CN116033657A - 一种自动挑选双线阻抗线的方法、装置及存储介质 - Google Patents
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- 238000000034 method Methods 0.000 title claims abstract description 45
- 238000003860 storage Methods 0.000 title claims abstract description 9
- 230000015654 memory Effects 0.000 claims description 22
- 238000012216 screening Methods 0.000 claims description 12
- 238000004590 computer program Methods 0.000 claims description 5
- 238000004458 analytical method Methods 0.000 claims description 4
- 238000012545 processing Methods 0.000 claims description 4
- 238000004040 coloring Methods 0.000 claims description 3
- 238000004519 manufacturing process Methods 0.000 abstract description 5
- 230000009286 beneficial effect Effects 0.000 abstract description 2
- 238000004891 communication Methods 0.000 description 2
- 238000010586 diagram Methods 0.000 description 2
- 101150096752 NCAM1 gene Proteins 0.000 description 1
- 238000004364 calculation method Methods 0.000 description 1
- 238000011161 development Methods 0.000 description 1
- 238000005516 engineering process Methods 0.000 description 1
- 230000006870 function Effects 0.000 description 1
- 238000007689 inspection Methods 0.000 description 1
- 238000012986 modification Methods 0.000 description 1
- 230000004048 modification Effects 0.000 description 1
- 230000003287 optical effect Effects 0.000 description 1
- 108090000623 proteins and genes Proteins 0.000 description 1
- 238000006467 substitution reaction Methods 0.000 description 1
- 238000012795 verification Methods 0.000 description 1
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Abstract
本发明公开了一种自动挑选双线阻抗线的方法、装置及存储介质，包括获取线宽参数和线距参数；在选定的线路层上查找符合线宽参数的多条阻抗线以形成第一阻抗线组；分析第一阻抗线组中的多条阻抗线两两之间的线距；利用两条阻抗线之间的线距，从多条阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条阻抗线，两条阻抗线至少部分区间的线距符合线距参数，本发明通过在挑选的满足指定线宽要求的单线阻抗线中分析不同阻抗线两两之间的线距并筛选得到满足指定线距要求的双线阻抗线，从而可以实现双线阻抗线的自动挑选，减少了工程师的工作量，提高了双线阻抗线挑选的效率和精准度，有利于节省时间和提高电路板的制作品质。
Description
技术领域
本发明涉及电路板制作技术领域，特别涉及一种自动挑选双线阻抗线的方法、装置及存储介质。
背景技术
随着电子通讯设备和汽车产品的飞速发展，印制电路板也在不断更新换代，对其阻抗的控制也越来越严格，线路板上阻抗线的种类和数量也越来越多。但在目前线路板行业中常用的Genes i s2000、I ncam等软件仅能挑选出符合线宽的单条阻抗线，由于双线阻抗线的两条阻抗线之间存在线距，现有技术中往往需要依靠工程师通过软件分析结合人工判断来将双线阻抗线一组组地挑选出来，手动挑选不仅效率低，费时费力，而且容易出现误选或者遗漏，影响制作的电路板的品质。
发明内容
本发明旨在至少解决现有技术中存在的技术问题之一。为此，本发明提出一种自动挑选双线阻抗线的方法、装置及存储介质，能够实现双线阻抗线的自动挑选，提高挑选的效率和精准度。
根据本发明的第一方面实施例的一种自动挑选双线阻抗线的方法，包括以下步骤：获取线宽参数和线距参数；在选定的线路层上查找符合所述线宽参数的多条阻抗线以形成第一阻抗线组；分析所述第一阻抗线组中的多条所述阻抗线两两之间的线距；利用两条所述阻抗线之间的线距，从多条所述阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，所述第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条所述阻抗线，两条所述阻抗线至少部分区间的线距符合所述线距参数。
根据本发明实施例的一种自动挑选双线阻抗线的方法，至少具有如下有益效果：
本发明的一种自动挑选双线阻抗线的方法，获取线宽参数和线距参数之后，先在选定的线路层上查找符合线宽参数的多条阻抗线以挑选得到满足指定线宽要求的单线阻抗线，再通过在挑选的满足指定线宽要求的单线阻抗线中分析不同阻抗线两两之间的线距并筛选得到满足指定线距要求的双线阻抗线，从而可以实现双线阻抗线的自动挑选，减少了工程师的工作量，提高了双线阻抗线挑选的效率和精准度，有利于节省时间和提高电路板的制作品质。
根据本发明的一些实施例，所述利用两条所述阻抗线之间的线距，从多条所述阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，所述第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条所述阻抗线，两条所述阻抗线至少部分区间的线距符合所述线距参数之后，所述方法还包括：生成显示所述第二阻抗线组的阻抗线层。
根据本发明的一些实施例，所述生成显示所述第二阻抗线组的阻抗线层之后，所述方法还包括：获取所述线路层对应的层名参数，根据预设命名规则以所述层名参数、所述线宽参数和所述线距参数对所述阻抗线层进行重命名。
根据本发明的一些实施例，所述生成显示所述第二阻抗线组的阻抗线层之后，所述方法还包括：生成辅助层，所述辅助层用于标识所述第二阻抗线组中两条所述阻抗线之间符合所述线距参数部分区间的区域。
根据本发明的一些实施例，所述生成辅助层，所述辅助层用于标识所述第二阻抗线组中两条所述阻抗线之间符合所述线距参数部分区间的区域，包括：在所述第二阻抗线组中的两条所述阻抗线之间符合所述线距参数部分区间的区域着色以形成所述辅助层。
根据本发明的一些实施例，所述利用两条所述阻抗线之间的线距，从多条所述阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，所述第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条所述阻抗线，两条所述阻抗线至少部分区间的线距符合所述线距参数，包括：从所述第一阻抗线组的多条所述阻抗线中选取两条所述阻抗线，两条所述阻抗线具有线距等于所述线距参数的部分区间；计算两条所述阻抗线中较短一条所述阻抗线的长度以得到第一长度；计算两条所述阻抗线中任一所述阻抗线位于线距等于所述线距参数的部分区间内的线段长度以得到第二长度；计算所述第二长度与所述第一长度的比值并与预设比例进行比较，若所述比值超过所述预设比例，则将选取的两条所述阻抗线判断为用于构成所述双线阻抗线的两条所述阻抗线，得出所述第二阻抗线组。
根据本发明的一些实施例，所述预设比例至少为80％。
根据本发明的第二方面实施例的一种挑选装置，包括：获取模块，用于获取线宽参数和线距参数；查找模块，用于在选定的线路层上查找符合所述线宽参数的多条阻抗线以形成第一阻抗线组；分析模块，用于分析所述第一阻抗线组中的多条所述阻抗线两两之间的线距；筛选模块，用于利用两条所述阻抗线之间的线距，从多条所述阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，所述第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条所述阻抗线，两条所述阻抗线至少部分区间的线距符合所述线距参数。
根据本发明的第三方面实施例的一种处理装置，包括：一个或多个存储器；一个或多个处理器，用于执行存储在所述一个或多个存储器中的一个或多个计算机程序，还用于执行如上述任一实施例所述的方法。
根据本发明的第四方面实施例的一种计算机可读存储介质，包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行上述任一实施例所述的方法。
本发明的附加方面和优点将在下面的描述中部分给出，部分将从下面的描述中变得明显，或通过本发明的实践了解到。
附图说明
本发明的上述和/或附加的方面和优点从结合下面附图对实施例的描述中将变得明显和容易理解，其中：
图1为本发明自动挑选双线阻抗线的方法其中一种实施例的第一流程图；
图2为本发明自动挑选双线阻抗线的方法其中一种实施例的第二流程图；
图3为本发明挑选装置其中一种实施例的原理结构框图；
图4为本发明处理装置其中一种实施例的原理结构框图。
附图标记：
获取模块100、查找模块200、分析模块300、筛选模块400、存储器500、处理器600。
具体实施方式
下面详细描述本发明的实施例，所述实施例的示例在附图中示出，其中自始至终相同或类似的标号表示相同或类似的元件或具有相同或类似功能的元件。下面通过参考附图描述的实施例是示例性的，仅用于解释本发明，而不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，需要理解的是，涉及到方位描述，例如术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“竖直”、“水平”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系，仅是为了便于描述本发明和简化描述，而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作，因此不能理解为对本发明的限制。
在本发明的描述中，若干的含义是一个或者多个，多个的含义是两个以上，大于、小于、超过等理解为不包括本数，以上、以下、以内等理解为包括本数。如果有描述到第一、第二只是用于区分技术特征为目的，而不能理解为指示或暗示相对重要性或者隐含指明所指示的技术特征的数量或者隐含指明所指示的技术特征的先后关系。
本发明的描述中，需要说明的是，除非另有明确的规定和限定，术语“安装”、“相连”、“连接”应做广义理解，例如，可以是固定连接，也可以是可拆卸连接，或一体地连接；可以是机械连接，也可以是电连接；可以是直接相连，也可以通过中间媒介间接相连，可以是两个元件内部的连通。对于本领域的普通技术人员而言，可以具体情况理解上述术语在本发明中的具体含义。
如图1所示，根据本发明实施例的一种自动挑选双线阻抗线的方法，包括以下步骤：
S100、获取线宽参数和线距参数；
S200、在选定的线路层上查找符合线宽参数的多条阻抗线以形成第一阻抗线组；
S300、分析第一阻抗线组中的多条阻抗线两两之间的线距；
S400、利用两条阻抗线之间的线距，从多条阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条阻抗线，两条阻抗线至少部分区间的线距符合线距参数。
其中，线宽参数和线距参数可以是由工程师或技术人员输入或设定，而线路层同样可以是由工程师或技术人员输入或选定。需要说明的是，本发明的自动挑选双线阻抗线的方法，获取线宽参数和线距参数之后，先在选定的线路层上查找符合线宽参数的多条阻抗线以挑选得到满足指定线宽要求的单线阻抗线，再通过在挑选的满足指定线宽要求的单线阻抗线中分析不同阻抗线两两之间的线距并筛选得到满足指定线距要求的双线阻抗线，从而可以实现双线阻抗线的自动挑选，减少了工程师的工作量，提高了双线阻抗线挑选的效率和精准度，有利于节省时间和提高电路板的制作品质。
在本发明的一些实施例中，如图1所示，在步骤S400、利用两条阻抗线之间的线距，从多条阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条阻抗线，两条阻抗线至少部分区间的线距符合线距参数之后，方法还包括：
S500、生成显示第二阻抗线组的阻抗线层。
需要说明的是，在挑选出双线阻抗线之后，生成阻抗线层以显示双线阻抗线，便于工程师或者技术人员更加直观地查看和了解到双线阻抗线的具体信息。
在本发明的一些实施例中，如图1所示，在步骤S500、生成显示第二阻抗线组的阻抗线层之后，方法还包括：
S600、获取线路层对应的层名参数，根据预设命名规则以层名参数、线宽参数和线距参数对阻抗线层进行重命名。
应当理解的是，采用层名参数、线宽参数和线距参数对阻抗线层进行重命名，便于工程师或者技术人员更加清楚地获知双线阻抗线的具体信息，例如可以将生成的阻抗线层重命名为l 1-cs-4.8-11.1，则工程师或者技术人员根据该阻抗线层的名称即可以方便地获知到所挑选出来的双线阻抗线处于l 1-cs层，其中线宽为4.8m i l，线距为11.1m i l，不仅查看更加一目了然，并且也便于区分，避免造成混淆。
在本发明的一些实施例中，如图1所示，在步骤S500、生成显示第二阻抗线组的阻抗线层之后，方法还包括：
S700、生成辅助层，辅助层用于标识第二阻抗线组中两条阻抗线之间符合线距参数部分区间的区域。
需要说明的是，通过生成辅助层，便于工程师或者技术人员利用辅助层上的标识来对自动挑选的双线阻抗线进行人工检查，实现自动挑选结果的快速核对。其中，标识所使用的标记可以是网格线，也可以采用三角形、正方形或者圆形等不同形状的图案。
在本发明的一些实施例中，在步骤S700、生成辅助层，辅助层用于标识第二阻抗线组中两条阻抗线之间符合线距参数部分区间的区域中，包括：
S710、在第二阻抗线组中的两条阻抗线之间符合线距参数部分区间的区域着色以形成辅助层。
具体地，还可以在构成双线阻抗线的两条阻抗线之间符合线距参数部分区间的区域着色作为标识的标记，在对应的区域中涂上与阻抗线不同的颜色，例如若阻抗线显示为红色，则可以采用蓝色或者黄色作为辅助层的显示颜色，工程师或者技术人员只需根据显示颜色的不同即可便捷地观察到两条阻抗线之间符合线宽参数的位置区域以进行结果的快速核对。
在本发明的一些实施例中，如图2所示，在步骤S400、利用两条阻抗线之间的线距，从多条阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条阻抗线，两条阻抗线至少部分区间的线距符合线距参数中，包括：
S410、从第一阻抗线组的多条阻抗线中选取两条阻抗线，两条阻抗线具有线距等于线距参数的部分区间；
S420、计算两条阻抗线中较短一条阻抗线的长度以得到第一长度；
S430、计算两条阻抗线中任一阻抗线位于线距等于线距参数的部分区间内的线段长度以得到第二长度；
S440、计算第二长度与第一长度的比值并与预设比例进行比较，若比值超过预设比例，则将选取的两条阻抗线判断为用于构成双线阻抗线的两条阻抗线，得出第二阻抗线组。
需要说明的是，由于构成双线阻抗线的两条阻抗线长短并不完全一致，并且两条阻抗线在不同区间的线距也并不完全相同，为此，需要对两条阻抗线符合线距参数的区间进行计算以判断两条阻抗线是否构成双线阻抗线。同样以要在l 1-cs层上挑选线宽为4.8mi l并且线距为11.1m i l的双线阻抗线为例进行具体说明，例如选取了线宽均为4.8m i l的第一阻抗线和第二阻抗线，第二阻抗线比第一阻抗线长，假设第一阻抗线与第二阻抗线的头部平齐并且第一阻抗线与第二阻抗线之间具有三个区间，其中第一区间的线距为11.1m i l，第二区间的线距为15m i l，而第三区间为第二阻抗线比第一阻抗线长的部分，则在进行计算时得到的第一长度为第一阻抗线的长度，而第二长度为第一阻抗线或者第二阻抗线处于第一区间内的线段长度，通过分析该线段长度与第一阻抗线长度的比值是否达到预设比例，从而判断第一阻抗线和第二阻抗线是否构成双线阻抗线，由此以实现双线阻抗线的自动挑选。
在本发明的一些实施例中，预设比例至少为80％。
具体地，预设比例可以由工程师或者技术人员根据制作的实际需求确定，例如可以设定为85％或者90％，一般来说，预设比例一般至少设定为80％。
根据本发明的第二方面实施例的一种挑选装置，如图3所示，包括：
获取模块100，用于获取线宽参数和线距参数；
查找模块200，用于在选定的线路层上查找符合线宽参数的多条阻抗线以形成第一阻抗线组；
分析模块300，用于分析第一阻抗线组中的多条阻抗线两两之间的线距；
筛选模块400，用于利用两条阻抗线之间的线距，从多条阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条阻抗线，两条阻抗线至少部分区间的线距符合线距参数。
需要说明的是，本发明的挑选装置，能够实现双线阻抗线的自动挑选，提高挑选的效率和精准度，使得原本复杂繁琐的挑选工作变得简单快速，不仅大幅减少了挑选所需的时间，也有利于减轻工程师和技术人员的工作负担。
根据本发明的第三方面实施例的一种处理装置，如图4所示，包括：
一个或多个存储器500；
一个或多个处理器600，用于执行存储在一个或多个存储器中的一个或多个计算机程序，还用于执行如上述任一实施例的方法。
需要说明的是，本实施例的具体实现过程可参见上述方法实施例的具体实现过程，在此不再叙述。
根据本发明的第四方面实施例的一种计算机可读存储介质，包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行如上述任一实施例的方法。
需要说明的是，本实施例的具体实现过程可参见上述方法实施例的具体实现过程，在此不再叙述。
本申请实施例还公开一种计算机程序产品，其中，当计算机程序产品在计算机上运行时，使得计算机执行如以上各方法实施例中的方法的部分或全部步骤。
本领域普通技术人员可以理解上述实施例的各种方法中的全部或部分步骤是可以通过程序来指令相关的硬件来完成，该程序可以存储于一计算机可读存储介质中，存储介质包括只读存储器(read－on l y memory，ROM)、随机存储器(random accessmemory，RAM)、可编程只读存储器(programmab l e read－on l y memory，PROM)、可擦除可编程只读存储器(erasab l eprogrammab l e read on l y memory，EPROM)、一次可编程只读存储器(one－t i me programmab l e read on l y memory，OTPROM)、电子抹除式可复写只读存储器(e l ect r i ca l l y－erasab l eprogrammab l e read－on l y memory，EEPROM)、只读光盘(compact d i sc read－on l y memory，CD－ROM)或其他光盘存储器、磁盘存储器、磁带存储器、或者能够用于携带或存储数据的计算机可读的任何其他介质。
以上所述实施例的各技术特征可以进行任意的组合，为使描述简洁，未对上述实施例中的各个技术特征所有可能的组合都进行描述，然而，只要这些技术特征的组合不存在矛盾，都应当认为是本说明书记载的范围。
尽管已经示出和描述了本发明的实施例，本领域的普通技术人员可以理解：在不脱离本发明的原理和宗旨的情况下可以对这些实施例进行多种变化、修改、替换和变型，本发明的范围由权利要求及其等同物限定。
Claims (10)
1.一种自动挑选双线阻抗线的方法，其特征在于，所述方法包括以下步骤：
获取线宽参数和线距参数；
在选定的线路层上查找符合所述线宽参数的多条阻抗线以形成第一阻抗线组；
分析所述第一阻抗线组中的多条所述阻抗线两两之间的线距；利用两条所述阻抗线之间的线距，从多条所述阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，所述第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条所述阻抗线，两条所述阻抗线至少部分区间的线距符合所述线距参数。
2.根据权利要求1所述的一种自动挑选双线阻抗线的方法，其特征在于，所述利用两条所述阻抗线之间的线距，从多条所述阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，所述第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条所述阻抗线，两条所述阻抗线至少部分区间的线距符合所述线距参数之后，所述方法还包括：生成显示所述第二阻抗线组的阻抗线层。
3.根据权利要求2所述的一种自动挑选双线阻抗线的方法，其特征在于，所述生成显示所述第二阻抗线组的阻抗线层之后，所述方法还包括：
获取所述线路层对应的层名参数，根据预设命名规则以所述层名参数、所述线宽参数和所述线距参数对所述阻抗线层进行重命名。
4.根据权利要求2所述的一种自动挑选双线阻抗线的方法，其特征在于，所述生成显示所述第二阻抗线组的阻抗线层之后，所述方法还包括：
生成辅助层，所述辅助层用于标识所述第二阻抗线组中两条所述阻抗线之间符合所述线距参数部分区间的区域。
5.根据权利要求4所述的一种自动挑选双线阻抗线的方法，其特征在于，所述生成辅助层，所述辅助层用于标识所述第二阻抗线组中两条所述阻抗线之间符合所述线距参数部分区间的区域，包括：
在所述第二阻抗线组中的两条所述阻抗线之间符合所述线距参数部分区间的区域着色以形成所述辅助层。
6.根据权利要求1所述的一种自动挑选双线阻抗线的方法，其特征在于，所述利用两条所述阻抗线之间的线距，从多条所述阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，所述第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条所述阻抗线，两条所述阻抗线至少部分区间的线距符合所述线距参数，包括：
从所述第一阻抗线组的多条所述阻抗线中选取两条所述阻抗线，两条所述阻抗线具有线距等于所述线距参数的部分区间；计算两条所述阻抗线中较短一条所述阻抗线的长度以得到第一长度；
计算两条所述阻抗线中任一所述阻抗线位于线距等于所述线距参数的部分区间内的线段长度以得到第二长度；
计算所述第二长度与所述第一长度的比值并与预设比例进行比较，若所述比值超过所述预设比例，则将选取的两条所述阻抗线判断为用于构成所述双线阻抗线的两条所述阻抗线，得出所述第二阻抗线组。
7.根据权利要求6所述的一种自动挑选双线阻抗线的方法，其特征在于：所述预设比例至少为80％。
8.一种挑选装置，其特征在于，包括：
获取模块，用于获取线宽参数和线距参数；
查找模块，用于在选定的线路层上查找符合所述线宽参数的多条阻抗线以形成第一阻抗线组；
分析模块，用于分析所述第一阻抗线组中的多条所述阻抗线两两之间的线距；
筛选模块，用于利用两条所述阻抗线之间的线距，从多条所述阻抗线中筛选出至少一个第二阻抗线组，所述第二阻抗线组包括用于构成双线阻抗线的两条所述阻抗线，两条所述阻抗线至少部分区间的线距符合所述线距参数。
9.一种处理装置，其特征在于，包括：
一个或多个存储器；
一个或多个处理器，用于执行存储在所述一个或多个存储器中的一个或多个计算机程序，还用于执行如权利要求1至7任一项所述的方法。
10.一种计算机可读存储介质，其特征在于，包括指令，当其在计算机上运行时，使得计算机执行如权利要求1至7任一项所述的方法。
Priority Applications (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211673768.6A CN116033657B (zh) | 2022-12-26 | 2022-12-26 | 一种自动挑选双线阻抗线的方法、装置及存储介质 |
Applications Claiming Priority (1)
| Application Number | Priority Date | Filing Date | Title |
|---|---|---|---|
| CN202211673768.6A CN116033657B (zh) | 2022-12-26 | 2022-12-26 | 一种自动挑选双线阻抗线的方法、装置及存储介质 |
Publications (2)
| Publication Number | Publication Date |
|---|---|
| CN116033657A true CN116033657A (zh) | 2023-04-28 |
| CN116033657B CN116033657B (zh) | 2023-11-03 |
Family
ID=86090798
Family Applications (1)
| Application Number | Title | Priority Date | Filing Date |
|---|---|---|---|
| CN202211673768.6A Active CN116033657B (zh) | 2022-12-26 | 2022-12-26 | 一种自动挑选双线阻抗线的方法、装置及存储介质 |
Country Status (1)
| Country | Link |
|---|---|
| CN (1) | CN116033657B (zh) |
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