CN116008454A - 峰面积显示装置及方法、峰面积计算装置及方法 - Google Patents

峰面积显示装置及方法、峰面积计算装置及方法 Download PDF

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CN116008454A CN202211259684.8A CN202211259684A CN116008454A CN 116008454 A CN116008454 A CN 116008454A CN 202211259684 A CN202211259684 A CN 202211259684A CN 116008454 A CN116008454 A CN 116008454A
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Abstract

本发明涉及峰面积显示装置，具备获取部、峰面积计算部及显示装置。获取部获取由色谱仪测量而得的测量数据。峰面积计算部将示出从测量数据(MD)得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使模型函数拟合至色谱图。峰面积计算部还求出峰面积的最大值或最小值。显示装置(显示器)显示由峰面积计算部求出的峰面积的最大值或最小值，或者显示对峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息。

Description

峰面积显示装置及方法、峰面积计算装置及方法
技术领域
本发明涉及显示测量出的波形的峰面积的装置及方法、以及计算峰面积的装置及方法。
背景技术
为了进行通过色谱仪测量的波形的定量与定性，对色谱图进行模型函数的拟合。对于模型函数而言，能够对实测波形高精度地进行拟合至关重要。在“PeakFit”、株式会社HULINKS、[2021年6月4日检索]、<URL:https://www.hulinks.co.jp/software/da_visual/peakfit/functions#chorom>中，为了进行利用色谱仪测量的波形的定量与定性，提出有各种模型函数。
在医药品的管理中，要求医药品中包含的主成分的含量为规定的量以上。此外，要求医药品中包含的杂质的含量为规定的量以下。因此，在医药品的分析中，进行主成分及杂质的定量与定性。
发明内容
如上所述，要求使模型函数的拟合更接近于实测波形。其目的在于将模型函数拟合为表示实测波形的合理的形状。相对于此，例如在医药品的杂质管理中，与将模型函数拟合至合理的形状相比，更恰当地进行杂质的管理更为重要。即，比起探索表示实测波形的合理的形状，有时要求评价峰面积的上界或下界。
本发明的目的在于提供一种能够评价测量数据中包含的特定成分的峰面积的上界或下界的方法。
本发明的一方案所涉及的峰面积显示装置具备：获取部，获取由色谱仪测量而得的测量数据；峰面积计算部，将示出从测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使模型函数拟合至色谱图，求出峰面积的最大值或最小值；显示装置，显示由峰面积计算部求出的峰面积的最大值或最小值，或者显示对峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息。
本发明的另一方案所涉及的峰面积计算装置具备：获取部，获取由色谱仪测量而得的测量数据；峰面积计算部，将示出从测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使模型函数拟合至色谱图，求出峰面积的最大值或最小值。
此外，本发明还涉及峰面积显示方法及峰面积计算方法。
附图说明
图1是本实施方式的峰面积显示装置的构成图。
图2是本实施方式的峰面积显示装置的功能框图。
图3是示出对某试样得到的色谱图的图。
图4是示出关于测量数据MD的第1主成分的色谱图的图。
图5是示出关于测量数据MD的第2主成分的色谱图的图。
图6是示出关于测量数据MD的第3主成分的色谱图的图。
图7是将上界推定面积与最小二乘推定面积进行比较的图。
图8是示出CH1中的上界推定时残差的图。
图9是示出CH1中的下界推定时残差的图。
图10是示出CH1中的最小二乘推定时残差的图。
图11是示出CH2中的上界推定时残差的图。
图12是示出CH2中的下界推定时残差的图。
图13是示出CH2中的最小二乘推定时残差的图。
图14是示出CH3中的上界推定时残差的图。
图15是示出CH3中的下界推定时残差的图。
图16是示出CH3中的最小二乘推定时残差的图。
图17是示出实施方式的峰面积显示方法的流程图。
图18是示出推定结果画面的图。
具体实施方式
接着，参照附图对本发明的实施方式的峰面积显示装置及方法、以及峰面积计算装置及方法进行说明。
(1)峰面积显示装置的构成
图1是实施方式的峰面积显示装置1的构成图。本实施方式的峰面积显示装置1获取在液相色谱仪或气相色谱仪等中得到的试样的测量数据MD。
本实施方式的峰面积显示装置1例如由个人计算机构成。如图1所示，峰面积显示装置1具备CPU(Central Processing Unit：中央处理器)11、RAM(Random Access Memory：随机存取存储器)12、ROM(Read Only Memory：只读存储器)13、操作部14、显示器15、存储装置16、通信接口(I/F)17、设备接口(I/F)18。
CPU11进行峰面积显示装置1的整体控制。RAM12在CPU11执行程序时作为工作区使用。在ROM13中存储各种数据、程序等。操作部14接受用户的输入操作。操作部14包括键盘及鼠标等。显示器15显示峰拟合结果、峰面积的最大值以及/或者最小值等信息。存储装置16是硬盘等存储介质。在存储装置16中存储有程序P1、测量数据MD、误差α及显示数据DD。程序P1执行获取色谱图的处理、对色谱图拟合模型函数的处理、求出峰面积的最大值以及/或者最小值的处理、将计算出的峰面积的最大值以及/或者最小值显示于显示器15的处理等。通信接口17是与其他计算机之间进行基于有线或者无线的通信的接口。设备接口18是访问CD、DVD、半导体存储器等存储介质19的接口。
(2)峰面积显示装置的功能构成
图2是示出峰面积显示装置1的功能构成的框图。在图2中，控制部20是通过由CPU11使用RAM12作为工作区并执行程序P1来实现的功能部。控制部20具备获取部21、峰面积计算部22及输出部23。即，获取部21、峰面积计算部22及输出部23是通过执行程序P1而实现的功能部。换言之，各功能部21～23是CPU11所具备的功能部。
获取部21输入测量数据MD。获取部21例如经由通信接口17从其他计算机、分析装置等输入测量数据MD。或者，获取部21经由设备接口18输入保存在存储介质19中的测量数据MD。
峰面积计算部22执行将模型函数拟合至从测量数据MD得到的色谱图的处理、以及基于模型函数的拟合结果计算峰面积的最大值以及/或者最小值的处理。
输出部23使由峰面积计算部22计算出的峰面积的最大值以及/或者最小值等显示在显示器15。此外，输出部23使与测量数据MD相关的信息、由峰面积计算部22进行的模型函数的拟合结果等显示在显示器15。
以将程序P1保存于存储装置16的情况为例进行说明。作为其他实施方式，程序P1也可以保存在存储介质19中来提供。CPU11也可以经由设备接口18访问存储介质19，将保存在存储介质19中的程序P1保存在存储装置16或ROM13中。或者，CPU11也可以经由设备接口18访问存储介质19，执行保存在存储介质19中的程序P1。或者，CPU11也可以经由通信接口17从网络上的服务器下载程序P1，并将下载的程序P1保存在存储装置16或ROM13中。
(3)色谱图
在说明本实施方式的峰面积显示方法之前，对多个成分的峰重叠的色谱图的性质进行说明。图3是示出对某试样得到的色谱图的图。在该色谱图中，出现关于某成分A的峰AP1。峰AP1是被视为在成分A的峰中产生了拖尾的峰。与此相对，峰AP2是假定在成分A的峰未产生拖尾时的峰。残差峰RP是从峰AP1减去峰AP2而得的峰。能够认为残差峰RP是成分A的峰的拖尾，也能够认为是源自其他成分B的峰BP的峰。在本实施方式中，例如将在杂质的峰重叠于医药品的主成分的峰这样的实例中对杂质的峰进行定量作为一个技术问题。
(4)峰拟合处理及峰面积的推定处理
接着，对实施方式的峰面积显示方法进行说明。在以下的说明中，以基于针对医药品获取的测量数据MD在显示器15显示色谱图中包含的杂质的峰面积的最大值的情况为例进行说明。在医药品中，要求杂质的含量为规定的量以下。因此，在本实施方式的峰面积显示方法中，通过求出医药品中包含的杂质的峰面积的最大值，推定杂质的含量的上界，从而供于医药品的品质评价。
(4-1)多个维度的测量数据
测量数据MD是针对作为分析对象的医药品获取的多个维度的数据。在此，以测量数据MD为具有保留时间方向、光谱方向(频率方向)及强度的元素的3维数据的情况为例进行说明。在该情况下，测量数据MD例如以保留时间方向为行、光谱方向为列、强度为元素的矩阵数据来表示。例如，测量数据MD是在具备PDA检测器(光电二极管阵列检测器)的液相色谱仪中获取的数据。
(4-2)测量数据的维度压缩
作为前处理，峰面积计算部22对获取部21获取的测量数据MD的光谱进行维度压缩。在本实施方式中，峰面积计算部22进行利用奇异值分解(SVD：Singular ValueDecomposition)的SVD维度压缩。此外，峰面积计算部22对维度压缩后的测量数据MD的强度进行标准化。作为维度压缩方法，也可以使用SVD维度压缩以外的其他方法。当然，也可以不进行维度压缩，而以无压缩的方式对测量数据MD进行处理。在此，将在光谱方向上被压缩的各维度称为通道(CH)。
图4～图6是示出通过SVD维度压缩而被缩减为3维的测量数据MD的图。在图4～图6中，横轴示出保留时间，纵轴示出强度。图4所示的通道1(CH1)的色谱图是针对测量数据MD的第1主成分的色谱图，图5所示的通道2(CH2)的色谱图是针对测量数据MD的第2主成分的色谱图。图6所示的通道3(CH3)的色谱图是针对测量数据MD的第3主成分的色谱图。
(4-3)模型函数
峰面积计算部22将示出色谱图的形状的模型函数及光谱设为以物质的数量存在，将测量数据MD模型化。此外，峰面积计算部22将测量数据MD的各通道CH1～CH3的基线作为对由1次函数表示的理想信号附加了噪声的模型来处理。作为示出基线的模型函数，也可以使用其他多项式或多项式的指数。或者，基线也可以与峰同样地作为具有基线形状与光谱这样的信息的对象而模型化。
峰面积计算部22使用例如带2次微分约束的GAM模型作为模型函数。带2次微分约束的模型函数是指对模型函数的对数函数附加了2次微分(2次差分)为非正这样的约束的模型函数。这是由于色谱图的峰形状具有其对数函数为非正这样的特征。此外，GAM模型是指使用广义加法模型(GAM：Generalized Additive Model)使模型函数拟合至色谱图的方法。作为广义加法模型，例如使用平滑样条。但是，峰面积计算部22所使用的模型函数并无特别限定。峰面积计算部22也可以将通常使用的EMG函数、BEMG函数用作模型函数。
(4-4)模型函数的拟合
对于通道CH1～CH3的色谱图，峰面积计算部22通过最小二乘法对上述那样的模型函数进行拟合。或者，峰面积计算部22也可以通过最大似然推定与后验概率最大化等以求出单一的解为目的的运算，对通道CH1～CH3的色谱图拟合模型函数。即，峰面积计算部22出于使示出色谱图与模型函数的残差的损失函数(LOSS函数)的值最小化的目的，对色谱图拟合模型函数。
峰面积计算部22进行求解带约束的最优化问题的运算，其中，在将对于最小损失值(最小LOSS)加上误差α而得到的值作为损失函数应取的值的范围的约束条件下，使杂质的峰面积最大化。在以往的峰拟合中，以损失函数取最小损失值的方式决定参数。根据该峰拟合，模型函数也被拟合为对于杂质的峰而言为合理的形状。与此相对，峰面积计算部22在将误差α与最小损失值相加后进行峰拟合，因此，就拟合而言，与以往相比，可提供与误差α的值相应的自由度。在这样的约束条件下，峰面积计算部22以使杂质的峰面积最大化的方式进行峰拟合。
损失函数应取的范围(规定的范围)既可以通过用户输入来设定，也可以通过对观测噪声乘以根据经验得到的规定的值或者加上规定的值来设定。此外，也可以利用能够将噪声分量对推定峰高度带来的影响作为通常的误差传播来进行计算这一情况，根据该推定峰高度的标准误差来求出可能追加产生的误差范围。另外，在本实施方式中，将相当于峰高度的标准误差的3σ为止的范围设定为容许范围，将对最小平方和加上+3σ部分的峰波形的平方和而得到的范围设定为损失函数应取的范围。
如图1所示，与最小损失值相加的误差α被保存在存储装置16中。误差α只要是能够作为推定误差而存在的足够小的值即可。在本实施方式中，将相对于作为最小二乘解而得到的杂质的峰高度而传播的噪声量考虑为误差传播，由此决定误差α。具体而言，将对噪声量的标准误差翻数倍而得的值作为峰高度的误差与损失函数相加来决定误差α。噪声的大小例如根据峰周边的信号电平来计算。或者，噪声的大小也可以根据n次差分来计算等，基于频率分离进行计算。如此，基于从作为处理对象区域的峰周边提取出的噪声的电平计算出误差α，但也可以根据峰前后的区域计算出误差α。
这样，本实施方式的峰面积计算部22在将对最小损失值(最小LOSS)加上误差α而得的值作为损失函数应取的值的范围的约束条件下，以使杂质的峰面积最大化的方式进行峰拟合。由此，能够评价杂质的峰面积可取的值的上界。因此，能够在医药品的杂质管理中获取有效的信息。
在上述实施方式中，为了管理医药品的杂质，使杂质的峰面积最大化从而拟合模型函数。与此相对，为了管理医药品的主成分(有效成分)，只要使主成分的峰面积最小化从而拟合模型函数即可。即，峰面积计算部22进行求解带约束的最优化问题的运算，其中，在将对于最小损失值加上误差α而得到的值作为损失函数应取的值的范围的约束条件下，将主成分的峰面积最小化。由此，能够评价主成分的峰面积可取的值的下界。因此，能够在医药品的有效成分的管理中获取有效的信息。
(4-5)实验结果
图7是示出由峰面积计算部22执行的模型函数的拟合结果的实验数据。图7是示出对测量数据MD检测出的医药品的主成分X与杂质Y的峰的图。峰XPM、YPM分别是通过与以往同样的方法检测出的主成分X、杂质Y的峰。即，峰XPM、YPM是利用使用了最小二乘法的以往的方法使模型函数拟合而得的结果。峰XPU、YPU分别是通过本实施方式的方法检测出的主成分X、杂质Y的峰。即，峰YPU示出杂质Y的峰面积的上界。峰YPM是关于杂质Y的合理的峰的推定结果，与此相对，峰YPU是提示杂质Y的峰面积的上界的推定结果。
图8～图16是示出对图4～图6所示的CH1～CH3的测量数据MD执行本实施方式的模型函数的拟合处理而得的结果的残差的实验数据。在图8～图16中，横轴示出保留时间，纵轴示出强度。此外，在图8～图16中，分别用虚线示出CH1～CH3的峰形状以便参考。
图8示出图4所示的CH1的测量数据MD与基于上界推定的峰拟合结果的残差。上界推定是基于本实施方式的使峰面积最大化的拟合处理。图10示出图4所示的CH1的测量数据MD与以往的基于最小二乘法的峰拟合结果的残差。由该实验结果可知，在实施了基于本实施方式的上界推定方法的情况下，与以往的方法相比，残差并没有出现较大的差。如此，可知本实施方式的上界推定方法实现了在使模型函数的拟合维持充分的精度的同时使杂质的峰面积最大化。图9是参考数据，示出图4所示的CH1的测量数据MD与基于下界推定的峰拟合结果的残差。下界推定是基于本实施方式的使峰面积最小化的拟合处理。如此，可知即使是通过下界推定方法，残差也没有出现较大的差。
图11示出图5所示的CH2的测量数据MD与基于上界推定的峰拟合结果的残差。图13示出图5所示的CH1的测量数据MD与以往的基于最小二乘法的推定结果的残差。可知与CH1同样，在CH2的测量数据MD中，与以往的方法相比，残差也并没有出现较大的差。图12是参考数据，示出图5所示的CH2的测量数据MD与基于下界推定的峰拟合结果的残差。可知即使是根据下界推定方法，残差也没有出现较大的差。可知对图14～图16所示的CH3的测量数据MD也得到了同样的结果。
(4-6)峰面积显示方法
接着，参照图17的流程图对本实施方式的峰面积显示方法进行说明。图17的流程图是通过由CPU11执行程序P1而实现的处理。在步骤S1中，获取部21获取测量数据MD。获取部21将测量数据MD保存在存储装置16中。如上所述，测量数据MD是多个维度的数据。
接着，在步骤S2中，峰面积计算部将示出从测量数据MD得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使模型函数拟合至色谱图。在上述实施方式中，峰面积计算部22使用保存在存储装置16中的误差α，在将对于最小损失值加上误差α而得到的值作为损失函数应取的值的范围的约束条件下，使杂质的峰面积最大化而进行峰拟合。然后，在步骤S3中，峰面积计算部22基于步骤S2的拟合结果，求出目标成分的峰面积的最大值或最小值。例如，峰面积计算部22求出医药品中含有的杂质的峰面积的最大值。如图2所示，峰面积计算部22将包含计算出的峰面积的最大值以及/或者最小值的显示数据DD保存在存储装置16中。
然后，在步骤S4中，输出部23从存储装置16获取显示数据DD，并使其显示于显示器15。图18是示出显示器15所显示的推定结果画面30的一例的图。推定结果画面30具备数据显示区31、色谱图显示区32及峰面积显示区33。在数据显示区31中显示测量数据MD的列表。在数据显示区31中，当选择某一个测量数据MD时，与之对应的模型函数的拟合结果显示于色谱图显示区32。
峰面积显示区33显示在色谱图显示区32中显示的峰的最大面积(上界)以及/或者最小面积(下界)。用户能够在确认色谱图显示区32中显示的峰的拟合结果的妥当性的同时确认医药品中含有的杂质的峰面积的最大值(上界)。或者，能够确认医药品中含有的有效性成分的峰面积的最小值(下界)。
(5)变形例
在上述实施方式中，峰面积计算部22利用了将对于最小损失值加上误差α而得到的值作为损失函数应取的值的范围的约束条件。作为另一实施方式，峰面积计算部22也可以求解带正则化的损失函数最小化问题，其中，所述正则化将峰面积的值作为惩罚项加入。为了使杂质的峰面积最大化，作为惩罚项，将峰面积作为负值相加即可。在该方法中，也可以在获取损失函数成为何种程度的值之后，调整正则化的强度。
在上述实施方式中，以测量数据MD为从具备PDA检测器的液相色谱仪获取的3维数据的情况为例进行了说明。作为另一例，测量数据MD也可以是在液相色谱质量分析仪的扫描模式下获取的3维数据。在该情况下，测量数据MD是保留时间、质谱及强度的3维数据。
对由峰面积显示装置1使峰面积的最大值以及/或者最小值显示在显示器15的实施方式进行了说明。作为另一实施方式，上述实施方式的装置及方法也可以用作计算峰面积的最大值以及/或者最小值的峰面积计算装置。峰面积计算装置例如能够将医药品的杂质的峰面积的最大值作为医药品的评价数据储存在存储介质中。
在上述实施方式中，作为显示数据DD例示了峰面积的最大值以及/或者最小值。作为另一例，显示数据DD也可以是对最大值或最小值进行处理而得到的信息。具体而言，在对2个以上的峰面积求出最大值或最小值的情况下，也可以是第1峰的最大值(或最小值)与第2峰的最大值(或最小值)之比。
(6)方案
本领域技术人员能够理解上述的多个例示性的实施方式是以下方案的具体例。
(第1项)
一方案所涉及的峰面积显示装置具备：
获取部，获取由色谱仪测量而得的测量数据；
峰面积计算部，将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值；
显示装置，显示由所述峰面积计算部求出的所述峰面积的最大值或最小值，或者显示对所述峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息。
根据该峰面积显示装置，能够评价测量数据中包含的特定成分的峰面积的上界或下界。
(第2项)
也可以是，在第1项所述的峰面积显示装置中，
所述测量数据是通过对医药品进行分析处理而得到的数据，所述峰面积计算部求出所述医药品中包含的杂质的峰面积的最大值。
能够进行医药品中包含的杂质的管理。由此，能够提供对医药品的性能评价有用的信息。
(第3项)
也可以是，在第1项或第2项所述的峰面积显示装置中，
所述最优化运算包括求解带约束的最优化问题的运算，其中，在将对最小损失值加上规定的值而得的值作为所述损失函数应取的值的范围的约束条件下，使所述峰面积最大化或最小化。
通过使损失函数应取的值具有范围，能够在使峰拟合的精度具有自由度的同时使峰面积最大化或最小化。
(第4项)
也可以是，在第1项或第2项所述的峰面积显示装置中，
所述最优化运算包括求解带正则化的损失函数最小化问题的运算，其中，所述正则化将所述峰面积的值作为惩罚项。
能够在使峰面积最大化或最小化的同时进行峰拟合。
(第5项)
也可以是，在第1项～第4项的任一项所述的峰面积显示装置中，
所述损失函数包含通过最小二乘法获取所述色谱图与所述模型函数的残差的函数。
能够将模型函数拟合至色谱图中。
(第6项)
也可以是，在第1项～第4项的任一项所述的峰面积显示装置中，
所述损失函数包含通过最大似然推定与后验概率最大化来获取所述色谱图与所述模型函数的残差的函数。
能够将模型函数拟合至色谱图中。
(第7项)
另一方案所涉及的峰面积计算装置具备：
获取部，获取由色谱仪测量而得的测量数据；
峰面积计算部，将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值。
根据该峰面积计算装置，能够获取测量数据中包含的特定成分的峰面积的上界或下界。
(第8项)
也可以是，在第7项所述的峰面积计算装置中，
所述测量数据是通过对医药品进行分析处理而得到的数据，所述峰面积计算部求出所述医药品中包含的杂质的峰面积的最大值。
能够进行医药品中包含的杂质的管理。由此，能够提供对医药品的性能评价有用的信息。
(第9项)
另一方案的峰面积显示方法包括：
获取由色谱仪测量而得的测量数据的工序；
将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值的工序；
显示所述峰面积的最大值或最小值，或者显示对所述峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息的工序。
根据该峰面积显示方法，能够评价测量数据中包含的特定成分的峰面积的上界或下界。
(第10项)
另一方案所涉及的峰面积计算方法包括：
获取由色谱仪测量而得的测量数据的工序；
将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值的工序。
根据该峰面积计算方法，能够获取测量数据中包含的特定成分的峰面积的上界或下界。

Claims (10)

1.一种峰面积显示装置，其特征在于，具备：
获取部，获取由色谱仪测量而得的测量数据；
峰面积计算部，将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值；
显示装置，显示由所述峰面积计算部求出的所述峰面积的最大值或最小值，或者显示对所述峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息。
2.如权利要求1所述的峰面积显示装置，其特征在于，
所述测量数据是通过对医药品进行分析处理而得到的数据，所述峰面积计算部求出所述医药品中包含的杂质的峰面积的最大值。
3.如权利要求1或权利要求2所述的峰面积显示装置，其特征在于，
所述最优化运算包括求解带约束的最优化问题的运算，其中，在将对最小损失值加上规定的值而得的值作为所述损失函数应取的值的范围的约束条件下，使所述峰面积最大化或最小化。
4.如权利要求1或权利要求2所述的峰面积显示装置，其特征在于，
所述最优化运算包括求解带正则化的损失函数最小化问题的运算，其中，所述正则化将所述峰面积的值作为惩罚项。
5.如权利要求1或权利要求2所述的峰面积显示装置，其特征在于，
所述损失函数包含通过最小二乘法获取所述色谱图与所述模型函数的残差的函数。
6.如权利要求1或权利要求2所述的峰面积显示装置，其特征在于，
所述损失函数包含通过最大似然推定与后验概率最大化来获取所述色谱图与所述模型函数的残差的函数。
7.一种峰面积计算装置，其特征在于，具备：
获取部，获取由色谱仪测量而得的测量数据；
峰面积计算部，将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值。
8.如权利要求7所述的峰面积计算装置，其特征在于，
所述测量数据是通过对医药品进行分析处理而得到的数据，所述峰面积计算部求出所述医药品中包含的杂质的峰面积的最大值。
9.一种峰面积显示方法，其特征在于，包括：
获取由色谱仪测量而得的测量数据的工序；
将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值的工序；
显示所述峰面积的最大值或最小值，或者显示对所述峰面积的最大值或最小值进行处理而得到的信息的工序。
10.一种峰面积计算方法，其特征在于，包括：
获取由色谱仪测量而得的测量数据的工序；
将示出从所述测量数据得到的色谱图与模型函数的残差的损失函数的取值抑制在规定的范围内，并且进行使峰面积最大化或最小化的最优化运算，由此使所述模型函数拟合至所述色谱图，求出所述峰面积的最大值或最小值的工序。
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