CN116106666A - 一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块 - Google Patents

一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块 Download PDF

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Abstract

本申请涉及电路技术领域，尤其涉及一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，包括：开关调试元件矩阵电路模块、可编程存取芯片和用户指令端；开关调试元件矩阵电路模块包括开关控制模块与N路调试元件矩阵电路，开关控制模块与N路调试元件矩阵电路连接，用于控制N路调试元件矩阵电路，N路调试元件矩阵电路用于通过开关控制模块实现元件值的切换，可编程存取芯片与开关控制模块连接，用于控制开关控制模块的通道切换，用户指令端与可编程存取芯片连接，用于向可编程芯片给定地址信息。本申请有助于节省调试时间以及提高产品的可靠性。

Description

一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块
技术领域
本申请涉及电路技术领域，尤其涉及一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块。
背景技术
射频电路是指工作频率为射频频率的电路，现在移动通信、全球定位、无线局域网、射频识别等无线通信系统以及高速数字系统都涉及到射频电路的设计。随着频率的升高、相应的电磁波的波长变得可与分立元件的尺寸相比时，电阻、电容、电感这些元件的电响应将开始偏离它们的理想频率特性，这时，普通的电路分析方法已不适用。一般认为，当频率高于30MHz时，电路的设计就需要考虑射频电路理论，而射频电路理论应用的典型频段为几百MHz至4GHz，并不断向更高的频率延伸。
众所周知的是，信号在传输过程中会因为线缆距离超长、线缆类型不正确以及接头松动等原因导致信号衰减，相关技术中，在进行射频电路设计过程时，各个集成芯片间往往是通过匹配电路进行阻抗匹配，从而达到降低各集成芯片间级联时信号传输损耗的效果。
针对上述相关技术，发明人认为，匹配电路中的元件值需要设计人员反复手动焊接调试后才能确定最终值，这不仅增加了调试时长，也容易出现因虚焊等原因导致出现短路或断路现象，造成元器件损毁。
发明内容
为了有助于节省调试时间以及提高产品的可靠性，本申请提供一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块。
一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，采用如下的技术方案：
一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，包括：
开关调试元件矩阵电路模块、可编程存取芯片和用户指令端；所述开关调试元件矩阵电路模块包括开关控制模块与N路调试元件矩阵电路，所述开关控制模块与所述N路调试元件矩阵电路连接，用于控制所述N路调试元件矩阵电路，所述N路调试元件矩阵电路用于通过所述开关控制模块实现元件值的切换，所述可编程存取芯片与所述开关控制模块连接，用于控制所述开关控制模块的通道切换，所述用户指令端与所述可编程存取芯片连接，用于向所述可编程芯片给定地址信息。
通过采用上述技术方案，通过开关控制模块控制N路调试元件矩阵电路实现多种调试元件值的切换，选择一个集成可编程存取芯片进行地址信号存入，控制信号输出，通过可编程存取芯片完成将N路调试元件矩阵电路不同调试元件值存入芯片中，通过不同地址信息，实现N路调试元件矩阵电路调试元件值的精准可调，从而有助于节省调试时间以及提高产品的可靠性。
可选的，所述开关控制模块包括输入开关控制单元和输出开关控制单元，所述输入开关控制单元与所述N路调试元件矩阵电路的输入端相连，所述输出开关控制单元与所述N路调试元件矩阵电路的输出端相连。
通过采用上述技术方案，通过将输入开关控制单元与N路调试元件矩阵电路的输入端相连，以及将输出开关单元分别与N路调试元件矩阵电路的输出端相连，从而有助于切换调试值种类与开关芯片切换通道数量。
可选的，还包括判断模块和选择模块，所述判断模块用于判断单次被接入所述N路调试元件矩阵电路的元器件个数并生成判断结果，所述判断模块还用于将所述判断结果发送至所述选择模块，所述选择模块用于根据从所述判断模块获取到的判断结果选择使用集成电路开关芯片或使用开关矩阵电路。
通过采用上述技术方案，先通过判断模块判断出在进行电路设计过程中，需要单次被接入所述N路调试元件矩阵电路的元器件个数，选择模块再根据单次被接入所述N路调试元件矩阵电路的元器件个数选择集成电路开关芯片或使用开关矩阵电路，根据实际需求选择不同集成电路开关芯片或使用开关矩阵电路，有助于节省调试时间以及提高产品的可靠性。
可选的，所述输入开关控制单元和所述输出开关控制单元包括集成电路开关芯片和开关矩阵电路，所述集成电路开关芯片用于将单个元器件接入所述N路调试元件矩阵电路，所述开关矩阵电路用于将多个元器件并联接入所述N路调试元件矩阵电路。
通过采用上述技术方案，当采用集成电路开关芯片作为输入开关控制单元和输出开关控制单元时，切换调试值种类与开关芯片切换通道数为N=2m种，当采用开关矩阵电路作为输入开关控制单元和输出开关控制单元，切换调试值种类与开关芯片切换通道数为种，从而有助于通过设置不同地址信息，实现N路调试元件矩阵电路调试元件值的精准可调，进而有助于节省调试时间以及提高产品的可靠性。
可选的，所述N路调试元件矩阵电路包括N个电气元件，所述N个电气元件分别与所述输入开关控制单元以及所述输出开关控制单元连接，所述N个电气元件相互并联，其中N=2m，m为正整数。
通过采用上述技术方案，选择不同的电气元器件进行并联，从而得到不同的调试元件值，从而有助于提高产品的可靠性。
可选的，所述可编程存取芯片具有存数据状态、取数据状态、调试状态以及复位状态，当所述可编程存取芯片处于所述存数据状态时，将芯片数据位上调试元件值存入芯片；当所述可编程存取芯片处于所述取数据状态时，通过控制所述地址信息实现所述调试元件值可调矩阵电路模块对所述调试元件值进行精准调试；当所述可编程存取芯片处于所述调试状态时，对所述调试元件值可调矩阵电路模块进行所述调试元件值调试验证；当可编程存取芯片处于复位状态时，将所述可编程存取芯片进行复位设置。
通过采用上述技术方案，通过选择可编程存取芯片的不同状态，进行不同的操作，从而有助于提高产品的可靠性。
可选的，还包括状态获取模块、状态调节模块和调节指令发送模块，所述状态获取模块包括第一状态选择模块和第二状态选择模块；
所述第一状态获取模块用于获取所述可编程存取芯片的目标状态，所述第一状态获取模块还用于将所述可编程存取芯片的目标状态发送至状态调节模块，所述第二状态获取模块用于获取所述可编程存取芯片的当前状态，所述第二状态获取模块还用于将所述可编程存取芯片的当前状态发送至状态调节模块；
所述状态调节模块用于接收所述第一状态获取模块发送的可编程存取芯片的目标状态和用于接收所述第二状态获取模块发送的可编程存取芯片的当前状态，所述状态调节模块还用于在获取到所述调节指令发送模块发送的状态调节指令后，将所述可编程存取芯片的当前状态调节为目标状态；所述调节指令发送模块用于向所述状态调节模块发送装调节指令。
通过采用上述技术方案，第一状态获取模块和第二状态获取模块分别获取可编程存取芯片的目标状态和当前状态，状态调节模块在获取到调节指令发送模块发送的状态调节指令后，将可编程存取芯片的当前状态调节为目标状态，从而根据实际需实现求可编程存取芯片的状态调节，有助于节省电路设计人员反复手动调试的时间也有助于防止因人为操作导致状态调节出现错误等情况发生，从而有助于提高产品的可靠性。
可选的，还包括智能测试模块，所述智能测试模块包括智能测试笔，所述智能测试笔用于根据待测试电路的电路结构和测试点智能选择电感或者电容。
通过采用上述技术方案，智能测试笔用于根据待测试电路的电路结构和测试点智能选择电感或者电容，有助于节省人工选择的时间。
可选的，所述用户指令端包括液晶显示器以及上位机。
通过采用上述技术方案，用户使用用户指令端时更加便捷。
可选的，调试元件包括芯片、分布参数和集总参数形式的电容或电感。
综上所述，本申请包括以下有益技术效果：
通过开关控制模块控制N路调试元件矩阵电路实现多种调试元件值的切换，选择一个集成可编程存取芯片进行地址信号存入，控制信号输出，通过可编程存取芯片完成将N路调试元件矩阵电路不同调试元件值存入芯片中，通过不同地址信息，实现N路调试元件矩阵电路调试元件值的精准可调，从而有助于节省调试时间以及提高产品的可靠性。
附图说明
图1是本申请实施例一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块的模块图。
附图标记说明：
1、开关调试元件矩阵电路模块；11、开关控制模块；12、N路调试元件矩阵电路；2、可编程存取芯片；3、用户指令端；4、判断模块；5、选择模块；6、状态获取模块；61、第一状态获取模块；62、第二状态获取模块；7、状态调节模块；8、调节指令发送模块；9、智能测试模块。
具体实施方式
本申请公开了一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块。
参照图1，一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，包括开关调试元件矩阵电路模块1、可编程存取芯片2和用户指令端3；开关调试元件矩阵电路模块1包括开关控制模块11与N路调试元件矩阵电路12，开关控制模块11与N路调试元件矩阵电路12连接，开关控制模块11包括输入开关控制单元和输出开关控制单元，输入开关控制单元与N路调试元件矩阵电路12的输入端相连，输出开关控制单元与N路调试元件矩阵电路12的输出端相连，输入开关控制单元与输出开关控制单元共同用于控制N路调试元件矩阵电路12。
一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，还包括判断模块4和选择模块5，所述判断模块4用于判断单次被接入所述N路调试元件矩阵电路12的元器件个数并生成判断结果，所述判断模块4还用于将所述判断结果发送至所述选择模块5，所述选择模块5用于根据从所述判断模块4获取到的判断结果选择使用集成电路开关芯片或使用开关矩阵电路。
具体的，本实施例中，判断模块4和选择模块5连接，选择模块5分别与连接集成电路开关芯片和使用开关矩阵电路连接，连接方式可以为电连接或网络连接。
输入开关控制单元和输出开关控制单元还包括集成电路开关芯片和开关矩阵电路，由其控制位控制切换各通道导通，采用集成电路开关芯片作为输入开关控制单元和输出开关控制单元，切换调试值种类与开关芯片切换通道数为N=2m种，该模式电路模块调试元件值输出主要决定单个元器件（C1至Cn或者L1至Ln中之一）；采用开关矩阵电路作为输入开关控制单元和输出开关控制单元，切换调试值种类与开关芯片切换通道数为种，该模式电路模块调试元件值输出主要决定m个元器件并联接入电路值（C1至Cn或者L1至Ln中之m个），通过设置不同地址信息，实现N路调试元件矩阵电路12调试元件值的精准可调，从而有助于节省调试时间以及提高产品的可靠性。
输入开关控制单元和输出开关控制单元依据电路工作耐受功率要求选择合适的芯片或者电路进行设计，可以采用集成电路开关芯片作为开关控制单元和输出开关控制单元电路的设计，选择1分8开关或1分16等形式开关，对应所选择的开关类型来选择N路调试元件矩阵电路12的种类数量进行级联来完成；也可以采用开关矩阵电路作为输入开关控制单元和输出开关控制单元电路的设计，则需要完成单通道开关电路设计，对应所确定N路调试元件种类进行开关矩阵电路设计，并与N路调试元件矩阵电路12级联完成。
N路调试元件矩阵电路12包括N个电气元件，N个电气元件分别与输入开关控制单元以及输出开关控制单元连接，N个电气元件相互并联，其中，电气元件包括电容和电感，N=2m，其中m为正整数，开关矩阵电路用于将多个元器件并联接入N路调试元件矩阵电路12N路调试元件矩阵电路12用于通过开关控制模块11实现元件值的切换。
可编程存取芯片2包括地址端、存取控制端和数据端，数据端与开关控制模块11连接，用于控制开关控制模块11的通道切换；地址端以及存取控制端与用户指令端3连接，用于获取并存取用户指令端3给定的地址信息。用户通过存取控制端控制可编程存取芯片2的状态，当可编程芯片为存数据状态时，用户可以将可编程存取芯片2数据端调试后的开关调元器件矩阵电路调试元件值存入芯片中；当可编程芯片为取数据状态时，用户通过不同地址信息，实现调试元件值可调矩阵电路模块调试元件值的精准可调。
用户指令端3与可编程存取芯片2连接，用于向可编程芯片给定地址信息，用户指令端3包括液晶显示器以及上位机。
选择一个集成可编程存取芯片2进行地址信号存入，控制信号输出，通过存取控制端完成将N路调试元件矩阵电路12不同值存入芯片中，最后模块可根据用户指令输出适当的电容值或者电感值。
当可编程存取芯片2处于存数据状态时，将芯片数据位上调试元件值存入芯片；当可编程存取芯片2处于取数据状态时，通过控制地址信息实现调试元件值可调矩阵电路模块对调试元件值进行精准调试；当可编程存取芯片2处于调试状态时，对调试元件值可调矩阵电路模块进行调试元件值调试验证；当可编程存取芯片2处于复位状态时，将可编程存取芯片2进行复位设置。
一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，还包括状态获取模块6、状态调节模块7、调节指令发送模块8以及智能测试模块9，状态获取模块6包括第一状态选择模块61和第二状态选择模块62；
第一状态获取模块61用于获取可编程存取芯片2的目标状态，第一状态获取模块61还用于将可编程存取芯片2的目标状态发送至状态调节模块7，第二状态获取模块62用于获取可编程存取芯片2的当前状态，第二状态获取模块62还用于将可编程存取芯片2的当前状态发送至状态调节模块7；
状态调节模块7用于接收第一状态获取模块61发送的可编程存取芯片2的目标状态和用于接收第二状态获取模块62发送的可编程存取芯片2的当前状态，状态调节模块7还用于在获取到调节指令发送模块8发送的状态调节指令后，将可编程存取芯片2的当前状态调节为目标状态；调节指令发送模块8用于向状态调节模块7发送装调节指令。
智能测试模块9包括智能测试笔，智能测试笔用于根据待测试电路的电路结构和测试点智能选择电感或者电容。
具体的，本实施例中，状态获取模块6与状态调节模块7连接，状态调节模块7与可编程存取芯片2以及调节指令发送模块8连接，连接方式可以为电连接或网络连接。
本申请实施例一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块的实施原理为：开关调试元件矩阵电路模块1、可编程存取芯片2和用户指令端3；开关调试元件矩阵电路模块1包括开关控制模块11与N路调试元件矩阵电路12，开关控制模块11与N路调试元件矩阵电路12连接，用于控制N路调试元件矩阵电路12，N路调试元件矩阵电路12用于通过开关控制模块11实现元件值的切换，可编程存取芯片2与开关控制模块11连接，用于控制开关控制模块11的通道切换，用户指令端3与可编程存取芯片2连接，用于向可编程芯片给定地址信息，通过开关控制模块11控制N路调试元件矩阵电路12实现多种调试元件值的切换，选择一个集成可编程存取芯片2进行地址信号存入，控制信号输出，通过可编程存取芯片2完成将N路调试元件矩阵电路12不同调试元件值存入芯片中，通过不同地址信息，实现N路调试元件矩阵电路12调试元件值的精准可调，从而有助于节省调试时间以及提高产品的可靠性。
以上均为本申请的较佳实施例，并非依此限制本申请的保护范围，故：凡依本申请的结构、形状、原理所做的等效变化，均应涵盖于本申请的保护范围之内。

Claims (10)

1.一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，包括：开关调试元件矩阵电路模块(1)、可编程存取芯片(2)和用户指令端(3)；所述开关调试元件矩阵电路模块(1)包括开关控制模块(11)与N路调试元件矩阵电路(12)，所述开关控制模块(11)与所述N路调试元件矩阵电路(12)连接，用于控制所述N路调试元件矩阵电路(12)，所述N路调试元件矩阵电路(12)用于通过所述开关控制模块(11)实现元件值的切换，所述可编程存取芯片(2)与所述开关控制模块(11)连接，用于控制所述开关控制模块(11)的通道切换，所述用户指令端(3)与所述可编程存取芯片(2)连接，用于向所述可编程芯片给定地址信息。
2.根据权利要求1所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，所述开关控制模块(11)包括输入开关控制单元和输出开关控制单元，所述输入开关控制单元与所述N路调试元件矩阵电路(12)的输入端相连，所述输出开关控制单元与所述N路调试元件矩阵电路(12)的输出端相连。
3.根据权利要求2所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，还包括判断模块(4)和选择模块（5），所述判断模块(4)用于判断单次被接入所述N路调试元件矩阵电路(12)的元器件个数并生成判断结果，所述判断模块(4)还用于将所述判断结果发送至所述选择模块（5），所述选择模块（5）用于根据从所述判断模块(4)获取到的判断结果选择使用集成电路开关芯片或使用开关矩阵电路。
4.根据权利要求2所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，所述输入开关控制单元和所述输出开关控制单元包括集成电路开关芯片和开关矩阵电路，所述集成电路开关芯片用于将单个元器件接入所述N路调试元件矩阵电路(12)，所述开关矩阵电路用于将多个元器件并联接入所述N路调试元件矩阵电路(12)。
5.根据权利要求1所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，所述N路调试元件矩阵电路(12)包括N个电气元件，所述N个电气元件分别与所述输入开关控制单元以及所述输出开关控制单元连接，所述N个电气元件相互并联，其中N=2m，m为正整数。
6.根据权利要求1所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，所述可编程存取芯片(2)具有存数据状态、取数据状态、调试状态以及复位状态，当所述可编程存取芯片(2)处于所述存数据状态时，将芯片数据位上调试元件值存入芯片；当所述可编程存取芯片(2)处于所述取数据状态时，通过控制所述地址信息实现所述调试元件值可调矩阵电路模块对所述调试元件值进行精准调试；当所述可编程存取芯片(2)处于所述调试状态时，对所述调试元件值可调矩阵电路模块进行所述调试元件值调试验证；当可编程存取芯片(2)处于复位状态时，将所述可编程存取芯片(2)进行复位设置。
7.根据权利要求6所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，还包括状态获取模块(6)、状态调节模块(7)和调节指令发送模块(8)，所述状态获取模块(6)包括第一状态选择模块(61)和第二状态选择模块(62)；
所述第一状态获取模块(61)用于获取所述可编程存取芯片(2)的目标状态，所述第一状态获取模块(61)还用于将所述可编程存取芯片(2)的目标状态发送至状态调节模块(7)，所述第二状态获取模块(62)用于获取所述可编程存取芯片(2)的当前状态，所述第二状态获取模块(62)还用于将所述可编程存取芯片(2)的当前状态发送至状态调节模块(7)；
所述状态调节模块(7)用于接收所述第一状态获取模块(61)发送的可编程存取芯片(2)的目标状态和用于接收所述第二状态获取模块(62)发送的可编程存取芯片(2)的当前状态，所述状态调节模块(7)还用于在获取到所述调节指令发送模块(8)发送的状态调节指令后，将所述可编程存取芯片(2)的当前状态调节为目标状态；所述调节指令发送模块(8)用于向所述状态调节模块(7)发送装调节指令。
8.根据权利要求1所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，还包括智能测试模块（9），所述智能测试模块（9）包括智能测试笔，所述智能测试笔用于根据待测试电路的电路结构和测试点智能选择电感或者电容。
9.根据权利要求1所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，所述用户指令端(3)包括液晶显示器以及上位机。
10.根据权利要求1所述的一种基于集总参数调试元件值可调矩阵电路模块，其特征在于，调试元件包括芯片、分布参数和集总参数形式的电容或电感。
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