CN116137031B - 一种lcd显示屏轻微亮点缺陷检测方法 - Google Patents

一种lcd显示屏轻微亮点缺陷检测方法 Download PDF

Info

Publication number
CN116137031B
CN116137031B CN202310207930.3A CN202310207930A CN116137031B CN 116137031 B CN116137031 B CN 116137031B CN 202310207930 A CN202310207930 A CN 202310207930A CN 116137031 B CN116137031 B CN 116137031B
Authority
CN
China
Prior art keywords
defect
lcd display
display screen
bright point
gray value
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Active
Application number
CN202310207930.3A
Other languages
English (en)
Other versions
CN116137031A (zh
Inventor
蒲大杭
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Truly Opto Electronics Ltd
Original Assignee
Truly Opto Electronics Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Truly Opto Electronics Ltd filed Critical Truly Opto Electronics Ltd
Priority to CN202310207930.3A priority Critical patent/CN116137031B/zh
Publication of CN116137031A publication Critical patent/CN116137031A/zh
Application granted granted Critical
Publication of CN116137031B publication Critical patent/CN116137031B/zh
Active legal-status Critical Current
Anticipated expiration legal-status Critical

Links

Classifications

    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/0002—Inspection of images, e.g. flaw detection
    • G06T7/0004—Industrial image inspection
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T7/00—Image analysis
    • G06T7/10—Segmentation; Edge detection
    • G06T7/136—Segmentation; Edge detection involving thresholding
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/20—Special algorithmic details
    • G06T2207/20092—Interactive image processing based on input by user
    • G06T2207/20104—Interactive definition of region of interest [ROI]
    • G—PHYSICS
    • G06—COMPUTING; CALCULATING OR COUNTING
    • G06T—IMAGE DATA PROCESSING OR GENERATION, IN GENERAL
    • G06T2207/00—Indexing scheme for image analysis or image enhancement
    • G06T2207/30—Subject of image; Context of image processing
    • G06T2207/30108—Industrial image inspection
    • G06T2207/30121—CRT, LCD or plasma display
    • Y—GENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02—TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02B—CLIMATE CHANGE MITIGATION TECHNOLOGIES RELATED TO BUILDINGS, e.g. HOUSING, HOUSE APPLIANCES OR RELATED END-USER APPLICATIONS
    • Y02B20/00—Energy efficient lighting technologies, e.g. halogen lamps or gas discharge lamps
    • Y02B20/40—Control techniques providing energy savings, e.g. smart controller or presence detection

Landscapes

  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Vision & Pattern Recognition (AREA)
  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Theoretical Computer Science (AREA)
  • Quality & Reliability (AREA)
  • Testing Of Optical Devices Or Fibers (AREA)

Abstract

本发明公开了一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，方法包括步骤：在暗场环境中，将工业相机镜头朝向LCD显示屏进行固定；在工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面；步骤300、利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷。通过将测试平台及其治具置于暗场环境中，避免了外界光对检测造成影响，通过将LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面并提高灰度值，实现了轻微亮点缺陷的检测，通过利用Otsu阈值分割法对轻微亮点缺陷进行阈值分割，提高了检测的准确性。

Description

一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法
技术领域
本发明属于LCD缺陷检测技术领域，尤其涉及一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法。
背景技术
TFT-LCD(Thin Film Rrarsistor-Liquid Crystal Display，薄膜场效应晶体管-液晶显示器)是通过控制具有折射率各向异性的液晶分子取向使通过液晶屏透过率发生变化来实现显示的一种光电显示器件，薄膜晶体管(TFT)在其中起着开关作用。与传统阴极射线管(CathodeRayTube，CRT)显示器相比，它具有低功耗、寿命长、无辐射、体积小等特点。近年来己在众多平板显示器的激烈竞争中脱颖而出，成为新一代的主流显示器，广泛应用于笔记本电脑、桌面显示器、液品电视、移动显示终端等显示领域。
在LCD显示生产过程中，由于工艺及物料等因素的影响，会出现各种显示不良现象，例如亮点缺陷：满天星、内污、异色点，还有一些轻微的亮点缺陷。轻微的亮点缺陷有亮度低、面积小及在个别显示画面才会出现的随机不确定性等特性，导致人工检测和CCD检测都存在特别大的难度，容易导致漏检，产品质量降低。
发明内容
现有的进行LCD缺陷检测方法，无法有效的检测出轻微亮点，容易导致漏检。
针对上述问题，提出一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，通过将测试平台及其治具置于暗场环境中，避免了外界光对检测造成影响，通过将LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面并提高灰度值，实现了轻微亮点缺陷的检测，通过利用Otsu阈值分割法对轻微亮点缺陷进行阈值分割，提高了检测的准确性。一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，包括：
在暗场环境中，将工业相机镜头朝向LCD显示屏进行固定；
在所述工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面；
利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷。
结合本发明第一方面所述的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，第一种可能的实施方式中，所述步骤：在暗场环境中，将工业相机镜头朝向LCD显示屏进行固定，包括：
将测试平台置于暗场环境中；
将LCD显示屏固定在测试平台的点亮治具上；
将所述点亮治具与待检测LCD显示屏电连接。
结合本发明第一方面第一种可能的实施方式，第二种可能的实施方式中，所述步骤：在所述工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面，包括：
若所述LCD显示屏自带背光模组，则利用所述点亮治具点亮所述LCD显示屏；
将所述LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面；
提高所述黑色画面的灰度值，直到亮点缺陷在相机取像中显示出来；
其中，所述灰度值范围为从0调整到255。
结合本发明第一方面第一种可能的实施方式，第三种可能的实施方式中，所述步骤：在所述工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面，还包括：
若无背光模组，则利用所述点亮治具向所述LCD显示屏提供背光；
将所述LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面；
提高所述黑色画面的灰度值，直到亮点缺陷在相机取像中显示出来；
其中，所述灰度值范围为从0调整到255。
结合本发明第一方面第三种可能的实施方式，第四种可能的实施方式中，所述步骤：若无背光模组，则利用所述点亮治具向所述LCD显示屏提供背光，包括：
将LCD显示屏的open cell放置在所述点亮治具的背光模组上；
对所述点亮治具的背光模组的透光区域尺寸进行调整；
其中，所述透光区域尺寸为：在所述open cell的有效显示区域尺寸与外围边框之间。
结合本发明第一方面第二种可能的实施方式，第五种可能的实施方式中，所述步骤：利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷，包括：
对缺陷图像进行预处理；
采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷。
结合本发明第一方面第五种可能的实施方式，第六种可能的实施方式中，所述步骤：对缺陷图像进行预处理，包括：
依据边框高亮矩形特征，将边框和模组部分予以剔除，保留显示部分的ROI区域；
依据纹理的周期特征，采用Gabor滤波去除纹理背景。
结合本发明第一方面第六种可能的实施方式，第七种可能的实施方式中，所述步骤：采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷，包括：
计算检测图像分配到背景的第一概率及分配到缺陷的第二概率；
利用所述第一概率、第二概率分别计算得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值，并计算整幅检测图像的平均灰度值；
利用得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值及整幅检测图像的平均灰度值计算最佳阈值。
结合本发明第一方面第四种可能的实施方式，第八种可能的实施方式中，所述步骤：利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷，还包括：
对缺陷图像进行预处理；
采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷。
结合本发明第一方面第八种可能的实施方式，第九种可能的实施方式中，所述步骤：对缺陷图像进行预处理，还包括：
依据边框高亮矩形特征,将边框和模组部分予以剔除，仅保留显示部分的ROI区域；
依据纹理的周期特征，采用Gabor滤波去除纹理背景。
结合本发明第一方面第九种可能的实施方式，第十种可能的实施方式中，所述步骤：采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷，还包括：
计算检测图像分配到背景的第一概率及分配到缺陷的第二概率；
利用所述第一概率、第二概率分别计算得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值，并计算整幅检测图像的平均灰度值；
利用得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值及整幅检测图像的平均灰度值计算最佳阈值。
实施本发明中的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，通过将测试平台及其治具置于暗场环境中，避免了外界光对检测造成影响，通过将LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面并提高灰度值，实现了轻微亮点缺陷的检测，通过利用Otsu阈值分割法对轻微亮点缺陷进行阈值分割，提高了检测的准确性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第一示意图；
图2为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第二示意图；
图3为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第三示意图；
图4为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第四示意图；
图5为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第五示意图；
图6为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第六示意图；
图7为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第七示意图；
图8为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第八示意图；
图9为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第九示意图；
图10为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第十示意图；
图11为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第十一示意图；
具体实施方式
下面将结合发明中的附图，对本发明中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本发明的一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有付出创造性劳动前提下所获得的其他实施例，都属于本发明保护的范围。
除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本发明的技术领域的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本发明的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施例的目的，不是旨在于限制本发明。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。
需要说明的是，当元件被称为“固定于”或“设置于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者间接在该另一个元件上。当一个元件被称为是“连接于”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或间接连接至该另一个元件上。
需要理解的是，术语“长度”、“宽度”、“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本申请和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本申请的限制。
此外，术语“第一”、“第二”仅用于描述目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此，限定有“第一”、“第二”的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个该特征。在本申请的描述中，“多个”的含义是两个或两个以上，除非另有明确具体的限定。
名称解释
Gabor滤波：提取不同方向上的纹理信息，对于光照变化不敏感，能够提供对光照变化良好的适应性，能容忍一定程度的图像旋转和变形，对光照、姿态具有一定的鲁棒性。
Otsu阈值分割法：求图像灰度值的最大值和最小值。遍历最小值到最大值，取每个值作为分割的阈值。
现有的进行LCD缺陷检测方法，无法有效的检测出轻微亮点，容易导致漏检。
针对上述问题，提出一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法。
实施例1
一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，如图1，图1为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第一示意图，包括：步骤100、在暗场环境中，将工业相机镜头朝向LCD显示屏进行固定；步骤200、在工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面；步骤300、利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷。通过将测试平台及其治具置于暗场环境中，避免了外界光对检测造成影响，通过将LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面并提高灰度值，实现了轻微亮点缺陷的检测，通过利用Otsu阈值分割法对轻微亮点缺陷进行阈值分割，提高了检测的准确性。
在本实施例中，将工业相机、测试平台及其治具置于暗场环境中，有利于避免外界光对缺陷检测造成影响，具体的可以实施为：
优选地，如图2，图2为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第二示意图；步骤100包括：步骤110、将测试平台置于暗场环境中；步骤120、将LCD显示屏固定在测试平台的点亮治具上；步骤130、将点亮治具与待检测LCD显示屏电连接。
测试系统可以包括测试平台，测试平台可以包括点亮治具，在待测LCD显示自带背光模组情况下，点亮治具驱动LCD显示屏显示检测画面，具体的可以为显示屏显示及背光模组运行。
在本实施例中，LCD显示屏自带背光模组，具体可以实施为，优选地，如图3，图3为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第三示意图，步骤200包括：步骤210、若LCD显示屏自带背光模组，则利用点亮治具点亮LCD显示屏；步骤220、将LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面；步骤230、提高黑色画面的灰度值，直到亮点缺陷在相机取像中显示出来；其中，灰度值范围为从0调整到255。
在本实施例中，采用Otsu阈值分割法进行轻微亮点缺陷检测分割，具体可以实施为：
优选地，如图4，图4为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第四示意图；步骤300包括：步骤310、对缺陷图像进行预处理；步骤320、采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷。
在本实施例中，轻微亮点缺陷图像预处理主要包括选取感兴趣区域(Region ofInterest，ROI)及去除纹理背景，具体的，如图5，图5为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第五示意图，步骤310包括：
步骤311、依据边框高亮矩形特征，将边框和模组部分予以剔除，仅保留显示部分的ROI区域；步骤312、依据纹理的周期特征，采用Gabor滤波去除纹理背景。
工业相机采集到的缺陷图像中除了显示部分还包含高亮度边框和模组部分，LCD显示屏边框和模组部分为无效检测区域，依据边框高亮矩形特征,将边框和模组部分予以剔除，仅保留显示部分的ROI区域。
进一步地，如图6，图6为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第六示意图；利用利用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷，具体的，步骤320包括：步骤321、计算检测图像分配到背景的第一概率及分配到缺陷的第二概率；步骤322、利用所述第一概率、第二概率分别计算得到背景的平均灰度值和缺陷的平均灰度值，并计算整幅检测图像的平均灰度值；步骤323、利用得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值及整幅检测图像的平均灰度值计算最佳阈值。
Otsu算法将图像分为背景与缺陷两大类，由公式(1)计算分配到背景的第一概率P1(k)，其中ai是灰度值为i的像素数。由公式(2)得到缺陷的第二概率P2(k)，进而通过公式(3)计算得到背景和缺陷的平均灰度值。由式(4)计算得到整幅图像的平均灰度P，式(5)方差最大的k值即为最佳阈值，其中λ1、λ2为权值系数。
p2(k)＝1-p1(k)(2)
实施例2
在本实施例中，LCD显示屏无背光模组需要点亮治具向LCD显示屏提供背光，具体可以实施为：
优选地，如图7，图7为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第七示意图，步骤200还包括：步骤240、若无背光模组，则利用点亮治具向LCD显示屏提供背光；步骤250、将LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面；步骤260、提高黑色画面的灰度值，直到亮点缺陷在相机取像中显示出来；其中，灰度值范围为从0调整到255。
本实施例中，与实施例1采用相同的缺陷图像处理算法来提取亮点缺陷，具体的可以实施为：
优选地，如图8，图8为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第八示意图，步骤300还包括：步骤330、对缺陷图像进行预处理；步骤340、采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷。
优选地，如图9，图9为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第九示意图，步骤330包括：步骤331、依据边框高亮矩形特征,将边框和模组部分予以剔除，仅保留显示部分的ROI区域；步骤332、依据纹理的周期特征，采用Gabor滤波去除纹理背景。
优选地，如图10，图10为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第十示意图，步骤340包括：步骤341、计算检测图像分配到背景的第一概率及分配到缺陷的第二概率；步骤342、利用所述第一概率、第二概率分别计算得到背景的平均灰度值和缺陷的平均灰度值，并计算整幅检测图像的平均灰度值；步骤343、利用得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值及整幅检测图像的平均灰度值计算最佳阈值。
实施例3
在本实施例中，在实施例2的基础上对点亮治具的背光模组的透光区域尺寸进行调整，以防背光发出来的光从open cell外围漏出从而进入相机，造成相机拍照过曝。
具体的可以实施为：
优选地，如图11，图11为本发明提出的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法第十一示意图，步骤240包括：步骤241、将LCD显示屏的open cell放置在点亮治具的背光模组上；步骤242、对点亮治具的背光模组的透光区域尺寸进行调整；其中，透光区域尺寸为：在opencell的有效显示区域尺寸与外围边框之间。
如果显示屏为open cell(不带背光的LCD显示屏)，则治具上需要增加背光，将open cell放在点亮治具的背光模组上，其中背光模组的透光区域尺寸需大于open cell的AA区(Active Area，有效显示区域)，小于open cell的外围边框，以防背光发出来的光从open cell外围漏出从而进入相机，造成相机拍照过曝。
实施本发明中的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，通过将测试平台及其治具置于暗场环境中，避免了外界光对检测造成影响，通过将LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面并提高灰度值，实现了轻微亮点缺陷的检测，通过利用Otsu阈值分割法对轻微亮点缺陷进行阈值分割，提高了检测的准确性。
以上仅为本发明的较佳实施例，并不用以限制本发明，凡在本发明的精神和原则之内，所作的任何修改、等同替换、改进等，均应包含在本发明的保护范围之内。

Claims (6)

1.一种LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，其特征在于，包括：
在暗场环境中，将工业相机镜头朝向LCD显示屏进行固定；
在所述工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面；
利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷；
在所述工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面，包括：
若所述LCD显示屏自带背光模组，则利用点亮治具点亮所述LCD显示屏；
将所述LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面；
提高所述黑色画面的灰度值，直到亮点缺陷在相机取像中显示出来；
其中，所述灰度值范围为从0调整到255；
利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷，包括：
对缺陷图像进行预处理；
采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷；
对缺陷图像进行预处理，包括：
依据边框高亮矩形特征，将边框和模组部分予以剔除，保留显示部分的ROI区域；
依据纹理的周期特征，采用Gabor滤波去除纹理背景；
采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷，包括：
计算检测图像分配到背景的第一概率及分配到缺陷的第二概率；
利用所述第一概率、第二概率分别计算得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值，并计算整幅检测图像的平均灰度值；
利用得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值及整幅检测图像的平均灰度值计算最佳阈值。
2.根据权利要求1所述的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，其特征在于，在所述工业相机取像过程中，增加LCD显示屏的背光亮度并延长曝光时间，以获取规定背光增益的检测画面，还包括：
若无背光模组，则利用所述点亮治具向所述LCD显示屏提供背光；
将所述LCD显示屏的检测画面切换为黑色画面；
提高所述黑色画面的灰度值，直到亮点缺陷在相机取像中显示出来；
其中，所述灰度值范围为从0调整到255。
3.根据权利要求2所述的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，其特征在于，若无背光模组，则利用所述点亮治具向所述LCD显示屏提供背光，包括：
将LCD显示屏的open cell放置在所述点亮治具的背光模组上；
对所述点亮治具的背光模组的透光区域尺寸进行调整；
其中，所述透光区域尺寸为：在所述open cell的有效显示区域尺寸与外围边框之间。
4.根据权利要求1所述的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，其特征在于，利用缺陷图像处理算法提取亮点缺陷，还包括：
对缺陷图像进行预处理；
采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷。
5.根据权利要求4所述的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，其特征在于，对缺陷图像进行预处理，还包括：
依据边框高亮矩形特征,将边框和模组部分予以剔除，仅保留显示部分的ROI区域；
依据纹理的周期特征，采用Gabor滤波去除纹理背景。
6.根据权利要求5所述的LCD显示屏轻微亮点缺陷检测方法，其特征在于，采用Otsu阈值分割法对预处理后的缺陷图像检测亮点缺陷，还包括：
计算检测图像分配到背景的第一概率及分配到缺陷的第二概率；
利用所述第一概率、第二概率分别计算得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值，并计算整幅检测图像的平均灰度值；
利用得到背景的平均灰度值和得到缺陷的平均灰度值及整幅检测图像的平均灰度值计算最佳阈值。
CN202310207930.3A 2023-03-06 2023-03-06 一种lcd显示屏轻微亮点缺陷检测方法 Active CN116137031B (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310207930.3A CN116137031B (zh) 2023-03-06 2023-03-06 一种lcd显示屏轻微亮点缺陷检测方法

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310207930.3A CN116137031B (zh) 2023-03-06 2023-03-06 一种lcd显示屏轻微亮点缺陷检测方法

Publications (2)

Publication Number Publication Date
CN116137031A CN116137031A (zh) 2023-05-19
CN116137031B true CN116137031B (zh) 2023-10-03

Family

ID=86332848

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310207930.3A Active CN116137031B (zh) 2023-03-06 2023-03-06 一种lcd显示屏轻微亮点缺陷检测方法

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116137031B (zh)

Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108646445A (zh) * 2018-05-03 2018-10-12 武汉精测电子集团股份有限公司 一种自适应背光的缺陷检测装置
CN112798613A (zh) * 2021-03-31 2021-05-14 惠州高视科技有限公司 Lcd异物缺陷彩色成像检测方法、电子设备及存储介质

Family Cites Families (1)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
JP5154378B2 (ja) * 2008-11-21 2013-02-27 株式会社ジャパンディスプレイウェスト 表示装置

Patent Citations (2)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
CN108646445A (zh) * 2018-05-03 2018-10-12 武汉精测电子集团股份有限公司 一种自适应背光的缺陷检测装置
CN112798613A (zh) * 2021-03-31 2021-05-14 惠州高视科技有限公司 Lcd异物缺陷彩色成像检测方法、电子设备及存储介质

Also Published As

Publication number Publication date
CN116137031A (zh) 2023-05-19

Similar Documents

Publication Publication Date Title
TW200401106A (en) Testing liquid crystal microdisplays
US20210368085A1 (en) Light compensation method and device for camera under display
KR102009740B1 (ko) 표시패널 검사 장치 및 그 방법
CN112528888A (zh) 一种光学指纹采集方法、装置、电子设备及存储介质
CN113008524B (zh) 屏幕漏光检测方法及装置
CN115390291A (zh) 屏幕显示状态检测方法、装置、系统及可读存储介质
CN116137031B (zh) 一种lcd显示屏轻微亮点缺陷检测方法
KR20100075749A (ko) 표시장치 및 표시 방법
CN113834785A (zh) 一种屏幕色彩均匀性检测方法及装置
CN110220911A (zh) 一种手机屏幕检测方法以及装置
JP3854585B2 (ja) 液晶パネルの表示欠陥検出方法及び表示欠陥検査装置
KR100479073B1 (ko) 백 라이트 유닛 검사 장치
CN113554583A (zh) 一种显示面板的检测方法及检测系统
JP2009281759A (ja) カラーフィルタ欠陥検査方法、及び検査装置、これを用いたカラーフィルタ製造方法
CN101408520A (zh) 一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统
CN116503324A (zh) 一种基于机器视觉的黑胶模组外观检测方法及系统
CN112598652B (zh) 一种基于梯度变换的液晶屏边缘断线检测方法
US11676265B2 (en) Method and image processing device for mura detection on display
CN108803097A (zh) 像素暗态漏光的检测方法及检测装置
Chen et al. LOG-filter-based inspection of cluster Mura and vertical-band Mura on liquid crystal displays
CN1900700B (zh) 可调式缺陷定级的定量方法
JP3270336B2 (ja) 液晶ディスプレイの画質検査装置及びその検査方法
CN108389234B (zh) 一种平板lcd异色检测方法、存储装置和移动终端
KR20040061590A (ko) 액정표시장치의 패턴 검사방법
US20180306705A1 (en) Detection apparatus, method and system

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination
GR01 Patent grant
GR01 Patent grant