CN116243031B - 一种集成电路测试治具 - Google Patents
一种集成电路测试治具 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116243031B CN116243031B CN202310420397.9A CN202310420397A CN116243031B CN 116243031 B CN116243031 B CN 116243031B CN 202310420397 A CN202310420397 A CN 202310420397A CN 116243031 B CN116243031 B CN 116243031B
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- rod
- sliding
- fixedly connected
- plate
- rods
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Active
Links
- 238000012360 testing method Methods 0.000 title claims abstract description 67
- 239000000428 dust Substances 0.000 claims abstract description 27
- 230000005540 biological transmission Effects 0.000 claims description 51
- 230000007246 mechanism Effects 0.000 claims description 20
- 230000002457 bidirectional effect Effects 0.000 claims description 8
- 239000007921 spray Substances 0.000 claims description 8
- 238000005259 measurement Methods 0.000 abstract description 6
- 239000012535 impurity Substances 0.000 abstract description 5
- 238000006073 displacement reaction Methods 0.000 description 12
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 6
- 238000003466 welding Methods 0.000 description 5
- 235000017166 Bambusa arundinacea Nutrition 0.000 description 4
- 235000017491 Bambusa tulda Nutrition 0.000 description 4
- 241001330002 Bambuseae Species 0.000 description 4
- 235000015334 Phyllostachys viridis Nutrition 0.000 description 4
- 239000011425 bamboo Substances 0.000 description 4
- 238000006243 chemical reaction Methods 0.000 description 4
- 238000009434 installation Methods 0.000 description 2
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 description 1
- 230000007547 defect Effects 0.000 description 1
- 238000001514 detection method Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 230000007704 transition Effects 0.000 description 1
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
-
- B—PERFORMING OPERATIONS; TRANSPORTING
- B08—CLEANING
- B08B—CLEANING IN GENERAL; PREVENTION OF FOULING IN GENERAL
- B08B5/00—Cleaning by methods involving the use of air flow or gas flow
- B08B5/02—Cleaning by the force of jets, e.g. blowing-out cavities
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R1/00—Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
- G01R1/02—General constructional details
- G01R1/04—Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
- G01R1/0408—Test fixtures or contact fields; Connectors or connecting adaptors; Test clips; Test sockets
- G01R1/0416—Connectors, terminals
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
-
- G—PHYSICS
- G01—MEASURING; TESTING
- G01R—MEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
- G01R31/00—Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
- G01R31/28—Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
- G01R31/2851—Testing of integrated circuits [IC]
- G01R31/2886—Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
Landscapes
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- Testing Of Individual Semiconductor Devices (AREA)
Abstract
本发明属于测试治具领域,尤其是一种集成电路测试治具,针对现有的检测时若治具形成的压力过大则容易对集尘电路造成损伤,若相抵的压力较小,使得接触不紧密出现缝隙,或者集尘电路上沾染有灰尘杂质等未清理掉,则会直接影响到对集尘电路的电变量测量的问题,现提出如下方案,其包括底座,所述底座的顶部固定连接有侧板,侧板的一侧开设有两个滑槽,两个滑槽内均滑动安装有滑块,两个滑块的一侧固定连接有同一个升降板,本发明在使用时可以有效的保证电连接的稳定性,同时具有保护机制,避免对集成电路形成伤害,且可以有效的对集成电路表面的浮尘杂质等清洁,有效的保证测量电变量作业的进行。
Description
技术领域
本发明涉及测试治具技术领域,尤其涉及一种集成电路测试治具。
背景技术
集成电路测试治具是一种用来测试集成电路的工具,通过将集成电路板放置在测试治具内部,使得集成电路板的测试接点与测试电路板的弧形凹陷电连接,对集成电路板进行相关的测试工作,例如电变量的测量;
现有的一些测试治具在使用时,若测试电路板与集成电路接触不紧密则容易出现缝隙导致检测不准,若接相抵的压力过大则容易对集尘电路造成损伤,且集尘电路上若沾染有灰尘杂质等未清理掉,同样也会影响到对集尘电路的电变量测量。
发明内容
本发明的目的是为了解决现有技术中存在检测时若治具形成的压力过大则容易对集尘电路造成损伤,若相抵的压力较小,使得接触不紧密出现缝隙,或者集尘电路上沾染有灰尘杂质等未清理掉,则会直接影响到对集尘电路的电变量测量的缺点,而提出的一种集成电路测试治具。
为了实现上述目的,本发明采用了如下技术方案:
一种集成电路测试治具,包括底座,所述底座的顶部固定连接有侧板,侧板的一侧开设有两个滑槽,两个滑槽内均滑动安装有滑块,两个滑块的一侧固定连接有同一个升降板,升降板的底部连接有测试电路板,测试电路板的底部设置有多个测试柱,升降板内设置有两个限位保护机构,底座的顶部设置有夹持机构,侧板内开设有第一传动腔,第一传动腔内转动安装有旋转杆,旋转杆的一端延伸至侧板的外侧并固定连接有第一手轮,侧板的一侧设置有除尘机构,旋转杆与除尘机构和滑块相配合。
优选的,所述夹持机构包括开设于底座顶部的两个滑块槽,两个滑块槽内均滑动安装有滑动块,两个滑动块的顶部均固定连接有夹持板,两个滑块槽内转动安装有同一个双向丝杠,双向丝杠的一端延伸至底座的外侧并固定连接有第二手轮,两个滑动块上均开设有第一螺纹孔,双向丝杠螺纹安装与两个第一螺纹孔内,双向丝杠可以通过第一螺纹孔带动滑动块位移。
优选的,两个滑槽内均转动安装有螺纹杆,两个滑块上均开设有第二螺纹孔,两个螺纹杆分别螺纹安装于两个第二螺纹孔内,旋转杆的外侧固定套设有两个第一锥齿轮,两个螺纹杆的顶端均延伸至第一传动腔内并固定连接有第二锥齿轮,两个第二锥齿轮分别与两个第一锥齿轮相啮合,螺纹杆可以通过第二螺纹孔带动滑块位移。
优选的,所述升降板上开设有两个第一滑孔,两个第一滑孔内均滑动安装有限位滑杆,两个限位滑杆的顶端均固定连接有限位块,两个限位滑杆的底端均与测试电路板的顶部连接,且两个限位滑杆的外侧均套设有复位弹簧,复位弹簧可以通过限位滑杆和限位块将形变反作用力传递至测试电路板上。
优选的,所述限位保护机构包括开设于升降板内的第二传动腔,升降板的一侧开设有与第二传动腔相接通的第二滑孔,第二滑孔内滑动安装有滑动杆,滑动杆的一端固定连接有卡齿,侧板的一侧固定连接有限位齿条,限位齿条与卡齿相配合,限位齿条可以将水平位移至一定距离的卡齿限制住。
优选的,所述限位保护机构还包括设置于测试电路板上的连接杆,连接杆的顶端延伸至第二传动腔内并转动连接有第一传动杆,第一传动杆的一端与滑动杆的一端转动连接,连接杆与升降板产生相对位移时可以通过第一传动杆带动滑动杆位移。
优选的,所述除尘机构包括设置于侧板上的输气筒,输气筒上连接有进气管和排气管,进气管上设置有单向进气阀,排气管上设置有单向排气阀,且排气管的一端连接有多通道喷头,高压气流经过多通道喷头后可以形成高速气流。
优选的,所述旋转杆的另一端延伸至侧板的外侧并固定连接有旋转板,旋转板上转动安装有第二传动杆,第二传动杆的一端转动连接有伸缩杆,伸缩杆滑动安装于输气筒上,且伸缩杆的底端延伸至输气筒内并连接有活塞,活塞滑动安装于输气筒内,伸缩杆可以带动活塞往复位移。
优选的,所述侧板的顶部开设有与第一传动腔相接通的连接孔,连接孔内滑动安装有连接滑杆,连接滑杆的顶端固定连接有顶板,连接滑杆的底端固定连接有弧形卡齿板,旋转杆的外侧固定套设有卡齿轮,弧形卡齿板与卡齿轮相配合,顶板上转动安装有活动杆,连接滑杆的外侧套设有形变弹簧,形变弹簧可以带动连接滑杆复位。
与现有技术相比,本发明的有益效果是:
1、本方案通过升降板和限位滑杆与测试电路板相配合,限位滑杆与复位弹簧和限位块相配合,当测试电路板通过测试柱与集成电路相抵时,此时升降板可以继续向下位移,使得复位弹簧产生形变,通过复位弹簧的形变力使得限位滑杆带动测试电路板与集成电路相抵,有效的保证其之间不会稳定的连接;
2、本方案通过连接杆和第一传动杆与滑动杆相配合,滑动杆通过卡齿与限位齿条相配合,使得测试电路板与升降板之间相互靠近之后,可以使得滑动杆带动卡齿水平位移,当卡齿位移至移动距离后会与限位齿条相抵,从而使得升降板被锁止住,避免升降板传递至测试电路板上的压力过大,致使测试电路板对集成电路过大的压力导致其受损;
3、本方案通过旋转板和第二传动杆与伸缩杆相配合,活塞和输气筒与单向进气阀和单向出气阀相配合,使得活塞可以实现往往的位移,从而使得输气筒可以源源不断的通过排气管向多通道喷头内输送气体,使得气体在高压力下从小管道内喷出,形成较大的风压,通过该气流风压对集成电路表面进行清洁,避免灰尘和杂质影响对电变量的测量。
本发明在使用时可以有效的保证电连接的稳定性,同时具有保护机制,避免对集成电路形成伤害,且可以有效的对集成电路表面的浮尘杂质等清洁,有效的保证测量电变量作业的进行。
附图说明
图1为本发明提出的一种集成电路测试治具的结构示意图;
图2为本发明提出的一种集成电路测试治具的侧板结构示意图;
图3为本发明提出的一种集成电路测试治具的升降板与测试电路板连接的结构示意图;
图4为本发明提出的一种集成电路测试治具的除尘机构结构示意图;
图5为本发明提出的一种集成电路测试治具的多通道喷头的立体结构示意图;
图6为本发明提出的一种集成电路测试治具的图2中A处放大结构示意图。
图中:1底座、2侧板、3滑块、4升降板、5测试电路板、6测试柱、7旋转杆、8第一手轮、9滑动块、10夹持板、11双向丝杠、12第二手轮、13螺纹杆、14第一锥齿轮、15第二锥齿轮、16限位滑杆、17限位块、18复位弹簧、19滑动杆、20卡齿、21限位齿条、22连接杆、23第一传动杆、24输气筒、26排气管、27多通道喷头、28旋转板、29第二传动杆、30伸缩杆、31活塞、32连接滑杆、33顶板、34弧形卡齿板、35卡齿轮、36活动杆、37形变弹簧。
具体实施方式
下面将结合本发明实施例中的附图,对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本发明一部分实施例,而不是全部的实施例。
实施例一
参照图1-6,一种集成电路测试治具,包括底座1,底座1的顶部通过焊接固定连接有侧板2,侧板2的一侧开设有两个滑槽,两个滑槽内均滑动安装有滑块3,两个滑块3的一侧通过焊接固定连接有同一个升降板4,升降板4的底部连接有测试电路板5,测试电路板5的底部设置有多个测试柱6,升降板4内设置有两个限位保护机构,底座1的顶部设置有夹持机构,侧板2内开设有第一传动腔,第一传动腔内转动安装有旋转杆7,旋转杆7的一端延伸至侧板2的外侧并通过焊接固定连接有第一手轮8,侧板2的一侧设置有除尘机构,旋转杆7与除尘机构和滑块3相配合。
本实施例中,夹持机构包括开设于底座1顶部的两个滑块槽,两个滑块槽内均滑动安装有滑动块9,两个滑动块9的顶部均通过焊接固定连接有夹持板10,两个滑块槽内转动安装有同一个双向丝杠11,双向丝杠11的一端延伸至底座1的外侧并通过焊接固定连接有第二手轮12,两个滑动块9上均开设有第一螺纹孔,双向丝杠11螺纹安装与两个第一螺纹孔内,双向丝杠11可以通过第一螺纹孔带动滑动块9位移。
本实施例中,两个滑槽内均转动安装有螺纹杆13,两个滑块3上均开设有第二螺纹孔,两个螺纹杆13分别螺纹安装于两个第二螺纹孔内,旋转杆7的外侧通过焊接固定套设有两个第一锥齿轮14,两个螺纹杆13的顶端均延伸至第一传动腔内并通过焊接固定连接有第二锥齿轮15,两个第二锥齿轮15分别与两个第一锥齿轮14相啮合,螺纹杆13可以通过第二螺纹孔带动滑块3位移。
本实施例中,升降板4上开设有两个第一滑孔,两个第一滑孔内均滑动安装有限位滑杆16,两个限位滑杆16的顶端均通过焊接固定连接有限位块17,两个限位滑杆16的底端均与测试电路板5的顶部连接,且两个限位滑杆16的外侧均套设有复位弹簧18,复位弹簧18可以通过限位滑杆16和限位块17将形变反作用力传递至测试电路板5上。
本实施例中,限位保护机构包括开设于升降板4内的第二传动腔,升降板4的一侧开设有与第二传动腔相接通的第二滑孔,第二滑孔内滑动安装有滑动杆19,滑动杆19的一端通过焊接固定连接有卡齿20,侧板2的一侧通过焊接固定连接有限位齿条21,限位齿条21与卡齿20相配合,限位齿条21可以将水平位移至一定距离的卡齿20限制住。
本实施例中,限位保护机构还包括设置于测试电路板5上的连接杆22,连接杆22的顶端延伸至第二传动腔内并转动连接有第一传动杆23,第一传动杆23的一端与滑动杆19的一端转动连接,连接杆22与升降板4产生相对位移时可以通过第一传动杆23带动滑动杆19位移。
本实施例中,除尘机构包括设置于侧板2上的输气筒24,输气筒24上连接有进气管25和排气管26,进气管25上设置有单向进气阀,排气管26上设置有单向排气阀,且排气管26的一端连接有多通道喷头27,高压气流经过多通道喷头27后可以形成高速气流。
本实施例中,旋转杆7的另一端延伸至侧板2的外侧并通过焊接固定连接有旋转板28,旋转板28上转动安装有第二传动杆29,第二传动杆29的一端转动连接有伸缩杆30,伸缩杆30滑动安装于输气筒24上,且伸缩杆30的底端延伸至输气筒24内并连接有活塞31,活塞31滑动安装于输气筒24内,伸缩杆30可以带动活塞31往复位移。
本实施例中,侧板2的顶部开设有与第一传动腔相接通的连接孔,连接孔内滑动安装有连接滑杆32,连接滑杆32的顶端通过焊接固定连接有顶板33,连接滑杆32的底端通过焊接固定连接有弧形卡齿板34,旋转杆7的外侧通过焊接固定套设有卡齿轮35,弧形卡齿板34与卡齿轮35相配合,顶板33上转动安装有活动杆36,连接滑杆32的外侧套设有形变弹簧37,形变弹簧37可以带动连接滑杆32复位。
本实施例中,在使用时,首先需要解除对旋转杆7的锁止,此时可以先向上拉动顶板33,使得顶板33通过连接滑杆32带动弧形卡齿板34与卡齿轮35分离并使得形变弹簧37形变,再将活动杆36向内翻转,使得活动杆36将顶板33抵住,使得形变弹簧37无法形变,从而解除对旋转杆7的锁止状态,然后将需要测试的集成电路放置到底座1上,然后转动第二手轮12,第二手轮12可以带动双向丝杠11转动,双向丝杠11可以通过第一螺纹孔带动两个滑动块9位移,使得两个夹持板10相互靠近,从而有效的将集成电路夹持固定住,然后再转动第二手轮8,第二手轮8带动旋转杆7转动,旋转杆7带动第一锥齿轮14转动,第一锥齿轮14带动第二锥齿轮15转动,第二锥齿轮15带动螺纹杆13转动,螺纹杆13可以通过第二螺纹孔带动滑块3向下位移,滑块3带动升降板4向下位移,直至限位板4带动测试电路板5通过测试柱6与下方的集成电路相抵,为保证电连接的稳定性,此时需要继续转动第二手轮8,此时升降板4继续下降并与测试电路板5产生相对位移,从而使得复位弹簧18产生形变,复位弹簧18的形变反作用力通过限位块17和限位滑杆16传递至测试电路板5上,从而使得测试柱6可以利用复位弹簧18的形变力与集成电路相抵,同时升降板4与测试电路板5产生相对距离时,可以使得连接杆22产生相对位移并通过第一传动杆23带动滑动杆19位移,使得滑动杆19可以带动卡齿20位移,直至卡齿20与限位齿条21相抵,从而使得升降板4无法再向下位移,从而有效的避免人为失误,导致的升降板4过渡向下位移致使集成电路受较大压力受损,这样既保证了电连接的稳定性,又不用担心用力过大产生损伤,同时旋转杆7带动旋转板28转动,旋转板28通过第二传动杆29带动伸缩杆30位移,使得伸缩杆30可以带动活塞31往复位移,活塞31在输气筒24内往复位移时,使得输气筒24通过进气管25和单向进气阀相配合,可以源源不断的相输气筒24内进气,再通过排气管24和单向排气阀,将气体输送至多通道喷头27内,使得气体在高压力下从多通道喷头27内的小管道内喷出,形成较大的风压,通过该气流风压对集成电路表面进行清洁,避免浮尘和杂质影响对电变量的测量。
实施例二
与实施例一的不同之处在于:夹持机构包括开设于底座1顶部的两个滑块槽,两个滑块槽内均滑动安装有滑动块9,两个滑动块9的顶部均固定连接有夹持板10,两个滑块槽内转动安装有同一个双向丝杠11,双向丝杠11的一端延伸至底座1的外侧并固定连接有第二手轮12,两个滑动块9上均开设有第一螺纹孔,双向丝杠11螺纹安装与两个第一螺纹孔内,两个夹持板10相互靠近的一侧均设置有橡胶防护垫。
本发明中,在使用时,首先需要解除对旋转杆7的锁止,此时可以先向上拉动顶板33,使得顶板33通过连接滑杆32带动弧形卡齿板34与卡齿轮35分离并使得形变弹簧37形变,再将活动杆36向内翻转,使得活动杆36将顶板33抵住,使得形变弹簧37无法形变,从而解除对旋转杆7的锁止状态,然后将需要测试的集成电路放置到底座1上,然后转动第二手轮12,第二手轮12可以带动双向丝杠11转动,双向丝杠11可以通过第一螺纹孔带动两个滑动块9位移,使得两个夹持板10相互靠近,从而有效的将集成电路夹持固定住,且通过夹持板10上的橡胶防护垫,可以有效避免将集成电路夹持损伤,然后再转动第二手轮8,第二手轮8带动旋转杆7转动,旋转杆7带动第一锥齿轮14转动,第一锥齿轮14带动第二锥齿轮15转动,第二锥齿轮15带动螺纹杆13转动,螺纹杆13可以通过第二螺纹孔带动滑块3向下位移,滑块3带动升降板4向下位移,直至限位板4带动测试电路板5通过测试柱6与下方的集成电路相抵,为保证电连接的稳定性,此时需要继续转动第二手轮8,此时升降板4继续下降并与测试电路板5产生相对位移,从而使得复位弹簧18产生形变,复位弹簧18的形变反作用力通过限位块17和限位滑杆16传递至测试电路板5上,从而使得测试柱6可以利用复位弹簧18的形变力与集成电路相抵,同时升降板4与测试电路板5产生相对距离时,可以使得连接杆22产生相对位移并通过第一传动杆23带动滑动杆19位移,使得滑动杆19可以带动卡齿20位移,直至卡齿20与限位齿条21相抵,从而使得升降板4无法再向下位移,从而有效的避免人为失误,导致的升降板4过渡向下位移致使集成电路受较大压力受损,这样既保证了电连接的稳定性,又不用担心用力过大产生损伤,同时旋转杆7带动旋转板28转动,旋转板28通过第二传动杆29带动伸缩杆30位移,使得伸缩杆30可以带动活塞31往复位移,活塞31在输气筒24内往复位移时,使得输气筒24通过进气管25和单向进气阀相配合,可以源源不断的相输气筒24内进气,再通过排气管24和单向排气阀,将气体输送至多通道喷头27内,使得气体在高压力下从多通道喷头27内的小管道内喷出,形成较大的风压,通过该气流风压对集成电路表面进行清洁,避免浮尘和杂质影响对电变量的测量。
其余与实施例一相同。
以上所述,仅为本发明较佳的具体实施方式,但本发明的保护范围并不局限于此,任何熟悉本技术领域的技术人员在本发明揭露的技术范围内,根据本发明的技术方案及其发明构思加以等同替换或改变,都应涵盖在本发明的保护范围之内。
Claims (3)
1.一种集成电路测试治具,包括底座(1),其特征在于,所述底座(1)的顶部固定连接有侧板(2),侧板(2)的一侧开设有两个滑槽,两个滑槽内均滑动安装有滑块(3),两个滑块(3)的一侧固定连接有同一个升降板(4),升降板(4)的底部连接有测试电路板(5),测试电路板(5)的底部设置有多个测试柱(6),升降板(4)内设置有两个限位保护机构,底座(1)的顶部设置有夹持机构,侧板(2)内开设有第一传动腔,第一传动腔内转动安装有旋转杆(7),旋转杆(7)的一端延伸至侧板(2)的外侧并固定连接有第一手轮(8),侧板(2)的一侧设置有除尘机构,旋转杆(7)与除尘机构和滑块(3)相配合;
所述升降板(4)上开设有两个第一滑孔,两个第一滑孔内均滑动安装有限位滑杆(16),两个限位滑杆(16)的顶端均固定连接有限位块(17),两个限位滑杆(16)的底端均与测试电路板(5)的顶部连接,且两个限位滑杆(16)的外侧均套设有复位弹簧(18);
所述限位保护机构包括开设于升降板(4)内的第二传动腔,升降板(4)的一侧开设有与第二传动腔相接通的第二滑孔,第二滑孔内滑动安装有滑动杆(19),滑动杆(19)的一端固定连接有卡齿(20),侧板(2)的一侧固定连接有限位齿条(21),限位齿条(21)与卡齿(20)相配合;
所述限位保护机构还包括设置于测试电路板(5)上的连接杆(22),连接杆(22)的顶端延伸至第二传动腔内并转动连接有第一传动杆(23),第一传动杆(23)的一端与滑动杆(19)的一端转动连接;
所述除尘机构包括设置于侧板(2)上的输气筒(24),输气筒(24)上连接有进气管(25)和排气管(26),进气管(25)上设置有单向进气阀,排气管(26)上设置有单向排气阀,且排气管(26)的一端连接有多通道喷头(27);
所述旋转杆(7)的另一端延伸至侧板(2)的外侧并固定连接有旋转板(28),旋转板(28)上转动安装有第二传动杆(29),第二传动杆(29)的一端转动连接有伸缩杆(30),伸缩杆(30)滑动安装于输气筒(24)上,且伸缩杆(30)的底端延伸至输气筒(24)内并连接有活塞(31),活塞(31)滑动安装于输气筒(24)内;
所述侧板(2)的顶部开设有与第一传动腔相接通的连接孔,连接孔内滑动安装有连接滑杆(32),连接滑杆(32)的顶端固定连接有顶板(33),连接滑杆(32)的底端固定连接有弧形卡齿板(34),旋转杆(7)的外侧固定套设有卡齿轮(35),弧形卡齿板(34)与卡齿轮(35)相配合,顶板(33)上转动安装有活动杆(36),连接滑杆(32)的外侧套设有形变弹簧(37)。
2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试治具,其特征在于,所述夹持机构包括开设于底座(1)顶部的两个滑块槽,两个滑块槽内均滑动安装有滑动块(9),两个滑动块(9)的顶部均固定连接有夹持板(10),两个滑块槽内转动安装有同一个双向丝杠(11),双向丝杠(11)的一端延伸至底座(1)的外侧并固定连接有第二手轮(12),两个滑动块(9)上均开设有第一螺纹孔,双向丝杠(11)螺纹安装与两个第一螺纹孔内。
3.根据权利要求1所述的一种集成电路测试治具,其特征在于,两个滑槽内均转动安装有螺纹杆(13),两个滑块(3)上均开设有第二螺纹孔,两个螺纹杆(13)分别螺纹安装于两个第二螺纹孔内,旋转杆(7)的外侧固定套设有两个第一锥齿轮(14),两个螺纹杆(13)的顶端均延伸至第一传动腔内并固定连接有第二锥齿轮(15),两个第二锥齿轮(15)分别与两个第一锥齿轮(14)相啮合。
Priority Applications (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310420397.9A CN116243031B (zh) | 2023-04-19 | 2023-04-19 | 一种集成电路测试治具 |
Applications Claiming Priority (1)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN202310420397.9A CN116243031B (zh) | 2023-04-19 | 2023-04-19 | 一种集成电路测试治具 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116243031A CN116243031A (zh) | 2023-06-09 |
CN116243031B true CN116243031B (zh) | 2024-05-28 |
Family
ID=86628053
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310420397.9A Active CN116243031B (zh) | 2023-04-19 | 2023-04-19 | 一种集成电路测试治具 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116243031B (zh) |
Families Citing this family (3)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN116500033B (zh) * | 2023-06-26 | 2024-05-17 | 四川英创力电子科技股份有限公司 | 可调节式视觉外管检测设备及其使用方法 |
CN116990670A (zh) * | 2023-08-02 | 2023-11-03 | 深圳市凌科凯特电子有限公司 | 一种汽车中控屏性能测试装置及其测试方法 |
CN117491840B (zh) * | 2023-10-20 | 2024-04-30 | 北京齐诚科技有限公司 | 一种集成电路的测试装置 |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113096931A (zh) * | 2021-04-20 | 2021-07-09 | 南通米兰特电气有限公司 | 低耗节能电梯用控制变压器 |
CN217901954U (zh) * | 2022-06-10 | 2022-11-25 | 武汉三合成科技有限公司 | 一种简易集成电路测试装置 |
CN115553802A (zh) * | 2022-08-01 | 2023-01-03 | 山东大学齐鲁医院(青岛) | 一种骨科手部手术拍片固定组件 |
CN115598508A (zh) * | 2022-10-31 | 2023-01-13 | 山东虹芯电子科技有限公司(Cn) | 一种集成电路测试连接装置 |
CN218331835U (zh) * | 2022-01-14 | 2023-01-17 | 郑州凯茂电气科技有限公司 | 线路在线检测装置 |
CN218524831U (zh) * | 2022-10-20 | 2023-02-24 | 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心) | 一种集成电路的自动测试装置 |
-
2023
- 2023-04-19 CN CN202310420397.9A patent/CN116243031B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN113096931A (zh) * | 2021-04-20 | 2021-07-09 | 南通米兰特电气有限公司 | 低耗节能电梯用控制变压器 |
CN218331835U (zh) * | 2022-01-14 | 2023-01-17 | 郑州凯茂电气科技有限公司 | 线路在线检测装置 |
CN217901954U (zh) * | 2022-06-10 | 2022-11-25 | 武汉三合成科技有限公司 | 一种简易集成电路测试装置 |
CN115553802A (zh) * | 2022-08-01 | 2023-01-03 | 山东大学齐鲁医院(青岛) | 一种骨科手部手术拍片固定组件 |
CN218524831U (zh) * | 2022-10-20 | 2023-02-24 | 中国软件评测中心(工业和信息化部软件与集成电路促进中心) | 一种集成电路的自动测试装置 |
CN115598508A (zh) * | 2022-10-31 | 2023-01-13 | 山东虹芯电子科技有限公司(Cn) | 一种集成电路测试连接装置 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN116243031A (zh) | 2023-06-09 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
CN116243031B (zh) | 一种集成电路测试治具 | |
CN108007679A (zh) | 汽车零部件测试装置 | |
CN112820627B (zh) | 一种高效晶圆片的清洗方法 | |
CN204975898U (zh) | 元件实装机的吸嘴更换装置 | |
CN104879074A (zh) | 一种轨道式铁钻工旋扣钳 | |
CN214887653U (zh) | 一种试油用水力喷射泵 | |
CN109047533A (zh) | 一种管材缩口机管材定位装置 | |
CN213209410U (zh) | 一种阀体气密性测试装置 | |
CN211955027U (zh) | 一种钻杆多工位水压检测平台 | |
CN113776570B (zh) | 一种用于矿山机械传感器的保护装置 | |
CN107477333A (zh) | 一种建筑施工插座用防尘装置 | |
CN209910923U (zh) | 一种应用发动机缸体检测的夹紧翻转机构 | |
CN208902520U (zh) | 一种建筑工程用扣件的检测装置 | |
CN110220647A (zh) | 用于水泵制造的气密性检测装置 | |
CN112539905A (zh) | 一种汽车零部件表面物理性能测试装置及测试方法 | |
CN208679985U (zh) | 一种金属齿轮测量用清洗装置 | |
CN214602875U (zh) | 一种led玻璃幕墙施工用辅助设备 | |
CN221100439U (zh) | 一种预制盾构管片检测设备 | |
CN109341980A (zh) | 一种发动机缸盖气密性检测装置 | |
CN114837582B (zh) | 油井大修作业自动化用抽油杆自动上卸扣装置 | |
CN209784141U (zh) | 一种新型淋雨试验台 | |
CN219870767U (zh) | 一种高压管件压力试验设备 | |
CN220498976U (zh) | 一种用于电池托盘的连续生产柔性夹持机构 | |
CN220921163U (zh) | 一种具有压紧固定功能的攻丝机 | |
CN218674119U (zh) | 一种高密封链条涨紧器气密检测设备 |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant | ||
GR01 | Patent grant |