CN116203390A - 电路失效检测组件、方法及计算设备 - Google Patents

Abstract

本申请公开了一种电路失效检测组件、方法及计算设备，该组件包括：处理器，RC滤波器和电压比较单元；该处理器包括GPIO引脚对，该GPIO引脚对中的第一引脚连接该RC滤波器的输入端，第二引脚连接该电压比较单元的输出端，该RC滤波器的输出端连接该电压比较单元的输入端；该处理器用于向该RC滤波器发送脉冲信号；在发送该脉冲信号后的第一预设时间接收该电压比较单元发送的第一输入信号；根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态。本申请方案可以将该RC滤波器的第一电容设置于电路易失效区域，通过该第一输入信号反映该RC滤波器的状态，从而确定该第一电容及其附近电路是否存在失效风险。

Description

电路失效检测组件、方法及计算设备

技术领域

本申请涉及电路检测技术领域，具体涉及一种电路失效检测组件、方法及计算设备。

背景技术

计算设备中的电路在长期运行的过程中，可能会受到灰尘水汽的腐蚀、热量导致的老化，以及物理碰撞带来的损坏等影响，在某一时刻失效导致关键业务中断造成经济损失。因此，计算设备需要提前检测和判断电路失效的风险，保证计算设备的运行可靠性。

然而，现有的电路检测方法是在待测元件失效后才能检测得到失效结果，导致计算设备的运行可靠性较低。

发明内容

本申请提供一种电路失效检测组件、方法及计算设备，用于检测计算设备的电路失效风险，保证计算设备的运行可靠性。

第一方面，本申请提供一种电路失效检测组件，该组件包括：处理器，电阻-电容(resistor-capacitance,RC)滤波器和电压比较单元；

该处理器包括通用型输入输出(general-purposeinput/output,GPIO)引脚对，该GPIO引脚对中的第一引脚连接该RC滤波器的输入端，该GPIO引脚对的第二引脚连接该电压比较单元的输出端，该RC滤波器的输出端连接该电压比较单元的输入端；

该处理器用于向该RC滤波器发送脉冲信号；该处理器还用于在发送该脉冲信号后的第一预设时间接收该电压比较单元发送的第一输入信号；该处理器还用于根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态。

本申请中，通过在处理器、RC滤波器和电压比较单元构成的检测回路中发送脉冲信号并获取对应的第一输入信号，再根据RC滤波器的不同状态和第一输入信号的对应关系，可以根据该第一输入信号准确地确定当前检测回路中RC滤波器的状态，从而确定RC滤波器的第一电容及其附近电路是否受到腐蚀、高温或插拔应力等因素的损坏而存在失效风险。

在一种可能的实现中，该RC滤波器、该电压比较单元和该GPIO引脚对的数量相同且均大于1。

本申请中，通过将电路失效检测组件中多个RC滤波器对应的多个电容设置于不同的区域，可以实现多路信号采集和检测；在电压比较单元为MOS管或三极管时，该多路信号的采集和检测的实现无需增加AD采样电路的成本以及电路布局压力。

在一种可能的实现中，该RC滤波器包括第一电容和第一电阻；该第一电容的输入端连接该第一引脚，该第一电容的输出端连接该电压比较单元的输入端和该第一电阻的输入端；该第一电阻的输出端接地。

本申请中，通过采用高通滤波器，也即将RC滤波器的第一电容的输入端和输出端，作为RC滤波器的输入端和输出端，可以提高第一电容的状态对第一输入信号的影响，也即第一输入信号能够更直接地反映第一电容的状态。

在一种可能的实现中，该组件还包括第二电容，该处理器还包括测试引脚；该第二电容的输入端连接该测试引脚，该第二电容的输出端分别连接该电压比较单元的输入端以及该第一电阻的输入端；该第二电容的电容值与该第一电容的额定容值相同；

该处理器还用于向该第二电容发送测试信号，该测试信号和该脉冲信号相同；该处理器还用于在发送该测试信号后的第二预设时间接收该电压比较单元发送的第二输入信号；该处理器还用于对比该第一输入信号和该第二输入信号，并根据对比结果确定该RC滤波器的状态。

本申请中，通过在主板易失效区域之外的安全区域设置对照支路，结合第一输入信号和第二输入信号对电路进行失效检测，可以避免计算设备所处环境的因素影响，提高检测结果的准确性。

在一种可能的实现中，该RC滤波器包括第一电容和第一电阻；该第一电阻的输入端连接该第一引脚，该第一电阻的输出端连接该电压比较单元的输入端和该第一电容的输入端；该第一电容的输出端接地。

本申请中，通过采用低通滤波器，也即将RC滤波器的第一电阻的输入端和输出端，作为RC滤波器的输入端和输出端，扩展了本申请的适用范围。

在一种可能的实现中，该组件还包括第二电阻，该处理器还包括测试引脚；该第二电阻的输入端连接该测试引脚，该第二电阻的输出端分别连接该电压比较单元的输入端以及该第一电容的输入端；该第二电阻的电阻值与该第一电阻的额定电阻相同；

该处理器还用于向该第二电阻发送测试信号，该测试信号和该脉冲信号相同；该处理器还用于在发送该测试信号后的第三预设时间接收该电压比较单元发送的第三输入信号；该处理器还用于对比该第一输入信号和该第三输入信号，并根据对比结果确定该RC滤波器的状态。

本申请中，通过在主板易失效区域之外的安全区域设置对照支路，结合第一输入信号和第三输入信号对电路进行失效检测，可以避免计算设备所处环境的因素影响，提高检测结果的准确性。

在一种可能的实现中，该组件还包括与该第一电容并联的一个或多个第三电容。

本申请中，通过在区域中布置与该第一电容并联的多个第三电容，可以提高失效检测的检测精度和灵活度。

在一种可能的实现中，该组件还包括第三电阻和第四电阻；该第三电阻的输入端连接该RC滤波器的输出端，该第三电阻的输出端连接该电压比较单元的输入端；该第四电阻的输入端连接该电压比较单元的输入端，该第四电阻的输出端接地。

本申请中，通过设置第三电阻和第四电阻以分担电压比较单元承担的电流和电压，可以在保护电压比较单元不被过大电流损坏的同时，调节电压比较单元接收的被无损的RC滤波器衰减后的脉冲信号的电压大于等于电压阈值。

在一种可能的实现中，该处理器为复杂可编程逻辑器件(complex programmablelogic device,CPLD)或微控制单元(microcontroller unit,MCU)。

本申请中，通过将处理器设置为CPLD或MCU，可以提高检测速度。

在一种可能的实现中，该电压比较单元为金属-氧化物半导体场效应(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,MOS)晶体管、三极管或电压比较器。

本申请中，通过将电压比较单元设置为MOS晶体管或三极管，可以节约成本，减少电路失效检测组件对电路空间的占用；通过将电压比较单元设置为电压比较器，可以提高检测精度和准确度。

第二方面，本申请提供一种计算设备，该计算设备包括主板，以及第一方面中的任一该的组件，该组件设置于该主板。

在一种可能的实现中，该计算设备还包括多个大尺寸电子器件，该计算设备设置有进风口；该多个大尺寸电子器件设置于主板上RC滤波器的第一电容与该进风口相对的背面一侧和左右两侧。

本申请中，通过设置大尺寸电子器件围设于RC滤波器的第一电容附近，可以形成一个加速积灰区域，使得第一电容的被腐蚀速度快于同一区域的其他电子器件，从而可以通过第一电容的容值下降情况对该区域的失效情况提前进行预测和告警。

更进一步地，在同一区域可以设置多个第一电容，并围绕该多个第一电容设置多个不同积灰速度的加速积灰区域，以在不同加速积灰区域中的第一电容失效时进行不同等级的告警，可以提高电路失效检测的精度。

第三方面，本申请提供一种电路失效检测方法，应用于第一方面中的任一该的组件；该方法包括：处理器向RC滤波器发送脉冲信号；该处理器在发送该脉冲信号后的第一预设时间接收该电压比较单元发送的第一输入信号；该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态。

在一种可能的实现中，该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态，包括：若该第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系符合预设条件，且该第一输入信号的电平不恒定，则该处理器确定该RC滤波器的第一电容容值下降。

本申请中，可以根据RC滤波器的高低通属性，以及第一电容的容值和第一输入信号的占空比的对应关系，设置占空比阈值以及对应的预设条件，从而在当前次检测到第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系符合预设条件，且该第一输入信号的电平不恒定时，可以准确地判断第一电容因为腐蚀、高热和插拔应力等影响而受到损坏，导致容值下降。

在一种可能的实现中，该RC滤波器为高通滤波器；该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态，包括：若该第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系不符合与该高通滤波器对应的预设条件，且该第一输入信号的电平不恒定，则该处理器向该RC滤波器输出恒定的高电平信号，该高电平信号的电压大于等于该电压比较单元的电压阈值；该处理器在发送该高电平信号后的该第一预设时间接收该电压比较单元发送的第四输入信号；若该第四输入信号的电平恒定为第一电平，则该处理器确定该RC滤波器正常，其中该第一电平为该电压比较单元的输入电压大于等于该电压阈值时，该电压比较单元输出的电平；若该第四输入信号的电平恒定为第二电平，则该处理器确定该RC滤波器的第一电容短路，其中该第二电平为该电压比较单元的输入电压小于该电压阈值时，该电压比较单元输出的电平。

本申请中，在RC滤波器为高通滤波器时，RC滤波器的短路状态和正常状态所反映的第一输入信号是相似的，因此可以通过输入恒定的高电平信号，并根据第四输入信号判断RC滤波器的第一电容是否短路，从而及时进行告警，提高计算设备的运行可靠性。

在一种可能的实现中，该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态，包括：若该第一输入信号的电平恒定，则该处理器确定该RC滤波器的状态异常。

本申请中，电压比较单元在接收到交流的脉冲信号后将输出跳变的第一输入信号，因此在检测到第一输入信号的电平恒定时，可以准确快速地输出第三告警信息，提醒维护人员对计算设备进行维护。

在一种可能的实现中，该RC滤波器为低通滤波器；该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态，包括：若该第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系不符合于该低通滤波器对应的预设条件，且该第一输入信号的电平不恒定，则该处理器确定该RC滤波器正常。

在一种可能的实现中，该RC滤波器为高通滤波器；在该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态之前，该方法还包括：该处理器向第二电容发送测试信号，该测试信号和该脉冲信号相同；该处理器在发送该测试信号后的第二预设时间接收该电压比较单元发送的第二输入信号；该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态包括：该处理器对比该第一输入信号和该第二输入信号，并根据对比结果确定该RC滤波器的状态。

在一种可能的实现中，该RC滤波器为低通滤波器；在该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态之前，该方法还包括：该处理器向第二电阻发送测试信号，该测试信号和该脉冲信号相同；该处理器在发送该测试信号后的第三预设时间接收该电压比较单元发送的第三输入信号；该处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态包括：该处理器对比该第一输入信号和该第三输入信号，并根据对比结果确定该RC滤波器的状态。

在一种可能的实现中，当该处理器确定该RC滤波器的状态为正常时，该处理器可以输出和/或记录该RC滤波器正常的信息；当该处理器确定该RC滤波器的状态为第一电容容值下降、断路或短路时，该处理器可以输出对应的告警信息。

应理解的是，上述多个方面的实现和有益效果可相互参考。

附图说明

图1是本申请实施例提供的一种计算设备的结构示意图；

图2是本申请实施例提供的一种电路失效检测组件的结构示意图；

图3是本申请实施例提供的另一电路失效检测组件的结构示意图；

图4是本申请实施例提供的一种电路失效检测组件的电路示意图；

图5是本申请实施例提供的另一电路失效检测组件的电路示意图；

图6是本申请实施例提供的另一电路失效检测组件的电路示意图；

图7是本申请实施例提供的又一电路失效检测组件的电路示意图；

图8是本申请实施例提供的一种电路失效检测组件中多电容并联电路的电路示意图；

图9是本申请实施例提供的一种加速积灰区域的布置示意图；

图10是本申请实施例提供的一种电路失效检测方法的流程示意图；

图11是本申请实施例提供的另一电路失效检测方法的流程示意图；

图12是本申请实施例提供的又一电路失效检测方法的流程示意图。

具体实施方式

下面结合附图，对本申请的实施例进行描述，显然，所描述的实施例仅仅是本申请一部分的实施例，而不是全部的实施例。本领域普通技术人员可知，随着技术发展和新场景的出现，本申请实施例提供的技术方案对于类似的技术问题，同样适用。

本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的实施例能够以除了在这里图示或描述的内容以外的顺序实施。此外，术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形，意图在于覆盖不排他的包含，例如，包含了一系列步骤或单元的过程、方法、系统、产品或设备不必限于清楚地列出的那些步骤或单元，而是可包括没有清楚地列出的或对于这些过程、方法、产品或设备固有的其它步骤或单元。

请参阅图1，图1为本申请实施例提供的一种计算设备的结构示意图，本申请实施例提供的电路失效检测组件和方法可以应用于如图1所示的计算设备100，该计算设备100可以为服务器、个人计算机、笔记本电脑、平板电脑、交换机或路由器等设备，本申请实施例对于图1所示的计算设备100的具体形式并不进行限定。如图1所示，计算设备100可以包括主板110和电路失效检测组件200，电路失效检测组件200的部件设置于主板，相互之间通过主板走线连接。计算设备100可以设置有进风口120和出风口(图中未示出)用于散热。

主板110可以包括易积灰腐蚀区域、高热区域和可插拔器件所在区域中的一种或多种，当主板110上有电路设置于这些区域时，该电路具有较高的失效风险，这些区域也可以被称为电路易失效区域。

可选的，计算设备100还包括风扇。该风扇可以设置于进风口120和出风口，用于推动计算设备100的内外空气交换，驱散计算设备100工作时产生的热量。

具体地，当计算设备100通常运行在灰尘较多的环境，且主要依靠风冷进行散热时，计算设备100的内外空气交换会带入少量的灰尘和水汽。这些水汽所带来的湿度会使得主板110潮湿，对其上的电子器件造成腐蚀影响；而灰尘中可能存在的含硫、氯等物质，在与水汽结合后将大大加速对主板110上的电子器件及印制电路板(printed circuit boards,PCB)焊盘的腐蚀过程，造成电子器件短路、断路以及运行参数的变化等后果，破坏计算设备的长期可靠性运行。因此，在自然风或进风口风扇的送风距离内的主板区域，可以被称为易积灰腐蚀区域。

具体地，主板110上设置的功率器件在高负载状态下会产生大量的热量，而未能及时散去的热量会在功率器件周围形成一个高热区域。在该区域的高温环境下，该区域中的电子器件将会加速老化，同样会造成电子器件短路、断路以及运行参数的变化等后果。

具体地，计算设备100可以通过可插拔器件进行功能扩展。可插拔器件所在区域，也即可插拔器件接入的主板区域，容易受到可插拔器件在接入拔出时的插拔应力的影响，导致该区域中的电子器件或线路受到损坏，造成电子器件短路、断路以及运行参数的变化等后果。

其中，电路失效检测组件200包括电容，该电容设置于上述一种或多种电路易失效区域中；电路失效检测组件200用于检测该电容是否出现容值下降或失效的情况，进而确定该电容附近的电路由于腐蚀、高热或插拔应力影响导致的损坏程度。

通过将电容设置于主板110的电路易失效区域，电路失效检测组件200可以检测到上述电路失效因素对该电容的容值和可用性的影响，确定该电容附近区域的电子器件或线路的损坏程度，从而能够准确地判断电路失效的风险，保证计算设备的运行可靠性。

需要说明的是，在具体实现中，计算设备100可以是任何包括图1中类似结构的设备。本申请实施例不限定计算设备100的具体组成结构。此外，图1中示出的组成结构并不构成对计算设备100的限定，除图1所示的部件之外，该计算设备100可以包括比图示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者不同的部件布置。

可以参阅图2，图2为本申请实施例提供的一种电路失效检测组件的结构示意图，如图2所示，电路失效检测组件200包括处理器210、电阻-电容(resistor-capacitance,RC)滤波器220A至220N(下文统称220)，以及电压比较单元(voltage compare unit)230A至230N(下文统称230)，N大于等于1。

其中，RC滤波器220是指RC串联电路，每个RC滤波器220均可以包括第一电容C和第一电阻R，第一电容C可以设置于电路失效检测组件200所在主板中的电路易失效区域。

其中，处理器210包括N对通用型输入输出(general-purpose input/output,GPIO)引脚对(图中未示出)，每对GPIO引脚对中的第一引脚连接RC滤波器220的输入端，第二引脚连接电压比较单元230的输出端，RC滤波器220的输出端连接电压比较单元230的输入端。

可以理解的是，每对GPIO引脚对中的第一引脚作为输出引脚，第二引脚作为输入引脚，处理器210通过一对GPIO引脚对连接一个RC滤波器220和一个电压比较单元230，以构成检测回路。如图2所示，电路失效检测组件200包括N个检测回路。RC滤波器220、电压比较单元230和GPIO引脚对一一对应，RC滤波器220的输出端连接对应电压比较单元230的输入端。

如图2所示，处理器210可以通过GPIO引脚对的第一引脚向RC滤波器220输出电压为Vo的脉冲信号；还可以通过GPIO引脚对的第二引脚接收来自电压比较单元230的电压为Vi的第一输入信号。

可选地，如图2所示，在图2的具体示例中，第一电容C的输入端连接处理器210中对应的第一引脚，第一电容C的输出端连接对应电压比较单元230的输入端和第一电阻R的输入端；第一电阻R的输出端接地。此时，RC滤波器220为高通滤波器，其输入端为第一电容C的输入端，其输出端为第一电容C的输出端。

可选地，如图3所示，在图3的具体示例中，第一电阻R的输入端连接处理器210中对应的第一引脚，第一电阻R的输出端连接对应电压比较单元230的输入端和第一电容C的输入端；第一电容C的输出端接地。此时，RC滤波器220为低通滤波器，其输入端为第一电阻R的输入端，其输出端为第一电阻R的输出端。

可以理解的是，图2和图3中所示的RC滤波器220仅为示例而非限定，除图2和图3中所示的一阶RC滤波器外，RC滤波器220还可以是更复杂的高阶滤波器。

其中，处理器210可以是复杂可编程逻辑器件(complex programmable logicdevice,CPLD)，也可以是微控制单元(microcontroller unit,MCU)，或是其他具有信号发射能力和信号处理能力的处理器。

其中，电压比较单元230可以是开关管，具体可以是金属-氧化物半导体场效应(Metal-Oxide-Semiconductor Field-Effect Transistor,MOS)晶体管或三极管等开关器件；也可以是电压比较器。

下面将对本申请实施例提供的电路失效检测组件200中一个检测回路的工作原理进行说明。

处理器210用于通过第一引脚向RC滤波器220发送脉冲信号。

其中，该脉冲信号可以为交流信号，具体可以是方波，也可以是正弦波。可以理解的是，该脉冲信号的频率可以结合RC滤波器220的截止频率设置，该脉冲信号的电平可以根据电压比较单元230的电压阈值设置。

可以理解的是，当电压比较单元230为MOS管或三极管时，该电压阈值为该MOS管或该三极管的导通电压；当电压比较单元230为电压比较器时，该电压阈值为该电压比较器的比较电压。

处理器210还用于在发送该脉冲信号后的第一预设时间通过第二引脚接收电压比较单元230发送的第一输入信号。

其中，第一预设时间为第一传输时间和第二传输时间之和，该第一传输时间为电信号从第一引脚经过RC滤波器220到达电压比较单元230所需的时间，该第二传输时间为电信号从电压比较单元230到第二引脚所需时间；该第一预设时间可以通过预先实验得到并预设于处理器210中。

其中，RC滤波器220用于衰减该脉冲信号。

在RC滤波器220正常工作的情况下，电压比较单元230可以接收到经过RC滤波器220的衰减后的脉冲信号；再根据该衰减后的脉冲信号的电压和电压阈值的大小关系，通过第二引脚向处理器210发送对应的第一输入信号。

在RC滤波器220异常，该脉冲信号无法到达电压比较单元230的情况下，电压比较单元230的输入电压为0；再根据该衰减后的脉冲信号的电压和0的大小关系，通过第二引脚向处理器210发送对应的第一输入信号。

处理器210还用于根据第一输入信号确定RC滤波器220的状态，并根据该状态执行预设操作。

可以理解的是，对于稳定的检测回路，处理器210在向其输出相同的脉冲信号后，总能接收到对应相同的第一输入信号，也即对于固定的脉冲信号和检测回路，其对应的第一输入信号是可预知的。

因此，通过控制变量法将不同容值的第一电容C构成不同的RC滤波器220和对应的检测回路，并获取预设的脉冲信号在这些检测回路中对应的第一输入信号，可以得到不同的第一输入信号和该第一电容C的容值的对应关系。进一步地，处理器210可以根据接收到的第一输入信号和该对应关系，确定当前检测回路中的该第一电容C是否失效或发生容值下降。可以理解的是，该对应关系可以通过相关实验获取，并预设于处理器210中。

可以理解的是，该第一电容C发生短路或断路时同样对应不同的第一输入信号，该对应关系也可以通过实验获取，并预设于处理器210中。

通过利用电容在受到腐蚀、高温老化或是物理损坏时容值下降的特性，可以将RC滤波器220中的第一电容C设置于图1所示实施例中的易失效区域；当该区域实际发生腐蚀、高温老化或物理损坏时，设置于该区域中的第一电容C将会短路、断路或容值下降，本申请实施例可以通过检测第一电容C是否发生的上述异常变化从而确定第一电容C所在区域是否具有失效风险或是否已实际发生导致失效的事件。

其中，根据RC滤波器220的截止频率计算公式：f₀＝1/(2πRC)可知，第一电容C的容值下降会导致RC滤波器220的截止频率变化，从而导致经过RC滤波器220的信号衰减程度变化；再结合电压比较单元230，可以将该信号衰减程度的变化具体转换为电压比较单元230输出信号的占空比变化，也即通过检测电压比较单元230输出信号的占空比即可确认相应第一电容C是否发生容值下降的情况，从而判断该第一电容所在区域是否具有失效风险或是否已实际发生导致失效的事件。

通过在处理器210、RC滤波器220和电压比较单元230构成的检测回路中发送脉冲信号并获取对应的第一输入信号，再根据第一电容容值下降、短路和断路这些不同状态和第一输入信号的对应关系，可以准确地确定当前检测回路中RC滤波器220的状态；最后再根据该状态执行预设操作，能够精细化地根据RC滤波器220不同的状态输出不同的信息，便于维护人员的维护工作。

通过将电路失效检测组件中N个检测回路中的N个第一电容C设置于不同的易失效区域，可以实现多路信号采集和检测，无需增加AD采样电路的成本以及电路布局压力。

请参阅图4，图4为本申请实施例提供的一种电路失效检测组件的电路示意图，在图4的具体示例中包括电路失效检测组件的一个检测回路，其中RC滤波器220x为高通滤波器，电压比较单元230x为三极管，下面将通过该具体示例进一步说明电路失效检测组件200的工作原理。

如图4所示，RC滤波器220x包括第一电容Cx和第一电阻Rx；处理器210通过一对GPIO引脚对中的第一引脚连接第一电容Cx的输入端，通过该GPIO引脚对的第二引脚连接三极管230x的集电极；第一电容Cx的输出端分别连接第一电阻Rx的输入端以及三极管230x的基极；第一电阻Rx的输出端接地；三极管230x的发射极接地，三极管230x的集电极还连接电压为3.3V的供电电源的正极。

其中，该供电电源为直流电电源，用于为三极管230x供电。

可以理解的是，上述供电电源的电压仅为举例而非限定，该供电电源具体电压可以根据电路失效检测组件200的实际电路情况确定。

另外，电路失效检测组件200还可以设置有保护电路和调节电压电流的电阻。如图4所示，在图4的具体示例中，在该第一引脚和第一电容Cx的输入端之间还设置有100欧姆的电阻，用于保护该检测回路；第一电容Cx的输出端和三极管230x的基极之间设置有1000欧姆的第三电阻，在与三极管230x并联的支路上设置有1000欧姆的第四电阻，该两个电阻用于调节三极管230x的输入电压；三极管230x的集电极和供电电源正极之间设置有1000欧姆的电阻，用于保护三极管230x。

可以理解的是，上述起到保护作用和调节作用的电阻的数量和阻值仅为举例而非限定，具体可以根据处理器210输出的脉冲信号的电压，以及预设的三极管230x的导通电压设置。通过设置这些电阻，在保护电路的同时，还可以控制三极管230x的输入电压的变化幅度，使得第一电容Cx的容值下降时第一输入信号占空比变化更明显。

电路失效检测组件200在该检测回路中的一次检测过程为：

处理器210向RC滤波器220x发送电压为Vo的脉冲信号；该脉冲信号经过RC滤波器220x后，其低频信号分量被衰减；其中高频的、未被衰减的脉冲信号，以及部分衰减后的脉冲信号Vo可以导通三极管230x。此时三极管230x的集电极和发射极导通，供电电源的+3.3V电信号直接输入地端，因此处理器210接收的第一输入信号的电压Vi表现为低电平。

而另一部分该衰减后的脉冲信号的能量不足以开启三极管230x，此时三极管230x截止，三极管230x的集电极和发电极不导通，供电电源的+3.3V电信号作为高电平的第一输入信号输入处理器210。

如前所述，在第一电容Cx断路、短路和容值下降的不同情况下，处理器210接收到的第一输入信号不同，因此，处理器210可以根据接收到的第一输入信号判断第一电容Cx是否失效或异常。

在一种可能的实现中，在第一输入信号的电平恒定时，处理器210可以确定RC滤波器220异常。

可以参阅图4，此时RC滤波器220x为高通滤波器，由于脉冲信号为交流信号，在RC滤波器220x的第一电容Cx正常或短路时，三极管230x接收到的脉冲信号中应当有部分信号能够导通三极管230x，也即第一输入信号应当为跳变信号而非恒定电平信号；而当第一电容Cx断路时，三极管230x无法接收脉冲信号，始终处于截止状态，此时第一输入信号为供电电源的恒定高电平的电信号。

可以参阅图5，图5为本申请实施例提供的另一电路失效检测组件的电路示意图，其与图4所示的电路失效检测组件的电路差别在于第一电容Cx和第一电阻Rx的位置互换，也即本实施例中的RC滤波器220x为低通滤波器。

在RC滤波器220x为低通滤波器时，第一电阻Rx相当于图4所示实施例中的第一电容Cx，RC滤波器220x断路的判断过程类似，此处不再赘述。

而图5中的第一电容Cx短路时，可以看作是一段导线接地，脉冲信号在通过第一电阻Rx后直接输入地端，从而流向三极管230x的脉冲信号的能量不足以导通三极管230x，此时第一输入信号为+3.3V电源通过三极管230x发送的恒定高电平的电信号。

因此，在第一输入信号的电平恒定时，处理器210可以确认当前的RC滤波器220出现异常，该脉冲信号无法到达电压比较单元230x；此时处理器210可以输出对应的告警信息。

在一种可能的实现中，在第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系符合预设条件时，处理器210可以确定RC滤波器220的第一电容C容值下降。

其中，占空比阈值为预设值，其可以根据第一电容C的额定容值设定。具体地，在生产电路失效检测组件200前，可以采取控制变量法进行实验，获取上述电容容值和第一输入信号的对应关系，再根据当前第一电容C的额度容值对应的第一输入信号的占空比设置占空比阈值。

例如，对于如图4中的高通滤波器，选定Rx为100欧姆的第一电阻，脉冲信号为1000Hz、50％占空比的交流方波信号作为脉冲信号，变量第一电容Cx的容值在0.01微法拉到10微法拉之间选择，测试对应第一输入信号的占空比。测试结果中，当第一电容Cx的容值大于10微法拉时，第一输入信号的占空比接近50％；当第一电容Cx的容值为3微法拉时，第一输入信号的占空比大于50％；当第一电容Cx的容值为0.47微法拉时，第一输入信号的占空比大于75％。

此时，可以将占空比阈值设定为75％，当第一输入信号的占空比大于75％时，说明当前的第一电容Cx的容值已小于0.47微法拉，此时处理器210可以判断RC滤波器220x受到损坏，输出相应的告警信息。

可以理解的是，上述例子中的RC滤波器220x为高通滤波器，当该RC滤波器220x为低通滤波器时，第一电容容值越低，截止频率越高，脉冲信号的衰减越少，导通时间越长，占空比越低。此时，可以将第一输入信号的占空比小于占空比阈值作为预设条件。

因此，可以根据RC滤波器220的高低通属性，以及第一电容C和第一电阻R的参数，设置占空比阈值和对应的预设条件，从而准确地判断RC滤波器220是否因为腐蚀、高热和物理碰撞而受到损坏。

在一种可能的实现中，RC滤波器220为高通滤波器；在第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系不符合该预设条件，且该第一输入信号的电平不恒定时，处理器210可以向RC滤波器220输出恒定的高电平信号；处理器210在发送该高电平信号后的第四预设时间接收电压比较单元230发送的第四输入信号；当第四输入信号的电平恒定为第一电平时，处理器210可以确定RC滤波器220正常，并输出和/或记录的RC滤波器220正常的信息；当第四输入信号的电平恒定为第二电平时，处理器210可以确定RC滤波器220的第一电容C短路，并输出第二告警信息。

其中，该高电平信号的电压大于该电压比较单元的电压阈值。

其中，第一电平为电压比较单元230的输入电压小于电压阈值时，电压比较单元230输出的电平；第二电平为电压比较单元230的输入电压大于等于电压阈值时，电压比较单元230输出的电平。

其中，该第一电容C短路时可以看作是一段导线，脉冲信号无损通过RC滤波器220,三级管230转换得到的第一输入信号的占空比与该占空比阈值的关系不符合该预设条件；而RC滤波器220正常状态下对应的第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系同样不符合该预设条件。因此，在第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系不符合该预设条件时，需要进一步判断RC滤波器220是短路还是正常。

具体地，处理器210可以输出直流的该高电平信号，通过第四输入信号确定该高电平信号是否被该第一电容C正常阻隔，从而判断该第一电容C是短路还是正常。若第四输入信号恒定为第一电平，则说明三极管230未被导通，直流的该高电平信号被正常的第一电容C阻隔；若第四输入信号恒定为第二电平，则说明三极管230被该高电平信号持续导通，该第一电容C短路。

可以理解的是，处理器210在输出该高电平信号的第四预设时间后再接收第二输入信号，可以防止直流信号为第一电容C的充电的过程导致误判。

本申请实施例中，在RC滤波器220为高通滤波器时，RC滤波器220的短路状态和正常状态所反映的第一输入信号是相似的，因此可以通过输入恒定的高电平信号，并根据第四输入信号准确地判断RC滤波器220的第一电容C是否短路，从而及时进行告警，提高计算设备的运行可靠性。

在一种可能的实现中，RC滤波器220为低通滤波器；在第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系不符合所预设条件，且第一输入信号的电平不恒定时，处理器210可以确定所述RC滤波器正常。

其中，在RC滤波器220为低通滤波器时，RC滤波器220的第一电阻R断路会导致第一输入信号的电平恒定；而RC滤波器220的第一电容C短路时，RC滤波器220的输出信号将直接入地从而使得三极管230无法导通，同样会导致第一输入信号的电平恒定。

因此，在第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系不符合所预设条件，且第一输入信号的电平不恒定时，处理器210可以判断RC滤波器220未被损坏，确定RC滤波器220正常。

可以理解的是，在RC滤波器220为低通滤波器，且该RC滤波器220的第一电容C断路时，对应的第一输入信号将与RC滤波器220正常状态下对应的第一输入信号相似，因此需要结合该两种状态下的第一输入信号进一步调节和设置预设条件。

在一种可能的实现中，在处理器210完成一次上述的电路失效检测后，处理器210可以根据检测结果输出对应的电路失效告警信息或电路正常信息。

其中，输出告警信息或输出电路正常信息，均指处理器210通过与电路失效检测组件200连接的音视频输出设备显示或播放相应信息，以告知维护人员检测结果。

其中，告警信息可以包括电路异常或电路失效风险对应的部件所在的区域，以及对应的异常种类或风险种类。

可以理解的是，在检测结果为RC滤波器220状态正常时，处理器可以将电路正常信息的检测结果保存至与电路失效检测组件连接的存储器中。

通过输出告警信息和电路正常信息，能够及时反馈电路的失效风险情况，使得维护人员能够第一时间获取电路的失效风险以进行相应维护，提高计算设备的运行可靠性。

本申请实施例中，还可以通过设置对照支路进行更准确的电路失效检测，以避免计算设备所处环境的因素影响检测结果的准确度，具体可以参阅图6和图7。

请参阅图6，图6所示的电路失效检测组件为在图4所示的电路基础上增设了对照支路。具体地，该组件还包括第二电容Ctest；处理器210还包括测试引脚；第二电容Ctest的输入端连接与测试引脚连接，输出端分别与三极管230x的基极和电阻Rx的输入端连接。

其中，第二电容Ctest的电容值与第一电容Cx的额定容值相同。

处理器210可以通过测试引脚向第二电容Ctest输出电压为Vtest的测试信号，该测试信号和该脉冲信号相同。

处理器210可以在发送该测试信号后的第二预设时间接收三极管230x发送的第二输入信号。

处理器210可以对比第一输入信号和第二输入信号，并根据对比结果确定RC滤波器220x的状态。

其中，处理器210输出脉冲信号和输出测试信号的时间点不同，在处理器210输出测试信号时，第二电容Ctest和电阻Rx组成一个RC滤波器，可以看作是完好状态的RC滤波器220x。

其中，第二电容Ctest设置于易失效区域之外的安全区域，使其容值尽可能保持不变，从而起到更好的对照作用。

因此，第二输入信号可以视为标准的第一输入信号，通过对比第一输入信号和第二输入信号，可以得到第一输入信号与第二输入信号的占空比差别和频率差别；再根据这些差别确认RC滤波器220x的状态，从而得到更准确的失效检测结果。

可以理解的是，该占空比差别、该频率差别和不同失效结果的对应关系也可以提前测定并保存于处理器210中，从而处理器210在得到上述偏差数据后可以根据该偏差数据和该对应关系确认RC滤波器220x的状态。

通过在主板易失效区域之外的安全区域设置对照支路，结合第一输入信号和第二输入信号对电路进行失效检测，可以避免计算设备所处环境的因素影响，提高检测结果的准确性。

请参阅图7，图7所示的电路失效检测组件为在图5所示的电路基础上增设了对照支路。具体地，该组件还包括第二电阻Rtest；处理器210还包括测试引脚；第二电阻Rtest的输入端与测试引脚连接，输出端分别与三极管230x的基极和电容Cx的输入端连接。

其中，第二电阻Rtest的阻值与第一电阻Rx的额定阻值相同。

处理器210可以通过测试引脚向第二电阻Rtest输出电压为Vtest的测试信号，该测试信号和该脉冲信号相同。

处理器210可以在发送该测试信号后的第三预设时间接收三极管230x发送的第三输入信号。

处理器210可以对比第一输入信号和第三输入信号，并根据对比结果确定RC滤波器220x的状态。

本实施例中第二电阻Rtest相当于图5所示实施例中的第二电容Ctest，第三输入信号相当于第二输入信号，具体的工作原理与图5所示实施例中电路失效检测组件的工作原理类似，此处不再赘述。

通过在主板易失效区域之外的安全区域设置对照支路，结合第一输入信号和第三输入信号对电路进行失效检测，可以避免计算设备所处环境的因素影响，提高检测结果的准确性。

可以理解的是，在与图6和图7所示的两个实施例类似的实施例中，当电压比较单元230为电压比较器时，电压比较器的输入端将与三极管的基极类似，第二电容Ctest或第二电阻Rtest的输出端将连接电压比较器的输入端。

请参阅图8，图8为本申请实施例提供的一种电路失效检测组件中多电容并联电路的电路示意图。如图8所示，电路失效检测组件还包括与RC滤波器220的第一电容Cx并联的一个或多个第三电容Cx-1至Cx-n。

其中，通过设置与第一电容Cx并联的多个第三电容，可以提高失效检测的检测精度和灵活度。具体地，处理器210可以在第一输入信号反映该检测回路中多个或全部电容失效时，再输出告警信息；该输出告警信息情况所对应的失效电容数量可以根据这些并联电容所在的电路易失效区域的重要程度设置。

本申请实施例还提供一种计算设备，该计算设备包括主板和电路失效检测组件，该电路失效检测组件设置于该主板；该计算设备的具体结构可以参阅如图1所示的计算设备100，其区别在于图1中的电路失效检测组件200采用了上述实施例提供的任一种电路失效检测组件。

在一种可能的实现中，计算设备100还可以包括多个大尺寸电子器件，计算设备100还设置有进风口；该多个大尺寸电子器件设置于主板110上第一电容与该进风口相对的背面一侧和左右两侧。

请参阅图9，图9为本申请实施例提供的一种加速积灰区域的布置示意图。在图9具体示例中，主板上除了设置有第一电容Cx、第一电阻Rx和电压比较单元230x以和处理器210构成电路失效检测组件的检测回路外，还设置有大尺寸电子器件为电子器件M1、M2和M3；该多个大尺寸电子器件设置于第一电容Cx与进风口相对的左右两侧和背面一侧。

对于积灰腐蚀损坏电子器件的情况，由于风力大小不同导致的积灰区域较大，普通的电子器件和该电容Cx需要布置于同一积灰区域中。本申请实施例可以通过设置大尺寸电子器件围设于RC滤波器的电容Cx附近，形成一个加速积灰区域，使得电容Cx的被腐蚀速度快于普通的电子器件，从而可以通过电容Cx的容值下降程度对该区域的失效情况进行预测和告警。

更进一步地，在同一积灰区域可以设置多个检测回路，并围绕该多个检测回路中的第一电容设置多个不同积灰速度的加速积灰区域，以在不同加速积灰区域中的电容失效时进行不同等级的告警，可以提高电路失效检测的精度。

请参阅图10，图10是本申请实施例提供的电路失效检测方法的流程示意图。本申请实施例提供的电路失效检测方法适用于上述图2至图7所示任一的电路失效检测组件，该方法包括：

1001、处理器向RC滤波器发送脉冲信号。

其中，处理器可以周期性地向RC滤波器发送该脉冲信号，也可以在接收维护人员下达的检测指令后向RC滤波器发送该脉冲信号。

1002、处理器在发送该脉冲信号后的第一预设时间接收电压比较单元发送的第一输入信号。

其中，该脉冲信号在经过RC滤波器后，其电压将发生衰减；电压比较单元在接收到该衰减后的脉冲信号时，将该衰减后的脉冲信号的电压和电压阈值相比较，再根据比较结果输出对应的第一输入信号。

具体地，当该衰减后的脉冲信号的信号分量电压大于电压阈值时，电压比较单元输出第一电平；反之则输出第二电平。

其中，在RC滤波器异常，该脉冲信号无法到达电压比较单元时，电压比较单元将输入电压0和电压阈值相比较，再根据比较结果输出对应的第一输入信号。

因此，处理器需要在发送该脉冲信号后的第一预设时间接收第一输入信号，避免信号传输过程中电压比较单元的输入电压为0的干扰。第一预设时间可以根据该脉冲信号从处理器的第一引脚到电压比较单元的第一传输时间，以及该第一输入信号从电压比较单元到处理器的第二引脚的第二传输时间设定。

1003、处理器根据该第一输入信号确定该RC滤波器的状态。

其中，该RC滤波器的第一电容设置于该电路失效检测组件所在主板的电路易失效区域。因此可以理解的是，RC滤波器的状态主要受到该第一电容的状态影响。

其中，处理器中预设有第一输入信号的占空比与RC滤波器的状态之间的对应关系；在处理器接收到当前次检测的第一输入信号后，可以根据该第一输入信号的占空比获取当前RC滤波器的状态，从而确定该RC滤波器的第一电容在附近电路当前受腐蚀、高温和插拔应力影响下的状态。

具体可以参阅图11，图11是本申请实施例提供的另一电路失效检测方法的流程示意图。

1101、处理器接收第一输入信号。

其中，处理器在发送该脉冲信号后的第一预设时间接收电压比较单元发送的该第一输入信号。

1102、处理器判断该第一输入信号的电平是否恒定。

若该电平恒定，则执行步骤1103；若不恒定，则执行步骤1104。

1103、处理器确定该RC滤波器状态异常。

1104、处理器判断该第一输入信号的占空比和占空比阈值的关系是否符合预设条件。

若符合，则执行步骤1105；若不符合，则执行步骤1106、1107或1108。

1105、处理器确定第一电容的容值下降。

1106、处理器判断RC滤波器是高通滤波器还是低通滤波器。

若是低通滤波器，则执行步骤1107；若是高通滤波器，则执行步骤1108。

可以理解的是，步骤1106不是必要执行的步骤。若当前电路失效检测组件的所有检测回路中的RC滤波器均为高通滤波器，则处理器可以跳过步骤1106，直接执行1108；若当前电路失效检测组件的所有检测回路中的RC滤波器均为低通滤波器，则处理器可以跳过步骤1106，直接执行1107；当前电路失效检测组件的所有检测回路中的RC滤波器包括高通滤波器和低通滤波器，则处理器需要执行一次步骤1106。

其中，RC滤波器的高低通信息可以预存于同一检测回路的电压比较单元的寄存器中；当电压比较单元发送第一输入信号时，第一输入信号可以携带该RC滤波器的高低通信息。

1107、处理器确定RC滤波器正常。

1108、处理器向RC滤波器发送恒定的高电平信号。

1109、处理器接收第四输入信号。

其中，处理器在发送该高电平信号后的第四预设时间接收电压比较单元发送的该第四输入信号。

1110、处理器判断该第四输入信号恒定为第一电平还是第二电平。

若该第四输入信号恒定为第一电平，则执行步骤1107；若恒定为第二电平，则执行步骤1111。

1111、处理器确定第一电容短路。

具体实现中，本申请实施例提供的根据第一输入信号确定RC滤波器状态的方法中处理器所执行的更多操作和实现原理可参见图2至图7所示的电路失效检测组件及其工作原理的相关部分，在此不再赘述。

在另外一些实施例中，可以应用上述实现原理，将上述步骤进行乱序、组合或替换，得到类似的技术效果，可以理解的是，这些实施例对应的方案仍处于本申请的保护范围内。

在一种可能的实现中，当该处理器确定该RC滤波器的状态为正常时，该处理器可以输出和/或记录该RC滤波器正常的信息；当该处理器确定该RC滤波器的状态为第一电容容值下降、断路或短路时，该处理器可以输出对应的告警信息。

本申请实施例中，通过发送脉冲信号并获取对应的第一输入信号，再根据RC滤波器的不同状态和第一输入信号的对应关系，可以根据该第一输入信号准确地确定当前检测回路中RC滤波器的状态；最后再根据该状态执行预设操作，可以使维护人员更及时、更简便地对计算设备的电路进行维护。

请参阅图12，图12是本申请实施例提供的又一电路失效检测方法的流程示意图。本申请实施例提供的电路失效检测方法适用于上述图6或图7所示或与图6图7类似的任一电路失效检测组件，该方法包括：

1201、处理器向RC滤波器发送脉冲信号。

1202、处理器接收第一输入信号。

可以理解的是，本实施例中的步骤1201至1202与图10所示实施例中的步骤1001和1002类似，具体可以参照相关部分的内容理解，此处不再赘述。

1203、处理器向对照支路发送测试信号。

其中，该测试信号与该脉冲信号相同。

其中，对照支路为设置有第二电容或第二电阻的支路。该测试信号经过第二电容或第二电阻，到达电压比较单元时，其电压与经过无损RC滤波器后的该脉冲信号的电压相同，因此，电压比较单元根据接收的测试信号发送的第三输入信号或第四输入信号均可以被视为标准输入信号。

1204、处理器接收标准输入信号。

其中，当RC滤波器为高通滤波器，也即对照支路中设置有第二电容时，处理器在发送测试信号后的第三预设时间接收该标准输入信号；当RC滤波器为低通滤波器，也即对照支路中设置有第二电阻时，处理器在发送测试信号后的第四预设时间接收该标准输入信号。

可以理解的是，处理器可以先执行步骤1201至1202，再执行步骤1203至1204；也可以先执行步骤1203至1204，再执行步骤1201至1202。

具体地，处理器执行该两组步骤的时间点需要错开，避免该脉冲信号和该测试信号相互干扰。同时，在执行完其中的第一组步骤后，执行第二组步骤前，需要将第一组步骤对应的输出引脚设置为高阻态，再执行第二组步骤。该动作可以避免处理器其他信号的干扰。

例如，处理器执行完步骤1202后，可以将第一引脚设置为高阻态，再执行步骤1203；或是在执行完步骤1204后，将测试引脚设置为高阻态，再执行步骤1201。

1205、处理器判断该第一输入信号和该标准输入信号是否一致。

其中，处理器可以对比该第一输入信号和该标准输入信号的占空比和频率是否一致；若一致，则执行步骤1206；若不一致，则执行步骤1207。

1206、处理器确定该RC滤波器正常。

1207、处理器根据该第一输入信号和该标准输入信号的偏差数据确定该RC滤波器的状态。

其中，该偏差数据和该RC滤波器的状态之间的对应关系可以预设于处理器中。

1208、处理器根据该状态执行预设操作。

具体实现中，本实施例提供的电路失效检测方法中处理器所执行的更多操作和实现原理可参见图2至图7所示的电路失效检测组件及其工作原理的相关部分，在此不再赘述。

本领域普通技术人员可以意识到，结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤，能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行，取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能，但是这种实现不应认为超出本申请实施例的范围。

所属领域的技术人员可以清楚地了解到，为描述的方便和简洁，上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程，可以参考前述方法实施例中的对应过程，在此不再赘述。

在本申请实施例所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的系统、装置和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的，例如，所述单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本申请实施例各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。

所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本申请实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)执行本申请实施例各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：U盘、移动硬盘、只读存储器(Read-Only Memory，ROM)、随机存取存储器(Random Access Memory，RAM)、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

Claims (10)

1.一种电路失效检测组件，其特征在于，所述组件包括：处理器，电阻-电容RC滤波器和电压比较单元；所述处理器包括通用型输入输出GPIO引脚对，所述GPIO引脚对中的第一引脚连接所述RC滤波器的输入端，所述GPIO引脚对的第二引脚连接所述电压比较单元的输出端，所述RC滤波器的输出端连接所述电压比较单元的输入端；

所述处理器用于向所述RC滤波器发送脉冲信号；

所述处理器还用于在发送所述脉冲信号后的第一预设时间接收所述电压比较单元发送的第一输入信号；

所述处理器还用于根据所述第一输入信号确定所述RC滤波器的状态。

2.根据权利要求1所述的组件，其特征在于，所述RC滤波器包括第一电容和第一电阻；所述第一电容的输入端连接所述第一引脚，所述第一电容的输出端连接所述电压比较单元的输入端和所述第一电阻的输入端；所述第一电阻的输出端接地。

3.根据权利要求2所述的组件，其特征在于，所述组件还包括第二电容，所述处理器还包括测试引脚；所述第二电容的输入端连接所述测试引脚，所述第二电容的输出端分别连接所述电压比较单元的输入端以及所述第一电阻的输入端；所述第二电容的电容值与所述第一电容的额定容值相同；

所述处理器还用于向所述第二电容发送测试信号，所述测试信号和所述脉冲信号相同；

所述处理器还用于在发送所述测试信号后的第二预设时间接收所述电压比较单元发送的第二输入信号；

所述处理器还用于对比所述第一输入信号和所述第二输入信号，并根据对比结果确定所述RC滤波器的状态。

4.根据权利要求1所述的组件，其特征在于，所述RC滤波器包括第一电容和第一电阻；所述第一电阻的输入端连接所述第一引脚，所述第一电阻的输出端连接所述电压比较单元的输入端和所述第一电容的输入端；所述第一电容的输出端接地。

5.根据权利要求4所述的组件，其特征在于，所述组件还包括第二电阻，所述处理器还包括测试引脚；所述第二电阻的输入端连接所述测试引脚，所述第二电阻的输出端分别连接所述电压比较单元的输入端以及所述第一电容的输入端；所述第二电阻的电阻值与所述第一电阻的额定电阻相同；

所述处理器还用于向所述第二电阻发送测试信号，所述测试信号和所述脉冲信号相同；

所述处理器还用于在发送所述测试信号后的第三预设时间接收所述电压比较单元发送的第三输入信号；

所述处理器还用于对比所述第一输入信号和所述第三输入信号，并根据对比结果确定所述RC滤波器的状态。

6.根据权利要求1至5中任一项所述的组件，其特征在于，所述组件还包括与所述第一电容并联的一个或多个第三电容。

7.一种计算设备，其特征在于，所述计算设备包括主板，以及权利要求1至6中任一项所述的组件，所述组件设置于所述主板。

8.一种电路失效检测方法，其特征在于，应用于如权利要求1至6中任一项所述的组件；所述方法包括：

处理器向RC滤波器发送脉冲信号；

所述处理器在发送所述脉冲信号后的第一预设时间接收电压比较单元发送的第一输入信号；

所述处理器根据所述第一输入信号确定所述RC滤波器的状态。

9.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述处理器根据所述第一输入信号确定所述RC滤波器的状态，包括：

若所述第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系符合预设条件，且所述第一输入信号的电平不恒定，则所述处理器确定所述RC滤波器的第一电容容值下降。

10.根据权利要求8所述的方法，其特征在于，所述RC滤波器为高通滤波器；所述处理器根据所述第一输入信号确定所述RC滤波器的状态，包括：

若所述第一输入信号的占空比与占空比阈值的关系不符合与所述高通滤波器对应的预设条件，且所述第一输入信号的电平不恒定，则所述处理器向所述RC滤波器输出恒定的高电平信号，所述高电平信号的电压大于所述电压比较单元的电压阈值；

所述处理器在发送所述高电平信号后的第四预设时间接收所述电压比较单元发送的第四输入信号；

若所述第四输入信号的电平恒定为第一电平，则所述处理器确定所述RC滤波器正常，其中所述第一电平为所述电压比较单元的输入电压小于所述电压阈值时，所述电压比较单元输出的电平；

若所述第四输入信号的电平恒定为第二电平，则所述处理器确定所述RC滤波器的第一电容短路，其中所述第二电平为所述电压比较单元的输入电压大于等于所述电压阈值时，所述电压比较单元输出的电平。

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