CN116112071A - 应用于otn网络的备用光通道性能检测方法及性能检测系统 - Google Patents

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Abstract

本发明公开了一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法及性能检测系统，OTN网络包括本地节点、端节点和连接本地节点与端节点的待测光路，在可达待测光路的空闲端口配置光源发生器，光源发生器包括光放大器、光滤波器、可调谐激光器和耦合器，光放大器与光滤波器级联后通过耦合器与可调谐激光器耦合；配置检测光源，检测光源包括待测波长和填充波长，待测波长由可调谐激光器产生，填充波长由光放大器和光滤波器产生；调用待测光路中的光标签检测点对待测波长的光功率进行测量，以得到待测波长对应的备用光通道的光性能。能够检测出光纤光路的功率，从而获取光通道的光性能参数。

Description

应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法及性能检测系统
技术领域
本发明涉及传输网络通信领域，尤其涉及一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法及性能检测系统。
背景技术
光传送网(Optical Transport Network，OTN)技术，是一种新型光传送技术体制，继承了同步数字体系(Synchronous Digital Hierarchy，SDH)网络和波分复用(Wavelength Division Multiplexing，WDM)网络的优势，其具有大容量和管控机制良好的优势。OTN技术可以实现多种粒度的信号的传输、交换、复用等功能，同时，OTN还可以支持多种上层业务和协议，是承载光网络重要的组网技术。
生存性是光传送网中的一项重要指标和技术。光传送网业务需要往往保护、恢复的手段来保证业务的生存性。对于恢复技术，网络中会存在大量空闲的光路资源，为故障业务提供恢复路径资源。网络正常工作时，这些空闲光路上没有业务光，传统技术无法监测这些空闲路径的光路性能。如果这些光路发生故障，或者光路性能参数不达标，网络的运维系统无法感知到故障。当业务真正发生故障，并切换到这些空闲路径上后，由于光路存在故障或者光路性能不符合要求，业务无法成功恢复，造成业务长时间中断，严重影响网络的服务质量。目前，在没有部署光学性能监测(Optical Performance Monitoring，OPM)的网络中，获取空闲光通道的光性能成为了一个难题。
发明内容
本发明的目的在于至少解决现有技术中存在的技术问题之一，提供一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法及性能检测系统，能够检测出光纤光路的功率，从而获取光通道的光性能参数。
第一方面，本发明实施例提供一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法，所述OTN网络包括本地节点、端节点和连接所述本地节点与所述端节点的待测光路，所述方法包括：
在可达所述待测光路的空闲端口配置光源发生器，所述光源发生器包括光放大器、光滤波器、可调谐激光器和耦合器，所述光放大器与所述光滤波器级联后通过所述耦合器与所述可调谐激光器耦合；
配置检测光源，所述检测光源包括待测波长和填充波长，所述待测波长由所述可调谐激光器产生，所述填充波长由所述光放大器和所述光滤波器产生；
调用所述待测光路中的光标签检测点对所述待测波长的光功率进行测量，以得到所述待测波长对应的备用光通道的光性能。
第二方面，本发明实施例提供一种OTN网络的备用光通道性能检测系统，其特征在于，包括：
本地节点；
端节点；
待测光路，所述待测光路用于连接所述本地节点与所述端节点；
光源发生器，所述光源发生器配置于可达所述待测光路的空闲端口，所述光源发生器包括光放大器、光滤波器、可调谐激光器和耦合器，所述光放大器与所述光滤波器级联后通过所述耦合器与所述可调谐激光器耦合；所述光源发生器用于配置检测光源，所述检测光源包括待测波长和填充波长，所述待测波长由所述可调谐激光器产生，所述填充波长由所述光放大器和所述光滤波器产生；
光标签检测点，所述光标签检测点位于所述待测光路中，所述光标签检测点用于对所述待测波长的光功率进行测量以得到所述待测波长对应的备用光通道的光性能。
本发明实施例包括：应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法和OTN网络的备用光通道性能检测系统。根据本发明实施例提供的方案，在OTN网络正常工作时，利用光传送网中已有的成熟器件光放大器、光滤波器、耦合器、可加载光标签的可调谐激光器组成光源发生器，接入到待测光路上，通过OTN网络中已经部署的光标签检测点，检测出光纤光路的功率，进一步可以计算空闲光路的OSNR，从而获取光路的光性能参数；另外，光源发生器可以利用可加载光标签的可调谐激光器产生一个中心频率可调，且携带有光标签的探测光作为探测波长，同时借助光放大器的自发辐射模式，产生宽谱光源，级联滤波器，形成中心频率可变、谱宽可变、数量可变的填充波长，面向多业务恢复场景，为待测光路进行多个假波长填充，确保空闲光路性能测量时，光路的状态尽可能的接近实际恢复后的光路状态，避免检测到的光路性能与实际倒换后的性能是不一样的，提高光性能参数的测量准确性。
本发明的其它特征和优点将在随后的说明书中阐述，并且，部分地从说明书中变得显而易见，或者通过实施本发明而了解。本发明的目的和其他优点可通过在说明书、权利要求书以及附图中所特别指出的结构来实现和获得。
附图说明
附图用来提供对本发明技术方案的进一步理解，并且构成说明书的一部分，与本发明的实施例一起用于解释本发明的技术方案，并不构成对本发明技术方案的限制。
下面结合附图和实施例对本发明进一步地说明；
图1是本发明实施例提供的一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法的流程图；
图2是本发明实施例提供的一种光源发生器的结构示意图；
图3是本发明实施例提供的另一种光源发生器的结构示意图；
图4是本发明另一实施例提供的一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法的流程图；
图5是本发明实施例提供的OTN网络的网络抽象拓扑图；
图6是本发明实施例提供的A-C-Z路径的网络配置图；
图7是本发明另一实施例提供的网络配置图。
具体实施方式
本部分将详细描述本发明的具体实施例，本发明之较佳实施例在附图中示出，附图的作用在于用图形补充说明书文字部分的描述，使人能够直观地、形象地理解本发明的每个技术特征和整体技术方案，但其不能理解为对本发明保护范围的限制。
在本发明的描述中，如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，除非另有明确的限定，设置、安装、连接等词语应做广义理解，所属技术领域技术人员可以结合技术方案的具体内容合理确定上述词语在本发明中的具体含义。
本发明实施例提供一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法及性能检测系统，能够检测出光纤光路的功率，从而获取光通道的光性能参数。
下面结合附图，对本发明实施例作进一步阐述。
参照图1，本发明的第一方面实施例提供一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法，所述OTN网络包括本地节点、端节点和连接所述本地节点与所述端节点的待测光路，所述方法包括步骤S110至步骤S130，其中：
步骤S110：在可达所述待测光路的空闲端口配置光源发生器，所述光源发生器包括光放大器、光滤波器、可调谐激光器和耦合器，所述光放大器与所述光滤波器级联后通过所述耦合器与所述可调谐激光器耦合。
需要说明的是，光滤波器可以是AWG(Arrayed Waveguide Grating，阵列波导光栅)、WSS(Wavelength Selective Switch，波长选择开关)、OCI(Optical channelInterleaver，光合分波交织板)、各种具有滤波功能的合分波器件等。
在一实施例中，所述空闲端口为所述本地节点的端口或者为在异地节点可达所述待测光路的端口。
可以理解的是，检测光源需要通过一个空闲的端口，接入到网络内。在一实施例中，所述空闲端口为光开关、波长选择开关的上路口或者环回口、耦合器类的合波器的上路口或者环回口或者阵列波导光栅类器件的上路口；所述光放大器为掺饵光纤放大器。如果本地站点没有合适的接入光源发生器的端口，可以通过异地站点接入。
步骤S120：配置检测光源，所述检测光源包括待测波长和填充波长，所述待测波长由所述可调谐激光器产生，所述填充波长由所述光放大器和所述光滤波器产生。
检测光源的硬件配置如图2所示，一个EDFA(Erbium Doped Fiber Amplifier，掺铒光纤放大器)类型的OA(Optical Amplifier，光放大器)和光滤波器级联，通过一个耦合器，与一个可加载光标签的可调谐激光器ITLA进行耦合，可以产生一个中心频率可调，且携带有光标签的探测光源，同时借助OA的自发辐射模式，产生宽谱光源，级联滤波器，形成中心频率可变、谱宽可变、数量可变的填充波长。
步骤S130：调用所述待测光路中的光标签检测点对所述待测波长的光功率进行测量，以得到所述待测波长对应的备用光通道的光性能。
在一实施例中，所述光标签检测点部署于所述待测光路中的光放大板和接收端。
需要说明的是，获取各检测点的通道光功率后，可以利用各种OSNR评估方法去获取空闲光通道的OSNR。基于通道光功率评估通道OSNR的工作，已有各种研究和专利表述，本发明专利不再针对该部分作进一步阐述。
参照图3，在另一实施例中，所述光源发生器中的所述光滤波器和所述耦合器由波长选择开关替换，所述光放大器接入所述波长选择开关的上路口，所述可调谐激光器接入所述波长选择开关的环回口。
图3给出了一种基于商用WSS作为滤波器的光源发生器的结构。一般的商用WSS，包含一个in口，与自发辐射状态的OA相连，环回口连接ITLA。这种光源的组网方式，利用了商用WSS自带的合波功能，可以节省一个耦合器。
参照图4，在一实施例中，步骤S120中的所述配置检测光源，包括步骤S410至步骤S420：
步骤S410：获取所述备用光通道的数量；
步骤S420：选取一个所述备用光通道作为待测光通道，选取所述待测光通道对应的波长作为所述待测波长，并选取其余所述备用光通道对应的波长作为所述填充波长。
在一实施例中，依次选取所述所述备用光通道中的一个作为所述待测光通道，直到未被检测的所述备用光通道的数量为零。
可以理解的是，在多业务同时恢复时，一条光路上会同时倒换过来多个不同波长的业务。现有的基于单个探测波长的空闲路径检测方法，检测到的光路性能与实际倒换后的性能是不一样的。其原因在于：多个工作波长的状态下，多波长在光纤中传输，存在诸多非线性效应的影响，例如，拉曼功率转移效应，会导致短波的功率向长波转移。因此，面向多业务恢复场景，需要为待测光路进行多个假波长填充，确保空闲光路性能测量时，光路的状态尽可能的接近实际恢复后的光路状态。本发明实施例使用多个填充波长正是为了解决这个问题。
由于存在多业务同时恢复的情况，因此需要依次测量各个待测通道的光性能，具体的检测光源配置和检测过程如下：
选择一个待测的中心频率，将ITLA的中心频率设置为该待测频率；
设置填充波长，如前所述，需要模拟多业务恢复后光路的实际情况，需要根据恢复后的光路中存在的业务及其占用的波长情况，配置相应的填充波长。具体操作是，控制滤波器，实现对OA产生的宽谱光源进行编辑，将需要产生填充波长的中心频率设置为通过状态，其他中心频率设置为阻断。特别的，前述ITLA已经产生了一个待测波长，滤波器需要将该波长对应的中心频率设置为阻断。
调用光路沿途各位值的光标签检测点，获得ITLA所设置的中心频率的待测波长在各个检测点的通道光功率。基于获得的光功率值可以对光路进行进一步的评估，这部分本实施例不再赘述。
如果还有待测波长频率，则选择下一个待测的频率，配置ITLA和滤波器，继续测量光通道的光功率，直到未被检测的所述备用光通道的数量为零。
在一实施例中，步骤S120中的所述配置检测光源步骤与步骤S130之间，还包括以下步骤：
打开所述待测光路中的光开关和波长选择开关，以使所述检测光源从所述本地节点到达所述端节点。
根据本发明第一方面实施例提供的方案，在OTN网络正常工作时，利用光传送网中已有的成熟器件光放大器、光滤波器、耦合器、可加载光标签的可调谐激光器组成光源发生器，接入到待测光路上，通过OTN网络中已经部署的光标签检测点，检测出光纤光路的功率，进一步可以计算空闲光路的OSNR，从而获取光路的光性能参数；另外，光源发生器可以利用可加载光标签的可调谐激光器产生一个中心频率可调，且携带有光标签的探测光作为探测波长，同时借助光放大器的自发辐射模式，产生宽谱光源，级联滤波器，形成中心频率可变、谱宽可变、数量可变的填充波长，面向多业务恢复场景，为待测光路进行多个假波长填充，确保空闲光路性能测量时，光路的状态尽可能的接近实际恢复后的光路状态，避免检测到的光路性能与实际倒换后的性能是不一样的，提高光性能参数的测量准确性。
第二方面，本发明实施例提供一种OTN网络的备用光通道性能检测系统，包括本地节点、端节点、待测光路、光源发生器和光标签检测点，所述待测光路用于连接所述本地节点与所述端节点；所述光源发生器配置于可达所述待测光路的空闲端口，所述光源发生器包括光放大器、光滤波器、可调谐激光器和耦合器，所述光放大器与所述光滤波器级联后通过所述耦合器与所述可调谐激光器耦合；所述光源发生器用于配置检测光源，所述检测光源包括待测波长和填充波长，所述待测波长由所述可调谐激光器产生，所述填充波长由所述光放大器和所述光滤波器产生；所述光标签检测点位于所述待测光路中，所述光标签检测点用于对所述待测波长的光功率进行测量以得到所述待测波长对应的备用光通道的光性能。
在一实施例中，所述空闲端口为所述本地节点的端口或者为在异地节点可达所述待测光路的端口。
在一实施例中，所述空闲端口为光开关、波长选择开关的上路口或者环回口、耦合器类的合波器的上路口或者环回口或者阵列波导光栅类器件的上路口。
在一实施例中，所述光源发生器中的所述光滤波器和所述耦合器由波长选择开关替换，所述光放大器接入所述波长选择开关的上路口，所述可调谐激光器接入所述波长选择开关的环回口。
本发明第二方面实施例提供的OTN网络的备用光通道性能检测系统的发明构思，与第一方面实施例提供的应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法的发明构思相同，其作用和效果也相同，此处不再赘述。
为使本发明的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下文中将结合附图对本发明的实施例进行详细说明。
实施例1：
基本样例，本地线路口接入光源，多个待测通道。
为了解释方案原理方便，本实施例及后续实施例，均以单向光路距离。实际光传送网中，存在双向业务。双向业务，其经过的光路、器件可以看做两条独立的单向光路，利用本专利中提到的方法，进行处理。后续实施例中，选用图3所示基于OA、ITLA、商用WSS组成的光源发生器进行实施例说明。
图5给出了本实施例的网络抽象拓扑图。如图5所示的网络，包含有5个ROADM节点，节点之间的连纤关系如图5所示。该网络中存在包含有3条同源同宿的工作路径组，分别用业务#1、#2、#3表示，均是由A节点，经过B节点，达到Z节点的双向波长业务，分别占用波长192.1THz、192.15THz、192.2THz。每个业务占用的波长通道均为50GHz宽度。
如果链路A-B发生故障，则以上3个业务均被恢复到A-C-Z的路径，并且分别占用波长192.1THz、192.15THz、192.2THz。
本实施例需要测量空闲路径A-C-Z中，当192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率均被占用后，每个通道的各个检测点位置的光通道功率。
图6给出了本实施例中A-C-Z路径的网络配置图。
步骤1，配置检测光源。发端节点A存在空闲端口，将OA、WSS#41和ITLA组成光源发生器，WSS#41的D1口与WSS#21的A3口连接，将检测光源从WSS#21接入到线路侧方向#2，从而实现对待测光路的检测。
打通待测光路，对于WSS#51、WSS#52，将192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率，宽度为50GHz的光，指派到相连的端口。
步骤2-1，测量第一个待测波长，首先选择192.1THz作为第一个待测波长。将ITLA的中心频率设置为192.1THz，并加载光标签，将WSS#41的192.1THz，指派到环回口-D1，确保ITLA的探测光源可以接入待测路径；将192.15THz、192.2THz这两个波长指派到in口-D1，确保OA产生的宽谱光源，经过WSS#41后产生192.15THz、192.2THz这两个波长的填充波长。
检测光通道功率，如图6所示，图中小圆圈的点位，为常见的部署有光标签检测点的位置。检测192.1THz处的光功率，可以得到192.1THz空闲通道的各处光性能。
步骤2-2，测量第二个待测波长，选择192.15THz作为第二个待测波长。将ITLA的中心频率设置为192.15THz，并加载光标签，将WSS#41的192.15THz，指派到环回口-D1，确保ITLA的探测光源可以接入待测路径；将192.1THz、192.2THz这两个波长指派到in口-D1，确保OA产生的宽谱光源，经过WSS#41后产生192.1THz、192.2THz这两个波长的填充波长。
检测光通道功率，检测192.15THz处的光功率，可以得到192.15THz空闲通道的各处光性能。
步骤2-3，测量第三个待测波长，选择192.2THz作为第三个待测波长。将ITLA的中心频率设置为192.2THz，并加载光标签，将WSS#41的192.2THz，指派到环回口-D1，确保ITLA的探测光源可以接入待测路径；将192.1THz、192.15THz这两个波长指派到in口-D1，确保OA产生的宽谱光源，经过WSS#41后产生192.1THz、192.15THz这两个波长的填充波长。
检测光通道功率，检测192.2THz处的光功率，可以得到192.2THz空闲通道的各处光性能。
步骤3，输出结果。此时，已无剩余待检测波长，将以上获得的空闲路径中，192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率的光性能输出。
实施例2：
异地线路口接入光源，50GHz通道。
本实施例的网络抽象拓扑图仍然如图5所示，包含有5个ROADM节点，节点之间的连纤关系如图5所示。
存在包含有3条同源同宿的工作路径组，分别用业务#1、#2、#3表示，均是由A节点，经过B节点，达到C节点的双向波长业务，分别占用波长192.1THz、192.15THz、192.2THz。每个业务占用的波长通道均为50GHz宽度。
如果链路A-B发生故障，则以上3个业务均被恢复到A-C-Z的路径，并且分别占用波长192.1THz、192.15THz、192.2THz。
本实施例需要测量空闲路径A-C-Z中，当192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率均被占用后，每个通道的各个检测点位置的光通道功率。
图7给出了本实施例的网络配置图。
步骤1，配置检测光源。发端节点A不存在空闲端口，无法在A节点接入检测光源。
发现异地节点D，存在连接到发端节点A的空闲光路，可以通过WSS#42、WSS#11将异地检测光接入到待测光路汇总。将OA、WSS#41和ITLA组成光源发生器，WSS#41的D1口与WSS#42的A1口连接，将WSS#42的192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率指派到A1-out口，将WSS#11的192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率指派到in口-D1，实现检测光源从WSS#21接入到线路侧方向#2，从而实现对待测光路的检测。
打通待测光路，对于WSS#51、WSS#52，将192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率，宽度为50GHz的光，指派到相连的端口。
步骤2-1，测量第一个待测波长，首先选择192.1THz作为第一个待测波长。将ITLA的中心频率设置为192.1THz，并加载光标签，将WSS#41的192.1THz，指派到环回口-D1，确保ITLA的探测光源可以接入待测路径；将192.15THz、192.2THz这两个波长指派到in口-D1，确保OA产生的宽谱光源，经过WSS#41后产生192.15THz、192.2THz这两个波长的填充波长。
检测光通道功率，如图7所示，图中小圆圈的点位，为常见的部署有光标签检测点的位置。检测192.1THz处的光功率，可以得到192.1THz空闲通道的各处光性能。
步骤2-2，测量第二个待测波长，选择192.15THz作为第二个待测波长。将ITLA的中心频率设置为192.15THz，并加载光标签，将WSS#41的192.15THz，指派到环回口-D1，确保ITLA的探测光源可以接入待测路径；将192.1THz、192.2THz这两个波长指派到in口-D1，确保OA产生的宽谱光源，经过WSS#41后产生192.1THz、192.2THz这两个波长的填充波长。
检测光通道功率，检测192.15THz处的光功率，可以得到192.15THz空闲通道的各处光性能。
步骤2-3，测量第三个待测波长，选择192.2THz作为第三个待测波长。将ITLA的中心频率设置为192.2THz，并加载光标签，将WSS#41的192.2THz，指派到环回口-D1，确保ITLA的探测光源可以接入待测路径；将192.1THz、192.15THz这两个波长指派到in口-D1，确保OA产生的宽谱光源，经过WSS#41后产生192.1THz、192.15THz这两个波长的填充波长。
检测光通道功率，检测192.2THz处的光功率，可以得到192.2THz空闲通道的各处光性能。
步骤3，输出结果。此时，已无剩余待检测波长，将以上获得的空闲路径中，192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率的光性能输出。
实施例3：
本地、异地均无可接入的空闲端口。
本实施例的网络抽象拓扑图仍然如图5所示，包含有5个ROADM节点，节点之间的连纤关系如图5所示。
存在包含有3条同源同宿的工作路径组，分别用业务#1、#2、#3表示，均是由A节点，经过B节点，达到Z节点的双向波长业务，分别占用波长192.1THz、192.15THz、192.2THz。每个业务占用的波长通道均为50GHz宽度。
如果链路A-B发生故障，则以上3个业务均被恢复到A-C-Z的路径，并且分别占用波长192.1THz、192.15THz、192.2THz。
本实施例需要测量空闲路径A-C-Z中，当192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率均被占用后，每个通道的各个检测点位置的光通道功率。
此时，本地A节点无空闲端口可以接入检测光源。而链路A-D的192.1THz、192.15THz、192.2THz三个频率已被占用，也无法通过D节点进行接入检测光源。这种情况下，本发明专利的方法将无法检测待测光通道。
上面结合附图对本发明实施例作了详细说明，但是本发明不限于上述实施例，在所述技术领域普通技术人员所具备的知识范围内，还可以在不脱离本发明宗旨的前提下作出各种变化。

Claims (13)

1.一种应用于OTN网络的备用光通道性能检测方法，所述OTN网络包括本地节点、端节点和连接所述本地节点与所述端节点的待测光路，所述方法包括：
在可达所述待测光路的空闲端口配置光源发生器，所述光源发生器包括光放大器、光滤波器、可调谐激光器和耦合器，所述光放大器与所述光滤波器级联后通过所述耦合器与所述可调谐激光器耦合；
配置检测光源，所述检测光源包括待测波长和填充波长，所述待测波长由所述可调谐激光器产生，所述填充波长由所述光放大器和所述光滤波器产生；
调用所述待测光路中的光标签检测点对所述待测波长的光功率进行测量，以得到所述待测波长对应的备用光通道的光性能。
2.根据权利要求1所述的备用光通道性能检测方法，其特征在于，所述空闲端口为所述本地节点的端口或者为在异地节点可达所述待测光路的端口。
3.根据权利要求1所述的备用光通道性能检测方法，其特征在于，所述空闲端口为光开关、波长选择开关的上路口或者环回口、耦合器类的合波器的上路口或者环回口或者阵列波导光栅类器件的上路口。
4.根据权利要求1所述的备用光通道性能检测方法，其特征在于，所述光源发生器中的所述光滤波器和所述耦合器由波长选择开关替换，所述光放大器接入所述波长选择开关的上路口，所述可调谐激光器接入所述波长选择开关的环回口。
5.根据权利要求1或4所述的备用光通道性能检测方法，其特征在于，所述光放大器为掺饵光纤放大器。
6.根据权利要求1所述的备用光通道性能检测方法，其特征在于，所述配置检测光源，包括：
获取所述备用光通道的数量；
选取一个所述备用光通道作为待测光通道，选取所述待测光通道对应的波长作为所述待测波长，并选取其余所述备用光通道对应的波长作为所述填充波长。
7.根据权利要求6所述的备用光通道性能检测方法，其特征在于，依次选取所述所述备用光通道中的一个作为所述待测光通道，直到未被检测的所述备用光通道的数量为零。
8.根据权利要求1所述的备用光通道性能检测方法，其特征在于，所述配置检测光源步骤之后，还包括：
打开所述待测光路中的光开关和波长选择开关，以使所述检测光源从所述本地节点到达所述端节点。
9.根据权利要求1所述的备用光通道性能检测方法，其特征在于，所述光标签检测点部署于所述待测光路中的光放大板和接收端。
10.一种OTN网络的备用光通道性能检测系统，其特征在于，包括：
本地节点；
端节点；
待测光路，所述待测光路用于连接所述本地节点与所述端节点；
光源发生器，所述光源发生器配置于可达所述待测光路的空闲端口，所述光源发生器包括光放大器、光滤波器、可调谐激光器和耦合器，所述光放大器与所述光滤波器级联后通过所述耦合器与所述可调谐激光器耦合；所述光源发生器用于配置检测光源，所述检测光源包括待测波长和填充波长，所述待测波长由所述可调谐激光器产生，所述填充波长由所述光放大器和所述光滤波器产生；
光标签检测点，所述光标签检测点位于所述待测光路中，所述光标签检测点用于对所述待测波长的光功率进行测量以得到所述待测波长对应的备用光通道的光性能。
11.根据权利要求10所述的备用光通道性能检测系统，其特征在于，所述空闲端口为所述本地节点的端口或者为在异地节点可达所述待测光路的端口。
12.根据权利要求10所述的备用光通道性能检测系统，其特征在于，所述空闲端口为光开关、波长选择开关的上路口或者环回口、耦合器类的合波器的上路口或者环回口或者阵列波导光栅类器件的上路口。
13.根据权利要求10所述的备用光通道性能检测系统，其特征在于，所述光源发生器中的所述光滤波器和所述耦合器由波长选择开关替换，所述光放大器接入所述波长选择开关的上路口，所述可调谐激光器接入所述波长选择开关的环回口。
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