CN116187226A - Pdk工程的比较方法、比较装置和电子设备 - Google Patents
Pdk工程的比较方法、比较装置和电子设备 Download PDFInfo
- Publication number
- CN116187226A CN116187226A CN202310032204.2A CN202310032204A CN116187226A CN 116187226 A CN116187226 A CN 116187226A CN 202310032204 A CN202310032204 A CN 202310032204A CN 116187226 A CN116187226 A CN 116187226A
- Authority
- CN
- China
- Prior art keywords
- pdk
- comparison
- index file
- project
- compared
- Prior art date
- Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
- Granted
Links
- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 39
- 230000002452 interceptive effect Effects 0.000 claims description 4
- 230000008520 organization Effects 0.000 claims description 3
- 238000013461 design Methods 0.000 description 35
- 230000008569 process Effects 0.000 description 12
- 239000004065 semiconductor Substances 0.000 description 12
- 239000000463 material Substances 0.000 description 10
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 description 8
- 238000012360 testing method Methods 0.000 description 7
- 230000009471 action Effects 0.000 description 4
- 238000011161 development Methods 0.000 description 4
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 4
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 3
- 238000012827 research and development Methods 0.000 description 3
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 2
- 238000011985 exploratory data analysis Methods 0.000 description 2
- 230000006870 function Effects 0.000 description 2
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 2
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 2
- 239000013307 optical fiber Substances 0.000 description 2
- 230000000644 propagated effect Effects 0.000 description 2
- 235000012431 wafers Nutrition 0.000 description 2
- 230000006399 behavior Effects 0.000 description 1
- 239000003990 capacitor Substances 0.000 description 1
- 230000008859 change Effects 0.000 description 1
- 239000003086 colorant Substances 0.000 description 1
- 238000004590 computer program Methods 0.000 description 1
- 238000011960 computer-aided design Methods 0.000 description 1
- 238000007405 data analysis Methods 0.000 description 1
- 238000012938 design process Methods 0.000 description 1
- 230000000694 effects Effects 0.000 description 1
- 238000000605 extraction Methods 0.000 description 1
- 230000010354 integration Effects 0.000 description 1
- 230000003993 interaction Effects 0.000 description 1
- 238000002955 isolation Methods 0.000 description 1
- 239000004973 liquid crystal related substance Substances 0.000 description 1
- 238000001459 lithography Methods 0.000 description 1
- 238000005259 measurement Methods 0.000 description 1
- 239000002184 metal Substances 0.000 description 1
- 238000012545 processing Methods 0.000 description 1
- 238000003672 processing method Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
- 230000000007 visual effect Effects 0.000 description 1
Images
Classifications
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F30/00—Computer-aided design [CAD]
- G06F30/30—Circuit design
- G06F30/31—Design entry, e.g. editors specifically adapted for circuit design
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
- G06F16/80—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor of semi-structured data, e.g. markup language structured data such as SGML, XML or HTML
- G06F16/81—Indexing, e.g. XML tags; Data structures therefor; Storage structures
-
- G—PHYSICS
- G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
- G06F—ELECTRIC DIGITAL DATA PROCESSING
- G06F16/00—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor
- G06F16/80—Information retrieval; Database structures therefor; File system structures therefor of semi-structured data, e.g. markup language structured data such as SGML, XML or HTML
- G06F16/83—Querying
Landscapes
- Engineering & Computer Science (AREA)
- Theoretical Computer Science (AREA)
- Physics & Mathematics (AREA)
- General Engineering & Computer Science (AREA)
- General Physics & Mathematics (AREA)
- Computer Hardware Design (AREA)
- Databases & Information Systems (AREA)
- Data Mining & Analysis (AREA)
- Software Systems (AREA)
- Evolutionary Computation (AREA)
- Geometry (AREA)
- Information Retrieval, Db Structures And Fs Structures Therefor (AREA)
- Debugging And Monitoring (AREA)
Abstract
公开了一种PDK工程的比较方法、比较装置和电子设备。该比较方法包括:对第一索引文件和第二索引文件进行内容比较,以确定待比较的PDK工程相对于PDK基准工程缺失的资源类别,第一索引文件和第二索引文件分别指示待比较的PDK工程和PDK基准工程中的各种资源类别的存储位置;根据比较结果从第一索引文件和第二索引文件中读取待比较的PDK工程和PDK基准工程都具有的资源类别的存储位置,并进行读取操作;将读取到的相同资源类别进行比较,以确定两者之间的差异;以及输出比较结果。本发明实施例通过事先选定一个PDK工程作为比较基准,然后比较待比较的PDK工程相对于该PDK工程的差异,以便研发人员能根据差异确定待比较的PDK工程是否为所需PDK工程。
Description
技术领域
本发明涉及芯片设计领域,尤其涉及一种PDK工程的比较方法、比较装置和电子设备。
背景技术
工艺设计工具包(Process Design Kit,PDK)是一组描述半导体工艺细节的文档资料,是IC设计公司、代工厂和电子设计自动化(Electronic design automation,EDA)公司之间信息沟通的桥梁。PDK需要不断地开发,在开发过程中,PDK的不同版本可能存在类似的器件,因此PDK开发工程师以器件相似度较高的PDK工程文件为基础进行开发有助于节省开发时间,提高开发效率。因而,从大量的PDK工程文件中找到器件相似度较高的PDK工程至关重要。
发明内容
有鉴于此,本发明实施例提出一种PDK工程文件的比较方法、电子设备和计算机可读介质。
根据本发明的第一方面,提供一种PDK工程的比较方法,包括:
对第一索引文件和第二索引文件进行内容比较,以确定待比较的PDK工程相对于PDK基准工程缺失的资源类别,所述第一索引文件指示待比较的PDK工程的各种资源类别的存储位置,所述第二索引文件指示PDK基准工程的各种资源类别的存储位置;
根据比较结果从第一索引文件和第二索引文件中读取所述待比较的PDK工程和所述PDK基准工程都具有的资源类别的存储位置,并从相应的存储位置读取其内容;
将读取到的相同资源类别进行比较,以确定两者之间的差异;以及
输出比较结果。
可选地,所述第一索引文件和所述第二索引文件采用XML格式。
可选地,还包括:从图形交互界面接收用户输入,所述用户输入指定所述第一索引文件和所述第二索引文件。
可选地,输出比较结果时,通过不同颜色指示异同。
可选地,将所述比较结果组织为具有超链接的目录结构。
根据本发明的第二方面,提供一种PDK工程的比较装置,包括:
类别比较单元,用于对第一索引文件和第二索引文件进行内容比较,以确定待比较的PDK工程相对于PDK基准工程缺失的资源类别,所述第一索引文件指示待比较的PDK工程的各种资源类别的存储位置,所述第二索引文件指示PDK基准工程的各种资源类别的存储位置;
内容读取单元,用于根据比较结果从第一索引文件和第二索引文件中读取所述待比较的PDK工程和所述PDK基准工程都具有的资源类别的存储位置,并从相应的存储位置读取其内容;
内容比较单元,用于将读取到的相同资源类别进行比较,以确定两者之间的差异;以及
结果组织单元,用于将所述类别比较单元和所述内容比较单元的比较结果组织为比较报告输出。
可选地,所述第一索引文件和所述第二索引文件采用XML格式。
可选地,在所述比较报告中,通过不同颜色字体指示异同。
根据本发明实施例的第三方面,提供一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器还存储有可由所述处理器执行的计算机指令,所述计算机指令被执行时,实现上述任一项所述的比较方法。
根据本发明实施例的第四方面,提供一种计算机可读介质,所述计算机可读介质存储有可由电子设备执行的计算机指令,所述计算机指令被执行时,实现上述任一项所述的比较方法。
本发明实施例通过事先选定一个PDK工程作为比较基准,然后比较待比较的PDK工程相对于该PDK工程的差异,以便研发人员能够根据差异确定待比较的PDK工程是否为所需的相似度较高的PDK工程,从而帮助研发人员从海量的工程中找到自身需要的工程。
附图说明
通过参照以下附图对本发明实施例的描述,本发明的上述以及其它目的、特征和优点将更为清楚,在附图中:
图1是芯片设计与制造所涉及的诸多实体;
图2是本发明实施例的PDK工程文件的比较方法的流程图;
图3是本发明实施例的示例性的图形交互界面的示意图;
图4A-图4D是示例性的PDK工程文件的差异报告的截图;
图5是本发明实施例的PDK工程文件的比较装置的流程图;
图6是用于实施本发明各个实施例的电子设备的结构示意图。
具体实施方式
以下将参照附图更详细地描述本发明。在各个附图中,相同的元件采用类似的附图标记来表示。为了清楚起见,附图中的各个部分没有按比例绘制。此外,可能未示出某些公知的部分。
在介绍本发明各个实施例之前,先介绍芯片设计和制造的相关背景。
芯片设计与制造涉及诸多实体。如图1所示,设备制造商102设计用于在半导体晶片上制造电子电路的设备(例如光刻机)。通常,设备制造商102可包括应用材料公司。应用材料公司可进行材料改变以改变装置制造商104如何制造半导体装置。这些改变可包括对半导体装置的各种物理方面(例如源极/漏极触点的尺寸、晶体管之间的隔离类型、栅极氧化物材料、功函数金属、源极/漏极区域掺杂、接触材料、接触材料中的衬垫)的任何改变。注意,虽然应用材料公司可测试材料变化,但需要其他实体(例如装置制造商)和软件/硬件工具(例如EDA)执行相应操作才了解这些材料带来的影响,而它自身只能在非常小的规模级别上针对个别特征或小型装置验证改变的后果,设备制造商102没有软件/硬件工具来评估材料变化后在系统级别的后果。
接下来,从设备制造商102购买设备的装置制造商104(例如晶片代工厂)设计简单结构,这些简单结构将用于设计整个半导体系统,例如这些简单结构可包括例如晶体管、二极管、电容器等半导体器件的电路设计和布局。装置制造商104接着将测试各个结构的电气特性。例如,装置制造商104通常测试特征参数,如通孔的电阻、晶体管的导通电流及针对各个半导体器件的其他较小规模的测量。通常,这些测试可包括硬件测试和技术计算机辅助设计(TCAD)软件测试,这些测试可用于对各个半导体器件的操作进行自动化和建模。TCAD工具可基于半导体布局的基本物理原理,对各个半导体器件的行为进行建模。
接着,根据装置制造商104产生的简单结构来构建标准电路。此工艺可由装置制造商104或IC设计实体106执行,这两个实体也可协同此工作。例如,当将装置制造商104产生的多个简单结构组合在一起形成更大的电路时,电路性能的其他方面可能会基于这些简单结构之间的连接而受到影响,因此可由IC设计实体106在EDA软件中设计标准电路,并在在电路级别而不是在器件级别进行测试,当通过测试后,接着由装置制造商104进行制备。
在此过程中,最耗时的方面是生成完整PDK,该工作通常由装置制造商104和IC设计实体106单独或共同完成。PDK可包括器件模型(Device Model)、组件描述格式(Component Description Format,CDF)、参数化单元(Parameterized Cell,Pcell)、技术文件(Technology File)、物理验证规则文件等。通过PDK,才能够保证由IC设计实体106在EDA软件中创建的标准电路可由装置制造商104以预定的产率制备。
最后,系统设计实体108可使用PDK来设计和运行大型电路系统。系统设计实体108可包括无晶片厂设计公司,其设计基于电路的系统以在制造实体处进行制造。另外,集成装置制造商(IDM)可包括设计、制造和销售集成电路产品的半导体公司。这些系统设计实体108中的任何一者可使用各种设计工具来设计区块级别设计,包括处理器、存储器区块、乘法累加器(MAC)、数字信号处理器(DSP)和其他设计区块。可对这些设计区块进行测试,以确定是否已满足性能、功率、面积及/或成本要求(PPAC)。系统设计实体108亦可设计将多个设计区块整合到单个片上系统中的完整的SoC设计,亦可测试完整的SoC设计以满足要求。在一些情况下,当在所制造的芯片上运行软件算法时,也可测试完整的SoC。
应该说明的是,图1中所示的处理流程可能需要不同实体不断地迭代以观察新的制备工艺或设计产生的影响。
图2是本发明实施例的PDK的比较方法的流程图。具体包括以下步骤。
在步骤S201中,对第一索引文件和第二索引文件进行内容比较,以确定待比较的PDK工程相对于PDK基准工程各自包含的资源类别是否相同。
在步骤S202中,从第一索引文件和第二索引文件中读取待比较的PDK工程和PDK基准工程都具有的资源类别的存储位置,并从相应的存储位置读取其内容。
在步骤S203中,将读取到的相同资源类别进行比较,以确定两者之间的差异。
在步骤S204中,输出比较结果。
PDK工程是研发人员在开发PDK时生成的工程文件,该工程文件遵循集成开发软件平台所制定的规范,该规范中规定每个PDK工程中都包含一个文本文件作为资源索引,具体而言,该文本文件里指定了与资源类别的名称和存储路径。基于此,本发明实施例包括以下步骤:检查待比较的PDK工程的第一索引文件与PDK基准工程的第二索引文件是否存在进行内容比较,以确定待比较的PDK工程相对于PDK基准工程各自包含的资源类别是否相同,然后从第一索引文件和第二索引文件中读取待比较的PDK工程和PDK基准工程都具有的资源类别的存储位置,并进行读取操作,将读取到的相同资源类别进行比较,以确定两者之间的差异,最后输出比较结果。
在一些实施例中,PDK工程的资源索引为XML文件。xml是一种通用的数据交换格式,它与使用的平台、使用的语言和使用的系统无关,工程的结构信息通过xml表示,会给数据集成与交互带来了极大的方便。xml文件包含的是结构性内容,主要涉及节点关系以及属性内容,其中元素是组成xml的最基本的单位,它通常是由一组开始标记和结束标记成对的进行表示,每个元素必须有一个元素名,元素可以若干个属性以及属性值。根据这一特性,通过元素提取算法对每个元素进行处理,利用标记是成对呈现的以及属性值在标记定义的范围中,将我们感兴趣的属性和内容从xml文件中提取出来。对应到本发明,则可以将PDK涉及的各种资源类别(例如,和PDK设计工艺相关的callback、techfile和pycell等)等设计为XML中的元素,并通过元素属性指定资源类别的名称和存储位置等信息。
在一些实施例中,步骤S202和S203的操作具体为:在得到对应的文件后,通过文本差异对比的算法对文件内容进行对比。首先,分别对这两个文件进行读取,将各自读取的文件内容组成一个集合的形式,接着,将这两个集合中的数据进行一一比对,已经比对后的数据将不在进行后续的比对,即只需比对未比较的部分,如果某一部分存在缺少或者新增的情况,将这一部分就输出表示;最后,对生成出的数据结果通过数据分析和数据处理的方法得到更加直观的期望数据,有便于将处理后的详细数据结果存放在文档中。
图3是本发明实施例的示例性的图形交互界面的示意图。图3提供了两种工程类型,两种工程类型所使用的资源索引文件的格式不同,并且图3指定了输出目录,以存储两个工程之间的差异报告。其中,当用户点击按钮“Compare”开始执行上述的比较方法,当执行完成后,用户可点击按钮“View Result”查看差异报告。
图4A-图4C是示例性的PDK工程文件的差异报告的截图。参考图4A所示,首页会对工程的大体内容创建一个目录,用户可以点击对应的内容来查看相应的具体信息,如图上所示,“General”下包括三部分:Common File,Cell&View List,Detail,可点击对应的标题可以超链接到对应的页面上。图4B主要显示“General”目录下文件的比较效果,会列出两个文件夹的并集,当对应的某个文件有不同之处时,会在第三列显示Diff的字样,如果两个文件相同则显示Sample的字样。图4C中,关于Cell&Cell view,主要是比较器件的不同。黑色字体显示的为常规、没有不同的内容,红色字体显示的是待比较的PDK工程中对应了不同的内容,绿色字体显示的是PDK基准工程对应了不同的内容。图4D中,Detail中会显示比较文件中不同的地方,红色标识的是待比较的PDK工程中对应的不同内容,绿色标识的是PDK基准工程中对应的不同的内容。
图5是本发明实施例的PDK工程文件的比较装置的流程图。如图上所示,比较装置500包括类别比较单元501、内容读取单元502、内容比较单元503和结果组织单元。
类别比较单元501,用于对第一索引文件和第二索引文件进行内容比较,以确定待比较的PDK工程相对于PDK基准工程缺失的资源类别,第一索引文件指示待比较的PDK工程的各种资源类别的存储位置,第二索引文件指示PDK基准工程的各种资源类别的存储位置。内容读取单元502,用于根据比较结果从第一索引文件和第二索引文件中读取待比较的PDK工程和PDK基准工程都具有的资源类别的存储位置,并从相应的存储位置读取其内容。内容比较单元503,用于将读取到的相同资源类别进行比较,以确定两者之间的差异。结果组织单元504,用于将类别比较单元和内容比较单元的比较结果组织为比较报告输出。
应当注意,本装置和上文的PDK工程文件的比较方法对应,因此可参考上文中的关于比较方法的描述理解本装置,这里就不再对其进行详细描述。
综上,本发明实施例提供的比较方法和装置通过事先选定一个PDK工程作为比较基准,然后比较待比较的PDK工程相对于该PDK工程的差异,以便研发人员能够根据差异确定待比较的PDK工程是否为所需的相似度较高的PDK工程,从而帮助研发人员从海量的工程中找到需要的工程。
参考图6,电子设备600包括通过总线连接的处理器601、存储器602和输入输出设备603。存储器602包括只读存储器(ROM)和随机访问存储器(RAM),存储器602内存储有执行系统功能所需的各种计算机指令和数据,处理器601从存储器602中读取各种计算机指令以执行各种适当的动作和处理。输入输出设备包括键盘、鼠标等的输入部分;包括诸如阴极射线管(CRT)、液晶显示器(LCD)等以及扬声器等的输出部分;包括硬盘等的存储部分;以及包括诸如LAN卡、调制解调器等的网络接口卡的通信部分。存储器602还存储有计算机指令,当执行计算机指令时,完成上述实施例中的各个步骤。
相应地,本发明实施例提供一种计算机可读存储介质,该计算机可读存储介质存储有计算机指令,计算机指令被执行时实现实施例中的各个步骤。
计算机可读介质可以是计算机可读信号介质或者计算机可读存储介质。计算机可读存储介质例如但不限于为电、磁、光、电磁、红外线或半导体的系统、装置或器件,或其它任意以上的组合。计算机可读存储介质的更具体的例子包括:具体一个或多个导线的电连接,便携式计算机磁盘、硬盘、随机存取存储器(RAM)、只读存储器(ROM)、可擦除可编程只读存储器(EPROM或者闪存)、光纤、便携式紧凑磁盘只读存储器(CD-ROM)、光存储器、磁存储器或者上述任意合适的组合。在本文中,计算机可读的存储介质可以是任意包含或存储程序的有形介质,该程序可以被处理单元、装置或者器件使用,或者与其结合使用。
计算机可读信号介质可以包括在基带中或者作为截波一部分传播的数据信号,其中承载了计算机可读的程序代码。这种传播的数据信号可以采用多种形式,包括但不限于电磁信号、光信号或者其它任意合适的组合。计算机可读的信号介质还可以是计算机可读存储介质之外的任何计算机可读介质,该计算机可读介质可以发送、传播或者传输用于由指令系统、装置或器件使用或者与其结合使用的程序。
计算机可读介质上包含的程序代码可以用任何适当的介质传输,包括但不限于无线、电线、光缆、RF等等,以及上述任意合适的组合。
可以以一种或者多种程序设计语言或者组合来编写用于执行本发明实施例的计算机程序代码。所述程序设计语言包括面向对象的程序设计语言,例如JAVA、C++,还可以包括常规的过程式程序设计语言,例如C。程序代码可以完全地在用户计算机上执行、部分地在用户计算机上执行、作为一个独立的软件包执行、部分在用户计算机上部分在远程计算机上执行、或者完全在远程计算机或服务器上执行。在涉及远程计算机的情形中,远程计算机可以通过任意种类的网络包括局域网(LAN)或广域网(WAN)连接到用户计算机,或者,可以连接到外部计算机(例如利用因特网服务提供商来通过因特网连接)。
应当说明的是,在本文中,诸如第一和第二等之类的关系术语仅仅用来将一个实体或者操作与另一个实体或操作区分开来,而不一定要求或者暗示这些实体或操作之间存在任何这种实际的关系或者顺序。而且,术语“包括”、“包含”或者其任何其它变体意在涵盖非排他性的包含,从而使得包括一系列要素的过程、方法、物品或者设备不仅包括那些要素,而且还包括没有明确列出的其它要素,或者是还包括为这种过程、方法、物品或者设备所固有的要素。在没有更多限制的情况下,由语句“包括一个……”限定的要素,并不排除在包括所述要素的过程、方法、物品或者设备中还存在另外的相同要素。
依照本发明的实施例如上文所述,这些实施例并没有详尽叙述所有的细节,也不限制该发明仅为所述的具体实施例。显然,根据以上描述,可作很多的修改和变化。本说明书选取并具体描述这些实施例,是为了更好地解释本发明的原理和实际应用,从而使所属技术领域技术人员能很好地利用本发明以及在本发明基础上的修改使用。本发明仅受权利要求书及其全部范围和等效物的限制。
Claims (10)
1.一种PDK工程的比较方法,包括:
对第一索引文件和第二索引文件进行内容比较,以确定待比较的PDK工程相对于PDK基准工程缺失的资源类别,所述第一索引文件指示待比较的PDK工程的各种资源类别的存储位置,所述第二索引文件指示PDK基准工程的各种资源类别的存储位置;
根据比较结果从第一索引文件和第二索引文件中读取所述待比较的PDK工程和所述PDK基准工程都具有的资源类别的存储位置,并从相应的存储位置读取其内容;
将读取到的相同资源类别进行比较,以确定两者之间的差异;以及
输出比较结果。
2.根据权利要求1所述的比较方法,其中,所述第一索引文件和所述第二索引文件采用XML格式。
3.根据权利要求1所述的比较方法,还包括:从图形交互界面接收用户输入,所述用户输入指定所述第一索引文件和所述第二索引文件。
4.根据权利要求3所述的比较方法,其中,输出比较结果时,通过不同颜色字体指示异同。
5.根据权利要求1所示的比较方法,其中,将所述比较结果组织为具有超链接的目录结构。
6.一种PDK工程的比较装置,包括:
类别比较单元,用于对第一索引文件和第二索引文件进行内容比较,以确定待比较的PDK工程相对于PDK基准工程缺失的资源类别,所述第一索引文件指示待比较的PDK工程的各种资源类别的存储位置,所述第二索引文件指示PDK基准工程的各种资源类别的存储位置;
内容读取单元,用于根据比较结果从第一索引文件和第二索引文件中读取所述待比较的PDK工程和所述PDK基准工程都具有的资源类别的存储位置,并从相应的存储位置读取其内容;
内容比较单元,用于将读取到的相同资源类别进行比较,以确定两者之间的差异;以及
结果组织单元,用于将所述类别比较单元和所述内容比较单元的比较结果组织为比较报告输出。
7.根据权利要求6所述的比较装置,其中,所述第一索引文件和所述第二索引文件采用XML格式。
8.根据权利要求6所述的比较装置,其中,在所述比较报告中,通过不同颜色字体指示异同。
9.一种电子设备,包括存储器和处理器,所述存储器还存储有可由所述处理器执行的计算机指令,所述计算机指令被执行时,实现如权利要求1至5任一项所述的比较方法。
10.一种计算机可读介质,所述计算机可读介质存储有可由电子设备执行的计算机指令,所述计算机指令被执行时,实现如权利要求1至5任一项所述的比较方法。
Applications Claiming Priority (2)
Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
---|---|---|---|
CN2022114598180 | 2022-11-17 | ||
CN202211459818 | 2022-11-17 |
Publications (2)
Publication Number | Publication Date |
---|---|
CN116187226A true CN116187226A (zh) | 2023-05-30 |
CN116187226B CN116187226B (zh) | 2024-08-23 |
Family
ID=86447168
Family Applications (1)
Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
---|---|---|---|
CN202310032204.2A Active CN116187226B (zh) | 2022-11-17 | 2023-01-10 | Pdk工程的比较方法、比较装置和电子设备 |
Country Status (1)
Country | Link |
---|---|
CN (1) | CN116187226B (zh) |
Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7801699B1 (en) * | 2006-04-10 | 2010-09-21 | Cadence Design Systems, Inc. | Regression test modules for detecting and reporting changes in process design kits |
CN102368276A (zh) * | 2011-09-14 | 2012-03-07 | 天津蓝海微科技有限公司 | 一种自动验证电学规则文件正确性的流程方法 |
CN103853863A (zh) * | 2012-12-05 | 2014-06-11 | 北京华大九天软件有限公司 | Pdk自动测试界面实现方法 |
CN109213477A (zh) * | 2018-09-25 | 2019-01-15 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种实现软件线路差异自动对比的方法和装置 |
CN112270146A (zh) * | 2020-10-28 | 2021-01-26 | 中国科学院微电子研究所 | 工艺设计工具包开发方法、装置、电子设备及存储介质 |
CN115145629A (zh) * | 2022-07-26 | 2022-10-04 | 浙江中控技术股份有限公司 | 结构化对象数据的版本处理方法、装置和电子设备 |
-
2023
- 2023-01-10 CN CN202310032204.2A patent/CN116187226B/zh active Active
Patent Citations (6)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
US7801699B1 (en) * | 2006-04-10 | 2010-09-21 | Cadence Design Systems, Inc. | Regression test modules for detecting and reporting changes in process design kits |
CN102368276A (zh) * | 2011-09-14 | 2012-03-07 | 天津蓝海微科技有限公司 | 一种自动验证电学规则文件正确性的流程方法 |
CN103853863A (zh) * | 2012-12-05 | 2014-06-11 | 北京华大九天软件有限公司 | Pdk自动测试界面实现方法 |
CN109213477A (zh) * | 2018-09-25 | 2019-01-15 | 郑州云海信息技术有限公司 | 一种实现软件线路差异自动对比的方法和装置 |
CN112270146A (zh) * | 2020-10-28 | 2021-01-26 | 中国科学院微电子研究所 | 工艺设计工具包开发方法、装置、电子设备及存储介质 |
CN115145629A (zh) * | 2022-07-26 | 2022-10-04 | 浙江中控技术股份有限公司 | 结构化对象数据的版本处理方法、装置和电子设备 |
Also Published As
Publication number | Publication date |
---|---|
CN116187226B (zh) | 2024-08-23 |
Similar Documents
Publication | Publication Date | Title |
---|---|---|
WO2020233330A1 (zh) | 批量测试方法、装置及计算机可读存储介质 | |
CA2723329C (en) | System and method for design, procurement and manufacturing collaboration | |
CN111859827A (zh) | 一种芯片ip集成方法、装置及电子设备和存储介质 | |
CN107908559B (zh) | 一种测试案例设计方法及装置 | |
US20220350857A1 (en) | Methods and systems for browser extension used to generate relative xpath, absolute xpath and/or css selectors | |
CN111611766A (zh) | 用于确定电路版图约束条件的方法、设备和存储介质 | |
CN116841536B (zh) | 一种组件引用关系重构方法、装置、系统及存储介质 | |
US8887083B2 (en) | Generating equations based on user intent | |
Yang et al. | UIS-hunter: Detecting UI design smells in Android apps | |
US7546565B2 (en) | Method for comparing two designs of electronic circuits | |
US10241899B2 (en) | Test input information search device and method | |
CN116187226B (zh) | Pdk工程的比较方法、比较装置和电子设备 | |
US9501598B1 (en) | System and method for assertion publication and re-use | |
CN116245076A (zh) | Drc测试版图库的自动构造方法及drc方法、系统、可读存储介质 | |
CN115758976B (zh) | Pdk中器件差异的比较方法、电子设备和计算机可读介质 | |
CN112559318B (zh) | 一种测试用例生成方法、装置及电子设备和存储介质 | |
CN114580326A (zh) | 用于器件功能仿真中的网表导出方法、服务器和存储介质 | |
CN108629012B (zh) | 取证数据解析准确性的智能校验方法和系统 | |
CN112579456A (zh) | 一种Web自动化测试方法及装置 | |
CN112818628B (zh) | 集成电路制造工艺设计规则的自动化开发方法及其系统 | |
WO2021020055A1 (ja) | 設計支援システム、設計支援方法及び設計支援プログラム | |
KR100656559B1 (ko) | Bibd 방법론을 이용하는 프로그램 자동 개발 장치 | |
WO2023080890A1 (en) | Automated cell black boxing for layout versus schematic | |
CN117668564A (zh) | 配置差异的识别方法、配置数据的导入方法及装置 | |
Chawda et al. | A novel methodology for electronic design exchange |
Legal Events
Date | Code | Title | Description |
---|---|---|---|
PB01 | Publication | ||
PB01 | Publication | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
SE01 | Entry into force of request for substantive examination | ||
GR01 | Patent grant |