据和第一校验信息之前的任意节点向第二模块发送转换数据和使能信号,转换数据和使能信号可以一起发送也可以分开发送,本申请不做限定。
具体地,第一模块向第二模块发送的转换数据和使能信号可以为第一转换数据、第二转换数据和第一使能信号,或第一转换数据、第二转换数据和第二使能信号。或者,第一模块会向第二模块发送第一转换数据和第一使能信号,或第二转换数据和第二使能信号。
其中,第一转换数据是用于第二模块转换预设数据,第一使能信号是用于控制第二模块转换预设数据。第二转换数据是用于第二模块转换预设数据对应的校验信息,第二使能信号是用于控制第二模块转换预设数据对应的校验信息。
具体地,在第一校验信息为预设数据对应的校验信息时,第二模块根据第一转换数据转换预设数据生成第一数据。此时,第一数据和预设数据为不同的数据。
具体地,在第一数据为预设数据时,第二模块根据第二转换数据转换预设数据对应的校验信息生成第一校验信息。此时,第一校验信息和预设数据对应的校验信息为不同的校验信息。
具体地,第二模块根据第一转换数据或第二转换数据进行转换时可以采用数据转换逻辑进行转换。此外,还可以采用其他方式进行转换,本申请不做限定。
步骤305:第二模块向数据校验模块发送第一数据和第一校验信息。
示例性地,在步骤304中第二模块根据预设数据和预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息后,如图4所示,第二模块可以向数据校验模块发送第一数据和第一校验信息。
步骤306:数据校验模块判断第一数据和第一校验信息是否匹配,并生成校验结果。
其中,校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配或不匹配。
示例性地,数据校验模块接收到第一数据和第一校验信息后判断第一数据和第一校验信息是否匹配。具体地,数据校验模块是根据接收到的第一数据再次采用算法生成其相应的校验信息,并将新生成的校验信息与第一校验信息对比是否相同来判断第一数据和第一校验信息是否匹配。
在一种实现方式中,由于第一数据为第二模块根据第一转换数据转换预设数据生成的,而第一校验信息为预设数据对应的校验信息,且预设数据与第一数据为不同的数据,因此,第一数据新生成的校验信息与第一校验信息不同,第一数据与第一校验信息不匹配。
在另一种实现方式中,由于第一校验信息为第二模块根据第二转换数据转换预设数据对应的校验信息生成的,而第一数据为预设数据,且第一校验信息与预设数据对应的校验信息为不同的校验信息,因此,第一数据新生成的校验信息仍然是预设数据对应的校验信息,与第一校验信息不同,第一数据与第一校验信息不匹配。
步骤307:数据校验模块向第一模块发送校验结果。
示例性地,如图4所示,在步骤306中数据校验模块判断第一数据与第一校验信息是否匹配后,将校验结果发送到第一模块。
具体地,若第一模块接收到的校验结果指示第一数据和第一校验信息匹配,则第一模块确定数据校验模块功能异常。若第一模块接收到的校验结果指示第一数据和第一校验信息不匹配时,则第一模块确定数据校验模块功能正常。
具体地,为了确保测试数据校验模块功能的准确性,可多次执行上述步骤301至步骤307。
示例性地,本申请以第一模块向数据校验模块发送写入数据X为例进行具体说明。
首先,第一模块向数据校验模块发送写入数据X的请求,数据校验模块接收到数据X后为其生成相应的校验信息Y,进而数据校验模块将数据X和校验信息Y均发送至第一设备,第一设备存储数据X和校验信息Y。
接着,第一模块再向数据校验模块发送读取数据X的请求,并且向第二模块发送第一转换数据和第一使能信号。具体地,参考步骤304,第一模块还可以向第二模块发送第二转换数据和第二使能信号。
然后,第一设备将数据X和校验信息Y发送至第二模块,第二模块根据第一转换数据转换数据X为数据Z,数据Z与数据X为不同的数据。进而第二模块将数据Z和校验信息Y发送至数据校验模块。
最后,数据校验模块根据接收到的数据Z新生成其相应的校验信息M。由于校验信息M与校验信息Y不相同,如果数据校验模块判断出数据Z与校验信息Y不匹配,并且向第一模块发送不匹配的校验结果,则第一模块确定数据校验模块功能正常。反之,则第一模块确定数据校验模块功能异常。
通过第一模块向数据校验模块发送写入数据的请求后,再次发送对同一数据的读取请求,第一模块所要读取的数据和其相应的校验信息会先到达第二模块,在第二模块处转换所要读取的数据或转换所要读取的数据相应的校验信息后,将不匹配的数据和校验信息发送给数据校验模块,数据校验模块对该数据和校验信息进行判断是否匹配,并将判断结果发送给第一模块。在第一模块接收到的判断结果为匹配时,则第一模块确定数据校验模块功能异常,反之,在第一模块接收到的判断结果为不匹配时,则第一模块确定数据校验模块功能正常。从而可以实现对数据校验模块功能是否正常进行判断,进而避免了使用出现问题的数据校验模块,避免了将错误的数据引入到主设备中,导致主设备所在系统混乱的情况。
本发明实施例中对单元的划分是示意性的,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,另外,在本发明各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理器中,也可以是单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
本领域内的技术人员应明白,本发明的实施例可提供为方法、系统、或计算机程序产品。因此,本发明可采用完全硬件实施例、完全软件实施例、或结合软件和硬件方面的实施例的形式。而且,本发明可采用在一个或多个其中包含有计算机可用程序代码的计算机可用存储介质(包括但不限于磁盘存储器、CD-ROM、光学存储器等)上实施的计算机程序产品的形式。
本发明是参照根据本发明实施例的方法、设备(系统)、和计算机程序产品的流程图和/或方框图来描述的。应理解可由计算机程序指令实现流程图和/或方框图中的每一流程和/或方框、以及流程图和/或方框图中的流程和/或方框的结合。可提供这些计算机程序指令到通用计算机、专用计算机、嵌入式处理机或其他可编程数据处理设备的处理器以产生一个机器,使得通过计算机或其他可编程数据处理设备的处理器执行的指令产生用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的装置。
这些计算机程序指令也可存储在能引导计算机或其他可编程数据处理设备以特定方式工作的计算机可读存储器中,使得存储在该计算机可读存储器中的指令产生包括指令装置的制造品,该指令装置实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能。
这些计算机程序指令也可装载到计算机或其他可编程数据处理设备上,使得在计算机或其他可编程设备上执行一系列操作步骤以产生计算机实现的处理,从而在计算机或其他可编程设备上执行的指令提供用于实现在流程图一个流程或多个流程和/或方框图一个方框或多个方框中指定的功能的步骤。
尽管已描述了本发明的优选实施例,但本领域内的技术人员一旦得知了基本创造性概念,则可对这些实施例作出另外的变更和修改。所以,所附权利要求意欲解释为包括优选实施例以及落入本发明范围的所有变更和修改。
显然,本领域的技术人员可以对本发明进行各种改动和变型而不脱离本发明的范围。这样,倘若本发明的这些修改和变型属于本发明权利要求及其等同技术的范围之内,则本发明也意图包含这些改动和变型在内。
Claims (10)
1.一种检测系统,其特征在于,所述系统包括位于主设备中的第一模块和第二模块:
所述第一模块,用于向位于所述主设备中数据校验模块发送读取预设数据的请求;
所述第二模块,用于从从设备接收所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息;根据所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息;其中,所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息,所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成的;或者,所述第一数据为所述预设数据,所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成的;向所述数据校验模块发送所述第一数据和所述第一校验信息;所述预设数据对应的校验信息是所述数据校验模块根据所述第一模块发送的写入所述预设数据的请求生成的;
所述第一模块,用于接收所述数据校验模块发送的校验结果;所述校验结果为所述数据校验模块判断的所述第一数据和所述第一校验信息是否匹配;在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息匹配时,确定所述数据校验模块功能异常;在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息不匹配时,确定所述数据校验模块功能正常。
2.如权利要求1所述的系统,其特征在于,在所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息时,所述第一数据与所述预设数据为不同的数据。
3.如权利要求1所述的系统,其特征在于,在所述第一数据为所述预设数据时,所述第一校验信息与所述预设数据对应的校验信息为不同的校验信息。
4.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一模块,还用于在所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成时,向所述第二模块发送所述第一转换数据,以使所述第二模块根据所述第一转换数据转换所述预设数据生成所述第一数据。
5.如权利要求4所述的系统,其特征在于,所述第一模块,还用于向所述第二模块发送第一使能信号,所述第一使能信号用于控制所述第二模块转换所述预设数据。
6.如权利要求1所述的系统,其特征在于,所述第一模块,还用于在所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成时,向所述第二模块发送所述第二转换数据,以使所述第二模块根据所述第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成所述第一校验信息。
7.如权利要求6所述的系统,其特征在于,所述第一模块,还用于向所述第二模块发送第二使能信号,所述第二使能信号用于控制所述第二模块转换所述预设数据对应的校验信息。
8.如权利要求1所述的系统,其特征在于,在向所述数据校验模块发送读取预设数据的请求之前,所述第一模块,还用于向所述数据校验模块发送写入所述预设数据的请求,以使所述数据校验模块生成所述预设数据对应的校验信息,并将所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息写入第一设备。
9.一种检测方法,其特征在于,该方法包括:
向位于主设备中数据校验模块发送读取预设数据的请求;
从从设备接收所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息;
根据所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息确定第一数据和第一校验信息;其中,所述第一校验信息为所述预设数据对应的校验信息,所述第一数据是根据第一转换数据转换所述预设数据生成的;或者,所述第一数据为所述预设数据,所述第一校验信息是根据第二转换数据转换所述预设数据对应的校验信息生成的;
向所述数据校验模块发送所述第一数据和所述第一校验信息;所述预设数据对应的校验信息是所述数据校验模块根据写入所述预设数据的请求生成的;
接收所述数据校验模块发送的校验结果;所述校验结果为所述数据校验模块判断的所述第一数据和所述第一校验信息是否匹配;在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息匹配时,确定所述数据校验模块功能异常;在所述校验结果指示所述第一数据和所述第一校验信息不匹配时,确定所述数据校验模块功能正常。
10.如权利要求9所述的方法,其特征在于,还包括:
在向所述数据校验模块发送读取预设数据的请求之前,还向所述数据校验模块发送写入所述预设数据的请求,以使所述数据校验模块生成所述预设数据对应的校验信息,并将所述预设数据和所述预设数据对应的校验信息写入第一设备。
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Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106933696A (zh) * | 2015-12-31 | 2017-07-07 | 北京国睿中数科技股份有限公司 | Ecc功能验证方法 |
WO2018166109A1 (zh) * | 2017-03-13 | 2018-09-20 | 华为技术有限公司 | 一种终端检测方法及终端 |
CN111480147A (zh) * | 2017-12-12 | 2020-07-31 | 高通股份有限公司 | 用于针对纠错码功能的联机功能测试的系统和方法 |
CN114553601A (zh) * | 2022-04-25 | 2022-05-27 | 龙旗电子(惠州)有限公司 | 信息校验方法、装置、设备和介质 |
WO2023019997A1 (zh) * | 2021-08-19 | 2023-02-23 | 长鑫存储技术有限公司 | 测试方法及测试系统 |
Family Cites Families (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
DE102006001873B4 (de) * | 2006-01-13 | 2009-12-24 | Infineon Technologies Ag | Vorrichtung und Verfahren zum Überprüfen einer Fehlererkennungsfunktionalität einer Speicherschaltung |
JP2010009642A (ja) * | 2008-06-24 | 2010-01-14 | Toshiba Corp | 半導体記憶装置およびそのテスト方法 |
EP4231302A4 (en) * | 2021-08-19 | 2024-06-26 | Changxin Memory Technologies, Inc. | TEST PROCEDURE AND TEST SYSTEM |
-
2023
- 2023-05-11 CN CN202310527949.6A patent/CN116341011B/zh active Active
Patent Citations (5)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN106933696A (zh) * | 2015-12-31 | 2017-07-07 | 北京国睿中数科技股份有限公司 | Ecc功能验证方法 |
WO2018166109A1 (zh) * | 2017-03-13 | 2018-09-20 | 华为技术有限公司 | 一种终端检测方法及终端 |
CN111480147A (zh) * | 2017-12-12 | 2020-07-31 | 高通股份有限公司 | 用于针对纠错码功能的联机功能测试的系统和方法 |
WO2023019997A1 (zh) * | 2021-08-19 | 2023-02-23 | 长鑫存储技术有限公司 | 测试方法及测试系统 |
CN114553601A (zh) * | 2022-04-25 | 2022-05-27 | 龙旗电子(惠州)有限公司 | 信息校验方法、装置、设备和介质 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
黄高峰 ; 叶清 ; .PCI总线设备的通用型故障检测技术.计算机应用.2010,(S1),全文. * |
Also Published As
Publication number | Publication date |
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