CN116068242A - 一种模组化主板测试治具 - Google Patents

一种模组化主板测试治具 Download PDF

Info

Publication number
CN116068242A
CN116068242A CN202310087397.1A CN202310087397A CN116068242A CN 116068242 A CN116068242 A CN 116068242A CN 202310087397 A CN202310087397 A CN 202310087397A CN 116068242 A CN116068242 A CN 116068242A
Authority
CN
China
Prior art keywords
probe
test
die
modularized
probe mounting
Prior art date
Legal status (The legal status is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the status listed.)
Pending
Application number
CN202310087397.1A
Other languages
English (en)
Inventor
张文杰
朱传贤
Current Assignee (The listed assignees may be inaccurate. Google has not performed a legal analysis and makes no representation or warranty as to the accuracy of the list.)
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Original Assignee
Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority date (The priority date is an assumption and is not a legal conclusion. Google has not performed a legal analysis and makes no representation as to the accuracy of the date listed.)
Filing date
Publication date
Application filed by Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd filed Critical Suzhou Inspur Intelligent Technology Co Ltd
Priority to CN202310087397.1A priority Critical patent/CN116068242A/zh
Publication of CN116068242A publication Critical patent/CN116068242A/zh
Pending legal-status Critical Current

Links

Images

Classifications

    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/04Housings; Supporting members; Arrangements of terminals
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06716Elastic
    • G01R1/06722Spring-loaded
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/06711Probe needles; Cantilever beams; "Bump" contacts; Replaceable probe pins
    • G01R1/06733Geometry aspects
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R1/00Details of instruments or arrangements of the types included in groups G01R5/00 - G01R13/00 and G01R31/00
    • G01R1/02General constructional details
    • G01R1/06Measuring leads; Measuring probes
    • G01R1/067Measuring probes
    • G01R1/073Multiple probes
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2887Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks involving moving the probe head or the IC under test; docking stations
    • GPHYSICS
    • G01MEASURING; TESTING
    • G01RMEASURING ELECTRIC VARIABLES; MEASURING MAGNETIC VARIABLES
    • G01R31/00Arrangements for testing electric properties; Arrangements for locating electric faults; Arrangements for electrical testing characterised by what is being tested not provided for elsewhere
    • G01R31/28Testing of electronic circuits, e.g. by signal tracer
    • G01R31/2851Testing of integrated circuits [IC]
    • G01R31/2886Features relating to contacting the IC under test, e.g. probe heads; chucks
    • G01R31/2889Interfaces, e.g. between probe and tester
    • YGENERAL TAGGING OF NEW TECHNOLOGICAL DEVELOPMENTS; GENERAL TAGGING OF CROSS-SECTIONAL TECHNOLOGIES SPANNING OVER SEVERAL SECTIONS OF THE IPC; TECHNICAL SUBJECTS COVERED BY FORMER USPC CROSS-REFERENCE ART COLLECTIONS [XRACs] AND DIGESTS
    • Y02TECHNOLOGIES OR APPLICATIONS FOR MITIGATION OR ADAPTATION AGAINST CLIMATE CHANGE
    • Y02EREDUCTION OF GREENHOUSE GAS [GHG] EMISSIONS, RELATED TO ENERGY GENERATION, TRANSMISSION OR DISTRIBUTION
    • Y02E10/00Energy generation through renewable energy sources
    • Y02E10/50Photovoltaic [PV] energy

Landscapes

  • Physics & Mathematics (AREA)
  • General Physics & Mathematics (AREA)
  • Engineering & Computer Science (AREA)
  • Computer Hardware Design (AREA)
  • Microelectronics & Electronic Packaging (AREA)
  • General Engineering & Computer Science (AREA)
  • Geometry (AREA)
  • Tests Of Electronic Circuits (AREA)
  • Measuring Leads Or Probes (AREA)

Abstract

本发明涉及一种模组化主板测试治具,属于服务器检测技术领域,包括连接在一起的上模和下模,上模包括上框架,上框架内设有探针安装板,探针安装板上设有呈矩阵分布的若干个探针安装孔,探针安装孔内可拆卸安装有测试探针模组,测试探针模组包括多个测试探针,探针安装板的四个边角处设有合模探针,下模包括下框架,下框架内设有载板,载板四个边角处设有探针穿透孔,探针穿透孔与合模探针的位置相对应。本发明能够根据使用需求调节治具的测试探针的种类和位置,同时设置合模探针使得在合模和通过合模探针探测合模位置的准确性,提高了治具测试的安全性、灵活性及兼容性。

Description

一种模组化主板测试治具
技术领域
本发明涉及一种模组化主板测试治具,属于服务器检测技术领域。
背景技术
治具的分类有很多,通俗来说就是我们常说的工装夹具和检具量具的统称。治具主要是作为协助控制位置或动作的一种工具。
具体地,工装夹具主要用于定位和装夹;检具一般是针对目标对象进行尺寸检测、PCB电路板的导通、耐压、电流等测试。
主板又叫主机板,系统板或母板,是计算机最基本的同时也是最重要的部件之一。主板一般为矩形电路板,上面安装了组成计算机的主要电路系统,一般有bios芯片、I/O芯片、键盘和控制开关接口、指示灯插接件、扩充插槽、主板及插卡的直流电源供电接插件等电路元件。主板是计算机最基本也是最重要的部件之一,主板制造质量的高低,决定了硬件系统的稳定性。
有许多治具之所以产生是因为商业的需要,因为有许多类型的治具是定制化的,大多数是为了提高生产力、重复特定动作、或使工作更加精确。相应的,为了对主板的制造质量进行测试,需要使用主板测试治具,使得主板在固定的工位上得到相应项目的检测。而针对不同型号的主板,由于尺寸以及电路元件配置的不同,治具的工装夹具以及检具均有所不同,不同在不同型号之间调换使用。
发明内容
本发明的目的在于针对上述存在的问题,提供一种使用灵活性和兼容性更好的模组化主板测试治具。
本发明是通过以下技术方案实现的:
即一种模组化主板测试治具,包括连接在一起的上模和下模,上模包括上框架,上框架内设有探针安装板,探针安装板上设有呈矩阵分布的若干个探针安装孔,探针安装孔内可拆卸安装有测试探针模组,测试探针模组包括多个测试探针,探针安装板的四个边角处设有合模探针;
下模包括下框架,下框架内设有载板,载板四个边角处设有探针穿透孔,探针穿透孔与合模探针的位置相对应。
使用前根据待测主板的情况选取所需的测试探针模组,通过快捷拔插的方式安装到探针安装板上,随后在下模上放置载板,将待测主板放置在载板上,此时下模上的探针测试对接主板的A面接口,下模与上模合模后,上模探针对接主板B面接口,此时合模探针通过载板上的探针穿透孔与下模接触,合模探针对接成功后,随着合模探针的插入,合模探针暴露并实现对接、发出合模信号,表明合模位置准确、接口连接成功,控制治具开始测试主板。本发明能够根据使用需求调节治具的测试探针的种类和位置,同时设置合模探针使得在合模和通过合模探针探测合模位置的准确性,提高了治具测试的安全性、灵活性及兼容性。
本发明的进一步改进还有,上模与下模之间通过合页相连,上模与下模之间开启、闭合操作方便。
本发明的进一步改进还有,上框架侧面以及下框架侧面上均固定设有铰接柱,同侧的两个铰接柱之间安装有电控力臂。通过电控力臂控制上模与下模之间的启闭,提高自动化程度。
本发明的进一步改进还有,电控力臂的缸体套设在下框架侧面的铰接柱上,电控力臂的活塞杆套设在上框架侧面的铰接柱上。电控力臂的活塞杆伸缩控制上模的翻转,稳定性更好。
本发明的进一步改进还有,测试探针模组包括螺柱,螺柱端部固定设有连接盘一,测试探针设置在连接盘一上,探针安装孔为螺纹孔,螺柱安装在探针安装孔内。通过螺纹将测试探针模组安装在探针安装孔上,拆装方便。
本发明的进一步改进还有,测试探针模组包括连接柱,连接柱端部固定设有连接盘二,测试探针设置在连接盘二上,探针安装孔内壁容置有多个弹簧二。测试探针模组可直接插入到探针安装孔内,拆装便利、快捷。
本发明的进一步改进还有,弹簧二端部固定设有弹珠,连接柱上设有环形槽。测试探针模组插入到探针安装孔内的结构更为顺畅、稳固。
本发明的进一步改进还有,合模探针包括保护壳一,保护壳一端部固定设有芯轴一,芯轴一上套设有圆盘一,伸缩柱上套设有弹簧一,弹簧一一端与保护壳一端面固定相连,弹簧一另一端与圆盘一端面固定相连。
本发明的进一步改进还有,合模探针包括保护壳二,保护壳二端部固定设有芯轴二,芯轴二上套设有圆盘二,保护壳二端面与芯轴二)端面之间连接有多个弹性折片。
本发明的进一步改进还有,载板上设有用于放置主板的凹槽。
与现有技术相比,本发明所具有的有益效果是:
使用前根据待测主板的情况选取所需的测试探针模组,通过快捷拔插的方式安装到探针安装板上,随后在下模上放置载板,将待测主板放置在载板上,此时下模上的探针测试对接主板的A面接口,下模与上模合模后,上模探针对接主板B面接口,此时合模探针通过载板上的探针穿透孔与下模接触,合模探针对接成功后,随着合模探针的插入,合模探针暴露并实现对接、发出合模信号,表明合模位置准确、接口连接成功,控制治具开始测试主板。本发明能够根据使用需求调节治具的测试探针的种类和位置,同时设置合模探针使得在合模和通过合模探针探测合模位置的准确性,提高了治具测试的安全性、灵活性及兼容性。
附图说明
为了更清楚地说明本发明的技术方案,下面将对描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1是本发明具体实施方式的结构示意图。
图2是本发明具体实施方式实施例二中测试探针模组的结构示意图。
图3是本发明具体实施方式实施例二中合模探针的结构示意图。
图4是本发明具体实施方式实施例三中测试探针模组的结构示意图。
图5是本发明具体实施方式实施例三中合模探针的结构示意图。
图中:1、上框架;2、探针安装板;3、下框架;4、载板;5、铰接柱;6、电控力臂;7、探针安装孔;8、测试探针模组;9、合模探针;10、探针穿透孔;11、保护壳一;12、芯轴一;13、圆盘一;14、弹簧一;15、保护壳二;16、芯轴二;17、圆盘二;18、弹性折片;19、螺柱;20、连接盘一;21、测试探针;22、连接柱;23、连接盘二;24、环形槽;25、弹簧二;26、弹珠。
具体实施方式
下面对照附图,对本发明的具体实施方式作进一步详细的说明。
实施例一:
如图1至图5所示的一种模组化主板测试治具,包括连接在一起的上模和下模,上模包括上框架1,上框架1内设有探针安装板2,探针安装板2上设有呈矩阵分布的若干个探针安装孔7,探针安装孔7内可拆卸安装有测试探针模组8,测试探针模组8包括多个测试探针21,探针安装板2的四个边角处设有合模探针9;
下模包括下框架3,下框架3内设有载板4,载板4上设有用于放置主板的凹槽,载板4四个边角处设有探针穿透孔10,探针穿透孔10与合模探针9的位置相对应。
使用前根据待测主板的情况选取所需的测试探针模组8,通过快捷拔插的方式安装到探针安装板2上,随后在下模上放置载板4,将待测主板放置在载板4上,此时下模上的探针测试对接主板的A面接口,下模与上模合模后,上模探针对接主板B面接口,此时合模探针9通过载板4上的探针穿透孔10与下模接触,合模探针9对接成功后,随着合模探针9的插入,合模探针9暴露并实现对接、发出合模信号,表明合模位置准确、接口连接成功,控制治具开始测试主板。本发明能够根据使用需求调节治具的测试探针21的种类和位置,同时设置合模探针9使得在合模和通过合模探针21探测合模位置的准确性,提高了治具测试的安全性、灵活性及兼容性。
实施例二:
如图1至图5所示的一种模组化主板测试治具,包括连接在一起的上模和下模,上模包括上框架1,上框架1内设有探针安装板2,探针安装板2上设有呈矩阵分布的若干个探针安装孔7,探针安装孔7内可拆卸安装有测试探针模组8,测试探针模组8包括多个测试探针21,探针安装板2的四个边角处设有合模探针9;
下模包括下框架3,下框架3内设有载板4,载板4上设有用于放置主板的凹槽,载板4四个边角处设有探针穿透孔10,探针穿透孔10与合模探针9的位置相对应。
使用前根据待测主板的情况选取所需的测试探针模组8,通过快捷拔插的方式安装到探针安装板2上,随后在下模上放置载板4,将待测主板放置在载板4上,此时下模上的探针测试对接主板的A面接口,下模与上模合模后,上模探针对接主板B面接口,此时合模探针9通过载板4上的探针穿透孔10与下模接触,合模探针9对接成功后,随着合模探针9的插入,合模探针9暴露并实现对接、发出合模信号,表明合模位置准确、接口连接成功,控制治具开始测试主板。本发明能够根据使用需求调节治具的测试探针21的种类和位置,同时设置合模探针9使得在合模和通过合模探针21探测合模位置的准确性,提高了治具测试的安全性、灵活性及兼容性。
上模与下模之间通过合页相连,上模与下模之间开启、闭合操作方便,上框架1侧面以及下框架3侧面上均固定设有铰接柱5,同侧的两个铰接柱5之间安装有电控力臂6。通过电控力臂6控制上模与下模之间的启闭,提高自动化程度,电控力臂6的缸体套设在下框架3侧面的铰接柱5上,电控力臂6的活塞杆套设在上框架1侧面的铰接柱5上。电控力臂6的活塞杆伸缩控制上模的翻转,稳定性更好。
测试探针模组8包括螺柱19,螺柱19端部固定设有连接盘一20,测试探针21设置在连接盘一20上,探针安装孔7为螺纹孔,螺柱19安装在探针安装孔7内。通过螺纹将测试探针模组8安装在探针安装孔7上,拆装方便。
合模探针9包括保护壳一11,保护壳一11端部固定设有芯轴一12,芯轴一12上套设有圆盘一13,伸缩柱12上套设有弹簧一14,弹簧一14一端与保护壳一11端面固定相连,弹簧一14另一端与圆盘一13端面固定相连。
实施例三:
如图1至图5所示的一种模组化主板测试治具,包括连接在一起的上模和下模,上模包括上框架1,上框架1内设有探针安装板2,探针安装板2上设有呈矩阵分布的若干个探针安装孔7,探针安装孔7内可拆卸安装有测试探针模组8,测试探针模组8包括多个测试探针21,探针安装板2的四个边角处设有合模探针9;
下模包括下框架3,下框架3内设有载板4,载板4上设有用于放置主板的凹槽,载板4四个边角处设有探针穿透孔10,探针穿透孔10与合模探针9的位置相对应。
使用前根据待测主板的情况选取所需的测试探针模组8,通过快捷拔插的方式安装到探针安装板2上,随后在下模上放置载板4,将待测主板放置在载板4上,此时下模上的探针测试对接主板的A面接口,下模与上模合模后,上模探针对接主板B面接口,此时合模探针9通过载板4上的探针穿透孔10与下模接触,合模探针9对接成功后,随着合模探针9的插入,合模探针9暴露并实现对接、发出合模信号,表明合模位置准确、接口连接成功,控制治具开始测试主板。本发明能够根据使用需求调节治具的测试探针21的种类和位置,同时设置合模探针9使得在合模和通过合模探针21探测合模位置的准确性,提高了治具测试的安全性、灵活性及兼容性。
上模与下模之间通过合页相连,上模与下模之间开启、闭合操作方便,上框架1侧面以及下框架3侧面上均固定设有铰接柱5,同侧的两个铰接柱5之间安装有电控力臂6。通过电控力臂6控制上模与下模之间的启闭,提高自动化程度,电控力臂6的缸体套设在下框架3侧面的铰接柱5上,电控力臂6的活塞杆套设在上框架1侧面的铰接柱5上。电控力臂6的活塞杆伸缩控制上模的翻转,稳定性更好。
测试探针模组8包括连接柱22,连接柱22端部固定设有连接盘二23,测试探针21设置在连接盘二23上,探针安装孔7内壁容置有多个弹簧二25。测试探针模组8可直接插入到探针安装孔7内,拆装便利、快捷,弹簧二25端部固定设有弹珠26,连接柱22上设有环形槽24。测试探针模组8插入到探针安装孔7内的结构更为顺畅、稳固。
合模探针9包括保护壳二15,保护壳二15端部固定设有芯轴二16,芯轴二16上套设有圆盘二17,保护壳二15端面与芯轴二16端面之间连接有多个弹性折片18。
工作原理:
使用前根据待测主板的情况选取所需的测试探针模组8,通过快捷拔插的方式安装到探针安装板2上,随后在下模上放置载板4,将待测主板放置在载板4上,此时下模上的探针测试对接主板的A面接口,下模与上模合模后,上模探针对接主板B面接口,此时合模探针9通过载板4上的探针穿透孔10与下模接触,合模探针9对接成功后,随着合模探针9的插入,合模探针9暴露并实现对接、发出合模信号,表明合模位置准确、接口连接成功,控制治具开始测试主板。本发明能够根据使用需求调节治具的测试探针21的种类和位置,同时设置合模探针9使得在合模和通过合模探针21探测合模位置的准确性,提高了治具测试的安全性、灵活性及兼容性。
本说明书中各个实施例采用递进的方式描述,每个实施例重点说明的都是与其他实施例的不同之处,各个实施例之间相同、相似部分互相参见即可。
本发明的说明书和权利要求书及上述附图中的术语“上”、“下”、“外侧”“内侧”等如果存在是用于区别位置上的相对关系,而不必给予定性。应该理解这样使用的数据在适当情况下可以互换,以便这里描述的本发明的实施例能够以除了在这里图示或描述的那些以外的顺序实施。此外,术语“包括”和“具有”以及他们的任何变形,意图在于覆盖不排他的包含。
对所公开的实施例的上述说明,使本领域专业技术人员能够实现或使用本发明。对这些实施例的多种修改对本领域的专业技术人员来说将是显而易见的,本文中所定义的一般原理可以在不脱离本发明的精神或范围的情况下,在其它实施例中实现。因此,本发明将不会被限制于本文所示的这些实施例,而是要符合与本文所公开的原理和新颖特点相一致的最宽的范围。

Claims (10)

1.一种模组化主板测试治具,其特征在于,包括连接在一起的上模和下模,上模包括上框架(1),上框架(1)内设有探针安装板(2),探针安装板(2)上设有呈矩阵分布的若干个探针安装孔(7),探针安装孔(7)内可拆卸安装有测试探针模组(8),测试探针模组(8)包括多个测试探针(21),探针安装板(2)的四个边角处设有合模探针(9);
下模包括下框架(3),下框架(3)内设有载板(4),载板(4)四个边角处设有探针穿透孔(10),探针穿透孔(10)与合模探针(9)的位置相对应。
2.根据权利要求1所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,上模与下模之间通过合页相连。
3.根据权利要求2所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,上框架(1)侧面以及下框架(3)侧面上均固定设有铰接柱(5),同侧的两个铰接柱(5)之间安装有电控力臂(6)。
4.根据权利要求3所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,电控力臂(6)的缸体套设在下框架(3)侧面的铰接柱(5)上,电控力臂(6)的活塞杆套设在上框架(1)侧面的铰接柱(5)上。
5.根据权利要求1所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,测试探针模组(8)包括螺柱(19),螺柱(19)端部固定设有连接盘一(20),测试探针(21)设置在连接盘一(20)上,探针安装孔(7)为螺纹孔,螺柱(19)安装在探针安装孔(7)内。
6.根据权利要求1所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,测试探针模组(8)包括连接柱(22),连接柱(22)端部固定设有连接盘二(23),测试探针(21)设置在连接盘二(23)上,探针安装孔(7)内壁容置有多个弹簧二(25)。
7.根据权利要求6所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,弹簧二(25)端部固定设有弹珠(26),连接柱(22)上设有环形槽(24)。
8.根据权利要求1所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,合模探针(9)包括保护壳一(11),保护壳一(11)端部固定设有芯轴一(12),芯轴一(12)上套设有圆盘一(13),伸缩柱(12)上套设有弹簧一(14),弹簧一(14)一端与保护壳一(11)端面固定相连,弹簧一(14)另一端与圆盘一(13)端面固定相连。
9.根据权利要求1所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,合模探针(9)包括保护壳二(15),保护壳二(15)端部固定设有芯轴二(16),芯轴二(16)上套设有圆盘二(17),保护壳二(15)端面与芯轴二(16))端面之间连接有多个弹性折片(18)。
10.根据权利要求1所述的一种模组化主板测试治具,其特征在于,载板(4)上设有用于放置主板的凹槽。
CN202310087397.1A 2023-02-08 2023-02-08 一种模组化主板测试治具 Pending CN116068242A (zh)

Priority Applications (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310087397.1A CN116068242A (zh) 2023-02-08 2023-02-08 一种模组化主板测试治具

Applications Claiming Priority (1)

Application Number Priority Date Filing Date Title
CN202310087397.1A CN116068242A (zh) 2023-02-08 2023-02-08 一种模组化主板测试治具

Publications (1)

Publication Number Publication Date
CN116068242A true CN116068242A (zh) 2023-05-05

Family

ID=86174680

Family Applications (1)

Application Number Title Priority Date Filing Date
CN202310087397.1A Pending CN116068242A (zh) 2023-02-08 2023-02-08 一种模组化主板测试治具

Country Status (1)

Country Link
CN (1) CN116068242A (zh)

Similar Documents

Publication Publication Date Title
CN201749132U (zh) 一种测试夹具
US20040178815A1 (en) Tester for printed circuit boards
CN206421015U (zh) 一种电源板测试治具
CN210665346U (zh) 一种手机摄像头模组的跌落测试治具
CN116068242A (zh) 一种模组化主板测试治具
CN2311004Y (zh) 电路板测试承接装置
US6828777B2 (en) Fixture for test cards of testing machine
CN206627543U (zh) 探针测试机构
US6894523B2 (en) System and method for testing semiconductor devices
CN216595394U (zh) 一种高效可靠的pcb板测试机
CN211292986U (zh) 一种基于触控面板的无线传输板性能测试夹具
CN208140882U (zh) 一种治具
CN220305457U (zh) 一种成品印制电路板的生产检验装置
TWI228233B (en) An apparatus for testing touch panel
CN219758455U (zh) 电芯首件测试装置
CN215066855U (zh) 一种通用型电脑板功能测试装置
CN217278861U (zh) 一种快速验证排线导通性的治具
CN220626521U (zh) 一种翻盖式阻抗工装
CN219978783U (zh) 一种服务器机箱
CN220231812U (zh) 一种便于拓展的测试结构及电路板测试装置
CN215263868U (zh) 一种弹簧式免装夹pcb板测试结构
CN220188555U (zh) 一种端子测试工装
CN219016512U (zh) 兼容多种电路板的测试设备
CN217034030U (zh) 一种厚膜混合集成电路模块金属化孔导通测试夹具
CN209400664U (zh) 一种线路板检测治具

Legal Events

Date Code Title Description
PB01 Publication
PB01 Publication
SE01 Entry into force of request for substantive examination
SE01 Entry into force of request for substantive examination