CN116087672A - 一种充电检测的方法和装置 - Google Patents
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Abstract
本申请实施例公开了一种充电检测的方法和装置,应用于无线充电技术领域。该方法包括:通过所述检测模块检测电路参数,所述电路参数用于表征所述线圈和所述电容之间的电压值或电流值;根据所述电路参数确定所述线圈的品质因数Q值;利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第一故障类型,所述第一故障类型是指因所述线圈和/或所述电容导致的故障。本申请实施例的充电检测方法无需拆机逐一进行排查,就能够定位出故障发生模块,并且也不需要配置额外的检测工具,有助于提升质检效率。
Description
技术领域
本申请涉及可穿戴设备技术领域,并且具体地,涉及一种充电检测的方法和装置。
背景技术
无线充电技术在越来越多的电子产品上得到应用。电子产品的无线充电功能,是通过部署在其硬件结构中的无线充电系统实现的。无线充电系统通常会包括一些关键电子元器件(比如电容、电感等)。在用户的日常使用中,会因为电子产品的跌落、静电或其他损害场景造成无线充电系统异常。目前,在电子设备的无线充电功能失效时,只能通过拆机这种简单的方式进行故障排查,维修效率低。因此,亟待提出一种解决方案解决该问题。
发明内容
有鉴于此,本申请提供了一种充电检测方法、装置、电子设备、计算机可读存储介质和计算机程序产品,不需要拆机就能够定位无线充电系统的故障问题。
第一方面,提供了一种充电检测的方法,所述方法应用于电子设备,所述电子设备包括检测模块和充电电路,所述充电电路包括线圈和电容,所述方法包括:
通过所述检测模块检测电路参数,所述电路参数用于表征所述线圈和所述电容之间的电压值或电流值;
根据所述电路参数确定所述线圈的品质因数Q值;
利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第一故障类型,所述第一故障类型是指因所述线圈和/或所述电容导致的故障。
基于上述技术方案,首先通过检测线圈与电容之间的电路参数,然后利用检测到的电路参数确定线圈的品质因数Q值,最后利用Q值确定充电电路的故障类型为第一故障类型,第一故障类型是指因线圈和/或电容导致的故障。相比于拆机或借助外部检测工具逐一排查故障的方式,利用Q值进行故障分析的方式无需拆机逐一排查故障,就能够定位出故障发生模块,并且也不需要配置额外的检测工具,有助于提升质检效率。
另外,本申请实施例的电子设备支持无线反充功能。对于电子设备自身导致的故障,不需要依赖无线充电接收端(RX设备)就能在第一时间发现无线充电故障,并能够进行故障定位。比如,对于平板电脑,无需依赖其充电笔就可以进行故障检测。
在一种可能的实现方式中,利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型,包括:
响应于所述Q值小于或等于第一门限值,确定所述充电电路的故障类型为所述第一故障类型。
引入第一门限值在于判断Q值是否足够小。当检测到Q值足够小时,可以确定故障类型为第一故障类型。
在一种可能的实现方式中,所述线圈导致的故障包括:所述线圈断路或短路导致的故障;和/或,
所述电容导致的故障包括:所述电容断路或短路。
在一种可能的实现方式中,所述方法还包括:
利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,所述第二故障类型是指因金属环境导致的故障,所述金属环境是指所述线圈周围的金属结构件构成的金属环境。
需要说明的是,因金属环境导致的故障是指电子设备的内部比较靠近线圈的金属结构件构成的金属环境导致的故障。
在一种可能的实现方式中,利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型,包括:
响应于所述Q值大于第一门限值,利用所述Q值和第一预设值确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,所述第一预设值与所述线圈相关。
在一种可能的实现方式中,利用所述Q值和第一预设值确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,包括:
计算所述Q值与所述第一预设值的差值;
响应于所述差值为负数,且所述差值的绝对值大于或等于第二门限值,确定所述充电电路的故障类型为所述第二故障类型。
在一种可能的实现方式中,所述方法还包括:
响应于所述差值为负数,且所述差值的绝对值小于所述第二门限值,将所述第一预设值更新为所述Q值。
因此,因此当检测到的Q值小于第二门限值时,可利用该Q值对第一预设值进行更新,即将第一预设值替换为检测到的Q值,从而实现对预设Q值的校准。
在一种可能的实现方式中,所述电路参数为电压值(即所述线圈和所述电容之间的电压值);所述根据所述电路参数确定所述线圈的品质因数Q值,包括:
获取第一时刻的电压值和第二时刻的电压值;
基于所述第一时刻的电压值和所述第二时刻的电压值的比值,确定所述Q值。
在一种可能的实现方式中,可选地,所述方法还包括:
显示第一界面,所述第一界面包括第一窗口,所述第一窗口用于提示充电电路的故障类型。所述故障类型为第一故障类型或第二故障类型。
在确定充电电路的故障为第一故障类型或第二故障类型时,可以通过界面向用户发出故障提示信息,以便用户及时到维修点去维修。这样,在发生问题后可以尽早发现故障问题,无需进行无效得无线充电功能尝试。并且,基于故障提示信息,可告知维修者具体的故障问题,便于维修人员迅速定位故障点,提高维修效率。
第二方面,提供了一种充电检测的装置,包括用于执行第一方面中任一实现方式中的方法的单元。该装置可以是电子设备,也可以是电子设备内的芯片。该装置包括输入单元、显示单元和处理单元。
该处理单元可以是处理器,该输入单元可以是通信接口,该显示单元可以是图形处理模块和屏幕;该电子设备还可以包括存储器,该存储器用于存储计算机程序代码,当该处理器执行该存储器所存储的计算机程序代码时,使得该终端执行第一方面中的任一种方法。
当该装置是电子设备内的芯片时,该处理单元可以是芯片内部的逻辑处理单元,该输入单元可以是输入接口、管脚或电路等,该显示单元可以是芯片内部的图形处理单元;该芯片还可以包括存储器,该存储器可以是该芯片内的存储器(例如,寄存器、缓存等),也可以是位于该芯片外部的存储器(例如,只读存储器、随机存取存储器等);该存储器用于存储计算机程序代码,当该处理器执行该存储器所存储的计算机程序代码时,使得该芯片执行第一方面的任一种方法。
第三方面,提供了一种计算机可读存储介质,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序代码,当所述计算机程序代码被可穿戴设备运行时,使得该电子设备执行第一方面中的任一种方法;或者,当所述计算机程序代码被电子设备运行时,使得该电子设备执行第一方面中的任一种方法。
第四方面,提供了一种计算机程序产品,所述计算机程序产品包括:计算机程序代码,当所述计算机程序代码被电子设备运行时,使得该电子设备执行第一方面中的任一种方法;或者,当所述计算机程序代码被电子设备运行时,使得该电子设备执行第一方面中的任一种方法。
附图说明
图1是本申请实施例的应用场景的一个示例图;
图2是本申请实施例的充电电路的一个示意图;
图3是本申请实施例的充电电路的波形震荡示例图;
图4是本申请实施例的一个充电检测的方法流程图;
图5是本申请实施例在发生断路时充电电路的等效电路图;
图6是本申请实施例在发生短路时充电电路的等效电路图;
图7是本申请实施例在金属环境恶化时充电电路的等效电路图;
图8是本申请实施例的判断充电故障类型一个示例逻辑流程图;
图9是根据本申请实施例的一个界面提示的示例图;
图10是根据本申请实施例的另一个界面提示的示例图;
图11是根据本申请实施例的充电装置的一个示意性框图;
图12是根据本申请实施例的电子设备的结构示例图。
具体实施方式
下面将结合附图,对本申请实施例中的技术方案进行描述。
本申请实施例适用于具备无线充电功能和/或无线放电功能的电子设备。比如,电子设备可以同时支持无线充电功能和无线放电功能。可选地,该电子设备可以是终端设备。终端设备包括但不限于平板电脑、手机、无线通信设备、可穿戴设备、远程终端、移动设备、用户终端、具有无线通信功能的手持设备、计算设备或连接到无线调制解调器的其它处理设备、车载设备以及未来5G或6G网络中的终端设备等。
可选地,本申请实施例的电子设备支持无线反充功能,即电子设备可以作为无线充电的充电座,以为电子设备的配件或其他电子设备进行无线反向充电。比如,平板为手写笔、手环或无线耳机等配件进行充电。又比如,手机作为无线充电的充电座,给支持无线充电的电子设备进行充电。
示例性地,本申请实施例的电子设备包括无线充电发射器(可以是TX芯片)。
示例性地,本申请实施例的电子设备包含无线充电接收器(可以是RX芯片)。
图1示出了一个包含无线充电系统的电子设备的结构图。如图1所示,电子设备中包括无线充电系统。无线充电系统的关键器件包括TX芯片,谐振电容,线圈。其中,TX芯片和谐振电容设置在PCB基板上。线圈与PCB相连,其连接手段包括但不限于以下连接方式:弹片、触点、焊点、BTB等连接器。线圈周边的结构件、中框或其他金属所构成的环境为金属环境。金属环境对线圈的性能存在一定影响。
应理解,图1中示出的结构仅是示例描述,本申请实施例并不限于此。比如,电子设备中可包括其他部件或结构件。又比如,无线充电系统中还可以包括其他电子器件。
目前在电子设备的无线充电系统发生故障后,只能通过拆机进行故障定位,维修效率极低。
有鉴于此,本申请实施例提供了一种充电检测的方法和装置,通过获取线圈的品质因数Q值,并利用Q值进行故障分析,可得知无线充电系统是因何种原因导致的故障,在不需要额外配套工具的情况下就能够识别出无线充电系统的故障类型,从而准确定位出发生故障的模块,有助于提高质检或维修效率。
为便于理解,首先结合图2中的充电电路对本申请实施例涉及的Q值进行简单介绍。
图2示出了应用于电子设备的无线充电系统的一个简化示意图。可选地,图2中示出的无线充电系统可以应用于图1中示出的电子设备。图2中(1)示出的是充电电路与图2中(2)示出的充电电路包括的电子器件相同。以图2中(1)示出的充电电路为例,如图2中(1)所示,无线充电系统包括供电电源(VIN)、TX芯片、谐振电容(简称电容)、谐振线圈(简称线圈)以及检测模块。TX芯片中包括4个场效应管MOS管。TX芯片中封装的元件的连接关系可以参考图2中的示意。比如,图2中(1)示出的是N沟道增强型MOS管,分别为Q1、Q2、Q3和Q4。VIN的正极分别与Q1和Q2相连,VIN的负极分别与Q3和Q4相连。电容的一端与线圈相连,另一端与Q1相连。线圈的一端与Q4相连,另一端与电容相连。
可选地,检测模块可以独立设置,也可以集成在TX芯片中,对此不作具体限定。
如图2中(1)所示,检测模块设置在电容和线圈之间,用于检测电容和线圈之间的电压或电流值,以获得Q值。Q值是线圈的品质因数,或者说品质因子。Q值通常与以下一项或多项因素相关:线圈的几何尺寸、匝数以及铁芯材料。
例如,在TX芯片上电后,通过两个阶段循环往复,可以实现周期性的Q值检测。下述两个阶段也可称作Q值检测阶段。Q值检测阶段是指发生在充电之前或者需要进行Q值检测时的阶段。如果Q值检测通过(即确定充电电路不存在故障时),即可进入充电阶段。图2中(1)与图2中(2)示出是检测电路参数时充电电路的两个阶段。具体即,图2中(1)示出的充电电路是Q1和Q4同时导通的阶段,图2中(2)的充电电路中Q3和Q4同时导通的阶段。
第一个阶段,如图2中(1)所示,TX芯片控制充电电路中的Q1与Q4同时导通,且Q2和Q3关断。此时,充电电路等效为供电电源、Q1、电容、线圈以及Q4组成的回路。供电电源通过Q1和Q4给电容和线圈充电,直到达到平衡状态。
第二个阶段,如图2中(2)所示,TX芯片控制充电电路中的Q3和Q4导通,且Q1和Q2关断。此时,充电电路等效为Q3、电容、线圈和Q4组成的回路,或者说等价于一个LCR的震荡电路。线圈和电容上的能量随着Q3和Q4在内部振荡。并且,由于电容本身存在等效串联电阻ESR,线圈存在电阻,且靠近线圈的金属环境也产生涡流损耗等,这些都会引入阻抗,从而导致线圈和电容上的能量将呈现为逐步衰减的过程。因此在第二个阶段,基于检测模块检测到的电容和线圈之间的电压或电流,绘制电压或电容的波形为震荡曲线。震荡曲线通常包含多个波峰和波谷。震荡曲线的下降幅度是与Q值息息相关的。
另外,在正常充电阶段,TX芯片控制充电电路中的Q1与Q4同时导通。
在本申请实施例中,基于上述震荡曲线的两个波峰值可以计算当前情况下的Q值。以下结合图3介绍基于震荡曲线确定Q值的原理。
图3示出了电容和线圈之间的电压值的波形变化示意图。如图3所示,横坐标为时间t,纵坐标为电压值。具体地,图3中的F(t)用于表示不同时间点下的波峰值(比如某个周期中的最高电压值)。应理解,图3仅是示出了震荡曲线的趋势图,可通过MATLAB等其他仿真软件进行仿真,本申请实施例不限于此。
以相邻周期的两个波峰值为例,通过F(nT)与F((n-1)T)的比值,可计算Q值。
(1)
其中,F(nT)与F((n-1)T)是相邻周期的波峰值;T表示时间周期,,且,即;,R是L与C本身自带的阻抗,;将T、和代入上式(1),并对上式进行化简可得到如下关系(2):
(2)
其中,由于Q值满足下式(3):
(3)
因此,将上式(3)代入上式(2)可得下式(4):
(4)
基于上式(4),Q值满足下式(5):
(5)
因此,在获得相邻波峰的电压值后,可计算两个电压值的比值,并将比值代入上式(5)进行计算,即可获得Q值。
可以理解,上面是以相邻周期的波峰值为例进行描述,本申请实施例并不限于此。事实上,也可利用间隔多个周期的波峰值确定Q值。比如,如果间隔个周期,那么基于间隔个周期的两个波峰值计算的Q值为:;其中,指间隔个周期的两个波峰值的比值。
参考图4至图10,描述本申请实施例的充电检测的方法。
图4示出了本申请实施例的充电检测的方法400的示意性流程图。所述方法400应用于电子设备,电子设备包括充电电路和检测模块。所述充电电路包括线圈和电容。比如,充电电路和检测模块可以参考图2中示出的电路结构。如图4所示,所述方法400包括:
步骤410,通过检测模块检测电路参数,所述电路参数用于表征所述线圈和所述电容之间的电压值或电流值。
所述检测模块可以独立设置(比如,检测模块为设置在TX芯片外部的检测电路),也可以集成在充电芯片中,本申请实施例对此不作具体限定。在检测模块集成在充电芯片中时,充电芯片具备Q值检测功能。
通过检测模块检测电路参数的目的在于计算线圈的Q值。在本申请实施例中,电路参数可以指所述线圈的放电参数。
本申请实施例对检测模块的检测电路参数以获得Q值的时机不作具体限定。
一种可能的实现方式,可以是电子设备中的充电芯片(比如TX芯片)上电时进行检测,可随时得知充电电路的性能。
又一种可能的实现方式,可以是在预设时间或者说定期进行检测,无需频繁进行检测,可定期检测以获知充电电路的性能。
步骤420,根据所述电路参数确定所述线圈的品质因数Q值。
此处确定的Q值用于表征当前线圈的品质因数,可通过检测到的电路参数获得。
本申请实施例中的电子设备具备Q值检测功能,比如说电子设备中设置的TX芯片具备Q值检测功能,或者,电子设备中设置有检测电路用来检测电路参数以计算Q值。
可选地,作为一个可能的实现方式,Q值的确定可通过以下步骤实现:
通过所述检测模块检测第一时刻的电压和第二时刻的电压,所述第一时刻和所述第二时刻间隔;基于所述第一时刻的电压和所述第二时刻的电压的比值确定所述Q值。
比如,第一时刻的电压与第二时刻的电压为相邻周期的两个波峰值,Q值通过前述公式(5)获得,。第一时刻的电压与第二时刻电压的比值为。
步骤430,根据所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第一故障类型,所述第一故障类型是指因所述线圈和/或所述电容导致的故障。
第一故障类型也可以理解为线圈问题和/或电容问题。
可选地,所述线圈导致的故障包括:所述线圈断路或短路导致的故障;和/或,
所述电容导致的故障包括:所述电容断路或短路。
比如,充电电路的故障是因为线圈断路导致的。又比如,充电电路的故障是因为电容断路导致的。又比如,充电电路的故障是因为线圈短路导致的。又比如,充电电路的故障是因为电容短路导致的。可以理解,此处示出的故障示例也可以进行合理得组合,即充电电路的故障也可能是前述示出的部分或全部故障示例导致的。
需要说明的是,本申请实施例的充电检测方法的工作场景发生在未进行充电的阶段,不需要在充电过程中就可以进行故障识别。比如,在装配阶段在线实时检测无线充电功能是否存在故障。又比如,在工艺阶段或组装阶段或产线阶段检测电子设备的充电电路涉及的关键器件是否组装好,可以得知线圈是否装配好,电容是否损坏等。又比如,在用户使用电子设备时发生跌落时进行故障检测。
在本申请实施例中,首先通过检测线圈与电容之间的电路参数,然后利用检测到的电路参数确定线圈的品质因数Q值,最后利用Q值确定充电电路的故障类型为第一故障类型,第一故障类型是指因线圈和/或电容导致的故障,相比于目前拆机或借助外部检测工具逐一排查故障的方式,利用Q值进行故障分析的方式无需拆机逐一排查故障,就能够定位出故障发生模块,并且也不需要配置额外的检测工具,有助于提升质检效率。
另外,本申请实施例的电子设备支持无线反充功能。对于电子设备自身导致的故障,不需要依赖无线充电接收端(RX设备)就能在第一时间发现无线充电故障,并能够进行故障定位。比如,对于平板电脑,无需依赖其充电笔就可以进行故障检测。
以下描述利用Q值判断第一故障类型的具体实现方式。
可选地,作为一种可能的实现方式,步骤430包括:
响应于所述Q值小于或等于第一门限值,确定所述充电电路的故障类型为所述第一故障类型。
引入第一门限值在于判断Q值是否足够小。当检测到Q值足够小时,可以确定故障类型为第一故障类型。这是因为在Q值检测过程中,如果线圈短路或者断路,那么检测到电容与线圈之间的电压或电流基本维持不变,不会出现震荡或者衰减,比如,前述计算公式中的取值为0或者非常接近0,基于计算的Q值也为0。因此,通过比较Q值与第一门限值的大小关系,即可确定出充电电路的故障类型是否为第一故障类型。
一种可能的实现方式,可以将第一门限值设置为0或者非常接近0的数值。
应理解,上面仅是以第一门限值为例进行描述,本申请实施例并不限于此。事实上,也可以通过设置门限区间来判断是否为第一故障类型,比如,当Q值落入该门限区间,即可认为充电电路的故障类型为所述第一故障类型。
图5示出了发生断路时充电电路的等效电路图。如图5中(1)所示,线圈发生断路。如图5中(2)所示,电容发生断路。当线圈发生断路或者电容发生断路后,对于前述第二个阶段(即Q3和Q4导通,且Q1和Q2关断)的等效电路无法形成回路,检测模块检测到电容和线圈之间的电压值或电流值是恒定的,因此无法生成前述震荡衰减曲线的波形。基于前述分析,此时确定的Q值为0。
可以理解,发生断路的原因很多,包括但不限于:虚焊(即器件的焊点)、断线等线路故障。比如,用户在正常使用电子设备的过程中发生摔跌,导致无线充电系统的线圈焊点处摔端。又比如,经过长期使用,器件的线路或焊点发生老化剥离等现象。再比如,在生产工艺中在焊接过程中造成的虚焊。
图6示出了发生短路时充电电路的等效电路图。如图6中(1)所示,线圈发生短路,即线圈被短接,电流不通过线圈。如图6中(2)所示,电容发生短路,即电容被短接,电流不通过线圈。以线圈电容发生短路为例,对于前述第二个阶段(即Q3和Q4导通,且Q1和Q2关断)的等效电路虽然可以形成回路,但是由于缺少线圈模块,检测模块检测到电容和线圈之间的电压值或电流值不会出现震荡,因此也无法生成前述震荡衰减曲线的波形。基于前述分析,此时确定的Q值为0。类似地,电容发生短路后确定的Q值也为0。
可以理解,电容或线圈发生短路的原因也很多,本申请实施例对此不作限定。
比如,对于电容而言,因进入液体而导致电容发生短路;或者,在电子设备跌落或受到外力撞击而导致电容发生损坏时,无法继续工作;或者,电容周边温度过高导致电容发生短路。
又比如,对于线圈而言,因进入液体而导致线圈发生短路;或者,由于使用时间过长,导致线圈发生磨损或老化而引起短路;或者,当电子设备跌落导致线圈受到撞击或应力的作用下,造成线圈发生变形、位移或脱落而导致短路。
上述描述了基于Q值确定因电容和/或线圈导致的故障。除了判断出因电容和/或线圈导致的故障外,结合Q值还可以判断出因金属环境导致的故障。
可选地,作为一种可能的实现方式,所述方法还包括:
利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,所述第二故障类型是指因金属环境导致的故障,所述金属环境是指所述线圈周围的金属结构件构成的金属环境。
需要说明的是,因金属环境导致的故障是指电子设备的内部比较靠近线圈的金属结构件构成的金属环境导致的故障。本申请实施例的金属环境并非指的是电子设备外部是否有存在金属异物的金属环境(比如,电子设备与其他电子设备之间存在金属异物),而是指电子设备内部的金属环境。
示例性地,因金属环境导致的故障包括但不限于:装配工艺引起的金属环境恶化;电子设备掉落或损坏时使得线圈周围的金属结构件构成的金属环境恶化。
比如,电子设备因摔落而导致机体内部的金属结构件损坏或掉落或错位,掉落或损坏或错位的金属结构件比未摔落之前更靠近线圈,其构成的金属环境会吸收电磁场,从而导致线圈周围的金属环境带来比较大的阻抗,进而影响了充电功能。
由于金属环境恶化会带来额外的电阻,那么检测到电容与线圈之间的电压或电流对应的震荡波形的衰减速度会变快,导致实际检测到的Q值比预设Q值偏小。此处作统一说明,检测到的Q值具体是指基于检测到的电路参数确定的线圈的实际Q值,为便于描述,后续将利用“检测到的Q值”进行描述。
类似地,利用Q值判断因金属环境导致的故障也可以利用设定的阈值进行判断。
可选地,作为一种可能的实现方式,利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,包括:
响应于Q值大于第一门限值,利用所述Q值和第一预设值确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,所述第一预设值与所述线圈相关。
也就是说,在检测到的Q值不为0时,可以进一步比较检测到的Q值与预设Q值的大小关系,来判断是否为第二故障类型。
可选地,第一门限值可以是前文判断第一故障类型的第一门限值。比如,在检测到的Q值大于0时,说明此时充电电路未涉及前述第一故障类型,此时可进一步判断检测到的Q值与第一预设值的关系。
所述第一预设值可以是基于线圈本身(比如,材料,匝数,尺寸)确定的预设Q值或者说正常默认Q值。所述第一预设值可以在装配时预设在TX芯片中,以便后续与检测到的Q值做比较。预设Q值可以是基于先验值确定的,或者,也可以是事先基于线圈本身计算好的Q值。基于先验值确定预设Q值可以理解为:经过大量实验数据验证分析,在充电性能正常状况下的Q值,即在该预设Q值下电子设备的充电性能是可以正常工作的。
当电子设备发生跌落或其他原因时,可能会导致金属环境发生变化,从而导致Q值大小也发生变化。因此通过比较检测到的Q值与预设Q值间的大小关系,可以确定充电电路的故障类型是否为因金属环境导致的故障,即第二故障类型。
可选地,作为一种可能的实现方式,利用所述Q值和第一预设值确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,包括:
计算所述Q值与所述第一预设值的差值;
响应于所述差值为负数,且所述差值的绝对值大于或等于第二门限值,确定所述充电电路的故障类型为所述第二故障类型。
第二门限值用于约束检测到的Q值偏离预设Q值的程度。如果通过检测到的电路参数计算得到的Q值,远远小于预设Q值,已经超出可接受的范围,比如,二者的差值为负且差值的绝对值大于或等于第二门限值,那么认为此时充电电路发生了金属环境恶化导致的故障。
应理解,此处第二门限值与前述第一门限值并无联系,本申请实施例对二者的大小关系不作限定。
进一步地,可选地,作为一种可能的实现方式,在获得所述Q值与所述第一预设值的差值后,所述方法还包括:
响应于所述差值为负数,且所述差值的绝对值小于所述第二门限值,将所述第一预设值更新为所述Q值。
也就是说,为了保证第一预设值可基于实际环境进行更新,以便基于第一预设值和检测到的Q值更准确得判断故障类型,因此当检测到的Q值小于第二门限值时,可利用该Q值对第一预设值进行更新,即将第一预设值替换为检测到的Q值。比如,由于外部环境变化导致电子设备的器件出现热胀冷缩的情形,对检测到的Q值具备一定的影响,但是Q值的变化非常小,此时可以利用检测到的Q值覆盖之前的预设Q值,从而实现对预设Q值的校准。
为便于理解,以下结合图7描述金属环境恶化导致的故障。
图7示出了金属环境恶化时充电电路的等效电路图。如图7所示,由于金属环境发生恶化,因此会带来额外的阻抗。基于前述公式(3),在阻抗R越大,Q值越小。并且,额外带来的阻抗会加剧前述震荡波形的衰减,使得震荡波形的衰减速度变快。因此,如果确定出实际Q值比预设Q值偏小,且小于一定的门限值,那么可以认为此时是因金属环境恶化导致的充电故障。
为便于理解,图8示出了本申请实施例的判断充电故障类型一个示例逻辑流程图。应理解,图8的步骤中所涉及的术语或概念的描述可以参考前文。如图8所示,包括:
步骤1,TX芯片上电或者基于预设时长启动检测。
步骤2,计算Q值。
Q值的计算可参考前文实施例的描述,为了简洁此处不再赘述。
步骤3,判断Q值是否小于或等于第一门限值。如果Q值小于或等于第一门限值,执行步骤4;如果Q值不小于第一门限值,执行步骤5。
步骤4,确定充电电路的故障类型为第一故障类型。
步骤5,计算Q值与第一预设值的差值。
第一预设值的描述可以参考前文相关描述,此处不作赘述。
步骤6,判断差值是否为负数,且差值的绝对值大于或等于第二门限值。
如果差值为负数,且差值的绝对值大于或等于第二门限值,则执行步骤7,即确定充电电路的故障类型为第二故障类型;如果差值为负数,且差值的绝对值小于第二门限值,则执行步骤8。当然,如果差值为正数,说明此时在正常工作,或者说无线充电正常进行中。
步骤7,确定充电电路的故障类型为第二故障类型。
步骤8,利用Q值更新第一预设值。
综上所述,本申请实施例可以基于Q值区分不同的故障类型(包括:线圈或电容的短路、线圈或电容的断路、金属环境恶化),从而有的放矢得进行维修,即采用最小化的维修措施进行故障维修,极大提升了维修效率。
在本申请实施例中,如果判断出充电电路的故障类型时,电子设备还可以通过界面向用户发出提示,以便用户做出合适的响应。
可选地,所述方法还包括:
显示第一界面,所述第一界面包括第一窗口,所述第一窗口用于提示充电电路的故障类型。所述故障类型为第一故障类型或第二故障类型。
本申请实施例对第一界面不作具体限定。第一界面可能是用户正在使用过程时电子设备实时显示的界面,也可能是锁屏界面。
比如,在用户正在使用电子设备的过程中,可弹出窗口提示用户关注故障问题。又比如,在用户未使用电子设备的过程中,可亮屏弹出窗口提示用户关注故障问题。
也就是说,在确定充电电路的故障为第一故障类型或第二故障类型时,可以通过界面向用户发出故障提示信息,以便用户及时到维修点去维修。这样,在发生问题后可以尽早发现故障问题,无需进行无效得无线充电功能尝试。并且,基于故障提示信息,可告知维修者具体的故障问题,便于维修人员迅速定位故障点,提高维修效率。
应理解,向用户发生故障提示信息是一个可选的实现方式,本申请实施例并不限于此。事实上,在得到故障类型的具体内容后,也可以将定位的具体故障类型保存在电子设备中,便于后续质检人员获取相关故障信息,进行故障分析或维修。
为了便于理解,以下结合图9和图10中的界面进行说明。应理解,图9和图10中示出的界面并不对本申请实施例构成限定。
图9示出了平板界面的一个示例图。如图9所示,平板界面中弹出窗口601,窗口601中显示的内容为“器件(电容或线圈)短路或断路导致无线充电功能发生故障,请尽快维修”。窗口601中还可以包括关闭控件602。若用户已读窗口601中的内容,可以点击关闭控件602关闭窗口601。可以理解,窗口601中的内容也可被其他指示第一故障类型的提示内容所替代,本申请实施例并不限于此。
图10示出了平板界面的另一个示例图。如图10所示,平板界面中弹出窗口701,窗口701中显示的内容为“金属环境恶化导致无线充电功能发生故障,请尽快维修”。窗口701中还可以包括关闭控件702。若用户已读窗口701中的内容,可以点击关闭控件702关闭窗口701。可以理解,窗口701中的内容也可被其他指示第二故障类型的提示内容所替代,本申请实施例并不限于此。
应理解,图9或图10中只是以平板为例进行描述,但是本申请实施例并不限于此。
还应理解,图9或图10示出的各个界面的示例图仅是为了便于本领域技术人员理解,并非要将本申请实施例限于例示的具体场景。
可选地,在确定出充电电路的故障类型为第一故障类型或第二故障类型后,将充电芯片下电,以保证安全性。
可选地,当TX芯片本身出现硬件问题时,也可以通过AP读取TX I2C寄存器,确定是否存在TX I2C读取识别,则确定为TX芯片的故障问题。
上文结合图1至图10,详细描述了本申请实施例的充电检测的方法。下面将结合图11和图12详细描述本申请的装置实施例。应理解,本申请实施例的装置可以执行前述各个实施例的充电检测的方法实施例,即以下产品的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程。
图11是本申请实施例的充电检测的装置900的示意性框图。如图11所示,该装置900包括:检测模块910,充电电路920,处理模块930。所述充电电路920包括线圈和电容。
可选地,装置900可应用于电子设备中,比如,装置900可以是充电TX芯片。
在一种可能的示例中,所述检测模块910用于检测电路参数,所述电路参数用于表征所述线圈和所述电容之间的电压值或电流值;
所述处理模块930用于根据所述电路参数确定所述线圈的品质因数Q值;
所述处理模块930还用于利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第一故障类型,所述第一故障类型是指因所述线圈和/或所述电容导致的故障。
可选地,作为一种可能的实现方式,所述处理模块930用于利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型,包括:
响应于所述Q值小于或等于第一门限值,确定所述充电电路的故障类型为所述第一故障类型。
可选地,作为一种可能的实现方式,所述线圈导致的故障包括:所述线圈断路或短路导致的故障;和/或,
所述电容导致的故障包括:所述电容断路或短路。
可选地,作为一种可能的实现方式,所述处理模块930还用于:
利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,所述第二故障类型是指因金属环境导致的故障,所述金属环境是指所述线圈周围的金属结构件构成的金属环境。
可选地,作为一种可能的实现方式,所述处理模块930用于利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型,包括:
响应于所述Q值大于第一门限值,利用所述Q值和第一预设值确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,所述第一预设值与所述线圈相关。
可选地,作为一种可能的实现方式,所述处理模块930用于利用所述Q值和第一预设值确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,包括:
计算所述Q值与所述第一预设值的差值;
响应于所述差值为负数,且所述差值的绝对值大于或等于第二门限值,确定所述充电电路的故障类型为所述第二故障类型。
可选地,作为一种可能的实现方式,所述处理模块930还用于:
响应于所述差值为负数,且所述差值的绝对值小于所述第二门限值,将所述第一预设值更新为所述Q值。
可选地,作为一种可能的实现方式,所述电路参数为电压值;所述处理模块930用于根据所述电路参数确定品质因数Q值,包括:
获取第一时刻的电压值和第二时刻的电压值;
基于所述第一时刻的电压值和所述第二时刻的电压值的比值,确定所述Q值。
应理解,上述装置900以功能模块(或者说单元)的形式体现。这里的术语“模块”可以通过软件和/或硬件的形式实现,本申请实施例对此不作具体限定。
例如,“模块”可以是实现上述功能的软件程序、硬件电路或者二者结合。所述硬件电路可能包括(application specific integrated circuit,ASIC)应用特定集成电路、电子电路、执行一个或多个软件或固件程序的处理器(例如共享处理器、专有处理器或组处理器等)和存储器、集成逻辑电路,和/或其他可以提供上述功能的合适器件。在一个简单的实施例中,本领域的技术人员可以想到装置900可以采用图12所示的形式。
图12是本申请实施例提供的电子设备的硬件结构示意图。示例性地,电子设备可以采用图12示出的结构。
如图12所示,电子设备可以包括处理器210,存储器(包括外部存储器接口220和内部存储器221),通用串行总线(universal serial bus,USB)接口230,充电管理模块240,电源管理模块241,电池242,天线1,天线2,通信模块250,音频模块260,扬声器270A,受话器270B,麦克风270C,耳机接口270D,传感器模块280,按键290,马达291,指示器292,摄像头293,显示屏294等。
可以理解的是,图12中示意的结构并不构成对电子设备的具体限定。在本申请另一些实施例中,电子设备可以包括比图示更多或更少的部件,或者组合某些部件,或者拆分某些部件,或者不同的部件布置。图示的部件可以以硬件,软件或软件和硬件的组合 实现。
处理器210可以包括一个或多个处理单元。例如:处理器210可以包括应用处理器(application processor,AP),调制解调处理器,图形处理器(graphics processingunit,GPU),图像信号处理器(image signal processor,ISP),飞行控制器,视频编解码器,数字信号处理器(digital signal processor,DSP),基带处理器,和/或神经网络处理器(neural-network processing unit,NPU)等。其中,不同的处理单元可以是独立的器件,也可以集成在一个或多个处理器中。
处理器210中还可以设置存储器,用于存储指令和数据。在一些实施例中,处理器210中的存储器为高速缓冲存储器。该存储器可以保存处理器210刚用过或循环使用的指令或数据。如果处理器210需要再次使用该指令或数据,可从所述存储器中直接调用。避免了重复存取,减少了处理器210的等待时间,因而提高了系统的效率。
在本申请实施例中,处理器210可以包括一个或多个微控制器(micro controlunit,MCU),用于负责统一调度与输入设备迁移相关的其它所有模块/时序/事务的协调调度等。
在一些实施例中,处理器210可以包括一个或多个接口。接口可以包括集成电路(inter-integrated circuit,I2C)接口,集成电路内置音频(inter-integrated circuitsound,I2S)接口,脉冲编码调制(pulse code modulation,PCM)接口,通用异步收发传输器(universal asynchronous receiver/transmitter,UART)接口,移动产业处理器接口(mobile industry processor interface,MIPI),通用输入输出 (general -purposeinput/output,GPIO)接口,用户标识模块(subscriber identity module,SIM)接口,和/或通用串行总线(universal serial bus,USB)接口等。
充电管理模块240用于进行无线充电或者对其他设备进行无线反充。电源管理模块241用于连接电池242,充电管理模块240与处理器210。电源管理模块241接收电池242和/或充电管理模块240的输入,为处理器210,内部存储器221,显示屏294,摄像头293和通信模块250等供电。
在一些实施例中,充电管理模块240中可以包括充电电路和检测模块。比如,充电管理模块240为TX芯片,以实现无线充电功能。可选地,充电管理模块240通过外接线圈243进行无线充电。
在一些实施例中,当充电管理模块240确定出故障类型后,可将故障类型的结果反馈到处理器210。可选地,处理器210可调用显示屏294显示提示窗口,以向用户提示故障类型(比如图9或图10所示界面)。
电子设备的无线通信功能可以通过天线1,天线2,通信模块250,调制解调处理器以及基带处理器等实现。
天线1和天线2用于发射和接收电磁波信号。电子设备中的每个天线可用于覆盖单个或多个通信频段。不同的天线还可以复用,以提高天线的利用率。例如:可以将天线1复用为无线局域网的分集天线。在另外一些实施例中,天线可以和调谐开关结合使用。
通信模块250可以提供应用在电子设备上的包括2G/3G/4G/5G/6G等无线通信的解决方案。通信模块250可以包括至少一个滤波器,开关,功率放大器,低噪声放大器 (lownoise amplifier,LNA)等。通信模块250可以由天线1接收电磁波,并对接收的电磁波进行滤波,放大等处理,传送至调制解调处理器进行解调。通信模块250还可以对经调制解调处理器调制后的信号放大,经天线1转为电磁波辐射出去。在一些实施例中,通信模块250的至少部分功能模块可以被设置于处理器210中。在一些实施例中,通信模块250的至少部分功能模块可以与处理器210的至少部分模块被设置在同一个器件中。
在一些实施例中,通信模块250还可以提供应用在电子设备上的包括WLAN(如Wi -Fi网络),蓝牙 (Bluetooth,BT),全球导航卫星系统(global navigation satellitesystem,GNSS),调频(frequency modulation,FM),近距离无线通信技术(near fieldcommunication,NFC),红外技术(infrared,IR)等无线通信的解决方案。通信模块250可以是集成至少一个通信处理模块的一个或多个器件。通信模块250经由天线2接收电磁波,将电磁波信号调频以及滤波处理,将处理后的信号发送到处理器210。通信模块250还可以从处理器210接收待发送的信号,对其进行调频,放大,经天线2转为电磁波辐射出去。
调制解调处理器可以包括调制器和解调器。其中,调制器用于将待发送的低频基带信号调制成中高频信号。解调器用于将接收的电磁波信号解调为低频基带信号。随后解调器将解调得到的低频基带信号传送至基带处理器处理。低频基带信号经基带处理器处理后,被传递给应用处理器。应用处理器通过音频装置(不限于扬声器270A、受话器270B等)输出声音信号,或通过显示屏294显示图像或视频。在一些实施例中,调制解调处理器可以是独立的器件。在另一些实施例中,调制解调处理器可以独立于处理器210,与通信模块250或其它功能模块设置在同一个器件中。
在本申请实施例中,电子设备可以基于通信模块250、天线1和/或天线2与其它终端设备通信,例如向其它电子设备发送控制指令。
在一些实施例中,电子设备的天线1和通信模块250耦合,天线2和通信模块250耦合,使得电子设备可以通过无线通信技术与网络以及其它设备通信。
电子设备通过GPU,显示屏294,以及应用处理器等实现显示功能。GPU为图像处理的微处理器,连接显示屏294和应用处理器。GPU用于执行数学和几何计算,用于图形渲染。处理器210可包括一个或多个GPU,其执行程序指令以生成或改变显示信息。
显示屏294用于显示图像,视频等。显示屏294包括显示面板。显示面板可以采用液晶显示屏(liquid crystal display,LCD),有机发光二极管(organic light-emittingdiode,OLED),有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体 (active -matrixorganic light emitting diode的,AMOLED),柔性发光二极管(flex light-emittingdiode,FLED),Miniled,MicroLed,Micro - OLED,量子点发光二极管(quantum dot lightemitting diodes,QLED)等。
电子设备可以通过ISP,摄像头293,视频编解码器,GPU,显示屏294以及应用处理器等实现拍摄功能。
外部存储器接口220可以用于连接外部存储卡,例如微型(micro)存储(storagecard,SD)卡,实现扩展电子设备的存储能力。外部存储卡通过外部存储器接口220与处理器210通信,实现数据存储功能。例如将音乐,视频等文件保存在外部存储卡中。
内部存储器221可以用于存储计算机程序的可执行程序代码。示例性的,计算机程序可以包括操作系统程序和应用程序。操作系统可包括但不限于塞班(Symbian)系统、安卓(Android)系统、微软(Windows)系统、苹果iOS系统、黑莓系统等操作系统。其中,可执行程序代码包括指令。内部存储器221可以包括存储程序区和存储数 据区。其中,存储程序区可存储操作系统,至少一个功能所需的应用程序等。存储数据区可 存储电子设备使用过程中所创建的数据(比如应用数据,用户数据等)等。此外,内部存储器 221可以包括高速随机存取存储器,还可以包括非易失性存储器,例如至少一个磁盘存储器 件,闪存器件,通用闪存存储器(universal flash storage,UFS)等。处理器210通过运行存 储在内部存储器221的指令,和/或存储在设置于处理器中的存储器的指令,执行电子设备 的各种功能应用以及数据处理。
传感器模块280可以感知用户的操作,如触摸操作、点击操作、滑动操作、用户靠近屏幕等。
电子设备可以通过音频模块260,扬声器270A,受话器270B,麦克风270C以及应用处理器等实现音频功能。例如音乐播放,录音等。关于音频模块260,扬声器270A,受话器270B和麦克风270C的具体工作原理和作用,可以参考常规技术中的介绍。
按键290包括开机键,音量键等。按键290可以是机械按键。也可以是触摸式按键。电子设备可以接收按键输入,产生与电子设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。
需要说明的是,图12所示电子设备包括的硬件模块只是示例性地描述,并不对电子设备的具体结构做出限定。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
本申请还提供了一种计算机程序产品,该计算机程序产品被处理器执行时实现本申请中任一方法实施例所述的方法。
该计算机程序产品可以存储在存储器中,经过预处理、编译、汇编和链接等处理过程最终被转换为能够被处理器执行的可执行目标文件。
本申请还提供了一种计算机可读存储介质,其上存储有计算机程序,该计算机程序被计算机执行时实现本申请中任一方法实施例所述的方法。该计算机程序可以是高级语言程序,也可以是可执行目标程序。
该计算机可读存储介质可以是易失性存储器或非易失性存储器,或者,可以同时包括易失性存储器和非易失性存储器。其中,非易失性存储器可以是只读存储器(read-only memory,ROM)、可编程只读存储器(programmable ROM,PROM)、可擦除可编程只读存储器(erasable PROM,EPROM)、电可擦除可编程只读存储器(electrically EPROM,EEPROM)或闪存。易失性存储器可以是随机存取存储器(random access memory,RAM),其用作外部高速缓存。通过示例性但不是限制性说明,许多形式的RAM可用,例如静态随机存取存储器(static RAM,SRAM)、动态随机存取存储器(dynamic RAM,DRAM)、同步动态随机存取存储器(synchronous DRAM,SDRAM)、双倍数据速率同步动态随机存取存储器(double data rateSDRAM,DDR SDRAM)、增强型同步动态随机存取存储器(enhanced SDRAM,ESDRAM)、同步连接动态随机存取存储器(synchlink DRAM,SLDRAM)和直接内存总线随机存取存储器(directrambus RAM,DR RAM)。
本领域普通技术人员可以意识到,结合本文中所公开的实施例描述的各示例的单元及算法步骤,能够以电子硬件、或者计算机软件和电子硬件的结合来实现。这些功能究竟以硬件还是软件方式来执行,取决于技术方案的特定应用和设计约束条件。专业技术人员可以对每个特定的应用来使用不同方法来实现所描述的功能,但是这种实现不应认为超出本申请的范围。
所属领域的技术人员可以清楚地了解到,为描述的方便和简洁,上述描述的系统、装置和单元的具体工作过程,可以参考前述方法实施例中的对应过程,在此不再赘述。
在本申请所提供的几个实施例中,应该理解到,所揭露的系统、装置和方法,可以通过其它的方式实现。例如,以上所描述的装置实施例仅仅是示意性的,例如,所述单元的划分,仅仅为一种逻辑功能划分,实际实现时可以有另外的划分方式,例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统,或一些特征可以忽略,或不执行。另一点,所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口,装置或单元的间接耦合或通信连接,可以是电性,机械或其它的形式。
所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的,作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元,即可以位于一个地方,或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。
另外,在本申请各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中,也可以是各个单元单独物理存在,也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。
所述功能如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时,可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解,本申请的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的部分可以以软件产品的形式体现出来,该计算机软件产品存储在一个存储介质中,包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机,服务器,或者网络设备等)执行本申请各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括:U盘、移动硬盘、只读存储器ROM、随机存取存储器RAM、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。
应理解,在本申请的各种实施例中,各过程的序号的大小并不意味着执行顺序的先后,各过程的执行顺序应以其功能和内在逻辑确定,而不应对本申请的实施例的实施过程构成任何限定。
另外,本文中术语“系统”和“网络”在本文中常被可互换使用。本文中的术语“和/或”,仅仅是一种描述关联对象的关联关系,表示可以存在三种关系,例如,A和/或B,可以表示:单独存在A,同时存在A和B,单独存在B这三种情况。另外,本文中字符“/”,一般表示前后关联对象是一种“或”的关系。例如,A/ B可以表示A或B。
本申请实施例中出现的术语(或者说编号)“第一”、“第二”、…等,仅用于描述目的,即只是为了区分不同的对象,比如,不同的“温度”等,并不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量。由此,限定有“第一”、“第二”、…等的特征可以明示或者隐含地包括一个或者更多个特征。在本申请实施例的描述中,“至少一个(项)”是指一个或多个。“多个”的含义是两个或两个以上。“以下至少一个(项)”或其类似表达,是指这些项中的任意组合,包括单个(项)或复数个(项)的任意组合。
例如,本申请实施例中出现的类似于“项目包括如下中至少一种:A,B,以及C”表述的含义,如无特别说明,通常是指该项目可以为如下中任一个:A;B;C;A和B;A和C;B和C;A,B和C;A和A;A,A和A;A,A和B;A,A和C,A,B和B;A,C和C;B和B,B,B和B,B,B和C,C和C;C,C和C,以及其他A,B和C的组合。以上是以A,B和C共3个元素进行举例来说明该项目的可选用条目,当表达为“项目包括如下中至少一种:A,B,……,以及X”时,即表达中具有更多元素时,那么该项目可以适用的条目也可以按照前述规则获得。
总之,以上所述仅为本申请技术方案的较佳实施例而已,并非用于限定本申请的保护范围。凡在本申请的精神和原则之内,所作的任何修改、等同替换、改进等,均应包含在本申请的保护范围之内。
Claims (11)
1.一种充电检测的方法,其特征在于,所述方法应用于电子设备,所述电子设备包括检测模块和充电电路,所述充电电路包括线圈和电容,所述方法包括:
通过所述检测模块检测电路参数,所述电路参数用于表征所述线圈和所述电容之间的电压值或电流值;
根据所述电路参数确定所述线圈的品质因数Q值;
利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第一故障类型,所述第一故障类型是指因所述线圈和/或所述电容导致的故障。
2.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型,包括:
响应于所述Q值小于或等于第一门限值,确定所述充电电路的故障类型为所述第一故障类型。
3.根据权利要求1或2所述的方法,其特征在于,所述线圈导致的故障包括:所述线圈断路或短路导致的故障;和/或,
所述电容导致的故障包括:所述电容断路或短路。
4.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,所述第二故障类型是指因金属环境导致的故障,所述金属环境是指所述线圈周围的金属结构件构成的金属环境。
5.根据权利要求4所述的方法,其特征在于,所述利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型,包括:
响应于所述Q值大于第一门限值,利用所述Q值和第一预设值确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,所述第一预设值与所述线圈相关。
6.根据权利要求5所述的方法,其特征在于,所述利用所述Q值和第一预设值确定所述充电电路的故障类型为第二故障类型,包括:
计算所述Q值与所述第一预设值的差值;
响应于所述差值为负数,且所述差值的绝对值大于或等于第二门限值,确定所述充电电路的故障类型为所述第二故障类型。
7.根据权利要求6所述的方法,其特征在于,所述方法还包括:
响应于所述差值为负数,且所述差值的绝对值小于所述第二门限值,将所述第一预设值更新为所述Q值。
8.根据权利要求1所述的方法,其特征在于,所述电路参数为电压值;所述根据所述电路参数确定所述线圈的品质因数Q值,包括:
获取第一时刻的电压值和第二时刻的电压值;
基于所述第一时刻的电压值和所述第二时刻的电压值的比值,确定所述Q值。
9.一种充电检测装置,其特征在于,包括:检测模块、充电电路和处理模块,所述充电电路包括线圈和电容;所述检测模块用于检测电路参数,所述电路参数用于表征所述线圈和所述电容之间的电压值或电流值;
所述处理模块用于根据所述电路参数确定所述线圈的品质因数Q值;
所述处理模块还用于利用所述Q值,确定所述充电电路的故障类型为第一故障类型,所述第一故障类型是指因所述线圈和/或所述电容导致的故障。
10.一种电子设备,其特征在于,包括处理器和存储器,所述处理器和所述存储器耦合,所述存储器用于存储计算机程序,当所述计算机程序被所述处理器执行时,使得所述电子设备执行权利要求1至8中任一项所述的方法。
11.一种计算机可读存储介质,其特征在于,所述计算机可读存储介质存储有计算机程序,当所述计算机程序被处理器执行时,使得所述处理器执行权利要求1至8中任一项所述的方法。
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