CN116125256A - 一种比较器的参数测试方法及系统 - Google Patents
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Abstract
本发明公开了一种比较器的参数测试方法及系统,其方法包括:选择比较器需要完成测试的至少一个参数测试,遍历每个参数测试对应的电压配置条件,生成每个参数测试对应的参数测试项;配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号;配置所述比较器完成每个参数测试时的多个不同功率模式;所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项。通过配置比较器在完成每个参数测试所需的电源电压、输入测试信号、功率模式,使得比较器可以自动完成在不同条件下的各个参数测试;简化了比较器的测试程序,也可以确保比较器的参数测试稳定性、一致性、精确度。
Description
技术领域
本发明涉及芯片测试技术领域,尤其是一种比较器的参数测试方法及系统。
背景技术
电压比较器(以下简称比较器)是一种常用的集成电路;可用作模拟电路和数字电路的接口,还可以用作波形产生和变换电路等。通常比较器在投入使用之前,会对比较器的模拟参数进行测试。其比较器的模拟参数有以下几种:迟滞、传输延迟、功耗、失调电压等。
目前,是通过手动测试的方式对于比较器的迟滞、传输延迟、功耗、失调电压等模拟参数进行测试。但是,手动测试的测试过程繁杂,并且参数测试稳定性,一致性,精确度在手动测试情况下并不是很理想。尤其是因为输入信号的毛刺抖动问题会导致测试结果不准确。
因此,如何简化比较器的测试过程,以及如何确保比较器的参数测试稳定性、一致性、精确度成为亟待解决的问题。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供一种比较器的参数测试方法及系统。
具体的,本发明的技术方案如下:
一方面,一种比较器的参数测试方法,包括:
选择比较器需要完成测试的至少一个参数测试,遍历每个参数测试对应的电压配置条件,生成每个参数测试对应的参数测试项;所述电压配置条件包括所述比较器的多个不同电源电压;
配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,所述输入测试信号是由信号发生器产生并输出;
配置所述比较器完成每个参数测试时的多个不同功率模式,所述功率模式包括功率由大到小递减的第一功率模式、第二功率模式、第三功率模式、第四功率模式;
所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项;所述参数测试项包括迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项。
本方案可以通过选择比较器需要完成测试的多个参数,根据每个参数测试需要的多个不同电源电压生成多个参数测试项;配置好每个参数测试需要的输入测试信号、多个不同功率模式后,比较器可以自动完成在不同条件下的各个参数测试。最终简化了比较器的测试程序,也可以确保比较器的参数测试稳定性、一致性、精确度。
在一个实施例中,所述的配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,包括:
当所述参数测试为迟滞电压测试项时,在所述比较器的正输入端配置输入正弦波信号,在所述比较器的负输入端配置输入直流信号;
当所述参数测试为传播延时测试项时,在所述比较器的正输入端配置输入方波信号,在所述比较器的负输入端配置输入直流信号;
当所述参数测试为失调电压测试项时,在所述比较器的正输入端配置输入固定电压信号,在所述比较器的负输入端配置输入固定增幅的电压;
当所述参数测试为功耗测试项时,在所述比较器的正输入端配置不输入电压,在所述比较器的负输入端配置不输入电压。
本方案中比较器的各个参数测试所需要的输入测试信号不一样,可根据每个参数测试配置不同的输入测试信号,从而可以满足比较器的各个参数测试需求。
在一个实施例中,在所述的所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项之后,包括:
当所述参数测试项为迟滞电压测试项时,测量出所述比较器输出的上/下边沿对应的输入信号的幅值差;
当所述参数测试项为传播延时测试项时,测量出所述比较器的输入波形和输出波形之间的时间差;
当所述参数测试项为失调电压测试项时,测量出所述比较器的输出发生跳变时输入电压和输出电压之间的电压差;
当所述参数测试项为功耗测试项时,测量出开启/关闭所述比较器后进入stop模式的功耗差值。
本方案中可以根据比较器的各个参数测试,测量出不同的测试结果,从而可以满足比较器的各个参数测试需求。
在一个实施例中,在所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项之后,还包括:
在完成每个所述参数测试项所需要的不同观测仪器中,显示每个参数测试结果。
本方案中比较器的各个参数测试,可以通过不同观测仪中显示测量出不同的测试结果,从而可以满足比较器的各个参数测试需求。
另一方面,一种比较器的参数测试系统,包括:
上位机,用于选择比较器需要完成测试的至少一个参数测试,遍历每个参数测试对应的电压配置条件,生成每个参数测试对应的参数测试项;所述电压配置条件包括所述比较器的多个不同电源电压;
所述上位机,还用于配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,所述输入测试信号是由信号发生器产生并输出;
所述上位机,还用于配置所述比较器完成每个参数测试时的多个不同功率模式,所述功率模式包括功率由大到小递减的第一功率模式、第二功率模式、第三功率模式、第四功率模式;
比较器测试板,包括比较器,所述比较器测试板与所述上位机通信连接,所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项;所述参数测试项包括迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项。
本方案中,在上位机中完成比较器的测试配置条件后,将测试配置条件发送给比较器测试板,使得比较器测试板在不同条件下完成各个参数测试。最终简化了比较器的测试程序,也可以确保比较器的参数测试稳定性、一致性、精确度。
在一个实施例中,一种比较器的参数测试系统,还包括:
信号发生器,所述信号发生器的一通道与所述比较器的正输入端连接;所述信号发生器的另一通道与所述比较器的负输入端连接;
当所述参数测试为迟滞电压测试项时,所述信号发生器在所述比较器的正输入端输入正弦波信号,所述信号发生器在所述比较器的负输入端输入直流信号;
当所述参数测试为传播延时测试项时,所述信号发生器在所述比较器的正输入端输入方波信号,所述信号发生器在所述比较器的负输入端输入直流信号;
当所述参数测试为失调电压测试项时,所述信号发生器在所述比较器的正输入端输入固定电压信号,所述信号发生器在所述比较器的负输入端输入固定增幅的电压;
当所述参数测试为功耗测试项时,所述信号发生器在所述比较器的正输入端停止输入电压,所述信号发生器在所述比较器的负输入端停止输入电压。
本方案中,在上位机中完成比较器的测试配置条件后,其中,输入测试信号是由信号发生器产生并输出,配置比较器的输入测试信号相当于配置信号发生器的参数,使得信号发生器在不同参数配置下,产生不同输入测试信号,从而可以满足比较器的各个参数测试需求。
在一个实施例中,一种比较器的参数测试系统,还包括:
示波器,其一通道与所述信号发生器的一通道连接,其另一通道与所述比较器的输出端连接;
当所述参数测试项为迟滞电压测试项时,在所述示波器中测量出所述比较器输出的上/下边沿对应的输入信号的幅值差;
当所述参数测试项为传播延时测试项时,在所述示波器中测量出所述比较器的输入波形和输出波形之间的时间差;
当所述参数测试项为失调电压测试项时,在所述示波器中测量出所述比较器的输出发生跳变时输入电压和输出电压之间的电压差。
本方法中比较器的各个参数测试,在不同仪器中测量出测试结果,其迟滞电压测试项、传播延时测试项和失调电压测试项可以通过示波器测量出测试结果。其功耗测试项可以通过电流表测量出测试结果。
在一个实施例中,一种比较器的参数测试系统,还包括:
电流表,所述电流表与所述比较器测试板、上位机连接;
当所述参数测试项为功耗测试项时,通过所述电流表测量出开启/关闭所述比较器后进入stop模式的功耗差值。
在一个实施例中,所述上位机和所述比较器测试板之间进行串口通信,其通信协议包括迟滞电压参数、功率模式参数、比较器进入stop模式参数。
在一个实施例中,所述上位机的显示界面包括测试步骤显示区、数据显示区、操作区、测试过程展示区、测试进度。
本方法中显示界面中展示各种区域,方便测试人员查看。
与现有技术相比,本发明至少具有以下一项有益效果:
通过配置比较器在完成每个参数测试所需的电源电压、输入测试信号、功率模式,使得比较器可以自动完成在不同条件下的各个参数测试;最终简化了比较器的测试程序,也可以确保比较器的参数测试稳定性、一致性、精确度。
附图说明
下面将以明确易懂的方式,结合附图说明优选实施方式,对本发明的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
图1是本申请提供的一种比较器的参数测试方法的一个实施例流程图;
图2是本申请提供的一种比较器的参数测试系统的框图示意图;
图3是本申请提供的上位机的一个实施例流程图;
图4是本申请提供的比较器测试板的一个实施例流程图;
图5是本申请提供的比较器的多个参数测试结果示意图。
具体实施方式
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图,并获得其他的实施方式。
为使图面简洁,各图中只示意性地表示出了与发明相关的部分,它们并不代表其作为产品的实际结构。另外,以使图面简洁便于理解,在有些图中具有相同结构或功能的部件,仅示意性地绘示了其中的一个,或仅标出了其中的一个。在本文中,“一个”不仅表示“仅此一个”,也可以表示“多于一个”的情形。
还应当进一步理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
在本文中,需要说明的是,除非另有明确的规定和限定,术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解,例如,可以是固定连接,也可以是可拆卸连接,或一体地连接;可以是机械连接,也可以是电连接;可以是直接相连,也可以通过中间媒介间接相连,可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言,可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
另外,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
下面先对实施例中提到的比较器的迟滞电压、比较器的传播延迟、比较器的失调电压、比较器的功耗等含义进行一一说明。
比较器的迟滞电压是指比较器的两个输入端子之间的电压在过零时,将改变比较器的输出状态;由于输入端通常叠加有很小的波动电压,因此这些波动产生的差模电压将导致比较器输出连续变化。为了避免输出振荡,新的比较器通常具有几mV的迟滞电压。由于迟滞电压的存在,使比较器的开关点变为两个:一个用于检测上升电压,另一个用于检测下降电压,电压阈值之差(VTRIP)等于迟滞电压(VHYST)。
比较器的传播延迟是指比较器的输入信号到信号输出的时间。
比较器的失调电压是指比较器输入电压为0时,为使输出电压为0,在输入端加的补偿电压叫做失调电压。
比较器的功耗是指比较器正常运行时需要的功耗。
在一个实施例中,参考说明书附图2,本发明提供的一种比较器的参数测试系统,包括:
上位机10,用于选择比较器需要完成测试的至少一个参数测试,遍历每个参数测试对应的电压配置条件,生成每个参数测试对应的参数测试项;电压配置条件包括比较器的多个不同电源电压;参数测试项包括迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项。
具体的,可以在上位机中选择配置比较器的一个或多个参数测试,每个参数测试生成一个参数测试项。其中,迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项对应的电压配置条件可以相同设置,例如其比较器的电源电压均可以配置为2.0V,3.3V,5.5V。即比较器的每个参数测试都需要在不同电源电压下完成测试。
上位机10,还用于配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,输入测试信号是由信号发生器产生并输出。
具体的,可以在上位机中选择配置比较器的输入测试信号,输入测试信号是由信号发生器产生并输出;也相当于在上位机中配置信号发生器的工作参数。其中,比较器在完成迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项时,其输入测试信号不同。
上位机10,还用于配置比较器完成每个参数测试时的多个不同功率模式,功率模式包括功率由大到小递减的第一功率模式、第二功率模式、第三功率模式、第四功率模式。
具体的,可以在上位机中选择配置比较器的功率模式,其中,第一功率模式为高功率模式,第二功率模式为中等功率模式,第三功率模式为低功率模式,第四功率模式为极低功率模式。比较器的每个参数测试都需要在不同功率模式下完成测试。
比较器测试板20,包括比较器,比较器测试板20与上位机10通信连接,比较器在电压配置条件、输入测试信号和多个不同功率模式下,完成不同参数测试项。
具体的,比较器测试板还包括MCU,MCU中包含比较器,比较器的迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项试,每个测试项均需要在不同电源电压为2.0V、3.3V、5.5V,输入测试信号和高功率模式、中等功率模式、低功率模式、极低功率模式下完成测试,参考说明书附图5。
本实施例中,在上位机中选择测试参数对应的测试程序,该功能用于后续多个上位机兼容需选择合适的测试程序。在上位机中配置比较器的电源参数电压,上位机按遍历情况自动生成测试步骤。在上位机中设置仪器参数,配置当前测试程序需要用到的仪器。比较器自动化测试主要测试在各种条件下,比较器的迟滞电压、失调电压、传播延时、工作电流等。上位机在测试过程中可暂停测试,故障排除后再继续测试,参考说明书附图3。
该上位机架构具有很高的兼容性,后续大部分上位机测试系统都会在该架构下展开。因此开始测试比较器时需要选择“比较器自动化测试”,选择好测试程序后上位机会导入对应的测试步骤、初始化要用到的仪器仪表、切换主界面显示内容及布局、参数配置界面也会因测试程序的变化而变化。
总而言之,在未选择测试程序之前该上位机理论上可以兼容所有测试内容。只有在选择好测试程序后才固定为比较器自动化测试系统。测试程序以文本格式存储在数据库方便后期维护。
在一个实施例中,参考说明书附图2,本发明提供的一种比较器的参数测试系统,还包括:
信号发生器30,信号发生器30的一通道与比较器的正输入端连接;信号发生器30的另一通道与比较器的负输入端连接;
示波器40,其一通道与信号发生器的一通道连接,其另一通道与比较器的输出端连接。
当参数测试为迟滞电压测试项时,信号发生器30在比较器的正输入端输入正弦波信号,信号发生器30在比较器的负输入端输入直流信号;在示波器40中测量出比较器输出的上/下边沿对应的输入信号的幅值差。
具体的,比较器的迟滞电压测试:其信号发生器通道一设置频率100Hz,幅度200mv,偏移900mv的方波灌入比较器的正端,信号发生器通道二设置为偏移为900mv的DC信号灌入比较器的负端。其示波器通道一接信号发生器的通道一,示波器通道二接比较器的输出端;测量出输出的上下边沿对应的输入信号的幅值差即为迟滞电压;迟滞电压就是方波的上升沿和下降沿对应的Sin波的差值。
当参数测试为传播延时测试项时,信号发生器30在比较器的正输入端输入方波信号,信号发生器30在比较器的负输入端输入直流信号;在示波器40中测量出比较器的输入波形和输出波形之间的时间差。
具体的,比较器的传播延时测试:其信号发生器通道一设置频率100Hz,幅度300mv,偏移900mv的Sin波形灌入比较器的正端,信号发生器通道二设置为偏移为900mv的DC信号灌入比较器的负端。其示波器通道一接信号发生器的通道一,示波器通道二接比较器的输出端;示波器观察输入波形和输出波形的时间差。
当参数测试为失调电压测试项时,信号发生器30在比较器的正输入端输入固定电压信号,信号发生器30在比较器的负输入端输入固定增幅的可变电压;在示波器40中测量出比较器的输出发生跳变时输入电压和输出电压之间的电压差。
具体的,比较器的失调电压测试:其信号发生器通道二灌入0.5VDD电压到比较器负端INM,比较器正端信号发生器通道一接入的电压以0.5VDD为基础,以1mv的幅度往上加,直到比较器输出发生跳变。其示波器接比较器的输出端,慢慢加大通道一的电压;观察输出翻转,记录信号发生器通道一、通道二的压差。
在一个实施例中,参考说明书附图2,本发明提供的一种比较器的参数测试系统,还包括:
电流表50,分别与比较器测试板20、上位机连接;
当参数测试为功耗测试项时,信号发生器在比较器的正输入端不输入电压,信号发生器在比较器的负输入端不输入电压;通过电流表50测量出开启/关闭比较器后进入stop模式的功耗差值。
具体的,比较器功耗测试硬件接法:五位半电流表串入到电路中,记录比较器开和比较器关时的差值。比较器的参数测试系统还包括移动电源60,分别与电流表50、上位机连接。
在一个实施例中,上位机10和比较器测试板20之间进行串口通信,其通信协议包括迟滞电压参数、功率模式参数、比较器进入stop模式参数。
具体的,其通信协议包括:帧头、数据长度:指令类别+指令码+参数的总字节长度、指令类别、参数1、参数2、参数3、校验码。
其中,数据长度包括指令类别+指令码+参数的总字节长度;指令类别包括初始化指令、测试指令、读参数指令、写参数指令、返回指令、初始化指令执行正确结果、返回测试指令执行正确结果、返回读参数指令执行正确结果、返回写参数指令执行正确结果、返回测试指令执行失败结果、返回读参数指令执行失败结果、返回写参数指令执行失败结果、设置打印模式指令等。
参数1:迟滞0mv、迟滞15mv、迟滞30mv、迟滞90mv;参数2:高功率/高速、中等功率/低速、低功率/低速、极低功率/极低速;参数3:开启比较器进入stop模式、关闭比较器进入stop模式。
上位机的显示界面包括测试步骤显示区、数据显示区、操作区、测试过程展示区、测试进度。
具体的,上位机主界面操作按钮较少测试需操作的步骤也比较少,正常情况只需简单的两三步就能开始测试。
其操作区功能:选择测试程序。
测试步骤显示区:选择好测试程序及参数配置后所有的测试步骤均会显示在该区域,测试时按照从上到下的顺序一一测试,每一行表示一个测试项。测试项开始测试时,背景色标为黄色,测试完成按测试结果显示,绿色通过(PASS)或红色错误(FAIL)。
数据显示区:测试过程中的测试数据会在这个区域显示出来,上位机选择的程序不同界面也会有所区别。
测试过程展示区:测试过程中的测试数据及仪表仪器操作记录都会在该区域显示,后期可以优化将记录分为测试数据、操作记录、故障报警信息等几大类,可单独查看某一类的信息。
测试进度:该区域可清楚看到测试任务完成情况。
在一个实施例中,参考说明书附图1,本发明提供的一种比较器的参数测试方法,包括:
S10选择比较器需要完成测试的至少一个参数测试,遍历每个参数测试对应的电压配置条件,生成每个参数测试对应的参数测试项;电压配置条件包括比较器的多个不同电源电压;
S20配置比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,其输入测试信号是由信号发生器产生并输出;
S30配置比较器完成每个参数测试时的多个不同功率模式,功率模式包括功率由大到小递减的第一功率模式、第二功率模式、第三功率模式、第四功率模式;
S40比较器在电压配置条件、输入测试信号和多个不同功率模式下,完成不同参数测试项;参数测试项包括迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项。
优选,还包括在完成每个参数测试项所需要的不同观测仪器中,显示每个参数测试结果。
本实施例中,带有比较器的比较器测试板在进行测试时,串口、比较器先进行工作配置;判断串口是否接收到正确协议帧,接收到后,比较器进行测试;若比较器不是功耗测试,则根据协议对比较器进行配置;若比较器需要进行功耗测试,比较器开启MCU进入stop模式,串口接收到关闭比较器指令,比较器关闭MCU进入stop模式,参考说明书附图4。
在一个实施例中,配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,包括:
当参数测试为迟滞电压测试项时,在比较器的正输入端配置输入正弦波信号,在比较器的负输入端配置输入直流信号;
当参数测试为传播延时测试项时,在比较器的正输入端配置输入方波信号,在比较器的负输入端配置输入直流信号;
当参数测试为失调电压测试项时,在比较器的正输入端配置输入固定电压信号,在比较器的负输入端配置输入固定增幅的电压;
当参数测试为功耗测试项时,在比较器的正输入端配置不输入电压,在比较器的负输入端配置不输入电压。
本实施例中,根据比较器进行不同参数测试项,在比较器的正输入端/负输入端配置不同的电压,来完成不同参数自动测试。
在一个实施例中,在比较器在电压配置条件、输入测试信号和多个不同功率模式下,完成不同参数测试项之后,包括:
当参数测试项为迟滞电压测试项时,测量出比较器输出的上/下边沿对应的输入信号的幅值差;
当参数测试项为传播延时测试项时,测量出比较器的输入波形和输出波形之间的时间差;
当参数测试项为失调电压测试项时,测量出比较器的输出发生跳变时输入电压和输出电压之间的电压差;
当参数测试项为功耗测试项时,测量出开启/关闭比较器后进入stop模式的功耗差值。
本实施例中,比较器进行不同参数测试项时,其测量的数据也不一样。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可能集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现,也可以采用软件功能单元的形式实现。
应当说明的是,上述实施例均可根据需要自由组合。以上仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。
Claims (10)
1.一种比较器的参数测试方法,其特征在于,包括:
选择比较器需要完成测试的至少一个参数测试,遍历每个参数测试对应的电压配置条件,生成每个参数测试对应的参数测试项;所述电压配置条件包括所述比较器的多个不同电源电压;
配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,所述输入测试信号是由信号发生器产生并输出;
配置所述比较器完成每个参数测试时的多个不同功率模式,所述功率模式包括功率由大到小递减的第一功率模式、第二功率模式、第三功率模式、第四功率模式;
所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项;所述参数测试项包括迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项。
2.根据权利要求1所述的一种比较器的参数测试方法,其特征在于,所述的配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,包括:
当所述参数测试为迟滞电压测试项时,在所述比较器的正输入端配置输入正弦波信号,在所述比较器的负输入端配置输入直流信号;
当所述参数测试为传播延时测试项时,在所述比较器的正输入端配置输入方波信号,在所述比较器的负输入端配置输入直流信号;
当所述参数测试为失调电压测试项时,在所述比较器的正输入端配置输入固定电压信号,在所述比较器的负输入端配置输入固定增幅的电压;
当所述参数测试为功耗测试项时,在所述比较器的正输入端配置不输入电压,在所述比较器的负输入端配置不输入电压。
3.根据权利要求1所述的一种比较器的参数测试方法,其特征在于,在所述的所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项之后,包括:
当所述参数测试项为迟滞电压测试项时,测量出所述比较器输出的上/下边沿对应的输入信号的幅值差;
当所述参数测试项为传播延时测试项时,测量出所述比较器的输入波形和输出波形之间的时间差;
当所述参数测试项为失调电压测试项时,测量出所述比较器的输出发生跳变时输入电压和输出电压之间的电压差;
当所述参数测试项为功耗测试项时,测量出开启/关闭所述比较器后进入stop模式的功耗差值。
4.根据权利要求1~3中任意一项所述的一种比较器的参数测试方法,其特征在于,在所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项之后,还包括:
在完成每个所述参数测试项所需要的不同观测仪器中,显示每个参数测试结果。
5.一种比较器的参数测试系统,其特征在于,包括:
上位机,用于选择比较器需要完成测试的至少一个参数测试,遍历每个参数测试对应的电压配置条件,生成每个参数测试对应的参数测试项;所述电压配置条件包括所述比较器的多个不同电源电压;
所述上位机,还用于配置所述比较器完成每个参数测试时所需的输入测试信号,所述输入测试信号是由信号发生器产生并输出;
所述上位机,还用于配置所述比较器完成每个参数测试时的多个不同功率模式,所述功率模式包括功率由大到小递减的第一功率模式、第二功率模式、第三功率模式、第四功率模式;
比较器测试板,包括比较器,所述比较器测试板与所述上位机通信连接,所述比较器在所述电压配置条件、输入测试信号和所述多个不同功率模式下,完成不同参数测试项;所述参数测试项包括迟滞电压测试项、失调电压测试项、传播延时测试项、功耗测试项。
6.根据权利要求5所述的一种比较器的参数测试系统,其特征在于,还包括:
信号发生器,所述信号发生器的一通道与所述比较器的正输入端连接;所述信号发生器的另一通道与所述比较器的负输入端连接;
当所述参数测试为迟滞电压测试项时,所述信号发生器在所述比较器的正输入端输入正弦波信号,所述信号发生器在所述比较器的负输入端输入直流信号;
当所述参数测试为传播延时测试项时,所述信号发生器在所述比较器的正输入端输入方波信号,所述信号发生器在所述比较器的负输入端输入直流信号;
当所述参数测试为失调电压测试项时,所述信号发生器在所述比较器的正输入端输入固定电压信号,所述信号发生器在所述比较器的负输入端输入固定增幅的电压;
当所述参数测试为功耗测试项时,所述信号发生器在所述比较器的正输入端停止输入电压,所述信号发生器在所述比较器的负输入端停止输入电压。
7.根据权利要求5所述的一种比较器的参数测试系统,其特征在于,还包括:
示波器,其一通道与所述信号发生器的一通道连接,其另一通道与所述比较器的输出端连接;
当所述参数测试项为迟滞电压测试项时,在所述示波器中测量出所述比较器输出的上/下边沿对应的输入信号的幅值差;
当所述参数测试项为传播延时测试项时,在所述示波器中测量出所述比较器的输入波形和输出波形之间的时间差;
当所述参数测试项为失调电压测试项时,在所述示波器中测量出所述比较器的输出发生跳变时输入电压和输出电压之间的电压差。
8.根据权利要求5所述的一种比较器的参数测试系统,其特征在于,还包括:
电流表,所述电流表与所述比较器测试板、上位机连接;
当所述参数测试项为功耗测试项时,通过所述电流表测量出开启/关闭所述比较器后进入stop模式的功耗差值。
9.根据权利要求5~8中任意一项所述的一种比较器的参数测试系统,其特征在于:
所述上位机和所述比较器测试板之间进行串口通信,其通信协议包括迟滞电压参数、功率模式参数、比较器进入stop模式参数。
10.根据权利要求5~8中任意一项所述的一种比较器的参数测试系统,其特征在于:
所述上位机的显示界面包括测试步骤显示区、数据显示区、操作区、测试过程展示区、测试进度。
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Cited By (1)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117743060A (zh) * | 2024-02-19 | 2024-03-22 | 杭州长川科技股份有限公司 | 直流参数测试系统的毛刺消除方法、装置、测试机和介质 |
Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1627090A (zh) * | 2003-12-10 | 2005-06-15 | 上海贝岭股份有限公司 | 迟滞比较器迟滞窗口自动调节与测量的一种电路结构 |
CN102323531A (zh) * | 2011-05-26 | 2012-01-18 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种毫米波功率放大器的参数自动测试方法与测试系统 |
CN202330526U (zh) * | 2011-11-24 | 2012-07-11 | 福州大学 | 高精度动态比较器的输入失调电压测试电路 |
DE202014002367U1 (de) * | 2014-03-17 | 2014-04-15 | Dialog Semiconductor Gmbh | „Dynamische Hysterese"-Komparator |
CN103837824A (zh) * | 2014-03-03 | 2014-06-04 | 中国科学院电子学研究所 | 数字集成电路自动测试系统 |
CN106788354A (zh) * | 2016-12-23 | 2017-05-31 | 长沙景美集成电路设计有限公司 | 一种迟滞宽度可编程的迟滞比较器 |
CN106788351A (zh) * | 2016-12-23 | 2017-05-31 | 长沙景嘉微电子股份有限公司 | 一种带失调电压测试和校正的轨到轨参考电压比较器 |
CN109493700A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-03-19 | 上海图菱新能源科技有限公司 | 用于远程虚拟实验的运算放大器测试系统 |
CN110632497A (zh) * | 2019-06-13 | 2019-12-31 | 眸芯科技(上海)有限公司 | 测试soc系统中子系统功耗的方法、装置及系统 |
CN110708047A (zh) * | 2019-08-29 | 2020-01-17 | 上海御渡半导体科技有限公司 | 一种基于tdc芯片测量高速比较器精度的结构及方法 |
CN111175645A (zh) * | 2020-03-12 | 2020-05-19 | 杭州芯耘光电科技有限公司 | 一种测试电路 |
CN112083319A (zh) * | 2020-09-25 | 2020-12-15 | 汉桑(南京)科技有限公司 | 一种功率放大器的测试方法、系统、装置及存储介质 |
CN114546736A (zh) * | 2022-01-13 | 2022-05-27 | 宁波小匠物联网科技有限公司 | 一种串口自动化测试方法 |
CN114646895A (zh) * | 2022-01-21 | 2022-06-21 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种cpu电源性能测试系统、方法及存储介质 |
CN114884511A (zh) * | 2022-04-14 | 2022-08-09 | 上海华力集成电路制造有限公司 | 一种通用的模数转换器测试装置 |
CN115328708A (zh) * | 2021-05-11 | 2022-11-11 | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 | 串行外设接口时序的参数测试方法及测试装置 |
CN115441869A (zh) * | 2022-09-13 | 2022-12-06 | 新郦璞科技(上海)有限公司 | 流水线逐次逼近模数转换器校准方法及系统 |
-
2023
- 2023-04-17 CN CN202310403849.2A patent/CN116125256A/zh active Pending
Patent Citations (17)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN1627090A (zh) * | 2003-12-10 | 2005-06-15 | 上海贝岭股份有限公司 | 迟滞比较器迟滞窗口自动调节与测量的一种电路结构 |
CN102323531A (zh) * | 2011-05-26 | 2012-01-18 | 中国科学院上海微系统与信息技术研究所 | 一种毫米波功率放大器的参数自动测试方法与测试系统 |
CN202330526U (zh) * | 2011-11-24 | 2012-07-11 | 福州大学 | 高精度动态比较器的输入失调电压测试电路 |
CN103837824A (zh) * | 2014-03-03 | 2014-06-04 | 中国科学院电子学研究所 | 数字集成电路自动测试系统 |
DE202014002367U1 (de) * | 2014-03-17 | 2014-04-15 | Dialog Semiconductor Gmbh | „Dynamische Hysterese"-Komparator |
CN106788354A (zh) * | 2016-12-23 | 2017-05-31 | 长沙景美集成电路设计有限公司 | 一种迟滞宽度可编程的迟滞比较器 |
CN106788351A (zh) * | 2016-12-23 | 2017-05-31 | 长沙景嘉微电子股份有限公司 | 一种带失调电压测试和校正的轨到轨参考电压比较器 |
CN109493700A (zh) * | 2018-12-06 | 2019-03-19 | 上海图菱新能源科技有限公司 | 用于远程虚拟实验的运算放大器测试系统 |
CN110632497A (zh) * | 2019-06-13 | 2019-12-31 | 眸芯科技(上海)有限公司 | 测试soc系统中子系统功耗的方法、装置及系统 |
CN110708047A (zh) * | 2019-08-29 | 2020-01-17 | 上海御渡半导体科技有限公司 | 一种基于tdc芯片测量高速比较器精度的结构及方法 |
CN111175645A (zh) * | 2020-03-12 | 2020-05-19 | 杭州芯耘光电科技有限公司 | 一种测试电路 |
CN112083319A (zh) * | 2020-09-25 | 2020-12-15 | 汉桑(南京)科技有限公司 | 一种功率放大器的测试方法、系统、装置及存储介质 |
CN115328708A (zh) * | 2021-05-11 | 2022-11-11 | 圣邦微电子(北京)股份有限公司 | 串行外设接口时序的参数测试方法及测试装置 |
CN114546736A (zh) * | 2022-01-13 | 2022-05-27 | 宁波小匠物联网科技有限公司 | 一种串口自动化测试方法 |
CN114646895A (zh) * | 2022-01-21 | 2022-06-21 | 苏州浪潮智能科技有限公司 | 一种cpu电源性能测试系统、方法及存储介质 |
CN114884511A (zh) * | 2022-04-14 | 2022-08-09 | 上海华力集成电路制造有限公司 | 一种通用的模数转换器测试装置 |
CN115441869A (zh) * | 2022-09-13 | 2022-12-06 | 新郦璞科技(上海)有限公司 | 流水线逐次逼近模数转换器校准方法及系统 |
Non-Patent Citations (1)
Title |
---|
吴佩: "一种比较器失调电压和漂移的测试方法", 《今日电子》, vol. 1, no. 9, pages 47 - 52 * |
Cited By (2)
Publication number | Priority date | Publication date | Assignee | Title |
---|---|---|---|---|
CN117743060A (zh) * | 2024-02-19 | 2024-03-22 | 杭州长川科技股份有限公司 | 直流参数测试系统的毛刺消除方法、装置、测试机和介质 |
CN117743060B (zh) * | 2024-02-19 | 2024-05-17 | 杭州长川科技股份有限公司 | 直流参数测试系统的毛刺消除方法、装置、测试机和介质 |
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