CN116205824B - 缺陷修复方法、缺陷校正算法的确定方法、装置 - Google Patents
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Abstract
本公开涉及一种缺陷修复方法、缺陷校正算法的确定方法、装置。所述缺陷修复方法包括：确定目标屏体，所述目标屏体为显示模组未贴附膜层结构时的产品；获取缺陷校正算法，其中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复。采用本方法能够在缺陷修复时无需增加成本、减少额外的处理时间。
Description
技术领域
本公开涉及显示技术领域，特别是涉及一种缺陷修复方法、缺陷校正算法的确定方法、装置。
背景技术
随着OLED显示技术的发展，Demura技术已经非常成熟，但是目前的Demura技术主要是针对OLED的模组进行。
然而，在OLED的模组进行Demura时，当产品边缘存在一些大曲率例如“瀑布屏”，或者四曲边产品，球面产品等，用模组OLED面板进行Demura拍照就会非常困难，常常需要增加棱镜等光学机构辅助拍摄，增加设备成本和算法的复杂性。另外由于模组OLED面板在Cell的基础上贴附了偏光片和盖板玻璃等膜层结构会导致亮度衰减，透过率损失50%以上，在拍摄低亮度灰阶画面时需要很长的曝光时间，对量产造成了不便，进而增加额外的处理时间。
发明内容
基于此，有必要针对上述技术问题，提供一种在缺陷修复时，无需增加成本、减少额外的处理时间的缺陷修复方法、缺陷校正算法的确定方法、装置。
第一方面，本公开提供了一种缺陷修复方法，所述方法包括：
确定目标屏体，所述目标屏体为显示模组未贴附膜层结构时的产品；
获取缺陷校正算法，其中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；
利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复。
在其中一个实施例中，所述利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法，包括：
分别将所述第一补偿数据和所述第二补偿数据烧录至同一显示模组中，得到与所述第一补偿数据相对应的测试图像的第一图像数据和与所述第二补偿数据相对应的测试图像的第二图像数据；
确定所述第一图像数据和所述第二图像数据之间的差异数据；
根据所述差异数据确定补偿算法。
在其中一个实施例中，所述利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法，包括：
比较所述第一补偿数据和所述第二补偿数据，确定所述第一补偿数据与所述第二补偿数据之间的差异数据；
根据所述差异数据确定补偿算法。
在其中一个实施例中，所述利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理之前，所述方法还包括：
利用伽马矫正数据对屏体进行伽马矫正调节。
在其中一个实施例中，所述利用伽马矫正数据对屏体进行伽马矫正调节之前，所述方法还包括：
获取所述屏体Gamma亮度，并确定所述显示模组中膜层结构的透过率；
根据显示模组的Gamma亮度要求和所述透过率，确定所述屏体的Gamma亮度要求；
基于所述屏体Gamma亮度以及屏体的Gamma亮度要求确定所述屏体的伽马矫正数据。
在其中一个实施例中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，包括：所述缺陷校正算法是基于多组补偿产品的补偿算法进行拟合后得到的。
在其中一个实施例中，所述缺陷修复算法包括：前处理算法和后处理算法，所述利用缺陷修复算法将屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据，包括：
获取进行第一缺陷处理时使用的第一灰阶数据；
将所述屏体的显示画面切换为所述第一灰阶数据，得到所述屏体显示的第一灰阶图像；
将所述第一灰阶图像利用前处理算法进行处理，得到第一数据结果；
利用后处理算法对所述第一数据结果进行处理，得到第一补偿数据。
在其中一个实施例中，所述利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据，包括：
获取第二缺陷处理时使用的第二灰阶数据；
将所述显示模组的显示画面切换为所述第二灰阶数据，得到所述显示模组显示的第二灰阶图像；
将所述第二灰阶图像利用前处理算法进行处理，得到第二数据结果；
利用后处理算法对所述第二数据结果进行处理，得到第二补偿数据。
在其中一个实施例中，所述利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复，包括：
获取对所述目标屏体进行缺陷修复时使用的第三灰阶数据；
将所述目标屏体的显示画面切换为所述第三灰阶数据，得到所述目标屏体显示的第三灰阶图像；
将所述缺陷校正算法添加至所述前处理算法中，得到目标前处理算法；
将所述第三灰阶图像利用所述目标前处理算法进行处理，得到第三数据结果；
利用后处理算法对所述第三数据结果进行处理，得到第三补偿数据；
利用所述第三补偿数据对所述目标屏体的显示数据进行调整。
或者，
利用所述缺陷修复算法将所述目标屏体进行第一缺陷处理，得到第三补偿数据，基于所述缺陷校正算法对第三补偿数据进行校正为第四补偿数据；
采用所述第四补偿数据对所述目标屏体的显示数据进行调整。
在其中一个实施例中，所述第一缺陷处理和所述第二缺陷处理的过程中使用的灰阶数据相同。
第二方面，本公开还提供了一种缺陷校正算法的确定方法，包括：
获取多组补偿产品的补偿算法，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；
利用所述多组补偿产品的补偿算法确定缺陷校正算法。
第三方面，本公开还提供了一种缺陷修复装置。所述装置包括：
目标屏体确定模块，用于确定目标屏体，所述目标屏体为显示模组未贴附膜层结构时的产品；
算法获取模块，用于获取缺陷校正算法，其中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；
缺陷修复模块，用于利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复。
第四方面，本公开还提供了一种缺陷校正算法的确定装置，所述装置包括：
补偿算法获取模块，用于获取多组补偿产品的补偿算法，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；
校正算法确定模块，用于利用所述多组补偿产品的补偿算法确定缺陷校正算法。
第五方面，本公开还提供了一种计算机设备。所述计算机设备包括存储器和处理器，所述存储器存储有计算机程序，所述处理器执行所述计算机程序时实现上述任一方法实施例中的步骤。
第六方面，本公开还提供了一种计算机可读存储介质。所述计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法实施例中的步骤。
第七方面，本公开还提供了一种计算机程序产品。所述计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法实施例中的步骤。
上述各实施例中，首先确定目标屏体。然后获取缺陷校正算法，将所述目标屏体利用缺陷校正算法及缺陷修复算法进行缺陷修复。能够在目标屏体还未制备成显示模组时对目标屏体进行缺陷修复。另外，缺陷校正算法是利用第一缺陷处理时的第一补偿数据，以及第二缺陷处理时的第二补偿数据确定补偿算法，并利用多组补偿算法得到的。因此，可以排除了显示模组中由于偏光片和盖板玻璃等膜层结构的额外干扰，并且可以综合多组补偿产品的补偿算法的规律，能够提高对目标屏体缺陷修复的准确度。另外，在目标屏体阶段（未贴膜层结构的Cell产品）进行缺陷修复，拍摄得到的亮度更高，更易拍摄如2nit，10nit等低亮度画面，减少拍照难度和处理时间。另外，由于是在目标屏体阶段进行缺陷修复，因此，之后利用目标屏体构成的大曲率、瀑布屏等异型非常规产品并不影响缺陷修复，也无需增加光学结构，无需增加处理成本。
附图说明
为了更清楚地说明本公开具体实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对具体实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图是本公开的一些实施方式，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为一个实施例中缺陷修复方法的流程示意图；
图2为一个实施例中确定补偿算法的步骤的流程示意图；
图3为一个实施例中伽马矫正调节之前的步骤的流程示意图；
图4为一个实施例中第一缺陷处理步骤的流程示意图；
图5为一个实施例中S106步骤的流程示意图；
图6为一个实施例中第二缺陷处理步骤的流程示意图；
图7为一个实施例中缺陷校正算法的确定方法的流程示意图；
图8为一个实施例中缺陷修复装置的结构示意框图；
图9为一个实施例中缺陷校正算法的确定装置的结构示意框图；
图10为一个实施例中计算机设备的内部结构示意图。
具体实施方式
为了使本公开的目的、技术方案及优点更加清楚明白，以下结合附图及实施例，对本公开进行进一步详细说明。应当理解，此处描述的具体实施例仅仅用以解释本公开，并不用于限定本公开。
需要说明的是，本文的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本文的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、装置、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。
在本文中，术语“和/或”仅仅是一种描述关联对象的关联关系，表示可以存在三种关系。例如，A和/或B，可以表示：单独存在A，同时存在A和B，单独存在B这三种情况。另外，本文中字符“/”，一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。
正如背景技术所述，虽然显示面板的工艺已经比较成熟，但是实际生产的产品也可能存在不良，这种不良可能是亮度缺陷，也可能是颜色缺陷，虽然采用了预设的输入电压进行处理，但最终呈现给人眼的结果还是可能存在缺陷，这种缺陷可以称为Mura（缺陷）。为了修复缺陷，出现了缺陷修复技术，缺陷修复技术为Demura，主要涉及的为光学层面的外部数据补偿，是通过与模组绑定的DDIC（显示驱动芯片）实现补偿，具体为向DDIC中写入补偿数据，通过该补偿数据影响面板最终显示结果，使面板显示的画面中缺陷部位被补偿为正常画面。现有的Demura技术主要是在模组阶段进行修复补偿，模组阶段之前是Cell阶段（半成品），通过在Cell上方加盖偏光片、玻璃等膜层结构后形成上述模组。
具体地，目前的Demura技术主要是针对OLED的模组进行，在模组进行Demura主要是以下几点优势，首先，模组OLED面板都已进行Gamma OTP的烧录，各个灰阶亮度关系准确且后续不会贴附膜层，亮度不会有变化，补偿后的状态和出货状态无差异，保证补偿后的效果就是产品出货效果；另外模组OLED面板最外面会有一层刚性或者略带柔性的玻璃盖板，保证产品在Demura拍照时可以进行真空吸附，保证拍照时的表面平整性，最后模组OLED面板绑定有DDIC，可以点亮制作的各种特定图片，方便算法像素定位和用图片模拟效果验证。但是同时目前的处理方式也存在一些不足：比如，当产品边缘存在一些大曲率例如“瀑布屏”，四曲边产品，或者球面产品等，对模组OLED面板进行Demura拍照就会非常困难，常需要增加棱镜等光学机构辅助拍摄，增加设备成本和算法的复杂性。另外由于模组OLED面板在Cell的基础上贴附了偏光片和盖板玻璃等膜层结构会导致亮度衰减，透过率损失50%以上，在拍摄低亮度灰阶画面时需要很长的曝光时间，对量产造成了不便，比如2nit，10nit等灰阶。
因此，为解决上述问题，本公开实施例提供了一种缺陷修复方法，本实施例以该方法应用于Cell阶段产品缺陷修复进行举例说明，本实施例中，该方法包括以下步骤：
S102，确定目标屏体，所述目标屏体为显示模组未贴附膜层结构时的产品。
其中，显示模组在本公开的一些实施例中通常可以是OLED模组面板。首先对本公开实施例所涉及的几种阶段进行说明，模组阶段之前是Cell阶段，在Cell阶段的屏体通常情况下是未贴附膜层结构（如偏光片、玻璃等膜层结构）等结构。而在模组阶段通常已经将上述Cell阶段的屏体在上方加盖膜层结构，形成显示模组（接近于面板成品）。
具体地，由于传统技术中，在显示模组阶段进行缺陷修复会存在一些问题，因此在本公开的一些实施例中，可以在Cell阶段对屏体进行缺陷修复。因此，可以确定需要进行缺陷修复的屏体，该屏体可以为目标屏体。
S104，获取缺陷校正算法，其中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法。
其中，伽马数据通常可以是Gamma的亮度数据。伽马调节能够根据图像的曝光条件和拍摄环境对光线进行合理的调整，还原实际场景的光线状况，增强图片的视觉效果。第一缺陷处理和第二缺陷处理通常可以是Demura技术，Demura技术可以对测试屏幕亮度、色度等信息进行分析，然后根据分析的结果确定补偿数据，利用补偿数据进行调整以此来对缺陷进行修复。缺陷修复算法可以是Demura技术中的算法。在本公开的一些实施例中，第一缺陷处理和第二缺陷处理不进行最后缺陷修复的步骤，即在第一缺陷处理和第二缺陷处理的过程中仅确定补偿数据即可。第一补偿数据和第二补偿数据中通常可以包括需要进行调整的亮度、色度信息等数据。补偿算法通常可以是函数关系式的形式，本公开的一些实施例中补偿算法可以为补偿数据矩阵。在本公开的一些实施例中的缺陷修复通常可以是对色斑、亮度等进行修复。
具体地，可以对屏体进行第一缺陷处理，来确定需要对该屏体进行缺陷修复的第一补偿数据。在相同的情况下，可以利用该屏体制备成显示模组。然后，由于显示模组存在偏光片和盖板玻璃等膜层结构的额外干扰，因此，可以进一步对显示模组进行第二缺陷处理，确定该显示模组的第二补偿数据。另外，每个屏体和对应的显示模组可以为一组补偿产品。可以根据第一补偿数据和第二补偿数据来确定该补偿产品所对应的补偿算法（也即补偿数据矩阵）。进而通过上述方式确定多组补偿产品所对应的多个补偿算法。然后利用多个补偿算法，确定其中的补偿规律，进而来确定最终的缺陷校正算法（一般为补偿数据矩阵形式）。
S106，利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复。
具体地，通常情况下，S104步骤中补偿产品中的屏体和显示模组，和目标屏体可以为相同类型或者同一批次的屏体。因此，可以利用缺陷校正算法进行缺陷修正。更进一步的，利用缺陷校正算法进行缺陷修复具体如下：可以获取进行缺陷修复时使用的灰阶数据，然后将目标屏体切换为该灰阶数据，利用缺陷修复算法和缺陷校正算法确定补偿数据，利用补偿数据对目标屏体进行调整，即完成了目标屏体的缺陷修复。
上述缺陷修复方法中，首先确定目标屏体。然后获取缺陷校正算法，将所述目标屏体利用缺陷校正算法进行缺陷修复。能够在目标屏体还未构成显示模组时对目标屏体进行缺陷修复。另外，缺陷校正算法是利用第一缺陷处理时的第一补偿数据，以及第二缺陷处理时的第二补偿数据确定补偿算法，并利用多组补偿算法得到的。因此，可以排除了显示模组中由于偏光片和盖板玻璃等膜层结构的额外干扰，并且可以综合多组补偿产品的补偿算法的规律，能够提高对目标屏体缺陷修复的准确度。另外，在目标屏体阶段（未贴膜层结构的Cell产品）进行缺陷修复，拍摄得到的亮度更高，更易拍摄2nit，10nit等低亮度画面，减少拍照难度和处理时间。另外，由于是在目标屏体阶段进行缺陷修复，因此，之后利用目标屏体构成的大曲率、瀑布屏等异型非常规产品并不影响缺陷修复，也无需增加光学结构，无需增加处理成本。
除此之外，如果在Cell工段做Gamma以及缺陷修复，和目前Cell的AMI/ABI Cell点线不良检查的工序相似，可以将AMI/ABI（cell阶段的点线不良检测）和Cell Demura在一个工位完成，节省设备空间和TT时间（TT时间为生产一个产品所用的时间）。Cell段进行缺陷修复可以减少不良品流到显示模组阶段，节省模组材料成本；Cell段缺陷修复的结果可以初步判定（新）技术或产品开发Issue，及时返工进行设计改版或工艺优化，不需要再流到显示模组段，简化并大幅缩短技术和产品开发流程和时间，同时减少研/开发成本浪费。对目标屏体进行缺陷修复可以和与对模组进行缺陷修复获得一致的补偿效果，并且弥补了显示模组的不足之处。
在一个实施例中，如图2所示，所述利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据对所述第一缺陷处理中的修复算法进行调整，得到缺陷校正算法，包括：
S202，分别将所述第一补偿数据和所述第二补偿数据烧录至同一显示模组中，得到与所述第一补偿数据相对应的测试图像的第一图像数据和与所述第二补偿数据相对应的测试图像的第二图像数据。
S204，确定所述第一图像数据和所述第二图像数据之间的差异数据。
S206，根据所述差异数据确定补偿算法。
具体地，可以将第一补偿数据烧录至显示模组中，然后利用第一补偿数据对测试产品中的测试图像进行调整，得到第一图像数据。然后可以将第二补偿数据烧录至相同的显示模组中，然后利用第二补偿数据对测试产品中相同的测试图像进行调整，得到第二图像数据。然后可以对第一图像数据和第二图像数据进行差异效果对比，确定两者之间的差异数据。该差异数据通常情况下是由于显示模组中偏光片和盖板玻璃等膜层结构的额外干扰所造成的。因此，为了消除该额外的干扰对缺陷修复时造成的影响。可以根据差异数据来确定补偿算法。
在一些示例性的实施例中，可以对比第一图像数据和第二图像数据中每个位置的像素值，根据像素值来确定第一图像数据和第二图像数据每个位置对应的差异数据，然后根据每个位置的差异数据来拟合函数，进而确定补偿算法。
在另一种实施方式中，所述利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法，还可以包括：
比较所述第一补偿数据和所述第二补偿数据，确定所述第一补偿数据与所述第二补偿数据之间的差异数据；
根据所述差异数据确定补偿算法。
具体地，第一补偿数据和第二补偿数据通常可以是对屏体或者显示模组中某个位置进行补偿的数据。因此，可以确定对两个补偿数据之间的差异数据。进而根据差异数据来拟合函数，确定补偿算法。
在一些示例性的实施例中，例如第一补偿数据为表格形式，其中存储了对屏体每个位置进行补偿数据，如下以三个位置为例进行说明，A-0，B-1，C-3。第二补偿数据同理，对显示模组的三个位置的补偿数据为A-1，B-0，C-2。则对应的差异数据可以为A为1，B为-1，C为-1，将该三个数据进行拟合，得到对应的函数，该函数可以为补偿算法。
例如，可以将第一补偿数据设置为x，第二补偿数据中与第一补偿数据对应位置的数据设置为y，通过大量像素点数据的建模拟合可以得到第一补偿数据和第二补偿数据所对应的映射关系，该映射关系可以为补偿算法。
在本实施例中，通过将第一补偿数据和第二补偿数据输入至相同的显示模组中，并对同一个测试图像进行不同的补偿，进而来确定第一图像数据和第二图像数据的差异数据，利用所述差异数据来确定补偿算法，能够消除额外的干扰对缺陷修复时造成的影响。
在一个实施例中，所述利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理之前，所述方法还包括：
利用伽马矫正数据对屏体进行伽马矫正调节。
其中，可以先利用伽马数据对屏体进行伽马矫正调节，保证屏体显示的图像数据的清晰度。
在一些示例性的实施例中，可以利用色度计和Cell点灯PG（检查机），对Cell进行Gamma调节，并将Gamma数据保存在PG上。
在本实施例中，通过对屏体进行伽马矫正调节，能够保证屏体的显示效果，另外伽马矫正调节后，便于后续在第一缺陷处理的过程中拍摄到色彩准确的图像数据，提高缺陷修复的准确性。
在一个实施例中，如图3所示，所述利用伽马矫正数据对屏体进行伽马矫正调节之前，所述方法还包括：
S302，获取所述屏体Gamma亮度，并确定所述显示模组中膜层结构的透过率。
S304，根据显示模组的Gamma亮度要求和所述透过率，确定所述屏体的Gamma亮度要求。
S306，基于所述屏体Gamma亮度以及屏体的Gamma亮度要求确定所述屏体的伽马矫正数据。
其中，膜层结构可以包括：偏光片加盖板玻璃等结构。透过率通常可以是在入射光通量自被照面或介质入射面至另外一面离开的过程中，投射并透过物体的辐射能与投射到物体上的总辐射能之比。
具体地，可以获取屏体Gamma的亮度，然后获取膜层结构的透过率。其中屏体的Gamma亮度要求是按照如下公式计算得到的：
Cell Gamma Lum = Module Gamma Lum / N；
其中，N为整个后续贴附的膜层结构的透过率，Module Gamma Lum为显示模组的Gamma亮度要求，Cell Gamma Lum为屏体的Gamma亮度要求。
在本实施例中，在进行伽马调节之前，可以根据显示模组的Gamma亮度要求以及膜层结构的透过率确定屏体的Gamma亮度要求，进而基于屏体的Gamma亮度要求以及屏体的实际Gamma亮度获得伽马校正数据，保证显示效果。
在一个实施例中，如图4所示，所述修复算法包括：前处理算法和后处理算法，所述利用缺陷修复算法将屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据，包括：
S402，获取进行第一缺陷处理时使用的第一灰阶数据。
S404，将所述目标屏体的显示画面切换为所述第一灰阶数据，得到所述屏体显示的第一灰阶图像。
S406，将所述第一灰阶图像利用前处理算法进行处理，得到第一数据结果。
S408，利用后处理算法对所述第一数据结果进行处理，得到第一补偿数据。
其中，前处理算法通常可以是对相机拍摄的屏体或者显示模组上图片进行处理，还原屏体或者显示模组上每个像素点的亮度的一种算法。后处理算法通常可以是将每个像素点的亮度进行分析，将分析后得到的数据转换为补偿数据的算法。灰阶数据可以是由最暗到最亮之间不同亮度的层次级别。
具体地，在进行缺陷修复的过程中，通常情况下是使用高精度相机进行拍摄目标屏体或者显示模组显示的不同灰阶的图像数据，因此可以获取进行第一缺陷处理时所需要拍摄的第一灰阶数据。第一灰阶数据可以为多个。然后可以利用PG（检查机）改变对目标屏体的电压的输入，将显示画面切换为第一灰阶数据，使目标屏体构成的显示画面呈现与第一灰阶数据相应的第一灰阶图像。然后将第一灰阶图像传入前处理算法进行处理，得到第一数据结果。然后利用后处理数据将第一结果数据转换为补偿数据，得到第一补偿数据。第一数据结果和第一补偿数据的存储形式在本公开的一些实施例中不进行限制。
在一些示例性的实施例中，可以将目标屏体的显示画面切换为R128、G128、B128、R32、G32、B32、R16、G16、B16等画面，然后利用高精度相机对上述画面进行拍摄，得到画面原图，将画面原图传送到Demura的前处理算法中进行处理，得到各个画面处理后的csv数据结果（第一数据结果）。将cvs数据结果利用Demura后处理的算法，计算得到第一补偿数据。可以理解的是，上述仅用于举例说明。
本实施例中，通过对未进行贴膜的膜层结构的目标屏体进行第一缺陷处理，能够更易拍摄2nit，10nit等低亮度画面，节省拍照难度。
在一个实施例中，如图5所示，所述利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复，包括：
S502，获取对所述目标屏体进行缺陷修复时使用的第三灰阶数据。
S504，将所述目标屏体的显示画面切换为所述第三灰阶数据，得到所述目标屏体显示的第三灰阶图像。
S506，将所述缺陷校正算法添加至所述前处理算法中，得到目标前处理算法。
S508，将所述第三灰阶图像利用所述目标前处理算法进行处理，得到第三数据结果。
S510，利用后处理算法对所述第三数据结果进行处理，得到第三补偿数据。
S512，利用所述第三补偿数据对所述目标屏体的显示数据进行调整。
或者，
利用所述缺陷修复算法将所述目标屏体进行第一缺陷处理，得到第三补偿数据，基于所述缺陷校正算法对第三补偿数据进行校正为第四补偿数据。
采用所述第四补偿数据对所述目标屏体的显示数据进行调整。
具体地，当获取到缺陷校正算法之后，可以在对目标屏体在Cell阶段进行缺陷校正。因此，可以获取对目标屏体进行缺陷修复时使用的第三灰阶数据。然后将改变对目标屏体输入的电压，将目标屏体的显示画面切换为第三灰阶数据。将缺陷校正算法添加至缺陷修正算法中的前处理算法中，得到目标前处理算法，利用目标前处理算法对第三灰阶图像进行处理，得到第三数据结果。将第三数据结果利用后处理算法进行处理，得到第三补偿数据。然后利用第三补偿数据对目标屏体的显示数据进行调整，即完成了对目标屏体的色斑修复。
在本实施例中，由于对画面进行分析处理的过程通常都是前处理算法进行处理的，因此可以将补偿算法添加至前处理算法中，进而保证缺陷修复时的准确性。
另一实施方式中，还可以利用缺陷修复算法（前处理+后处理算法）将所述目标屏体先进行第一缺陷处理（第一缺陷处理的步骤可以参见上述S402至S408步骤），得到第三补偿数据，基于所述缺陷校正算法对第三补偿数据进行校正为第四补偿数据，利用第四补偿数据对目标屏体的显示数据进行调整，即完成了对目标屏体的色斑修复。
在一个实施例中，如图6所示，所述利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据，包括：
S602，获取第二缺陷处理时使用的第二灰阶数据。
S604，将所述显示模组的显示画面切换为所述第二灰阶数据，得到所述显示模组显示的第二灰阶图像。
S606，将所述第二灰阶图像利用前处理算法进行处理，得到第二数据结果。
S608，利用后处理算法对所述第二数据结果进行处理，得到第二补偿数据。
具体地，在进行缺陷修复的过程中，通常情况下是使用高精度相机进行拍摄目标屏体或者显示模组进行显示的不同灰阶的图像数据，因此可以进行获取进行第二缺陷处理时所需要进行拍摄的第二灰阶数据。第二灰阶数据可以为多个。然后可以利用PG改变对显示模组的输入，将显示模组的显示画面切换为第二灰阶数据，使显示模组构成的显示画面呈现与第二灰阶数据相应的第二灰阶图像。然后将第二灰阶图像传入前处理算法进行处理，得到第二数据结果。然后利用后处理数据将第二结果数据转换为补偿数据，得到第二补偿数据。第二数据结果和第二补偿数据的存储形式在本公开的一些实施例中不进行限制。
在本实施例中，通过对显示模组进行第二缺陷处理，能够确定显示模组第二补偿数据，因为第二补偿数据中通常还包括：对显示模组中的膜层结构带来的差异进行补偿的数据。因此，后续利用第一补偿数据和第二补偿数据能够避免膜层结构带来的差异。
在一些实施例中，第一缺陷处理和第二缺陷处理的过程中使用的灰阶数据相同。即第一灰阶数据和第二灰阶数据相同。第一灰阶数据、第二灰阶数据和第三灰阶数据也可以相同。
在本实施例中，通过将第一缺陷处理和第二缺陷处理过程中的第一灰阶数据和第二灰阶数据设置相同，可以控制在确定补偿算法的中其他变量相同，不同的变量只有显示模组和目标屏体，能够准确的来得到补偿算法，进而保证缺陷修复过程中的准确性。
在一个实施例中，所述利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法之后，所述方法还包括：
确定所述补偿算法是否满足补偿标准，响应于所述补偿算法未满足所述补偿标准，对所述补偿算法进行优化调整，直至所述补偿算法满足所述补偿标准。
通常情况下，当像素的亮度之间的差异在预设范围内，可以确定满足补偿标准。优化调整通常可以是调整补偿算法对应的参数。
具体地，确定补偿算法之后，可以利用该组补偿产品所对应的补偿算法对上述得到的第一补偿数据进行调整，调整后可以得到第五补偿数据。然后可以将第五补偿数据和第二补偿数据均烧录至相同的显示模组中，分别对第五补偿数据和第二补偿数据的烧录结果进行拍照处理，并进行对比拍照后每个像素的亮度，如果每个像素之间的亮度的差距在预设的范围内，可以确定满足补偿标准，确定该补偿算法效果较好。否则，重新对补偿算法进行优化调整，直至最终对比的像素之间的亮度的差距在预设范围内。
所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，包括：所述缺陷校正算法是基于多组补偿产品的补偿算法进行拟合后得到的。
本发明一具体实施例如下：
首先将整块面板切割成Cell（屏体）；
1、Gamma矫正调节：利用色度计和Cell点灯PG（检查机），对Cell进行Gamma调节，并将Gamma数据保存在PG上。其中Cell的Gamma亮度要求是按照显示模组Gamma的亮度要求除以偏光片加盖板玻璃等膜层结构的透过率得到的。（如上述S302至S306步骤）
2、Cell demura：根据Demura需要拍摄的灰阶画面，利用Cell PG通过切换对应的电压对拍摄的画面进行切换，比如：R128、G128、B128、R32、G32、B32、R16、G16、B16等画面，将画面原图传送到Demura的前处理算法中进行处理，得到各个画面处理后的csv数据结果。
3、Cell demura数据获取：将cvs数据结果利用Demura后处理的算法，计算得到一个补偿参数的对照表文件bin1。
4、然后进行Cell各个膜层结构的贴附，以及IC的绑定工序，形成显示模组。
5、将之前保存的Gamma数据烧录到显示模组中，重新进行显示模组阶段的Demura，拍摄各个灰阶画面并生成补偿参数对照表bin2。
6、分别将bin 1，bin2烧录到同一块显示模组中，然后进行效果数据对比，并将差异补偿生成相应的补偿算法，将相应的补偿算法添加到对cell进行缺陷处理的算法中，得到对cell进行调整的bin1’。最终实现bin1’，bin2的补偿效果达成一致，可以确定该补偿算法符合要求。
7、通过多组屏体的补偿算法拟合缺陷校正算法。
8、屏体修复时，通过将缺陷校正算法添加到前处理算法中，实现在cell端补偿时完成多个产品的demura。或，屏体修复时，先利用所述缺陷修复算法将所述目标屏体进行第一缺陷处理，得到bin3，基于所述缺陷校正算法对bin3进行校正为bin4；采用bin4对所述目标屏体进行缺陷修复。
在一个实施例中，如图7所示，本公开实施例还提供了一种缺陷校正算法的确定方法，所述方法包括：
S702，获取多组补偿产品的补偿算法，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法。
S704，利用所述多组补偿产品的补偿算法确定缺陷校正算法。
关于本实施例中的具体实施方式和限定可参见上述实施例，在此不进行重复赘述。
应该理解的是，虽然如上所述的各实施例所涉及的流程图中的各个步骤按照箭头的指示依次显示，但是这些步骤并不是必然按照箭头指示的顺序依次执行。除非本文中有明确的说明，这些步骤的执行并没有严格的顺序限制，这些步骤可以以其它的顺序执行。而且，如上所述的各实施例所涉及的流程图中的至少一部分步骤可以包括多个步骤或者多个阶段，这些步骤或者阶段并不必然是在同一时刻执行完成，而是可以在不同的时刻执行，这些步骤或者阶段的执行顺序也不必然是依次进行，而是可以与其它步骤或者其它步骤中的步骤或者阶段的至少一部分轮流或者交替地执行。
基于同样的发明构思，本公开实施例还提供了一种用于实现上述所涉及的缺陷修复方法的缺陷修复装置。该装置所提供的解决问题的实现方案与上述方法中所记载的实现方案相似，故下面所提供的一个或多个缺陷修复装置实施例中的具体限定可以参见上文中对于缺陷修复方法的限定，在此不再赘述。
在一个实施例中，如图8所示，提供了一种缺陷修复装置800，包括：目标屏体确定模块802、算法获取模块804和缺陷修复模块806，其中：
目标屏体确定模块802，用于确定目标屏体，所述目标屏体为显示模组未贴附膜层结构时的产品；
算法获取模块804，用于获取缺陷校正算法，其中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；
缺陷修复模块806，用于利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复。
在所述装置的一个实施例中，所述算法获取模块804，包括：
数据烧录模块，用于分别将所述第一补偿数据和所述第二补偿数据烧录至同一显示模组中，得到与所述第一补偿数据相对应的测试图像的第一图像数据和与所述第二补偿数据相对应的测试图像的第二图像数据。
差异数据确定模块，用于确定所述第一图像数据和所述第二图像数据之间的差异数据。
补偿算法确定模块，用于根据所述差异数据确定补偿算法。
在所述装置的一个实施例中，所述差异数据确定模块还用于比较所述第一补偿数据和所述第二补偿数据，确定所述第一补偿数据与所述第二补偿数据之间的差异数据。
在所述装置的一个实施例中，所述装置还包括：伽马矫正模块，用于利用伽马矫正数据对屏体进行伽马矫正调节。
在所述装置的一个实施例中，所述装置还包括：
数据获取模块，用于获取所述屏体Gamma亮度，并确定所述显示模组中膜层结构的透过率。
亮度确定模块，用于根据所述显示模组的Gamma亮度要求和所述透过率，确定所述屏体的Gamma亮度要求。
伽马矫正数据确定模块，用于基于屏体的Gamma亮度要求以及实际获取的屏体的Gamma亮度确定进行对屏体进行伽马矫正调节时的伽马矫正数据。
在所述装置的一个实施例中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，包括：所述缺陷校正算法是基于多组补偿产品的补偿算法搭建模型，并进行算法迭代优化后得到的。
在所述装置的一个实施例中，所述缺陷修复算法包括：前处理算法和后处理算法，所述算法获取模块804，包括：
第一灰阶数据获取模块，用于获取进行第一缺陷处理时使用的第一灰阶数据。
第一切换模块，用于将所述屏体的显示画面切换为所述第一灰阶数据，得到所述屏体显示的第一灰阶图像。
第一处理模块，用于将所述第一灰阶图像利用前处理算法进行处理，得到第一数据结果；利用后处理算法对所述第一数据结果进行处理，得到第一补偿数据。
在所述装置的一个实施例中，所述算法获取模块804，还包括：
第二灰阶数据获取模块，用于获取第二缺陷处理时使用的第二灰阶数据。
第二切换模块，用于将所述显示模组的显示画面切换为所述第二灰阶数据，得到所述显示模组显示的第二灰阶图像。
第二处理模块，用于将所述第二灰阶图像利用前处理算法进行处理，得到第二数据结果；利用后处理算法对所述第二数据结果进行处理，得到第二补偿数据。
在所述装置的一个实施例中，所述缺陷修复模块806，包括：
第三灰阶数据获取模块，用于获取对所述目标屏体进行色斑修复时使用的第三灰阶数据。
第三切换模块，用于将所述目标屏体的显示画面切换为所述第三灰阶数据，得到所述目标屏体显示的第三灰阶图像。
补偿模块，用于将所述缺陷校正算法添加至所述前处理算法中，得到目标前处理算法。
第三处理模块，用于将所述第三灰阶图像利用所述目标前处理算法进行处理，得到第三数据结果；利用后处理算法对所述第三数据结果进行处理，得到第三补偿数据。
数据调整模块，用于利用所述第三补偿数据对所述目标屏体的显示数据进行调整。
所述缺陷修复模块806，还用于利用所述缺陷修复算法将所述目标屏体进行第一缺陷处理，得到第三补偿数据，基于所述缺陷校正算法对第三补偿数据进行校正为第四补偿数据；采用所述第四补偿数据对所述目标屏体的显示数据进行调整。
在所述装置的一个实施例中，所述第一缺陷处理和所述第二缺陷处理的过程中使用的灰阶数据相同。
上述缺陷修复装置中的各个模块可全部或部分通过软件、硬件及其组合来实现。上述各模块可以硬件形式内嵌于或独立于计算机设备中的处理器中，也可以以软件形式存储于计算机设备中的存储器中，以便于处理器调用执行以上各个模块对应的操作。
在一个实施例中，如图9所示，提供了一种缺陷校正算法的确定装置900，所述装置包括：
补偿算法获取模块902，用于获取多组补偿产品的补偿算法，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；
校正算法确定模块904，用于利用所述多组补偿产品的补偿算法确定缺陷校正算法。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，该计算机设备可以是服务器，其内部结构图可以如图10所示。该计算机设备包括通过系统总线连接的处理器、存储器和网络接口。其中，该计算机设备的处理器用于提供计算和控制能力。该计算机设备的存储器包括非易失性存储介质和内存储器。该非易失性存储介质存储有操作系统、计算机程序和数据库。该内存储器为非易失性存储介质中的操作系统和计算机程序的运行提供环境。该计算机设备的数据库用于存储缺陷校正算法、第一补偿数据或第二补偿数据。该计算机设备的网络接口用于与外部的终端通过网络连接通信。该计算机程序被处理器执行时以实现一种缺陷修复方法或者实现一种缺陷校正算法的确定方法。
本领域技术人员可以理解，图10中示出的结构，仅仅是与本公开方案相关的部分结构的框图，并不构成对本公开方案所应用于其上的计算机设备的限定，具体的计算机设备可以包括比图中所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者具有不同的部件布置。
在一个实施例中，提供了一种计算机设备，包括存储器和处理器，存储器中存储有计算机程序，该处理器执行计算机程序时实现上述任一方法实施例中的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法实施例中的步骤。
在一个实施例中，提供了一种计算机程序产品，包括计算机程序，该计算机程序被处理器执行时实现上述任一方法实施例中的步骤。
本领域普通技术人员可以理解实现上述实施例方法中的全部或部分流程，是可以通过计算机程序来指令相关的硬件来完成，所述的计算机程序可存储于一非易失性计算机可读取存储介质中，该计算机程序在执行时，可包括如上述各方法的实施例的流程。其中，本公开所提供的各实施例中所使用的对存储器、数据库或其它介质的任何引用，均可包括非易失性和易失性存储器中的至少一种。非易失性存储器可包括只读存储器（Read-OnlyMemory，ROM）、磁带、软盘、闪存、光存储器、高密度嵌入式非易失性存储器、阻变存储器（ReRAM）、磁变存储器（Magnetoresistive Random Access Memory，MRAM）、铁电存储器（Ferroelectric Random Access Memory，FRAM）、相变存储器（Phase Change Memory，PCM）、石墨烯存储器等。易失性存储器可包括随机存取存储器（Random Access Memory，RAM）或外部高速缓冲存储器等。作为说明而非局限，RAM可以是多种形式，比如静态随机存取存储器（Static Random AccessMemory，SRAM）或动态随机存取存储器（Dynamic RandomAccess Memory，DRAM）等。本公开所提供的各实施例中所涉及的数据库可包括关系型数据库和非关系型数据库中至少一种。非关系型数据库可包括基于区块链的分布式数据库等，不限于此。本公开所提供的各实施例中所涉及的处理器可为通用处理器、中央处理器、图形处理器、数字信号处理器、可编程逻辑器、基于量子计算的数据处理逻辑器等，不限于此。
以上实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
以上所述实施例仅表达了本公开的几种实施方式，其描述较为具体和详细，但并不能因此而理解为对本公开专利范围的限制。应当指出的是，对于本领域的普通技术人员来说，在不脱离本公开构思的前提下，还可以做出若干变形和改进，这些都属于本公开的保护范围。因此，本公开的保护范围应以所附权利要求为准。
Claims (13)
1.一种缺陷修复方法，其特征在于，所述方法包括：
确定目标屏体，所述目标屏体为显示模组未贴附膜层结构时的产品；
获取缺陷校正算法，其中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；
利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复。
2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法，包括：
分别将所述第一补偿数据和所述第二补偿数据烧录至同一显示模组中，得到与所述第一补偿数据相对应的测试图像的第一图像数据和与所述第二补偿数据相对应的测试图像的第二图像数据；
确定所述第一图像数据和所述第二图像数据之间的差异数据；
根据所述差异数据确定补偿算法。
3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法，包括：
比较所述第一补偿数据和所述第二补偿数据，确定所述第一补偿数据与所述第二补偿数据之间的差异数据；
根据所述差异数据确定补偿算法。
4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理之前，所述方法还包括：
利用伽马矫正数据对屏体进行伽马矫正调节。
5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述利用伽马矫正数据对屏体进行伽马矫正调节之前，所述方法还包括：
获取所述屏体Gamma亮度，并确定所述显示模组中膜层结构的透过率；
根据显示模组的Gamma亮度要求和所述透过率，确定所述屏体的Gamma亮度要求；
基于所述屏体Gamma亮度以及屏体的Gamma亮度要求确定所述屏体的伽马矫正数据。
6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，包括：所述缺陷校正算法是基于多组补偿产品的补偿算法进行拟合后得到的。
7.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述缺陷修复算法包括：前处理算法和后处理算法，所述利用缺陷修复算法将屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据，包括：
获取进行第一缺陷处理时使用的第一灰阶数据；
将所述屏体的显示画面切换为所述第一灰阶数据，得到所述屏体显示的第一灰阶图像；
将所述第一灰阶图像利用前处理算法进行处理，得到第一数据结果；
利用后处理算法对所述第一数据结果进行处理，得到第一补偿数据。
8.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据，包括：
获取第二缺陷处理时使用的第二灰阶数据；
将所述显示模组的显示画面切换为所述第二灰阶数据，得到所述显示模组显示的第二灰阶图像；
将所述第二灰阶图像利用前处理算法进行处理，得到第二数据结果；
利用后处理算法对所述第二数据结果进行处理，得到第二补偿数据。
9.根据权利要求7所述的方法，其特征在于，所述利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复，包括：
获取对所述目标屏体进行色斑修复时使用的第三灰阶数据；
将所述目标屏体的显示画面切换为所述第三灰阶数据，得到所述目标屏体显示的第三灰阶图像；
将所述缺陷校正算法添加至所述前处理算法中，得到目标前处理算法；
将所述第三灰阶图像利用所述目标前处理算法进行处理，得到第三数据结果；
利用后处理算法对所述第三数据结果进行处理，得到第三补偿数据；
利用所述第三补偿数据对所述目标屏体的显示数据进行调整；
或者，
利用所述缺陷修复算法将所述目标屏体进行第一缺陷处理，得到第三补偿数据，基于所述缺陷校正算法对第三补偿数据进行校正为第四补偿数据；
采用所述第四补偿数据对所述目标屏体的显示数据进行调整。
10.根据权利要求1至9任意一项所述的方法，其特征在于，所述第一缺陷处理和所述第二缺陷处理的过程中使用的灰阶数据相同。
11.一种缺陷校正算法的确定方法，其特征在于，所述方法包括：
获取多组补偿产品的补偿算法，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；所述屏体为所述显示模组未贴附膜层结构时的产品；
利用所述多组补偿产品的补偿算法确定缺陷校正算法。
12.一种缺陷修复装置，其特征在于，所述装置包括：
目标屏体确定模块，用于确定目标屏体，所述目标屏体为显示模组未贴附膜层结构时的产品；
算法获取模块，用于获取缺陷校正算法，其中，所述缺陷校正算法是利用多组补偿产品的补偿算法确定的，所述补偿产品包括：屏体和与所述屏体相对应的显示模组；所述补偿算法包括：利用缺陷修复算法将所述屏体进行第一缺陷处理，得到第一补偿数据；利用所述缺陷修复算法对所述显示模组进行第二缺陷处理，得到第二补偿数据；利用所述第一补偿数据和所述第二补偿数据确定补偿算法；
缺陷修复模块，用于利用所述缺陷校正算法和所述缺陷修复算法对所述目标屏体进行缺陷修复。
13.一种计算机可读存储介质，其上存储有计算机程序，其特征在于，所述计算机程序被处理器执行时实现权利要求1至10中任一项或权利要求11所述的方法的步骤。
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