CN116168486A - 防伪元件的检测方法和防伪检测结构 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种防伪元件的检测方法和防伪检测结构，防伪元件包括多个磁性区域，至少一个磁性区域具有易磁化轴，易磁化轴的方向与防伪元件的基材的表面垂直，或者易磁化轴的方向平行于基材的表面且与基材的长度方向呈锐角或钝角，防伪元件的检测方法包括：步骤S10：采用磁场强度大于多个磁性区域的矫顽力强度的磁化元件对防伪元件进行磁化，使得多个磁性区域的磁化作用沿磁化方向排列；步骤S20：获取传感器，传感器沿垂直于磁化元件的磁化方向对防伪元件进行检测，得到防伪元件的磁信号；步骤S30：根据磁信号确定各个磁性区域的易磁化轴的方向。本发明解决了现有技术中防伪元件存在易磁化轴的方向不易检测的问题。

Description

防伪元件的检测方法和防伪检测结构

技术领域

本发明涉及防伪设备技术领域，具体而言，涉及一种防伪元件的检测方法和防伪检测结构。

背景技术

为了提升有价证券的防伪水平，有效抵御造假者的仿造，越来越多的防伪元件被应用到有价证券中。不同于仅包含无易磁化轴磁性区域的传统防伪元件，包含具有易磁化轴磁性区域的新型防伪元件拥有更高的防伪水平，能够承载更多的防伪信息。专利CN103729931公布了一种包含有易磁化轴垂直于基材表面的磁性编码区域的新型防伪元件，专利US20160042265公布了一种包含有易磁化轴与基材长度方向呈20°或120°的磁性编码区域的新型防伪元件，这些新型防伪元件有效提升了有价证券的防伪水平。

专利CN103971443和CN106570978等提出采用垂直磁化元件和水平磁化元件对新型防伪元件进行检测，鉴别磁性区域的易磁化轴方向，然而这些方法只能部分的检测出易磁化轴垂直于基材表面的磁性区域，无法识别其它易磁化轴方向的磁性区域，而且在检测装置上需要设置垂直磁化和水平磁化两个磁化元件，增加了对这些新型防伪元件的检测成本。

也就是说，现有技术中防伪元件存在易磁化轴的方向不易检测的问题。

发明内容

本发明的主要目的在于提供一种防伪元件的检测方法和防伪检测结构，以解决现有技术中防伪元件存在易磁化轴的方向不易检测的问题。

为了实现上述目的，根据本发明的一个方面，提供了一种防伪元件的检测方法，防伪元件包括多个磁性区域，至少一个磁性区域具有易磁化轴，易磁化轴的方向与防伪元件的基材的表面垂直，或者易磁化轴的方向平行于基材的表面且与基材的长度方向呈锐角或钝角，防伪元件的检测方法包括：步骤S10：采用磁场强度大于多个磁性区域的矫顽力强度的磁化元件对防伪元件进行磁化，使得多个磁性区域的磁化作用沿磁化方向排列；步骤S20：获取传感器，传感器沿垂直于磁化元件的磁化方向对防伪元件进行检测，得到防伪元件的磁信号；步骤S30：根据磁信号确定各个磁性区域的易磁化轴的方向。

进一步地，在步骤S10中，磁化元件沿与基材平行的磁化方向对防伪元件进行磁化。

进一步地，在步骤S10中，磁化元件沿垂直于基材的长度方向的磁化方向对防伪元件进行磁化。

进一步地，在步骤S20中，传感器沿平行于基材的长度方向对防伪元件检测。

进一步地，在步骤S10中，磁化元件沿平行于基材的长度方向的磁化方向对防伪元件进行磁化。

进一步地，在步骤S20中，传感器沿垂直于基材的长度方向对防伪元件检测。

进一步地，在步骤S20中，采用单缝线圈式感应磁头作为传感器。

进一步地，在步骤S30中，若磁信号的形状为半波形时，则确定磁性区域为易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域；若磁信号的形状为正半波与负半波组合形状的波形时，则确定磁性区域为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角或钝角的磁性区域。

进一步地，在步骤S30中，若磁信号的形状为正半波与负半波组合形状的波形时，若磁信号的形状为先正半波后负半波时，则确定磁性区域为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域；若磁信号的形状为先负半波后正半波时，则确定磁性区域为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域；或者若磁信号的形状为先正半波后负半波时，则确定磁性区域为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域；若磁信号的形状为先负半波后正半波时，则确定磁性区域为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域。

根据本发明的另一方面，提供了一种防伪检测结构，防伪检测结构应用上述的防伪元件的检测方法。

应用本发明的技术方案，防伪元件包括多个磁性区域，至少一个磁性区域具有易磁化轴，易磁化轴的方向与防伪元件的基材的表面垂直，或者易磁化轴的方向平行于基材的表面且与基材的长度方向呈锐角或钝角，防伪元件的检测方法包括：步骤S10：采用磁场强度大于多个磁性区域的矫顽力强度的磁化元件对防伪元件进行磁化，使得多个磁性区域的磁化作用沿磁化方向排列；步骤S20：获取传感器，传感器沿垂直于磁化元件的磁化方向对防伪元件进行检测，得到防伪元件的磁信号；步骤S30：根据磁信号确定各个磁性区域的易磁化轴的方向。

通过磁化元件对防伪元件进行磁化，可以使得防伪元件的磁性特征发生改变，而将磁化元件对防伪元件的磁化方向与传感器的检测方向的设置成相互垂直的形式对不同方向的易磁化轴检测出的磁信号不同，以根据磁信号的不同来对易磁化轴的方向进行区分。而本申请中的检测方法只需要采用一个磁化元件，大大降低了检测的难易程度，同时还降低了检测成本。

附图说明

构成本申请的一部分的说明书附图用来提供对本发明的进一步理解，本发明的示意性实施例及其说明用于解释本发明，并不构成对本发明的不当限定。在附图中：

图1示出了本发明的一个可选实施例的防伪元件的检测方法的流程图；

图2示出了本发明的一个可选实施例的防伪检测结构的与防伪元件的检测关系示意图；

图3示出了图2中传感器的结构示意图；

图4示出了图2中传感器检测到的防伪元件的磁信号。

其中，上述附图包括以下附图标记：

10、防伪元件；11、磁性区域；111、易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域；112、易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域；113、易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域；20、磁化元件；30、传感器。

具体实施方式

需要说明的是，在不冲突的情况下，本申请中的实施例及实施例中的特征可以相互组合。下面将参考附图并结合实施例来详细说明本发明。

需要指出的是，除非另有指明，本申请使用的所有技术和科学术语具有与本申请所属技术领域的普通技术人员通常理解的相同含义。

在本发明中，在未作相反说明的情况下，使用的方位词如“上、下、顶、底”通常是针对附图所示的方向而言的，或者是针对部件本身在竖直、垂直或重力方向上而言的；同样地，为便于理解和描述，“内、外”是指相对于各部件本身的轮廓的内、外，但上述方位词并不用于限制本发明。

为了解决现有技术中防伪元件存在易磁化轴的方向不易检测的问题，本发明提供了一种防伪元件的检测方法和防伪检测结构。

如图1至图4所示，防伪元件10包括多个磁性区域11，至少一个磁性区域11具有易磁化轴，易磁化轴的方向与防伪元件10的基材的表面垂直，或者易磁化轴的方向平行于基材的表面且与基材的长度方向呈锐角或钝角，防伪元件的检测方法包括：步骤S10：采用磁场强度大于多个磁性区域11的矫顽力强度的磁化元件20对防伪元件10进行磁化，使得多个磁性区域11的磁化作用沿磁化方向排列；步骤S20：获取传感器30，传感器30沿垂直于磁化元件20的磁化方向对防伪元件10进行检测，得到防伪元件10的磁信号；步骤S30：根据磁信号确定各个磁性区域11的易磁化轴的方向。

通过磁化元件20对防伪元件10进行磁化，可以使得防伪元件10的磁性特征发生改变，而将磁化元件20对防伪元件10的磁化方向与传感器的检测方向的设置成相互垂直的形式对不同方向的易磁化轴检测出的磁信号不同，以根据磁信号的不同来对易磁化轴的方向进行区分。而本申请中的检测方法只需要采用一个磁化元件20，大大降低了检测的难易程度，同时还降低了检测成本。

如图2所示，在步骤S10中，磁化元件20沿与基材平行的磁化方向对防伪元件10进行磁化。磁化元件20沿与基材平行的方向对防伪元件10进行磁化，以使得多个磁性区域11的磁化作用沿磁化方向排列。

如图2所示，在步骤S10中，磁化元件20沿垂直于基材的长度方向的磁化方向对防伪元件10进行磁化。这样设置能够对防伪元件10进行磁化，以便于控制防伪元件10的磁化方向。由于防伪元件10具有易磁化轴，磁化元件20对不同方向的易磁化轴的磁性区域11的磁化作用不同，以使得具有不同方向的易磁化轴的磁性区域11能够产生不同的磁信号，以便于对具有不同方向的易磁化轴的磁性区域11进行区分。

如图2所示，在步骤S20中，传感器30沿平行于基材的长度方向对防伪元件10检测。这样设置使得传感器30对具有不同方向的易磁化轴的磁性区域11能够检测到不同的磁信号，以便于对具有不同方向的易磁化轴的磁性区域11进行区分。

具体的，在步骤S20中，采用单缝线圈式感应磁头作为传感器30。传感器30吸收与磁缝长度方向垂直的方向的磁力线，产生变化的磁通量，形成由正半波和负半波或由负半波和正半波组成的全波形状的检测信号。

具体的，在步骤S30中，若磁信号的形状为半波形时，则确定磁性区域11为易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域11；若磁信号的形状为正半波与负半波组合形状的波形时，则确定磁性区域11为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角或钝角的磁性区域11。根据不同的磁信号能够确定易磁化轴的方向。

具体的，在步骤S30中，若磁信号的形状为正半波与负半波组合形状的波形时，若磁信号的形状为先正半波后负半波时，则确定磁性区域11为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域11；若磁信号的形状为先负半波后正半波时，则确定磁性区域11为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域11；或者若磁信号的形状为先正半波后负半波时，则确定磁性区域11为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域11；若磁信号的形状为先负半波后正半波时，则确定磁性区域11为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域11。预设易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向的哪侧为锐角，而相反侧则为钝角，在此种情况下根据是先正半波后负半波，还是先负半波后正半波的形式来判断其为锐角还是钝角。

在图2所示的具体实施例中，防伪元件10包含至少一个易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域111、至少一个易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域112、至少一个易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域113。

防伪元件10沿D1方向传送；

磁化元件20沿D2方向对防伪元件10进行磁化；

传感器30检测防伪元件10中易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域111、易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域112、易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域113的信号；

防伪元件10经过磁化元件20磁化，防伪元件10中的磁性区域的磁化作用沿磁化方向D2排列；

磁性元件为矩形形状的钕铁硼永磁铁，磁场由矩形形状的钕铁硼永磁铁产生，永磁铁的磁极充磁方向垂直于基材所在平面。

防伪元件10的传送方向D1与传感器30中磁缝的长度方向垂直。

在图2中，防伪元件10中易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域112沿传送方向D1的磁极方向由左至右；防伪元件10中易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域113沿传送方向D1的磁极方向由右至左。防伪元件10中易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域111的磁极方向垂直于基材所在平面。

传感器30吸收与基材表面垂直方向的磁力线，产生变化的磁通量，形成半波形状的检测信号。

如图4所示，易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域111的磁信号为半波形状；易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域112的磁信号为先负半波后正半波；易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域113的磁信号为先正半波后负半波。

对于无易磁化轴的磁性区域，由于经过磁化元件20的磁化，沿传送方向D1无明显磁极的分布，沿垂直于基材所在平面的方向无磁极分布，传感器30检测的信号几乎为零。因此，检测方法根据检测波形的有无和形状特征实现了对易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域111、易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域112、易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域113的判定。

由于本实施例中对易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域111、易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域112、易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域113进行检测，检测方法只使用了一次磁场磁化和一次传感器检测，使得对具有易磁化轴磁性区域的防伪元件判定的更加简便，检测成本更低。

防伪检测结构，防伪检测结构应用上述的防伪元件的防伪元件的检测方法。采用上述的防伪元件的检测方法的防伪检测结构的制作成本更低廉。

实施例二

与实施例一的区域是，磁化方向与检测方向不同。

在本实施例中，在步骤S10中，磁化元件20沿平行于基材的长度方向的磁化方向对防伪元件10进行磁化。在步骤S20中，传感器30沿垂直于基材的长度方向对防伪元件10检测。这样设置也能够对防伪元件的易磁化轴的方向进行检测。

显然，上述所描述的实施例仅仅是本发明一部分的实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都应当属于本发明保护的范围。

需要注意的是，这里所使用的术语仅是为了描述具体实施方式，而非意图限制根据本申请的示例性实施方式。如在这里所使用的，除非上下文另外明确指出，否则单数形式也意图包括复数形式，此外，还应当理解的是，当在本说明书中使用术语“包含”和/或“包括”时，其指明存在特征、步骤、工作、器件、组件和/或它们的组合。

需要说明的是，本申请的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“第一”、“第二”等是用于区别类似的对象，而不必用于描述特定的顺序或先后次序。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换，以便这里描述的本申请的实施方式能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。

以上所述仅为本发明的优选实施例而已，并不用于限制本发明，对于本领域的技术人员来说，本发明可以有各种更改和变化。凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种防伪元件的检测方法，其特征在于，防伪元件(10)包括多个磁性区域(11)，至少一个所述磁性区域(11)具有易磁化轴，所述易磁化轴的方向与所述防伪元件(10)的基材的表面垂直，或者所述易磁化轴的方向平行于所述基材的表面且与所述基材的长度方向呈锐角或钝角，所述防伪元件的检测方法包括：

步骤S10：采用磁场强度大于所述多个磁性区域(11)的矫顽力强度的磁化元件(20)对所述防伪元件(10)进行磁化，使得所述多个磁性区域(11)的磁化作用沿磁化方向排列；

步骤S20：获取传感器(30)，所述传感器(30)沿垂直于所述磁化元件(20)的磁化方向对所述防伪元件(10)进行检测，得到所述防伪元件(10)的磁信号；

步骤S30：根据所述磁信号确定各个所述磁性区域(11)的易磁化轴的方向。

2.根据权利要求1所述的防伪元件的检测方法，其特征在于，在所述步骤S10中，所述磁化元件(20)沿与所述基材平行的方向对所述防伪元件(10)进行磁化。

3.根据权利要求1或2所述的防伪元件的检测方法，其特征在于，在所述步骤S10中，所述磁化元件(20)沿垂直于所述基材的长度方向对所述防伪元件(10)进行磁化。

4.根据权利要求3所述的防伪元件的检测方法，其特征在于，在所述步骤S20中，所述传感器(30)沿平行于所述基材的长度方向对所述防伪元件(10)检测。

5.根据权利要求1或2所述的防伪元件的检测方法，其特征在于，在所述步骤S10中，所述磁化元件(20)沿平行于所述基材的长度方向对所述防伪元件(10)进行磁化。

6.根据权利要求5所述的防伪元件的检测方法，其特征在于，在所述步骤S20中，所述传感器(30)沿垂直于所述基材的长度方向对所述防伪元件(10)检测。

7.根据权利要求1所述的防伪元件的检测方法，其特征在于，在所述步骤S20中，采用单缝线圈式感应磁头作为所述传感器(30)。

8.根据权利要求1所述的防伪元件的检测方法，其特征在于，在所述步骤S30中，

若所述磁信号的形状为半波形时，则确定所述磁性区域(11)为易磁化轴垂直于基材的表面的磁性区域(111)；

若所述磁信号的形状为正半波与负半波组合形状的波形时，则确定所述磁性区域(11)为易磁化轴平行于所述基材的表面与所述基材的长度方向呈锐角或钝角的磁性区域(11)。

9.根据权利要求8所述的防伪元件的检测方法，其特征在于，在所述步骤S30中，若所述磁信号的形状为正半波与负半波组合形状的波形时，

若所述磁信号的形状为先正半波后负半波时，则确定所述磁性区域(11)为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域(112)；若所述磁信号的形状为先负半波后正半波时，则确定所述磁性区域(11)为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域(113)；或者

若所述磁信号的形状为先正半波后负半波时，则确定所述磁性区域(11)为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈钝角的磁性区域(113)；若所述磁信号的形状为先负半波后正半波时，则确定所述磁性区域(11)为易磁化轴平行于基材的表面与基材的长度方向呈锐角的磁性区域(112)。

10.一种防伪检测结构，其特征在于，所述防伪检测结构应用权利要求1至9中任一项所述的检测方法。

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