CN115994940A - 一种折叠屏设备的折痕程度测试方法、设备及存储介质 - Google Patents

Abstract

本申请实施例提供一种折叠屏设备的折痕程度测试方法、设备及存储介质，通过对折叠屏设备进行三维扫描，获得所述折叠屏设备的转轴区域的点云数据；根据所述点云数据中包含的多个点的三维坐标，对所述转轴区域的表面进行面积计算；根据计算得到的面积，以及所述转轴区域的表面的面积的标准值，得到所述转轴区域的面积变化程度；根据所述转轴区域的面积变化程度，确定所述折叠屏设备的折痕程度。本申请基于三维的点云数据计算得到转轴区域的面积变化程度，确定折叠屏设备的折痕程度，由于三维数据能够更加真实地表现转轴区域的折痕程度变化情况，进而以面积变化程度作为确定折痕程度的依据，能够使得转轴区域的折痕程度测试结果更加准确。

Description

一种折叠屏设备的折痕程度测试方法、设备及存储介质

技术领域

本申请涉及电子技术领域，尤其涉及一种折叠屏设备的折痕程度测试方法、设备及存储介质。

背景技术

折叠屏设备是指以折叠屏作为显示元件甚至输入元件的设备，例如折叠屏手机。因外观时尚、小巧便携等特点，受到了越来越多的关注。传统的屏幕基板大多是坚硬、易碎玻璃材质，不能实现折叠。随着科技的发展，人们找到了增加屏幕弯曲度的方法，并且解决了耐用性的问题，可以使得屏幕折叠数千次而不断裂，进而折叠屏设备走进大众的视野。折叠屏主要由基底、阳极、导电层、发光层与阴极组成，与常见的平面屏、曲面屏工作原理大致相同，同是利用数以百万计的像素点组合形成屏幕上的可视图像。

然而，折叠屏设备在用户使用过程中会不可避免的出现折痕，这种折痕会随着用户折叠次数的增加而逐渐加深。在产品质检、质保等场景中，具有对折叠屏设备上折叠屏的折痕程度进行测试的需求。现有技术中有基于二维图像对折叠屏设备的折痕程度进行测试的方法，但其测试结果与用户的实际体验感受有较大差别，往往不能真实的反映折痕实际深浅的变化，导致其测试结果的可靠度较低。

发明内容

本申请提供的一种折叠屏设备的折痕程度测试方法、设备及存储介质，目的是解决对折叠屏设备折痕程度的测试结果可靠度较低的问题。

为达到上述目的，本申请采用如下技术方案：

第一方面，本申请实施例提供一种折叠屏设备的折痕程度测试方法，通过对折叠屏设备进行三维扫描，获得折叠屏设备的转轴区域的点云数据，根据点云数据中包含的多个点的三维坐标，对转轴区域的表面进行面积计算，根据由计算得到的该面积以及面积的标准值得到的转轴区域的面积变化程度，可以确定出该折叠屏设备的折痕程度。

本申请实施例基于三维的点云数据计算得到转轴区域的面积变化程度，确定折叠屏设备的折痕程度，由于三维数据能够更加真实地表现转轴区域的折痕程度变化情况，进而以面积变化程度作为确定折痕程度的依据，能够使得转轴区域的折痕程度测试结果更加准确，由此提高测试结果的可靠度。

在一种可能的实施方式中，对转轴区域的表面进行面积计算是针对转轴区域的一完整表面进行面积计算，进而得到完整表面的面积，通过对此完整表面的面积与此完整表面的面积的标准值进行比较，可以得到转轴区域的面积变化程度，以便后续根据面积变化程度确定折叠屏设备的折痕程度。

在一种可能的实施方式中，对转轴区域的表面进行面积计算指的是通过对转轴区域的表面中的多个子表面分别进行面积计算，之后对各个子表面，分别比较子表面的面积的标准值和计算得到的子表面的面积，得到比较结果，结合各个子表面的比较结果，得到转轴区域的面积变化程度。

在一种可能的实施方式中，转轴区域的面积变化程度可以指转轴区域的面积变化评分值，根据各个子表面的比较结果，可以得到多个子面积变化率，面积变化评分值是根据这多个子面积变化率的平均值与第一权重值的乘积，以及这多个子面积变化率中最大的子面积变化率与第二权重值的乘积得到的。通过计算面积变化评分值，将子面积变化率与面积变化评分值相结合，由于面积变化评分值贴合用户对折叠屏设备的实际使用感受，由此以面积变化评分值作为确定折叠屏设备的折痕程度，能够更加符合用户的实际使用感受，提高测试的准确度。

在一种可能的实施方式中，可以根据各个折叠屏设备的多个子面积变化率的平均值和最大的子面积变化率，以及多个实际评分值，确定第一权重值和第二权重值。即，通过用户对多个折叠屏设备分别进行打分，获取多个折叠屏设备的实际评分值，针对这多个折叠屏设备中的每一个折叠屏设备，分别根据每一个折叠屏设备对应的多个子面积变化率，获得该折叠屏设备对应的多个子面积变化率的平均值和最大的子面积变化率，由此得到各个折叠屏设备的多个子面积变化率的平均值和最大的子面积变化率。根据各个折叠屏设备的多个子面积变化率的平均值和最大的子面积变化率，以及多个实际评分值，通过线性拟合的方法可以确定出第一权重值和第二权重值。由此，在确定出第一权重值和第二权重值之后，可以进行上述面积变化评分值的计算，实现根据面积变化评分值，确定折叠屏设备的折痕程度。

在一种可能的实施方式中，转轴区域的面积变化程度指的是转轴区域的面积变化率，将转轴区域的面积变化率与面积变化率标准进行比较，依据比较结果确定所述折叠屏设备的折痕程度。

在一种可能的实施方式中，可以以面积变化率上限值为面积变化率标准，或者以面积变化率下限值和所述面积变化率上限值为面积变化率标准。通过对转轴区域的表面中的多个子表面分别进行面积计算，得到多个子表面的面积，对各个子表面，分别比较子表面的面积的标准值和计算得到的子表面的面积，得到多个子表面的子面积变化率。将这多个子表面的子面积变化率中最大的子面积变化率确定为面积变化率上限值，将这多个子表面的子面积变化率的平均值确定为面积变化率下限值。

在一种可能的实施方式中，在对转轴区域的表面进行面积计算之前，还可以先利用转轴区域的平均高度对折叠屏设备进行初测。根据点云数据，计算转轴区域的平均高度，通过比较计算得到的平均高度和平均高度的标准值，可以获得转轴区域的平均高度变化率。若平均高度变化率小于平均高度变化率阈值，则确定折叠屏设备的初测结果为合格，可以进一步基于面积变化程度对折叠屏设备的折痕程度进行测试；若平均高度变化率大于或等于平均高度变化率阈值，则确定所述折叠屏设备的初测结果为不合格。通过在对转轴区域的表面进行面积计算之前，利用转轴区域的平均高度对折叠屏设备进行初测，可以预先筛除一些初测结果不合格的折叠屏设备，只需对初测结果为合格的折叠屏设备进行进一步地测试，相比于计算面积变化程度，计算转轴区域的平均高度变化率的计算量更少，有利于提高折叠屏设备的测试效率。另一方面，在根据面积变化程度对折痕程度进行测试之前，对折叠屏设备进行筛选，可以进一步保障折痕程度测试结果的准确性。

在一种可能的实施方式中，可以对折叠屏设备进行多次三维扫描，获得该折叠屏设备的转轴区域的多个子点云数据，对多个子点云数据进行数据拼接，获得该折叠屏设备的转轴区域的点云数据，基于此点云数据进行后续的面积计算，可以获得更加精确的转轴区域的表面的面积，进而可以进一步提高测试结果的准确性。

在一种可能的实施方式中，可以从与所述折叠屏设备同批次生产的多个折叠屏设备中，确定标准折叠屏设备，对这标准折叠屏设备出厂前的转轴区域的表面进行面积计算，得到面积的标准值。以此面积的标准值作为该批次的折叠屏设备的折叠屏设备的转轴区域的表面的面积的标准值，无需在出厂前对每个折叠屏设备进行三维扫描以及面积计算，进而提成了整体的测试效率。

第二方面，本申请实施例提供一种计算机设备，所述计算机设备包括：处理器以及存储器；所述存储器用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行如上所述的一种折叠屏设备的折痕程度测试方法的步骤。

第三方面，本申请实施例提供一种计算机可读存储介质，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如上所述的一种折叠屏设备的折痕程度测试方法的步骤。

应当理解的是，本申请中对技术特征、技术方案、有益效果或类似语言的描述并不是暗示在任意的单个实施例中可以实现所有的特点和优点。相反，可以理解的是对于特征或有益效果的描述意味着在至少一个实施例中包括特定的技术特征、技术方案或有益效果。因此，本说明书中对于技术特征、技术方案或有益效果的描述并不一定是指相同的实施例。进而，还可以任何适当的方式组合本实施例中所描述的技术特征、技术方案和有益效果。本领域技术人员将会理解，无需特定实施例的一个或多个特定的技术特征、技术方案或有益效果即可实现实施例。在其他实施例中，还可在没有体现所有实施例的特定实施例中识别出额外的技术特征和有益效果。

附图说明

图1为本申请实施例提供的一种电子设备的组成示例图；

图2a为本申请实施例提供的一种折叠成一定角度的折叠屏设备示意图；

图2b为本申请实施例提供的一种未折叠时的折叠屏设备示意图；

图3为本申请实施例提供的一种获取点云数据的过程示意图；

图4为本申请实施例提供的一种重构三维形貌图的过程示意图；

图5为本申请实施例提供的一种空间直角坐标系中的三角形的示意图；

图6为本申请实施例提供的一种折叠屏设备的三维形貌图；

图7为本申请实施例提供的一种筛选折叠屏样机的过程示意图；

图8为本申请实施例提供的一种对折痕程度进行测试的过程示意图。

具体实施方式

本申请说明书和权利要求书及附图说明中的术语“第一”、“第二”和“第三”等是用于区别不同对象，而不是用于限定特定顺序。

在本申请实施例中，“示例性的”或者“例如”等词用于表示作例子、例证或说明。本申请实施例中被描述为“示例性的”或者“例如”的任何实施例或设计方案不应被解释为比其它实施例或设计方案更优选或更具优势。确切而言，使用“示例性的”或者“例如”等词旨在以具体方式呈现相关概念。

为了下述各实施例的描述清楚简洁，首先给出相关技术的简要介绍：

三维(3D)扫描，是指集光、机、电和计算机技术于一体的高新技术，主要用于对物体空间外形、结构及色彩进行扫描，以获得物体表面的空间坐标。

点云数据，是物体表面特性的海量点集合，可以理解为通过上述3D扫描技术获得的物体表面的三维空间坐标。获得点云数据的方式可以包括但不限于：三维共聚焦设备、白光干涉仪、激光扫描仪(Laser Scanner)、深度相机(depth camera)、双目相机(StereoCamera)以及光学相机多视角重建等。

以三维共聚焦设备获取点云数据的方法为例，基于白光干涉原理，利用时间相关性低的白光通过分光板作为参考光和样品照射光，光经过反射，相互叠加干涉，可以获得干涉图。在对物体形貌进行扫描测量时，物镜会不断移动，对各个移动位置进行拍照记录，以获得完整的点云数据。由于使用了共聚焦的方法，在获取点云数据方面，三维共聚焦设备具有精确度高的优点。并且，非接触式的测量还具有避免被测物体损坏的优点。

结合现有技术中对折叠屏设备折痕程度的测试结果可靠度较低的问题，本申请实施例提供了一种折叠屏设备折痕程度的测试方法、设备及存储介质，通过对折叠屏设备进行三维扫描，获得折叠屏设备转轴区域的点云数据，根据点云数据可以计算出转轴区域表面的面积，根据折叠屏设备转轴区域表面的面积的标准值和计算得到的面积可以得到面积变化程度，根据面积变化程度的大小确定转轴区域的折痕程度。由于点云数据属于三维数据，可以更加真实的反映转轴区域的折痕程度，本申请实施例基于三维的点云数据计算得到转轴区域的面积变化程度，以面积变化程度作为确定折痕程度的依据，可以获得更加准确的转轴区域的折痕程度测试结果，有利于提高测试结果的可靠度。

本申请实施例提供的一种折叠屏设备折痕程度的测试方法、设备及存储介质可在服务器以及各种电子设备上执行和实施。在一些实施例中，电子设备可以是手机、平板电脑、桌面型、膝上型、笔记本电脑、超级移动个人计算机(Ultra-mobile PersonalComputer，UMPC)、手持计算机、上网本、个人数字助理(Personal Digital Assistant，PDA)、可穿戴电子设备、智能手表等设备，本申请对上述电子设备的具体形式不做特殊限制。在本实施例中，电子设备的结构可以如图1所示，图1为本申请实施例提供的一种电子设备的组成示例图。

如图1所示，电子设备可以包括处理器110，外部存储器接口120，内部存储器121，通用串行总线(universal serial bus，USB)接口130，充电管理模块140，电源管理模块141，电池142，天线1，天线2，移动通信模块150，无线通信模块160，传感器模块170，按键180，马达181，指示器182，摄像头183，显示屏184，以及用户标识模块(subscriberidentification module，SIM)卡接口185等。其中传感器模块170可以包括压力传感器170A，陀螺仪传感器170B，磁传感器170C，加速度传感器170D，距离传感器170E，指纹传感器170F，温度传感器170G，触摸传感器170H，环境光传感器170I等。

处理器110可以包括一个或多个处理单元，例如：处理器110可以包括应用处理器(application processor，AP)，调制解调处理器，图形处理器(graphics processingunit，GPU)，图像信号处理器(image signal processor，ISP)，控制器，视频编解码器，数字信号处理器(digital signal processor，DSP)，基带处理器，和/或神经网络处理器(neural-network processing unit，NPU)等。其中，不同的处理单元可以是独立的器件，也可以集成在一个或多个处理器中。

其中，控制器可以是电子设备的神经中枢和指挥中心。控制器可以根据指令操作码和时序信号，产生操作控制信号，完成取指令和执行指令的控制。

处理器110中还可以设置存储器，用于存储指令和数据。在一些实施例中，处理器110中的存储器为高速缓冲存储器。该存储器可以保存处理器110刚用过或循环使用的指令或数据。如果处理器110需要再次使用该指令或数据，可从所述存储器中直接调用。避免了重复存取，减少了处理器110的等待时间，因而提高了系统的效率。

在一些实施例中，处理器110可以包括一个或多个接口。接口可以包括集成电路(inter-integrated circuit，I2C)接口，集成电路内置音频(inter-integrated circuitsound，I2S)接口，脉冲编码调制(pulse code modulation，PCM)接口，通用异步收发传输器(universal asynchronous receiver/transmitter，UART)接口，移动产业处理器接口(mobile industry processor interface，MIPI)，通用输入输出(general-purposeinput/output，GPIO)接口，用户标识模块(subscriber identity module，SIM)接口，和/或通用串行总线(universal serial bus，USB)接口等。

I2C接口是一种双向同步串行总线，包括一根串行数据线(serial data line，SDA)和一根串行时钟线(derail clock line，SCL)。在一些实施例中，处理器110可以包含多组I2C总线。处理器110可以通过不同的I2C总线接口分别耦合触摸传感器170H，充电器，闪光灯，摄像头183等。例如：处理器110可以通过I2C接口耦合触摸传感器170H，使处理器110与触摸传感器170H通过I2C总线接口通信，实现电子设备的触摸功能。

MIPI接口可以被用于连接处理器110与显示屏184，摄像头183等外围器件。MIPI接口包括摄像头串行接口(camera serial interface，CSI)，显示屏串行接口(displayserial interface，DSI)等。在一些实施例中，处理器110和摄像头183通过CSI接口通信，实现电子设备的拍摄功能。处理器110和显示屏184通过DSI接口通信，实现电子设备的显示功能。

GPIO接口可以通过软件配置。GPIO接口可以被配置为控制信号，也可被配置为数据信号。在一些实施例中，GPIO接口可以用于连接处理器110与摄像头183，显示屏184，无线通信模块160，传感器模块170等。GPIO接口还可以被配置为I2C接口，I2S接口，UART接口，MIPI接口等。

USB接口130是符合USB标准规范的接口，具体可以是Mini USB接口，Micro USB接口，USB Type C接口等。USB接口130可以用于连接充电器为电子设备充电，也可以用于电子设备与外围设备之间传输数据。

可以理解的是，本实施例示意的各模块间的接口连接关系，只是示意性说明，并不构成对电子设备的结构限定。在本申请另一些实施例中，电子设备也可以采用上述实施例中不同的接口连接方式，或多种接口连接方式的组合。

充电管理模块140用于从充电器接收充电输入。其中，充电器可以是无线充电器，也可以是有线充电器。在一些有线充电的实施例中，充电管理模块140可以通过USB接口130接收有线充电器的充电输入。在一些无线充电的实施例中，充电管理模块140可以通过电子设备的无线充电线圈接收无线充电输入。充电管理模块140为电池142充电的同时，还可以通过电源管理模块141为电子设备供电。

电源管理模块141用于连接电池142，充电管理模块140与处理器110。电源管理模块141接收电池142和/或充电管理模块140的输入，为处理器110，内部存储器121，显示屏184，摄像头183，和无线通信模块160等供电。电源管理模块141还可以用于监测电池容量，电池循环次数，电池健康状态(漏电，阻抗)等参数。在其他一些实施例中，电源管理模块141也可以设置于处理器110中。在另一些实施例中，电源管理模块141和充电管理模块140也可以设置于同一个器件中。

电子设备的无线通信功能可以通过天线1，天线2，移动通信模块150，无线通信模块160，调制解调处理器以及基带处理器等实现。

天线1和天线2用于发射和接收电磁波信号。电子设备中的每个天线可用于覆盖单个或多个通信频带。不同的天线还可以复用，以提高天线的利用率。例如：可以将天线1复用为无线局域网的分集天线。在另外一些实施例中，天线可以和调谐开关结合使用。

移动通信模块150可以提供应用在电子设备上的包括2G/3G/4G/5G等无线通信的解决方案。移动通信模块150可以包括至少一个滤波器，开关，功率放大器，低噪声放大器(low noise amplifier，LNA)等。移动通信模块150可以由天线1接收电磁波，并对接收的电磁波进行滤波，放大等处理，传送至调制解调处理器进行解调。移动通信模块150还可以对经调制解调处理器调制后的信号放大，经天线1转为电磁波辐射出去。在一些实施例中，移动通信模块150的至少部分功能模块可以被设置于处理器110中。在一些实施例中，移动通信模块150的至少部分功能模块可以与处理器110的至少部分模块被设置在同一个器件中。

调制解调处理器可以包括调制器和解调器。其中，调制器用于将待发送的低频基带信号调制成中高频信号。解调器用于将接收的电磁波信号解调为低频基带信号。随后解调器将解调得到的低频基带信号传送至基带处理器处理。低频基带信号经基带处理器处理后，被传递给应用处理器。在一些实施例中，调制解调处理器可以是独立的器件。在另一些实施例中，调制解调处理器可以独立于处理器110，与移动通信模块150或其他功能模块设置在同一个器件中。

无线通信模块160可以提供应用在电子设备上的包括无线局域网(wirelesslocal area networks，WLAN)(如无线保真(wireless fidelity，Wi-Fi)网络)，蓝牙(bluetooth，BT)，全球导航卫星系统(global navigation satellite system，GNSS)，调频(frequency modulation，FM)，近距离无线通信技术(near field communication，NFC)，红外技术(infrared，IR)等无线通信的解决方案。无线通信模块160可以是集成至少一个通信处理模块的一个或多个器件。无线通信模块160经由天线2接收电磁波，将电磁波信号调频以及滤波处理，将处理后的信号发送到处理器110。无线通信模块160还可以从处理器110接收待发送的信号，对其进行调频，放大，经天线2转为电磁波辐射出去。

在一些实施例中，电子设备的天线1和移动通信模块150耦合，天线2和无线通信模块160耦合，使得电子设备可以通过无线通信技术与网络以及其他设备通信。所述无线通信技术可以包括全球移动通讯系统(global system for mobile communications，GSM)，通用分组无线服务(general packet radio service，GPRS)，码分多址接入(code divisionmultiple access，CDMA)，宽带码分多址(wideband code division multiple access，WCDMA)，时分码分多址(time-division code division multiple access，TD-SCDMA)，长期演进(long term evolution，LTE)，BT，GNSS，WLAN，NFC，FM，和/或IR技术等。所述GNSS可以包括全球卫星定位系统(global positioning system，GPS)，全球导航卫星系统(globalnavigation satellite system，GLONASS)，北斗卫星导航系统(beidou navigationsatellite system，BDS)，准天顶卫星系统(quasi-zenith satellite system，QZSS)和/或星基增强系统(satellite based augmentation systems，SBAS)。

电子设备通过GPU，显示屏184，以及应用处理器等实现显示功能。GPU为图像处理的微处理器，连接显示屏184和应用处理器。GPU用于执行数学和几何计算，用于图形渲染。处理器110可包括一个或多个GPU，其执行程序指令以生成或改变显示信息。

显示屏184用于显示图像，视频等。显示屏184包括显示面板。显示面板可以采用液晶显示屏(liquid crystal display，LCD)，有机发光二极管(organic light-emittingdiode，OLED)，有源矩阵有机发光二极体或主动矩阵有机发光二极体(active-matrixorganic light emitting diode的，AMOLED)，柔性发光二极管(flex light-emittingdiode，FLED)，Miniled，MicroLed，Micro-oled，量子点发光二极管(quantum dot lightemitting diodes，QLED)等。在一些实施例中，电子设备可以包括1个或N个显示屏184，N为大于1的正整数。

电子设备的显示屏184上可以显示一系列图形用户界面(graphical userinterface，GUI)，这些GUI都是该电子设备的主屏幕。一般来说，电子设备的显示屏184的尺寸是固定的，只能在该电子设备的显示屏184中显示有限的控件。控件是一种GUI元素，它是一种软件组件，包含在应用程序中，控制着该应用程序处理的所有数据以及关于这些数据的交互操作，用户可以通过直接操作(direct manipulation)来与控件交互，从而对应用程序的有关信息进行读取或者编辑。一般而言，控件可以包括图标、按钮、菜单、选项卡、文本框、对话框、状态栏、导航栏、Widget等可视的界面元素。

电子设备可以通过ISP，摄像头183，视频编解码器，GPU，显示屏184以及应用处理器等实现拍摄功能。

ISP用于处理摄像头183反馈的数据。例如，拍照时，打开快门，光线通过镜头被传递到摄像头感光元件上，光信号转换为电信号，摄像头感光元件将所述电信号传递给ISP处理，转化为肉眼可见的图像。ISP还可以对图像的噪点，亮度，肤色进行算法优化。ISP还可以对拍摄场景的曝光，色温等参数优化。在一些实施例中，ISP可以设置在摄像头183中。

摄像头183用于捕获静态图像或视频。物体通过镜头生成光学图像投射到感光元件。感光元件可以是电荷耦合器件(charge coupled device，CCD)或互补金属氧化物半导体(complementary metal-oxide-semiconductor，CMOS)光电晶体管。感光元件把光信号转换成电信号，之后将电信号传递给ISP转换成数字图像信号。ISP将数字图像信号输出到DSP加工处理。DSP将数字图像信号转换成标准的RGB，YUV等格式的图像信号。在一些实施例中，电子设备可以包括1个或N个摄像头183，N为大于1的正整数。

数字信号处理器用于处理数字信号，除了可以处理数字图像信号，还可以处理其他数字信号。例如，当电子设备在频点选择时，数字信号处理器用于对频点能量进行傅里叶变换等。

视频编解码器用于对数字视频压缩或解压缩。电子设备可以支持一种或多种视频编解码器。这样，电子设备可以播放或录制多种编码格式的视频，例如：动态图像专家组(moving picture experts group，MPEG)1，MPEG2，MPEG3，MPEG4等。

NPU为神经网络(neural-network，NN)计算处理器，通过借鉴生物神经网络结构，例如借鉴人脑神经元之间传递模式，对输入信息快速处理，还可以不断的自学习。通过NPU可以实现电子设备的智能认知等应用，例如：图像识别，人脸识别，语音识别，文本理解等。

外部存储器接口120可以用于连接外部存储卡，例如Micro SD卡，实现扩展电子设备的存储能力。外部存储卡通过外部存储器接口120与处理器110通信，实现数据存储功能。例如将音乐，视频等文件保存在外部存储卡中。

内部存储器121可以用于存储计算机可执行程序代码，所述可执行程序代码包括指令。处理器110通过运行存储在内部存储器121的指令，从而执行电子设备的各种功能应用以及数据处理。内部存储器121可以包括存储程序区和存储数据区。此外，内部存储器121可以包括高速随机存取存储器，还可以包括非易失性存储器，例如至少一个磁盘存储器件，闪存器件，通用闪存存储器(universal flash storage，UFS)等。处理器110通过运行存储在内部存储器121的指令，和/或存储在设置于处理器中的存储器的指令，执行电子设备的各种功能应用以及数据处理。

压力传感器170A用于感受压力信号，可以将压力信号转换成电信号。在一些实施例中，压力传感器170A可以设置于显示屏184。压力传感器170A的种类很多，如电阻式压力传感器，电感式压力传感器，电容式压力传感器等。电容式压力传感器可以是包括至少两个具有导电材料的平行板。当有力作用于压力传感器170A，电极之间的电容改变。电子设备根据电容的变化确定压力的强度。当有触摸操作作用于显示屏184，电子设备根据压力传感器170A检测所述触摸操作强度。电子设备也可以根据压力传感器170A的检测信号计算触摸的位置。在一些实施例中，作用于相同触摸位置，但不同触摸操作强度的触摸操作，可以对应不同的操作指令。

陀螺仪传感器170B可以用于确定电子设备的运动姿态。在一些实施例中，可以通过陀螺仪传感器170B确定电子设备围绕三个轴(即，x，y和z轴)的角速度。陀螺仪传感器170B可以用于拍摄防抖。示例性的，当按下快门，陀螺仪传感器170B检测电子设备抖动的角度，根据角度计算出镜头模组需要补偿的距离，让镜头通过反向运动抵消电子设备的抖动，实现防抖。

磁传感器170C包括霍尔传感器。电子设备可以利用磁传感器170C检测翻盖皮套的开合。在一些实施例中，当电子设备是翻盖机时，电子设备可以根据磁传感器170C检测翻盖的开合。进而根据检测到的皮套的开合状态或翻盖的开合状态，设置翻盖自动解锁等特性。

加速度传感器170D可检测电子设备在各个方向上(一般为三轴)加速度的大小。当电子设备静止时可检测出重力的大小及方向。还可以用于识别电子设备姿态，应用于横竖屏切换，计步器等应用。

距离传感器170E，用于测量距离。电子设备可以通过红外或激光测量距离。在一些实施例中，拍摄场景，电子设备可以利用距离传感器170E测距以实现快速对焦。

环境光传感器170I用于感知环境光亮度。电子设备可以根据感知的环境光亮度自适应调节显示屏184亮度。环境光传感器170I也可用于拍照时自动调节白平衡。

指纹传感器170F用于采集指纹。电子设备可以利用采集的指纹特性实现指纹解锁，访问应用锁，指纹拍照，指纹接听来电等。

温度传感器170G用于检测温度。在一些实施例中，电子设备利用温度传感器170G检测的温度，执行温度处理策略。例如，当温度传感器170G上报的温度超过阈值，电子设备执行降低位于温度传感器170G附近的处理器的性能，以便降低功耗实施热保护。在另一些实施例中，当温度低于另一阈值时，电子设备对电池142加热，以避免低温导致电子设备异常关机。在其他一些实施例中，当温度低于又一阈值时，电子设备对电池142的输出电压执行升压，以避免低温导致的异常关机。

触摸传感器170H，也称“触控器件”。触摸传感器170H可以设置于显示屏184，由触摸传感器170H与显示屏184组成触摸屏，也称“触控屏”。触摸传感器170H用于检测作用于其上或附近的触摸操作。触摸传感器可以将检测到的触摸操作传递给应用处理器，以确定触摸事件类型。可以通过显示屏184提供与触摸操作相关的视觉输出。在另一些实施例中，触摸传感器170H也可以设置于电子设备的表面，与显示屏184所处的位置不同。

按键180包括开机键，音量键等。按键180可以是机械按键。也可以是触摸式按键。电子设备可以接收按键输入，产生与电子设备的用户设置以及功能控制有关的键信号输入。

马达181可以产生振动提示。马达181可以用于来电振动提示，也可以用于触摸振动反馈。例如，作用于不同应用(例如拍照，音频播放等)的触摸操作，可以对应不同的振动反馈效果。作用于显示屏184不同区域的触摸操作，马达181也可对应不同的振动反馈效果。不同的应用场景(例如：时间提醒，接收信息，闹钟，游戏等)也可以对应不同的振动反馈效果。触摸振动反馈效果还可以支持自定义。

指示器182可以是指示灯，可以用于指示充电状态，电量变化，也可以用于指示消息，未接来电，通知等。

SIM卡接口185用于连接SIM卡。SIM卡可以通过插入SIM卡接口185，或从SIM卡接口185拔出，实现和电子设备的接触和分离。电子设备可以支持1个或N个SIM卡接口，N为大于1的正整数。SIM卡接口185可以支持Nano SIM卡，Micro SIM卡，SIM卡等。同一个SIM卡接口185可以同时插入多张卡。所述多张卡的类型可以相同，也可以不同。SIM卡接口185也可以兼容不同类型的SIM卡。SIM卡接口185也可以兼容外部存储卡。电子设备通过SIM卡和网络交互，实现通话以及数据通信等功能。在一些实施例中，电子设备采用eSIM，即：嵌入式SIM卡。eSIM卡可以嵌在电子设备中，不能和电子设备分离。

另外，在上述部件之上，运行有操作系统。例如苹果公司所开发的iOS操作系统，谷歌公司所开发的Android开源操作系统，微软公司所开发的Windows操作系统等。在该操作系统上可以安装运行应用程序。

可以理解的是，图1示意的电子设备的结构并不构成对电子设备结构的具体限定。在另一些实施例中，电子设备可以包括比图1所示更多或更少的部件，或者组合某些部件，或者拆分某些部件，或者不同的部件布置。图示的部件可以以硬件，软件或软件和硬件的组合实现。

本申请实施例提供一种折叠屏设备折痕程度的测试方法，包括以下步骤。需要说明的是，本申请实施例中的折叠屏设备上可包含多个转轴区域，本申请实施例仅以包含一个转轴区域的折叠屏设备为例进行说明。

对折叠屏设备进行三维扫描，以获得转轴区域的点云数据，根据转轴区域的点云数据中包含的多个点的三维坐标，对转轴区域的表面进行面积计算，根据计算得到的面积以及转轴区域的表面的面积的标准值，得到转轴区域的面积变化程度，以面积变化程度为依据，确定折叠屏设备的折痕程度。

具体地，在本申请提供的一实施例中，对转轴区域的表面进行面积计算，可以是针对转轴区域的整个表面进行面积计算，进而得到转轴区域的完整表面的面积，转轴区域的面积变化程度可以用转轴区域的面积变化率表示，下面以计算得到的面积为完整表面的面积，转轴区域的面积变化程度为转轴区域的面积变化率为例进行说明。

通过对折叠屏设备进行三维扫描，获得转轴区域的点云数据，根据转轴区域的点云数据中包含的多个点的三维坐标，计算转轴区域的一完整表面的面积S_used。完整表面的面积S_used表示使用一段时间后的折叠屏设备的转轴区域的完整表面的面积。根据完整表面的面积的标准值S_ref和计算得到的S_used，计算转轴区域的面积变化率ε，依据面积变化率ε与面积变化率标准的比较结果，确定出折叠屏设备的折痕程度。

其中，转轴区域为折叠屏设备中可折叠的区域，如图2a和图2b所示，图2a为本申请实施例提供的一种折叠成一定角度的折叠屏设备示意图；图2b为本申请实施例提供的一种未折叠时的折叠屏设备示意图。图2a和图2b中的虚框标注位置1101为折叠屏设备的转轴区域，折叠屏设备可以沿转轴区域进行折叠，本申请实施例不对折叠角度以及转轴区域的轮廓进行限制。完整表面的面积的标准值可以根据折叠屏设备的标识信息从数据库中获取。

在本申请实施例中，提出一种基于三维扫描技术获得转轴区域的点云数据，以计算转轴区域的表面的面积，再根据转轴区域的面积变化率确定折叠屏设备折痕程度的技术方案。下面首先介绍转轴区域点云数据的获取过程。

如图3所示，该图为本申请实施例提供的一种获取点云数据的过程示意图。以通过三维共聚焦设备获得点云数据的方法为例，基于白光干涉原理将白光以一定角度照射在折叠屏设备上，由于折叠屏设备一般并不是绝对平整的，特别是转轴区域的平整度相对较低，不同的位置可能对应不同的高度，采用三维共聚焦设备收集折叠屏设备表面不同位置反射回去的光线信息，根据光线信息计算得到转轴区域的点云数据。

进一步地，在本申请实施例提供的方法中，由于在对折叠屏设备进行扫描时，往往不能一次性获得折叠屏设备的完整点云数据，其原因是折叠屏设备的大小通常会超过扫描设备的测量范围。因此在对折叠屏设备进行多次三维扫描获得多个子点云数据后，可以对多个子点云数据进行数据拼接，以获得覆盖范围相对完整的转轴区域的点云数据。

例如使用测量范围为160mm×10mm的扫描设备扫描160mm×140mm的折叠屏设备，由于扫描设备的测量范围为160mm×10mm，经过一次扫描仅可以扫描到160mm×10mm范围内的屏幕，而要获得160mm×140mm范围内的全部点云数据，则需要进行多次扫描，如此情况下，至少需要使用扫描范围为160mm×10mm的扫描设备扫描折叠屏设备14次，以获得折叠屏设备的完整点云数据。通过一次扫描可以获得一片子点云数据，通过14次扫描可以获得14片子点云数据。在具体实现时，为了获得完整的点云数据，需要进行数据拼接，即，将多片子点云数据旋转平移到统一的坐标系下，使它们能够组成完整的点云数据，这种技术被称为点云拼接技术。由于多次的扫描，某些区域会被重复扫描，这些被重复扫描的区域为重叠区域，点云拼接是对重叠区域的点云数据进行相互配准的过程，通过点云拼接可以将重叠区域的冗余数据删除，即删除重复部分的点云数据，并将相邻的子点云数据拼接在一起，获得完整的且没有重复数据的点云数据，如图4所示，该图为本申请实施例提供的一种重构三维形貌图的过程示意图，该图展示了基于三维扫描获得的子点云数据，进行点云拼接重构三维形貌图的过程。采用通过点云拼接处理后的点云数据进行后续步骤，可以获得更加精确的转轴区域的表面的面积，由此可以进一步提高测试结果的准确性。

进一步地，在本申请实施例中，可以通过仅扫描折叠屏设备的转轴区域以获得转轴区域的点云数据。相比于扫描整个折叠屏设备，仅扫描转轴区域以获得转轴区域的点云数据的方法可以提高点云数据的获取效率，进而提高整体的折痕程度测试效率。

在获得转轴区域的点云数据后，根据转轴区域的点云数据中包含的多个点的三维坐标，对转轴区域的表面进行面积计算，可以得到转轴区域的完整表面的面积S_uesd。由于转轴区域的折痕随着折叠次数的增加会逐渐加深，在折叠屏设备使用一段时间之后，相比于使用前的折叠屏设备，其折痕深浅会有一定变化。本申请实施例以面积变化率的大小作为测试折痕程度的依据，由于完整表面的面积是通过三维点云数据计算得到的，相比于根据一维或二维数据来对折痕程度进行测试的方法，本申请实施例提供的方法能够更加真实的还原转轴区域表面的变化情况，获得更加准确的测试结果。

具体地，以转轴区域宽为a，长为b的折叠屏设备为例进行说明，经过三维扫描之后，获得转轴区域的点云数据，点云数据中包含多个点的三维坐标。为了计算转轴区域的表面的面积，可以将其表面分成多个小三角形，完整表面的面积则等于多个小三角形面积的和，如公式(1)所示：

式中，

分别为三维坐标系中x，y，z轴方向的单位矢量；n表示被分割成的小三角形的数量，S_i则表示被分割成的一个小三角形的面积。如图5所示，该图为本申请实施例提供的一种空间直角坐标系中的三角形的示意图。在空间直角坐标系下，A点坐标为(x_i，y_i，z_i)，B点坐标为(x_i+1，y_i+1，z_i+1)，C点坐标为(x_i+2，y_i+2，z_i+2)，则(x_i+1-x_i，y_i+1-y_i，z_i+1-z_i)与(x_i+2-x_i，y_i+2-y_i，z_i+2-z_i)分别为向量

与

在空间直角坐标系下的坐标表达。

在计算出转轴区域的完整表面的面积S_used后，为了计算折叠屏设备在使用前后，其转轴区域的面积变化率ε，可以根据折叠屏设备的标识信息，获取折叠屏设备对应的转轴区域的完整表面的面积的标准值S_ref。

其中，折叠屏设备的标识信息用于识别折叠屏设备以获取该折叠屏设备对应的设备信息，类似于折叠屏设备的“身份证”，每个折叠屏设备对应一个标识信息。折叠屏设备的标识信息，用于唯一确定一台折叠屏设备。作为示例，折叠屏设备的标识信息可以是产品序列号(Serial Number，SN)。产品序列号是为了验证“产品的合法身份”而引入的一个概念，其与折叠屏设备一一对应。折叠屏设备对应的完整表面的面积的标准值S_ref和该折叠屏设备的标识信息存储在数据库中，以便在计算出某一台折叠屏设备的完整表面的面积S_uesd后，可以根据该折叠屏设备的标识信息，从数据库中获取该折叠屏设备对应的完整表面的面积的标准值S_ref。

折叠屏设备对应的转轴区域的完整表面的面积的标准值S_ref为一参考值，可以由以下几种方式确定：

方式一：折叠屏设备对应的完整表面的面积的标准值S_ref可以由与该折叠屏设备同一批生产的折叠屏设备确定。例如，从该批折叠屏设备中选取一个标准折叠屏设备，以该标准折叠屏设备出厂前的转轴区域的完整表面的面积为对应的面积的标准值S_ref，由此该批次折叠屏设备均可以采用该标准折叠屏设备出厂前的转轴区域的完整表面的面积为面积的标准值S_ref，进而无需在每台折叠屏设备出厂前对其转轴区域表面的面积进行测量计算，提高了折痕程度测试的效率。

方式二：由于不同的折叠屏设备之间存在差异，即使是同一批生产的折叠屏设备，其出厂前的转轴区域的完整表面的面积也会存在差异。为了进一步提高折痕程度测试结果的准确性，可以以该折叠屏设备在被使用之前的转轴区域的完整表面的面积S_sample作为面积的标准值S_ref。具体地，在该折叠屏设备尚未被使用过的情况下，使用三维扫描技术对该折叠屏设备进行扫描，获得点云数据，根据点云数据，对其转轴区域的表面进行面积计算，得到其转轴区域的完整表面的面积S_sample。其具体的计算方法同上述计算完整表面的面积S_uesd类似，在此不再赘述。在计算出完整表面的面积S_sample后，将完整表面的面积S_sample和该折叠屏设备的标识信息存储在数据库中，以便在计算出该台折叠屏设备的完整表面的面积S_uesd后，可以根据该折叠屏设备的标识信息，从数据库中获取该折叠屏设备对应的完整表面的面积S_sample。相比于方式一，方式二以该折叠屏设备在被使用之前的转轴区域的完整表面的面积S_sample作为面积的标准值S_ref，在后续利用面积的标准值以及完整表面的面积S_uesd计算面积变化率ε时，可以获得更加准确的面积变化率ε，进而提高折痕程度测试结果的准确性。

方式三：由于在折叠屏设备尚未被使用过的情况下，其转轴区域的折痕程度很小，可以忽略不计，即可以近似于完全没有折痕，其转轴区域的完整表面的面积近似于平面面积，如图6中的所示，图6为本申请实施例提供的一种折叠屏设备的三维形貌图，即在折叠屏设备尚未被使用过的情况下，折叠屏设备的三维形貌图。可以以平面面积S_plane为折叠屏设备对应的转轴区域的面积的标准值S_ref，如图6所示，S_plane为图中标注的转轴区域的面积，即S_plane＝a×b。a表示转轴区域的宽，b表示转轴区域的长。本申请实施例以平面面积S_plane为面积的标准值，有转轴区域的轮廓决定，对于不同类型的折叠屏设备，其转轴区域的平面面积S_plane可能不同。S_plane为二维面积，其大小由折叠屏设备本身决定，不需要通过三维扫描等技术方法即可计算出平面面积S_plane，例如由折叠屏设备的型号或类型等确定转轴区域，通过简单数学计算即可得到平面面积S_plane。采用平面面积S_plane为面积的标准值S_ref以获得面积变化率ε的方法，相比于方式一和方式二，省去了在折叠屏设备尚未被使用过的情况下，对其转轴区域的测量，提高了折痕程度的测试效率。

在获得完整表面的面积S_uesd以及面积的标准值S_ref后，可以根据完整表面的面积S_uesd和面积的标准值S_ref，计算该折叠屏设备在使用前后的转轴区域的面积变化率ε。其中，面积变化率ε表征转轴区域的完整表面的面积在使用前后的变化大小，可以通过式(2)计算：

式中，ΔS表示完整表面的面积S_uesd和面积的标准值S_ref的差，在面积的标准值S_ref大小确定的情况下，完整表面的面积S_uesd越大，ΔS越大，面积变化率ε也越大。面积变化率ε越大，则表示折痕越深，由于面积变化率ε大小可以判断折痕深浅，本申请实施例通过计算面积变化率ε以实现对转轴区域的折痕程度的测试，同时由于面积变化率ε是通过三维点云数据计算得到的，能够更加真实的表征转轴区域折痕程度的变化情况，进而使得测试结果更加准确。

具体地，可以通过以下方式实现根据面积变化率ε确定转轴区域的折痕程度。

为了贴合用户的实际使用感受，可以基于用户的实际体验结果，给定用户视觉可接受的面积变化率标准，即面积变化率上限值ε_max，若ε<ε_max，测试结果为折痕可接受，表示折叠屏设备合格；若ε≥ε_max，测试结果为折痕不可接受，表示折叠屏设备不合格。

进一步地，除了给定用户视觉可接受的面积变化率上限值ε_max，还可以同时给定面积变化率下限值ε_min，以ε_max和ε_min作为面积变化率标准，进一步细化测试结果。具体地，若ε≤ε_min，测试结果为无折痕，表示折叠屏设备合格；若ε_min<ε<ε_max，测试结果为存在折痕程度可接受的折痕，即有轻微折痕，折痕可接受，表示折叠屏设备合格；若ε≥ε_max，测试结果为折痕程度不可接受，表示折叠屏设备不合格。

进一步地，可以根据用户的使用时间确定可接受的面积变化率上限值，或确定面积变化率上限值和面积变化率下限值。转轴区域的折痕程度与折叠的次数有关，一般情况下，使用时间越长，对应折叠的次数越多，进而折痕程度会受到使用时间的影响，对于不同的使用时间，可以确定不同的可接受的面积变化率上限值，或面积变化率上限值和面积变化率下限值。例如，若使用时间为1个月以内，则确定面积变化率下限值ε_1min以及面积变化率上限值ε_1max，若使用时间为1～6个月，则确定面积变化率下限值ε_2min和面积变化率上限值ε_2max，其中ε_2min＞ε_1min，ε_2max＞ε_1max。

综上所述，本申请实施例基于三维扫描技术获得折叠屏设备转轴区域的点云数据，根据转轴区域的点云数据可以计算出转轴区域的完整表面的面积，根据完整表面的面积和面积的标准值，可以计算出面积变化率ε，基于面积变化率ε实现对转轴区域的折痕程度的测试。由于面积变化率v是基于三维数据获得的，进而本申请实施例是基于三维数据实现的对转轴区域的折痕程度的测试，测试结果可以更加真实的反映转轴区域的折痕程度，有效提高了测试结果的可靠度。

进一步地，本实施例中，可以将折叠屏设备的转轴区域的表面平均分成多个子表面，根据每个子表面的点云数据，计算每个子表面对应的面积。根据折叠屏设备的标识信息，获取每个子表面对应的面积的标准值。根据计算得到的每个子表面的面积和每个子表面对应的面积的标准值，计算每个子表面对应的子面积变化率。通过计算多个子表面的子面积变化率的平均值，得到平均变化率

将平均变化率

确定为面积变化率下限值ε_min，将多个子表面的子面积变化率中最大的子面积变化率，即最大变化率δ_max确定为面积标化率上限值ε_max。根据最大变化率δ_max或者平均变化率

和最大变化率δ_max对转轴区域的折痕程度进行测试。

需要说明的是，本申请实施例对如何划分转轴区域的表面，划分为多少份不作具体限定，例如，可以将转轴区域的表面沿扫描方向平均分成多个子表面，也可以将一次扫描的区域作为一个子表面。划分的份数越多，计算结果越精准，但相对的增加了计算量，使得检测效率降低，可以结合对精度以及效率的要求确定需要划分的份数。具体如何获得点云数据，如何计算每个子表面的面积，可以参见上述实施例，在此不再赘述。

在计算出每个子表面的面积之后，可以根据该折叠屏设备的标识信息，获取该折叠屏设备的转轴区域中的每个子表面对应的面积的标准值。

具体地，与上述实施例类似，该折叠屏设备的转轴区域中的每个子表面的面积和该折叠屏设备的标识信息存储在数据库中，以便在计算出某一台折叠屏设备的转轴区域中的子表面的面积后，可以根据该折叠屏设备的标识信息，从数据库中获取该折叠屏设备的转轴区域中的每个子表面的面积的标准值。

每个子表面的面积的标准值为参考值，可以由以下几种方式确定：

方式一：每个子表面的面积的标准值可以由与该折叠屏设备同一批生产的折叠屏设备的确定。例如，将同一批折叠屏设备的转轴区域的表面以相同的方式平均分成多个子表面，从该批折叠屏设备中选取一个标准折叠屏设备，以该标准折叠屏设备出厂前的转轴区域的每个子表面的面积为每个对应的子表面的面积的标准值，由此该批折叠屏设备均可以以该标准折叠屏设备出厂前的转轴区域的每个子表面的面积为每个对应的子表面的面积的参考值，进而无需在每台折叠屏设备出厂前对其转轴区域的每个子表面进行面积计算，提高了折痕程度测试的效率。

方式二：为了进一步提高折痕程度测试结果的准确性，可以以该折叠屏设备在被使用之前的转轴区域的每个子表面的面积作为每个对应的子表面的面积的标准值。具体地，在该折叠屏设备尚未被使用过的情况下，例如在出厂前，使用三维扫描技术对该折叠屏设备进行扫描，获得每个子表面对应的点云数据，根据每个子表面对应的点云数据，计算每个子表面的面积。其具体的计算方法在此不再赘述。

方式三：由于在折叠屏设备尚未被使用过的情况下，其转轴区域的折痕程度很小，可以忽略不计，即可以近似于完全没有折痕，其转轴区域中的每个子表面的面积近似于平面面积。以每个子表面对应的平面面积作为每个对应的子表面的面积的标准值。相比于方式一和方式二，方式三省去了在折叠屏设备尚未被使用过的情况下，对其转轴区域的测量，提高了对折痕程度的测试效率。

在获得每个子表面的面积和每个子表面对应的面积的标准值后，可以计算出每个子表面对应的子面积变化率。其中，每个子表面的子面积变化率可以通过式(3)表示：

式中，δ_i表示每个子表面的子面积变化率，Xused_i表示每个子表面的面积，Xref_i表示每个子表面的面积的标准值。

在获得每个子表面的子面积变化率后，可以得到平均变化率

以及最大变化率δ_max。其中平均变化率

可以通过公式(4)计算：

式中，n表示将转轴区域的表面划分成了n个子表面，n为大于0的正整数。

本申请实施例可以根据最大变化率δ_max对转轴区域的折痕程度进行测试。

具体地，根据最大变化率δ_max可以确定可接受的面积变化率上限值δ_max，若ε<δ_max，测试结果为有折痕可接受，表示折叠屏设备合格；若ε≥δ_max，测试结果为折痕不可接受，表示折叠屏设备不合格。

进一步地，为了进一步细化测试结果，可以根据平均变化率

以及最大变化率δ_max对转轴区域的折痕程度进行测试。

具体地，根据平均变化率

以及最大变化率δ_max确定可接受的面积变化率上限值δ_max以及面积变化率下限值

若

测试结果为无折痕，表示折叠屏设备合格；若

测试结果为有轻微折痕，折痕可接受，表示折叠屏设备合格；若ε≥δ_max，测试结果为折痕不可接受，表示折叠屏设备不合格。

综上所述，本申请实施例通过将折叠屏设备的转轴区域的表面分成多个子表面，根据每个子表面中所包含的点云数据计算出每个子表面的面积，再根据每个子表面的子面积变化率确定面积变化率上限值，或面积变化率上限值和面积变化率下限值，基于此测试转轴区域表面折痕程度，进一步提高了测试结果的可靠性。

本申请另一实施例提供的方法中，可以将转轴区域的表面沿宽度方向分成若干个子表面，根据每个子表面中所包含的点云数据计算出每个子表面的面积，针对每个子表面，分别比较该子表面的面积和其对应的子表面的面积的标准值，进而得到转轴区域的面积变化程度，由此测试折叠屏设备的折痕程度。与上述实施例不同的是，本实施例中是针对转轴区域的表面中的多个子表面分别进行面积计算，进而得到转轴区域的多个子表面的面积。转轴区域的面积变化程度为转轴区域的面积变化评分值。下面对具体步骤进行详细说明。需要说明的是，与上述实施例相同或相应的内容解释，在此不再赘述。

针对每个子表面，分别比较该子表面的面积和其对应的子表面的面积的标准值，得到多个子面积变化率，进而可以得到多个子面积变化率的平均值

以及多个子面积变化率中的最大的子面积变化率σ_max，在此之后，可以通过一组权重值，根据这组权重值、

以及σ_max，计算出转轴区域的面积变化评分值，若转轴区域的面积变化评分值大于评分阈值，则表示折痕可接受，该折叠屏设备合格；若转轴区域的面积变化评分值小于或等于评分阈值，则表示折痕不可接受，该折叠屏设备不合格，计算转轴区域的面积变化评分值的具体步骤如下。

根据第一权重值、第二权重值、多个子面积变化率的平均值

以及多个子面积变化率中的最大的子面积变化率σ_max，计算出转轴区域的面积变化评分值，进而确定折叠屏设备的折痕程度。

其中，转轴区域的面积变化评分值、第一权重值、第二权重值、多个子面积变化率的平均值

以及多个子面积变化率中的最大的子面积变化率σ_max之间的关系可以用式(5)表示：

式中，γ表示评分值，α和β分别表示

对应的第一权重值和σ_max对应的第二权重值，α和β之和为1。评分值γ用于表征用户的实际使用感受。

若该折叠屏设备转轴区域的面积变化评分值大于评分阈值，则表示折痕可接受，该折叠屏设备合格；若评分值小于或等于评分阈值，则表示折痕不可接受，该折叠屏设备不合格。其中本申请实施例不对评分阈值的设定方法进行具体限定，例如可以根据经验设定评分阈值。

下面介绍一种确定第一权重值α和第二权重值β的实现方式。

通过用户对多个折叠屏设备进行打分，获得这多个折叠屏设备各自对应的实际评分值，根据上述获得的折叠屏设备的多个子面积变化率的平均值

以及多个子面积变化率中的最大的子面积变化率σ_max的方法，分别获取这多个折叠屏设备各自对应的

以及σ_max，根据各个折叠屏设备的实际评分值，以及这多个折叠屏设备各自对应的

和σ_max，通过线性拟合的方式可以计算得到第一权重值和第二权重值。

具体地，多个折叠屏设备各自对应的

以及σ_max，可以通过上述实施例提供的方法确定，在此不再赘述。实际评分值为用户根据自身对折叠屏设备使用的实际体验结果，对折叠屏设备进行打分得到的。例如，用户根据感官上对折痕深浅的判断，对折叠屏设备进行打分，收集用户对于多个折叠屏设备的多个实际评分值，用于计算第一权重值和第二权重值。

多个实际评分值和其对应的多个σ_max以及σ_max之间的关系如式(5)所示。在获得多组用户的实际评分值、σ_max以及σ_max的情况下，可以通过例如最小二乘法类似的线性拟合方法获得α和β的具体数值。实际评分值、σ_max以及σ_max越多，则获得的α和β越精准。

本申请实施例通过将面积变化率与用户的实际评分值结合，使得测试结果与用户的实际体验感受更为贴合，提高了折痕程度测试结果的可靠性。

本申请另一实施例提供的方法，可以基于多个折叠屏设备的测试结果以及初始面积变化率θ，对该折叠屏样机进行测试以及筛选，下面对实现方法进行详细介绍。

本申请实施例通过获取多个折叠屏设备的测试结果，根据多个折叠屏设备的测试结果以及初始面积变化率θ，获得折叠屏样机的转轴区域的折痕程度的可接受上限值。

其中，折叠屏样机为未被使用过的折叠屏设备，例如出厂前的折叠屏设备。多个折叠屏设备的测试结果的获取方法可参见上述实施例，在此不再赘述。

在获取多个折叠屏设备的测试结果之后，根据多个折叠屏设备的标识信息，获取多个折叠屏设备的转轴区域的初始面积变化率θ。具体地，初始面积变化率θ可以通过式(6)表示：

在折叠屏设备尚未被使用过的情况下，使用三维扫描技术对折叠屏设备进行扫描，获得点云数据。根据点云数据，计算其转轴区域表面的面积S_sample。其具体地计算方法同上述实施例，在此不再赘述。对于某一折叠屏设备，平面面积S_plane为确定值，在计算出面积S_sample后，根据式(6)计算出初始面积变化率θ，并将初始面积变化率θ和该折叠屏设备的标识信息存储在数据库中，以便在获得该折叠屏设备的测试结果后，可以根据该折叠屏设备的标识信息，从数据库中获取该折叠屏设备对应的初始面积变化率θ。

在获得多个折叠屏设备的测试结果以及初始面积变化率后，可以确定折叠屏样机的转轴区域的折痕程度的可接受上限值。具体地，例如有10个折叠屏设备，其中3个折叠屏设备的测试结果为不合格，7个折叠屏设备的测试结果为合格，则根据这3个不合格的折叠屏设备的标识信息，获取这3个折叠屏设备对应的3个初始面积变化率；根据这7个合格的折叠屏设备的标识信息，获取这7个折叠屏设备对应的7个初始面积变化率，若7个合格的初始面积变化率大多属于(ν₁，ν₂)区间，3个不合格的初始面积变化率大多属于(ν₂，ν₃)区间，则可以获得折叠屏样机的可接受上限值ν₂，若θ＜ν₂，折叠屏样机的测试结果为无折痕，表示折叠屏样机合格；若θ≥ν₂，折叠屏样机的测试结果为折痕不可接受，表示折叠屏样机不合格。可以理解的是，折叠屏设备的数量越多，则获得的可接受上限值越精准，有利于后续对折叠屏样机进行准确地测试。如图7所示，该图为本申请实施例提供的一种筛选折叠屏样机的过程示意图，图中1201为多个待筛选的折叠屏样机，根据θ与ν₂的大小关系，筛选出不合格的折叠屏样机1202以及合格的折叠屏样机1203。

本申请实施例根据多个折叠屏设备的测试结果以及初始面积变化率，获得折叠屏样机的可接受上限值，以实现对折叠屏样机的筛选，提高折叠屏样机的出厂质量。

本申请提供的另一实施例中，结合了转轴区域的平均高度对折痕程度进行测试，通过对折叠屏设备进行三维扫描，获得转轴区域的点云数据。根据点云数据，计算转轴区域的平均高度

根据平均高度

和平均高度的标准值

计算平均高度变化率

若平均高度变化率

小于平均高度变化率阈值

确定所述折叠屏设备的初测结果为合格，则根据上述实施例提供的方法，基于面积变化程度对转轴区域的折痕程度进行测试；若平均高度变化率

大于或等于平均高度变化率阈值

则表示折痕不可接受，确定所述折叠屏设备的初测结果为不合格，无需基于面积变化程度对转轴区域的折痕程度进行再次测试。如图8所示，该图为本申请实施例提供的一种对折痕程度进行测试的过程示意图，即一种基于转轴区域的平均高度变化率以及面积变化程度对折痕程度进行测试的过程示意图，图中1301为多个待测试的折叠屏设备，根据平均高度变化率

与平均高度变化率阈值

的大小关系，对折叠屏设备进行初步筛选，筛选出不合格的折叠屏设备1302以及需要根据面积变化程度对折痕程度进行进一步测试的折叠屏设备1303。

具体地，由于点云数据为三维数据，根据点云数据中的高度值，可以计算出转轴区域的平均高度

平均高度

可用式(7)表示：

式中，n为点云数据的数据量，z_i为点云数据中的高度值。平均高度

越大，则表示折痕越深。

在计算出转轴区域的平均高度

后，可以根据折叠屏设备的标识信息，获取折叠屏设备的转轴区域的平均高度的标准值

具体地，在折叠屏设备尚未被使用过的情况下，使用三维扫描技术对折叠屏设备进行扫描，获得点云数据。根据点云数据，计算出折叠屏设备的转轴区域的平均高度的标准值

其具体的计算步骤方法与计算平均高度

类似，在此不再赘述。在计算出平均高度的标准值

后，将平均高度的标准值

和该折叠屏设备的标识信息存储在数据库中，以便在计算出平均高度

后，可以根据该折叠屏设备的标识信息，从数据库中获取对应的平均高度的标准值

在获得该折叠屏设备的平均高度

和平均高度的标准值

后，可以计算出该折叠屏设备在使用后的平均高度变化率

其中，平均高度变化率

可通过式(8)表示：

在平均高度的标准值

一定的情况下，平均高度

和平均高度的标准值

的差值越大，则平均高度变化率

越大，表示使用后的折痕程度越大。通过平均高度变化率

的大小可以初步判断折叠屏设备的折痕程度是否可接受。

若平均高度变化率

小于平均高度变化率阈值，则根据上述实施例提供的方法，基于面积变化程度对转轴区域的折痕程度进行测试；若平均高度变化率

大于或等于平均高度变化率阈值，则表示折痕不可接受，该折叠屏设备的初测结果不合格，无需再基于面积变化程度对转轴区域的折痕程度进行测试。

综上所述，平均高度变化率

的大小可以初步判断折叠屏设备的折痕程度是否可接受，若使用后平均高度变化率

大于或等于平均高度变化率阈值，则可以直接判断出折痕不可接受，该折叠屏设备不合格，无需再依据面积变化程度对折痕程度进行进一步测试。若平均高度变化率

小于平均高度变化率阈值，则表示该折叠屏设备初测结果合格，需要依据面积变化程度对折痕程度进行进一步测试，其具体实现方法可参见上述实施例。本申请实施例通过将转轴区域的平均高度变化率与面积变化程度相结合实现对折痕程度的测试，一方面可以通过计算转轴区域的平均高度变化率预先筛除不合格的折叠屏设备，相比于计算面积变化程度，计算转轴区域的平均高度变化率的计算量更少，有利于提高折叠屏设备的测试效率。另一方面，在根据面积变化程度对折痕程度进行测试之前，利用转轴区域的平均高度变化率对折叠屏设备进行筛选，进一步保障了折痕程度测试结果的准确性。

本申请实施例可以根据上述方法示例对电子设备进行功能模块的划分，例如，可以对应各个功能划分各个功能模块，也可以将两个或两个以上的功能集成在一个处理模块中。上述集成的模块既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能模块的形式实现。需要说明的是，本申请实施例中对模块的划分是示意性的，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式。

需要说明的是，上述方法实施例涉及的各步骤的所有相关内容均可以援引到对应功能模块的功能描述，在此不再赘述。

本实施例还提供了一种计算机可读存储介质，该计算机可读存储介质中包括指令，当上述指令在电子设备上运行时，使得该电子设备执行如上所述的相关方法步骤，以实现上述实施例中的方法。

本实施例还提供了一种计算机设备，该计算机设备包括处理器以及存储器，该存储器用于存储程序代码，并将程序代码传输给处理器，处理器用于根据程序代码中的指令执行如上所述的相关方法步骤，以实现上述实施例中的方法。

在本实施例所提供的几个实施例中，应该理解到，所揭露的设备、计算机可读存储介质和方法，可以通过其它的方式实现。例如，以上所描述的设备和存储介质实施例仅仅是示意性的，例如，所述模块或单元的划分，仅仅为一种逻辑功能划分，实际实现时可以有另外的划分方式，例如多个单元或组件可以结合或者可以集成到另一个系统，或一些特征可以忽略，或不执行。另一点，所显示或讨论的相互之间的耦合或直接耦合或通信连接可以是通过一些接口，装置或单元的间接耦合或通信连接，可以是电性，机械或其它的形式。

所述作为分离部件说明的单元可以是或者也可以不是物理上分开的，作为单元显示的部件可以是或者也可以不是物理单元，即可以位于一个地方，或者也可以分布到多个网络单元上。可以根据实际的需要选择其中的部分或者全部单元来实现本实施例方案的目的。

另外，在本实施例各个实施例中的各功能单元可以集成在一个处理单元中，也可以是各个单元单独物理存在，也可以两个或两个以上单元集成在一个单元中。上述集成的单元既可以采用硬件的形式实现，也可以采用软件功能单元的形式实现。

所述集成的单元如果以软件功能单元的形式实现并作为独立的产品销售或使用时，可以存储在一个计算机可读取存储介质中。基于这样的理解，本实施例的技术方案本质上或者说对现有技术做出贡献的部分或者该技术方案的全部或部分可以以软件产品的形式体现出来，该计算机软件产品存储在一个存储介质中，包括若干指令用以使得一台计算机设备(可以是个人计算机，服务器，或者网络设备等)或处理器执行各个实施例所述方法的全部或部分步骤。而前述的存储介质包括：快闪存储器、移动硬盘、只读存储器、随机存取存储器、磁碟或者光盘等各种可以存储程序代码的介质。

以上所述，仅为本申请的具体实施方式，但本申请的保护范围并不局限于此，任何在本申请揭露的技术范围内的变化或替换，都应涵盖在本申请的保护范围之内。因此，本申请的保护范围应以所述权利要求的保护范围为准。

Claims (12)

1.一种折叠屏设备的折痕程度测试方法，其特征在于，包括：

对折叠屏设备进行三维扫描，获得所述折叠屏设备的转轴区域的点云数据；

根据所述点云数据中包含的多个点的三维坐标，对所述转轴区域的表面进行面积计算；

根据计算得到的面积，以及所述转轴区域的表面的面积的标准值，得到所述转轴区域的面积变化程度；

根据所述转轴区域的面积变化程度，确定所述折叠屏设备的折痕程度。

2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述转轴区域的表面进行面积计算，包括：

对所述转轴区域的一完整表面进行面积计算得到所述完整表面的面积；

所述根据计算得到的面积，以及所述转轴区域的表面的面积的标准值，得到所述转轴区域的面积变化程度，包括：

将计算得到的所述完整表面的面积和所述完整表面的面积的标准值进行比较，得到所述转轴区域的面积变化程度。

3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对所述转轴区域的表面进行面积计算，包括：

对所述转轴区域的表面中的多个子表面分别进行面积计算，得到所述多个子表面的面积；

所述根据计算得到的面积，以及所述转轴区域的表面的面积的标准值，得到所述转轴区域的面积变化程度，包括：

对各个子表面，分别比较所述子表面的面积的标准值和所述子表面的面积，得到比较结果；

结合各个子表面的所述比较结果，得到所述转轴区域的面积变化程度。

4.根据权利要求3所述的方法，其特征在于，所述转轴区域的面积变化程度，包括：

所述转轴区域的面积变化评分值；

所述结合各个子表面的所述比较结果，得到所述转轴区域的面积变化程度，包括：

根据各个子表面的所述比较结果，得到多个子面积变化率；

根据所述多个子面积变化率的平均值与第一权重值的乘积，以及所述多个子面积变化率中最大的子面积变化率与第二权重值的乘积，计算得到所述面积变化评分值。

5.根据权利要求4所述的方法，其特征在于，所述第一权重值和所述第二权重值的确定步骤，包括：

获取多个实际评分值，所述多个实际评分值为用户对多个折叠屏设备分别进行打分得到的；

对所述多个折叠屏设备，分别根据所述折叠屏设备对应的多个子面积变化率，获得所述折叠屏设备对应的多个子面积变化率的平均值和最大的子面积变化率；

根据各个折叠屏设备的多个子面积变化率的平均值和最大的子面积变化率，以及所述多个实际评分值，通过线性拟合确定所述第一权重值和所述第二权重值。

6.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述转轴区域的面积变化程度，包括：

所述转轴区域的面积变化率；

所述根据所述转轴区域的面积变化程度，确定所述折叠屏设备的折痕程度，包括：

将所述转轴区域的面积变化率与面积变化率标准进行比较，依据比较结果确定所述折叠屏设备的折痕程度。

7.根据权利要求6所述的方法，其特征在于，所述面积变化率标准，包括：

面积变化率上限值，或面积变化率下限值和所述面积变化率上限值；

所述面积变化率标准的确定步骤，包括：

对所述转轴区域的表面中的多个子表面分别进行面积计算，得到所述多个子表面的面积；

对各个子表面，分别比较所述子表面的面积的标准值和所述子表面的面积，得到所述多个子表面的子面积变化率；

将所述多个子表面的子面积变化率中最大的子面积变化率确定为所述面积变化率上限值；将所述多个子表面的子面积变化率的平均值确定为所述面积变化率下限值。

8.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述根据所述点云数据中包含的多个点的三维坐标，对所述转轴区域的表面进行面积计算之前，还包括：

根据所述点云数据，计算所述转轴区域的平均高度；

根据计算得到的所述平均高度和所述平均高度的标准值，获得所述转轴区域的平均高度变化率；

若所述平均高度变化率小于平均高度变化率阈值，则确定所述折叠屏设备的初测结果为合格；

若所述平均高度变化率大于或等于所述平均高度变化率阈值，则确定所述折叠屏设备的初测结果为不合格。

9.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述对折叠屏设备进行三维扫描，获得所述折叠屏设备的转轴区域的点云数据，包括：

对折叠屏设备进行多次三维扫描，获得所述折叠屏设备的转轴区域的多个子点云数据；

对所述多个子点云数据进行数据拼接，获得所述折叠屏设备的转轴区域的点云数据。

10.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述面积的标准值的计算方法，包括：

从与所述折叠屏设备同批次生产的多个折叠屏设备中，确定标准折叠屏设备；

对所述标准折叠屏设备出厂前的转轴区域的表面进行面积计算，得到所述面积的标准值。

11.一种计算机设备，其特征在于，所述计算机设备包括：处理器以及存储器；

所述存储器用于存储程序代码，并将所述程序代码传输给所述处理器；

所述处理器用于根据所述程序代码中的指令执行如权利要求1-10任一项所述的一种折叠屏设备的折痕程度测试方法的步骤。

12.一种计算机可读存储介质，其特征在于，所述计算机可读存储介质上存储有计算机程序，所述计算机程序被处理器执行时实现如权利要求1-10任一项所述的一种折叠屏设备的折痕程度测试方法的步骤。

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