CN116058866A - 用于超声成像设备的深度检测装置及检测方法 - Google Patents

Abstract

本发明提供了一种用于超声成像设备的深度检测装置及检测方法，涉及医疗器械质量检测领域。深度检测装置包括中空本体，中空本体的周侧开设有用于连通内外两侧的连通部；中空本体内设置有用于放置检测探头的探测部，并且在探测部围设被测单元，且被测单元至少有两个部分位于中空本体内并位于一探测部为圆心的径线上，检测探头对被测单元进行探测以进行检测深度测量；深度检测装置的检测方法包括以下步骤：将检测装置浸没于成像反射介质中，再将待检测的超声成像设备的检测探头放置于探测部；观测超声成像设备的成像及被测单元的实际位置，对超声成像设备的检测深度进行测量。本发明中的检测装置加工简单，能够适用于大规模的工业生产。

Description

用于超声成像设备的深度检测装置及检测方法

技术领域

本发明涉及医疗器械质量检测领域，尤其涉及一种用于超声成像设备的深度检测装置及检测方法。

背景技术

支气管超声是近年来发展的一项新技术，利用超声气管镜或者将微型的超声探头通过气管镜进入气管，支气管的管腔，通过超声扫描可以清晰的显示器官以及支气管管壁的各层结构，包括管腔外周围相邻组织结构，例如纵隔淋巴结的超声影像。目前临床使用的超声产品，总体上分为两类，一类为超声支气管镜，也就是超声探头嵌入光学纤维结构，能够沿气管长轴方向扫描，可用于实时引导针吸活检术；另一类为径向支气管超声探头，需通过支气管镜的活检通道进入气道，可产生垂直于气道轴线的360°图像。

由于在临床上，医生是根据超声扫描声像图提供的信息做出诊断的，故而图片质量被认为是衡量超声设备质量优劣和判断其工作正常有效与否的首要因素。而能够在超声设备研制、生产、销售、使用、维修和法制管理各环节上对超声设备性能质量做出客观、迅速、逼真和定量评价的物质技术手段，只有使用仿组织超声体模。

现有技术中公开了一种用于超声断层扫描设备成像分辨率检测的仿组织体模，包括体模外壳、声窗、支护板、多条靶线、多个模拟病灶和背景仿组织材料；体模外壳与声窗形成一个密闭空间，密闭空间内部灌充背景仿组织材料，多条靶线嵌埋于背景仿组织材料的一部分空间，每条靶线均从体模外壳的上面板垂直贯穿到体模外壳的下面板；多个模拟病灶嵌埋于背景仿组织材料中的另一部分空间，并且每个模拟病灶均从体模外壳的上面板垂直贯穿到体模外壳的下面板。

然而，现有技术中的检测装置，在加工过程中，需要将背景仿组织材料灌充在体模外壳内部，将水性保养液灌装在探测腔的内部，这一加工过程较为繁琐，不适用于工业上的大规模生产。因此，有必要开发超声成像设备检测装置，其加工简单，能够适用于大规模的工业生产。

发明内容

本发明的目的在于提供一种用于超声成像设备的深度检测装置及检测方法。

第一方面，本发明提供的一种用于超声成像设备的深度检测装置，采用如下的技术方案：

包括中空本体，所述中空本体的周侧设置有连通部，所述连通部用于连通所述中空本体的内外两侧；

所述中空本体内设置有探测部，所述探测部用于放置超声成像设备的检测探头；

所述中空本体位于所述探测部围设有被测单元；

所述被测单元的一端位于所述中空本体的顶部，所述被测单元的另一端位于与所述中空本体顶部对应的底部，所述被测单元的至少两个部分位于所述中空本体内并与所述探测部相互平行；

所述被测单元位于所述中空本体内的至少两个部分位于以所述探测部为圆心的同侧径线上；

所述检测探头用于探测被测单元位于所述中空本体内的部分，以进行超声成像检测。

本发明提供的用于超声成像设备的深度检测装置，其有益效果在于：

中空本体对整体起到安装支撑作用，且中空本体周侧的连通部用于连通中空本体的内外连唱歌，将超声成像设备的检测探头放置在检测部，被测单元围设在探测部处，且被测单元在中空本体内至少存在两个相互平行的部分，这两个相互平行的部分位于以探测部为圆心的同侧径线上。检测探头探测被测单元位于中空本体内的部分，以进行超声成像，比较成像后被测单元在图像上的位置，以及被测单元的实际位置，从而对超声成像分辨率在以探测部为圆心的径向探测深度进行检测。

检测装置在使用时，将中空本体浸没在成像反射介质中，检测探头发出的超声波在成像反射介质中传播，超声波传递至被测单元位于中空本体内的部分上时发生反射，而且检测探头可以接收这一反射，并将反射信号传输至超声成像设备上完成超声成像，以完成分辨率检测工作。

只有在使用过程中才将中空本体浸没在成像反射介质中，无需将成像反射介质预先灌封在中空本体内，可以提高对检测装置进行工业生产的便捷性，有利于检测装置在工业上的大规模生产。

可选的，所述被测单元包括被测靶线，所述被测单元包括被测靶线，所述被测靶线绕设在所述被测单元的两个端部；所述被测靶线至少有两个相互平行的部分位于所述中空本体的内侧，且所述被测靶线位于所述中空本体内的部分位于以所述探测部为圆心的同侧径线上，并与所述探测部平行；所述检测探头用于对所述被测靶线位于所述中空本体内的部分进行探测，以进行超声成像检测。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：被测靶线位于中空本体内侧的部分与检测探头相呼应，以进行超声成像；将被测靶线绕设在被测单元的两端，使得被测靶线至少有两个相互平行的部分在中空本体的内部，且这两个相互平行的部分位于以探测部为圆心的同侧径线上，当检测探头进行超声成像时，能够在图像上观测到被测靶线的位置信息，通过比对被测靶线的实际位置，以及成像精度，从而对待测超声成像设备的探测深度进行检测。

可选的，所述中空本体的顶部侧壁和底部侧壁上贯穿开设有贯通部，且所述中空本体两个侧壁上的贯通部相互对应；所述被测靶线依次穿设在所述中空本体两个侧壁上的所述贯通部中。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：在中空本体顶部侧壁和底部侧壁开设相互对应的贯通部，并将被测靶线穿设在贯通部中，能够提高被测靶线在中空本体内的平行度，且被测靶线位于贯通部中能够提高被测靶线位于中空本体内的位置稳定性。

可选的，所述被测单元包括绕线组件，所述绕线组件位于所述被测单元的两个端部，所述绕线组件对应设置在所述贯通部处；所述被测靶线绕设在所述被测单元两端的绕线组件上；所述绕线组件对所述被测靶线进行导引换向。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：将被测靶线从贯通部中穿出后，将被测靶线绕设在绕线组件上，使得被测靶线固定在绕线组件上，或将被测靶线绕过绕线组件后，再次穿入贯通部进入中空本体内侧，从而实现一个被测靶线在中空本体内形成多个相互平行的部分；将被测靶线绕设在被测单元两端的绕线组件上，能够调节被测靶线的松紧程度以及在中空本体内的平行度。

可选的，所述绕线组件包括绕线部，所述绕线部位于所述中空本体的外侧，且所述被测靶线绕设在所述绕线部，所述绕线部对所述被测靶线进行导引换向。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：将被测靶线从贯通部中穿出后，将被测靶线绕设在绕线部上，可以将被测靶线固定捆扎在绕线部上对被测靶线的端部进行固定，也可以将被测靶线绕过绕线组件后，对被测靶线的穿线方向进行改变后重新穿入贯通部进入中空本体内部。

可选的，所述中空本体上设置有锁紧部，所述锁紧部位于所述绕线部的旁侧，所述被测靶线的至少一个端部固定锁紧在锁紧部。

通过采用上述技术方法，其有益效果在于：中空本体上的锁紧部能够对被测靶线的端部进行固定；将被测靶线的一个端部固定锁紧在锁紧部上，再将被测靶线绕设在绕线部，使得被测靶线在绕线部上改变穿线方向并穿入贯通部进入中空本体内；将被测靶线的第一个端部固定在锁紧部上，能够使得被测靶线在穿线移动时，被测靶线端部的位置稳定性；当被测靶线完成穿线后，同样可以将被测靶线的端部固定在锁紧部，从而提高被测靶线在中空本体上的位置稳定性。

可选的，所述绕线组件包括夹紧部，所述夹紧部位于所述绕线部与所述中空本体侧壁之间；所述被测靶线穿设所述夹紧部，且所述夹紧部与所述被测靶线之间间隙配合。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：当被测靶线在中空本体上进行穿设绕线时，将被测靶线从夹紧部中穿过，夹紧部可以对被测靶线的位置进行限定，进一步提高被测靶线在中空本体内的平行度，同时由于夹紧部与被测靶线之间采用间隙配合，因此可以将被测靶线在夹紧部处对被测靶线的平行度进行微调，且被测靶线在夹紧部上穿线移动时，夹紧部不会对被测靶线的移动造成阻碍以及不会对被测靶线表面造成剐蹭。

可选的，所述夹紧部上开设有穿行间隙，所述穿行间隙与所述贯通部相互连通，所述被测靶线穿设于所述穿行间隙内，且所述穿行间隙与所述被测靶线之间间隙配合。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：将被测靶线穿设在夹紧部上的穿行间隙中，穿行间隙与被测靶线之间间隙配合，有利于被测靶线的穿线移动。

可选的，所述探测部包括探测区，所述探测区位于所述中空本体的内侧，所述探测区用于放置超声成像设备的检测探头，且所述检测探头的检测端位于所述探测区。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：将超声成像设备的检测探头放置在位于中空本体内侧的探测区，检测探头在探测区对被测单元位于中空本体内的部分进行超声波探测，并且将探测到的信号传输到超声成像设备处进行成像；由于被测单元至少有两个相互平行的部分位于中空本体内，且位于以探测部为圆心的同侧径线上，超声成像设备成像后，可以在图像上观测到在图像中心点径线上的两个被测单元成像点，从而对检测探头在径线深度方向的检测精度进行检测。

可选的，所述探测部包括两个安装部，两个安装部对称设置在所述中空本体的内顶部侧壁和内底部侧壁上，所述探测区位于两个所述安装部之间；所述安装部用于放置检测探头，使得所述检测探头的检测端位于所述探测区。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：对超声成像设备的检测探头进行放置时，将检测探头放置在两个安装部上，能够提高检测探头的放置稳定性，并且使得检测探头的检测端位于探测区，能够提高检测探头检测端在检测时的位置稳定性。

可选的，所述安装部内开设有插接部，所述安装部相对远离所述探测区的一侧贯穿所述中空本体侧壁，以使得所述插接部与所述中空本体的外侧相互连通；所述插接部用于安装检测探头，所述检测探头从所述插接部插入所述安装部。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：将检测探头从插接部中插入安装部内部，使得检测探头被放置在安装部内的插接部中，能够进一步提高检测探头在安装部在的放置稳定性，提高成像精度，同时可以对检测探头起到一定的保护作用。

可选的，所述安装部位于自身与所述中空本体侧壁的贯穿连接处设置有落位部，所述落位部开设有落位倒角，所述落位倒角位于所述安装部开设有插接部的周侧，且所述落位倒角朝向所述插接部中心倾斜设置。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：将检测探头插入插接部时，落位部上的落位倒角对检测探头起到引导作用，提高检测探头的安装便捷性，同时落位部能够对检测探头起到承接作用，提高了检测探头的放置稳定性和放置便捷性。

可选的，所述安装部靠近所述探测区的一侧呈收口设置。

通过采用上述技术方案，其有益效果在于：将检测探头的检测端放置在探测区，而安装部靠近探测区的一端呈收口设置，当检测端发射超声波时，避免在安装部端部产生强反射，干扰检测探头对被测单元的检测成像。

第二方面，本发明提供的一种用于超声成像设备的深度检测装置的检测方法，包括以下步骤：

将所述检测装置浸没于成像反射介质中，再将待检测的超声成像设备的检测探头放置于所述探测部；

观测超声成像设备对被测单元的成像，及被测单元在中空本体内的实际位置，对超声成像设备在以所述探测部为圆心的径向上的检测深度进行测量。

本发明提供的用于超声成像设备的深度检测装置的检测方法，其有益效果在于：。

附图说明

图1是本发明实施例中用于超声成像设备的深度检测装置的整体结构示意图；

图2是本发明实施例中深度检测装置的顶部结构示意图；

图3是本发明实施例中探测部的部分剖面结构示意图；

图4是本发明实施例中被测单元的部分剖面结构示意图；

图5是本发明实施例中用于超声成像设备的深度检测装置的检测方法的流程图。

附图标记说明：

1、中空本体；2、连通部；3、支撑脚；4、探测部；41、探测区；42、安装部；5、插接部；6、落位部；7、落位倒角；8、被测单元；81、被测靶线；82、绕线组件；821、绕线部；822、夹紧部；8221、夹紧配合部；9、贯通部；10、固定部；11、锁紧部；12、穿行间隙；13、压紧部。

具体实施方式

为使本发明实施例的目的、技术方案和优点更加清楚，下面将对本发明实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例是本发明一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本发明中的实施例，本领域普通技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本发明保护的范围。除非另外定义，此处使用的技术术语或者科学术语应当为本发明所属领域内具有一般技能的人士所理解的通常意义。本文中使用的“包括”等类似的词语意指出现该词前面的元件或者物件涵盖出现在该词后面列举的元件或者物件及其等同，而不排除其他元件或者物件。

本发明实施例提供了用于超声成像设备的深度检测装置。

参照图1和图2所示的用于超声成像设备的深度检测装置，包括中空本体1，中空本体11的周侧设置有连通部2，连通部2用于连通中空本体1的内外两侧。

一些实施例中，中空本体1的周侧壁上均开设有连通部2，且多个连通部2均用于连通中空本体1的内外两侧，多个连通部2共同作用，能够提高中空本体1内外两侧进行介质流动的速率，有利于外接的液体介质进入中空本体1的内侧。

一些实施例中，中空本体1周侧壁上的连通部2呈连通窗设置，且连通窗贯穿中空本体1的侧壁，呈连通窗设置的连通部2可以进一步扩大中空本体1内外两侧的连通截面积，从而进一步提高中空本体1内外两侧进行介质流动的速率。

一些实施例中，中空本体1周侧壁上的连通部2呈连通孔设置，中空本体1每一周侧壁上连通孔可以设置有多个，连通孔贯穿中空本体1的侧壁，连通孔可以保证中空本体1内外两侧相互连通的同时，提高中空本体1的结构强度。

一些实施例中，中空本体1呈中空圆柱状，中空本体1沿自身轴线方向的周侧壁上开设有多个连通部2，且多个连通部2沿中空本体1截面圆周方向间断开设，使得中空本体1周侧依旧有用于支撑整体结构的支撑边。

一些实施例中，中空本体1呈中空四棱柱状，中空本体1周向的四个侧壁上均开设有连通部2，且中空本体1周向的四个棱边对中空本体1的整体结构起到支撑作用。

一些实施例中，中空本体1呈中空多棱柱状，且该中空本体1周向的棱边多于四条，中空本体1周向的至少一个周侧壁上开设有连通部2，以使得中空本体1的内外两侧相互连通，而且中空本体1至少有两个相互平行的侧壁上未开设连通部2。

一些实施例中，参照图1和图2，中空本体1的底部侧壁上安装有多个支撑脚3，多个支撑脚3相互配合以对中空本体1起到放置支撑作用，且多个支撑脚3相对远离中空本体1的一端位于同一平面上，从而多个支撑脚3可以将中空本体1水平放置。

一些实施例中，多个支撑脚3分别设置在中空本体1底部侧壁的端角上。

一些实施例中，支撑脚3采用螺纹转动的方式固定在中空本体1上。

一些实施例中，中空本体1的顶部侧壁上开设多个螺纹孔，该螺纹孔能够用于安装支撑脚3，从而能够使得中空本体1的顶部与底部进行互换。

参照图1和图3，中空本体1的内部中空部分设置有探测部4，探测部4用于放置检测探头，该检测探头为待进行分辨率检测的超声成像设备的检测探头。

一些实施例中，探测部4位于中空本体1内侧的中心位置，在检测平面上对中空本体1内的其他位置具有相同的探测距离，从而可以在检测平面上对中空本体1内的各个位置进行均匀的探测。

一些实施例中，探测部4位于中空本体1内侧的偏心位置，在检测平面上对中空本体1内的某个特定方向、特定位置具有更长的探测距离，从而可以在检测平面上对超声成像设备进行长距离下成像。

一些实施例中，参照图1和图3，探测部4包括探测区41，探测区41位于中空本体1的内部中空部分，探测区41用于放置超声成像设备的检测探头，且检测探头的检测端位于探测区41中。

当检测探头的检测端位于探测区41发出超声波时，超声波在中空本体1内传播，当超声波触碰到被测物时，超声波在被测物表面发生反射，检测探头的检测端能够接收反射后的超声波，并将信号传递至超声成像设备处进行超声探测成像。

一些实施例中，探测部4的两端分别位于中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁上，使得探测区41位于中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁之间。

一些实施例中，探测区41位于中空本体1内侧的中心位置，在检测端的检测平面上对中空本体1内的其他位置具有相同的探测距离，从而可以在检测平面上对中空本体1内的各个位置进行均匀的探测。

一些实施例中，探测区41位于中空本体1内侧的偏心位置，在检测端的检测平面上对中空本体1内的某个特定方向、特定位置具有更长的探测距离，从而可以在检测平面上对超声成像设备进行长距离下的成像。

一些实施例中，参照图1和图3，探测部4包括两个安装部42，且两个安装部42对称安装在中空本体1的内顶部侧壁和内底部侧壁上，探测区41位于两个安装部42之间，其中安装部42用于放置检测探头，从而使得检测探头的检测端恰好位于探测区41。

一些实施例中，相同的两个安装部42在中空本体1上处于同一直线上，两个安装部42对称安装在中空本体1内的两个侧壁上，探测区41位于两个安装部42相互靠近的端部之间，安装部42能够提高检测探头在中空本体1内的放置稳定性，从而提高超声成像设备的成像质量，而且探测区41为裸露空间，有利于检测端在探测区41发出并接收超声波信号。

一些实施例中，两个安装部42位于中空本体1的中心位置，安装部42与中空本体1侧壁的连接处均位于中空本体1侧壁的中心处，且两个安装部42同轴设置，从而使得探测区41位于中空本体1的中心位置。

一些实施例中，通过改变安装部42的设置位置，以及改变两个安装部42各自的长度，从而改变探测区41在中空本体1内处在不同的位置，以应对不同的超声成像场景。

一些实施例中，参照图1和图3，安装部42内贯穿开设有插接部5，且安装部42相对远离探测区41的一侧贯穿中空本体1侧壁，从而使得插接部5与中空本体1的外侧相互连通，其中插接部5用于检测探头的安装，将检测探头从插接部5处安装在安装部42的内部，并使得检测探头的检测端位于探测区41。

一些实施例中，将检测探头从中空本体1顶部侧壁插入插接部5中后，检测探头在插接部5中移动，并直至检测探头的端部从安装部42的端部伸出，检测探头的端部插入另一个安装部42的插接部5中，使得检测探头的检测端位于探测区41。将检测探头的端部插入在两个安装部42中进行固定，能够进一步提高检测探头的位置稳定性。

一些实施例中，安装部42内开设的插接部5呈圆柱状开设，插接部5用于连通中空本体1顶部侧壁外侧与探测区41，将检测探头从插接部5插入安装部42完成安装后，安装部42位于插接部5的周侧壁与检测探头的侧壁相互贴合，从而对检测探头的位置起到进一步的固定，此时检测探头的检测端即位于探测区41。

一些实施例中，插接部5在安装部42内的开设形状，与待进行分辨率检测的超声成像设备上的检测探头的外缘形状相适应，以使得检测探头能够稳定插入插接部5为必要。

一些实施例中，参照图1和图3，安装部42位于自身与中空本体1侧壁的贯穿连接处设置有落位部6，且落位部6上贯穿开设有与插接部5同轴且相互连通的开孔，从而使得检测探头可以从落位部6处插入插接部5中。

一些实施例中，将检测探头从落位部6插入插接部5后，检测探头远离检测端的一侧位于落位部6，落位部6对其起到承载作用，进一步提高了检测探头的放置稳定性。

一些实施例中，落位部6可拆卸设置在中空本体1的侧壁上，当面对不同长度检测探头的安装放置时，可以通过更换不同高度的落位部6，以使得检测探头安装在安装部42后，落位部6对检测探头能够起到承载作用。

一些实施例中，落位部6采用螺纹转动的方式设置在中空本体1的侧壁上。

一些实施例中，参照图1和图3，落位部6相对远离安装部42的一侧上开设有落位倒角7，且落位倒角7位于安装部42开设有插接部5的周侧，且落位倒角7朝向插接部5的中心倾斜设置。

一些实施例中，将检测探头插入插接部5时，落位倒角7对检测探头起到导向作用，能够提高检测探头的插接便捷性，同时落位倒角7可以提高落位部6与检测探头的接触面积，进一步提高检测探头的放置稳定性。

一些实施例中，落位倒角7的开设形状与待进行分辨率检测的超声成像设备的检测探头的外缘形状相适应，以使得落位部6位于落位倒角7处的侧壁能够与检测探头相贴合为必要。

一些实施例中，安装部42呈贯通的圆柱管状，且两个呈圆柱管状的安装部42相对设置，两个安装部42之间的贯通处也相对设置。

一些实施例中，安装部42呈贯通的多棱柱管状，且两个呈多棱柱管状的安装部42相对设置，两个安装部42之间的贯通处也相对设置。

一些实施例中，参照图1和图3，安装部42逐渐靠近探测区41的一侧呈收口设置，即安装部42靠近探测区41端部的外侧壁向插接部5逐渐靠近，使得安装部42沿垂直自身方向的截面投影大小逐渐减小。

当检测探头的检测端位于探测区41内，对中空本体1内侧进行超声探测成像时，安装部42靠近探测区41的端部不会形成强反射对最终成像造成干扰。

一些实施例中，安装部42端部1cm的部分的壁厚为0.5mm，且该端部为安装部42靠近探测区41的一端。

一些实施例中，安装部42的整体厚度为0.5mm。

参照图1和图4，中空本体1位于探测部4围设有被测单元8，被测单元8的一端位于中空本体1的顶部，被测单元8的另一端位于与中空本体1顶部相对的底部，被测单元8的中间部分位于中空本体1内，并与探测部4相平行。

检测探头在探测部4向中空本体1内发出超声波，当超声波接触到被测单元8位于中空本体1内的部分时，超声波在被测单元8表面发生反射，检测探头接收到反射后信号并传输至超声成像设备中进行超声成像。

参照图1和图4，被测单元8至少有两个相互平行的部分位于中空本体1内，且被测单元8位于中空本体1内的部分位于以探测部4为圆心的同侧径线上，即位于以探测部4为圆心的同一条半径上，检测探头用于探测被测单元8位于中空本体1内的部分，以进行超声成像检测。

一些实施例中，被测单元8有四个相互平行的部分位于中空本体1内，且这四个部分位于以探测部4为圆心的同一条半径上。

一些实施例中，中空本体1上设置有两个被测单元8，且每个被测单元8分别位于中空本体1内以探测部4为圆心的两条半径上，这两条半径形成夹角，每个被测单元8位于中空本体1内的部分，均分别位于以探测部4为圆心的半径上。

一些实施例中，被测单元8距离探测部4的最短之间距离为3mm，距离探测部4的最长距离为19mm。

一些实施例中，被测单元8位于中空本体1内探测部4同侧的相邻两个部分的最短距离为0.5mm，最长距离为16mm。

一些实施例中，参照图1和图4，被测单元8包括被测靶线81，被测靶线81绕设在被测单元8的两个端部，被测靶线81至少有两个相互平行的部分位于中空本体1的内侧，且被测靶线81相互平行的部分位于以探测部4为圆心的同侧径线上，且被测单元8相互平行的部分与探测部4平行。

检测探头在探测部4发出超声波，当超声波接触到被测靶线81位于中空本体1内的部分时，超声波在被测靶线81表面发生反射，检测探头接收到这一反射信号后，并传输至超声成像设备进行超声成像，从而对超声成像设备在以探测部4为圆心的径向探测深度进行检测。

一些实施例中，当被测靶线81出现断裂或其他情况导致被测靶线81需要进行更换时，可以直接对对应被测单元8上的被测靶线81进行更换，从而提高检测装置整体的使用耐久性。

一些实施例中，中空本体1上设置有一个被测单元8，被测单元8中包含一根被测靶线81，将被测靶线81在中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁来回穿设，使得被测靶线81有两个相互平行的部分位于中空本体1内部，且被测靶线81的这两个相互平行的部分均位于以探测部4为圆心的同一条半径上。

一些实施例中，中空本体1上设置有一个被测单元8，被测单元8中包含两根被测靶线81，将两根被测靶线81穿设在中空本体1内，使得每一被测靶线81均有一个部分位于中空本体1内，且两根被测靶线81位于中空本体1内的部分相互平行，且这两根靶线均位于以探测部4为圆心的同一条半径上。

一些实施例中，中空本体1上设置有两个被测单元8，且每个被测单元8均含有一根被测靶线81，其中一个被测靶线81在中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁上来回穿设，形成四个相互平行的部分位于中空本体1的内部，另一个被测靶线81在中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁来回穿设，形成两根相互平行的部分位于中空本体1的内部。两根被测靶线81分别在中空本体1内形成的部分均相互平行，且均位于中空本体1的同一条直径上。

一些实施例中，被测靶线81距离探测部4的最短之间距离为3mm，距离探测部4的最长距离为19mm。

一些实施例中，被测靶线81位于中空本体1内探测部4同侧的相邻两个部分的最短距离为0.5mm，最长距离为16mm。

一些实施例中，被测靶线81为尼龙材质。

一些实施例中，被测靶线81至少位于中空本体1内侧的部分为尼龙材质。

一些实施例中，被测靶线81至少被测部分为尼龙材质。

一些实施例中，被测靶线81的丝径为50um。

一些实施例中，被测靶线81至少位于中空本体1内侧的部分的丝径为50um。

一些实施例中，被测靶线81至少被测部分的丝径为50um。

一些实施例中，参照图1和图2，中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁上均开设有贯通部9，且中空本体1顶部侧壁和底部侧壁上的贯通部9相互对应，被测靶线81依次穿设在中空本体1两个侧壁上相对应的贯通部9中。

一些实施例中，贯通部9与被测靶线81之间采用间隙配合，当被测靶线81从贯通部9中穿入穿出时，中空本体1位于贯通部9处的侧壁不会对被测靶线81的移动造成影响，且不会对被测靶线81表面造成剐蹭。

一些实施例中，中空本体1位于每一被测单元8均对应开设有贯通部9，这一被测单元8上的所有被测靶线81均从这一对应的贯通部9中穿过。

一些实施例中，中空本体1对应被测靶线81穿入穿出中空本体1处开设有一个贯通部9，当一根被测靶线81在中空本体1上形成两个相互平行的部分时候，中空本体1即在中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁上均开设两个贯通部9，且顶部侧壁上的贯通部9和底部侧壁上贯通部9相互对应。

一些实施例中，贯通部9呈圆孔状，被测靶线81从贯通部9的圆心处穿入或穿出贯通部9。

一些实施例中，贯通部9呈腰孔状，腰孔状的贯通部9有利于被测靶线81在贯通部9中来回穿设形成多个相互平行的部分。

一些实施例中，贯通部9的开设形状，以使得被测靶线81可以从贯通部9穿出为必要。

参照图1和图4，被测单元8包括绕线组件82，绕线组件82位于被测单元8的两个端部，即被测单元8两端的绕线组件82分别位于中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁上，且绕线组件82对应设置在对应的贯通部9处，被测靶线81从贯通部9中穿出后，即绕设在绕线组件82上，绕线组件82对被测靶线81进行导引换向。

一些实施例中，将被测靶线81的一端预先固定在中空本体1底部侧壁上的绕线组件82上后，将被测靶线81从贯通部9穿入中空本体1内，使得被测靶线81在中空本体1内走线，并将被测靶线81的另一端从贯通部9穿出中空本体1并绕设在中空本体1顶部侧壁上的绕线组件82上，使得被测靶线81在绕线组件82上缠绕并改变走线方向后，从贯通处再次穿入中空本体1内，最终将被测靶线81固定在中空本体1底部侧壁上的绕线组件82上。

一些实施例中，被测靶线81的两端分别固定在中空本体1顶部侧壁和底部侧壁上的绕线组件82上。

一些实施例中，被测靶线81在绕线组件82上至少绕设1/4圈。

一些实施例中，被测靶线81可以在绕线组件82上绕设多圈，通过在绕线组件82上进行多圈缠绕，可以对被测靶线81在中空本体1内的平行度进行微调，同时可以调节被测靶线81的有效长度。

一些实施例中，被测靶线81与绕线组件82之间采用低摩擦滑动接触，以使得被测靶线81在绕线组件82上穿线移动时，绕线组件82不会对被测靶线81表面造成剐蹭或阻碍被测靶线81的穿线移动。

一些实施例中，被测单元8的每个端部均设置有多个绕线组件82，且多个绕线组件82共用一个被测靶线81，将被测靶线81在多个绕线组件82上来回绕设，从而在中空本体1内形成多个相互平行的部分。

一些实施例中，参照图1和图4，绕线组件82包括绕线部821，且绕线部821位于中空本体1的内侧，绕线部821对被测靶线81进行导引换向。

一些实施例中，绕线组件82包括一个绕线部821，将被测靶线81从贯通部9中穿出后，使得被测靶线81在绕线部821上绕过1/2圈之后，使得被测靶线81在绕线部821上改变走线方向后，被测靶线81的走线方向改变180°后再次从贯通部9穿入中空本体1内。

一些实施例中，绕线组件82包括两个绕线部821，两个绕线部821相互平行设置在中空本体1的外侧，将两个绕线部821分别称为第一绕线部821和第二绕线部821，将被测靶线81从贯通部9中穿出后绕设在第一绕线部821上，第一绕线部821使得被测靶线81的走线方向改变180°后重新穿入中空本体1内，被测靶线81在另一侧的绕线组件82上完成绕线后，被测靶线81从贯穿部穿出并绕设在第二绕线部821上，被测靶线81的走向在第二绕线部821上改变180°后，重新进入中空本体1内，此时被测靶线81在中空本体1内形成四个相互平行的部分。

一些实施例中，将被测靶线81在第一绕线部821上绕过1/4圈后，将被测靶线81在第二绕线部821上绕过1/4圈，再将被测靶线81从贯通部9穿入中空本体1内，此时被测靶线81在中空本体1内形成两个相互平行的部分。

一些实施例中，被测靶线81的端部可以缠绕固定在绕线部821。

一些实施例中，被测靶线81的两个端部可以位于中空本体1同侧的绕线部821。

一些实施例中，被测靶线81的两个端部可以分别位于中空本体1两侧的绕线部821。

一些实施例中，绕线部821呈圆柱状，被测靶线81缠绕在绕线部821轴线方向的周侧壁上。

一些实施例中，绕线部821呈沙漏状，被测靶线81缠绕在绕线部821的腰部，能够提高被测靶线81在绕线部821上的位置稳定性。

一些实施例中，绕线部821呈多棱柱状，且被测靶线81缠绕在绕线部821周向的侧壁上，多棱柱的棱边可以提高被测靶线81在绕线部821上的位置稳定性。

一些实施例中，绕线部821上开设有环槽，将被测靶线81在绕线部821上缠绕时，可以将被测靶线81绕设卡接在卡槽内，可以提高被测靶线81在绕线部821上稳定性的同时，还能提高被测靶线81在中空本体1内的平行度。

一些实施例中，参照图1和图2，中空本体1上设置有固定部10，且固定部10设置在中空本体1的顶部侧壁和底部侧壁上，绕线部821设置在固定部10的侧壁上，固定部10对绕线部821起到安装作用。

一些实施例中，中空本体1对应每一绕线组件82设置有两个固定部10，且绕线组件82中的所有绕线部821均设置在两个固定部10之间，被测靶线81从两个固定部10之间绕设在绕线部821上。

一些实施例中，中空本体1对应每一绕线部821设置有两个固定部10，且绕线部821设置在两个固定部10之间，被测靶线81从两个固定部10之间绕设在绕线部821上。

一些实施例中，绕线部821转动设置在固定部10上，转动设置在绕线部821在被测靶线81的穿线过程中，会随着被测靶线81在绕线部821上移动，绕线部821发生转动，能够进一步减小绕线部821与被测靶线81之间摩擦，对被测靶线81表面起到保护作用，同时可以便于对被测靶线81在中空本体1内的松紧程度进行调节。

一些实施例中，绕线部821固定设置在固定部10上，将被测靶线81绕设在绕线部821上，能够提高被测靶线81在中空本体1内的位置稳定性。

一些实施例中，参照图1和图2，中空本体1上设置有锁紧部11，锁紧部11位于绕线部821的旁侧，被测靶线81的至少一个端部被固定锁紧在锁紧部11上。

一些实施例中，被测靶线81的尾端被固定锁紧在锁紧部11上，再将被测靶线81的首端绕设在绕线部821上进行走向改变后，穿入贯通部9进入中空本体1的内侧，被测靶线81在中空本体1内来回走线形成多个相互平行的部分后，将被测靶线81的首端固定在最后一个绕设的绕线部821上。

一些实施例中，被测靶线81的两端均分别设置在不同的锁紧部11上。

一些实施例中，被测靶线81的尾端固定捆扎在绕线部821，被测靶线81的首端固定锁紧在锁紧部11上。

一些实施例中，锁紧部11采用螺纹转动的方式连接在中空本体1的侧壁上，将被测靶线81的端部固定在锁紧部11上，然后转动锁紧部11，对被测靶线81进行固定，同时可以通过转动锁紧部11来调节被测靶线81在中空本体1内的松紧程度。

一些实施例中，参照图1和图4，绕线组件82包括夹紧部822，且夹紧部822位于绕线部821与中空本体1侧壁之间，被测靶线81穿设夹紧部822，并与夹紧部822之间间隙配合。

将被测靶线81从贯通部9穿出后，再将被测靶线81穿入夹紧部822中，使得被测靶线81从夹紧部822穿出，夹紧部822能够对被测靶线81的位置起到矫正作用，提高被测靶线81在中空本体1内的平行度，当被测靶线81从夹紧部822穿出后，再将被测靶线81绕设在绕线部821。

一些实施例中，参照图1和图4，夹紧部822上开设有穿行间隙12，穿行间隙12与贯通部9相互连通，且被测靶线81穿设在穿行间隙12内，穿行间隙12与被测靶线81之间间隙配合。

一些实施例中，夹紧部822位于中空本体1的外侧，且穿行间隙12与贯通部9相互连通。

一些实施例中，夹紧部822嵌设在中空本体1的内部，且穿行间隙12与贯通部9相互连通。

一些实施例中，夹紧部822位于两个固定部10之间。

一些实施例中，中空本体1上对应被测靶线81穿入穿出贯通部9的每一处均设置有一个夹紧部822，使得被测靶线81穿入或穿出贯通部9时，都需要进入夹紧部822中。

一些实施例中，中空本体1对应每一被测单元8设置有一个夹紧部822，这一被测单元8上的被测靶线81均穿设在对应夹紧部822上的穿行间隙12中。

一些实施例中，参照图1和图4，夹紧部822包括两个夹紧配合部8221，两个夹紧配合部8221相互平行，且两个夹紧配合部8221之间存在穿行间隙12，当被测靶线81从夹紧部822之间穿过时，被测靶线81即从两个夹紧配合部8221之间的穿行间隙12中穿过。

一些实施例中，两个夹紧配合部8221固定设置在中空本体1的外侧壁上，且使得穿行间隙12与贯通部9相互对应并相互连通；一些实施例中，两个夹紧配合部8221固定嵌设在中空本体1的侧壁内部，且穿行间隙12与贯通部9相互对应并相互连通。

一些实施例中，夹紧配合部8221转动设置在中空本体1上。

一些实施例中，两个夹紧配合部8221均呈圆柱状，两个夹紧配合部8221相互平行，且夹紧配合部8221中间部分的周侧壁上开设有间槽，两个夹紧配合部8221的间槽相互拼合，形成穿行间隙12，被测靶线81即从穿行间隙12中穿过，并间隙配合。

一些实施例中，两个夹紧配合部8221除去开设间槽的部分相互抵触。

一些实施例中，两个夹紧配合部8221均呈棱柱状，以使得被测靶线81能够从两个夹紧配合部8221之间穿出为必要。

一些实施例中，两个夹紧配合部8221之间的穿行间隙12大小为0.07mm。

一些实施例中，两个夹紧配合部8221之间的穿行间隙12大小在0.06mm-0.08mm之间。

一些实施例中，两个夹紧配合部8221之间的穿行间隙12大小与被测靶线81的丝径比在1.2-1.6之间。

一些实施例中，被测靶线81的丝径为Amm，则两个夹紧配合部8221之间的穿行间隙12大小在(A+0.01)mm-(A+0.03)mm之间。

一些实施例中，夹紧部822包括一个夹紧配合部8221，夹紧配合部8221上存在穿行间隙12，被测靶线81从穿行间隙1212中穿过。

一些实施例中，夹紧配合部8221之间的穿行间隙12大小为0.07mm。

一些实施例中，夹紧配合部8221之间的穿行间隙12大小在0.06mm-0.08mm之间。

一些实施例中，夹紧配合部8221之间的穿行间隙12大小与被测靶线81的丝径比在1.2-1.6之间。

一些实施例中，被测靶线81的丝径为Amm，则夹紧配合部8221之间的穿行间隙12大小在(A+0.01)mm-(A+0.03)mm之间。

一些实施例中，参照图1和图2，中空本体11侧壁上设置有压紧部13，压紧部13与夹紧部822相互抵触，从而对夹紧部822的位置进行固定。

一些实施例中，压紧部13与两个夹紧部822均相互抵触，从而对两个夹紧部822进行同步压紧。

一些实施例中，压紧部13呈“凸”字形，压紧部13采用螺丝固定安装在中空本体1的侧壁上，并且通过螺丝与中空本体1之间的螺纹连接进行固定。

一些实施例中，夹紧部822转动设置在压紧部13上。

一些实施例中，夹紧部822固定设置在压紧部13上。

参照图5，本发明实施例中还公开了一种用于超声成像设备的轴向侧向分辨率检测装置的检测方法，包括以下步骤：

S100、将检测装置浸没在成像反射介质中，再将待检测的超声成像设备的检测探头放置在探测部；

S200、观测超声成像设备对被测单元的成像，及被测单元在中空本体内的实际位置，对超声成像设备在以探测部为圆心的径向检测深度进行测量。

一些实施例中，检测装置全部淹没在成像反射介质中。

一些实施例中，检测装置的上顶面与成像反射介质的液面齐平。

一些实施例中，成像反射介质为纯化水。

一些实施例中，成像反射介质为达到国家自来水水质标准的自来水。

虽然在上文中详细说明了本发明的实施方式，但是对于本领域的技术人员来说显而易见的是，能够对这些实施方式进行各种修改和变化。但是，应理解，这种修改和变化都属于权利要求书中所述的本发明的范围和精神之内。而且，在此说明的本发明可有其它的实施方式，并且可通过多种方式实施或实现。

Claims (14)

1.用于超声成像设备的深度检测装置，其特征在于，包括：

中空本体，所述中空本体的周侧设置有连通部，所述连通部用于连通所述中空本体的内外两侧；

所述中空本体内设置有探测部，所述探测部用于放置超声成像设备的检测探头；

所述中空本体位于所述探测部围设有被测单元；

所述被测单元的一端位于所述中空本体的顶部，所述被测单元的另一端位于与所述中空本体顶部对应的底部，所述被测单元的至少两个部分位于所述中空本体内并与所述探测部相互平行；

所述被测单元位于所述中空本体内的至少两个部分位于以所述探测部为圆心的同侧径线上；

所述检测探头用于探测被测单元位于所述中空本体内的部分，以进行超声成像检测。

2.根据权利要求1所述的深度检测装置，其特征在于，所述被测单元包括被测靶线，所述被测靶线绕设在所述被测单元的两个端部；

所述被测靶线至少有两个相互平行的部分位于所述中空本体的内侧，且所述被测靶线位于所述中空本体内的部分位于以所述探测部为圆心的同侧径线上，并与所述探测部平行；

所述检测探头用于对所述被测靶线位于所述中空本体内的部分进行探测，以进行超声成像检测。

3.根据权利要求2所述的深度检测装置，其特征在于，所述中空本体的顶部侧壁和底部侧壁上贯穿开设有贯通部，且所述中空本体两个侧壁上的贯通部相互对应；

所述被测靶线依次穿设在所述中空本体两个侧壁上的所述贯通部中。

4.根据权利要求3所述的深度检测装置，其特征在于，所述被测单元包括绕线组件，所述绕线组件位于所述被测单元的两个端部，所述绕线组件对应设置在所述贯通部处；

所述被测靶线绕设在所述被测单元两端的绕线组件上；

所述绕线组件对所述被测靶线进行导引换向。

5.根据权利要求3所述的深度检测装置，其特征在于，所述绕线组件包括绕线部，所述绕线部位于所述中空本体的外侧，且所述被测靶线绕设在所述绕线部，所述绕线部对所述被测靶线进行导引换向。

6.根据权利要求5所述的深度检测装置，其特征在于，所述中空本体上设置有锁紧部，所述锁紧部位于所述绕线部的旁侧，所述被测靶线的至少一个端部固定锁紧在锁紧部。

7.根据权利要求3所述的深度检测装置，其特征在于，所述绕线组件包括夹紧部，所述夹紧部位于所述绕线部与所述中空本体侧壁之间；

所述被测靶线穿设所述夹紧部，且所述夹紧部与所述被测靶线之间间隙配合。

8.根据权利要求7所述的深度检测装置，其特征在于，所述夹紧部上开设有穿行间隙，所述穿行间隙与所述贯通部相互连通，所述被测靶线穿设于所述穿行间隙内，且所述穿行间隙与所述被测靶线之间间隙配合。

9.根据权利要求1所述的深度检测装置，其特征在于，所述探测部包括探测区，所述探测区位于所述中空本体的内侧，所述探测区用于放置超声成像设备的检测探头，且所述检测探头的检测端位于所述探测区。

10.根据权利要求9所述的深度检测装置，其特征在于，所述探测部包括两个安装部，两个安装部对称设置在所述中空本体的内顶部侧壁和内底部侧壁上，所述探测区位于两个所述安装部之间；

所述安装部用于放置检测探头，使得所述检测探头的检测端位于所述探测区。

11.根据权利要求10所述的深度检测装置，其特征在于，所述安装部内开设有插接部，所述安装部相对远离所述探测区的一侧贯穿所述中空本体侧壁，以使得所述插接部与所述中空本体的外侧相互连通；

所述插接部用于安装检测探头，所述检测探头从所述插接部插入所述安装部。

12.根据权利要求11所述的深度检测装置，其特征在于，所述安装部位于自身与所述中空本体侧壁的贯穿连接处设置有落位部，所述落位部开设有落位倒角，所述落位倒角位于所述安装部开设有插接部的周侧，且所述落位倒角朝向所述插接部中心倾斜设置。

13.根据权利要求10所述的深度检测装置，其特征在于，所述安装部靠近所述探测区的一侧呈收口设置。

14.如权利要求1-13任一所述用于超声成像设备的深度检测装置的检测方法，其特征在于，包括以下步骤：

将所述检测装置浸没于成像反射介质中，再将待检测的超声成像设备的检测探头放置于所述探测部；

观测超声成像设备对被测单元的成像，及被测单元在中空本体内的实际位置，对超声成像设备在以所述探测部为圆心的径向上的检测深度进行测量。

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