CN116298544A - 低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统 - Google Patents

Abstract

本发明涉及一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统。方法包括：利用第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号，该功率不小于低噪声放大器的饱和输入功率；利用第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号，该功率小于低噪声放大器的饱和输入功率，第二频率和第一频率不相等；利用测试接收机测量第二信号的功率，接收机的接收频率等于第二频率；利用脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲；根据接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整第二脉冲的脉冲参数，直至测试接收机接收到的功率与预设功率相等；基于第二脉冲的最终脉冲参数和第一脉冲的脉冲参数，确定低噪声放大器的饱和恢复时间。该方法能够准确测量低噪声放大器的饱和恢复时间。

Description

低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统

技术领域

本发明涉及电磁特性测试技术领域，尤其涉及一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统。

背景技术

目前，目标电磁特性测试通常在紧缩场微波暗室内进行，在微波暗室内，收发天线的安装位置通常是固定的。在测试时，发射天线向被测目标发射测试信号，被测目标接收到测试信号后将其反射至接收天线。此外，为保证系统有较大的动态，发射链路往往具备大功率的功放，接收链路一般具备低噪声放大器。理想情况下，接收天线仅接收被测目标的回波信号，该回波信号为小功率信号，该小功率信号可以使低噪声放大器工作在线性区，从而将回波信号线性放大，放大后的信号被接收机接收，从而测得回波信号的功率。

然而，在实际测试中，由于收发天线都安装在反射面的焦点附近，彼此之间距离很近，会有一部分信号从发射天线直接耦合进去接收天线而被接收链路接收。一般收发天线之间的耦合度为-20dB～-30dB，而发射链路的功放功率一般超过+30dBm，此时泄露进入接收链路的耦合信号一般要超过+10dBm。这样大的耦合信号一般会让接收链路的低噪声放大器进入饱和状态，低噪声放大器进入饱和状态后，将不能对被测目标的回波信号进行放大，导致接收机接收到的信号功率也不正确。

通常，由于发射天线的直漏信号和被测目标的回波信号到达低噪声放大器的时间不同，对于特定的微波暗室而言，两者之间的时间差是固定的。此外，低噪声放大器饱和后经一定时间可以恢复至线性工作状态，因此，在选择低噪声放大器时，只要低噪声放大器的饱和恢复时间小于直漏信号和回波信号到达低噪声放大器的时间差，即可满足测试需求，保证被测目标电磁测试的准确性。

然而，相关技术不能对低噪声放大器的饱和恢复时间进行测试，从而在微波暗室内对目标进行电磁特性测试时，很难选择到合适的低噪声放大器，导致测试结果不准确。

因此，目前亟待需要一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统来解决上述技术问题。

发明内容

本发明实施例提供了一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法及系统，能够准确测量低噪声放大器的饱和恢复时间。

第一方面，本发明实施例提供了一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法，应用于低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统，系统包括第一发射链路、第二发射链路、接收链路、脉冲发生器和合路器，所述接收链路包括依次连接的被测低噪声放大器和测试接收机，所述第一发射链路包括依次连接的第一信号源和第一射频开关，所述第二发射链路包括依次连接的第二信号源和第二射频开关，所述第一射频开关和所述第二射频开关分别与所述合路器的入口端连接，所述合路器的出口端与所述低噪声放大器的输入端连接，所述脉冲发生器分别与所述第一射频开关和所述第二射频开关连接；所述方法包括：

利用所述第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号，所述第一功率不小于所述低噪声放大器的饱和输入功率；

利用所述第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号，所述第二功率小于所述低噪声放大器的饱和输入功率，所述第一频率和所述第二频率均位于所述低噪声放大器的工作频段，且所述第二频率和所述第一频率不相等；

利用所述测试接收机测量经所述低噪声放大器放大后的第二信号的功率，所述测试接收机的接收频率等于所述第二频率；

利用所述脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲，所述第一脉冲用于控制所述第一射频开关的通断，所述第二脉冲用于控制所述第二射频开关的通断；

根据所述测试接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整所述第二脉冲的脉冲参数，直至所述测试接收机接收到的功率与预设功率相等，确定所述第二脉冲的最终脉冲参数；

基于所述第二脉冲的最终脉冲参数和所述第一脉冲的脉冲参数，确定所述低噪声放大器的饱和恢复时间。

在一种可能的设计中，所述脉冲参数包括脉冲周期、脉冲宽度和脉冲延时，所述根据所述测试接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整所述第二脉冲的脉冲参数，包括：

判断在所述第二脉冲的初始脉冲延时下，所述测试接收机接收到的功率是否小于所述预设功率；

若是，按照预设的时间间隔不断增加所述第二脉冲的脉冲延时；

针对所述第二脉冲的每个脉冲延时，均判断当前脉冲延时下，所述测试接收机接收到的功率是否等于所述预设功率，若是，将当前脉冲延时确定为所述第二脉冲的最终脉冲延时；反之，判断下一个脉冲延时下，所述测试接收机接收到的功率是否等于所述预设功率，直至所述测试接收机接收到的功率与预设功率相等。

在一种可能的设计中，所述基于所述第二脉冲的最终脉冲参数和所述第一脉冲的脉冲参数，确定所述低噪声放大器的饱和恢复时间，包括：

将所述第二脉冲宽度的中心时间与所述第一脉冲宽度的中心时间的差值确定为所述低噪声放大器的饱和恢复时间。

在一种可能的设计中，所述预设功率是通过如下方法计算得到的：

关闭第一信号源；

利用所述第二信号源产生所述第二频率和所述第二功率的第二信号；

利用所述脉冲发生器产生第二脉冲；

利用所述测试接收机测量经所述低噪声放大器放大后的第二信号的功率，得到所述预设功率。

在一种可能的设计中，在利用所述低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统测量低噪声放大器的饱和恢复时间前，还包括：

开启所述第一信号源、所述第二信号源、所述第一射频开关、所述第二射频开关、所述低噪声放大器、所述测试接收机、所述脉冲发生器和所述合路器，以对各设备进行预设。

在一种可能的设计中，所述低噪声放大器和所述测试接收机之间还设置有衰减器；

所述衰减器用于调整信号的大小，以防止所述低噪声放大器的输出信号过高而损坏所述测试接收机。

在一种可能的设计中，所述第一信号和所述第二信号均为CW波。

第二方面，本发明实施例还提供了一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统，包括：

第一发射链路、第二发射链路、接收链路、脉冲发生器和合路器；

所述接收链路包括依次连接的被测低噪声放大器和测试接收机；

所述第一发射链路包括依次连接的第一信号源和第一射频开关，所述第二发射链路包括依次连接的第二信号源和第二射频开关，所述第一信号源用于产生第一频率和第一功率的第一信号，所述第二信号源用于产生第二频率和第二功率的第二信号，所述第一频率和所述第二频率均位于所述低噪声放大器的工作频段，且所述第一频率与所述第二频率不相等，所述第一功率不小于所述低噪声放大器的饱和输入功率，所述第二功率小于所述低噪声放大器的饱和输入功率；

所述脉冲发生器用于产生第一脉冲和第二脉冲，所述脉冲发生器分别与所述第一射频开关和所述第二射频开关连接，所述第一脉冲用于控制所述第一射频开关的通断，所述第二脉冲用于控制所述第二射频开关的通断；

所述合路器用于将所述第一信号和所述第二信号发送至所述低噪声放大器；

所述测试接收机用于测量所述第二信号的功率，所述测试接收机的接收频率等于所述第二频率。

在一种可能的设计中，所述第一信号和所述第二信号均为CW波。

在一种可能的设计中，所述低噪声放大器和所述测试接收机之间还设置有衰减器。

本发明实施例利用第一信号模拟可以将低噪声放大器推动至饱和状态的大功率发射信号，利用第二信号模拟正常增益的小功率回波信号，利用脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲，第一脉冲和第二脉冲分别通过控制第一射频开关和第二射频开关，控制第一信号和第二信号到达低噪声放大器的延时时间。由于低噪声放大器接收到大功率的第一信号后会进入饱和状态，在饱和状态下将不能对第二信号进行放大，不能准确测量第二信号的功率，只有当其重新恢复到线性工作状态时，才能准确测量第二信号的功率。因此，该实施例通过观察接收机接收到的功率与预设功率的差值，判断低噪声放大器是否已经从饱和状态恢复，即判断第一信号和第二信号到达被测噪声放大器的时间差是否等于被测噪声放大器的饱和恢复时间。当观察到被测试接收机接收到的功率等于预设功率时，表明低噪声放大器已经从饱和状态恢复到了线性状态，此时，通过第一脉冲的脉冲参数和第二脉冲的脉冲参数，即可计算出低噪声放大器的饱和恢复时间。如此，在进行待测目标的电磁特性测试时，首先确定出发射天线的直漏信号和被测目标的回波信号到达低噪声放大器的时间差后，即可利用本发明方法选择饱和恢复时间不大于该时间差的低噪声放大器，从而保证微波暗室测试结果的准确性。

附图说明

为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。

图1是本发明一实施例提供的一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法流程图；

图2是本发明一实施例提供的低噪声放大器增益输入功率与输出功率的对应图；

图3是本发明一实施例提供的一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统示意图。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将结合本发明实施例中的附图，对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例，基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动的前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。

下面描述以上构思的具体实现方式。

请参考图1，本发明实施例提供了一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法，应用于低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统，系统包括第一发射链路、第二发射链路、接收链路、脉冲发生器和合路器，接收链路包括依次连接的被测低噪声放大器和测试接收机，第一发射链路包括依次连接的第一信号源和第一射频开关，第二发射链路包括依次连接的第二信号源和第二射频开关，第一射频开关和第二射频开关分别与合路器的入口端连接，合路器的出口端与低噪声放大器的输入端连接，脉冲发生器分别与第一射频开关和第二射频开关连接；方法包括：

步骤100，利用第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号，第一功率不小于低噪声放大器的饱和输入功率；

步骤102，利用第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号，第二功率小于低噪声放大器的饱和输入功率，第一频率和第二频率均位于低噪声放大器的工作频段，且第二频率和第一频率不相等；

步骤104，利用测试接收机测量经低噪声放大器放大后的第二信号的功率，测试接收机的接收频率等于第二频率；

步骤106，利用脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲，第一脉冲用于控制第一射频开关的通断，第二脉冲用于控制第二射频开关的通断；

步骤108，根据测试接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整第二脉冲的脉冲参数，直至测试接收机接收到的功率与预设功率相等，确定第二脉冲的最终脉冲参数；

步骤110，基于第二脉冲的最终脉冲参数和第一脉冲的脉冲参数，确定低噪声放大器的饱和恢复时间。

该实施例利用第一信号模拟可以将低噪声放大器推动至饱和状态的大功率发射信号，利用第二信号模拟正常增益的小功率回波信号，利用脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲，第一脉冲和第二脉冲分别通过控制第一射频开关和第二射频开关，控制第一信号和第二信号到达低噪声放大器的延时时间。由于低噪声放大器接收到大功率的第一信号后会进入饱和状态，在饱和状态下将不能对第二信号进行放大，不能准确测量第二信号的功率，只有当其重新恢复到线性工作状态时，才能准确测量第二信号的功率。因此，该实施例通过观察接收机接收到的功率与预设功率的差值，判断低噪声放大器是否已经从饱和状态恢复，即判断第一信号和第二信号到达被测噪声放大器的时间差是否等于被测噪声放大器的饱和恢复时间。当观察到被测试接收机接收到的功率等于预设功率时，表明低噪声放大器已经从饱和状态恢复到了线性状态，此时，通过第一脉冲的脉冲参数和第二脉冲的脉冲参数，即可计算出低噪声放大器的饱和恢复时间。如此，在进行待测目标的电磁特性测试时，首先确定出发射天线的直漏信号和被测目标的回波信号到达低噪声放大器的时间差后，即可利用本发明方法选择饱和恢复时间不大于该时间差的低噪声放大器，从而保证微波暗室测试结果的准确性。

需要说明的是，第一信号源和第二信号源可以是双源矢量网络分析仪，或者其它可产生测试信号的设备，第一射频开关和第二射频开关为PIN开关，合路器可以是功分器等能够将两路或多路信号合路的器件或设备，脉冲发生器可以是其他能够产生可精确调整脉冲波形的信号发生器。此外，测试系统还包括与各设备配套的电缆等。

下面具体描述图1所示的各个步骤的执行方式。

首先，针对步骤100，利用第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号，第一功率不小于低噪声放大器的饱和输入功率。

如图2所示，为低噪声放大器增益输入功率与输出功率的对应图。从图中可以看出，当输入功率大于一定值后，低噪声放大器会进入饱和状态，在该状态下，输出信号与输入信号之间功率无线性关系，此时表现为放大器出现截止失真，增益不足。因此，为了模拟放大器的失真状态，第一功率不小于低噪声放大器的饱和输入功率，其中，饱和输入功率是根据放大器厂家提供的出厂参数确定的。

需要说明的是，低噪声放大器接收到不同大小功率的信号，其饱和恢复时间也不同，例如，当第一功率分别为+10dBm和+12dBm时，低噪声放大器对应的饱和恢复时间不同。因此，在确定第一功率时，可以根据实际目标测试时的功率确定第一功率，也可以根据实际需要确定。

然后，针对步骤102和步骤104，利用第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号，第二功率小于低噪声放大器的饱和输入功率，第一频率和第二频率均位于低噪声放大器的工作频段，且第二频率和第一频率不相等。

利用测试接收机测量经低噪声放大器放大后的第二信号的功率，测试接收机的接收频率等于第二频率。

该步骤中，第二信号使低噪声放大器工作在如图2所示的线性区域，当低噪声处于非饱和状态时，可以对该第二信号进行正常放大。因此，第二功率应小于低噪声放大器的饱和输入功率，如-30dBm，具体数值根据实际需要确定，本申请不做具体限定。

需要说明的是，测试接收机只能接收到与其工作频率相同的信号，由于本发明只需要测试低噪声放大器对第二信号的测试结果，因此，第一频率和第二频率不同，且第二频率等于测试接收机的接收频率。例如，当低噪声放大器的工作频段为2～18GHz时，第一频率和第二频率可以分别为3GHz和10GHz，则测试接收机的工作频率设置为10GHz，如此，可以测量第二信号的频率为10GHZ的情况下，低噪声放大器的饱和恢复时间。当然，改变第二频率，即可获得其它频率下低噪声放大器的饱和恢复时间，只要第一频率和第二频率不相等且测试接收机的接收频率等于第二频率即可。

接下来，针对步骤106，利用脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲，第一脉冲用于控制第一射频开关的通断，第二脉冲用于控制第二射频开关的通断。

在该步骤中，利用第一脉冲和第二脉冲可以控制第一信号和第二信号到达低噪声放大器的延时时间。目的在于使第一信号先到达低噪声放大器，以使其进入饱和状态。然后经过一段延时后，再使第二信号到达低噪声放大器，以便于观察低噪声放大器对第二信号的响应是否正常，并根据响应结果判断该延时时间下低噪声放大器是否已经从饱和状态恢复至线性状态。

再然后，针对步骤108，根据测试接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整第二脉冲的脉冲参数，直至测试接收机接收到的功率与预设功率相等，确定第二脉冲的最终脉冲参数。

在该步骤中，脉冲参数包括脉冲周期、脉冲宽度和脉冲延时，根据测试接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整第二脉冲的脉冲参数，包括：

判断在第二脉冲的初始脉冲延时下，测试接收机接收到的功率是否小于预设功率；

若是，按照预设的时间间隔不断增加第二脉冲的脉冲延时；

针对第二脉冲的每个脉冲延时，均判断当前脉冲延时下，测试接收机接收到的功率是否等于预设功率，若是，将当前脉冲延时确定为第二脉冲的最终脉冲延时；反之，判断下一个脉冲延时下，测试接收机接收到的功率是否等于预设功率，直至测试接收机接收到的功率与预设功率相等。

该步骤中，第一脉冲和第二脉冲的脉冲周期和脉冲宽度可以相等，如脉冲周期均为500ns，脉冲宽度均为50ns。当然，第一脉冲和第二脉冲的脉冲周期和脉冲宽度也可以不相等，本申请并不以此为限。

第一脉冲和第二脉冲的初始脉冲延时可以相等，如均为0ns，在该参数下判断测试接收机接收到的功率是否小于预设功率。若小于，说明低噪声放大器还未从饱和状态恢复为线性状态，导致其增益放大不足，所以测试接收机接收到的功率小于预设功率。此时，应增大第二脉冲的延时时间，每次增加预设的时间间隔，为保证测试精度，预设的时间间隔应尽量小，如5ns，当然也可以是其它值，本申请不做具体限定。通过不断增加第二脉冲的延时，最终实现测试接收机接收到的功率等于小于预设功率，此时可以判断低噪声放大器已经恢复至线性状态。

在一些实施方式中，预设功率是通过如下方法计算得到的：

关闭第一信号源；

利用第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号；

利用脉冲发生器产生第二脉冲；

利用测试接收机测量经低噪声放大器放大后的第二信号的功率，得到预设功率。

也就是说，预设功率为噪声放大器工作在线性区域，且第二信号为第二频率和第二功率下，测试接收机接收的功率。

在一些实施方式中，在利用低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统测量低噪声放大器的饱和恢复时间前，还包括：

开启第一信号源、第二信号源、第一射频开关、第二射频开关、低噪声放大器、测试接收机、脉冲发生器和合路器，以对各设备进行预设。

通过对系统进行预设，可以消除系统误差，保证测试结果的准确性。

在一些实施方式中，低噪声放大器和测试接收机之间还设置有衰减器；衰减器用于调整信号的大小，以防止低噪声放大器的输出信号过高而损坏测试接收机。

在该步骤中，低噪声放大器放大后的衰减器，可用于保护测试接收机，避免放大器输出的信号过高损毁接收机，同时选择合适衰减值的衰减器，也可以避免接收机接收到的信号过高使接收机出现饱和或者压缩。

在一些实施方式中，第一信号和第二信号均为CW波。

最后，针对步骤110，基于第二脉冲的最终脉冲参数和第一脉冲的脉冲参数，确定低噪声放大器的饱和恢复时间，包括：

将第二脉冲宽度的中心时间与第一脉冲宽度的中心时间的差值确定为低噪声放大器的饱和恢复时间。

如第一脉冲和第二脉冲的脉冲周期均为500ns、脉冲宽度均为50ns，第一脉冲的脉冲延时为0ns，第二脉冲的脉冲延时为100ns。则第一脉冲宽度的中心时间为25ns，第二脉冲宽度的中心时间为125ns，则第二脉冲宽度的中心时间与第一脉冲宽度的中心时间的差值为100ns。也就是说，低噪声放大器的饱和恢复时间为100ns。

如图3所示，本发明实施例还提供了一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统，包括：

第一发射链路、第二发射链路、接收链路、脉冲发生器和合路器；

接收链路包括依次连接的低噪声放大器和测试接收机；

第一发射链路包括依次连接的第一信号源和第一射频开关，第二发射链路包括依次连接的第二信号源和第二射频开关，第一信号源用于产生第一频率和第一功率的第一信号，第二信号源用于产生第二频率和第二功率的第二信号，第一频率和第二频率均位于低噪声放大器的工作频段，且第一频率与第二频率不相等，第一功率不小于低噪声放大器的饱和输入功率，第二功率小于低噪声放大器的饱和输入功率；

脉冲发生器用于产生第一脉冲和第二脉冲，脉冲发生器分别与第一射频开关和第二射频开关连接，第一脉冲用于控制第一射频开关的通断，第二脉冲用于控制第二射频开关的通断；

合路器用于将第一信号和第二信号发送至低噪声放大器；

测试接收机用于测量第二信号的功率，测试接收机的接收频率等于第二频率。

在一种可能的设计中，第一信号和第二信号均为CW波。

在一种可能的设计中，低噪声放大器和测试接收机之间还设置有衰减器。

可以理解的是，本发明实施例示意的系统并不构成对一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统的具体限定。在本发明的另一些实施例中，一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统可以包括比图示更多或者更少的部件，或者组合某些部件，或者拆分某些部件，或者不同的部件布置。图示的部件可以以硬件、软件或者软件和硬件的组合来实现。

上述系统由于与本发明方法实施例基于同一构思，具体内容可参见本发明方法实施例中的叙述，此处不再赘述。

需要说明的是，在本文中，诸如第一和第二之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来，而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且，术语“包括”、“包含”或者其任何其他变体意在涵盖非排他性的包含，从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素，而且还包括没有明确列出的其他要素，或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下，由语句“包括一个…”限定的要素，并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同因素。

最后应说明的是：以上实施例仅用以说明本发明的技术方案，而非对其限制；尽管参照前述实施例对本发明进行了详细的说明，本领域的普通技术人员应当理解：其依然可以对前述各实施例所记载的技术方案进行修改，或者对其中部分技术特征进行等同替换；而这些修改或者替换，并不使相应技术方案的本质脱离本发明各实施例技术方案的精神和范围。

Claims (10)

1.一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量方法，应用于低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统，系统包括第一发射链路、第二发射链路、接收链路、脉冲发生器和合路器，所述接收链路包括依次连接的被测低噪声放大器和测试接收机，所述第一发射链路包括依次连接的第一信号源和第一射频开关，所述第二发射链路包括依次连接的第二信号源和第二射频开关，所述第一射频开关和所述第二射频开关分别与所述合路器的入口端连接，所述合路器的出口端与所述低噪声放大器的输入端连接，所述脉冲发生器分别与所述第一射频开关和所述第二射频开关连接；所述方法包括：

利用所述第一信号源产生第一频率和第一功率的第一信号，所述第一功率不小于所述低噪声放大器的饱和输入功率；

利用所述第二信号源产生第二频率和第二功率的第二信号，所述第二功率小于所述低噪声放大器的饱和输入功率，所述第一频率和所述第二频率均位于所述低噪声放大器的工作频段，且所述第二频率和所述第一频率不相等；

利用所述测试接收机测量经所述低噪声放大器放大后的第二信号的功率，所述测试接收机的接收频率等于所述第二频率；

利用所述脉冲发生器产生第一脉冲和第二脉冲，所述第一脉冲用于控制所述第一射频开关的通断，所述第二脉冲用于控制所述第二射频开关的通断；

根据所述测试接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整所述第二脉冲的脉冲参数，直至所述测试接收机接收到的功率与预设功率相等，确定所述第二脉冲的最终脉冲参数；

基于所述第二脉冲的最终脉冲参数和所述第一脉冲的脉冲参数，确定所述低噪声放大器的饱和恢复时间。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述脉冲参数包括脉冲周期、脉冲宽度和脉冲延时，所述根据所述测试接收机接收到的功率与预设功率的差值，调整所述第二脉冲的脉冲参数，包括：

判断在所述第二脉冲的初始脉冲延时下，所述测试接收机接收到的功率是否小于所述预设功率；

若是，按照预设的时间间隔不断增加所述第二脉冲的脉冲延时；

针对所述第二脉冲的每个脉冲延时，均判断当前脉冲延时下，所述测试接收机接收到的功率是否等于所述预设功率，若是，将当前脉冲延时确定为所述第二脉冲的最终脉冲延时；反之，判断下一个脉冲延时下，所述测试接收机接收到的功率是否等于所述预设功率，直至所述测试接收机接收到的功率与预设功率相等。

3.根据权利要求2所述的方法，所述基于所述第二脉冲的最终脉冲参数和所述第一脉冲的脉冲参数，确定所述低噪声放大器的饱和恢复时间，包括：

将所述第二脉冲宽度的中心时间与所述第一脉冲宽度的中心时间的差值确定为所述低噪声放大器的饱和恢复时间。

4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述预设功率是通过如下方法计算得到的：

关闭第一信号源；

利用所述第二信号源产生所述第二频率和所述第二功率的第二信号；

利用所述脉冲发生器产生第二脉冲；

利用所述测试接收机测量经所述低噪声放大器放大后的第二信号的功率，得到所述预设功率。

5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，在利用所述低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统测量低噪声放大器的饱和恢复时间前，还包括：

开启所述第一信号源、所述第二信号源、所述第一射频开关、所述第二射频开关、所述低噪声放大器、所述测试接收机、所述脉冲发生器和所述合路器，以对各设备进行预设。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述低噪声放大器和所述测试接收机之间还设置有衰减器；

所述衰减器用于调整信号的大小，以防止所述低噪声放大器的输出信号过高而损坏所述测试接收机。

7.根据权利要求1-6任一项所述的方法，其特征在于，所述第一信号和所述第二信号均为CW波。

8.一种低噪声放大器饱和恢复时间的测量系统，其特征在于，包括：

第一发射链路、第二发射链路、接收链路、脉冲发生器和合路器；

所述接收链路包括依次连接的低噪声放大器和测试接收机；

所述第一发射链路包括依次连接的第一信号源和第一射频开关，所述第二发射链路包括依次连接的第二信号源和第二射频开关，所述第一信号源用于产生第一频率和第一功率的第一信号，所述第二信号源用于产生第二频率和第二功率的第二信号，所述第一频率和所述第二频率均位于所述低噪声放大器的工作频段，且所述第一频率与所述第二频率不相等，所述第一功率不小于所述低噪声放大器的饱和输入功率，所述第二功率小于所述低噪声放大器的饱和输入功率；

所述脉冲发生器用于产生第一脉冲和第二脉冲，所述脉冲发生器分别与所述第一射频开关和所述第二射频开关连接，所述第一脉冲用于控制所述第一射频开关的通断，所述第二脉冲用于控制所述第二射频开关的通断；

所述合路器用于将所述第一信号和所述第二信号发送至所述低噪声放大器；

所述测试接收机用于测量所述第二信号的功率，所述测试接收机的接收频率等于所述第二频率。

9.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述第一信号和所述第二信号均为CW波。

10.根据权利要求8所述的系统，其特征在于，所述低噪声放大器和所述测试接收机之间还设置有衰减器。

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