CN116046815A - 一种双能ct成像方法、装置及系统 - Google Patents

一种双能ct成像方法、装置及系统 Download PDF

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Abstract

本发明公开了一种双能CT成像方法、装置及系统,方法包括:分别获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为探测器前不加载滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为探测器前加载滤波片时获取的投影图像;当不同所述指定角度扫描结束时,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,合成所述被检对象的三维体图像。本发明通过在探测器前设置滤波片的方式,仅采用一套射线发生装置和探测装置进行双能CT成像,能够降低成本。

Description

一种双能CT成像方法、装置及系统
技术领域
本发明涉及工业检测技术领域,尤其涉及一种双能CT成像方法、装置及系统。
背景技术
计算机X射线断层扫描技术(CT技术)是通过对物体各角度投影进行重建,最终得到物体的三维体数据。在工业检测中,通常采用单能成像的方式获取被扫描物信息,导致获得的物质信息不够准确。
X射线双能成像是利用物体对两种不同能量的射线的吸收率差异来进行物质属性识别的一种成像方法。如果将双能成像与CT技术进行融合,那么不仅可以得到物体的物质属性信息,还可以得到物体的密度信息,能够提升CT系统对物体的综合分析能力。常见的双能CT成像技术往往采用多个探测装置获取物体的高低能数据实现双能成像,使CT系统的成本增加。
发明内容
为了解决上述技术问题,本发明提供一种双能CT成像方法、装置及系统。
具体的,本发明的技术方案如下:
本发明提供一种双能CT成像方法,包括步骤:
分别获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为探测器前不加载滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为探测器前加载滤波片时获取的投影图像;
当不同所述指定角度扫描结束时,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,合成所述被检对象的三维体图像。
在一些实施例中,所述分别获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,具体包括:
控制旋转机构带动所述被检对象旋转至第一指定角度;
获取所述被检对象在所述第一指定角度下的所述高能投影图像;
在所述探测器前设置滤波片;
当所述探测器被所述滤波片覆盖时,获取所述被检对象在所述第一指定角度下的所述低能投影图像;
控制旋转机构旋转至其余所述指定角度,获取所述高能投影图像和所述低能投影图像。
在一些实施例中,所述根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,具体包括:
根据所述被检对象在不同所述指定角度下的所述高能投影图像和所述低能投影图像,选取第一待重建层数;
对所述第一待重建层数对应的所述高能投影图像和所述低能投影图像进行数据重建,获得对应的高能切片图像和低能切片图像;
分析所述高能切片图像和所述低能切片图像,获得所述被检对象的原子序数图;
对所述高能切片图像和所述低能切片图像进行图像融合,获得第一待重建层数的融合图像;
选取其余待重建层数,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建;
当所有待重建层数重建结束时,将所有待重建层数的所述原子序数图和所述融合图像分别进行数据整合,获取被检对象的三维体图像。
本发明还提供一种双能CT成像装置,包括:
投影模块,用于获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为探测器前不加载滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为探测器前加载滤波片时获取的投影图像;
重建模块,用于当所有不同所述指定角度扫描结束时,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,合成被检对象的三维体图像。
在一些实施例中,所述重建模块包括:
选取子模块,用于根据所述被检对象在不同所述指定角度下的所述高能投影图像和所述低能投影图像,选取待重建层数;
数据重建子模块,用于对所述待重建层数对应的所述高能投影图像和所述低能投影图像进行数据重建,获得对应的高能切片图像和低能切片图像;
分析子模块,用于分析所述高能切片图像和所述低能切片图像,获得所述被检对象的原子序数图;
融合子模块,用于对所述高能切片图像和所述低能切片图像进行图像融合,获得所述待重建层数的融合图像;
处理子模块,用于当所有所述待重建层数重建结束时,将所有所述待重建层数的所述原子序数图和所述融合图像分别进行数据整合,获取所述被检对象的三维体图像。
在一些实施例中,一种双能CT成像装置还包括控制模块,用于控制旋转机构带动所述被检对象旋转至所述不同指定角度。
本发明还提供一种双能CT成像系统,包括:
射线源,用于向被检对象发送射线;
滤波片,用于对所述射线源发出的所述射线进行滤波;
探测器,用于采集所述被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为所述探测器前不加载所述滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为所述探测器前加载所述滤波片时获取的投影图像;
计算机处理系统,用于将所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,获取被检对象的三维体图像。
在一些实施例中,所述滤波片为可配合所述探测器的采集频率进行切换的可动滤波片。
在一些实施例中,所述一种双能CT成像系统还包括:
旋转机构,用于放置所述被检对象,带动所述被检对象以预设的频率旋转,以便对所述被检对象进行多角度投影。
与现有技术相比,本发明的有益效果在于:
本发明提供的一种双能CT成像方法、装置及系统,在探测器前设置可动滤波片,分别在有滤波片和没有滤波片的情况下各采集一副图像,实现双能CT成像,本发明只采用一个探测装置,降低了双能CT成像的成本。
附图说明
下面将以明确易懂的方式,结合附图说明优选实施方式,对本发明的上述特性、技术特征、优点及其实现方式予以进一步说明。
图1是本发明的双能CT成像方法的一个实施例的流程图;
图2是本发明的双能CT成像方法的一个实施例的流程图;
图3是本发明的双能CT成像方法的一个实施例的流程图;
图4是本发明的双能CT成像装置的一个实施例的结构框图。
具体实施方式
以下描述中,为了说明而不是为了限定,提出了诸如特定系统结构、技术之类的具体细节,以便透彻理解本申请实施例。然而,本领域的技术人员应当清楚,在没有这些具体细节的其他实施例中也可以实现本申请。在其他情况中,省略对众所周知的系统、装置、电路以及方法的详细说明,以免不必要的细节妨碍本申请的描述。
应当理解,当在本说明书和所附权利要求书中使用时,术语“包括”指示所述描述特征、整体、步骤、操作、元素和/或组件的存在,但并不排除一个或多个其他特征、整体、步骤、操作、元素、组件和/或集合的存在或添加。
还应当进一步理解,在本申请说明书和所附权利要求书中使用的术语“和/或”是指相关联列出的项中的一个或多个的任何组合以及所有可能组合,并且包括这些组合。
另外,在本申请的描述中,术语“第一”、“第二”等仅用于区分描述,而不能理解为指示或暗示相对重要性。
为了更清楚地说明本发明实施例或现有技术中的技术方案,下面将对照附图说明本发明的具体实施方式。显而易见地,下面描述中的附图仅仅是本发明的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图,并获得其他的实施方式。
在一个实施例中,如图1所示,一种双能CT成像方法,包括步骤:
S100分别获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为探测器前不加载滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为探测器前加载滤波片时获取的投影图像;
S200当不同所述指定角度扫描结束时,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,合成所述被检对象的三维体图像。
本实施例公开的一种双能CT成像方法可以应用于工业检测中,例如,当被检测物为暗盒时识别暗盒的外部材料组成和内部物质属性、当被检测物为矿石时确定矿石内部的物质为有机物还是无机物等,通过获取无滤波片和有滤波片两种情况下被检对象的高低能投影图像,对获得的投影图像进行CT图像重建,得到被检对象的三维体图像,反映被检对象的物质构成信息和物质属性信息。本实施例虽然在获取高低能数据时需要进行两次扫描,但是由于设置了滤波片,所以只需要采用一套射线发生装置和探测装置就能够获得被检对象的高低能数据,实现双能CT成像,能够有效地降低成本。
在一个实施例中,如图2所示,一种双能CT成像方法,在上述实施例的基础上,步骤S100包括:
S101控制旋转机构带动所述被检对象旋转至第一指定角度;
具体的,旋转机构带动物体匀速旋转,旋转机构可以是旋转平台,第一指定角度的设定可以根据需要人为进行设定,或者根据历史数据进行设定。
S102获取所述被检对象在所述第一指定角度下的所述高能投影图像;
S103在所述探测器前设置滤波片;
具体的,滤波片可以是可动滤波片,在扫描过程中根据系统的采集频率覆盖在探测器前,对射线能量进行过滤,使得探测器能够采集到被检对象的低能投影图像。
S104当所述探测器被所述滤波片覆盖时,获取所述被检对象在所述第一指定角度下的所述低能投影图像;
S105控制旋转机构旋转至其余所述指定角度,获取所述高能投影图像和所述低能投影图像;
具体的,例如,控制旋转平台带动被检对象进行顺时针旋转,当旋转平台旋转了15°时,采集此时被检对象的高能投影图像;通过对滤波片的控制,使其能够配合探测器的采集频率进行状态切换,当滤波片将探测器覆盖时,再次采集被检对象的投影图像,由于滤波片吸收了部分的射线能量,此时采集到的为低能投影图像;控制旋转机构继续顺时针旋转15°,分别采集探测器前有无滤波片和有滤波片情况下的高低能投影图像,直到旋转机构带动被检对象旋转一周,扫描结束。
在工业检测中,通常采用单能成像获取被检物信息,或者通过灰度图查看被扫描物信息,现有的方法获取到的物质信息不够准确,在已知被检物材料的情况下应用较多,例如,铸件检测时可以通过单能成像获检测该铸件存在的缺陷。而本实施例中提供的方法,可以实现双能CT成像,不仅能够应用于被检物材料已知的情况,对于未知的物质,也可以详细分析其材质和属性,例如,考古研究过程中,对于发现到的物体,可以采用本实施例中的方法进行双能CT成像,判断其是有机物还是无机物。
在一个实施例中,如图3所示,一种双能CT成像方法,在实施例1的基础上,步骤S200包括:
S201根据所述被检对象在不同所述指定角度下的所述高能投影图像和所述低能投影图像,选取第一待重建层数;
S202对所述第一待重建层数对应的所述高能投影图像和所述低能投影图像进行数据重建,获得对应的高能切片图像和低能切片图像;
S203分析所述高能切片图像和所述低能切片图像,获得所述被检对象的原子序数图;
具体的,可以采用基材料分解法对采集到的高低能切片图像进行物质分辨,从而得到被检对象的原子序数图,原子序数图可以反映被检对象的物质属性信息,例如,进行矿石检测时,不同矿石内部的材料不同,比如石头和煤矿,通过分析得到的原子序数图,可以对不同种类的矿石进行识别;也可以利用原子序数图判断被检对象是有机物还是无机物。
S204对所述高能切片图像和所述低能切片图像进行图像融合,获得第一待重建层数的融合图像;
S205选取其余待重建层数,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建;
S206当所有待重建层数重建结束时,将所有待重建层数的所述原子序数图和所述融合图像分别进行数据整合,获取被检对象的三维体图像。
具体的,可以采用迭代法或者滤波反投影法等方法获取被检对象的三维体图像,三维体图像上每一个像素点的信息对应物体在该点的密度信息。
本实施例对CT图像重建过程进行了详细描述,通对高低能投影图像进行处理,最终得到物体的三维体图像,既能反映物质的构成信息,也能反映物质的属性信息。
在一个实施例中,如图4所示,一种双能CT成像装置,包括控制模块10、投影模块20、重建模块30,其中:
控制模块10,用于控制旋转机构带动所述被检对象旋转至所述不同指定角度。
投影模块20,用于获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为探测器前不加载滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为探测器前加载滤波片时获取的投影图像;
重建模块30,用于当所有不同所述指定角度扫描结束时,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,合成被检对象的三维体图像。
具体的,所述重建模块30包括:
选取子模块31,用于根据所述被检对象在不同所述指定角度下的所述高能投影图像和所述低能投影图像,选取待重建层数;
数据重建子模块32,用于对所述待重建层数对应的所述高能投影图像和所述低能投影图像进行数据重建,获得对应的高能切片图像和低能切片图像;
分析子模块33,用于分析所述高能切片图像和所述低能切片图像,获得所述被检对象的原子序数图;
融合子模块34,用于对所述高能切片图像和所述低能切片图像进行图像融合,获得所述待重建层数的融合图像;
处理子模块35,用于当所有所述待重建层数重建结束时,将所有所述待重建层数的所述原子序数图和所述融合图像分别进行数据整合,获取所述被检对象的三维体图像。
本申请中上述的双能CT成像装置与双能CT成像方法基于同一技术构思,本申请中的双能CT成像方法实施例的技术细节同样适用于本申请的双能CT成像装置实施例,为减少重复,本申请的双能CT成像装置实施例的技术细节可参照本申请的双能CT成像方法实施例,此处不再赘述。
本实施例中,由于平板探测器不具有双层结构,无法获得高低能投影图像,因此设置了可配合采集频率的可动滤波片装置,通过调整滤波片装置来实现双能成像。现有的双能成像方法往往采用双源双平板系统,或者通过设置不同的电压以产生不同能量的射线,本实施例采用单源单平板系统和固定的射线源,仅通过对滤波片的调整实现双能CT成像,相比于现有技术,能够有效节省成本。
在一个实施例中,一种双能CT成像系统,包括旋转机构、射线源、滤波片、探测器、计算机处理系统。其中,旋转机构为一旋转平台,在投影图像的采集过程中,用于放置被检对象并带动该被检对象进行高速旋转;射线源固定,设置在旋转平台一侧,射线管电压电流不变,持续向被检对象发送射线束;滤波片为能够配合探测器采集频率的可动滤波片,设置在探测器前,材料为铜,能够对射线源发出的射线进行过滤;探测器为平板探测器,设置在与射线源相对的一侧,采集有滤波片时和无滤波片时的投影图像并将其传送给计算机系统;计算机处理系统可以对接收到的高低能投影图像进行CT图像重建,具体包括基于高低能投影图像进行物质分辨和图像融合,以获得被检对象的原子序数图和融合图像,进一步整合得到的原子序数图和融合图像,从而获得被检对象的三维体图像,将处理后获得的三维体图像进行存储并通过显示设备展示给操作者,通过该计算机系统还可以对射线源和旋转平台进行控制。
应当说明的是,上述实施例均可根据需要自由组合。以上仅是本发明的优选实施方式,应当指出,对于本技术领域的普通技术人员来说,在不脱离本发明原理的前提下,还可以做出若干改进和润饰,这些改进和润饰也应视为本发明的保护范围。

Claims (10)

1.一种双能CT成像方法,其特征在于,包括步骤:
分别获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为探测器前不加载滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为探测器前加载滤波片时获取的投影图像;
当不同所述指定角度扫描结束时,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,合成所述被检对象的三维体图像。
2.根据权利要求1所述一种双能CT成像方法,其特征在于,所述分别获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,具体包括:
控制旋转机构带动所述被检对象旋转至第一指定角度;
获取所述被检对象在所述第一指定角度下的所述高能投影图像;
在所述探测器前设置滤波片;
当所述探测器被所述滤波片覆盖时,获取所述被检对象在所述第一指定角度下的所述低能投影图像;
控制旋转机构旋转至其余所述指定角度,获取所述高能投影图像和所述低能投影图像。
3.根据权利要求1所述一种双能CT成像方法,其特征在于,所述根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,具体包括:
根据所述被检对象在不同所述指定角度下的所述高能投影图像和所述低能投影图像,选取第一待重建层数;
对所述第一待重建层数对应的所述高能投影图像和所述低能投影图像进行数据重建,获得对应的高能切片图像和低能切片图像;
分析所述高能切片图像和所述低能切片图像,获得所述被检对象的原子序数图;
对所述高能切片图像和所述低能切片图像进行图像融合,获得第一待重建层数的融合图像;
选取其余待重建层数,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建;
当所有待重建层数重建结束时,将所有待重建层数的所述原子序数图和所述融合图像分别进行数据整合,获取被检对象的三维体图像。
4.一种双能CT成像装置,其特征在于,包括:
投影模块,用于获取被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为探测器前不加载滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为探测器前加载滤波片时获取的投影图像;
重建模块,用于当所有不同所述指定角度扫描结束时,根据所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,合成被检对象的三维体图像。
5.根据权利要求4所述一种双能CT成像装置,其特征在于,所述重建模块包括:
选取子模块,用于根据所述被检对象在不同所述指定角度下的所述高能投影图像和所述低能投影图像,选取待重建层数;
数据重建子模块,用于对所述待重建层数对应的所述高能投影图像和所述低能投影图像进行数据重建,获得对应的高能切片图像和低能切片图像;
分析子模块,用于分析所述高能切片图像和所述低能切片图像,获得所述被检对象的原子序数图;
融合子模块,用于对所述高能切片图像和所述低能切片图像进行图像融合,获得所述待重建层数的融合图像;
处理子模块,用于当所有所述待重建层数重建结束时,将所有所述待重建层数的所述原子序数图和所述融合图像分别进行数据整合,获取所述被检对象的三维体图像。
6.根据权利要求4所述一种双能CT成像装置,其特征在于,还包括:
控制模块,用于控制旋转机构带动所述被检对象旋转至所述不同指定角度。
7.一种双能CT成像系统,其特征在于,包括:
射线源,用于向被检对象发送射线;
滤波片,用于对所述射线源发出的所述射线进行滤波;
探测器,用于采集所述被检对象在不同指定角度下的高能投影图像和低能投影图像,其中,所述高能投影图像为所述探测器前不加载所述滤波片时获取的投影图像,所述低能投影图像为所述探测器前加载所述滤波片时获取的投影图像;
计算机处理系统,用于将所述高能投影图像和所述低能投影图像进行CT图像重建,获取被检对象的三维体图像。
8.根据权利要求7所述一种双能CT成像系统,其特征在于,所述滤波片为可配合所述探测器的采集频率进行切换的可动滤波片。
9.根据权利要求7所述一种双能CT成像系统,其特征在于,还包括:
旋转机构,用于放置所述被检对象,带动所述被检对象以预设的频率旋转,以便对所述被检对象进行多角度投影。
10.根据权利要求7所述一种双能CT成像系统,其特征在于,所述滤波片的材质为铜。
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Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100183117A1 (en) * 2007-07-19 2010-07-22 Hitachi Medical Corporation X-ray generating apparatus and x-ray ct apparatus using the same
CN102435621A (zh) * 2009-05-27 2012-05-02 清华大学 双能欠采样物质识别方法和系统
CN202948145U (zh) * 2012-09-26 2013-05-22 同方威视技术股份有限公司 Ct系统和用于ct系统的探测装置
CN103675931A (zh) * 2012-09-26 2014-03-26 同方威视技术股份有限公司 Ct系统和用于ct系统的探测装置
CN103913779A (zh) * 2012-12-31 2014-07-09 清华大学 多能ct成像系统以及成像方法
CN109632844A (zh) * 2019-01-09 2019-04-16 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 基于直线扫描轨迹的双能ct成像系统及方法
CN210803741U (zh) * 2019-03-25 2020-06-19 北京航星机器制造有限公司 一种基于新型探测装置的双能ct探测系统
CN113252714A (zh) * 2021-06-15 2021-08-13 德瑞科(天津)机械制造有限公司 一种具有滤波和防散射的结构及双能ct探测器
CN114113158A (zh) * 2021-11-08 2022-03-01 上海物影科技有限公司 目标物体识别装置及系统

Patent Citations (9)

* Cited by examiner, † Cited by third party
Publication number Priority date Publication date Assignee Title
US20100183117A1 (en) * 2007-07-19 2010-07-22 Hitachi Medical Corporation X-ray generating apparatus and x-ray ct apparatus using the same
CN102435621A (zh) * 2009-05-27 2012-05-02 清华大学 双能欠采样物质识别方法和系统
CN202948145U (zh) * 2012-09-26 2013-05-22 同方威视技术股份有限公司 Ct系统和用于ct系统的探测装置
CN103675931A (zh) * 2012-09-26 2014-03-26 同方威视技术股份有限公司 Ct系统和用于ct系统的探测装置
CN103913779A (zh) * 2012-12-31 2014-07-09 清华大学 多能ct成像系统以及成像方法
CN109632844A (zh) * 2019-01-09 2019-04-16 中国人民解放军战略支援部队信息工程大学 基于直线扫描轨迹的双能ct成像系统及方法
CN210803741U (zh) * 2019-03-25 2020-06-19 北京航星机器制造有限公司 一种基于新型探测装置的双能ct探测系统
CN113252714A (zh) * 2021-06-15 2021-08-13 德瑞科(天津)机械制造有限公司 一种具有滤波和防散射的结构及双能ct探测器
CN114113158A (zh) * 2021-11-08 2022-03-01 上海物影科技有限公司 目标物体识别装置及系统

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Denomination of invention: A dual energy CT imaging method, device, and system

Granted publication date: 20231103

Pledgee: Zhejiang Tailong Commercial Bank Co.,Ltd. Shanghai Branch

Pledgor: Shanghai Fuchs Intelligent Technology Co.,Ltd.

Registration number: Y2024310000009